KR20160107532A - 광학 필름 검사 시스템 및 방법, 광학 필름 품질 관리 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 광학 필름 검사 시스템 및 방법, 광학 필름 품질 관리 장치 및 방법에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름 검사 시스템은 광학 필름 공정 라인 상의 특정 위치에 배치되어 광학 필름의 결함을 검출하는 제 1 검사 장치 및 상기 광학 필름의 이송 방향을 기준으로 상기 제 1 검사 장치의 후단에 배치되어, 상기 광학 필름의 결함을 검출하는 제 2 검사 장치를 포함하고, 상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는 상기 광학 필름 공정 라인 상에서 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하고, 상호간의 거리 및 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 동기화된다.
Description
본 발명의 실시예들은 광학 필름 생산 공정에서 광학 필름을 검사하고, 생산되는 광학 필름의 품질을 관리하기 위한 기술과 관련된다.
LCD 광학재료로 사용되는 편광 필름을 생산하는 제조 업체에서는 고속으로 생산되는 제품의 실시간 검사를 위하여 인라인(IN-LINE) 자동 광학 검사 시스템(Automated Optical Inspection system, 이하 자동 광학 검사기)을 이용하고 있다. 일반적으로 인라인 자동 광학 검사기는 결함 발생 위치에 잉크 또는 바코드 마킹을 실시함으로써, 후 공정에서 마킹된 부위를 폐기하거나 검품원들에 의한 추가 검사가 수행될 수 있도록 한다.
그러나, 검품원들 각각의 숙련도, 검품 기준 등이 상이하므로 검품원에 따라 검품 결과가 상이할 수 있으며, 검품원에 의한 검사 작업은 많은 비용과 시간을 소비하게 되는 문제점이 있다.
본 발명의 실시예들은 광학 필름 생산 공정에서 광학 필름을 검사하는 광학 필름 검사 시스템 및 방법, 광학 필름 품질 관리 장치 및 방법을 제공하기 위한 것이다.
1. 광학 필름 공정 라인 상의 특정 위치에 배치되어 광학 필름의 결함을 검출하는 제 1 검사 장치; 및
상기 광학 필름의 이송 방향을 기준으로 상기 제 1 검사 장치의 후단에 배치되어, 상기 광학 필름의 결함을 검출하는 제 2 검사 장치;를 포함하고,
상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는 상기 광학 필름 공정 라인 상에서 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하고, 상호간의 거리 및 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 동기화되는 광학 필름 검사 시스템.
2. 위 1에 있어서, 상기 제 1 검사 장치 및 제 2 검사 장치는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에 배치된 특정 엔코더에 의해 생성된 엔코더 신호를 이용하여 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하는 광학 필름 검사 시스템.
3. 위 1에 있어서, 상기 제 1 검사 장치는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에 배치된 특정 엔코더에 의해 생성된 엔코더 신호를 이용하여 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하며,
상기 제 2 검사 장치는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에 배치되며 상기 특정 엔코더와 동일한 분해능(Resolution)을 가지는 다른 엔코더에 의해 생성된 엔코더 신호를 이용하여 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하는 광학 필름 검사 시스템.
4. 위 1에 있어서, 상기 제 1 검사 장치는, 결함 검출을 시작한 이후 산출된 상기 광학 필름의 이송 거리가 상기 제 2 검사 장치까지의 거리와 일치하는 경우, 상기 제 2 검사 장치로 검사 시작 신호를 전송하고,
상기 제 2 검사 장치는, 상기 검사 시작 신호를 수신한 경우, 결함 검출을 시작하고, 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하는 광학 필름 검사 시스템.
5. 위 1에 있어서, 상기 제 1 검사 장치는, 결함 검출을 종료한 경우, 상기 제 2 검사 장치로 검사 종료 신호를 전송하고,
상기 제 2 검사 장치는, 상기 검사 종료 신호를 수신한 경우, 상기 검사 종료 신호를 수신한 이후 산출된 상기 광학 필름의 이송 거리가 상기 제 1 검사 장치까지의 거리와 일치하는 경우, 결함 검출을 종료하는 광학 필름 검사 시스템.
6. 위 1에 있어서, 상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는, 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여, 상기 검출된 결함의 위치를 결정하고, 상기 검출된 결함의 위치를 포함하는 결함 데이터를 생성하는 광학 필름 검사 시스템.
7. 위 6에 있어서, 상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는, 상기 광학 필름을 권취하는 권취부로부터 롤(roll) 교체 신호를 수신한 경우, 상기 권취부까지의 거리 및 상기 롤 교체 신호를 수신한 시점까지 산출된 광학 필름의 이송 거리에 기초하여, 상기 롤 교체 신호를 수신한 시점까지의 생성된 결함 데이터 중 상기 권취부에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 제외한 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름 검사 시스템.
8. 위 7에 있어서, 상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는, 상기 롤(roll) 교체 신호를 수신한 경우, 상기 권취부에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 포함하는 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름 검사 시스템.
9. 위 8에 있어서, 상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는, 상기 교체된 롤에서의 결함의 위치와 일치하도록 상기 권취부에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터에 포함된 결함의 위치를 수정하는 광학 필름 검사 시스템.
10. 위 8에 있어서, 상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는, 상기 롤 교체 신호를 수신한 시점을 기준으로, 상기 광학 필름의 이송 거리를 초기화하고, 초기화된 이송 거리를 기준으로 상기 롤 교체 신호를 수신한 이후에 검출되는 결함의 위치를 결정하는 광학 필름 검사 시스템.
11. 위 6에 있어서, 상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치로부터 상기 결함 데이터를 수신하고, 수신된 결함 데이터에 포함된 결함의 수, 종류, 간격 및 분포 중 적어도 하나에 기초하여 경고 신호를 발생시키는 경보 장치를 더 포함하는 광학 필름검사 시스템.
12. 광학 필름 공정 라인 상의 특정 위치에 배치되어 광학 필름의 결함을 검출하는 검사 장치의 광학 필름 검사 방법에 있어서,
상기 광학 필름의 이송 방향을 기준으로 상기 특정 위치의 전단에 배치된 검사 장치로부터 검사 시작 신호를 수신하는 단계;
상기 광학 필름의 결함을 검출하는 단계;
상기 검사 시작 신호를 수신한 시점부터 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하는 단계;
상기 산출된 이송 거리가 상기 특정 위치의 후단에 배치된 검사 장치까지의 거리와 일치하는지 여부를 판단하는 단계; 및
상기 산출된 이송 거리가 상기 후단에 배치된 검사 장치까지의 거리와 일치하는 경우, 상기 후단에 배치된 검사 장치로 검사 시작 신호를 전송하는 단계를 포함하는 광학 필름 검사 방법.
13. 위 12에 있어서, 상기 전단에 배치된 검사 장치로부터 검사 종료 신호를 수신하는 단계;
상기 검사 종료 신호를 수신한 시점부터 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하는 단계;
상기 검사 종료 신호를 수신한 시점부터 산출된 광학 필름의 이송 거리가 상기 전단에 배치된 검사 장치까지의 거리와 일치하는지 여부를 판단하는 단계;
상기 검사 종료 신호를 수신한 시점부터 산출된 광학 필름의 이송 거리가 상기 전단에 배치된 검사 장치까지의 거리와 일치하는 경우, 상기 결함 검출을 종료하는 단계; 및
상기 후단에 배치된 검사 장치로 검사 종료 신호를 전송하는 단계를 더 포함하는 광학 필름 검사 방법.
14. 위 13에 있어서, 상기 광학 필름의 이송 거리는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에 배치되며, 상기 전단 및 후단에 배치된 검사 장치와 공유하는 특정 엔코더에 의해 생성된 엔코더 신호를 이용하여 산출되는 광학 필름 검사 방법.
15. 위 13에 있어서, 상기 광학 필름의 이송 거리는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에 배치되며, 상기 전단 및 후단에 배치된 검사 장치에 의해 이용되는 엔코더와 동일한 분해능을 가지는 엔코더에 의해 생성된 엔코더 신호를 이용하여 산출되는 광학 필름 검사 방법.
16. 위 12에 있어서, 상기 산출된 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여, 상기 검출된 결함의 위치를 결정하는 단계; 및
상기 검출된 결함의 위치를 포함하는 결함 데이터를 생성하는 단계를 더 포함하는 광학 필름 검사 방법.
17. 위 16에 있어서, 상기 광학 필름을 권취하는 권취부로부터 롤(roll) 교체 신호를 수신하는 단계; 및
상기 권취부까지의 거리에 기초하여, 상기 롤 교체 신호를 수신한 시점까지의 생성된 결함 데이터 중 상기 권취부에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 제외한 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 단계를 더 포함하는 광학 필름 검사 방법.
18. 위 17에 있어서, 상기 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 포함하는 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 단계를 더 포함하는 광학 필름 검사 방법.
19. 위 18에 있어서, 상기 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 단계는, 상기 교체된 롤에서의 결함의 위치와 일치하도록, 상기 권취부에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터에 포함된 결함의 위치를 수정하는 광학 필름 검사 방법.
20. 위 18에 있어서, 상기 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 단계는, 상기 롤 교체 신호를 수신한 시점을 기준으로, 상기 광학 필름의 이송 거리를 초기화하고, 초기화된 이송 거리를 기준으로 상기 롤 교체 신호를 수신한 이후에 검출되는 결함의 위치를 결정하는 광학 필름 검사 방법.
21. 광학 필름 공정 라인의 상이한 위치에 배치된 복수의 검사 장치 각각으로부터 결함 데이터를 수신하고, 수신된 결함 데이터를 병합하는 데이터 병합부;
상기 병합된 결함 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치를 결정하는 절삭 모델 결정부; 및
상기 병합된 결함 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정하는 검사 방법 결정부를 포함하는 광학 필름 품질 관리 장치.
22. 위 21에 있어서, 상기 복수의 결함 데이터는, 결함 위치 정보를 포함하는 광학 필름 품질 관리 장치.
23. 위 22에 있어서, 상기 데이터 병합부는, 상기 결함 위치 정보에 기초하여 상기 복수의 결함 데이터를 병합하는 광학 필름 품질 관리 장치.
24. 위 23에 있어서, 상기 결함 데이터는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에서 상기 광학 필름의 이송 거리에 대한 정보를 더 포함하고,
상기 데이터 병합부는, 상기 결함 위치 정보, 상기 광학 필름의 이송 거리 및 기 설정된 광학 필름 롤의 길이에 기초하여 상기 수신된 결함 데이터를 병합하는 광학 필름의 품질 관리 장치.
25. 위 24에 있어서, 상기 데이터 병합부는, 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 상기 수신된 결함 데이터 중 상기 기 설정된 광학 필름 롤의 길이까지의 결함 데이터를 병합하여 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름의 품질 관리 장치.
26. 위 24에 있어서, 상기 데이터 병합부는, 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 상기 수신된 결함 데이터 중 상기 기 설정된 광학 필름 롤의 길이를 초과하는 결함 데이터를 병합하여 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름의 품질 관리 장치.
27. 위 26에 있어서, 상기 데이터 병합부는, 상기 기 설정된 광학 필름 롤의 길이를 초과하는 결함 데이터에 대하여, 상기 광학 필름의 이송 거리를 초기화하고, 초기화된 이송 거리를 기준으로 상기 결함 위치 정보를 수정한 후 병합하여 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름의 품질 관리 장치.
28. 위 21에 있어서, 상기 절삭 모델 결정부는, 상기 병합된 결함 데이터에 기초하여 절삭 크기 및 절삭 위치에 따른 상기 광학 필름의 수율을 계산하고, 상기 계산된 수율에 기초하여 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치를 결정하는 광학 필름 품질 관리 장치.
29. 위 28에 있어서, 상기 광학 필름의 수율은, 면취(面取) 수율 및 검품(檢品) 수율을 포함하는 광학 필름 품질 관리 장치.
30. 위 22에 있어서, 상기 검사 방법 결정부는, 상기 병합된 결함 데이터에 포함된 결함을 결함 종류 별로 분류하고, 상기 분류된 결함의 종류 및 위치에 기초하여, 상기 영역별 검사 방법을 결정하는 광학 필름 품질 관리 장치.
31. 위 21에 있어서, 상기 병합된 결함 데이터는, 미 검사 영역에 대한 정보를 보함하고,
상기 검사 방법 결정부는, 상기 미 검사 영역에 대한 검사 방법을 전수 검사로 결정하는 광학 필름 품질 관리 장치.
32. 위 21에 있어서, 상기 병합된 결함 데이터는 오버 플로우(overflow)가 발생한 영역에 대한 정보를 포함하고,
상기 검사 방법 결정부는, 상기 오버 플로우가 발생한 영역에 대한 검사 방법을 전수 검사로 결정하는 광학 필름 품질 관리 장치.
33. 위 21에 있어서, 상기 영역별 검사 방법, 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치에 기초하여, 간이 검사 방법으로 결정된 영역이 최대한 포함되도록 상기 광학 필름에 대한 제품 로트 구성을 결정하는 로트 구성 결정부를 더 포함하는 광학 필름 품질 관리 장치.
34. 광학 필름 공정 라인의 상이한 위치에 배치된 복수의 검사 장치 각각으로부터 결함 데이터를 수신하는 단계;
상기 수신된 결함 데이터를 병합하는 단계;
상기 병합된 결함 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치를 결정하는 단계; 및
상기 병합된 결함 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정하는 단계를 포함하는 광학 필름 품질 관리 방법.
35. 위 34에 있어서, 상기 복수의 결함 데이터는, 결함 위치 정보를 포함하는 광학 필름 품질 관리 방법.
36. 위 35에 있어서, 상기 병합하는 단계는, 상기 결함 위치 정보에 기초하여 상기 복수의 결함 데이터를 병합하는 광학 필름 품질 관리 방법.
37. 위 36에 있어서, 상기 결함 데이터는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에서 상기 광학 필름의 이송 거리에 대한 정보를 더 포함하고,
상기 병합하는 단계는, 상기 결함 위치 정보, 상기 광학 필름의 이송 거리 및 기 설정된 광학 필름 롤의 길이에 기초하여 상기 수신된 결함 데이터를 병합하는 광학 필름의 품질 관리 방법.
38. 위 37에 있어서, 상기 병합하는 단계는, 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 상기 수신된 결함 데이터 중 상기 기 설정된 광학 필름 롤의 길이까지의 결함 데이터를 병합하여 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름의 품질 관리 방법.
39. 위 37에 있어서, 상기 병합하는 단계는, 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 상기 수신된 결함 데이터 중 상기 기 설정된 광학 필름 롤의 길이를 초과하는 결함 데이터를 병합하여 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름의 품질 관리 방법.
40. 위 39에 있어서, 상기 병합하는 단계는, 상기 기 설정된 광학 필름 롤의 길이를 초과하는 결함 데이터에 대하여, 상기 광학 필름의 이송 거리를 초기화하고, 초기화된 이송 거리를 기준으로 상기 결함 위치 정보를 수정한 후 병합하여 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름의 품질 관리 방법.
41. 위 34에 있어서, 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치를 결정하는 단계는, 상기 병합된 결함 데이터에 기초하여 절삭 크기 및 절삭 위치에 따른 상기 광학 필름의 수율을 계산하는 단계; 및
상기 계산된 수율에 기초하여 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치를 결정하는 단계를 포함하는 광학 필름 품질 관리 방법.
42. 위 41에 있어서, 상기 광학 필름의 수율은, 면취(面取) 수율 및 검품(檢品) 수율을 포함하는 광학 필름 품질 관리 방법.
43. 위 35에 있어서, 상기 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정하는 단계는, 상기 병합된 결함 데이터에 포함된 결함을 결함 종류 별로 분류하는 단계; 및
상기 분류된 결함의 종류 및 위치에 기초하여, 상기 영역별 검사 방법을 결정하는 단계를 포함하는 광학 필름 품질 관리 방법.
44. 위 34에 있어서, 상기 병합된 결함 데이터는, 미 검사 영역에 대한 정보를 보함하고,
상기 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정하는 단계는, 상기 미 검사 영역에 대한 검사 방법을 전수 검사로 결정하는 광학 필름 품질 관리 방법.
45. 위 34에 있어서, 상기 복수의 결함 데이터는 오버 플로우(overflow)가 발생한 영역에 대한 정보를 포함하고,
상기 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정하는 단계는, 상기 오버 플로우가 발생한 영역에 대한 검사 방법을 전수 검사로 결정하는 광학 필름 품질 관리 방법.
46. 위 34에 있어서, 상기 영역별 검사 방법, 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치에 기초하여, 간이 검사 방법으로 결정된 영역이 최대한 포함되도록 상기 광학 필름에 대한 제품 로트 구성을 결정하는 단계를 더 포함하는 광학 필름 품질 관리 방법.
본 발명의 실시예들에 따르면, 인라인 필름 생산 공정에서 생산한 롤의 품질을 자동으로 분석하고 분석한 정보를 활용하여 효과적인 제품 사이즈를 선정함으로써, 면취 수율을 향상시킬 수 있다.
또한, 결함에 위치에 따라 적절한 제품 로트(lot) 구성을 결정하고, 로트별 검품 방법을 지정함으로써, 후 공정에서 품질 검사를 위한 필요한 인원과 시간을 줄일 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름 품질 관리 시스템의 개략적인 구성도
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치의 동작을 설명하기 위한 예시도
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 품질 관리 장치(120)의 구성도
도 4a 내지 도 4f는 광학 필름 절삭 모델을 설명하기 위한 예시도
도 5a 내지 도 5c는 제품 로트 구성을 설명하기 위한 예시도
도 6은 일 실시예에 따른 광학 필름 검사 방법의 순서도
도 7은 다른 실시예에 따른 광학 필름 검사 방법의 순서도
도 8은 또 다른 실시예에 따른 광학 필름 검사 방법의 순서도
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름 품질 관리 방법의 순서도
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치의 동작을 설명하기 위한 예시도
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 품질 관리 장치(120)의 구성도
도 4a 내지 도 4f는 광학 필름 절삭 모델을 설명하기 위한 예시도
도 5a 내지 도 5c는 제품 로트 구성을 설명하기 위한 예시도
도 6은 일 실시예에 따른 광학 필름 검사 방법의 순서도
도 7은 다른 실시예에 따른 광학 필름 검사 방법의 순서도
도 8은 또 다른 실시예에 따른 광학 필름 검사 방법의 순서도
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름 품질 관리 방법의 순서도
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하기로 한다. 이하의 상세한 설명은 본 명세서에서 기술된 방법, 장치 및/또는 시스템에 대한 포괄적인 이해를 돕기 위해 제공된다. 그러나 이는 예시에 불과하며 본 발명은 이에 제한되지 않는다.
본 발명의 실시예들을 설명함에 있어서, 본 발명과 관련된 공지기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다. 그리고, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다. 상세한 설명에서 사용되는 용어는 단지 본 발명의 실시예들을 기술하기 위한 것이며, 결코 제한적이어서는 안 된다. 명확하게 달리 사용되지 않는 한, 단수 형태의 표현은 복수 형태의 의미를 포함한다. 본 설명에서, "포함" 또는 "구비"와 같은 표현은 어떤 특성들, 숫자들, 단계들, 동작들, 요소들, 이들의 일부 또는 조합을 가리키기 위한 것이며, 기술된 것 이외에 하나 또는 그 이상의 다른 특성, 숫자, 단계, 동작, 요소, 이들의 일부 또는 조합의 존재 또는 가능성을 배제하도록 해석되어서는 안 된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 품질 관리 시스템의 개략적인 구성도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 품질 관리 시스템(100)은 광학 필름 검사 시스템(110) 및 품질 관리 장치(120)를 포함한다.
광학 필름 검사 시스템(110)은 광학 필름 공정 라인(200)의 상이한 위치에 배치된 복수의 검사 장치(111 및 112) 및 경보 장치(113)를 포함할 수 있다. 도시된 예에서, 검사 장치(111, 112)는 2개인 것으로 예시되어 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 필요에 따라 2 이상의 검사 장치가 배치될 수 있다. 또한, 각각의 검사 장치(111, 122)는 광학 필름의 공정 중 발생하는 결함을 검출하기에 적합한 위치라면 광학 필름 공정 라인(200) 중 어디에도 배치될 수 있다.
이하에서는, 설명의 편의를 위해 광학 필름(230)의 이송 방향을 기준으로 전단에 배치된 검사 장치(111)를 제 1 검사 장치로 지칭하며, 후단에 배치된 검사 장치(112)를 제 2 검사 장치로 지칭한다.
제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)는 광학 필름(230)의 상면에 배치되는 카메라 모듈을 포함할 수 있으며, 카메라 모듈을 이용하여 광학 필름(230)을 촬영하고 촬영된 이미지로부터 결함을 검출하도록 구성될 수 있다. 또한, 이를 위하여 광학 필름(230)을 기준으로 카메라 모듈이 위치한 면의 반대면에 광원을 구비할 수 있으며, 카메라 모듈은 광원으로부터 방출되어 광학 필름(230)을 투과한 빛을 촬영하도록 구성될 수 있다. 이 경우 광학 필름(230)에 결함이 존재할 경우 해당 부분은 빛의 투과도가 낮아지게 되므로 용이하게 결함을 검출할 수 있다.
한편, 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)는 검출된 결함에 대한 정보를 포함하는 결함 데이터를 생성할 수 있다. 예를 들어, 결함 데이터는 광학 필름의 로트(lot) 번호, 검출된 결함의 위치, 크기, 밝기, 결함을 촬영한 이미지, 검사 시작 및 종료 시간 등을 포함할 수 있다. 이때, 광학 필름의 로트 번호는 광학 필름 롤(roll)을 식별하기 위한 것이다.
한편, 제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치(112)는 광학 필름 공정 라인(200) 상에서 광학 필름(230)의 이송 거리를 산출할 수 있다.
예를 들어, 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)는 광학 필름 공정 라인(200)에 배치된 특정 엔코더(encoder, 210)에 의해 생성된 엔코더 신호를 공유하며, 해당 엔코더 신호를 이용하여, 광학 필름(230)의 이송 거리를 산출할 수 있다.
한편, 도 1에 도시된 예에서, 광학 필름 공정 라인(200) 상에 배치된 엔코더(210)가 하나인 것으로 도시하고 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 도시된 예와 달리 동일한 분해능(Resolution)을 가지는 복수의 엔코더가 배치될 수 있다. 이 경우, 제 1 검사 장치(110)는 복수의 엔코더 중 하나에 의해 생성된 엔코더 신호를 이용하여 광학 필름(230)의 이송 거리를 산출하고, 제 2 검사 장치(112)는 다른 엔코더에서 생성된 엔코더 신호를 이용하여 광학 필름(230)의 이송 거리를 산출할 수 있다.
엔코더(210)에 의해 생성된 엔코더 신호는 광학 필름 공정 라인(200) 상에서 이송되는 광학 필름(230)의 이송 속도를 포함할 수 있다. 따라서, 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)는 검사를 시작한 시점 이후 경과된 시간을 엔코더 신호에 곱하여 광학 필름(230)의 이송 거리를 산출할 수 있다. 또한, 제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치(112)는 산출된 광학 필름(230)의 이송 거리에 기초하여 광학 필름(230)에서 검출된 결함의 위치를 결정할 수 있다.
한편, 제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치(112)는 상호간의 거리에 대한 정보를 보유할 수 있다. 또한, 제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치(112)는 엔코더 신호에 의해 산출된 광학 필름(230)의 이송 거리 및 상호간의 거리에 기초하여 동기화될 수 있다.
한편, 제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치(112)는 광학 필름 공정 라인(200)에 배치되어 공정이 완료된 광학 필름(230)을 권취하는 권취부(220)까지의 거리에 대한 정보를 보유할 수 있다. 또한, 제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치(112)는 엔코더 신호에 의해 산출된 광학 필름의 이송 거리를 이용하여 권취부(220)와 동기화될 수 있다.
제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치(112)의 동기화에 대한 상세한 설명은 도 2를 참조하여 후술하기로 한다.
경보 장치(113)는 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치로부터 결함 데이터를 수신하고, 수신된 결함 데이터 각각에 포함된 결함의 수, 종류, 간격 및 분포 중 적어도 하나에 기초하여 경고 신호를 발생시킬 수 있다.
예를 들어, 경보 장치(113)는 제 1 검사 장치(111) 또는 제 2 검사 장치(112)로부터 수신된 결함 데이터를 누적하여, 일정 구간에 포함된 결함의 수 내지는 일정 영역에 포함된 결함의 수가 기 설정된 수 이상이 되는 경우, 경고 신호를 발생시킬 수 있다.
다른 예로, 경보 장치(113)는 제 1 검사 장치(111) 또는 제 2 검사 장치(112)로부터 수신된 결함 데이터 중 일정 구간 이내에 동일한 간격의 불량이 기 설정된 수 이상인 경우 또는 일정 구간 이내 불량의 분포가 선형을 이루는 경우, 경고 신호를 발생시킬 수 있다.
또 다른 예로, 경보 장치(113)는 제 1 검사 장치(111) 또는 제 2 검사 장치(112)로부터 수신된 결함 데이터 중 일정 구간 내에 포함된 불량의 밀집도가 기 설정된 값 이상인 경우, 경고 신호를 발생시킬 수 있다.
또 다른 예로, 경보 장치(113)는 제 1 검사 장치(111) 또는 제 2 검사 장치(112)로부터 수신된 결함 데이터 중 주요 불량으로 지정된 결함이 포함된 경우, 경고 신호를 발생시킬 수 있다.
한편, 경보 장치(113)는 디스플레이 수단을 구비할 수 있으며, 발생되는 경고 신호는 디스플레이 수단을 통해 표시될 수 있다. 이를 통해, 관리자는 즉각적으로 공정 라인의 이상 발생을 인지할 수 있게 된다.
품질 관리 장치(120)는 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)로부터 결함 데이터를 수신하고, 수신된 결함데이터에 기초하여, 광학 필름의 절삭 크기 및 위치를 결정하고, 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정할 수 있다. 품질 관리 장치에 대한 상세한 설명은 도 3을 참조하여 후술하기로 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치의 동작을 설명하기 위한 예시도이다. 도시된 예에서, L1은 제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치 사이(112)의 거리를 나타낸다. 또한, L2는 제 1 검사 장치(111)와 권취부(220) 사이의 거리, L3는 제 2 검사 장치(112)와 권취부(220) 사이의 거리를 각각 나타낸다.
도 2를 참조하면, 제 1 검사 장치(111)는 엔코더 신호를 이용하여, 광학 필름(230)에 대한 결함 검출을 시작한 시점부터 광학 필름(230)의 이송 거리를 산출한다. 이후, 제 1 검사 장치(111)는 광학 필름(230)의 이송 거리가 제 2 검사 장치(112)까지의 거리(L1)와 일치하는 경우, 제 2 검사 장치(112)로 검사 시작 신호를 전송할 수 있다.
한편, 제 2 검사 장치(112)는 제 1 검사 장치(111)로부터 검사 시작 신호를 전송 받은 경우, 검사 시작 신호를 전송 받은 시점부터 광학 필름(230)에 대한 결함 검출을 시작할 수 있다. 구체적으로, 제 2 검사 장치(112)는 제 1 검사 장치(111)로부터 검사 시작 신호를 전송 받은 시점부터 광학 필름(230)의 결함을 검출하고, 엔코더 신호를 이용하여 광학 필름(230)의 이송 거리를 산출할 수 있다. 이에 따라, 광학 필름(230)에 대해 제 1 검사 장치(111)에 의해 생성된 결함 데이터의 검사 시작 위치와 제 2 검사 장치(112)에 의해 생성된 결함 데이터의 검사 시작 위치가 동기화 될 수 있다.
한편, 제 1 검사 장치(111)는 광학 필름(230)에 대한 결함 검출을 종료한 경우, 검사 종료 신호를 제 2 검사 장치(112)로 전송할 수 있다. 제 1 검사 장치(111)로부터 검사 종료 신호를 수신한 제 2 검사 장치(112)는 검사 종료 신호를 수신한 시점부터 산출된 광학 필름(230)의 이송 거리가 제 1 검사 장치(111)까지의 거리(L1)와 일치하는지 여부를 판단할 수 있다. 이후, 제 2 검사 장치(112)는 검사 종료 신호를 수신한 시점 이후 산출된 광학 필름(230)의 이송 거리가 제 1 검사 장치(111)까지의 거리(L1)와 일치하는 경우, 광학 필름(230)에 대한 검사를 종료할 수 있다. 이에 따라, 광학 필름(230)에 대해 제 1 검사 장치(111)에 의해 생성된 결함 데이터의 검사 종료 위치와 제 2 검사 장치(112)에 의해 생성된 검사 종료 위치가 동기화 될 수 있다.
한편, 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)는 광학 필름 공정 라인(200)에 배치되어 광학 필름(230)을 권취하는 권취부(220)와 동기화하여 동작할 수 있다.
도 1을 참조하면, 권취부(220)는 2 이상의 코어(221, 222)를 구비할 수 있으며, 각각의 코어(221, 222)를 이용하여, 광학 필름(230)을 권취할 수 있다. 예를 들어, 권취부(220)는 코어(221)를 이용하여, 이송되는 광학 필름(230)을 연속적으로 권취하며, 특정 조건에 따라 권취되는 광학 필름(230)을 절단하여 하나의 롤(roll)을 생성한다. 이후, 권취부(220)는 다른 코어(222)를 이용하여 절단된 지점 이후부터 이송되는 광학 필름(230)을 연속적으로 권취하여 또 하나의 롤을 생성할 수 있다. 즉, 코어가 교체된 이후 권취부(220)에 의해 권취되는 광학 필름(230)은 코어 교체 전에 권취된 광학 필름(230)과 별개의 롤을 형성하게 되므로, 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)는 각각의 롤에 대해 결함 데이터를 구분하여 생성할 필요가 있다.
권취부(220)는 코어(221, 222)를 교체하는 경우, 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)로 롤 교체 신호를 전송할 수 있다. 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)는 권취부(220)로부터 롤 교체 신호를 수신한 경우, 교체 전 롤에 대한 결함 데이터 생성을 종료하고, 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성할 수 있다.
구체적으로, 제 1 검사 장치(111) 는 권취부(220)로부터 롤 교체 신호를 수신한 경우, 권취부(220)까지의 거리(L2) 및 롤 교체 신호를 수신한 시점까지 산출된 광학 필름(230)의 이송 거리에 기초하여, 롤 교체 신호를 수신한 시점까지 생성된 결함 데이터 중 권취부(220)에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 삭제하여, 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성할 수 있다.
또한, 제 1 검사 장치(111)는 권취부(220)로부터 롤 교체 신호를 수신한 경우, 권취부(220)까지의 거리(L2) 및 롤 교체 신호를 수신한 시점까지 산출된 광학 필름(230)의 이송 거리에 기초하여, 롤 교체 신호를 전송 받은 시점까지 생성된 결함 데이터 중 권취부(220)에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 포함하는 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성할 수 있다.
마찬가지로, 제 2 검사 장치(112) 는 권취부(220)로부터 롤 교체 신호를 수신한 경우, 권취부(220)까지의 거리(L3) 및 롤 교체 신호를 수신한 시점까지 산출된 광학 필름의 이송 거리에 기초하여, 롤 교체 신호를 전송 받은 시점까지 생성된 결함 데이터 중 권취부(220)에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 삭제하여, 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성할 수 있다.
또한, 제 2 검사 장치(112)는 권취부(220)로부터 롤 교체 신호를 수신한 경우, 권취부(220)까지의 거리(L3) 및 롤 교체 신호를 수신한 시점까지 산출된 광학 필름(230)의 이송 거리에 기초하여, 롤 교체 신호를 전송 받은 시점까지 생성된 결함 데이터 중 권취부(220)에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 포함하는 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성할 수 있다.
예를 들어, 권취부(220)로부터 롤 교체 신호를 수신한 시점에 제 1 검사 장치(111)에 의해 산출된 광학 필름의 이송 거리가 300m이고, 제 1 검사 장치(111)와 권취부(220) 사이의 거리가 10m인 것으로 가정하면, 290~300m 구간의 광학 필름(230)은 아직 권취부(220)에 의해 권취되지 않은 상태이며, 권취부(220)의 코어가 교체된 이후 교체된 코어에 의해 권취된다. 따라서, 제 1 검사 장치(111)는 롤 교체 신호를 전송 받은 시점까지 생성된 결함 데이터 중 0~290m 구간에 대한 결함 데이터는 교체전 롤에 대한 결함 데이터에 포함되도록 하고, 290~300m 구간에 대한 결함 데이터의 경우, 교체 후 롤에 대한 결함 데이터에 포함되도록 할 수 있다.
한편, 교체 후 롤에 대한 결함 데이터는 290~300m 구간에 대한 결함 데이터와 롤 교체 신호를 수신한 시점 이후 검출된 결함에 대한 결함 데이터를 포함하게 된다. 이때, 290~300m 구간에 대한 결함 데이터는 교체된 롤을 기준으로 0~10m 구간에 대한 결함 데이터에 해당하며, 롤 교체 신호를 수신한 시점 이후에 검출된 결함은 교체된 롤을 기준으로 10m 이후에 검출된 결함이다. 따라서, 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 경우, 결함의 위치를 교체된 롤에서 실제 결함의 위치와 일치시킬 필요가 있다.
이를 위해, 우선 제 1 검사 장치(111)는 교체된 롤에서 결함의 실제 위치와 일치하도록 290~300m 구간에 대한 결함 데이터에 포함된 결함의 위치를 수정할 수 있다. 예를 들어, 292m 지점에서 검출된 결함의 경우, 결함의 위치를 2m로 수정하고, 295m 지점에서 검출된 결함의 경우, 5m로 수정할 수 있다. 한편, 수정된 결함의 위치는 다양한 방법에 의해 계산될 수 있다. 일 예로, 수정된 결함의 위치는 다음과 같은 수학식 1에 의해 계산될 수 있다.
[수학식 1]
Lm=Ld-L+L2
이때, Lm은 수정된 결함의 위치, Ld는 수정 전 결함의 위치, L은 검사 시작 시점으로부터 롤 교체 신호를 수신할 때까지 산출된 광학 필름의 이송 거리, L2는 권취부(220)와 제 1 검사 장치(111) 사이의 광학 필름에서 검출된 결함의 위치를 각각 의미한다.
한편, 제 1 검사 장치(111)는 롤 교체 신호를 전송 받은 시점을 기준으로, 광학 필름(230)의 이송 거리를 초기화하고, 초기화된 이송 거리를 기준으로 결함 검출 위치를 판단한다. 예를 들어, 제 1 검사 장치(111)는 롤 교체 신호를 전송 받은 시점을 기준으로, 광학 필름(230)의 이송 거리를 권취부(220)까지의 거리(L2)로 초기화할 수 있다. 이 경우, 롤 교체 신호를 수신한 시점부터 결함이 검출된 시점까지 광학 필름(230)의 이송 거리가 x인 경우, 검출된 결함의 위치는 L2+x가 된다.
한편, 위에서 설명한 바와 같이 제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치(112)는 동기화되어 동작하므로, 제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치(112) 사이의 거리(L1)가 5m인 것으로 가정하면, 권취부(220)로부터 롤 교체 신호를 수신한 시점에 제 1 검사 장치(111)에 의해 산출된 광학 필름의 이송 거리가 300m인 경우, 제 2 검사 장치(111)에 의해 산출되는 광학 필름의 이송 거리는 295m이다. 또한, 제 2 검사 장치(111)와 권취부(220) 사이의 거리(L3)가 5m인 것으로 가정하면, 롤 교체 신호를 수신한 시점에 290~295m 구간의 광학 필름(230)은 아직 권취부(220)에 의해 권취되지 않은 상태이며, 권취부(220)의 코어가 교체된 이후 교체된 코어에 의해 권취된다. 따라서, 제 2 검사 장치(112)는 롤 교체 신호를 전송 받은 시점까지 생성된 결함 데이터 중 0~290m 구간에 대한 결함 데이터는 교체 전 롤에 대한 결함 데이터에 포함되도록 하고, 290~295m 구간에 대한 결함 데이터의 경우, 교체 후 롤에 대한 결함 데이터에 포함되도록 할 수 있다.
한편, 제 1 검사 장치(111)와 마찬가지로, 제 2 검사 장치(112)는 교체된 롤에서 결함의 실제 위치와 일치하도록 290~295m 구간에 대한 결함 데이터에 포함된 결함의 위치를 수정할 수 있다. 예를 들어, 291m 지점에서 검출된 결함의 경우, 결함의 위치를 1m로 수정하고, 294m 지점에서 검출된 결함의 경우, 4m로 수정할 수 있다.
또한, 제 2 검사 장치(112)는 롤 교체 신호를 전송 받은 시점을 기준으로, 광학 필름(230)의 이송 거리를 초기화하고, 초기화된 이송 거리를 기준으로 결함 검출 위치를 판단한다. 예를 들어, 제 2 검사 장치(111)는 롤 교체 신호를 전송 받은 시점을 기준으로, 광학 필름(230)의 이송 거리를 권취부(220)까지의 거리(L3)로 초기화할 수 있다. 이 경우, 롤 교체 신호를 수신한 시점부터 결함이 검출된 시점까지 광학 필름(230)의 이송 거리가 x인 경우, 제 2 검사 장치(111)에 의해 산출되는 검출된 결함의 위치는 L3+x가 된다.
한편, 교체 전 롤에 대한 결함 데이터와 교체 후 롤에 대한 결함 데이터 생성은 상기된 바와 같이 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)에 의해 수행될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 후술할 바와 같이 품질 관리 장치(120)에 의해 수행될 수도 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 품질 관리 장치의 구성도이다.
도 3을 참조하면, 품질 관리부는, 데이터 병합부(121), 절삭 모델 결정부(123), 검사 방법 결정부(125) 및 로트 구성 결정부(127)를 포함한다.
데이터 병합부(121)는 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)에 의해 생성된 결함 데이터를 수신하고, 수신된 결함 데이터를 병합할 수 있다. 예를 들어, 데이터 병합부(121)는 제 1 검사 장치(111)로부터 수신된 결함 데이터 중 제 2 검사 장치(112)로부터 수신된 결함 데이터 중 중복되는 데이터를 제거한 후 두 데이터를 하나로 합침으로써, 광학 필름으로부터 검출된 모든 결함에 대한 정보를 포함하는 하나의 결함 데이터를 생성할 수 있다. 이때, 중복되는 데이터는 결함의 위치에 의해 판단될 수 있다.
한편, 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)에 의해 생성된 결함 데이터는 광학 필름 공정 라인(200)상에서 광학 필름(230)의 이송 거리에 대한 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)는 상기한 바와 같이 엔코더 정보에 기초하여, 각각의 검사 시작 시점으로부터 광학 필름 공정 라인 상의 광학 필름(230)의 이송 거리를 측정할 수 있으며, 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)에 의해 생성되는 결함 데이터는 측정된 광학 필름(230)의 이송 거리에 대한 정보를 포함할 수 있다.
데이터 병합부(121)는 기 설정된 광학 필름 롤의 길이와 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)로부터 수신된 결함 데이터에 포함된 광학 필름의 이송 거리에 대한 정보 및 결함 위치 정보에 기초하여 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)로부터 수신된 결함 데이터를 병합할 수 있다. 이때, 광학 필름 롤의 길이는 사용자에 의해 미리 설정될 수 있다.
구체적으로, 권취부(220)는 미리 설정된 광학 필름 롤의 길이만큼 광학 필름(230)을 권취한 경우, 권취되는 광학 필름(230)을 절단하여 하나의 롤을 생성한 후, 코어(221 또는 222)를 교체하여 절단된 지점 이후부터 이송되는 광학 필름(230)을 권취할 수 있다. 이때, 제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치(112)는 광학 필름 제조 공정 라인(200) 상에서 광학 필름(230)의 이송 방향을 기준으로 권취부(230)의 전단에 배치되므로, 제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치(112)에 의해 생성되는 광학 필름에 대한 결함 데이터는 교체 전 롤의 길이와 일치하지 않게 된다. 따라서, 데이터 병합부(121)는 제 1 검사 장치(111)와 제 2 검사 장치(112)로부터 수신되는 결함 데이터 각각에 포함된 광학 필름의 이송 거리에 대한 정보에 기초하여, 수신된 결함데이터 중 기 설정된 광학 필름 롤의 길이만큼의 결함 데이터를 병합함으로써 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성할 수 있다.
예를 들어, 도 2에서 제 1 검사 장치(111)와 권취부(220) 사이의 거리(L2)가 30m이고 제 2 검사 장치(112)와 권취부(220) 사이의 거리(L3)가 20m이며, 기 설정된 광학 필름 롤의 길이가 100m인 것으로 가정하면, 권취부(220)는 100m의 광학 필름 롤을 권취한 후 코어를 교체하게 된다. 이때, 제 1 검사 장치(111)에 의해 측정되는 광학 필름(230)의 이송 거리는 130m이며, 제 2 검사 장치(112)에 의해 측정되는 광학 필름(230)의 이송 거리는 120m이다. 따라서, 데이터 병합부(121)는 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)로부터 수신된 결함 데이터 중 광학 필름의 이송 거리가 100m에 해당하는 결함 데이터를 병합하여 교체 전 롤에 대한 결합 데이터를 생성할 수 있다.
이후, 데이터 병합부(121)는 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)로부터 수신된 결함 데이터 중 광학 필름의 이송 거리가 100m를 초과하는 결함 데이터를 병합하여 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성할 수 있다.
한편, 데이터 병합부(121)는 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 경우, 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)로부터 수신된 광학 필름의 이송 거리를 0m로 초기화하고, 초기화된 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 제 1 검사 장치(111) 및 제 2 검사 장치(112)로부터 수신된 결함 데이터에 포함된 결함의 위치를 수정한 후 결함 데이터를 병합하여 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성할 수 있다. 예를 들어, 제 1 검사 장치(111)로부터 수신된 결함 데이터 중 130m 지점에서 검출된 결함의 경우, 결함의 위치를 30m로 수정할 수 있으며, 제 2 검사 장치(112)로부터 수신된 결함 데이터 중 120m 지점에서 검출된 결함의 경우, 20m로 수정할 수 있다.
한편, 결합된 결함 데이터는 오버 플로우가 발생한 영역 및 미검사 영역에 대한 정보를 포함할 수 있다. 이때, 오버 플로우가 발생한 영역은 제 1 검사 장치(111) 또는 제 2 검사 장치(112)에서 처리 가능한 수 이상의 결함이 검출된 영역을 의미할 수 있다. 예를 들어, 제 1 검사 장치 (111) 및 제 2 검사 장치(112)는 광학 필름(230)의 특정 영역에서 오버 플로우가 발생한 경우, 오버 플로우가 발생한 영역에 대한 정보를 결함 데이터에 포함시킬 수 있으며, 이에 따라, 데이터 병합부(121)에 의해 결합된 결함 데이터 역시 오버 플로우가 발생한 영역에 대한 정보를 포함할 수 있다.
한편, 미검사 영역에 대한 정보는 제 1 검사 장치(111) 또는 제 2 검사 장치(112)의 오류로 인해 검사되지 않은 영역에 대한 정보를 의미할 수 있다. 예를 들어, 제 1 검사 장치(111)가 오류로 인해 광학 필름(230)에 대한 검사를 일시적으로 중단하였다가 재시작한 경우, 제 1 검사 장치(111)에 의해 검사되지 않은 영역이 발생하게 된다. 이때, 제 1 검사 장치(111)가 광학 필름(230)에 대한 검사를 재시작한 이후에는 검사를 중단한 시점까지 생성된 결함 데이터와는 별개의 결함 데이터가 생성될 수 있으며, 각각의 결함 데이터는 상이한 로트 번호를 가지게 된다.
데이터 병합부(121)는 현재 제조 중인 광학 필름에 대한 로트 번호를 보유할 수 있으며, 제 1 검사 장치(111)로부터 현재 제조 중인 광학 필름에 대한 로트 번호와 상이한 로트 번호를 가진 결함 데이터가 수신된 경우, 이전에 수신된 결함 데이터의 종료 시점과 로트 번호가 상이한 결함 데이터의 시작 시간의 차이를 거리로 환산하여 미검사 영역을 설정하고, 결합된 결함 데이터에 미검사 영역에 대한 정보를 포함시킬 수 있다.
절삭 모델 결정부(123)는 데이터 병합부(121)에 의해 병합된 결함 데이터에 기초하여, 광학 필름의 절삭 크기 및 위치를 포함하는 절삭 모델을 결정할 수 있다.
구체적으로, 절삭 모델 결정부(123)는 병합된 결함 데이터에 기초하여, 광학 필름의 절삭 크기 및 위치에 따른 수율을 계산하고, 계산된 수율이 최대가 되는 절삭 크기 및 위치를 광학 필름의 절삭 크기 및 위치로 결정할 수 있다. 이때, 수율은 면취 수율 및 검품 수율을 포함할 수 있다. 또한, 절삭 모델 결정부(123)는 면취 수율과 검품 수율을 곱한 종합 수율이 최대가 되도록 광학 필름의 절삭 크기 및 위치를 결정할 수 있다.
한편, 면취 수율은 예를 들어, 특정 절삭 크기에 따라 광학 필름 롤을 절단했을 때, 광학 필름의 롤으로부터 획득할 수 있는 제품 수를 의미할 수 있다. 예를 들어, 면취 수율은 수학식 2를 이용하여 산출될 수 있다.
[수학식 2]
면취 수율=롤 면적/제품 면적
또한, 검품 수율은 예를 들어, 특정 절삭 크기 및 위치에 따라 광학 필름 롤을 절단했을 때, 광학 필름의 롤으로부터 획득할 수 있는 제품 수와 획득된 제품 중 결함을 포함하고 있지 않은 양품(良品) 수의 비율을 의미할 수 있다.
예를 들어, 검품 수율은 수학식 3을 이용하여 계산될 수 있다.
[수학식 3]
검품 수율=양품의 수/전체 제품 수
예를 들어, 절삭 모델 결정부(153)는 기 설정된 제품의 크기를 기준으로 x축 및 y축에 따라 절삭 위치를 변경하면서, 광학 필름 롤을 가상 컷팅하여 검품 수율을 계산할 수 있다.
구체적으로, 도 4a 내지 도 4f를 참조하여, 절삭 모델 결정부(153) 수율 계산에 대해 설명하면 다음과 같다.
도 4a 내지 도 4f는 절삭 크기 및 위치에 따라 광학 필름을 가상 컷팅한 예를 도시하고 있으며, 도시된 예에서, 점으로 표시된 부분은 광학 필름에서 검출된 결함을 나타낸다.
도 4a 내지 도 4c는 동일한 크기로 광학 필름을 절단한 경우이며, 도 4a는 광학 필름의 진행 방향을 기준으로 왼쪽으로 치우쳐서 광학 필름을 사각형의 시트 형태로 절단한 경우, 도 4b는 오른쪽으로 치우쳐서 절단한 경우, 도 4c는 중앙을 기준으로 광학 필름을 절단한 경우의 예를 각각 나타낸다.
도면에서 알 수 있는 바와 같이, 도 4a 내지 도 4c의 경우, 면취되는 제품의 수는 모두 14이다. 도 4a의 경우 14개의 시트 중 결함이 포함되어 있지 않은 시트의 수는 7개이고, 도 4b의 경우에는 8개이며, 도 4c의 경우 7개이다. 이에 따라 각각의 검품 수율을 계산하여 보면, 도 4a의 경우 50%, 도 4b의 경우 약 57.1%, 도 4c의 경우 50%이다. 따라서, 도 4a 및 도 4b와 비교하여, 도 4c이 검품 수율이 높음을 알 수 있다.
한편, 도 4a와 도 4c의 경우, 종합 수율이 700이며, 도 4b의 경우 종합 수율이 약 799.4이다.
도 4d 내지 도 4f는 도 4a 내지 도 4c와 상이한 크기로 광학 필름을 절단한 경우이며, 도 4d는 광학 필름의 진행 방향을 기준으로 왼쪽으로 치우쳐서 광학 필름을 사각형의 시트 형태로 절단한 경우, 도 4e는 필름의 중앙을 기준으로 절단한 경우, 도 4f는 오른쪽으로 치우쳐서 광학 필름을 절단한 경우의 예를 각각 나타낸다.
도면에서 알 수 있는 바와 같이, 도 4d 내지 도 4f의 경우, 면취되는 제품의 수는 모두 10이다. 도 4d의 경우 10개의 시트 중 결함이 포함되어 있지 않은 시트의 수는 3개이고, 도 4e와 도 4f의 경우 4개이다. 이에 따라 각각의 검품 수율을 계산하여 보면, 도 4d의 경우 30%, 도 4e와 도 4f의 경우 40%이다. 따라서, 도 4d와 비교하여, 도 4e 및 4f이 검품 수율이 높음을 알 수 있다.
한편, 도 4d의 종합 수율은 300이며, 도 4e 및 도 4f의 종합 수율은 400이다.
도 4a 내지 도 4f에 도시된 예들의 종합 수율을 참조하면, 도 4b에 도시된 예가 가장 높은 종합 수율을 나타냄을 알 수 있다. 따라서, 절삭 모델 결정부(123)는 도 4b에 도시된 예와 같이 광학 필름의 절삭 위치 및 크기를 결정할 수 있다.
검사 방법 결정부(125)는 데이터 병합부(121)에 의해 병합된 결함 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정할 수 있다. 이때, 영역별 검사 방법은 광학 필름 롤이 제조된 이후 후 공정에서 추가적으로 수행될 검사 방법을 의미할 수 있다.
구체적으로, 검사 방법 결정부(125)는 데이터 병합부(131)에 의해 병합된 결함 데이터에 포함된 결함을 결함 종류 별로 분류하고, 분류된 결함의 종류 및 위치에 기초하여, 영역별 검사 방법을 결정할 수 있다. 이때, 결함의 종류는 휘점 결함, 기포, 스크레치(scratch), 밀집성 결함, 피치(pitch) 결함 등으로 분류될 수 있으며, 분류된 결함에 대한 검사법은 투과 검사, 반사 검사, 전수 검사, 육안 검사 등을 포함할 수 있다.
예를 들어, 검사 방법 결정부(125)는 병합된 결함 데이터에 기초하여, 결함이 포함된 영역과 포함되지 않은 영역을 분류하고, 결함이 포함되지 않은 영역은 육안 검사와 같은 간이한 검사가 이루어지도록 검사 방법을 결정할 수 있다.
또한, 검사 방법 결정부(125)는 결함이 포함된 영역의 경우, 결함을 종류별로 분류하여, 분류된 결함의 종류별로 미리 지정된 검사 방법으로 해당 영역에 대한 검사 방법을 결정할 수 있다.
또한, 검사 방법 결정부(125)는 오버 플로우가 발생한 영역 또는 미검사 영역에 대해서는 전수 검사가 이루어지도록 검사 방법을 결정할 수 있다.
로트 구성부(127)는 검사 방법 결정부(125)에 의해 결정된 영역별 검사 방법 및 기 설정된 제품 로트(lot)별 제품 개수에 기초하여, 간이 검사 영역이 최대한 포함되도록 제품 로트 구성을 결정할 수 있다. 이때, 제품 로트는 절삭된 광학 필름의 묶음 단위를 식별하기 위한 것이다.
도 5a 내지 도 5c는 제품 로트 구성을 설명하기 위한 예시도이다.
도 5a는 절삭 모델 결정부(123)에 의해 결정된 절삭 모델에 따른 광학 필름의 절삭 위치와 검사 방법 결정부(125)에 의해 결정된 영역별 검사 방법을 도시하고 있다. 도시된 예에서, 검사 방법이 표시되지 않은 영역은 결함이 검출되지 않은 영역으로 간이 검사로 지정된 것으로 가정한다.
도 5b를 참조하면, 하나의 제품 로트를 구성하는 제품 개수가 4개인 것으로 가정하면, 절삭 방향을 기준으로, 가로 방향 또는 세로 방향으로 제품 로트를 구성할 수 있다.
구체적으로, 세로 방향으로 제품 로트를 구성하는 경우를 살펴보면, 로트 510의 경우, 간이 검사 영역만을 포함하고 있고, 로트 520의 경우, 전수 검사 영역을 포함하고 있다. 반면, 가로 방향으로 제품 로트를 구성하는 경우를 살펴보면, 로트 530과 로트 540 모두 전수 검사 영역을 포함하고 있다. 따라서, 로트 구성부(127)는 세로 방향으로 제품 로트(510, 520)를 결정할 수 있다.
이와 같은 방법으로, 광학 필름의 모든 영역에 대한 제품 로트를 구성한 결과는 도 5c와 같다. 도 5c에서 동일한 숫자로 표시된 부분은 동일한 로트에 포함되는 시트를 의미한다.
도 6은 일 실시예에 따른 광학 필름 검사 방법의 순서도이다.
도 6을 참조하면, 검사 장치는 광학 필름의 이송 방향을 기준으로 광학 필름 공정 라인의 전단에 배치된 검사 장치로부터 검사 시작 신호를 수신한다(610).
검사 시작 신호를 수신한 경우, 검사 장치는 광학 필름에 대한 검사를 시작하고(620), 검사 시작 신호를 수신한 시점부터 광학 필름의 이송 거리를 산출한다(630).
이후, 검사 장치는 산출된 광학 필름의 이송 거리(L)가 광학 필름의 이송 방향을 기준으로 광학 필름 공정 라인의 후단에 배치된 검사 장치까지의 거리(L1)와 일치하는지 여부를 판단하고(640), 일치하는 경우, 후단에 배치된 검사 장치로 검사 시작 신호를 전송한다(650).
도 7은 다른 실시예에 따른 광학 필름 검사 방법의 순서도이다.
도 7을 참조하면, 검사 장치는 광학 필름의 이송 방향을 기준으로 광학 필름 공정 라인의 전단에 배치된 검사 장치로부터 검사 종료 신호를 수신한다(710).
검사 종료 신호를 수신한 경우, 검사 장치는 검사 종료 신호를 수신한 시점부터 광학 필름의 이송 거리를 산출한다(720).
이후, 검사 장치는 산출된 광학 필름의 이송 거리(L)가 광학 필름의 이송 방향을 기준으로 검사 종료 신호를 전송한 검사 장치까지의 거리(L1)와 일치하는지 여부를 판단하고(730), 일치하는 경우 광학 필름에 대한 검사를 종료한다(740).
이후, 검사 장치는 후단에 배치된 검사 장치로 검사 종료 신호를 전송한다(750).
도 8은 또 다른 실시예에 따른 광학 필름 검사 방법의 순서도이다.
도 8을 참조하면, 검사 장치는 권취부(220)로부터 롤 교체 신호를 수신한다(810).
이후, 검사 장치는 권취부(220)까지의 거리에 기초하여, 롤 교체 신호를 수신한 시점까지의 생성된 결함 데이터 중 권취부(220)에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 제외한 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성한다(820).
이후, 검사 장치는 롤 교체 신호를 수신한 시점까지의 생성된 결함 데이터 중 권취부에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 포함하는 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성한다(830).
이때, 검사 장치는 교체된 롤에서의 결함의 위치와 일치하도록, 권취부(220)에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터에 포함된 결함의 위치를 수정할 수 있다.
또한, 검사 장치는 롤 교체 신호를 수신한 시점을 기준으로, 광학 필름의 이송 거리를 권취부(220)까지의 거리로 초기화하고, 초기화된 이송 거리를 기준으로 롤 교체 신호를 수신한 이후에 검출되는 결함의 위치를 결정할 수 있다.
한편, 도 6 내지 도 8에 도시된 광학 필름 검사 방법은 제 1 검사 장치(111) 또는 제 2 검사 장치(112)에 의해 수행될 수 있다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름 품질 관리 방법의 순서도이다.
도 9를 참조하면, 광학 필름 품질 관리 장치(120)는 광학 필름 공정 라인의 상이한 위치에 배치된 복수의 검사 장치 각각으로부터 결함 데이터를 수신한다(910).
이후, 광학 필름 품질 관리 장치(120)는 수신된 결함 데이터를 병합하여 병합된 결함 데이터를 생성한다(920).
이때, 결함 데이터는 광학 필름 공정 라인 상에서 광학 필름의 이송 거리에 대한 정보를 포함할 수 있으며, 광학 필름 품질 관리 장치(120)는 결함 위치 정보, 광학 필름의 이송 거리 및 기 설정된 광학 필름 롤의 길이에 기초하여 복수의 검사 장치로부터 수신된 결함 데이터를 병합할 수 있다.
구체적으로, 광학 필름 품질 관리 장치(120)는 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 복수의 검사 장치로부터 수신된 결함 데이터 중 기 설정된 광학 필름 롤의 길이까지의 결함 데이터를 병합하여 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성할 수 있다.
또한, 광학 필름 품질 관리 장치(120)는 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 복수의 검사 장치로부터 수신된 결함 데이터 중 기 설정된 광학 필름 롤의 길이를 초과하는 결함 데이터를 병합하여 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성할 수 있다. 이때, 광학 필름 품질 관리 장치(120)는 기 설정된 광학 필름 롤의 길이를 초과하는 결함 데이터에 대하여, 광학 필름의 이송 거리를 초기화하고, 초기화된 이송 거리를 기준으로 결함 위치 정보를 수정한 후 병합하여 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성할 수 있다.
한편, 병합된 결함 데이터는 미 검사 영역에 대한 정보 또는 오버 플로우(overflow)가 발생한 영역에 대한 정보를 포함할 수 있다.
이후, 광학 필름 품질 관리 장치(120)는 병합된 결함 데이터에 기초하여, 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치를 결정한다(930).
이때, 광학 필름 품질 관리 장치(120)는 병합된 결함 데이터에 기초하여 절삭 크기 및 절삭 위치에 따른 상기 광학 필름의 수율을 계산하고, 계산된 수율에 기초하여 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치를 결정할 수 있다. 또한, 광학 필름의 수율은 면취 수율 및 검품 수율을 포함할 수 있다.
이후, 광학 필름 품질 관리 장치(120)는 병합된 결함 데이터에 기초하여, 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정한다(940).
이때, 광학 필름 품질 관리 장치(120)는 병합된 결함 데이터에 포함된 결함을 결함 종류 별로 분류하고, 분류된 결함의 종류 및 위치에 기초하여 영역별 검사 방법을 결정할 수 있다.
또한, 광학 필름 품질 관리 장치(120)는 병합된 결함 데이터에 미 검사 영역 또는 오버 플로우가 발생한 영역에 대한 정보를 포함하는 경우, 해당 영역에 대한 검사 방법을 전수 검사로 결정할 수 있다.
이후, 광학 필름 품질 관리 장치(120)는 결정된 영역별 검사 방법, 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치에 기초하여, 간이 검사 방법으로 결정된 영역이 최대한 포함되도록 광학 필름에 대한 제품 로트 구성을 결정한다(950).
도 6 내지 도 9에 도시된 순서도에서는 상기 방법을 복수 개의 단계로 나누어 기재하였으나, 적어도 일부의 단계들은 순서를 바꾸어 수행되거나, 다른 단계와 결합되어 함께 수행되거나, 생략되거나, 세부 단계들로 나뉘어 수행되거나, 또는 도시되지 않은 하나 이상의 단계가 부가되어 수행될 수 있다.
한편, 본 발명의 실시예는 본 명세서에서 기술한 방법들을 컴퓨터상에서 수행하기 위한 프로그램을 포함하는 컴퓨터 판독 가능 기록매체를 포함할 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 기록매체는 프로그램 명령, 로컬 데이터 파일, 로컬 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체는 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나, 또는 컴퓨터 소프트웨어 분야에서 통상적으로 사용 가능한 것일 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체, CD-ROM, DVD와 같은 광 기록 매체, 플로피 디스크와 같은 자기-광 매체, 및 롬, 램, 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함할 수 있다.
이상에서 본 발명의 대표적인 실시예들을 상세하게 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 상술한 실시예에 대하여 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 다양한 변형이 가능함을 이해할 것이다. 그러므로 본 발명의 권리범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
100: 품질 관리 시스템
110: 광학 필름 검사 시스템
111: 제 1 검사 장치
112: 제 2 검사 장치
113: 경보 장치
120: 품질 관리 장치
200: 광학 필름 공정 라인
210: 엔코더
220: 권취부
221, 222: 코어
230: 광학 필름
121: 데이터 병합부
123: 절삭 모델 결정부
125: 검사 방법 결정부
127: 로트 구성부
110: 광학 필름 검사 시스템
111: 제 1 검사 장치
112: 제 2 검사 장치
113: 경보 장치
120: 품질 관리 장치
200: 광학 필름 공정 라인
210: 엔코더
220: 권취부
221, 222: 코어
230: 광학 필름
121: 데이터 병합부
123: 절삭 모델 결정부
125: 검사 방법 결정부
127: 로트 구성부
Claims (46)
- 광학 필름 공정 라인 상의 특정 위치에 배치되어 광학 필름의 결함을 검출하는 제 1 검사 장치; 및
상기 광학 필름의 이송 방향을 기준으로 상기 제 1 검사 장치의 후단에 배치되어, 상기 광학 필름의 결함을 검출하는 제 2 검사 장치;를 포함하고,
상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는 상기 광학 필름 공정 라인 상에서 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하고, 상호간의 거리 및 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 동기화되는 광학 필름 검사 시스템. - 청구항 1에 있어서,
상기 제 1 검사 장치 및 제 2 검사 장치는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에 배치된 특정 엔코더에 의해 생성된 엔코더 신호를 이용하여 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하는 광학 필름 검사 시스템. - 청구항 1에 있어서,
상기 제 1 검사 장치는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에 배치된 특정 엔코더에 의해 생성된 엔코더 신호를 이용하여 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하며,
상기 제 2 검사 장치는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에 배치되며 상기 특정 엔코더와 동일한 분해능(Resolution)을 가지는 다른 엔코더에 의해 생성된 엔코더 신호를 이용하여 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하는 광학 필름 검사 시스템. - 청구항 1에 있어서,
상기 제 1 검사 장치는, 결함 검출을 시작한 이후 산출된 상기 광학 필름의 이송 거리가 상기 제 2 검사 장치까지의 거리와 일치하는 경우, 상기 제 2 검사 장치로 검사 시작 신호를 전송하고,
상기 제 2 검사 장치는, 상기 검사 시작 신호를 수신한 경우, 결함 검출을 시작하고, 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하는 광학 필름 검사 시스템. - 청구항 1에 있어서,
상기 제 1 검사 장치는, 결함 검출을 종료한 경우, 상기 제 2 검사 장치로 검사 종료 신호를 전송하고,
상기 제 2 검사 장치는, 상기 검사 종료 신호를 수신한 경우, 상기 검사 종료 신호를 수신한 이후 산출된 상기 광학 필름의 이송 거리가 상기 제 1 검사 장치까지의 거리와 일치하는 경우, 결함 검출을 종료하는 광학 필름 검사 시스템. - 청구항 1에 있어서,
상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는, 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여, 상기 검출된 결함의 위치를 결정하고, 상기 검출된 결함의 위치를 포함하는 결함 데이터를 생성하는 광학 필름 검사 시스템. - 청구항 6에 있어서,
상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는, 상기 광학 필름을 권취하는 권취부로부터 롤(roll) 교체 신호를 수신한 경우, 상기 권취부까지의 거리 및 상기 롤 교체 신호를 수신한 시점까지 산출된 광학 필름의 이송 거리에 기초하여, 상기 롤 교체 신호를 수신한 시점까지의 생성된 결함 데이터 중 상기 권취부에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 제외한 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름 검사 시스템. - 청구항 7에 있어서,
상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는, 상기 롤(roll) 교체 신호를 수신한 경우, 상기 권취부에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 포함하는 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름 검사 시스템. - 청구항 8에 있어서,
상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는, 상기 교체된 롤에서의 결함의 위치와 일치하도록 상기 권취부에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터에 포함된 결함의 위치를 수정하는 광학 필름 검사 시스템. - 청구항 8에 있어서,
상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치는, 상기 롤 교체 신호를 수신한 시점을 기준으로, 상기 광학 필름의 이송 거리를 초기화하고, 초기화된 이송 거리를 기준으로 상기 롤 교체 신호를 수신한 이후에 검출되는 결함의 위치를 결정하는 광학 필름 검사 시스템. - 청구항 6에 있어서,
상기 제 1 검사 장치 및 상기 제 2 검사 장치로부터 상기 결함 데이터를 수신하고, 수신된 결함 데이터에 포함된 결함의 수, 종류, 간격 및 분포 중 적어도 하나에 기초하여 경고 신호를 발생시키는 경보 장치를 더 포함하는 광학 필름검사 시스템. - 광학 필름 공정 라인 상의 특정 위치에 배치되어 광학 필름의 결함을 검출하는 검사 장치의 광학 필름 검사 방법에 있어서,
상기 광학 필름의 이송 방향을 기준으로 상기 특정 위치의 전단에 배치된 검사 장치로부터 검사 시작 신호를 수신하는 단계;
상기 광학 필름의 결함을 검출하는 단계;
상기 검사 시작 신호를 수신한 시점부터 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하는 단계;
상기 산출된 이송 거리가 상기 특정 위치의 후단에 배치된 검사 장치까지의 거리와 일치하는지 여부를 판단하는 단계; 및
상기 산출된 이송 거리가 상기 후단에 배치된 검사 장치까지의 거리와 일치하는 경우, 상기 후단에 배치된 검사 장치로 검사 시작 신호를 전송하는 단계를 포함하는 광학 필름 검사 방법. - 청구항 12에 있어서,
상기 전단에 배치된 검사 장치로부터 검사 종료 신호를 수신하는 단계;
상기 검사 종료 신호를 수신한 시점부터 상기 광학 필름의 이송 거리를 산출하는 단계;
상기 검사 종료 신호를 수신한 시점부터 산출된 광학 필름의 이송 거리가 상기 전단에 배치된 검사 장치까지의 거리와 일치하는지 여부를 판단하는 단계;
상기 검사 종료 신호를 수신한 시점부터 산출된 광학 필름의 이송 거리가 상기 전단에 배치된 검사 장치까지의 거리와 일치하는 경우, 상기 결함 검출을 종료하는 단계; 및
상기 후단에 배치된 검사 장치로 검사 종료 신호를 전송하는 단계를 더 포함하는 광학 필름 검사 방법. - 청구항 13에 있어서,
상기 광학 필름의 이송 거리는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에 배치되며, 상기 전단 및 후단에 배치된 검사 장치와 공유하는 특정 엔코더에 의해 생성된 엔코더 신호를 이용하여 산출되는 광학 필름 검사 방법. - 청구항 13에 있어서,
상기 광학 필름의 이송 거리는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에 배치되며, 상기 전단 및 후단에 배치된 검사 장치에 의해 이용되는 엔코더와 동일한 분해능을 가지는 엔코더에 의해 생성된 엔코더 신호를 이용하여 산출되는 광학 필름 검사 방법. - 청구항 12에 있어서,
상기 산출된 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여, 상기 검출된 결함의 위치를 결정하는 단계; 및
상기 검출된 결함의 위치를 포함하는 결함 데이터를 생성하는 단계를 더 포함하는 광학 필름 검사 방법. - 청구항 16에 있어서,
상기 광학 필름을 권취하는 권취부로부터 롤(roll) 교체 신호를 수신하는 단계; 및
상기 권취부까지의 거리에 기초하여, 상기 롤 교체 신호를 수신한 시점까지의 생성된 결함 데이터 중 상기 권취부에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 제외한 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 단계를 더 포함하는 광학 필름 검사 방법. - 청구항 17에 있어서,
상기 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터를 포함하는 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 단계를 더 포함하는 광학 필름 검사 방법. - 청구항 18에 있어서,
상기 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 단계는, 상기 교체된 롤에서의 결함의 위치와 일치하도록, 상기 권취부에 의해 권취되지 않은 구간에 대한 결함 데이터에 포함된 결함의 위치를 수정하는 광학 필름 검사 방법. - 청구항 18에 있어서,
상기 교체된 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 단계는, 상기 롤 교체 신호를 수신한 시점을 기준으로, 상기 광학 필름의 이송 거리를 초기화하고, 초기화된 이송 거리를 기준으로 상기 롤 교체 신호를 수신한 이후에 검출되는 결함의 위치를 결정하는 광학 필름 검사 방법. - 광학 필름 공정 라인의 상이한 위치에 배치된 복수의 검사 장치 각각으로부터 결함 데이터를 수신하고, 수신된 결함 데이터를 병합하는 데이터 병합부;
상기 병합된 결함 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치를 결정하는 절삭 모델 결정부; 및
상기 병합된 결함 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정하는 검사 방법 결정부를 포함하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 청구항 21에 있어서,
상기 복수의 결함 데이터는, 결함 위치 정보를 포함하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 청구항 22에 있어서,
상기 데이터 병합부는, 상기 결함 위치 정보에 기초하여 상기 복수의 결함 데이터를 병합하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 청구항 23에 있어서,
상기 결함 데이터는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에서 상기 광학 필름의 이송 거리에 대한 정보를 더 포함하고,
상기 데이터 병합부는, 상기 결함 위치 정보, 상기 광학 필름의 이송 거리 및 기 설정된 광학 필름 롤의 길이에 기초하여 상기 수신된 결함 데이터를 병합하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 청구항 24에 있어서,
상기 데이터 병합부는, 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 상기 수신된 결함 데이터 중 상기 기 설정된 광학 필름 롤의 길이까지의 결함 데이터를 병합하여 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 청구항 24에 있어서,
상기 데이터 병합부는, 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 상기 수신된 결함 데이터 중 상기 기 설정된 광학 필름 롤의 길이를 초과하는 결함 데이터를 병합하여 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 청구항 26에 있어서,
상기 데이터 병합부는, 상기 기 설정된 광학 필름 롤의 길이를 초과하는 결함 데이터에 대하여, 상기 광학 필름의 이송 거리를 초기화하고, 초기화된 이송 거리를 기준으로 상기 결함 위치 정보를 수정한 후 병합하여 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 청구항 21에 있어서,
상기 절삭 모델 결정부는, 상기 병합된 결함 데이터에 기초하여 절삭 크기 및 절삭 위치에 따른 상기 광학 필름의 수율을 계산하고, 상기 계산된 수율에 기초하여 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치를 결정하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 청구항 28에 있어서,
상기 광학 필름의 수율은, 면취(面取) 수율 및 검품(檢品) 수율을 포함하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 청구항 22에 있어서,
상기 검사 방법 결정부는, 상기 병합된 결함 데이터에 포함된 결함을 결함 종류 별로 분류하고, 상기 분류된 결함의 종류 및 위치에 기초하여, 상기 영역별 검사 방법을 결정하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 청구항 21에 있어서,
상기 병합된 결함 데이터는, 미 검사 영역에 대한 정보를 보함하고,
상기 검사 방법 결정부는, 상기 미 검사 영역에 대한 검사 방법을 전수 검사로 결정하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 청구항 21에 있어서,
상기 병합된 결함 데이터는 오버 플로우(overflow)가 발생한 영역에 대한 정보를 포함하고,
상기 검사 방법 결정부는, 상기 오버 플로우가 발생한 영역에 대한 검사 방법을 전수 검사로 결정하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 청구항 21에 있어서,
상기 영역별 검사 방법, 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치에 기초하여, 간이 검사 방법으로 결정된 영역이 최대한 포함되도록 상기 광학 필름에 대한 제품 로트 구성을 결정하는 로트 구성 결정부를 더 포함하는 광학 필름의 품질 관리 장치. - 광학 필름 공정 라인의 상이한 위치에 배치된 복수의 검사 장치 각각으로부터 결함 데이터를 수신하는 단계;
상기 수신된 결함 데이터를 병합하는 단계;
상기 병합된 결함 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치를 결정하는 단계; 및
상기 병합된 결함 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정하는 단계를 포함하는 광학 필름의 품질 관리 방법. - 청구항 34에 있어서,
상기 복수의 결함 데이터는, 결함 위치 정보를 포함하는 광학 필름의 품질 관리 방법. - 청구항 35에 있어서,
상기 병합하는 단계는, 상기 결함 위치 정보에 기초하여 상기 복수의 결함 데이터를 병합하는 광학 필름의 품질 관리 방법. - 청구항 36에 있어서,
상기 결함 데이터는, 상기 광학 필름 공정 라인 상에서 상기 광학 필름의 이송 거리에 대한 정보를 더 포함하고,
상기 병합하는 단계는, 상기 결함 위치 정보, 상기 광학 필름의 이송 거리 및 기 설정된 광학 필름 롤의 길이에 기초하여 상기 수신된 결함 데이터를 병합하는 광학 필름의 품질 관리 방법. - 청구항 37에 있어서,
상기 병합하는 단계는, 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 상기 수신된 결함 데이터 중 상기 기 설정된 광학 필름 롤의 길이까지의 결함 데이터를 병합하여 교체 전 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름의 품질 관리 방법. - 청구항 37에 있어서,
상기 병합하는 단계는, 상기 광학 필름의 이송 거리에 기초하여 상기 수신된 결함 데이터 중 상기 기 설정된 광학 필름 롤의 길이를 초과하는 결함 데이터를 병합하여 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름의 품질 관리 방법. - 청구항 39에 있어서,
상기 병합하는 단계는, 상기 기 설정된 광학 필름 롤의 길이를 초과하는 결함 데이터에 대하여, 상기 광학 필름의 이송 거리를 초기화하고, 초기화된 이송 거리를 기준으로 상기 결함 위치 정보를 수정한 후 병합하여 교체 후 롤에 대한 결함 데이터를 생성하는 광학 필름의 품질 관리 방법. - 청구항 34에 있어서,
상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치를 결정하는 단계는, 상기 병합된 결함 데이터에 기초하여 절삭 크기 및 절삭 위치에 따른 상기 광학 필름의 수율을 계산하는 단계; 및
상기 계산된 수율에 기초하여 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치를 결정하는 단계를 포함하는 광학 필름의 품질 관리 방법. - 청구항 41에 있어서,
상기 광학 필름의 수율은, 면취(面取) 수율 및 검품(檢品) 수율을 포함하는 광학 필름의 품질 관리 방법. - 청구항 35에 있어서,
상기 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정하는 단계는, 상기 병합된 결함 데이터에 포함된 결함을 결함 종류 별로 분류하는 단계; 및
상기 분류된 결함의 종류 및 위치에 기초하여, 상기 영역별 검사 방법을 결정하는 단계를 포함하는 광학 필름의 품질 관리 방법. - 청구항 34에 있어서,
상기 병합된 결함 데이터는, 미 검사 영역에 대한 정보를 보함하고,
상기 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정하는 단계는, 상기 미 검사 영역에 대한 검사 방법을 전수 검사로 결정하는 광학 필름 품질 관리 방법. - 청구항 34에 있어서,
상기 복수의 결함 데이터는 오버 플로우(overflow)가 발생한 영역에 대한 정보를 포함하고,
상기 광학 필름의 영역별 검사 방법을 결정하는 단계는, 상기 오버 플로우가 발생한 영역에 대한 검사 방법을 전수 검사로 결정하는 광학 필름 품질 관리 방법. - 청구항 34에 있어서,
상기 영역별 검사 방법, 상기 광학 필름의 절삭 크기 및 절삭 위치에 기초하여, 간이 검사 방법으로 결정된 영역이 최대한 포함되도록 상기 광학 필름에 대한 제품 로트 구성을 결정하는 단계를 더 포함하는 광학 필름 품질 관리 방법.
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