CN107407641A - 层叠光学膜的缺陷检查方法、光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法 - Google Patents

层叠光学膜的缺陷检查方法、光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法 Download PDF

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Abstract

层叠光学膜的缺陷检查方法包括进行光学膜(11)的缺陷检查的第一检查工序、向光学膜(11)贴合保护膜(12)以及粘合件(13)而生成层叠光学膜(10A、10B)的工序、将在第一检查工序中检测出的缺陷(20)的信息以代码(40)的形式记录于层叠光学膜(10A)的记录工序、进行层叠光学膜(10B)的缺陷检查的第二检查工序、与在第一检查工序中检测出的缺陷(20)以及在第二检查工序中检测出的缺陷(21)对应地对层叠光学膜(10B)进行标记的标记工序，在第二检查工序中，读取在记录工序中所记录的缺陷信息，不重复检测与该缺陷信息对应的缺陷(20)。

Description

层叠光学膜的缺陷检查方法、光学膜的缺陷检查方法以及层 叠光学膜的制造方法
技术领域
本发明涉及层叠光学膜的缺陷检查方法以及光学膜的缺陷检查方法，也涉及层叠光学膜的制造方法。
背景技术
作为具有光学特性的光学膜，已知具有偏振特性的偏振板、具有双折射性的相位差板等。例如，作为偏振板，已知在作为光学膜主体的偏振片(Polyvinyl Alcohol：PVA(聚乙烯醇))的主面两侧贴合有TAC(Triacetyl Cellulose：三醋酸纤维素)膜的偏振板。作为相位差板，已知由光学膜主体单独构成的相位差板。也有时在这种光学膜贴合保护膜、或者贴合带有隔离膜的状态的粘合件而形成层叠光学膜。
在这种光学膜以及层叠光学膜中，若例如在上述贴合时在内部或表面混入异物、气泡，则有时产生光学缺陷。在专利文献1～2中公开了检查这种光学膜以及层叠光学膜的缺陷的方法。
当采用这种缺陷检查方法检测出缺陷时，与缺陷对应地例如以包围缺陷的方式在光学膜以及层叠光学膜的表面上进行标记，进行了标记的区域被从作为产品的利用中剔除。
在先技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2009-69142号公报
专利文献2：日本特开2011-65184号公报
发明内容
发明要解决的课题
在这样的缺陷检查方法中，追求准确地对缺陷的数量进行计数。另外，追求标记的记号为与缺陷的大小对应的大小。
此外，在这种光学膜以及层叠光学膜的缺陷检查中，有时进行两次以上的缺陷检查。例如，每当贴合光学膜以及层叠光学膜的各层时进行缺陷检查、或者为了检测不同的缺陷而执行不同的检查方法。
然而，在进行两次以上的缺陷检查的情况下，在第二次以后的检查中，存在如下问题：会对上次以前检测出的缺陷进行重复检测，无法精度良好地求出缺陷率。在第二次以后的检查中，存在如下问题：会将上次以前标记出的记号检测为缺陷并与之对应地(例如以包围缺陷的方式)进行标记，结果导致最终记号尺寸变大。
于是，本发明的目的在于，提供能够防止在进行两次以上的缺陷检查时对上次以前检测出的缺陷进行重复检测的情况、以及对与上次以前检测出的缺陷对应的记号进行检测的情况的层叠光学膜的缺陷检查方法以及光学膜的缺陷检查方法。另外，本发明的目的也在于，提供层叠光学膜的制造方法。
用于解决课题的方案
本发明的层叠光学膜的缺陷检查方法是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而得到层叠光学膜、并对层叠光学膜中的缺陷进行检查的方法，其包括：进行光学膜的缺陷检查的第一检查工序；向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而生成层叠光学膜的工序；对在第一检查工序中检测出的缺陷信息进行记录的记录工序；进行层叠光学膜的缺陷检查的第二检查工序；以及与在第一检查工序中检测出的缺陷以及在第二检查工序中检测出的缺陷对应而对层叠光学膜进行标记的标记工序，在第二检查工序中，读取在记录工序中所记录的缺陷信息，不检测与该缺陷信息对应的缺陷。
根据该层叠光学膜的缺陷检查方法，在第二检查工序中，不检测与在记录工序中所记录的缺陷信息对应的缺陷。因而，在进行两次以上的缺陷检查时，能够防止对上次以前检测出的缺陷进行重复检测的情况。另外，根据该层叠光学膜的缺陷检查方法，在记录工序中对在第一检查工序中检测出的缺陷信息进行记录，由此不与在第二检查工序之前在第一检查工序中检测出的缺陷对应地对光学膜进行标记，因此能够防止对与上次以前检测出的缺陷对应的记号进行检测的情况。
上述的第一检查工序中的缺陷检查方法与上述的第二检查工序中的缺陷检查方法可以相同，也可以不同。
本发明的光学膜的缺陷检查方法是检查光学膜的缺陷的方法，其包括：进行光学膜的缺陷检查的第一检查工序；对在第一检查工序中检测出的缺陷信息进行记录的记录工序；对光学膜进行与第一检查工序中的缺陷检查不同的缺陷检查的第二检查工序；以及与在第一检查工序中检测出的缺陷以及在第二检查工序中检测出的缺陷对应地对光学膜进行标记的标记工序，在第二检查工序中，读取在记录工序中所记录的缺陷信息，不检测与该缺陷信息对应的缺陷。
本发明中的光学膜是如下概念：不仅包括由光学膜主体构成的单层光学膜，也包括包含光学膜主体的光学膜以及向该光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而成的层叠光学膜。
在该光学膜的缺陷检查方法中，在第二检查工序中也不检测与在记录工序中所记录的缺陷信息对应的缺陷，因此在进行两次以上的缺陷检查时，能够防止对上次以前检测出的缺陷进行重复检测的情况。在该光学膜的缺陷检查方法中，也是在记录工序中对在第一检查工序中检测出的缺陷信息进行记录，由此不与在第二检查工序之前在第一检查工序中检测出的缺陷对应地对光学膜进行标记，因此能够防止对与上次以前检测出的缺陷对应的记号进行检测的情况。
本发明的层叠光学膜的制造方法是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而制造层叠光学膜的方法，其中，所述层叠光学膜的制造方法包括上述的层叠光学膜的缺陷检查方法。根据该层叠光学膜的制造方法，能够得到与上述的层叠光学膜的缺陷检查方法同样的优点。
发明效果
根据本发明，在进行两次以上的光学膜以及层叠光学膜的缺陷检查时，能够防止对上次以前检测出的缺陷进行重复检测的情况，其结果是，能够精度良好地求出缺陷率。另外，根据本发明，在进行两次以上的光学膜以及层叠光学膜的缺陷检查时，能够防止对与上次以前检测出的缺陷对应的记号进行检测的情况，其结果是，能够防止最终记号尺寸变大而光学膜的收获率降低。
附图说明
图1是表示本发明的第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法的图。
图2是表示本发明的第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法的图。
图3是用于说明本发明的第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法中的记录工序的图，是表示层叠光学膜的一方的主面的图。
图4是图3的沿着IV-IV线的层叠光学膜的剖视图。
图5是用于说明本发明的第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法中的标记工序的图，是表示层叠光学膜的一方的主面的图。
图6是图5的沿着VI-VI线的层叠光学膜的剖视图。
图7是用于说明以往的缺陷检查方法中的第一标记工序的图，是表示以往的缺陷检查方法中的层叠光学膜的一方的主面的图。
图8是图7的沿着VIII-VIII线的层叠光学膜的剖视图。
图9是用于说明以往的缺陷检查方法中的第二标记工序的图，是表示以往的缺陷检查方法中的层叠光学膜的一方的主面的图。
图10是图9的沿着X-X线的层叠光学膜的剖视图。
图11是表示本发明的第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法的图。
图12是表示本发明的第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法的图。
图13是用于说明本发明的第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法中的记录工序的图，是表示层叠光学膜的一方的主面的图。
图14是图13的沿着XIV-XIV线的层叠光学膜的剖视图。
图15是用于说明本发明的第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法中的标记工序的图，是表示层叠光学膜的一方的主面的图。
图16是图15的沿着XVI-XVI线的层叠光学膜的剖视图。
具体实施方式
以下，参照附图来详细说明本发明的优选的实施方式。需要说明的是，在各附图中，对同一或相当的部分标注同一附图标记。
[第一实施方式]
图1以及图2是表示本发明的第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法的图。图3以及图5是表示本发明的第一实施方式的缺陷检查方法的不同工序中的层叠光学膜的一方的主面的图，图4以及图6是图3以及图5中示出的层叠光学膜的剖视图。图1～图6示出了XY平面坐标。X方向表示层叠光学膜的宽度方向，Y方向表示层叠光学膜的长边方向。
首先，如图1所示，从坯料卷101抽出光学膜11。光学膜11包括具有光学特性的光学膜主体。作为光学膜11，可举出具有偏振特性的偏振板、具有双折射性的相位差板等。例如，在光学膜11为偏振板的情况下，光学膜11包括偏振片(Polyvinyl Alcohol：PVA)作为光学膜主体，在该偏振片的主面两侧贴合有TAC(Triacetyl Cellulose)膜。另一方面，在光学膜11为相位差板的情况下，相位差板与光学膜主体相当。
接下来，由配置于光学膜11的另一方的主面11b侧的光源(未图示)向光学膜11照射光，由配置于光学膜11的一方的主面11a侧的透射检查器111接受透过光学膜11后的光，基于接受到的透射光来进行光学膜11的缺陷检查(第一检查工序、透射检查)。
接下来，从坯料卷102抽出保护膜12，将保护膜12层叠于光学膜11的一方的主面11a侧。作为保护膜12，使用PET(Polyethylene Terephthalate：聚对苯二甲酸乙二醇酯)膜等。接下来，由贴合辊103将光学膜11与保护膜12贴合，生成层叠光学膜10A。
接下来，使用配置于层叠光学膜10A的保护膜12侧的喷墨印刷器113(采用液滴法)，将在第一检查工序中检测出的缺陷的信息(缺陷信息)以代码的形式记录于层叠光学膜10A的保护膜12侧的表面端部(记录工序)。
例如，在如图3以及图4所示那样检测出因异物混入层叠光学膜10A内部而产生的三个缺陷20的情况下，将这些缺陷20的坐标信息以条形码40的形式针对各缺陷20而记录于层叠光学膜10A的保护膜12侧的表面的X方向端部。在图4以及图1中，仅简要地示出图3中的一个缺陷20、以及与该缺陷20对应的条形码40。
也可以在Y方向的每规定区间(例如每60mm间隔)记录一个条形码40。在该情况下，可以将存在于规定区间的所有缺陷的信息总括地记录于一个条形码40。
接下来，将层叠光学膜10A卷取于坯料卷104。
接下来，如图2所示，从坯料卷104抽出层叠光学膜10A，另外从坯料卷105抽出在粘合件15上贴合有隔离膜(脱模膜)14的带隔离膜的粘合件13，向层叠光学膜10A的光学膜11侧层叠带隔离膜的粘合件13。作为隔离膜的材料，可使用PET(PolyethyleneTerephthalate)等。接下来，由贴合辊106将层叠光学膜10A与带隔离膜的粘合件13贴合，生成层叠光学膜10B。
接下来，由配置于层叠光学膜10B的另一方的主面10b侧(带隔离膜的粘合件13这一侧)的光源(未图示)向层叠光学膜10B照射光，由配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧(保护膜12侧)的检查器115接受透过层叠光学膜10B后的光，基于所接受到的透射光来进行层叠光学膜10B的缺陷检查(第二检查工序、透射检查)。在第一实施方式中，检查器115为透射检查器。
在第二检查工序中，由代码读取器117读取在记录工序中记录于条形码40的缺陷信息，不检测与所读取的缺陷信息对应的缺陷20。即，在第二检查工序中，对在第一检查工序中未检测而在第二检查工序中才检测出的缺陷21进行检测(参照图5以及图6)。具体而言，在第二检查工序中，将与从条形码40读取到的缺陷坐标相同的位置的缺陷判别为同一缺陷而不对其进行检测。
接下来，使用配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的喷墨印刷器119(采用液滴法)，与在第一检查工序中检测出的缺陷(即从条形码40读取的缺陷)以及在第二检查工序中检测出的缺陷对应地，对层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的表面进行标记(标记工序)。
例如，在如图3以及图4所示在第一检查工序中检测出因异物混入层叠光学膜10A内部而产生的三个缺陷20、且如图5以及图6所示在第二检查工序中检测出因异物混入层叠光学膜10B内部而产生的两个缺陷21的情况下，针对这些缺陷20、21中的各缺陷在X方向的两侧分别沿着Y方向标记线状的记号31，由此以夹入缺陷20、21的方式，换言之以围绕缺陷20、21的方式对层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的表面进行标记。
在图6中，简要地示出图5中的一个缺陷20以及与该缺陷20对应的两个线状的记号31，并且简要地示出图5中的一个缺陷21以及与该缺陷21对应的两个线状的记号31。在图2中，仅简要地示出图5中的一个缺陷20或21、以及与该缺陷20或21对应的两个线状的记号31。
接下来，将层叠光学膜10B卷取于坯料卷107。
在此，图7以及图9是表示以往的缺陷检查方法的不同工序中的层叠光学膜的一方的主面的图，图8以及图10是图7以及图9所示的层叠光学膜的剖视图。
在以往的缺陷检查方法中，与本实施方式的缺陷检查方法的不同点在于：取代本实施方式中的记录工序以及标记工序而包括第一标记工序以及第二标记工序，在第二检查工序中不具备不对在第一检查工序中检测出的缺陷进行检测这一功能。
在第一标记工序中，例如在如图7以及图8所示那样检测出因异物混入层叠光学膜10A内部而产生的三个缺陷20的情况下，针对这些缺陷20中的各缺陷而在X方向的两侧分别沿着Y方向标记线状的记号30，由此以夹入缺陷20的方式，换言之以围绕缺陷20的方式对层叠光学膜10A的保护膜12侧的表面进行标记。
在第二标记工序中，例如在如图8以及图10所示那样检测出因异物混入层叠光学膜10B内部而产生的两个缺陷21的情况下，针对这些缺陷21中的各缺陷而在X方向的两侧分别沿着Y方向标记线状的记号31，由此以夹入缺陷21的方式，换言之以包围缺陷21的方式对层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的表面进行标记。
在该以往的缺陷检查方法中，如图8以及图10所示，在第二检查工序中，对第一检查工序中的缺陷20进行再次检测，并且将在第一标记工序中形成的记号30检测为缺陷。其结果是，在第二标记工序中，与在第一检查工序中检测出的缺陷20以及在第一标记工序中形成的记号30对应地，以夹入这些缺陷20以及记号30的方式，换言之以围绕缺陷20以及记号30的方式形成记号31。
这样，在以往的缺陷检查方法中，存在如下问题：在进行两次以上的缺陷检查的情况下，在第二次以后的检查中，会对上次以前检测出的缺陷进行重复检测，无法精度良好地求出缺陷率。另外，存在如下问题：在第二次以后的检查中，将在上次以前标记出的记号检测为缺陷，与之对应地在缺陷的附近进一步进行标记，结果最终导致记号尺寸变大，光学膜的收获率降低。
然而，根据第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法，在第二检查工序中，不检测与在记录工序中记录过的缺陷信息对应的缺陷，因此在进行两次以上的缺陷检查时，能够防止对上次以前检测出的缺陷20进行重复检测，其结果是，能够精度良好地求出缺陷率。另外，根据第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法，在记录工序中，将在第一检查工序中检测出的缺陷信息记录为条形码40，由此不会与在第二检查工序之前在第一检查工序中检测出的缺陷20对应地对光学膜进行标记，因此能够防止对与上次以前检测出的缺陷对应的记号进行检测。因此，能够防止最终记号尺寸变大所引起的光学膜的收获率的降低。
[第一实施方式的变形例]
在第一实施方式中，例示了在向光学膜11贴合保护膜12以及带隔离膜的粘合件13的工序之前与之后，进行多次同一种类的缺陷检查(透射检查)的方法。然而，本发明的思想如以下所详细说明的那样，也可以适用于将不同种类的缺陷检查组合而进行的方式，例如可以适用于在第一实施方式中作为第一检查工序进行透射检查且作为第二检查工序进行反射检查的方式。
[第二实施方式]
在第一实施方式中，例示了在向光学膜11贴合保护膜12以及带隔离膜的粘合件13的工序之前与之后进行多次缺陷检查的方法，但本发明的思想也可以适用于对同一层叠光学膜进行多次缺陷检查的方法。
例如，有时对同一层叠光学膜组合进行不同的检查(例如透射检查以及反射检查)。例如，透射检查适合于混入光学膜内部的黑色系的异物的检测，但难以进行混入光学膜表面的小的气泡的检测。另一方面，反射检查适合于混入光学膜表面的小的气泡的检测，但难以进行混入光学膜内部的黑色系的异物的检测。
以下，例示对同一层叠光学膜组合进行不同的检查的缺陷检查方法。在该第二实施方式中，例示层叠光学膜的缺陷检查方法。然而，本发明的思想也可以适用于对单层光学膜组合进行不同的检查的缺陷检查方法。
图11以及图12是表示本发明的第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法的图。图13以及图15是表示本发明的第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法的不同工序中的层叠光学膜的一方的主面的图，图14以及图16是图13以及图15中示出的层叠光学膜的剖视图。
首先，如图11所示，从坯料卷101抽出层叠光学膜10B。然后，由配置于层叠光学膜10B的另一方的主面10b侧的光源(未图示)向层叠光学膜10B照射光，由配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的透射检查器111接受透过层叠光学膜10B后的光，基于所接受的透射光来进行层叠光学膜10B的缺陷检查(第一检查工序、透射检查)。
接下来，使用配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的喷墨印刷器113(采用液滴法)，将在第一检查工序中检测出的缺陷信息以代码的形式记录于层叠光学膜10A的保护膜12侧的表面端部(记录工序)。
例如，在如图13以及图14所示那样检测出因异物混入层叠光学膜10B内部而产生的三个缺陷20的情况下，将这些缺陷20的坐标信息以条形码40的形式针对各缺陷20而记录于层叠光学膜10A的保护膜12侧的表面的X方向端部。在图14以及图11中，仅简要地示出图13中的一个缺陷20以及与该缺陷20对应的条形码40。
接下来，将层叠光学膜10B卷取于坯料卷104。
接下来，如图12所示，从坯料卷104抽出层叠光学膜10B。接下来，由配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的光源(未图示)向层叠光学膜10B照射光，由配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的检查器115接受在层叠光学膜10B的一方的主面10a反射后的光，基于所接受的反射光来进行层叠光学膜10B的缺陷检查(第二检查工序、反射检查)。在第二实施方式中，检查器115为反射检查器。
在第二检查工序中，由代码读取器117读取在记录工序中记录于条形码40的缺陷信息，不检测与所读取的缺陷信息对应的缺陷20。即，在第二检查工序中，对在第一检查工序中未检测而在第二检查工序中才检测出的缺陷25进行检测(参照图15以及图16)。具体而言，在第二检查工序中，将与从条形码40读取的缺陷坐标相同的位置的缺陷判别为同一缺陷而不对其进行检测。
接下来，使用配置于层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的喷墨印刷器119(采用液滴法)，与在第一检查工序中检测出的缺陷(即从条形码40读取的缺陷)以及在第二检查工序中检测出的缺陷对应地，对层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的表面进行标记(标记工序)。
例如，在如图13以及图14所示在第一检查工序中检测出因异物混入层叠光学膜10B内部而产生的三个缺陷20、且如图15以及图16所示在第二检查工序中检测出因气泡混入层叠光学膜10B表面而产生的两个缺陷25的情况下，针对这些缺陷20、25中的各缺陷在X方向的两侧分别沿着Y方向标记线状的记号31，由此以夹入缺陷20、25的方式，换言之以围绕缺陷20、25的方式对层叠光学膜10B的一方的主面10a侧的表面进行标记。
在图16中，简要地示出图15中的一个缺陷20以及与该缺陷20对应的两个线状的记号31，并且简要地示出图15中的一个缺陷25以及与该缺陷25对应的两个线状的记号31。在图12中，仅简要地示出图15中的一个缺陷20或25以及与该缺陷20或25对应的两个线状的记号31。
接下来，将层叠光学膜10B卷取于坯料卷107。
在该第二实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法中，也能够得到与第一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法以及制造方法同样的优点。
本发明不限定于上述的本实施方式，能够进行各种变形。例如，在本实施方式中例示了进行两次缺陷检查的方式，但本发明的思想也可以适用于进行三次以上的缺陷检查的方式。
在本实施方式中作为缺陷检查的种类而例示了透射检查以及反射检查，但缺陷检查的种类不限定于此。本发明的思想也可以适用于包括正交尼科尔检查等在内的缺陷检查方法。
在本实施方式中，在记录工序中将检测出的缺陷20的坐标信息以条形码40的形式记录于层叠光学膜10A，但在记录工序中也可以将检测出的缺陷20的坐标信息记录于计算机等的存储器。另外，在本实施方式中，在第二检查工序中由代码读取器117读取记录于条形码40的缺陷的坐标信息，但也可以在第二检查工序中读取记录于计算机等的存储器的坐标信息。
附图标记说明
10A、10B…层叠光学膜；11…光学膜；12…保护膜；13…带隔离膜的粘合件；14…隔离膜；15…粘合件；20、21、25…缺陷；30、31…记号；40…条形码(代码)；101、102、104、105、107…坯料卷；103、106…贴合辊；111…透射检查器；113、119…喷墨印刷器；115…检查器(透射检查器或反射检查器)；117…代码读取器。

Claims (5)

1.一种层叠光学膜的缺陷检查方法，其是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而得到层叠光学膜、并对所述层叠光学膜中的缺陷进行检查的方法，
所述层叠光学膜的缺陷检查方法的特征在于，包括：
进行所述光学膜的缺陷检查的第一检查工序；
向所述光学膜贴合所述保护膜以及所述粘合件中的至少一方而生成所述层叠光学膜的工序；
对在所述第一检查工序中检测出的缺陷信息进行记录的记录工序；
进行所述层叠光学膜的缺陷检查的第二检查工序；以及
与在所述第一检查工序中检测出的缺陷以及在所述第二检查工序中检测出的缺陷对应而对所述层叠光学膜进行标记的标记工序，
在所述第二检查工序中，读取在所述记录工序中所记录的所述缺陷信息，不检测与该缺陷信息对应的缺陷。
2.根据权利要求1所述的层叠光学膜的缺陷检查方法，其中，
所述第一检查工序中的缺陷检查方法与所述第二检查工序中的缺陷检查方法相同。
3.根据权利要求1所述的层叠光学膜的缺陷检查方法，其中，
所述第一检查工序中的缺陷检查方法与所述第二检查工序中的缺陷检查方法不同。
4.一种光学膜的缺陷检查方法，其是检查光学膜的缺陷的方法，
所述光学膜的缺陷检查方法的特征在于，包括：
进行所述光学膜的缺陷检查的第一检查工序；
对在所述第一检查工序中检测出的缺陷信息进行记录的记录工序；
对所述光学膜进行与所述第一检查工序中的缺陷检查不同的缺陷检查的第二检查工序；以及
与在所述第一检查工序中检测出的缺陷以及在所述第二检查工序中检测出的缺陷对应而对所述光学膜进行标记的标记工序，
在所述第二检查工序中，读取在所述记录工序中所记录的所述缺陷信息，不检测与该缺陷信息对应的缺陷。
5.一种层叠光学膜的制造方法，其是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而制造层叠光学膜的方法，
所述层叠光学膜的制造方法的特征在于，
所述层叠光学膜的制造方法包括权利要求1至3中任一项所述的层叠光学膜的缺陷检查方法。
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