CN107407642B - 层叠光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法 - Google Patents

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Abstract

本发明的一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法包括：进行光学膜(11)的缺陷检查的第一检查工序；向光学膜(11)贴合保护膜(12)以及粘合件(13)而生成层叠光学膜(10A、10B)的工序；与在第一检查工序中检测出的缺陷(20)对应而对层叠光学膜(10A)进行(记号(30)的)标记的第一标记工序；进行层叠光学膜(10B)的缺陷检查的第二检查工序；以及与在第二检查工序中检测出的缺陷(21)对应而对层叠光学膜(10B)进行(记号(31)的)标记的第二标记工序，在第二检查工序中，不对在第一标记工序中标记出的记号(30)进行检测。

Description

层叠光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法
技术领域
本发明涉及层叠光学膜的缺陷检查方法以及光学膜的缺陷检查方法，也涉及层叠光学膜的制造方法。
背景技术
作为具有光学特性的光学膜，已知具有偏振特性的偏振板、具有双折射性的相位差板等。例如，作为偏振板，已知在作为光学膜主体的偏振片 (Polyvinyl Alcohol：PVA(聚乙烯醇))的主面两侧贴合有TAC(Triacetyl Cellulose：三醋酸纤维素)膜的偏振板。作为相位差板，已知由光学膜主体单独构成的相位差板。也有时在这种光学膜贴合保护膜、或者贴合带有隔离膜的状态的粘合件而形成层叠光学膜。
在这种光学膜以及层叠光学膜中，若例如在上述贴合时在内部或表面混入异物、气泡，则有时产生光学缺陷。在专利文献1～2中公开了检查这种光学膜以及层叠光学膜的缺陷的方法。
当采用这种缺陷检查方法检测出缺陷时，与缺陷对应地例如以围绕缺陷的方式在光学膜以及层叠光学膜的表面上进行标记，进行了标记的区域被从作为产品的利用中剔除。
在先技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2009-69142号公报
专利文献2：日本特开2011-65184号公报
发明内容
发明要解决的课题
在这样的缺陷检查方法中，要求准确地对缺陷的数量进行计数。另外，追求标记的记号为与缺陷的大小对应的大小。
此外，在这种光学膜以及层叠光学膜的缺陷检查中，有时进行两次以上的缺陷检查。例如，每当贴合光学膜以及层叠光学膜的各层时进行缺陷检查、或者为了检测不同的缺陷而执行不同的检查方法。
然而，在进行两次以上的缺陷检查的情况下，存在如下问题：在第二次以后的检查中，将在上次以前标记出的记号检测为缺陷，并与之对应地 (例如以围绕缺陷的方式)进行标记，结果导致最终记号尺寸变大。
于是，本发明的目的在于，提供能够防止在进行两次以上的缺陷检查时对与上次以前检测出的缺陷对应的记号进行检测的层叠光学膜的缺陷检查方法以及光学膜的缺陷检查方法。另外，本发明的目的也在于提供层叠光学膜的制造方法。
用于解决课题的方案
本发明的层叠光学膜的缺陷检查方法是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而得到层叠光学膜、并对层叠光学膜中的缺陷进行检查的方法，所述层叠光学膜的缺陷检查方法包括：进行光学膜的缺陷检查的第一检查工序；向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而生成层叠光学膜的工序；与在第一检查工序中检测出的缺陷对应而对层叠光学膜进行标记的第一标记工序；进行层叠光学膜的缺陷检查的第二检查工序；以及与在第二检查工序中检测出的缺陷对应而对层叠光学膜进行标记的第二标记工序，在第二检查工序中，不对在第一标记工序中标记出的记号进行检测。
根据该层叠光学膜的缺陷检查方法，在第二检查工序中，不对在第一标记工序中标记出的记号进行检测。因而，能够防止在进行两次以上的缺陷检查时对与上次以前检测出的缺陷对应的记号进行检测的情况。
上述的第一检查工序中的缺陷检查方法与上述的第二检查工序中的缺陷检查方法可以相同，也可以不同。
本发明的光学膜的缺陷检查方法是检查光学膜的缺陷的方法，所述光学膜的缺陷检查方法包括：进行光学膜的缺陷检查的第一检查工序；与在第一检查工序中检测出的缺陷对应而对光学膜进行标记的第一标记工序；进行与第一检查工序中的缺陷检查不同的缺陷检查来作为光学膜的缺陷检查的第二检查工序；以及与在第二检查工序中检测出的缺陷对应而对光学膜进行标记的第二标记工序，在第二检查工序中，不对在第一标记工序中标记出的记号进行检测。
本发明中的光学膜是如下概念：不仅包括由光学膜主体构成的单层光学膜，还包括含有光学膜主体的光学膜、以及向该光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少任一方而成的层叠光学膜。
在该光学膜的缺陷检查方法中，也设计成在第二检查工序中不对在第一标记工序中标记出的记号进行检测，因此能够防止在进行两次以上的缺陷检查时对与上次以前检测出的缺陷对应的记号进行检测的情况。
本发明的层叠光学膜的制造方法是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而制造层叠光学膜的方法，所述层叠光学膜的制造方法包括上述的层叠光学膜的缺陷检查方法。根据该层叠光学膜的制造方法，能够得到与上述的层叠光学膜的缺陷检查方法同样的优点。
发明效果
根据本发明，能够防止在进行两次以上的光学膜以及层叠光学膜的缺陷检查时对与上次以前检测出的缺陷对应的记号进行检测的情况，其结果是，能够防止最终记号尺寸变大而导致光学膜的收获率降低的情况。
附图说明
图1是表示本发明的第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法的图。
图2是表示本发明的第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法的图。
图3是用于说明本发明的第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法中的第一标记工序的图，是表示层叠光学膜的一方的主面的图。
图4是图3的沿着IV-IV线的层叠光学膜的剖视图。
图5是用于说明本发明的第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法中的第二标记工序的图，是表示层叠光学膜的一方的主面的图。
图6是图5的沿着VI-VI线的层叠光学膜的剖视图。
图7是用于说明以往的缺陷检查方法中的最初的标记工序的图，是表示以往的缺陷检查方法中的层叠光学膜的一方的主面的图。
图8是图7的沿着VIII-VIII线的层叠光学膜的剖视图。
图9是用于说明以往的缺陷检查方法中的图7所示的标记工序之后的标记工序的图，是表示以往的缺陷检查方法中的层叠光学膜的一方的主面的图。
图10是图9的沿着X-X线的层叠光学膜的剖视图。
图11是表示本发明的第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法的图。
图12是表示本发明的第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法的图。
图13是用于说明本发明的第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法中的第一标记工序的图，是表示层叠光学膜的一方的主面的图。
图14是图13的沿着XIV-XIV线的层叠光学膜的剖视图。
图15是用于说明本发明的第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法中的第二标记工序的图，是表示层叠光学膜的一方的主面的图。
图16是图15的沿着XVI-XVI线的层叠光学膜的剖视图。
附图标记说明
10A、10B…层叠光学膜、11…光学膜、12…保护膜、13…带隔离膜的粘合件、14…隔离膜、15…粘合件、20、21、25…缺陷、30、31…记号、 101、102、104、105、107…坯料卷、103、106…贴合辊、111…透射检查器、113、119…喷墨印刷器、115…检查器(透射检查器或反射检查器)。
具体实施方式
以下，参照附图来详细说明本发明的优选的实施方式。在各附图中，对同一或相当的部分标注同一附图标记。
[第一实施方式]
图1以及图2是表示本发明的第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法的图。图3以及图5是表示图1所示的缺陷检查方法的不同工序中的层叠光学膜的一方的主面的图，图4以及图6是图3以及图 5中示出的层叠光学膜的剖视图。图1～图6示出了XY平面坐标。X方向表示层叠光学膜的宽度方向，Y方向表示层叠光学膜的长边方向。
首先，如图1所示，从坯料卷101抽出光学膜11。光学膜11包括具有光学特性的光学膜主体。作为光学膜11，可举出具有偏振特性的偏振板、具有双折射性的相位差板等。例如，在光学膜11为偏振板的情况下，作为光学膜主体而包括偏振片(Polyvinyl Alcohol：PVA，聚乙烯醇)，在该偏振片的主面两侧贴合有TAC(Triacetyl Cellulose)膜。另一方面，在光学膜11为相位差板的情况下，相位差板与光学膜主体相当。
接下来，由配置于光学膜11的另一方的主面11b侧的光源(未图示) 向光学膜11照射光，由配置于光学膜11的一方的主面11a侧的透射检查器111接受透过光学膜11后的光，基于接受到的透射光来进行光学膜11 的缺陷检查(第一检查工序、透射检查)。
接下来，从坯料卷102抽出保护膜12，将保护膜12层叠于光学膜11 的一方的主面11a侧。作为保护膜12，使用PET(Polyethylene Terephthalate：聚对苯二甲酸乙二醇酯)膜等。接下来，由贴合辊103将光学膜11与保护膜12贴合，生成层叠光学膜10A。
接下来，使用配置于层叠光学膜10A的保护膜12侧的喷墨印刷器113 (采用液滴法)，与在第一检查工序中检测出的缺陷对应地，对层叠光学膜10A的保护膜12侧的表面进行标记(第一标记工序)。
例如，在如图3以及图4所示那样检测出因异物混入层叠光学膜10A 内部而产生的三个缺陷20的情况下，针对这些缺陷20中的各缺陷，在X 方向的两侧分别沿着Y方向标记线状的记号30，由此以夹入缺陷20的方式，换言之以围绕缺陷20的方式对层叠光学膜10A的保护膜12侧的表面进行标记。
在图4中，仅简要地示出了图3中的一个缺陷20，并且简要地示出了与该缺陷20对应的两个线状的记号30。在图1中，仅简要地示出图3中的一个缺陷20以及与该缺陷20对应的两个线状的记号30。
接下来，将层叠光学膜10A卷取于坯料卷104。
接下来，如图2所示，从坯料卷104抽出层叠光学膜10A，另外从坯料卷105抽出在粘合件15上贴合有隔离膜(脱模膜)14的带隔离膜的粘合件13，向层叠光学膜10A的光学膜11侧层叠带隔离膜的粘合件13。作为隔离膜的材料，可使用PET(PolyethyleneTerephthalate)等。接下来，由贴合辊106将层叠光学膜10A与带隔离膜的粘合件13贴合，生成层叠光学膜10B。
接下来，由配置于层叠光学膜10B的另一方的主面10b侧(带隔离膜的粘合件13这一侧)的光源(未图示)向层叠光学膜10B照射光，由配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧(保护膜12侧)的检查器115 接受透过层叠光学膜10B后的光，基于所接受到的透射光来进行层叠光学膜10B的缺陷检查(第二检查工序、透射检查)。在第一实施方式中，检查器115为透射检查器。
在第二检查工序中，不对在第一标记工序中标记出的记号30进行检测。例如，采用使用喷墨印刷器的液滴法形成的记号30通常相对于欲通过使用透射检查器的检查进行检测的缺陷而言是大的记号。由此，在检查器115中，能够基于例如大小来识别记号30。或者，检查器115也可以基于在第一标记工序中标记出的记号30的形状来识别记号30。检查器115可以具备过滤部，该过滤部去除检查器115所接受到的上述透射光所具有的信息中的与记号30相关的信启、。
接下来，使用配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的喷墨印刷器119(采用液滴法)，与在第二检查工序中检测出的缺陷对应地，对层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的表面进行标记(第二标记工序)。
例如，在如图5以及图6所示那样检测出因异物混入层叠光学膜10B 内部而产生的两个缺陷21的情况下，针对这些缺陷21中的各缺陷而在X 方向的两侧分别沿着Y方向标记线状的记号31，由此以夹入缺陷21的方式，换言之以围绕缺陷21的方式对层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的表面进行标记。
在图6中，与图4同样，仅简要地示出了图3中的一个缺陷20，并且简要地示出了与该缺陷20对应的两个线状的记号30。在图6中，仅简要地示出了图5中的一个缺陷21，并且简要地示出了与该缺陷21对应的两个线状的记号31。另外，在图2中，与图1同样地，仅简要地示出了图5 中的一个缺陷20或缺陷21、以及与该缺陷20或缺陷21对应的两个线状的记号30或记号31。
接下来，将层叠光学膜10B卷取于坯料卷107。
图7以及图9是表示以往的缺陷检查方法的不同工序中的层叠光学膜的一方的主面的图，图8以及图10是图7以及图9中示出的层叠光学膜的剖视图。
在以往的缺陷检查方法中，与本实施方式的缺陷检查方法的不同点在于，在第二检查工序中，不具备不对在第一标记工序中标记出的记号进行检测这样的功能。
即，如图9以及图10所示，在以往的缺陷检查方法中，在第二检查工序中，会将在第一标记工序中形成的记号30检测为缺陷。其结果是，在第二标记工序中，与在第一检查工序中检测出的缺陷20以及在第一标记工序中形成的记号30对应地，以夹入这些缺陷20以及记号30的方式，换言之以围绕缺陷20以及记号30的方式形成记号31。
这样，在以往的缺陷检查方法中，存在如下问题：在进行两次以上的缺陷检查的情况下，在第二次以后的检查中，将在上次以前标记出的记号检测为缺陷，与之对应地在缺陷的附近进一步进行标记，其结果是，导致最终记号尺寸变大，光学膜的收获率降低。
然而，根据第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法，在第二检查工序中，不对在第一标记工序中标记出的记号30进行检测，因此在进行两次以上的缺陷检查时，能够防止对与上次以前检测出的缺陷对应的记号30进行检测的情况。其结果是，能够精度良好地求出缺陷率，另外，能够防止最终记号尺寸变大、光学膜的收获率降低的情况。
[第一实施方式的变形例]
在第一实施方式中，例示了在向光学膜11贴合保护膜12以及带隔离膜的粘合件13的工序之前与之后，进行多次同一种类的缺陷检查(透射检查)的方法。然而，本发明的思想如以下所详细说明的那样，也可以适用于将不同种类的缺陷检查组合而进行的方式，例如可以适用于在第一实施方式中作为第一检查工序进行透射检查且作为第二检查工序进行反射检查的方式。
[第二实施方式]
在第一实施方式中，例示了在向光学膜11贴合保护膜12以及带隔离膜的粘合件13的工序之前与之后进行多次缺陷检查的方法，但本发明的思想也可以适用于对同一层叠光学膜进行多次缺陷检查的方法。
例如，有时对同一层叠光学膜组合进行不同的检查(例如透射检查以及反射检查)。例如，透射检查适合于混入光学膜内部的黑色系的异物的检测，但难以进行混入光学膜表面的小的气泡的检测。另一方面，反射检查适合于混入光学膜表面的小的气泡的检测，但难以进行混入光学膜内部的黑色系的异物的检测。
以下，例示对同一层叠光学膜组合进行不同的检查的缺陷检查方法。在该第二实施方式中，例示层叠光学膜的缺陷检查方法。然而，本发明的思想也可以适用于对单层光学膜组合进行不同的检查的缺陷检查方法。
图11以及图12是表示本发明的第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法的图。图13以及图15是表示图11以及图12所示的缺陷检查方法的不同工序中的层叠光学膜的一方的主面的图，图14以及图16是图13以及图15中示出的层叠光学膜的剖视图。
首先，如图11所示，从坯料卷101抽出层叠光学膜10B。然后，由配置于层叠光学膜10B的另一方的主面10b侧的光源(未图示)向层叠光学膜10B照射光，由配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的透射检查器111接受透过层叠光学膜10B后的光，基于所接受的透射光来进行层叠光学膜10B的缺陷检查(第一检查工序、透射检查)。
接下来，使用在层叠光学膜10B的一方的主面10a侧配置的喷墨印刷器113(采用液滴法)，与在第一检查工序中检测出的缺陷对应地，对层叠光学膜10A的一方的主面10a侧的表面进行标记(第一标记工序)。
例如，在如图13以及图14所示那样检测出因异物混入层叠光学膜10B 内部而产生的三个缺陷20的情况下，针对这些缺陷20中的各缺陷，在X 方向的两侧分别沿着Y方向标记线状的记号30，由此以夹入缺陷20的方式，换言之以围绕缺陷20的方式对层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的表面进行标记。
在图14中，仅简要地示出了图13中的一个缺陷20，并且简要地示出了与该缺陷20对应的两个线状的记号30。在图11中，仅简要地示出了图 13中的一个缺陷20以及与该缺陷20对应的两个线状的记号30。
接下来，将层叠光学膜10B卷取于坯料卷104。
接下来，如图12所示，从坯料卷104抽出层叠光学膜10B。接下来，由配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的光源(未图示)向层叠光学膜10B照射光，由配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的检查器 115接受在层叠光学膜10B的一方的主面10a反射后的光，基于所接受的反射光来进行层叠光学膜10B的缺陷检查(第二检查工序、反射检查)。在第二实施方式中，检查器115为反射检查器。
在第二检查工序中，不对在第一标记工序中标记出的记号30进行检测。即，在第二检查工序中，检测在第一检查工序中未检测而在第二检查工序中才检测出的缺陷25(参照图15以及图16)。在检查器115中，用于不检测记号30的方法可以设为与第一实施方式同样。即，检查器115 可以根据记号30的大小、形状等来识别记号30。检查器115可以具备过滤部，该过滤部从所接受到的反射光所包含的信息中去除与记号30相关的信息。
接下来，使用配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的喷墨印刷器119(采用液滴法)，与在第二检查工序中检测出的缺陷对应地，对层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的表面进行标记(第二标记工序)。
例如，在如图15以及图16所示那样检测出因气泡混入层叠光学膜10B 表面而产生的两个缺陷25的情况下，针对这些缺陷25中的各缺陷，在X 方向的两侧分别沿着Y方向标记线状的记号31，由此以夹入缺陷25的方式，换言之以围绕缺陷25的方式对层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的表面进行标记。
在图16中，与图14同样地仅简要地示出了图13中的一个缺陷20，并且简要地示出了与该缺陷20对应的两个线状的记号30。在图16中，仅简要地示出了图15中的一个缺陷25，并且简要地示出了与该缺陷25对应的两个线状的记号31。在图12中，与图11同样地仅简要地示出了图15 中的一个缺陷20或缺陷25、以及与该缺陷20或缺陷25对应的两个线状的记号30或记号31。
接下来，利用坯料卷107卷取层叠光学膜10B。
在该第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法中，也能够得到与第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法同样的优点。
本发明不限定于上述的本实施方式，能够进行各种变形。例如，在本实施方式中例示了进行两次缺陷检查的方式，但本发明的思想也可以适用于进行三次以上的缺陷检查的方式。
在本实施方式中作为缺陷检查的种类而例示了透射检查以及反射检查，但缺陷检查的种类不限定于此。本发明的思想也可以适用于包括正交尼科尔检查等在内的缺陷检查方法。

Claims (5)

1.一种层叠光学膜的缺陷检查方法，其是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而得到层叠光学膜、并对所述层叠光学膜中的缺陷进行检查的方法，
所述层叠光学膜的缺陷检查方法的特征在于，包括：
进行所述光学膜的缺陷检查的第一检查工序；
向所述光学膜贴合所述保护膜以及所述粘合件中的至少一方而生成所述层叠光学膜的工序；
与在所述第一检查工序中检测出的缺陷对应而对所述层叠光学膜进行标记的第一标记工序；
进行所述层叠光学膜的缺陷检查的第二检查工序；以及
与在所述第二检查工序中检测出的缺陷对应而对所述层叠光学膜进行标记的第二标记工序，
在所述第二检查工序中，不对在所述第一标记工序中标记出的记号进行检测。
2.根据权利要求1所述的层叠光学膜的缺陷检查方法，其中，
所述第一检查工序中的缺陷检查方法与所述第二检查工序中的缺陷检查方法相同。
3.根据权利要求1所述的层叠光学膜的缺陷检查方法，其中，
所述第一检查工序中的缺陷检查方法与所述第二检查工序中的缺陷检查方法不同。
4.一种光学膜的缺陷检查方法，其是检查光学膜的缺陷的方法，
所述光学膜的缺陷检查方法的特征在于，包括：
进行所述光学膜的缺陷检查的第一检查工序；
与在所述第一检查工序中检测出的缺陷对应而对所述光学膜进行标记的第一标记工序；
进行与所述第一检查工序中的缺陷检查不同的缺陷检查来作为所述光学膜的缺陷检查的第二检查工序；以及
与在所述第二检查工序中检测出的缺陷对应而对所述光学膜进行标记的第二标记工序，
在所述第二检查工序中，不对在所述第一标记工序中标记出的记号进行检测。
5.一种层叠光学膜的制造方法，其是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而制造层叠光学膜的方法，
所述层叠光学膜的制造方法的特征在于，
包括权利要求1至3中任一项所述的层叠光学膜的缺陷检查方法。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102475056B1 (ko) * 2017-03-03 2022-12-06 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트
WO2020026843A1 (ja) * 2018-07-30 2020-02-06 株式会社ポラテクノ マーキング装置、マーキング方法、偏光板の製造方法および偏光板
CN109212023A (zh) * 2018-09-07 2019-01-15 深圳市哈德胜精密科技股份有限公司 一种石墨探伤方法
CN111452514B (zh) * 2020-04-26 2021-01-12 杭州利珀科技有限公司 偏光膜整线打标系统及方法
JP2022107419A (ja) * 2021-01-08 2022-07-21 日東電工株式会社 光学積層フィルムの検査方法及びフィルム製品の製造方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW555970B (en) * 2001-04-03 2003-10-01 Dainippon Printing Co Ltd Apparatus for marking flaw on sheet-like product and its method
CN1804601A (zh) * 2005-01-13 2006-07-19 长濑产业株式会社 缺陷标记装置
CN101548177A (zh) * 2007-08-23 2009-09-30 日东电工株式会社 层叠膜的缺陷检查方法及其装置
CN101981438A (zh) * 2008-03-31 2011-02-23 住友化学株式会社 偏光薄膜的检查方法
CN102084213A (zh) * 2008-06-04 2011-06-01 株式会社神户制钢所 轮胎形状检查方法、轮胎形状检查装置
CN103913296A (zh) * 2012-12-31 2014-07-09 东友精细化工有限公司 测定结果验证系统
CN107407641A (zh) * 2015-03-20 2017-11-28 住友化学株式会社 层叠光学膜的缺陷检查方法、光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3051001B2 (ja) * 1992-11-13 2000-06-12 株式会社東芝 欠陥検査装置
TWI366706B (en) * 2006-07-03 2012-06-21 Olympus Corp Semiconductor substrate defects detection device and method of detection of defects
JP4776739B2 (ja) 2009-04-10 2011-09-21 日東電工株式会社 光学フィルムロール原反を用いた画像表示装置の製造方法
KR101315102B1 (ko) * 2011-07-25 2013-10-07 동우 화인켐 주식회사 필름의 수율 예측 시스템 및 방법
KR101313075B1 (ko) * 2011-10-20 2013-09-30 주식회사 엘지화학 광학 필름의 결함 검사 시스템
JP5944175B2 (ja) * 2012-02-07 2016-07-05 住友ゴム工業株式会社 タイヤ用部材の製造装置および製造方法
JP6182806B2 (ja) 2013-06-04 2017-08-23 住友化学株式会社 欠陥検査システム及びフィルムの製造装置
JP2015049350A (ja) 2013-08-30 2015-03-16 住友化学株式会社 光学部材貼合体の製造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW555970B (en) * 2001-04-03 2003-10-01 Dainippon Printing Co Ltd Apparatus for marking flaw on sheet-like product and its method
CN1804601A (zh) * 2005-01-13 2006-07-19 长濑产业株式会社 缺陷标记装置
CN101548177A (zh) * 2007-08-23 2009-09-30 日东电工株式会社 层叠膜的缺陷检查方法及其装置
CN101981438A (zh) * 2008-03-31 2011-02-23 住友化学株式会社 偏光薄膜的检查方法
CN102084213A (zh) * 2008-06-04 2011-06-01 株式会社神户制钢所 轮胎形状检查方法、轮胎形状检查装置
CN103913296A (zh) * 2012-12-31 2014-07-09 东友精细化工有限公司 测定结果验证系统
CN107407641A (zh) * 2015-03-20 2017-11-28 住友化学株式会社 层叠光学膜的缺陷检查方法、光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法

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