CN105938109A - 光学膜的检查系统及方法、以及光学膜的品质管理装置及方法 - Google Patents

光学膜的检查系统及方法、以及光学膜的品质管理装置及方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及光学膜的检查系统及方法以及光学膜的品质管理装置及方法，本发明的一实施方式的光学膜的检查系统含有：配置于光学膜工序线上的特定的位置，检测光学膜的缺陷的第1检查装置；以所述光学膜的转移方向为基准而配置于所述第1检查装置的后段，检测所述光学膜的缺陷的第2检查装置，所述第1检查装置及所述第2检查装置在所述光学膜工序线上算出所述光学膜的转移距离，基于相互间的距离及所述光学膜的转移距离而被同步化。

Description

光学膜的检查系统及方法、以及光学膜的品质管理装置及方法
技术领域
本发明的实施方式涉及用于在光学膜的生产工序中检查光学膜、管理所生产的光学膜的品质的技术。
背景技术
在生产LCD光学材料中所使用的偏光膜的制造商中，为了实时检查以高速生产的制品，利用在线(IN-LINE)自动光学检查系统(AutomatedOptical Inspection system，以下称为自动光学检查机)。一般而言，在线自动光学检查机通过在缺陷的产生位置实施油墨或条形码标记，可以在后工序中废弃所标记的部位，或进行利用产品检查员的追加检查。
但是，由于产品检查员各自的熟练度或产品检查基准等不同，因此产品检查结果可以因产品检查员而不同，产品检查员进行的检查操作存在会消费许多费用和时间的问题。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：韩国专利公开第2013-0012379号公报
发明内容
发明所要解决的课题
本发明的实施方式在于提供在光学膜的生产工序中检查光学膜的光学膜的检查系统及方法、以及光学膜的品质管理装置及方法。
1、光学膜的检查系统，其含有：配置于光学膜工序线上的特定的位置，检测光学膜的缺陷的第1检查装置；和
以所述光学膜的转移方向为基准配置于所述第1检查装置的后段，检测所述光学膜的缺陷的第2检查装置，
所述第1检查装置及所述第2检查装置在所述光学膜工序线上算出所述光学膜的转移距离，基于相互间的距离及所述光学膜的转移距离而被同步化。
2、根据上述1所述的光学膜的检查系统，其中，所述第1检查装置及第2检查装置利用由配置于所述光学膜工序线上的特定的编码器生成的编码器信号算出所述光学膜的转移距离。
3、根据上述1所述的光学膜的检查系统，其中，所述第1检查装置利用由配置于所述光学膜工序线上的特定的编码器生成的编码器信号算出所述光学膜的转移距离，
所述第2检查装置配置于所述光学膜工序线上，利用由具有与所述特定的编码器相同的分辨率(Resolution)的其它编码器生成的编码器信号算出所述光学膜的转移距离。
4、根据上述1所述的光学膜的检查系统，其中，所述第1检查装置在开始缺陷检测之后所算出的所述光学膜的转移距离与至所述第2检查装置的距离一致的情况、向所述第2检查装置传送检查开始信号、结束缺陷检测的情况下，向所述第2检查装置传送检查结束信号，
所述第2检查装置在接收到所述检查开始信号的情况下，开始检测缺陷及算出所述光学膜的转移距离，在接收到所述检查结束信号之后被算出的所述光学膜的转移距离与至所述第1检查装置的距离一致的情况下，结束缺陷检测。
5、根据上述1所述的光学膜的检查系统，其中，所述第1检查装置及所述第2检查装置基于所述光学膜的转移距离，决定所述被检测的缺陷的位置，生成含有所述被检测的缺陷的位置的缺陷数据。
6、根据上述5所述的光学膜的检查系统，其中，所述第1检查装置及所述第2检查装置从卷绕所述光学膜的卷绕部接收到卷(roll)交替信号的情况下，基于至所述卷绕部的距离及至接收到所述卷交替信号的时刻所算出的光学膜的转移距离，生成至接收到所述卷交替信号的时刻的所生成的缺陷数据中除去了相对于没有被所述卷绕部卷绕的区间的缺陷数据的相对于交替前的卷的缺陷数据，生成含有相对于没有被所述卷绕部卷绕的区间的缺陷数据的相对于被交替的卷的缺陷数据。
7、根据上述6所述的光学膜的检查系统，其中，所述第1检查装置及所述第2检查装置以与所述被交替的卷中的缺陷的位置一致的方式修正相对于没有被所述卷绕部卷绕的区间的缺陷数据中所含的缺陷的位置，以接收到所述卷交替信号的时刻为基准将所述光学膜的转移距离初始化，以初始化的转移距离为基准决定接收到所述卷交替信号之后所检测的缺陷的位置。
8、光学膜检查方法，其为配置于光学膜工序线上的特定的位置、检测光学膜的缺陷的检查装置的光学膜检查方法，其中，包括：
以所述光学膜的转移方向为基准由配置于所述特定的位置的前段的检查装置接收检查开始信号的阶段；
检测所述光学膜的缺陷的阶段；
从接收到所述检查开始信号的时刻算出所述光学膜的转移距离的阶段；
判断所述被算出的转移距离是否与至配置于所述特定的位置的后段的检查装置的距离一致的阶段；和
所述被算出的转移距离与至配置于所述后段的检查装置的距离一致的情况下，向配置于所述后段的检查装置传送检查开始信号的阶段。
9、根据上述8所述的光学膜检查方法，其中，还包括：
从配置于所述前段的检查装置接收检查结束信号的阶段；
从接收到所述检查结束信号的时刻算出所述光学膜的转移距离的阶段；
判断从接收到所述检查结束信号的时刻所算出的光学膜的转移距离是否与至配置于所述前段的检查装置的距离一致的阶段；
在从接收到所述检查结束信号的时刻所算出的光学膜的转移距离与至配置于所述前段的检查装置的距离一致的情况下，结束所述缺陷检测的阶段；
向配置于所述后段的检查装置传送检查结束信号的阶段。
10、根据上述9所述的光学膜检查方法，其中，所述光学膜的转移距离利用由配置于所述光学膜工序线上，与配置于所述前段及后段的检查装置共享的特定的编码器生成的编码器信号而算出。
11、根据上述9所述的光学膜检查方法，其中，所述光学膜的转移距离利用由配置于所述光学膜工序线上，与由配置于所述前段及后段的检查装置所利用的编码器具有相同的分辨率的编码器所生成的编码器信号而算出。
12、根据上述8所述的光学膜检查方法，其中，还包括：
基于所述被算出的所述光学膜的转移距离决定所述被检测的缺陷的位置的阶段；和
生成含有所述被检测的缺陷的位置的缺陷数据的阶段。
13、根据上述12所述的光学膜检查方法，其中，还包括：
从卷绕所述光学膜的卷绕部接收卷(roll)交替信号的阶段；
基于至所述卷绕部的距离，生成至接收到所述卷交替信号的时刻的所生成的缺陷数据中除去了相对于没有被所述卷绕部卷绕的区间的缺陷数据的相对于交替前的卷的缺陷数据的阶段；
生成含有相对于所述没有被卷绕的区间的缺陷数据的相对于被交替的卷的缺陷数据的阶段。
14、根据上述13所述的光学膜检查方法，其中，生成相对于所述被交替的卷的缺陷数据的阶段以与所述被交替的卷中的缺陷的位置一致的方式修正相对于没有被所述卷绕部卷绕的区间的缺陷数据中所含的缺陷的位置，以接收所述卷交替信号的时刻为基准将所述光学膜的转移距离初始化，以初始化的转移距离为基准决定接收到所述卷交替信号之后被检测的缺陷的位置。
15、光学膜的品质管理装置，其含有：
从配置于光学膜工序线的不同的位置的多个检查装置分别接收缺陷数据，合并所接收的缺陷数据的数据合并部；
基于所述被合并的缺陷数据，决定所述光学膜的切削尺寸及切削位置的切削模型决定部；和
基于所述被合并的缺陷数据，决定所述光学膜的分区域的检查方法的检查方法决定部。
16、根据上述15所述的光学膜的品质管理装置，其中，所述多个的缺陷数据含有缺陷位置信息及在所述光学膜工序线上与所述光学膜的转移距离有关的信息，
所述数据合并部基于所述缺陷位置信息、所述光学膜的转移距离及既定的光学膜卷的长度合并所述被接收的缺陷数据。
17、根据上述16所述的光学膜的品质管理装置，其中，所述数据合并部基于所述光学膜的转移距离合并所述被接收的缺陷数据中至所述既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，生成相对于交替前的卷的缺陷数据，基于所述光学膜的转移距离合并所述被接收的缺陷数据中超过所述既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，生成相对于交替后的卷的缺陷数据。
18、根据上述17所述的光学膜的品质管理装置，其中，所述数据合并部相对于超过所述既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，将所述光学膜的转移距离初始化，以初始化的转移距离为基准修正所述缺陷位置信息之后进行合并，生成相对于交替后的卷的缺陷数据。
19、根据上述15所述的光学膜的品质管理装置，其中，所述切削模型决定部基于所述被合并的缺陷数据计算利用切削尺寸及切削位置的所述光学膜的收率，基于所述被计算的收率决定所述光学膜的切削尺寸及切削位置。
20、根据上述16所述的光学膜的品质管理装置，其中，所述检查方法决定部按缺陷种类的类别将所述被合并的缺陷数据中所含的缺陷进行分类，基于所述被分类的缺陷的种类及位置，决定所述分区域的检查方法。
21、根据上述15所述的光学膜的品质管理装置，其中，还含有基于所述分区域的检查方法、所述光学膜的切削尺寸及切削位置，以作为简易检查方法最大限度含有被决定的区域的方式，决定相对于所述光学膜的制品批次构成的批次构成决定部。
22、光学膜品质管理方法，其包括：
从配置于光学膜工序线的不同的位置的多个检查装置分别接收缺陷数据的阶段；
合并所述被接收的缺陷数据的阶段；
基于所述被合并的缺陷数据，决定所述光学膜的切削尺寸及切削位置的阶段；和
基于所述被合并的缺陷数据决定所述光学膜的分区域的检查方法的阶段。
23、根据上述22所述的光学膜品质管理方法，其中，所述多个的缺陷数据含有缺陷位置信息及在所述光学膜工序线上与所述光学膜的转移距离有关的信息，
所述合并的阶段基于所述缺陷位置信息、所述光学膜的转移距离及既定的光学膜卷的长度合并所述被接收的缺陷数据。
24、根据上述23所述的光学膜的品质管理方法，其中，所述合并的阶段基于所述光学膜的转移距离合并所述被接收的缺陷数据中至所述既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，生成相对于交替前的卷的缺陷数据，基于所述光学膜的转移距离合并所述被接收的缺陷数据中超过所述既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，生成相对于交替后的卷的缺陷数据。
25、根据上述24所述的光学膜的品质管理方法，其中，所述合并的阶段相对于超过所述既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，将所述光学膜的转移距离初始化，以初始化的转移距离为基准修正所述缺陷位置信息之后进行合并，生成相对于交替后的卷的缺陷数据。
26、根据上述22所述的光学膜品质管理方法，其中，决定所述光学膜的切削尺寸及切削位置的阶段包括：基于所述被合并的缺陷数据计算利用切削尺寸及切削位置的所述光学膜的收率的阶段；和
基于所述被计算的收率决定所述光学膜的切削尺寸及切削位置的阶段。
27、根据上述23所述的光学膜品质管理方法，其中，决定所述光学膜的分区域的检查方法的阶段包括：将所述被合并的缺陷数据中所含的缺陷按缺陷种类的类别进行分类的阶段；和
基于所述被分类的缺陷的种类及位置决定所述区域类别的检查方法的阶段。
28、根据上述22所述的光学膜品质管理方法，其中，还包括：基于所述分区域的检查方法、所述光学膜的切削尺寸及切削位置，以作为简易检查方法最大限度含有被决定的区域的方式决定相对于所述光学膜的制品批次构成的阶段。
发明的效果
根据本发明的实施方式，自动地分析在线膜生产工序中生产的卷的品质，有效利用分析的信息选定有效的制品尺寸，由此可以提高倒角收率。
另外，根据缺陷的位置决定适当的制品批次(lot)构成，通过指定批次类别的产品检查方法，可以减少后工序中用于品质检查的必需的人员和时间。
附图说明
图1是本发明的一实施方式的光学膜品质管理系统的概略的构成图。
图2是用于说明本发明的一实施方式的检查装置的工作的例示图。
图3是本发明的一实施方式的品质管理装置120的构成图。
图4a～图4f是用于说明光学膜切削模型的例示图。
图5a～图5c是用于说明制品批次构成的例示图。
图6是一实施方式的光学膜检查方法的流程图。
图7是其它实施方式的光学膜检查方法的流程图。
图8是进一步其它实施方式的光学膜检查方法的流程图。
图9是本发明的一实施方式的光学膜品质管理方法的流程图。
具体实施方式
以下，参照附图对本发明的具体的实施方式进行说明。以下的详细的说明是为了帮助对于本说明书中所记述的方法、装置和/或系统的包括的理解而提供的。但是，其只不过是例示，本发明并不限制于此。
在说明本发明的实施方式时，对于与本发明关联的公知技术的具体的说明，在判断为可以使本发明的要点不明确的情况下，省略其详细的说明。而且，后述的用语为考虑本发明中的功能而定义的用语，其可以根据使用者、运用者的意图或惯例等而变化。因此，其定义必须基于涉及本说明书全部的内容而进行。在详细的说明中所使用的用语只用于记述本发明的实施方式，决不会限制。只要没有明确地另外示出，单数形态的表现包含复数形态的意思。本说明中，“含有”或“具备”这样的表现用于表示某种特性、数字、阶段、工作、要素、它们的一部分或组合，除所记述的内容以外，不应以排除1个或其以上的其它特性、数字、阶段、工作、要素、这些一部分或组合的存在或可能性的方式进行解释。
图1是本发明的一实施方式的品质管理系统的概略的构成图。
如果参照图1，则本发明的一实施方式的品质管理系统100包含光学膜的检查系统110及品质管理装置120。
光学膜的检查系统110可以包含配置于光学膜工序线200的不同的位置的多个检查装置111、112及警报装置113。在图示的例子中，检查装置111、112以2个被例示，但未必限定于此，根据需要可以配置2个以上的检查装置。另外，各自的检查装置111、122如果为适于检测在光学膜的工序中产生的缺陷的位置，则在光学膜工序线200的任一位置均可以配置。
以下，为了方便说明，将以光学膜230的转移方向为基准配置于光学膜工序线200的前段的检查装置111称为第1检查装置，将配置于后段的检查装置112称为第2检查装置。
第1检查装置111及第2检查装置112可以含有配置于光学膜230的上面的照相机组件，可以以利用照相机组件拍摄光学膜230、由所拍摄的图像检测缺陷的方式构成。另外，第1检查装置111及第2检查装置112可以以光学膜230为基准在照相机组件位于的面的相反面具备光源。照相机组件可以以拍摄从光源放出而透过光学膜230的光的方式构成。该情况下，在光学膜230存在缺陷的情况下，该部分的光的透过度变低，所以可以容易地检测缺陷。
予以说明，第1检查装置111及第2检查装置112可以生成含有与所检测的缺陷有关的信息的缺陷数据。例如，缺陷数据可以包含光学膜的批次(lot)编号、所检测的缺陷的位置、尺寸、亮度、拍摄有缺陷的图像、检查开始及结束时间等。此时，光学膜的批次编号用于识别光学膜卷(roll)。
予以说明，第1检查装置111和第2检查装置112可以在光学膜工序线200上算出光学膜230的转移距离。
例如，第1检查装置111及第2检查装置112共享由配置于光学膜工序线200的特定的编码器(encoder)210生成的编码器信号，可以利用该编码器信号算出光学膜230的转移距离。
予以说明，在图1所示的例子中，配置于光学膜工序线200上的编码器210以1个图示，但未必限定于此，与图示的例子不同，可以配置具有相同的分辨率(Resolution)的多个编码器。该情况下，第1检查装置111利用由多个编码器中的1个所生成的编码器信号算出光学膜230的转移距离，第2检查装置112可以利用由其它编码器所生成的编码器信号算出光学膜230的转移距离。
予以说明，由编码器210所生成的编码器信号可以包含在光学膜工序线200上被转移的光学膜230的转移速度。因此，第1检查装置111及第2检查装置112可以将在开始检查的时刻以后经过的时间与编码器信号乘算而算出光学膜230的转移距离。另外，第1检查装置111和第2检查装置112可以基于所算出的光学膜230的转移距离决定在光学膜230中所检测的缺陷的位置。
予以说明，第1检查装置111和第2检查装置112可以持有与相互间的距离有关的信息。另外，第1检查装置111和第2检查装置112可以基于由编码器信号所算出的光学膜230的转移距离及相互间的距离而被同步化。
予以说明，第1检查装置111和第2检查装置112配置于光学膜工序线200，可以持有与至卷绕工序完成的光学膜230的卷绕部220的距离有关的信息。另外，第1检查装置111和第2检查装置112可以基于由编码器信号所算出的光学膜的转移距离及至卷绕部220的距离而与卷绕部220同步化。
对第1检查装置111和第2检查装置112的同步化的详细的说明参照图2进行后述。
警报装置113可以由第1检查装置111及第2检查装置接收缺陷数据，基于所接收的缺陷数据各自中所含的缺陷的数、种类、间隔及分布中至少1个而使警告信号产生。
例如，警报装置113累积由第1检查装置111或第2检查装置112接收的缺陷数据，在一定区间中所含的缺陷的数乃至一定区域中所含的缺陷的数成为既定的数以上的情况下，可以使警告信号产生。
作为其它例，在由第1检查装置111或第2检查装置112接收的缺陷数据中一定区间以内相同的间隔的不良为既定的数以上的情况或在一定区间以内不良的分布形成线形的情况下，警报装置113可以使警告信号产生。
进而，作为其它例，在由第1检查装置111或第2检查装置112接收的缺陷数据中一定区间内中所含的不良的密集度为既定的值以上的情况下，警报装置113可以使警告信号产生。
进而，作为其它例，在含有所指定的缺陷作为由第1检查装置111或第2检查装置112接收的缺陷数据中主要不良的情况下，警报装置113可以使警告号产生。
予以说明，警报装置113可以具备显示器装置，产生的警告信号可以使用显示器装置而显示。由此，管理者可以立即认知工序线的异常产生。
品质管理装置120由第1检查装置111及第2检查装置112接收缺陷数据。另外，品质管理装置120可以基于所接收的缺陷数据决定光学膜的切削尺寸及位置，决定光学膜的区域类别的检查方法。与品质管理装置有关的详细的说明参照图3进行后述。
图2是用于说明本发明的一实施方式的检查装置的工作的例示图。在图示的例子中，L1表示第1检查装置111和第2检查装置112之间的距离。另外，L2表示第1检查装置111和卷绕部220之间的距离，L3表示第2检查装置112和卷绕部220之间的距离。
如果参照图2，则第1检查装置111利用编码器信号从开始对光学膜230的缺陷检测的时刻算出光学膜230的转移距离。其后，在光学膜230的转移距离与至第2检查装置112的距离L1一致的情况下，第1检查装置111可以向第2检查装置112传送检查开始信号。
予以说明，在由第1检查装置111接收到检查开始信号的情况下，第2检查装置112从接收检查开始信号的时刻开始对于光学膜230的缺陷检测。具体而言，第2检查装置112可以从由第1检查装置111接收到检查开始信号的时刻检测光学膜230的缺陷，利用编码器信号算出光学膜230的转移距离。由此，相对于光学膜230由第1检查装置111所生成的缺陷数据的检查开始位置和由第2检查装置112所生成的缺陷数据的检查开始位置可以被同步化。
予以说明，在结束对于光学膜230的缺陷检测的情况下，第1检查装置111可以将检查结束信号传送至第2检查装置112。由第1检查装置111接收到检查结束信号的第2检查装置112可以判断从接收到检查结束信号的时刻所算出的光学膜230的转移距离是否与至第1检查装置111的距离L1一致。其后，在接收到检查结束信号的时刻以后所算出的光学膜230的转移距离与至第1检查装置111的距离L1一致的情况下，第2检查装置112可以结束对于光学膜230的检查。由此，相对于光学膜230由第1检查装置111所生成的缺陷数据的检查结束位置和由第2检查装置112所生成的检查结束位置可以被同步化。
予以说明，第1检查装置111及第2检查装置112配置于光学膜工序线200，可以与卷绕光学膜230的卷绕部220同步化而工作。
如果参照图1，则卷绕部220可以具备2个以上的芯221、222，可以利用各自的芯221、222卷绕光学膜230。例如，卷绕部220利用芯221连续地卷绕被转移的光学膜230，根据特定条件切断所卷绕的光学膜230，生成1个卷(roll)。其后，卷绕部220利用其它芯222从切断的地点以后连续地卷绕被转移的光学膜230，可以生成其它的1个卷。即，将芯进行交替之后，由卷绕部220卷绕的光学膜230与在芯交替前所卷绕的光学膜230形成个别的卷，所以第1检查装置111及第2检查装置112需要对各自的卷区分缺陷数据而生成。
在交替芯221、222的情况下，卷绕部220可以将卷交替信号传送至第1检查装置111及第2检查装置112。在由卷绕部220接收到卷交替信号的情况下，第1检查装置111及第2检查装置112结束对交替前的卷的缺陷数据生成，可以生成相对于被交替的卷的缺陷数据。
具体而言，在由卷绕部220接收到卷交替信号的情况下，第1检查装置111基于至卷绕部220的距离L2及至接收到卷交替信号的时刻所算出的光学膜230的转移距离，删除至接收到卷交替信号的时刻所生成的缺陷数据中的相对于没有被卷绕部220卷绕的区间的缺陷数据，可以生成相对于交替前的卷的缺陷数据。
另外，在由卷绕部220接收到卷交替信号的情况下，第1检查装置111基于至卷绕部220的距离L2及至接收到卷交替信号的时刻所算出的光学膜230的转移距离，可以生成至接收到卷交替信号的时刻所生成的缺陷数据中的包含相对于没有被卷绕部220卷绕的区间的缺陷数据的相对于被交替的卷的缺陷数据。
同样地，在由卷绕部220接收到卷交替信号的情况下，第2检查装置112基于至卷绕部220的距离L3及至接收到卷交替信号的时刻所算出的光学膜的转移距离，删除至接收到卷交替信号的时刻所生成的缺陷数据中相对于没有被卷绕部220卷绕的区间的缺陷数据，可以生成相对于交替前的卷的缺陷数据。
另外，在由卷绕部220接收到卷交替信号的情况下，第2检查装置112基于至卷绕部220的距离L3及至接收到卷交替信号的时刻所算出的光学膜230的转移距离，可以生成至接收到卷交替信号的时刻所生成的缺陷数据中包含相对于没有被卷绕部220卷绕的区间的缺陷数据的相对于被交替的卷的缺陷数据。
例如，在由卷绕部220接收到卷交替信号的时刻由第1检查装置111所算出的光学膜的转移距离为300m，如果假定第1检查装置111和卷绕部220之间的距离为10m，则290～300m区间的光学膜230为还没有被卷绕部220卷绕的状态，将卷绕部220的芯交替之后，被所交替的芯卷绕。因此，第1检查装置111可以使至接收到卷交替信号的时刻所生成的缺陷数据中相对于0～290m区间的缺陷数据包含于相对于交替前的卷的缺陷数据，在相对于290～300m区间的缺陷数据的情况下，可以包含在相对于交替后的卷的缺陷数据中。
予以说明，相对于交替后的卷的缺陷数据含有相对于290～300m区间的缺陷数据和相对于在接收到卷交替信号的时刻以后所检测的缺陷的缺陷数据。此时，相对于290～300m区间的缺陷数据以被交替的卷为基准，相当于相对于0～10m区间的缺陷数据，在接收到卷交替信号的时刻以后所检测的缺陷为以被交替的卷为基准在10m以后所检测的缺陷。因此，在生成相对于被交替的卷的缺陷数据的情况下，需要使缺陷的位置在被交替的卷中与实际缺陷的位置一致。
因此，首先，第1检查装置111可以以在被交替的卷中与缺陷的实际位置一致的方式修正相对于290～300m区间的缺陷数据中所含的缺陷的位置。例如，在292m地点所检测的缺陷的情况下，将缺陷的位置修正为2m，在295m地点所检测的缺陷的情况下，可以修正为5m。予以说明，被修正的缺陷的位置可以利用多种方法计算。作为一例，被修正的缺陷的位置可以利用如下的数学式1计算。
[数学式1]
Lm＝Ld－L+L2
此时，Lm是指被修正的缺陷的位置，Ld是指修正前的缺陷的位置，L是指从检查开始时刻至接收卷交替信号所算出的光学膜的转移距离，L2是指卷绕部220和第1检查装置111之间的距离。
予以说明，第1检查装置111以接收到卷交替信号的时刻为基准，将光学膜230的转移距离初始化，以初始化的转移距离为基准判断缺陷检测位置。例如，第1检查装置111可以以接收到卷交替信号的时刻为基准，将光学膜230的转移距离初始化为至卷绕部220的距离L2。该情况下，从接收到卷交替信号的时刻至检测有缺陷的时刻光学膜230的转移距离为x的情况下，所检测的缺陷的位置成为L2+x。
予以说明，如上所述，第1检查装置111和第2检查装置112被同步化而工作。因此，如果假定第1检查装置111和第2检查装置112之间的距离L1为5m，则在从卷绕部220接收到卷交替信号的时刻由第1检查装置111所算出的光学膜的转移距离为300m的情况下，由第2检查装置111所算出的光学膜的转移距离为295m。另外，如果假定第2检查装置111和卷绕部220之间的距离L3为5m，则在接收到卷交替信号的时刻290～295m区间的光学膜230为还没有被卷绕部220卷绕的状态，将卷绕部220的芯进行交替之后，利用所交替的芯卷绕。因此，第2检查装置112，至接收到卷交替信号的时刻所生成的缺陷数据中相对于0～290m区间的缺陷数据包含在相对于交替前的卷的缺陷数据中，在相对于290～295m区间的缺陷数据的情况下，可以包含在相对于交替后的卷的缺陷数据中。
予以说明，与第1检查装置111同样地，第2检查装置112可以以在被交替的卷中与缺陷的实际位置一致的方式修正相对于290～295m区间的缺陷数据中所含的缺陷的位置。例如，在291m地点中所检测的缺陷的情况下，可以将缺陷的位置修正为1m，在294m地点中所检测的缺陷的情况下，可以修正为4m。
另外，第2检查装置112以接收到卷交替信号的时刻为基准，将光学膜230的转移距离初始化，以初始化的转移距离为基准判断缺陷检测位置。例如，第2检查装置111可以以接收到卷交替信号的时刻为基准，将光学膜230的转移距离初始化为至卷绕部220的距离L3。该情况下，从接收到卷交替信号的时刻至检测有缺陷的时刻光学膜230的转移距离为x的情况下，由第2检查装置111算出的被检测的缺陷的位置成为L3+x。
予以说明，相对于交替前的卷的缺陷数据和相对于交替后的卷的缺陷数据生成如上所述利用第1检查装置111及第2检查装置112而进行，但未必限定于此，如后所述，可以利用品质管理装置120而进行。
图3是本发明的一实施方式的品质管理装置的构成图。
如果参照图3，则品质管理装置120包含数据合并部121、切削模型决定部123、检查方法决定部125及批次构成部127。
数据合并部121可以接收由第1检查装置111及第2检查装置112所生成的缺陷数据，合并所接收的缺陷数据。例如，数据合并部121除去由第1检查装置111接收到的缺陷数据和由第2检查装置112接收到的缺陷数据中重复的数据之后，可以将2个数据归纳为1个。由此，数据合并部121可以生成含有与由光学膜检测的全部的缺陷有关的信息的1个的缺陷数据。此时，所重复的数据可以由缺陷的位置判断。
予以说明，由第1检查装置111及第2检查装置112所生成的缺陷数据可以包含在光学膜工序线200上与光学膜230的转移距离有关的信息。例如，第1检查装置111及第2检查装置112如上所述，基于编码器信息，可以从各自的检查开始时刻测定光学膜工序线上的光学膜230的转移距离，由第1检查装置111及第2检查装置112所生成的缺陷数据可以包含与所测定的光学膜230的转移距离有关的信息。
数据合并部121可以基于与既定的光学膜卷的长度和由第1检查装置111及第2检查装置112接收的缺陷数据中所含的光学膜的转移距离有关的信息及缺陷位置信息合并由第1检查装置111及第2检查装置112所接收到的缺陷数据。此时，光学膜卷的长度可以由使用者预先设定。
具体而言，在卷绕部220只卷绕预先设定的光学膜卷的长度量的光学膜230的情况下，切断被卷绕的光学膜230而生成1个卷之后，可以将芯221或222进行交替，卷绕从切断的地点以后被转移的光学膜230。此时，第1检查装置111和第2检查装置112在光学膜工序线200上以光学膜230的转移方向为基准配置于卷绕部220的前段，所以由第1检查装置111和第2检查装置112生成的相对于光学膜的缺陷数据与交替前的卷的长度不一致。因此，数据合并部121通过基于与由第1检查装置111和第2检查装置112接收的缺陷数据各自中所含的光学膜的转移距离有关的信息合并所接收的缺陷数据中只是既定的光学膜卷的长度量的缺陷数据，由此可以生成相对于交替前的卷的缺陷数据。
例如，图2中，第1检查装置111和卷绕部220之间的距离L2为30m，第2检查装置112和卷绕部220之间的距离L3为20m，如果假定既定的光学膜卷的长度为100m，则卷绕部220在卷绕了100m的光学膜卷之后，将芯进行交替。此时，由第1检查装置111测定的光学膜230的转移距离为130m，由第2检查装置112测定的光学膜230的转移距离为120m。因此，数据合并部121可以合并由第1检查装置111及第2检查装置112接收的缺陷数据中光学膜的转移距离相当于100m的缺陷数据，生成相对于交替前的卷的结合数据。
其后，数据合并部121可以合并由第1检查装置111及第2检查装置112接收的缺陷数据中光学膜的转移距离超过100m的缺陷数据，生成相对于交替后的卷的缺陷数据。
予以说明，数据合并部121生成相对于交替后的卷的缺陷数据的情况下，可以将由第1检查装置111及第2检查装置112接收到的光学膜的转移距离初始化为0m。其后，数据合并部121可以基于初始化的光学膜的转移距离修正由第1检查装置111及第2检查装置112接收的缺陷数据中所含的缺陷的位置。其后，数据合并部121可以合并被修正的缺陷数据，生成相对于交替后的卷的缺陷数据。例如，在由第1检查装置111接收的缺陷数据中130m地点所检测的缺陷的情况下，可以将缺陷的位置修正为30m，在由第2检查装置112接收的缺陷数据中120m地点所检测的缺陷的情况下，可以修正为20m。
予以说明，被结合的缺陷数据可以含有与产生了溢出的区域及未检查区域有关的信息。此时，产生了溢出的区域是指可以由第1检查装置111或第2检查装置112处理的数以上的缺陷被检测的区域。例如，第1检查装置111及第2检查装置112在光学膜230的特定区域产生了溢出的情况下，可以使与产生了溢出的区域有关的信息包含在缺陷数据中，由此，由数据合并部121结合的缺陷数据也可以含有与产生了溢出的区域有关的信息。
予以说明，与未检查区域有关的信息是指与起因于第1检查装置111或第2检查装置112的错误而未被检查的区域有关的信息。例如，第1检查装置111起因于错误而暂时地中断对于光学膜230的检查后再开始的情况下，产生未被第1检查装置111检查的区域。此时，第1检查装置111在再次开始对于光学膜230的检查之后，可以生成与至中断了检查的时刻所生成的缺陷数据个别的缺陷数据，各自的缺陷数据具有不同的批次编号。
数据合并部121可以持有相对于目前制造中的光学膜的批次编号，由第1检查装置111接收了具有与相对于目前制造中的光学膜的批次编号不同的批次编号的缺陷数据的情况下，可以将以前所接收的缺陷数据的结束时刻和批次编号不同的缺陷数据的开始时间之差换算为距离，设定未检查区域，在被结合的缺陷数据中含有与未检查区域有关的信息。
切削模型决定部123可以基于由数据合并部121所合并的缺陷数据决定含有光学膜的切削尺寸及位置的切削模型。
具体而言，切削模型决定部123可以基于所合并的缺陷数据计算利用光学膜的切削尺寸及位置的收率，可以将被计算的收率成为最大的切削尺寸及位置决定为光学膜的切削尺寸及位置。此时，收率可以含有倒角收率及产品检查收率。另外，切削模型决定部123可以以将倒角收率和产品检查收率相乘所得的综合收率成为最大的方式决定光学膜的切削尺寸及位置。
予以说明，倒角收率例如可以是指在根据特定的切削尺寸切断光学膜卷时，能够由光学膜的卷获得的制品数。例如，倒角收率可以利用数学式2而算出。
[数学式2]
倒角收率＝卷的面积/制品的面积
另外，产品检查收率例如可以是指在根据特定的切削尺寸及位置切断光学膜卷时能够由光学膜的卷获得的制品的数和所获得的制品中不包含缺陷的良品的数的比率。
例如，产品检查收率可以利用数学式3而计算。
[数学式3]
产品检查收率＝良品的数/全体制品的数
例如，切削模型决定部153以既定的制品的尺寸为基准由x轴及y轴变更切削位置，同时假想切割光学膜卷，可以计算产品检查收率。
以下，具体而言，参照图4a～图4f，对切削模型决定部153的收率计算进行说明。
图4a～图4f示出根据切削尺寸及位置假想切割光学膜的实例，在图示的例子中，用点表示的部分表示在光学膜中所检测的缺陷。
图4a～图4c是以相同的尺寸切断了光学膜的情况，图4a表示以光学膜的行进方向为基准靠近左而以四边形的片材形态切断光学膜的情况的例子，图4b表示靠近右侧而切断的情况的例子，图4c表示以中央为基准切断光学膜的情况的例子。
由附图可知，图4a～图4c的情况下，被倒角的制品的数均为14。图4a的情况下，14个的片材中不含有缺陷的片材的数为7个，在图4b的情况下为8个，在图4c的情况下为7个。由此，如果计算各自的产品检查收率，则在图4a的情况下为50％，在图4b的情况下为约57.1％，图4c的情况下为50％。因此可知：与图4a及图4b相比，图4c的产品检查收率高。
予以说明，图4a和图4c的情况下，综合收率为700，图4b的情况下，综合收率为约799.4。
图4d～图4f是以与图4a～图4c不同的尺寸切断光学膜的情况，图4d表示以光学膜的行进方向为基准靠近左而以四边形的片材形态切断光学膜的情况的例子，图4e表示以膜的中央为基准切断的情况的例子，图4f表示靠近右侧而切断光学膜的情况的例子。
由附图可知，图4d～图4f的情况下，被倒角的制品的数均为10。图4d的情况下，10个的片材中不含有缺陷的片材的数为3个，图4e和图4f的情况下为4个。由此，如果计算各自的产品检查收率，则在图4d的情况下为30％，在图4e和图4f的情况下为40％。因此可知：与图4d相比，图4e及图4f的产品检查收率高。
予以说明，图4d的综合收率为300，图4e及图4f的综合收率为400。
如果参照图4a～图4f所示的例子的综合收率，则可知图4b所示的例子显示最高的综合收率。因此，切削模型决定部123如图4b所示的例子那样，可以决定光学膜的切削位置及尺寸。
检查方法决定部125可以基于由数据合并部121合并的缺陷数据决定所述光学膜的区域类别的检查方法。此时，区域类别的检查方法可以是指在制造光学膜卷之后、在后工序中追加地进行的检查方法。
具体而言，检查方法决定部125将由数据合并部131合并的缺陷数据中所含的缺陷按缺陷种类的不同进行分类，基于被分类的缺陷的种类及位置，可以决定区域类别的检查方法。此时，缺陷的种类可以分类为亮点缺陷、气泡、刮伤(scratch)、密集性缺陷、间距(pitch)缺陷等，相对于被分类的缺陷的检查法可以包含透射检查、反射检查、全数检查、目视检查等。
例如，检查方法决定部125基于被合并的缺陷数据，将含有缺陷的区域和不含有的区域进行分类，不含有缺陷的区域可以以进行目视检查这样的简易的检查的方式决定检查方法。
另外，含有缺陷的区域的情况下，检查方法决定部125将缺陷按种类的类别进行分类，按被分类的缺陷的种类的类别用预先所指定的检查方法决定对于该区域的检查方法。
另外，检查方法决定部125可以对产生了溢出的区域或未检查区域以进行全数检查的方式决定检查方法。
批次构成部127可以基于由检查方法决定部125决定的区域类别的检查方法及既定的制品批次(lot)类别的制品个数，以最大限度含有简易检查区域的方式决定制品批次构成。此时，制品批次用于识别被切削的光学膜的捆扎单元。
图5a～图5c是用于说明制品批次构成的例示图。
图5a表示利用由切削模型决定部123决定的切削模型的光学膜的切削位置和由检查方法决定部125所决定的区域类别的检查方法。在图示的例子中，不显示检查方法的区域假定为作为没有检测缺陷的区域通过简易检查来指定。
如果参照图5b，如果假定构成1个制品批次的制品个数为4个，则以切削方向为基准，可以在横向或纵向构成制品批次。
具体而言，如果对在纵向构成制品批次的情况进行说明，则批次510的情况下，仅含有简易检查区域，批次520的情况下，含有全数检查区域。予以说明，如果对在横向构成制品批次的情况进行说明，则批次530和批次540均含有全数检查区域。因此，批次构成部127可以在纵向决定制品批次510、520。
用这样的方法构成相对于光学膜的全部的区域的制品批次的结果如图5c中所示那样。图5c中，用相同的数字表示的部分是指相同的批次中所含的片材。
图6是一实施方式的光学膜检查方法的流程图。
如果参照图6，则检查装置以光学膜的转移方向为基准由配置于光学膜工序线的前段的检查装置接收检查开始信号(610)。
接收了检查开始信号的情况下，检查装置开始对于光学膜的检查(620)，从接收了检查开始信号的时刻算出光学膜的转移距离(630)。
其后，检查装置判断所算出的光学膜的转移距离L是否与至以光学膜的转移方向为基准配置于光学膜工序线的后段的检查装置的距离L1一致(640)，一致的情况下，将检查开始信号传送至配置于后段的检查装置(650)。
图7是其它实施方式的光学膜检查方法的流程图。
如果参照图7，则检查装置由以光学膜的转移方向为基准配置于光学膜工序线的前段的检查装置接收检查结束信号(710)。
接收到检查结束信号的情况下，检查装置从接收到检查结束信号的时刻算出光学膜的转移距离(720)。
其后，检查装置判断所算出的光学膜的转移距离L是否与至以光学膜的转移方向为基准传送了检查结束信号的检查装置的距离L1一致(730)，一致的情况下，结束对于光学膜的检查(740)。
其后，检查装置将检查结束信号传送至配置于后段的检查装置(750)。
图8是进一步其它实施方式的光学膜检查方法的流程图。
如果参照图8，则检查装置由卷绕部220接收卷交替信号(810)。
其后，检查装置基于至卷绕部220的距离，生成至接收到卷交替信号的时刻的所生成的缺陷数据中除去了相对于没有被卷绕部220卷绕的区间的缺陷数据的相对于交替前的卷的缺陷数据(820)。
其后，检查装置生成至接收到卷交替信号的时刻的所生成的缺陷数据中包含相对于没有被卷绕部220卷绕的区间的缺陷数据的相对于被交替的卷的缺陷数据(830)。
此时，检查装置可以以与被交替的卷中的缺陷的位置一致的方式修正相对于没有被卷绕部220卷绕的区间的缺陷数据中所含的缺陷的位置。
另外，检查装置以接收到卷交替信号的时刻为基准，将光学膜的转移距离初始化为至卷绕部220的距离，可以决定以初始化的转移距离为基准接收到卷交替信号之后所检测的缺陷的位置。
予以说明，图6～图8所示的光学膜检查方法可以利用第1检查装置111或第2检查装置112而进行。
图9是本发明的一实施方式的光学膜品质管理方法的流程图。
如果参照图9，则光学膜的品质管理装置120从配置于光学膜工序线的不同的位置的多个检查装置分别接收缺陷数据(910)。
其后，光学膜的品质管理装置120将所接收的缺陷数据进行合并，生成被合并的缺陷数据(920)。
此时，缺陷数据可以含有在光学膜工序线上与光学膜的转移距离有关的信息，光学膜的品质管理装置120可以合并基于缺陷位置信息、光学膜的转移距离及既定的光学膜卷的长度由多个检查装置接收的缺陷数据。
具体而言，光学膜的品质管理装置120可以基于光学膜的转移距离合并由多个检查装置所接收的缺陷数据中至既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，生成相对于交替前的卷的缺陷数据。
另外，光学膜的品质管理装置120可以基于光学膜的转移距离合并由多个检查装置接收的缺陷数据中超过既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，生成相对于交替后的卷的缺陷数据。此时，光学膜的品质管理装置120可以相对于超过既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，将光学膜的转移距离进行初始化，以初始化的转移距离为基准修正缺陷位置信息之后进行合并，生成相对于交替后的卷的缺陷数据。
予以说明，被合并的缺陷数据可以含有与未检查区域有关的信息或与产生溢出(overflow)的区域有关的信息。
其后，光学膜的品质管理装置120基于被合并的缺陷数据决定光学膜的切削尺寸及切削位置(930)。
此时，光学膜的品质管理装置120可以基于被合并的缺陷数据计算利用切削尺寸及切削位置的所述光学膜的收率，基于被计算的收率决定所述光学膜的切削尺寸及切削位置。另外，光学膜的收率可以含有倒角收率及产品检查收率。
其后，光学膜的品质管理装置120基于被合并的缺陷数据决定光学膜的区域类别的检查方法(940)。
此时，光学膜的品质管理装置120将被合并的缺陷数据中所含的缺陷按缺陷种类的类别进行分类，可以基于被分类的缺陷的种类及位置决定区域类别的检查方法。
另外，就光学膜的品质管理装置120而言，在被合并的缺陷数据中含有与未检查区域或产生了溢出的区域有关的信息的情况下，可以将相对于该区域的检查方法决定为全数检查。
其后，光学膜的品质管理装置120基于被决定的区域类别的检查方法、光学膜的切削尺寸及切削位置，以作为简易检查方法最大限度含有被决定的区域的方式决定相对于光学膜的制品批次构成(950)。
在图6～图9中所示的流程图中，将所述方法分成多个阶段而记载，但至少一部分的阶段可以变更顺序而进行，也可以与其它阶段结合而一起进行，也可以省略，可以分成详细阶段而进行，或者可以附加没有图示的1个以上的阶段而进行。
予以说明，本发明的实施方式可以包含含有用于在计算机上进行本说明书中记述的方法的程序的计算机可读取的记录介质。所述计算机可读取的记录介质可以单独或组合地含有程序命令、区域数据文件、区域数据构造等。所述介质是为了本发明而特别地设计并构成的介质，或可以为在计算机软件领域中通常可使用的介质。在计算机可读取的记录介质的例子中包含：硬盘、软盘及磁带这样的磁介质、CD-ROM、DVD这样的光记录介质、软盘这样的磁-光介质及只读存储器、随机存储器、闪存存储器等这样的以存储程序命令并执行的方式特别地构成的硬件装置。在程序命令的例子中不仅可以包含由编译器制作的编码这样的机械语编码，而且可以包含使用解释器等、利用计算机可以执行的高级语言编码。
以上，对本发明的代表的实施方式详细地进行了说明，但具有本发明所属的技术领域中的通常的知识的人可以理解能够对于上述的实施方式在不脱离本发明的范畴的限度内进行多种变形。因此，本发明的权利范围并不限于所说明的实施方式而决定，必须不仅由后述的专利权利要求而且还由与该专利权利要求均等的内容决定。
附图标记的说明
100 品质管理系统
110 光学膜的检查系统
111 第1检查装置
112 第2检查装置
113 警报装置
120 品质管理装置
200 光学膜工序线
210 编码器
220 卷绕部
221、222 芯
230 光学膜
121 数据合并部
123 切削模型决定部
125 检查方法决定部
127 批次构成部

Claims (28)

1.光学膜的检查系统，其含有：
配置于光学膜工序线上的特定的位置，检测光学膜的缺陷的第1检查装置；
以所述光学膜的转移方向为基准而配置于所述第1检查装置的后段，检测所述光学膜的缺陷的第2检查装置，
所述第1检查装置及所述第2检查装置在所述光学膜工序线上算出所述光学膜的转移距离，基于相互间的距离及所述光学膜的转移距离而被同步化。
2.根据权利要求1所述的光学膜的检查系统，其特征在于，所述第1检查装置及第2检查装置利用由配置于所述光学膜工序线上的特定的编码器生成的编码器信号算出所述光学膜的转移距离。
3.根据权利要求1所述的光学膜的检查系统，其特征在于，所述第1检查装置利用由配置于所述光学膜工序线上的特定的编码器生成的编码器信号算出所述光学膜的转移距离，所述第2检查装置配置于所述光学膜工序线上，利用由具有与所述特定的编码器相同的分辨率的其它编码器生成的编码器信号算出所述光学膜的转移距离。
4.根据权利要求1所述的光学膜的检查系统，其特征在于，所述第1检查装置在开始缺陷检测之后所算出的所述光学膜的转移距离与至所述第2检查装置的距离一致的情况下，向所述第2检查装置传送检查开始信号，结束缺陷检测的情况下，向所述第2检查装置传送检查结束信号，
所述第2检查装置在接收到所述检查开始信号的情况下，开始检测缺陷及算出所述光学膜的转移距离，在接收到所述检查结束信号之后被算出的所述光学膜的转移距离与至所述第1检查装置的距离一致的情况下，结束缺陷检测。
5.根据权利要求1所述的光学膜的检查系统，其特征在于，所述第1检查装置及所述第2检查装置基于所述光学膜的转移距离，决定所述被检测的缺陷的位置，生成含有所述被检测的缺陷的位置的缺陷数据。
6.根据权利要求5所述的光学膜的检查系统，其特征在于，所述第1检查装置及所述第2检查装置从卷绕所述光学膜的卷绕部接收到卷交替信号的情况下，基于至所述卷绕部的距离及至接收到所述卷交替信号的时刻所算出的光学膜的转移距离，生成至接收到所述卷交替信号的时刻的所生成的缺陷数据中除去了相对于没有被所述卷绕部卷绕的区间的缺陷数据的相对于交替前的卷的缺陷数据，生成含有相对于没有被所述卷绕部卷绕的区间的缺陷数据的相对于被交替的卷的缺陷数据。
7.根据权利要求6所述的光学膜的检查系统，其特征在于，所述第1检查装置及所述第2检查装置以与所述被交替的卷中的缺陷的位置一致的方式修正相对于没有被所述卷绕部卷绕的区间的缺陷数据中所含的缺陷的位置，以接收到所述卷交替信号的时刻为基准将所述光学膜的转移距离初始化，以初始化的转移距离为基准决定接收到所述卷交替信号之后所检测的缺陷的位置。
8.光学膜检查方法，其为配置于光学膜工序线上的特定的位置，检测光学膜的缺陷的检查装置的光学膜检查方法，其中，包括：
以所述光学膜的转移方向为基准由配置于所述特定的位置的前段的检查装置接收检查开始信号的阶段；
检测所述光学膜的缺陷的阶段；
从接收到所述检查开始信号的时刻算出所述光学膜的转移距离的阶段；
判断所述被算出的转移距离是否与至配置于所述特定的位置的后段的检查装置的距离一致的阶段；和
所述被算出的转移距离与至配置于所述后段的检查装置的距离一致的情况下，向配置于所述后段的检查装置传送检查开始信号的阶段。
9.根据权利要求8所述的光学膜检查方法，其特征在于，还包括：
从配置于所述前段的检查装置接收检查结束信号的阶段；
从接收到所述检查结束信号的时刻算出所述光学膜的转移距离的阶段；
判断从接收到所述检查结束信号的时刻所算出的光学膜的转移距离是否与至配置于所述前段的检查装置的距离一致的阶段；
在从接收到所述检查结束信号的时刻所算出的光学膜的转移距离与至配置于所述前段的检查装置的距离一致的情况下，结束所述缺陷检测的阶段；和
向配置于所述后段的检查装置传送检查结束信号的阶段。
10.根据权利要求9所述的光学膜检查方法，其特征在于，所述光学膜的转移距离利用由配置于所述光学膜工序线上、与配置于所述前段及后段的检查装置共有的特定的编码器生成的编码器信号而算出。
11.根据权利要求9所述的光学膜检查方法，其特征在于，所述光学膜的转移距离利用由配置于所述光学膜工序线上、与由配置于所述前段及后段的检查装置所利用的编码器具有相同的分辨率的编码器所生成的编码器信号而算出。
12.根据权利要求8所述的光学膜检查方法，其特征在于，还包括：基于所述被算出的所述光学膜的转移距离决定所述被检测的缺陷的位置的阶段；和
生成含有所述被检测的缺陷的位置的缺陷数据的阶段。
13.根据权利要求12所述的光学膜检查方法，其特征在于，还包括：
从卷绕所述光学膜的卷绕部接收卷交替信号的阶段；
基于至所述卷绕部的距离，生成至接收到所述卷交替信号的时刻的所生成的缺陷数据中除去了相对于没有被所述卷绕部卷绕的区间的缺陷数据的相对于交替前的卷的缺陷数据的阶段；和
生成含有相对于所述没有被卷绕的区间的缺陷数据的相对于被交替的卷的缺陷数据的阶段。
14.根据权利要求13所述的光学膜检查方法，其特征在于，生成相对于所述被交替的卷的缺陷数据的阶段以与所述被交替的卷中的缺陷的位置一致的方式修正相对于没有被所述卷绕部卷绕的区间的缺陷数据中所含的缺陷的位置，以接收到所述卷交替信号的时刻为基准将所述光学膜的转移距离初始化，以初始化的转移距离为基准决定接收到所述卷交替信号之后被检测的缺陷的位置。
15.光学膜的品质管理装置，其含有：
从配置于光学膜工序线的不同的位置的多个检查装置分别接收缺陷数据，合并所接收的缺陷数据的数据合并部；
基于所述被合并的缺陷数据，决定所述光学膜的切削尺寸及切削位置的切削模型决定部；和
基于所述被合并的缺陷数据，决定所述光学膜的区域类别的检查方法的检查方法决定部。
16.根据权利要求15所述的光学膜的品质管理装置，其特征在于，
所述多个缺陷数据含有缺陷位置信息及在所述光学膜工序线上与所述光学膜的转移距离有关的信息，
所述数据合并部基于所述缺陷位置信息、所述光学膜的转移距离及既定的光学膜卷的长度合并所述被接收的缺陷数据。
17.根据权利要求16所述的光学膜的品质管理装置，其特征在于，所述数据合并部基于所述光学膜的转移距离合并所述被接收的缺陷数据中至所述既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，生成相对于交替前的卷的缺陷数据，基于所述光学膜的转移距离合并所述被接收的缺陷数据中超过所述既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，生成相对于交替后的卷的缺陷数据。
18.根据权利要求17所述的光学膜的品质管理装置，其特征在于，所述数据合并部相对于超过所述既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，将所述光学膜的转移距离初始化，以初始化的转移距离为基准修正所述缺陷位置信息之后进行合并，生成相对于交替后的卷的缺陷数据。
19.根据权利要求15所述的光学膜的品质管理装置，其特征在于，所述切削模型决定部基于所述被合并的缺陷数据计算基于切削尺寸及切削位置的所述光学膜的收率，基于所述被计算的收率决定所述光学膜的切削尺寸及切削位置。
20.根据权利要求16所述的光学膜的品质管理装置，其特征在于，所述检查方法决定部按缺陷种类的类别将所述被合并的缺陷数据中所含的缺陷进行分类，基于所述被分类的缺陷的种类及位置，决定所述区域类别的检查方法。
21.根据权利要求15所述的光学膜的品质管理装置，其特征在于，还含有基于所述区域类别的检查方法、所述光学膜的切削尺寸及切削位置，以作为简易检查方法最大限度含有被决定的区域的方式，决定相对于所述光学膜的制品批次构成的批次构成决定部。
22.光学膜的品质管理方法，其特征在于，包括：
从配置于光学膜工序线的不同的位置的多个检查装置分别接收缺陷数据的阶段；
合并所述被接收的缺陷数据的阶段；
基于所述被合并的缺陷数据，决定所述光学膜的切削尺寸及切削位置的阶段；和
基于所述被合并的缺陷数据，决定所述光学膜的区域类别的检查方法的阶段。
23.根据权利要求22所述的光学膜的品质管理方法，其特征在于，
所述多个的缺陷数据含有缺陷位置信息及在所述光学膜工序线上与所述光学膜的转移距离有关的信息，
所述合并的阶段基于所述缺陷位置信息、所述光学膜的转移距离及既定的光学膜卷的长度合并所述被接收的缺陷数据。
24.根据权利要求23所述的光学膜的品质管理方法，其特征在于，
所述合并的阶段基于所述光学膜的转移距离合并所述被接收的缺陷数据中至所述既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，生成相对于交替前的卷的缺陷数据，基于所述光学膜的转移距离合并所述被接收的缺陷数据中超过所述既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，生成相对于交替后的卷的缺陷数据。
25.根据权利要求24所述的光学膜的品质管理方法，其特征在于，所述合并的阶段相对于超过所述既定的光学膜卷的长度的缺陷数据，将所述光学膜的转移距离初始化，以初始化的转移距离为基准修正所述缺陷位置信息之后进行合并，生成相对于交替后的卷的缺陷数据。
26.根据权利要求22所述的光学膜的品质管理方法，其特征在于，决定所述光学膜的切削尺寸及切削位置的阶段包括：基于所述被合并的缺陷数据计算利用切削尺寸及切削位置的所述光学膜的收率的阶段；和
基于所述被计算的收率决定所述光学膜的切削尺寸及切削位置的阶段。
27.根据权利要求23所述的光学膜的品质管理方法，其特征在于，决定所述光学膜的区域类别的检查方法的阶段包括：将所述被合并的缺陷数据中所含的缺陷按缺陷种类的类别进行分类的阶段；和
基于所述被分类的缺陷的种类及位置决定所述区域类别的检查方法的阶段。
28.根据权利要求22所述的光学膜品质管理方法，其特征在于，还包括：基于所述区域类别的检查方法、所述光学膜的切削尺寸及切削位置，以作为简易检查方法最大限度含有被决定的区域的方式决定相对于所述光学膜的制品批次构成的阶段。
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