JP2016161576A - 光学フィルムの検査システム及び検査方法、並びに光学フィルムの品質管理装置及び品質管理方法 - Google Patents

光学フィルムの検査システム及び検査方法、並びに光学フィルムの品質管理装置及び品質管理方法 Download PDF

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Abstract

【課題】本発明は、光学フィルムの検査システム及び検査方法並びに光学フィルムの品質管理装置及び品質管理方法に関するものを提供する。【解決手段】本発明による光学フィルムの検査システム１１０は、光学フィルム工程ライン２００上の特定の位置に配置され、光学フィルム２３０の欠陥を検出する第１検査装置１１１と、光学フィルム２３０の移送方向を基準として第１検査装置の後段に配置され、光学フィルム２３０の欠陥を検出する第２検査装置１１２とを含み、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２は、光学フィルム工程ライン２００上で光学フィルム２３０の移送距離を算出し、相互間の距離及び光学フィルム２３０の移送距離に基づいて同期化される。【選択図】図１

Description

本発明は、光学フィルムの生産工程で光学フィルムを検査し、生産される光学フィルムの品質を管理するための技術に関する。
ＬＣＤ光学材料に使用される偏光フィルムを生産する製造メーカでは、高速で生産される製品のリアルタイム検査のために、インライン（ＩＮ−ＬＩＮＥ）自動光学検査システム（Ａｕｔｏｍａｔｅｄ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ ｓｙｓｔｅｍ、以下、自動光学検査機という）を利用している。一般的に、インライン自動光学検査機は、欠陥の発生位置にインクまたはバーコードマーキングを実施することによって、後工程でマーキングされた部位を廃棄するか、または検品員による追加検査を行うことができる。
しかし、検品員それぞれの熟練度や検品基準などが異なるので、検品員によって検品結果が異なることができ、検品員による検査作業は、多くの費用と時間を消費するようになるという問題点がある。
韓国特許公開第２０１３−００１２３７９号公報
本発明は、光学フィルムの生産工程で光学フィルムを検査する光学フィルムの検査システム及び検査方法、並びに光学フィルムの品質管理装置及び品質管理方法を提供するためのものである。
本発明に係る光学フィルムの検査システムは、光学フィルム工程ライン上の特定の位置に配置され、光学フィルムの欠陥を検出する第１検査装置と、
前記光学フィルムの移送方向を基準として前記第１検査装置の後段に配置され、前記光学フィルムの欠陥を検出する第２検査装置とを含み、
前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記光学フィルム工程ライン上で前記光学フィルムの移送距離を算出し、相互間の距離及び前記光学フィルムの移送距離に基づいて同期化される。
好適には、前記第１検査装置及び第２検査装置は、前記光学フィルム工程ライン上に配置される特定のエンコーダによって生成されるエンコーダ信号を利用して前記光学フィルムの移送距離を算出する。
好適には、前記第１検査装置は、前記光学フィルム工程ライン上に配置される特定のエンコーダによって生成されるエンコーダ信号を利用して前記光学フィルムの移送距離を算出し、
前記第２検査装置は、前記光学フィルム工程ライン上に配置され、前記特定のエンコーダと同一の分解能（Ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ）を有する他のエンコーダによって生成されるエンコーダ信号を利用して前記光学フィルムの移送距離を算出する。
好適には、前記第１検査装置は、欠陥検出を開始した後に算出された前記光学フィルムの移送距離が前記第２検査装置までの距離と一致する場合、前記第２検査装置に検査開始信号を伝送し、
前記第２検査装置は、前記検査開始信号を受信した場合、欠陥検出を開始し、前記光学フィルムの移送距離を算出する。
好適には、前記第１検査装置は、欠陥検出を終了した場合、前記第２検査装置に検査終了信号を伝送し、
前記第２検査装置は、前記検査終了信号を受信し、前記検査終了信号を受信した後に算出された前記光学フィルムの移送距離が前記第１検査装置までの距離と一致する場合、欠陥検出を終了する。
好適には、前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記光学フィルムの移送距離に基づいて、前記検出された欠陥の位置を決定し、前記検出された欠陥の位置を含む欠陥データを生成する。
好適には、前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記光学フィルムを巻き取る巻取部からロール（ｒｏｌｌ）交替信号を受信した場合、前記巻取部までの距離及び前記ロール交替信号を受信した時点まで算出された光学フィルムの移送距離に基づいて、前記ロール交替信号を受信した時点までの生成された欠陥データのうち前記巻取部によって巻き取られない区間に対する欠陥データを除いた交替前のロールに対する欠陥データを生成する。
好適には、前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記ロール（ｒｏｌｌ）交替信号を受信した場合、前記巻取部によって巻き取られない区間に対する欠陥データを含む交替されたロールに対する欠陥データを生成する。
好適には、前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記交替されたロールにおける欠陥の位置と一致するように、前記巻取部によって巻き取られない区間に対する欠陥データに含まれる欠陥の位置を修正する。
好適には、前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記ロール交替信号を受信した時点を基準として、前記光学フィルムの移送距離を初期化し、初期化した移送距離を基準として前記ロール交替信号を受信した後に検出される欠陥の位置を決定する。
好適には、前記第１検査装置及び前記第２検査装置から前記欠陥データを受信し、受信された欠陥データに含まれる欠陥の数、種類、間隔及び分布のうち少なくとも１つに基づいて警告信号を発生させる警報装置をさらに含む。
本発明に係る光学フィルム検査方法は、光学フィルム工程ライン上の特定の位置に配置され、光学フィルムの欠陥を検出し、
前記光学フィルムの移送方向を基準として前記特定の位置の前段に配置される検査装置から検査開始信号を受信する段階と、
前記光学フィルムの欠陥を検出する段階と、
前記検査開始信号を受信した時点から前記光学フィルムの移送距離を算出する段階と、
前記算出された移送距離が前記特定の位置の後段に配置される検査装置までの距離と一致するか否かを判断する段階と、
前記算出された移送距離が前記後段に配置される検査装置までの距離と一致する場合、前記後段に配置される検査装置に検査開始信号を伝送する段階とを含む。
好適には、前記前段に配置される検査装置から検査終了信号を受信する段階と、
前記検査終了信号を受信した時点から前記光学フィルムの移送距離を算出する段階と、
前記検査終了信号を受信した時点から算出された光学フィルムの移送距離が前記前段に配置される検査装置までの距離と一致するか否かを判断する段階と、
前記検査終了信号を受信した時点から算出された光学フィルムの移送距離が前記前段に配置される検査装置までの距離と一致する場合、前記欠陥検出を終了する段階と、
前記後段に配置される検査装置に検査終了信号を伝送する段階とをさらに含む。
好適には、前記光学フィルムの移送距離は、前記光学フィルム工程ライン上に配置され、前記前段及び後段に配置される検査装置と共有する特定のエンコーダによって生成されるエンコーダ信号を利用して算出される。
好適には、前記光学フィルムの移送距離は、前記光学フィルム工程ライン上に配置され、前記前段及び後段に配置される検査装置によって利用されるエンコーダと同一の分解能を有するエンコーダによって生成されるエンコーダ信号を利用して算出される。
好適には、前記算出された前記光学フィルムの移送距離に基づいて、前記検出された欠陥の位置を決定する段階と、
前記検出された欠陥の位置を含む欠陥データを生成する段階とをさらに含む。
好適には、前記光学フィルムを巻き取る巻取部からロール（ｒｏｌｌ）交替信号を受信する段階と、
前記巻取部までの距離に基づいて、前記ロール交替信号を受信した時点までの生成された欠陥データのうち前記巻取部によって巻き取られない区間に対する欠陥データを除いた交替前のロールに対する欠陥データを生成する段階とをさらに含む。
好適には、前記巻き取られない区間に対する欠陥データを含む交替されたロールに対する欠陥データを生成する段階をさらに含む。
好適には、前記交替されたロールに対する欠陥データを生成する段階は、前記交替されたロールにおける欠陥の位置と一致するように、前記巻取部によって巻き取られない区間に対する欠陥データに含まれる欠陥の位置を修正する。
好適には、前記交替されたロールに対する欠陥データを生成する段階は、前記ロール交替信号を受信した時点を基準として、前記光学フィルムの移送距離を初期化し、初期化した移送距離を基準として前記ロール交替信号を受信した後に検出される欠陥の位置を決定する。
本発明に係る光学フィルムの品質管理装置は、光学フィルム工程ラインの異なる位置に配置される複数の検査装置の各々から欠陥データを受信し、受信された欠陥データを併合するデータ併合部と、
前記併合された欠陥データに基づいて、前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置を決定する切削モデル決定部と、
前記併合された欠陥データに基づいて、前記光学フィルムの領域別の検査方法を決定する検査方法決定部とを含む。
好適には、前記複数の欠陥データは、欠陥位置情報を含む。
好適には、前記データ併合部は、前記欠陥位置情報に基づいて前記複数の欠陥データを併合する。
好適には、前記欠陥データは、前記光学フィルム工程ライン上で前記光学フィルムの移送距離に関する情報をさらに含み、
前記データ併合部は、前記欠陥位置情報、前記光学フィルムの移送距離及び既定の光学フィルムロールの長さに基づいて前記受信された欠陥データを併合する。
好適には、前記データ併合部は、前記光学フィルムの移送距離に基づいて前記受信された欠陥データのうち前記既定の光学フィルムロールの長さまでの欠陥データを併合し、交替前のロールに対する欠陥データを生成する。
好適には、前記データ併合部は、前記光学フィルムの移送距離に基づいて前記受信された欠陥データのうち前記既定の光学フィルムロールの長さを超過する欠陥データを併合し、交替後のロールに対する欠陥データを生成する。
好適には、前記データ併合部は、前記既定の光学フィルムロールの長さを超過する欠陥データに対して、前記光学フィルムの移送距離を初期化し、初期化した移送距離を基準として前記欠陥位置情報を修正した後に併合し、交替後のロールに対する欠陥データを生成する。
好適には、前記切削モデル決定部は、前記併合された欠陥データに基づいて切削サイズ及び切削位置による前記光学フィルムの収率を計算し、前記計算された収率に基づいて前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置を決定する。
好適には、前記光学フィルムの収率は、面取り収率及び検品収率を含む。
好適には、前記検査方法決定部は、前記併合された欠陥データに含まれる欠陥を欠陥種類の別に分類し、前記分類された欠陥の種類及び位置に基づいて、前記領域別の検査方法を決定する。
好適には、前記併合された欠陥データは、未検査領域に関する情報を含み、
前記検査方法決定部は、前記未検査領域に対する検査方法を全数検査として決定する。
好適には、前記併合された欠陥データは、オーバーフロー（ｏｖｅｒｆｌｏｗ）が発生した領域に関する情報を含み、
前記検査方法決定部は、前記オーバーフローが発生した領域に対する検査方法を全数検査として決定する。
好適には、前記領域別の検査方法、前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置に基づいて、簡易検査方法として決定された領域が最大限含まれるように、前記光学フィルムに対する製品ロット構成を決定するロット構成決定部をさらに含む。
本発明に係る光学フィルムの品質管理方法は、光学フィルム工程ラインの異なる位置に配置される複数の検査装置の各々から欠陥データを受信する段階と、
前記受信された欠陥データを併合する段階と、
前記併合された欠陥データに基づいて、前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置を決定する段階と、
前記併合された欠陥データに基づいて、前記光学フィルムの領域別の検査方法を決定する段階とを含む。
好適には、前記複数の欠陥データは、欠陥位置情報を含む。
好適には、前記併合する段階は、前記欠陥位置情報に基づいて前記複数の欠陥データを併合する。
好適には、前記欠陥データは、前記光学フィルム工程ライン上で前記光学フィルムの移送距離に関する情報をさらに含み、
前記併合する段階は、前記欠陥位置情報、前記光学フィルムの移送距離及び既定の光学フィルムロールの長さに基づいて前記受信された欠陥データを併合する。
好適には、前記併合する段階は、前記光学フィルムの移送距離に基づいて前記受信された欠陥データのうち前記既定の光学フィルムロールの長さまでの欠陥データを併合し、交替前のロールに対する欠陥データを生成する。
好適には、前記併合する段階は、前記光学フィルムの移送距離に基づいて前記受信された欠陥データのうち前記既定の光学フィルムロールの長さを超過する欠陥データを併合し、交替後のロールに対する欠陥データを生成する。
好適には、前記併合する段階は、前記既定の光学フィルムロールの長さを超過する欠陥データに対して、前記光学フィルムの移送距離を初期化し、初期化した移送距離を基準として前記欠陥位置情報を修正した後に併合し、交替後のロールに対する欠陥データを生成する。
好適には、前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置を決定する段階は、前記併合された欠陥データに基づいて切削サイズ及び切削位置による前記光学フィルムの収率を計算する段階と、
前記計算された収率に基づいて前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置を決定する段階とを含む。
好適には、前記光学フィルムの収率は、面取り収率及び検品収率を含む。
好適には、前記光学フィルムの領域別の検査方法を決定する段階は、前記併合された欠陥データに含まれる欠陥を欠陥種類の別に分類する段階と、
前記分類された欠陥の種類及び位置に基づいて、前記領域別の検査方法を決定する段階とを含む。
好適には、前記併合された欠陥データは、未検査領域に関する情報を含み、
前記光学フィルムの領域別の検査方法を決定する段階は、前記未検査領域に対する検査方法を全数検査として決定する。
好適には、前記複数の欠陥データは、オーバーフロー（ｏｖｅｒｆｌｏｗ）が発生した領域に関する情報を含み、
前記光学フィルムの領域別の検査方法を決定する段階は、前記オーバーフローが発生した領域に対する検査方法を全数検査として決定する。
好適には、前記領域別の検査方法、前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置に基づいて、簡易検査方法として決定された領域が最大限含まれるように前記光学フィルムに対する製品ロット構成を決定する段階をさらに含む。
本発明によれば、インラインフィルム生産工程で生産するロールの品質を自動に分析し、分析した情報を活用して効果的な製品サイズを選定することによって、面取り収率を向上させることができる。
また、欠陥の位置によって適切な製品ロット（ｌｏｔ）構成を決定し、ロット別の検品方法を指定することによって、後工程で品質検査のための必要な人員と時間を低減することができる。
本発明の一実施形態による光学フィルム品質管理システムの概略的な構成図である。 本発明の一実施形態による検査装置の動作を説明するための例示図である。 本発明の一実施形態による品質管理装置１２０の構成図である。 光学フィルム切削モデルを説明するための例示図である。 光学フィルム切削モデルを説明するための例示図である。 光学フィルム切削モデルを説明するための例示図である。 光学フィルム切削モデルを説明するための例示図である。 光学フィルム切削モデルを説明するための例示図である。 光学フィルム切削モデルを説明するための例示図である。 製品ロット構成を説明するための例示図である。 製品ロット構成を説明するための例示図である。 製品ロット構成を説明するための例示図である。 一実施形態による光学フィルム検査方法の流れ図である。 他の実施形態による光学フィルム検査方法の流れ図である。 さらに他の実施形態による光学フィルム検査方法の流れ図である。 本発明の一実施形態による光学フィルムの品質管理方法の流れ図である。
以下、図面を参照して本発明の具体的な実施形態を説明する。以下の詳細な説明は、本明細書で記述された方法、装置及び／またはシステムに対する包括的な理解を助けるために提供される。しかし、これは、例示に過ぎず、本発明は、これに制限されない。
本発明の実施形態を説明するに際して、本発明と関連した公知技術に対する具体的な説明が本発明の要旨を不明にすることができると判断される場合には、その詳細な説明を省略する。そして、後述する用語は、本発明における機能を考慮して定義された用語であって、これは、使用者、運用者の意図または慣例などによって変わることができる。したがって、その定義は、本明細書全般にわたった内容に基づいて行われなければならない。詳細な説明において使用される用語は、ただ本発明の実施形態を記述するためのものであり、決して制限してはならない。 明確に別途示されない限り、単数形態の表現は、複数形態の意味を含む。本説明において、「含む」または「具備する」のような表現は、或る特性、数字、段階、動作、要素、これらの一部または組み合わせを示すためのものであり、記述されたもの以外に、１つまたはそれ以上の他の特性、数字、段階、動作、要素、これらの一部または組み合わせの存在または可能性を排除するように解釈してはならない。
図１は、本発明の一実施形態による品質管理システムの概略的な構成図である。
図１を参照すれば、本発明の一実施形態による品質管理システム１００は、光学フィルムの検査システム１１０及び品質管理装置１２０を含む。
光学フィルムの検査システム１１０は、光学フィルム工程ライン２００の異なる位置に配置される複数の検査装置１１１、１１２及び警報装置１１３を含むことができる。図示の例において、検査装置１１１、１１２は、２個で例示されているが、必ずこれに限定されるものではなく、必要に応じて、２個以上の検査装置が配置され得る。また、それぞれの検査装置１１１、１２２は、光学フィルムの工程中に発生する欠陥を検出するに適した位置なら、光学フィルム工程ライン２００のいずれにも配置され得る。
以下では、説明の便宜のために、光学フィルム２３０の移送方向を基準として光学フィルム工程ライン２００の前段に配置される検査装置１１１を第１検査装置と指称し、後段に配置される検査装置１１２を第２検査装置と指称する。
第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２は、光学フィルム２３０の上面に配置されるカメラモジュールを含むことができ、カメラモジュールを利用して光学フィルム２３０を撮影し、撮影されたイメージから欠陥を検出するように構成され得る。また、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２は、光学フィルム２３０を基準としてカメラモジュールが位置する面の反対面に光源を具備できる。カメラモジュールは、光源から放出されて光学フィルム２３０を透過する光を撮影するように構成され得る。この場合、光学フィルム２３０に欠陥が存在する場合、当該部分は、光の透過度が低くなるので、容易に欠陥を検出できる。
また、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２は、検出された欠陥に関する情報を含む欠陥データを生成できる。例えば、欠陥データは、光学フィルムのロット（ｌｏｔ）番号、検出された欠陥の位置、サイズ、明るさ、欠陥を撮影したイメージ、検査開始及び終了時間などを含むことができる。この際、光学フィルムのロット番号は、光学フィルムロール（ｒｏｌｌ）を識別するためのものである。
また、第１検査装置１１１と第２検査装置１１２は、光学フィルム工程ライン２００上で光学フィルム２３０の移送距離を算出できる。
例えば、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２は、光学フィルム工程ライン２００に配置される特定のエンコーダ（ｅｎｃｏｄｅｒ）２１０によって生成されたエンコーダ信号を共有し、当該エンコーダ信号を利用して、光学フィルム２３０の移送距離を算出できる。
また、図１に示された例において、光学フィルム工程ライン２００上に配置されるエンコーダ２１０が１個で図示しているが、必ずこれに限定されるものではなく、図示の例とは異なって、同一の分解能（Ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ）を有する複数のエンコーダが配置され得る。この場合、第１検査装置１１１は、複数のエンコーダのうち１つによって生成されたエンコーダ信号を利用して光学フィルム２３０の移送距離を算出し、第２検査装置１１２は、他のエンコーダで生成されたエンコーダ信号を利用して光学フィルム２３０の移送距離を算出できる。
また、エンコーダ２１０によって生成されたエンコーダ信号は、光学フィルム工程ライン２００上で移送される光学フィルム２３０の移送速度を含むことができる。したがって、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２は、検査を開始した時点以後に経過した時間をエンコーダ信号に乗算して、光学フィルム２３０の移送距離を算出できる。また、第１検査装置１１１と第２検査装置１１２は、算出された光学フィルム２３０の移送距離に基づいて光学フィルム２３０で検出された欠陥の位置を決定できる。
また、第１検査装置１１１と第２検査装置１１２は、相互間の距離に関する情報を保有できる。また、第１検査装置１１１と第２検査装置１１２は、エンコーダ信号によって算出された光学フィルム２３０の移送距離及び相互間の距離に基づいて同期化され得る。
また、第１検査装置１１１と第２検査装置１１２は、光学フィルム工程ライン２００に配置され、工程済みの光学フィルム２３０を巻き取る巻取部２２０までの距離に関する情報を保有できる。また、第１検査装置１１１と第２検査装置１１２は、エンコーダ信号によって算出された光学フィルムの移送距離及び巻取部２２０までの距離に基づいて巻取部２２０と同期化され得る。
第１検査装置１１１と第２検査装置１１２の同期化に対する詳細な説明は、図２を参照して後述する。
警報装置１１３は、第１検査装置１１１及び第２検査装置から欠陥データを受信し、受信された欠陥データ各々に含まれる欠陥の数、種類、間隔及び分布のうち少なくとも１つに基づいて警告信号を発生させることができる。
例えば、警報装置１１３は、第１検査装置１１１または第２検査装置１１２から受信された欠陥データを累積し、一定区間に含まれる欠陥の数乃至一定領域に含まれる欠陥の数が既定の数以上となる場合、警告信号を発生させることができる。
他の例として、警報装置１１３は、第１検査装置１１１または第２検査装置１１２から受信された欠陥データのうち一定区間以内に同じ間隔の不良が既定の数以上である場合または一定区間以内に不良の分布が線形を成す場合、警告信号を発生させることができる。
さらに他の例として、警報装置１１３は、第１検査装置１１１または第２検査装置１１２から受信された欠陥データのうち一定区間内に含まれる不良の密集度が既定の値以上である場合、警告信号を発生させることができる。
さらに他の例として、警報装置１１３は、第１検査装置１１１または第２検査装置１１２から受信された欠陥データのうち主要不良として指定された欠陥が含まれる場合、警告信号を発生させることができる。
また、警報装置１１３は、ディスプレイ手段を具備でき、発生する警告信号は、ディスプレイ手段を用いて表示され得る。これにより、管理者は、即刻で工程ラインの異常発生を認知できる。
品質管理装置１２０は、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２から欠陥データを受信する。また、品質管理装置１２０は、受信された欠陥データに基づいて、光学フィルムの切削サイズ及び位置を決定し、光学フィルムの領域別の検査方法を決定できる。品質管理装置に関する詳細な説明は、図３を参照して後述する。
図２は、本発明の一実施形態による検査装置の動作を説明するための例示図である。図示の例において、Ｌ１は、第１検査装置１１１と第２検査装置１１２との間の距離を示す。また、Ｌ２は、第１検査装置１１１と巻取部２２０との間の距離、Ｌ３は、第２検査装置１１２と巻取部２２０との間の距離をそれぞれ示す。
図２を参照すれば、第１検査装置１１１は、エンコーダ信号を利用して、光学フィルム２３０に対する欠陥検出を開始した時点から光学フィルム２３０の移送距離を算出する。その後、第１検査装置１１１は、光学フィルム２３０の移送距離が第２検査装置１１２までの距離Ｌ１と一致する場合、第２検査装置１１２に検査開始信号を伝送できる。
また、第２検査装置１１２は、第１検査装置１１１から検査開始信号を受信した場合、検査開始信号を受信した時点から光学フィルム２３０に対する欠陥検出を開始できる。具体的に、第２検査装置１１２は、第１検査装置１１１から検査開始信号を受信した時点から光学フィルム２３０の欠陥を検出し、エンコーダ信号を利用して光学フィルム２３０の移送距離を算出できる。これによって、光学フィルム２３０に対して第１検査装置１１１によって生成された欠陥データの検査開始位置と第２検査装置１１２によって生成された欠陥データの検査開始位置とが同期化され得る。
また、第１検査装置１１１は、光学フィルム２３０に対する欠陥検出を終了した場合、検査終了信号を第２検査装置１１２に伝送できる。第１検査装置１１１から検査終了信号を受信した第２検査装置１１２は、検査終了信号を受信した時点から算出された光学フィルム２３０の移送距離が第１検査装置１１１までの距離Ｌ１と一致するか否かを判断できる。その後、第２検査装置１１２は、検査終了信号を受信した時点以後に算出された光学フィルム２３０の移送距離が第１検査装置１１１までの距離Ｌ１と一致する場合、光学フィルム２３０に対する検査を終了できる。これによって、光学フィルム２３０に対して第１検査装置１１１によって生成された欠陥データの検査終了位置と第２検査装置１１２によって生成された検査終了位置とが同期化され得る。
また、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２は、光学フィルム工程ライン２００に配置され、光学フィルム２３０を巻き取る巻取部２２０と同期化して動作できる。
図１を参照すれば、巻取部２２０は、２以上のコア２２１、２２２を具備でき、それぞれのコア２２１、２２２を利用して、光学フィルム２３０を巻き取ることができる。例えば、巻取部２２０は、コア２２１を利用して、移送される光学フィルム２３０を連続的に巻り取って、特定条件によって巻き取られる光学フィルム２３０を切断し、１つのロール（ｒｏｌｌ）を生成する。その後、巻取部２２０は、他のコア２２２を利用して切断した地点以後から移送される光学フィルム２３０を連続的に巻き取って、他の１つのロールを生成できる。すなわち、コアが交替された後、巻取部２２０によって巻き取られる光学フィルム２３０は、コア交替前に巻き取られた光学フィルム２３０と別個のロールを形成するようになるので、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２は、それぞれのロールに対して欠陥データを区分して生成する必要がある。
巻取部２２０は、コア２２１、２２２を交替する場合、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２にロール交替信号を伝送できる。第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２は、巻取部２２０からロール交替信号を受信した場合、交替前のロールに対する欠陥データ生成を終了し、交替されたロールに対する欠陥データを生成できる。
具体的に、第１検査装置１１１は、巻取部２２０からロール交替信号を受信した場合、巻取部２２０までの距離Ｌ２及びロール交替信号を受信した時点まで算出された光学フィルム２３０の移送距離に基づいて、ロール交替信号を受信した時点まで生成された欠陥データのうち巻取部２２０によって巻き取られない区間に対する欠陥データを削除し、交替前のロールに対する欠陥データを生成できる。
また、第１検査装置１１１は、巻取部２２０からロール交替信号を受信した場合、巻取部２２０までの距離Ｌ２及びロール交替信号を受信した時点まで算出された光学フィルム２３０の移送距離に基づいて、ロール交替信号を受信した時点まで生成された欠陥データのうち巻取部２２０によって巻き取られない区間に対する欠陥データを含む交替されたロールに対する欠陥データを生成できる。
同様に、第２検査装置１１２は、巻取部２２０からロール交替信号を受信した場合、巻取部２２０までの距離Ｌ３及びロール交替信号を受信した時点まで算出された光学フィルムの移送距離に基づいて、ロール交替信号を受信した時点まで生成された欠陥データのうち巻取部２２０によって巻き取られない区間に対する欠陥データを削除し、交替前のロールに対する欠陥データを生成できる。
また、第２検査装置１１２は、巻取部２２０からロール交替信号を受信した場合、巻取部２２０までの距離Ｌ３及びロール交替信号を受信した時点まで算出された光学フィルム２３０の移送距離に基づいて、ロール交替信号を受信した時点まで生成された欠陥データのうち巻取部２２０によって巻き取られない区間に対する欠陥データを含む交替されたロールに対する欠陥データを生成できる。
例えば、巻取部２２０からロール交替信号を受信した時点に第１検査装置１１１によって算出された光学フィルムの移送距離が３００ｍであり、第１検査装置１１１と巻取部２２０との間の距離が１０ｍであると仮定すれば、２９０〜３００ｍ区間の光学フィルム２３０は、まだ巻取部２２０によって巻き取られない状態であり、巻取部２２０のコアが交替された後、交替されたコアによって巻き取られる。したがって、第１検査装置１１１は、ロール交替信号を受信した時点まで生成された欠陥データのうち０〜２９０ｍ区間に対する欠陥データは、交替前のロールに対する欠陥データに含まれるようにし、２９０〜３００ｍ区間に対する欠陥データの場合、交替後のロールに対する欠陥データに含まれるようにすることができる。
また、交替後のロールに対する欠陥データは、２９０〜３００ｍ区間に対する欠陥データとロール交替信号を受信した時点以後に検出された欠陥に対する欠陥データを含むようになる。この際、２９０〜３００ｍ区間に対する欠陥データは、交替されたロールを基準として０〜１０ｍ区間に対する欠陥データに該当し、ロール交替信号を受信した時点以後に検出された欠陥は、交替されたロールを基準として１０ｍ以後に検出された欠陥である。したがって、交替されたロールに対する欠陥データを生成する場合、欠陥の位置を交替されたロールにおいて実際欠陥の位置と一致させる必要がある。
このために、まず、第１検査装置１１１は、交替されたロールにおいて欠陥の実際位置と一致するように、２９０〜３００ｍ区間に対する欠陥データに含まれる欠陥の位置を修正できる。例えば、２９２ｍ地点で検出された欠陥の場合、欠陥の位置を２ｍに修正し、２９５ｍ地点で検出された欠陥の場合、５ｍに修正することができる。また、修正された欠陥の位置は、多様な方法によって計算され得る。一例として、修正された欠陥の位置は、次のような数式１によって計算され得る。
［数式１］
Ｌｍ＝Ｌｄ−Ｌ＋Ｌ２
この際、Ｌｍは、修正された欠陥の位置、Ｌｄは、修正前の欠陥の位置、Ｌは、検査開始時点からロール交替信号を受信するまで算出された光学フィルムの移送距離、Ｌ２は、巻取部２２０と第１検査装置１１１との間の距離をそれぞれ意味する。
また、第１検査装置１１１は、ロール交替信号を受信した時点を基準として、光学フィルム２３０の移送距離を初期化し、初期化した移送距離を基準として欠陥検出位置を判断する。例えば、第１検査装置１１１は、ロール交替信号を受信した時点を基準として、光学フィルム２３０の移送距離を巻取部２２０までの距離Ｌ２に初期化することができる。この場合、ロール交替信号を受信した時点から欠陥が検出された時点まで光学フィルム２３０の移送距離がｘの場合、検出された欠陥の位置は、Ｌ２＋ｘになる。
また、前述したように、第１検査装置１１１と第２検査装置１１２は、同期化されて動作する。したがって、第１検査装置１１１と第２検査装置１１２との間の距離Ｌ１が５ｍであると仮定すれば、巻取部２２０からロール交替信号を受信した時点に第１検査装置１１１によって算出された光学フィルムの移送距離が３００ｍの場合、第２検査装置１１２によって算出される光学フィルムの移送距離は、２９５ｍである。また、第２検査装置１１２と巻取部２２０との間の距離Ｌ３が５ｍであると仮定すれば、ロール交替信号を受信した時点に２９０〜２９５ｍ区間の光学フィルム２３０は、まだ巻取部２２０によって巻き取られない状態であり、巻取部２２０のコアが交替された後に、交替されたコアによって巻き取られる。したがって、第２検査装置１１２は、ロール交替信号を受信した時点まで生成された欠陥データのうち０〜２９０ｍ区間に対する欠陥データは、交替前のロールに対する欠陥データに含まれるようにし、２９０〜２９５ｍ区間に対する欠陥データの場合、交替後のロールに対する欠陥データに含まれるようにすることができる。
また、第１検査装置１１１と同様に、第２検査装置１１２は、交替されたロールにおいて欠陥の実際位置と一致するように、２９０〜２９５ｍ区間に対する欠陥データに含まれる欠陥の位置を修正できる。例えば、２９１ｍ地点で検出された欠陥の場合、欠陥の位置を１ｍに修正し、２９４ｍ地点で検出された欠陥の場合、４ｍに修正することができる。
また、第２検査装置１１２は、ロール交替信号を受信した時点を基準として、光学フィルム２３０の移送距離を初期化し、初期化した移送距離を基準として欠陥検出位置を判断する。例えば、第２検査装置１１２は、ロール交替信号を受信した時点を基準として、光学フィルム２３０の移送距離を巻取部２２０までの距離Ｌ３に初期化できる。この場合、ロール交替信号を受信した時点から欠陥が検出された時点まで光学フィルム２３０の移送距離がｘの場合、第２検査装置１１２によって算出される検出された欠陥の位置は、Ｌ３＋ｘになる。
また、交替前のロールに対する欠陥データと交替後のロールに対する欠陥データ生成は、前述したように、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２によって行われるが、必ずこれに限定されるものではなく、後述するように、品質管理装置１２０によって行われてもよい。
図３は、本発明の一実施形態による品質管理装置の構成図である。
図３を参照すれば、品質管理装置１２０は、データ併合部１２１、切削モデル決定部１２３、検査方法決定部１２５及びロット構成部１２７を含む。
データ併合部１２１は、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２によって生成された欠陥データを受信し、受信された欠陥データを併合できる。例えば、データ併合部１２１は、第１検査装置１１１から受信された欠陥データと第２検査装置１１２から受信された欠陥データのうち重複されるデータを除去した後、２つのデータを１つにまとめることができる。これによって、データ併合部１２１は、光学フィルムから検出されたすべての欠陥に関する情報を含む１つの欠陥データを生成できる。この際、重複されるデータは、欠陥の位置によって判断され得る。
また、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２によって生成された欠陥データは、光学フィルム工程ライン２００上で光学フィルム２３０の移送距離に関する情報を含むことができる。例えば、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２は、前述したように、エンコーダ情報に基づいて、それぞれの検査開始時点から光学フィルム工程ライン上の光学フィルム２３０の移送距離を測定でき、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２によって生成される欠陥データは、測定された光学フィルム２３０の移送距離に関する情報を含むことができる。
データ併合部１２１は、既定の光学フィルムロールの長さと第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２から受信された欠陥データに含まれる光学フィルムの移送距離に関する情報及び欠陥位置情報に基づいて第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２から受信された欠陥データを併合できる。この際、光学フィルムロールの長さは、使用者によってあらかじめ設定され得る。
具体的に、巻取部２２０は、あらかじめ設定された光学フィルムロールの長さ分だけ光学フィルム２３０を巻き取った場合、巻き取られる光学フィルム２３０を切断し、１つのロールを生成した後、コア２２１または２２２を交替して、切断した地点以後から移送される光学フィルム２３０を巻き取ることができる。この際、第１検査装置１１１と第２検査装置１１２は、光学フィルム工程ライン２００上で光学フィルム２３０の移送方向を基準として巻取部２２０の前段に配置されるので、第１検査装置１１１と第２検査装置１１２によって生成される光学フィルムに対する欠陥データは、交替前のロールの長さと一致しない。したがって、データ併合部１２１は、第１検査装置１１１と第２検査装置１１２から受信される欠陥データの各々に含まれる光学フィルムの移送距離に関する情報に基づいて、受信された欠陥データのうち既定の光学フィルムロールの長さ分だけの欠陥データを併合することによって、交替前のロールに対する欠陥データを生成できる。
例えば、図２で、第１検査装置１１１と巻取部２２０との間の距離Ｌ２が３０ｍであり、第２検査装置１１２と巻取部２２０との間の距離Ｌ３が２０ｍであり、既定の光学フィルムロールの長さが１００ｍであると仮定すれば、巻取部２２０は、１００ｍの光学フィルムロールを巻き取った後、コアを交替する。この際、第１検査装置１１１によって測定される光学フィルム２３０の移送距離は、１３０ｍであり、第２検査装置１１２によって測定される光学フィルム２３０の移送距離は、１２０ｍである。したがって、データ併合部１２１は、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２から受信された欠陥データのうち光学フィルムの移送距離が１００ｍに該当する欠陥データを併合し、交替前のロールに対する結合データを生成できる。
その後、データ併合部１２１は、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２から受信された欠陥データのうち光学フィルムの移送距離が１００ｍを超過する欠陥データを併合し、交替後のロールに対する欠陥データを生成できる。
また、データ併合部１２１は、交替後のロールに対する欠陥データを生成する場合、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２から受信された光学フィルムの移送距離を０ｍに初期化できる。その後、データ併合部１２１は、初期化した光学フィルムの移送距離に基づいて第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２から受信された欠陥データに含まれる欠陥の位置を修正できる。その後、データ併合部１２１は、修正された欠陥データを併合し、交替後のロールに対する欠陥データを生成できる。例えば、第１検査装置１１１から受信された欠陥データのうち１３０ｍ地点で検出された欠陥の場合、欠陥の位置を３０ｍに修正でき、第２検査装置１１２から受信された欠陥データのうち１２０ｍ地点で検出された欠陥の場合、２０ｍに修正できる。
また、結合された欠陥データは、オーバーフローが発生した領域及び未検査領域に関する情報を含むことができる。この際、オーバーフローが発生した領域は、第１検査装置１１１または第２検査装置１１２で処理可能な数以上の欠陥が検出された領域を意味することができる。例えば、第１検査装置１１１及び第２検査装置１１２は、光学フィルム２３０の特定領域でオーバーフローが発生した場合、オーバーフローが発生した領域に関する情報を欠陥データに含ませることができ、これによって、データ併合部１２１によって結合された欠陥データも、オーバーフローが発生した領域に関する情報を含むことができる。
また、未検査領域に関する情報は、第１検査装置１１１または第２検査装置１１２のエラーに起因して検査されない領域に関する情報を意味できる。例えば、第１検査装置１１１がエラーに起因して光学フィルム２３０に対する検査を一時的に中断してから再び始まった場合、第１検査装置１１１によって検査されない領域が発生する。この際、第１検査装置１１１が光学フィルム２３０に対する検査を再度開始した後には、検査を中断した時点まで生成された欠陥データとは別個の欠陥データが生成され得、それぞれの欠陥データは、異なるロット番号を有する。
データ併合部１２１は、現在製造中の光学フィルムに対するロット番号を保有でき、第１検査装置１１１から現在製造中の光学フィルムに対するロット番号と異なるロット番号を有する欠陥データが受信された場合、以前に受信された欠陥データの終了時点とロット番号が異なる欠陥データの開始時間との差を距離に換算して、未検査領域を設定し、結合された欠陥データに未検査領域に関する情報を含ませることができる。
切削モデル決定部１２３は、データ併合部１２１によって併合された欠陥データに基づいて、光学フィルムの切削サイズ及び位置を含む切削モデルを決定できる。
具体的に、切削モデル決定部１２３は、併合された欠陥データに基づいて、光学フィルムの切削サイズ及び位置による収率を計算し、計算された収率が最大になる切削サイズ及び位置を光学フィルムの切削サイズ及び位置に決定できる。この際、収率は、面取り収率及び検品収率を含むことができる。また、切削モデル決定部１２３は、面取り収率と検品収率を乗算した総合収率が最大になるように、光学フィルムの切削サイズ及び位置を決定できる。
また、面取り収率は、例えば、特定の切削サイズによって光学フィルムロールを切断したとき、光学フィルムのロールから獲得できる製品数を意味できる。例えば、面取り収率は、数式２を利用して算出され得る。
［数式２］
面取り収率＝ロールの面積／製品の面積
また、検品収率は、例えば、特定の切削サイズ及び位置によって光学フィルムロールを切断したとき、光学フィルムのロールから獲得できる製品の数と、獲得された製品のうち欠陥を含んでいない良品の数との比率を意味することができる。
例えば、検品収率は、数式３を利用して計算され得る。
［数式３］
検品収率＝良品の数／全体製品の数
例えば、切削モデル決定部１５３は、既定の製品のサイズを基準としてｘ軸及びｙ軸によって切削位置を変更しつつ、光学フィルムロールを仮想カットして、検品収率を計算できる。
以下では、具体的に、図４ａ〜図４ｆを参照して、切削モデル決定部１５３の収率計算について説明する。
図４ａ〜図４ｆは、切削サイズ及び位置によって光学フィルムを仮想カットした例を示し、図示の例において、点で表示された部分は、光学フィルムで検出された欠陥を示す。
図４ａ〜図４ｃは、同一のサイズで光学フィルムを切断した場合であり、図４ａは、光学フィルムの進行方向を基準として左にかたよって光学フィルムを四角形のシート形態で切断した場合、図４ｂは、右側にかたよって切断した場合、図４ｃは、中央を基準として光学フィルムを切断した場合の例をそれぞれ示す。
図面から分かるように、図４ａ〜図４ｃの場合、面取りされる製品の数は、いずれも１４である。図４ａの場合、１４個のシートのうち欠陥が含まれていないシートの数は７個であり、図４ｂの場合には、８個であり、図４ｃの場合、７個である。これによって、それぞれの検品収率を計算して見れば、図４ａの場合、５０％、図４ｂの場合、約５７．１％、図４ｃの場合、５０％である。したがって、図４ａ及び図４ｂと比較して、図４ｃの場合に検品収率が高いことが分かる。
また、図４ａと図４ｃの場合、総合収率が７００であり、図４ｂの場合、総合収率が約７９９．４である。
図４ｄ〜図４ｆは、図４ａ〜図４ｃと異なるサイズで光学フィルムを切断した場合であり、図４ｄは、光学フィルムの進行方向を基準として左にかたよって光学フィルムを四角形のシート形態で切断した場合、図４ｅは、フィルムの中央を基準として切断した場合、図４ｆは、右側にかたよって光学フィルムを切断した場合の例をそれぞれ示す。
図面から分かるように、図４ｄ〜図４ｆの場合、面取りされる製品の数は、いずれも１０である。図４ｄの場合、１０個のシートのうち欠陥が含まれていないシートの数は、３個であり、図４ｅと図４ｆの場合、４個である。これによって、それぞれの検品収率を計算して見れば、図４ｄの場合、３０％、図４ｅと図４ｆの場合、４０％である。したがって、図４ｄと比較して、図４ｅ及び図４ｆの場合に検品収率が高いことが分かる。
また、図４ｄの総合収率は、３００であり、図４ｅ及び図４ｆの総合収率は、４００である。
図４ａ〜図４ｆに示された例の総合収率を参照すれば、図４ｂに示された例が最も高い総合収率を示すことが分かる。したがって、切削モデル決定部１２３は、図４ｂに示された例のように、光学フィルムの切削位置及びサイズを決定できる。
検査方法決定部１２５は、データ併合部１２１によって併合された欠陥データに基づいて、前記光学フィルムの領域別の検査方法を決定できる。この際、領域別の検査方法は、光学フィルムロールが製造された後、後工程で追加に行われる検査方法を意味できる。
具体的に、検査方法決定部１２５は、データ併合部１３１によって併合された欠陥データに含まれる欠陥を欠陥種類の別に分類し、分類された欠陥の種類及び位置に基づいて、領域別の検査方法を決定できる。この際、欠陥の種類は、輝点欠陥、気泡、スクラッチ（ｓｃｒａｔｃｈ）、密集性欠陥、ピッチ（ｐｉｔｃｈ）欠陥などに分類され得、分類された欠陥に対する検査法は、透過検査、反射検査、全数検査、目視検査などを含むことができる。
例えば、検査方法決定部１２５は、併合された欠陥データに基づいて、欠陥が含まれる領域と含まれない領域を分類し、欠陥が含まれない領域は、目視検査のような簡易な検査が行われるように検査方法を決定できる。
また、検査方法決定部１２５は、欠陥が含まれる領域の場合、欠陥を種類の別に分類し、分類された欠陥の種類の別にあらかじめ指定された検査方法で当該領域に対する検査方法を決定できる。
また、検査方法決定部１２５は、オーバーフローが発生した領域または未検査領域に対しては全数検査が行われるように検査方法を決定できる。
ロット構成部１２７は、検査方法決定部１２５によって決定された領域別の検査方法及び既定の製品ロット（ｌｏｔ）別の製品個数に基づいて、簡易検査領域が最大限含まれるように製品ロット構成を決定できる。この際、製品ロットは、切削された光学フィルムの束ね単位を識別するためのものである。
図５ａ〜図５ｃは、製品ロット構成を説明するための例示図である。
図５ａは、切削モデル決定部１２３によって決定された切削モデルによる光学フィルムの切削位置と検査方法決定部１２５によって決定された領域別の検査方法を示している。図示の例において、検査方法が表示されない領域は、欠陥が検出されない領域として簡易検査で指定されたものと仮定する。
図５ｂを参照すれば、１つの製品ロットを構成する製品個数が４個であると仮定すれば、切削方向を基準として、横方向または縦方向に製品ロットを構成できる。
具体的に、縦方向に製品ロットを構成する場合を説明すれば、ロット５１０の場合、簡易検査領域のみを含んでおり、ロット５２０の場合、全数検査領域を含んでいる。また、横方向に製品ロットを構成する場合を説明すれば、ロット５３０とロット５４０は、いずれも、全数検査領域を含んでいる。したがって、ロット構成部１２７は、縦方向に製品ロット５１０、５２０を決定できる。
このような方法で、光学フィルムのすべての領域に対する製品ロットを構成した結果は、図５ｃに示された通りである。図５ｃにおいて、同一の数字で表示された部分は、同一のロットに含まれるシートを意味する。
図６は、一実施形態による光学フィルム検査方法の流れ図である。
図６を参照すれば、検査装置は、光学フィルムの移送方向を基準として光学フィルム工程ラインの前段に配置される検査装置から検査開始信号を受信する（６１０）。
検査開始信号を受信した場合、検査装置は、光学フィルムに対する検査を開始し（６２０）、検査開始信号を受信した時点から光学フィルムの移送距離を算出する（６３０）。
その後、検査装置は、算出された光学フィルムの移送距離Ｌが光学フィルムの移送方向を基準として光学フィルム工程ラインの後段に配置される検査装置までの距離Ｌ１と一致するか否かを判断し（６４０）、一致する場合、後段に配置される検査装置に検査開始信号を伝送する（６５０）。
図７は、他の実施形態による光学フィルム検査方法の流れ図である。
図７を参照すれば、検査装置は、光学フィルムの移送方向を基準として光学フィルム工程ラインの前段に配置される検査装置から検査終了信号を受信する（７１０）。
検査終了信号を受信した場合、検査装置は、検査終了信号を受信した時点から光学フィルムの移送距離を算出する（７２０）。
その後、検査装置は、算出された光学フィルムの移送距離Ｌが光学フィルムの移送方向を基準として検査終了信号を伝送した検査装置までの距離Ｌ１と一致するか否かを判断し（７３０）、一致する場合、光学フィルムに対する検査を終了する（７４０）。
その後、検査装置は、後段に配置される検査装置に検査終了信号を伝送する（７５０）。
図８は、さらに他の実施形態による光学フィルム検査方法の流れ図である。
図８を参照すれば、検査装置は、巻取部２２０からロール交替信号を受信する（８１０）。
その後、検査装置は、巻取部２２０までの距離に基づいて、ロール交替信号を受信した時点までの生成された欠陥データのうち巻取部２２０によって巻き取られない区間に対する欠陥データを除いた交替前のロールに対する欠陥データを生成する（８２０）。
その後、検査装置は、ロール交替信号を受信した時点までの生成された欠陥データのうち巻取部２２０によって巻き取られない区間に対する欠陥データを含む交替されたロールに対する欠陥データを生成する（８３０）。
この際、検査装置は、交替されたロールにおける欠陥の位置と一致するように、巻取部２２０によって巻き取られない区間に対する欠陥データに含まれる欠陥の位置を修正できる。
また、検査装置は、ロール交替信号を受信した時点を基準として、光学フィルムの移送距離を巻取部２２０までの距離に初期化し、初期化した移送距離を基準としてロール交替信号を受信した後に検出される欠陥の位置を決定できる。
また、図６〜図８に示された光学フィルム検査方法は、第１検査装置１１１または第２検査装置１１２によって行われることができる。
図９は、本発明の一実施形態による光学フィルムの品質管理方法の流れ図である。
図９を参照すれば、光学フィルムの品質管理装置１２０は、光学フィルム工程ラインの異なる位置に配置される複数の検査装置の各々から欠陥データを受信する（９１０）。
その後、光学フィルムの品質管理装置１２０は、受信された欠陥データを併合し、併合された欠陥データを生成する（９２０）。
この際、欠陥データは、光学フィルム工程ライン上で光学フィルムの移送距離に関する情報を含むことができ、光学フィルムの品質管理装置１２０は、欠陥位置情報、光学フィルムの移送距離及び既定の光学フィルムロールの長さに基づいて複数の検査装置から受信された欠陥データを併合できる。
具体的に、光学フィルムの品質管理装置１２０は、光学フィルムの移送距離に基づいて複数の検査装置から受信された欠陥データのうち既定の光学フィルムロールの長さまでの欠陥データを併合し、交替前のロールに対する欠陥データを生成できる。
また、光学フィルムの品質管理装置１２０は、光学フィルムの移送距離に基づいて複数の検査装置から受信された欠陥データのうち既定の光学フィルムロールの長さを超過する欠陥データを併合し、交替後のロールに対する欠陥データを生成できる。この際、光学フィルムの品質管理装置１２０は、既定の光学フィルムロールの長さを超過する欠陥データに対して、光学フィルムの移送距離を初期化し、初期化した移送距離を基準として欠陥位置情報を修正した後に併合し、交替後のロールに対する欠陥データを生成できる。
また、併合された欠陥データは、未検査領域に関する情報またはオーバーフロー（ｏｖｅｒｆｌｏｗ）が発生した領域に関する情報を含むことができる。
その後、光学フィルムの品質管理装置１２０は、併合された欠陥データに基づいて、光学フィルムの切削サイズ及び切削位置を決定する（９３０）。
この際、光学フィルムの品質管理装置１２０は、併合された欠陥データに基づいて切削サイズ及び切削位置による前記光学フィルムの収率を計算し、計算された収率に基づいて前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置を決定できる。また、光学フィルムの収率は、面取り収率及び検品収率を含むことができる。
その後、光学フィルムの品質管理装置１２０は、併合された欠陥データに基づいて、光学フィルムの領域別の検査方法を決定する（９４０）。
この際、光学フィルムの品質管理装置１２０は、併合された欠陥データに含まれる欠陥を欠陥種類の別に分類し、分類された欠陥の種類及び位置に基づいて領域別の検査方法を決定できる。
また、光学フィルムの品質管理装置１２０は、併合された欠陥データに未検査領域またはオーバーフローが発生した領域に関する情報を含む場合、当該領域に対する検査方法を全数検査として決定できる。
その後、光学フィルムの品質管理装置１２０は、決定された領域別の検査方法、光学フィルムの切削サイズ及び切削位置に基づいて、簡易検査方法として決定された領域が最大限含まれるように、光学フィルムに対する製品ロット構成を決定する（９５０）。
図６〜図９に示された流れ図においては、前記方法を複数個の段階に分けて記載したが、少なくとも一部の段階は、手順を替えて行われてもよく、他の段階と結合されて一緒に行われてもよく、省略されてもよく、詳細段階に分けて行われてもよく、または図示しない１つ以上の段階を付加して行われてもよい。
また、本発明の実施形態は、本明細書で記述した方法をコンピュータ上で行うためのプログラムを含むコンピュータ読み取り可能な記録媒体を含むことができる。前記コンピュータ読み取り可能な記録媒体は、プログラム命令、ローカルデータファイル、ローカルデータ構造などを単独でまたは組み合わせて含むことができる。前記媒体は、本発明のために特別に設計され構成されたものであるか、またはコンピュータソフトウェア分野において通常的に使用可能なものであることができる。コンピュータ読み取り可能な記録媒体の例には、ハードディスク、プロッピィーディスク及び磁気テープのような磁気媒体、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤのような光記録媒体、プロッピィーディスクのような磁気−光媒体、及びロム、ラム、フラッシュメモリーなどのようなプログラム命令を格納し実行するように特別に構成されたハードウェア装置が含まれる。プログラム命令の例には、コンパイラーによって作われるもののような機械語コードだけでなく、インタプリターなどを使用してコンピュータによって実行され得る高級言語コードを含むことができる。
以上、本発明の代表的な実施形態を詳細に説明したが、本発明の属する技術分野における通常の知識を有する者は、前述した実施形態に対して本発明の範疇を逸脱しない限度内で多様な変形が可能であることを理解することができる。したがって、本発明の権利範囲は、説明された実施形態に限って定められてはならず、後述する特許請求範囲だけでなく、この特許請求範囲と均等なものによって定められなければならない。
１００ 品質管理システム
１１０ 光学フィルムの検査システム
１１１ 第１検査装置
１１２ 第２検査装置
１１３ 警報装置
１２０ 品質管理装置
２００ 光学フィルム工程ライン
２１０ エンコーダ
２２０ 巻取部
２２１、２２２ コア
２３０ 光学フィルム
１２１ データ併合部
１２３ 切削モデル決定部
１２５ 検査方法決定部
１２７ ロット構成部

Claims (46)

  1. 光学フィルム工程ライン上の特定の位置に配置され、光学フィルムの欠陥を検出する第１検査装置と、
    前記光学フィルムの移送方向を基準として前記第１検査装置の後段に配置され、前記光学フィルムの欠陥を検出する第２検査装置とを含み、
    前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記光学フィルム工程ライン上で前記光学フィルムの移送距離を算出し、相互間の距離及び前記光学フィルムの移送距離に基づいて同期化される、光学フィルムの検査システム。
  2. 前記第１検査装置及び第２検査装置は、前記光学フィルム工程ライン上に配置される特定のエンコーダによって生成されるエンコーダ信号を利用して前記光学フィルムの移送距離を算出することを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの検査システム。
  3. 前記第１検査装置は、前記光学フィルム工程ライン上に配置される特定のエンコーダによって生成されるエンコーダ信号を利用して前記光学フィルムの移送距離を算出し、
    前記第２検査装置は、前記光学フィルム工程ライン上に配置され、前記特定のエンコーダと同一の分解能（Ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ）を有する他のエンコーダによって生成されるエンコーダ信号を利用して前記光学フィルムの移送距離を算出することを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの検査システム。
  4. 前記第１検査装置は、欠陥検出を開始した後に算出された前記光学フィルムの移送距離が前記第２検査装置までの距離と一致する場合、前記第２検査装置に検査開始信号を伝送し、
    前記第２検査装置は、前記検査開始信号を受信した場合、欠陥検出を開始し、前記光学フィルムの移送距離を算出することを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの検査システム。
  5. 前記第１検査装置は、欠陥検出を終了した場合、前記第２検査装置に検査終了信号を伝送し、
    前記第２検査装置は、前記検査終了信号を受信し、前記検査終了信号を受信した後に算出された前記光学フィルムの移送距離が前記第１検査装置までの距離と一致する場合、欠陥検出を終了することを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの検査システム。
  6. 前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記光学フィルムの移送距離に基づいて、前記検出された欠陥の位置を決定し、前記検出された欠陥の位置を含む欠陥データを生成することを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの検査システム。
  7. 前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記光学フィルムを巻き取る巻取部からロール（ｒｏｌｌ）交替信号を受信した場合、前記巻取部までの距離及び前記ロール交替信号を受信した時点まで算出された光学フィルムの移送距離に基づいて、前記ロール交替信号を受信した時点までの生成された欠陥データのうち前記巻取部によって巻き取られない区間に対する欠陥データを除いた交替前のロールに対する欠陥データを生成することを特徴とする請求項６に記載の光学フィルムの検査システム。
  8. 前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記ロール（ｒｏｌｌ）交替信号を受信した場合、前記巻取部によって巻き取られない区間に対する欠陥データを含む交替されたロールに対する欠陥データを生成することを特徴とする請求項７に記載の光学フィルムの検査システム。
  9. 前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記交替されたロールにおける欠陥の位置と一致するように、前記巻取部によって巻き取られない区間に対する欠陥データに含まれる欠陥の位置を修正することを特徴とする請求項８に記載の光学フィルムの検査システム。
  10. 前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記ロール交替信号を受信した時点を基準として、前記光学フィルムの移送距離を初期化し、初期化した移送距離を基準として前記ロール交替信号を受信した後に検出される欠陥の位置を決定することを特徴とする請求項８に記載の光学フィルムの検査システム。
  11. 前記第１検査装置及び前記第２検査装置から前記欠陥データを受信し、受信された欠陥データに含まれる欠陥の数、種類、間隔及び分布のうち少なくとも１つに基づいて警告信号を発生させる警報装置をさらに含むことを特徴とする請求項６に記載の光学フィルムの検査システム。
  12. 光学フィルム工程ライン上の特定の位置に配置され、光学フィルムの欠陥を検出する検査装置の光学フィルム検査方法において、
    前記光学フィルムの移送方向を基準として前記特定の位置の前段に配置される検査装置から検査開始信号を受信する段階と、
    前記光学フィルムの欠陥を検出する段階と、
    前記検査開始信号を受信した時点から前記光学フィルムの移送距離を算出する段階と、
    前記算出された移送距離が前記特定の位置の後段に配置される検査装置までの距離と一致するか否かを判断する段階と、
    前記算出された移送距離が前記後段に配置される検査装置までの距離と一致する場合、前記後段に配置される検査装置に検査開始信号を伝送する段階とを含む光学フィルム検査方法。
  13. 前記前段に配置される検査装置から検査終了信号を受信する段階と、
    前記検査終了信号を受信した時点から前記光学フィルムの移送距離を算出する段階と、
    前記検査終了信号を受信した時点から算出された光学フィルムの移送距離が前記前段に配置される検査装置までの距離と一致するか否かを判断する段階と、
    前記検査終了信号を受信した時点から算出された光学フィルムの移送距離が前記前段に配置される検査装置までの距離と一致する場合、前記欠陥検出を終了する段階と、
    前記後段に配置される検査装置に検査終了信号を伝送する段階とをさらに含むことを特徴とする請求項１２に記載の光学フィルム検査方法。
  14. 前記光学フィルムの移送距離は、前記光学フィルム工程ライン上に配置され、前記前段及び後段に配置される検査装置と共有する特定のエンコーダによって生成されるエンコーダ信号を利用して算出されることを特徴とする請求項１３に記載の光学フィルム検査方法。
  15. 前記光学フィルムの移送距離は、前記光学フィルム工程ライン上に配置され、前記前段及び後段に配置される検査装置によって利用されるエンコーダと同一の分解能を有するエンコーダによって生成されるエンコーダ信号を利用して算出されることを特徴とする請求項１３に記載の光学フィルム検査方法。
  16. 前記算出された前記光学フィルムの移送距離に基づいて、前記検出された欠陥の位置を決定する段階と、
    前記検出された欠陥の位置を含む欠陥データを生成する段階とをさらに含むことを特徴とする請求項１２に記載の光学フィルム検査方法。
  17. 前記光学フィルムを巻き取る巻取部からロール（ｒｏｌｌ）交替信号を受信する段階と、
    前記巻取部までの距離に基づいて、前記ロール交替信号を受信した時点までの生成された欠陥データのうち前記巻取部によって巻き取られない区間に対する欠陥データを除いた交替前のロールに対する欠陥データを生成する段階とをさらに含むことを特徴とする請求項１６に記載の光学フィルム検査方法。
  18. 前記巻き取られない区間に対する欠陥データを含む交替されたロールに対する欠陥データを生成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項１７に記載の光学フィルム検査方法。
  19. 前記交替されたロールに対する欠陥データを生成する段階は、前記交替されたロールにおける欠陥の位置と一致するように、前記巻取部によって巻き取られない区間に対する欠陥データに含まれる欠陥の位置を修正することを特徴とする請求項１８に記載の光学フィルム検査方法。
  20. 前記交替されたロールに対する欠陥データを生成する段階は、前記ロール交替信号を受信した時点を基準として、前記光学フィルムの移送距離を初期化し、初期化した移送距離を基準として前記ロール交替信号を受信した後に検出される欠陥の位置を決定することを特徴とする請求項１８に記載の光学フィルム検査方法。
  21. 光学フィルム工程ラインの異なる位置に配置される複数の検査装置の各々から欠陥データを受信し、受信された欠陥データを併合するデータ併合部と、
    前記併合された欠陥データに基づいて、前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置を決定する切削モデル決定部と、
    前記併合された欠陥データに基づいて、前記光学フィルムの領域別の検査方法を決定する検査方法決定部とを含む光学フィルムの品質管理装置。
  22. 前記複数の欠陥データは、欠陥位置情報を含むことを特徴とする請求項２１に記載の光学フィルムの品質管理装置。
  23. 前記データ併合部は、前記欠陥位置情報に基づいて前記複数の欠陥データを併合することを特徴とする請求項２２に記載の光学フィルムの品質管理装置。
  24. 前記欠陥データは、前記光学フィルム工程ライン上で前記光学フィルムの移送距離に関する情報をさらに含み、
    前記データ併合部は、前記欠陥位置情報、前記光学フィルムの移送距離及び既定の光学フィルムロールの長さに基づいて前記受信された欠陥データを併合することを特徴とする請求項２３に記載の光学フィルムの品質管理装置。
  25. 前記データ併合部は、前記光学フィルムの移送距離に基づいて前記受信された欠陥データのうち前記既定の光学フィルムロールの長さまでの欠陥データを併合し、交替前のロールに対する欠陥データを生成することを特徴とする請求項２４に記載の光学フィルムの品質管理装置。
  26. 前記データ併合部は、前記光学フィルムの移送距離に基づいて前記受信された欠陥データのうち前記既定の光学フィルムロールの長さを超過する欠陥データを併合し、交替後のロールに対する欠陥データを生成することを特徴とする請求項２４に記載の光学フィルムの品質管理装置。
  27. 前記データ併合部は、前記既定の光学フィルムロールの長さを超過する欠陥データに対して、前記光学フィルムの移送距離を初期化し、初期化した移送距離を基準として前記欠陥位置情報を修正した後、併合し、交替後のロールに対する欠陥データを生成することを特徴とする請求項２６に記載の光学フィルムの品質管理装置。
  28. 前記切削モデル決定部は、前記併合された欠陥データに基づいて切削サイズ及び切削位置による前記光学フィルムの収率を計算し、前記計算された収率に基づいて前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置を決定することを特徴とする請求項２１に記載の光学フィルムの品質管理装置。
  29. 前記光学フィルムの収率は、面取り収率及び検品収率を含むことを特徴とする請求項２８に記載の光学フィルムの品質管理装置。
  30. 前記検査方法決定部は、前記併合された欠陥データに含まれる欠陥を欠陥種類の別に分類し、前記分類された欠陥の種類及び位置に基づいて、前記領域別の検査方法を決定することを特徴とする請求項２２に記載の光学フィルムの品質管理装置。
  31. 前記併合された欠陥データは、未検査領域に関する情報を含み、
    前記検査方法決定部は、前記未検査領域に対する検査方法を全数検査として決定することを特徴とする請求項２１に記載の光学フィルムの品質管理装置。
  32. 前記併合された欠陥データは、オーバーフロー（ｏｖｅｒｆｌｏｗ）が発生した領域に関する情報を含み、
    前記検査方法決定部は、前記オーバーフローが発生した領域に対する検査方法を全数検査として決定することを特徴とする請求項２１に記載の光学フィルムの品質管理装置。
  33. 前記領域別の検査方法、前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置に基づいて、簡易検査方法として決定された領域が最大限含まれるように、前記光学フィルムに対する製品ロット構成を決定するロット構成決定部をさらに含むことを特徴とする請求項２１に記載の光学フィルムの品質管理装置。
  34. 光学フィルム工程ラインの異なる位置に配置される複数の検査装置の各々から欠陥データを受信する段階と、
    前記受信された欠陥データを併合する段階と、
    前記併合された欠陥データに基づいて、前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置を決定する段階と、
    前記併合された欠陥データに基づいて、前記光学フィルムの領域別の検査方法を決定する段階とを含む光学フィルムの品質管理方法。
  35. 前記複数の欠陥データは、欠陥位置情報を含むことを特徴とする請求項３４に記載の光学フィルムの品質管理方法。
  36. 前記併合する段階は、前記欠陥位置情報に基づいて前記複数の欠陥データを併合することを特徴とする請求項３５に記載の光学フィルムの品質管理方法。
  37. 前記欠陥データは、前記光学フィルム工程ライン上で前記光学フィルムの移送距離に関する情報をさらに含み、
    前記併合する段階は、前記欠陥位置情報、前記光学フィルムの移送距離及び既定の光学フィルムロールの長さに基づいて前記受信された欠陥データを併合することを特徴とする請求項３６に記載の光学フィルムの品質管理方法。
  38. 前記併合する段階は、前記光学フィルムの移送距離に基づいて前記受信された欠陥データのうち前記既定の光学フィルムロールの長さまでの欠陥データを併合し、交替前のロールに対する欠陥データを生成することを特徴とする請求項３７に記載の光学フィルムの品質管理方法。
  39. 前記併合する段階は、前記光学フィルムの移送距離に基づいて前記受信された欠陥データのうち前記既定の光学フィルムロールの長さを超過する欠陥データを併合し、交替後のロールに対する欠陥データを生成することを特徴とする請求項３７に記載の光学フィルムの品質管理方法。
  40. 前記併合する段階は、前記既定の光学フィルムロールの長さを超過する欠陥データに対して、前記光学フィルムの移送距離を初期化し、初期化した移送距離を基準として前記欠陥位置情報を修正した後、併合し、交替後のロールに対する欠陥データを生成することを特徴とする請求項３９に記載の光学フィルムの品質管理方法。
  41. 前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置を決定する段階は、前記併合された欠陥データに基づいて切削サイズ及び切削位置による前記光学フィルムの収率を計算する段階と、
    前記計算された収率に基づいて前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置を決定する段階とを含むことを特徴とする請求項３４に記載の光学フィルムの品質管理方法。
  42. 前記光学フィルムの収率は、面取り収率及び検品収率を含むことを特徴とする請求項４１に記載の光学フィルムの品質管理方法。
  43. 前記光学フィルムの領域別の検査方法を決定する段階は、前記併合された欠陥データに含まれる欠陥を欠陥種類の別に分類する段階と、
    前記分類された欠陥の種類及び位置に基づいて、前記領域別の検査方法を決定する段階とを含むことを特徴とする請求項３５に記載の光学フィルムの品質管理方法。
  44. 前記併合された欠陥データは、未検査領域に関する情報を含み、
    前記光学フィルムの領域別の検査方法を決定する段階は、前記未検査領域に対する検査方法を全数検査として決定することを特徴とする請求項３４に記載の光学フィルムの品質管理方法。
  45. 前記複数の欠陥データは、オーバーフロー（ｏｖｅｒｆｌｏｗ）が発生した領域に関する情報を含み、
    前記光学フィルムの領域別の検査方法を決定する段階は、前記オーバーフローが発生した領域に対する検査方法を全数検査として決定することを特徴とする請求項３４に記載の光学フィルムの品質管理方法。
  46. 前記領域別の検査方法、前記光学フィルムの切削サイズ及び切削位置に基づいて、簡易検査方法として決定された領域が最大限含まれるように、前記光学フィルムに対する製品ロット構成を決定する段階をさらに含むことを特徴とする請求項３４に記載の光学フィルムの品質管理方法。
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