SK50392010A3 - Spôsob kontroly polarizačného filmu - Google Patents

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SK50392010A3
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Toshiyuki Kasai
Hisanori Yamane
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Sumitomo Chemical Company, Limited
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Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5306053B2 (ja) * 2009-05-19 2013-10-02 三菱レイヨン株式会社 連続する多孔質電極基材の外観欠陥自動検査方法とその記録媒体を添付してなる多孔質電極基材の巻体
JP4503692B1 (ja) 2009-10-13 2010-07-14 日東電工株式会社 液晶表示素子を連続製造する装置において用いられる情報格納読出演算システム及び情報格納読出演算システムの製造方法
JP4503693B1 (ja) * 2009-10-13 2010-07-14 日東電工株式会社 連続ウェブ形態の切込線入り光学フィルム積層体の連続ロール並びにその製造方法及び製造装置
JP4503690B1 (ja) 2009-10-13 2010-07-14 日東電工株式会社 液晶表示素子を連続製造する装置に用いられる情報格納読出システム、及び、前記情報格納読出システムを製造する方法及び装置
KR101435126B1 (ko) 2009-12-25 2014-09-01 닛토덴코 가부시키가이샤 액정표시소자의 연속제조방법 및 장치
JP5569791B2 (ja) * 2010-04-14 2014-08-13 住友化学株式会社 光学フィルム作製用原反フィルム、および光学フィルムの製造方法
JP5966307B2 (ja) * 2011-10-12 2016-08-10 日立化成株式会社 光導波路の製造方法
WO2013141134A1 (ja) * 2012-03-23 2013-09-26 東レ株式会社 被測長製品の検査方法および検査装置
JP6177017B2 (ja) * 2013-06-12 2017-08-09 住友化学株式会社 欠陥検査システム
JP6250317B2 (ja) * 2013-07-08 2017-12-20 住友化学株式会社 欠陥検査方法
JP6421519B2 (ja) * 2014-09-25 2018-11-14 大日本印刷株式会社 包装材料
US10665838B2 (en) * 2014-10-10 2020-05-26 Sumitomo Chemical Company, Limited Method for manufacturing separator web, method for manufacturing separator, separator web, and apparatus for manufacturing separator web
JP6641093B2 (ja) * 2015-03-20 2020-02-05 住友化学株式会社 光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査方法
CN107407642B (zh) * 2015-04-09 2020-04-03 住友化学株式会社 层叠光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法
JP6484127B2 (ja) * 2015-06-26 2019-03-13 シグマ紙業株式会社 識別子を含む媒体
CN104949996A (zh) * 2015-06-29 2015-09-30 广东溢达纺织有限公司 不停机自动标识纺织面料疵点的方法及系统
CN106353332B (zh) * 2015-07-15 2019-05-28 明眼有限公司 利用图案透光板的偏光膜检查装置
JP6010674B1 (ja) * 2015-09-18 2016-10-19 住友化学株式会社 フィルム製造方法及びフィルム製造装置
JP6556008B2 (ja) * 2015-09-30 2019-08-07 日東電工株式会社 長尺状偏光子の検査方法
CN206583816U (zh) * 2015-12-15 2017-10-24 住友化学株式会社 缺陷检查用拍摄装置、缺陷检查系统以及膜制造装置
KR101955757B1 (ko) * 2016-06-08 2019-03-07 삼성에스디아이 주식회사 필름 처리장치 및 처리방법
JP2018054356A (ja) * 2016-09-27 2018-04-05 株式会社日本マイクロニクス ガス検知用フィルム、ガス検知装置、及びガス検知方法
KR102475056B1 (ko) * 2017-03-03 2022-12-06 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트
KR102438892B1 (ko) * 2017-03-03 2022-08-31 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 검사 시스템, 필름 제조 장치, 필름 제조 방법, 인자 장치 및 인자 방법
KR20210035210A (ko) * 2018-07-30 2021-03-31 닛뽄 가야쿠 가부시키가이샤 마킹 장치, 마킹 방법, 편광판의 제조 방법 및 편광판
CN115870233A (zh) * 2022-09-30 2023-03-31 杭州利珀科技有限公司 偏光膜rtp前制程与rtp制程的联动方法及系统

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001305070A (ja) * 2000-04-19 2001-10-31 Sumitomo Chem Co Ltd シート状製品の欠陥マーキング方法および装置
JP4343456B2 (ja) * 2001-04-03 2009-10-14 大日本印刷株式会社 シート状製品の欠陥マーキング方法および装置
JP3974400B2 (ja) * 2002-01-07 2007-09-12 日東電工株式会社 シート状成形体の検査結果記録方法及び検査結果記録システム及びロール状成形体
JP4233813B2 (ja) * 2002-06-17 2009-03-04 日東電工株式会社 シート状成形体の加工方法
JP2005062165A (ja) * 2003-07-28 2005-03-10 Nitto Denko Corp シート状製品の検査方法、検査システム、シート状製品、及び、画像表示装置
JP2005114624A (ja) * 2003-10-09 2005-04-28 Nitto Denko Corp シート状製品の検査方法及びシート状製品の検査システム及びシート状製品及び枚葉物
TWI269116B (en) * 2004-09-24 2006-12-21 Optimax Tech Corp Improved method for printing patterns on optical film
JP2006194721A (ja) * 2005-01-13 2006-07-27 Nagase & Co Ltd 欠陥マーキング装置
JP2009069142A (ja) * 2007-08-23 2009-04-02 Nitto Denko Corp 積層フィルムの欠陥検査方法およびその装置

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