KR20130012379A

KR20130012379A - 필름의 수율 예측 시스템 및 방법

Info

Publication number: KR20130012379A
Application number: KR1020110073536A
Authority: KR
Inventors: 홍승균; 박재현; 윤영근
Original assignee: 동우 화인켐 주식회사
Priority date: 2011-07-25
Filing date: 2011-07-25
Publication date: 2013-02-04
Also published as: JP6012311B2; CN102901734B; CN102901734A; KR101315102B1; JP2013024868A

Abstract

본 발명은 광학 필름의 제조 시 발생하는 결함을 인지하고 이로부터 제품의 예상 수율을 계산하기 위한 필름의 수율 예측 시스템 및 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 수율 예측 시스템은 광학 필름의 제조 공정 중 특정 단계를 수행 중인 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치를 포함하는 제 1 결함 데이터를 생성하는 제 1 검사부; 상기 특정 단계와 구별되는 상기 제조 공정 중의 다른 단계를 수행중인 상기 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치를 포함하는 제 2 결함 데이터를 생성하는 제 2 검사부; 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터를 병합하는 데이터 병합부; 및 상기 데이터 병합부에서 병합된 결함 데이터에 따라 상기 광학 필름의 예상 절삭 위치 및 절삭 크기에 따른 상기 광학 필름의 예상 수율을 계산하는 수율 예측부를 포함한다.

Description

필름의 수율 예측 시스템 및 방법{SYSTEM AND METHOD FOR PREDICTING YIELD OF A FILM}

본 발명은 광학 필름의 제조 시 발생하는 결함을 인지하고 이로부터 제품의 예상 수율을 계산하기 위한 필름의 수율 예측 시스템 및 방법에 관한 것이다.

광학 필름이란 액정표시장치(LCD, Liquid Crystal Display)의 제조에 사용되는 필름으로서, 편광 필름, 확산 필름, 반사 필름, 프리즘 필름 등을 포괄적으로 지칭하는 용어이다. 이러한 광학 필름은 일반적으로 롤(roll)에 감긴 형태로 제조되며, 이후 롤에 감긴 필름을 고객이 원하는 크기로 절삭하여 공급한다. 이때 필름 상에 결함이 발생한 경우 해당 부분은 검수 과정에서 폐기되며, 이러한 결함의 개수 및 발생 위치는 광학 필름의 수율을 결정하는 중요한 요인이 된다.

이러한 광학 제품의 결함을 체크하기 위하여, 일반적으로 광학 필름을 제조하는 업체에서는 인라인 자동 광학 검사 시스템을 이용하고 있다. 인라인 자동 광학 검사기는 결함 발생 위치에 잉크 또는 바코드 등으로 마킹을 실시함으로써, 후공정에서 마킹된 부위를 폐기하거나 이에 대한 추가 검사가 수행될 수 있도록 한다.

그러나 종래의 인라인 자동 광학 검사 시스템과 같은 장비들은 결함의 존재 및 그 위치만을 판별할 뿐, 편광 필름의 수율을 예측하는 것은 불가능하였다. 이에 따라, 광학 필름 원반의 제품화 전에 제품의 크기 또는 절삭 위치에 따른 수율을 예측하기 위한 시스템이 필요하게 되었다.

본 발명은 광학 필름의 제조 시 발생하는 결함을 인지하고 이로부터 제품의 예상 수율을 계산하기 위한 필름의 수율 예측 시스템 및 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.

1. 광학 필름의 제조 공정 중 특정 단계를 수행 중인 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치를 포함하는 제 1 결함 데이터를 생성하는 제 1 검사부; 상기 특정 단계와 구별되는 상기 제조 공정 중의 다른 단계를 수행중인 상기 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치를 포함하는 제 2 결함 데이터를 생성하는 제 2 검사부; 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터를 병합하는 데이터 병합부; 및 상기 데이터 병합부에서 병합된 결함 데이터에 따라 상기 광학 필름의 예상 절삭 위치 및 절삭 크기에 따른 상기 광학 필름의 예상 수율을 계산하는 수율 예측부를 포함하는 광학 필름의 수율 예측 시스템.

2. 위 1 에 있어서, 상기 제 1 검사부 및 상기 제 2 검사부는 상기 광학 필름의 상면에서 상기 광학 필름의 이미지를 촬영하고, 촬영된 상기 이미지로부터 상기 결함 데이터를 생성하는 수율 예측 시스템.

3. 위 1 에 있어서, 상기 데이터 병합부는 상기 제 1 결함 데이터와 상기 제 2 결함 데이터의 위치 좌표를 비교하여 상기 제 1 결함 데이터의 보정 좌표를 계산하고, 계산된 상기 보정 좌표에 따라 그 위치가 보정된 상기 제 1 결함 데이터 중 상기 제 2 결함 데이터와 동일 위치에 존재하는 결함을 제외한 나머지 제 1 결함 데이터를 상기 제 2 결함 데이터와 결합함으로써 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터를 병합하는 수율 예측 시스템.

4. 위 3 에 있어서, 상기 데이터 병합부는 상기 제 1 결함 데이터에 포함된 결함과 상기 제 2 결함 데이터에 포함된 결함 중 중복되는 결함의 수가 최대가 되도록 상기 제 1 결함 데이터의 보정 좌표를 계산하는 수율 예측 시스템.

5. 위 1 에 있어서, 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터로부터 이음매 결함을 제거하는 이음매 결함 제거부를 더 포함하는 수율 예측 시스템.

6. 위 5 에 있어서, 상기 이음매 결함 제거부는 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터에 포함된 결함 중 상기 광학 필름의 길이 방향과 수직하는 방향으로 기 설정된 개수 이상의 결함이 인식되는 경우 해당 결함을 이음매 결함으로 인식하여 제거하는 수율 예측 시스템.

7. 위 1 에 있어서, 상기 수율 예측부는 상기 광학 필름의 예상 절삭 위치 및 절삭된 필름의 크기 별로 절삭된 각각의 필름의 결함 존재 여부를 판단하고, 절삭된 필름의 개수 및 절삭된 필름 중 결함이 존재하는 필름의 개수로부터 상기 광학 필름의 예상 수율을 계산하는 수율 예측 시스템.

8. 위 1 에 있어서, 상기 광학 필름의 제조 공정 중 특정 단계는 상기 광학 필름에 점착제 또는 접착제를 도공하기 전 단계이고, 상기 특정 단계와 구별되는 상기 제조 공정 중의 다른 단계는 상기 광학 필름에 상기 점착제 또는 접착제를 도공한 후의 단계인 수율 예측 시스템.

9. 위 1 에 있어서, 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제2 결함 데이터는 각각 독립적으로 인지된 결함의 밝기 및 크기를 더 포함하는 수율 예측 시스템.

10. 광학 필름의 제조 공정 중 특정 단계를 수행 중인 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치를 포함하는 제 1 결함 데이터를 생성하는 단계;

상기 특정 단계와 구별되는 상기 제조 공정 중의 다른 단계를 수행 중인 상기 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치를 포함하는 제 2 결함 데이터를 생성하는 단계;

상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터를 병합하는 단계; 및

상기 병합 단계에서 병합된 결함 데이터에 따라 상기 광학 필름의 예상 절삭 위치 및 절삭 크기에 따른 상기 광학 필름의 예상 수율을 계산하는 단계를 포함하는 광학 필름의 수율 예측 방법.

11. 위 10 에 있어서, 상기 제 1 결함 데이터 생성 단계 및 상기 제 2 결함 데이터 생성 단계는, 상기 광학 필름의 상면에서 상기 광학 필름의 이미지를 촬영하고, 촬영된 상기 이미지로부터 상기 결함 데이터를 생성하는 수율 예측 방법.

12. 위 10 에 있어서, 상기 병합 단계는, 상기 제 1 결함 데이터와 상기 제 2 결함 데이터의 위치 좌표를 비교하여 상기 제 1 결함 데이터의 보정 좌표를 계산하는 단계; 계산된 상기 보정 좌표에 따라 상기 제 1 결함 데이터의 위치를 보정하는 단계; 및 위치 보정된 상기 제 1 결함 데이터 중 상기 제 2 결함 데이터와 동일 위치에 존재하는 결함을 제외한 나머지 제 1 결함 데이터를 상기 제 2 결함 데이터와 결합하는 단계를 포함하는 수율 예측 방법.

13. 위 12 에 있어서, 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제2 결함 데이터는 각각 독립적으로 인지된 결함의 밝기 및 크기를 더 포함하는 수율 예측 방법.

14. 위 13 에 있어서, 상기 제 1 결함 데이터의 보정 좌표 계산 단계는,

상기 제 1 결함 데이터로부터 기 설정된 값 이상의 밝기 및 크기를 가지는 결함을 대표결함으로 선택하는 제1단계; 상기 대표결함 중 하나의 결함을 선택하는 제2단계; 상기 제2단계에서 선택된 결함과 동일한 밝기 및 크기를 가지는 결함을 상기 제 2 결함 데이터로부터 선택하는 제3단계; 상기 제2단계에서 선택된 결함 및 상기 제3단계에서 선택된 결함의 위치 차이값을 계산하고, 계산된 위치 차이값만큼 상기 대표결함의 위치를 보정하는 제4단계; 상기 제4단계에서 보정된 상기 대표결함 중 상기 제 2 결함 데이터와 중복되는 결함의 개수를 계산하는 제5단계; 및 상기 제1단계에서 선택된 대표결함 각각에 대하여 상기 제2단계 내지 제5단계를 반복 수행하고, 상기 제5단계에서 중복되는 결함의 개수가 가장 많은 대표결함의 위치 차이값을 상기 보정 좌표로 선정하는 제6단계를 포함하는 수율 예측 방법.

15. 위 10 에 있어서, 상기 병합 단계의 수행 전, 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터로부터 이음매 결함을 제거하는 단계를 더 포함하는 수율 예측 방법.

16. 위 15 에 있어서, 상기 이음매 결함 제거 단계는 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터에 포함된 결함 중 상기 광학 필름의 길이 방향과 수직하는 방향으로 기 설정된 개수 이상의 결함이 인식되는 경우 해당 결함을 이음매 결함으로 인식하여 제거하는 수율 예측 방법.

17. 위 10 에 있어서, 상기 광학 필름의 제조 공정 중 특정 단계는 상기 광학 필름에 점착제 또는 접착제를 도공하기 전 단계이고, 상기 특정 단계와 구별되는 상기 제조 공정 중의 다른 단계는 상기 광학 필름에 상기 점착제 또는 접착제를 도공한 후의 단계인 수율 예측 방법.

18. 위 10 내지 17 중 어느 한 항에 기재된 방법을 컴퓨터상에서 수행하기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체.

본 발명에 따를 경우 원반 형태로 제조된 광학 필름의 후공정을 수행하기 전, 광학 필름의 절삭 위치 및 크기에 따른 예상 수율을 정확하게 판단할 수 있다. 또한, 이에 따라 최적의 절삭 위치 및 크기로 광학 필름을 절삭하여 시트형 필름을 제조할 수 있게 되는 바, 광학 필름의 제조 단가를 절감할 수 있는 장점이 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 적층 구조를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 수율 예측 시스템을 설명하기 위한 블록도이다.
도 3은 발명의 일 실시예에 따른 이음매 결함 제거부에서의 이음매 결함을 제거하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 데이터 병합부에서의 보정 좌표 계산 방법을 도시한 순서도이다.
도 5는 제 1 결함 데이터, 제 2 결함 데이터 및 데이터 병합부에서 병합된 데이터를 예시한 것이다.
도 6a 내지 6c는 수율 예측부에서의 절삭 위치에 따른 수율 예측 시뮬레이션을 설명하기 위한 도면이다.
도 7a 및 7b는 수율 예측부에서의 절삭 크기에 따른 수율 예측 시뮬레이션을 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 수율 예측 방법을 도시한 순서도이다.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하기로 한다. 그러나 이는 예시에 불과하며 본 발명은 이에 제한되지 않는다.

본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명과 관련된 공지기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다. 그리고, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.

본 발명의 기술적 사상은 청구범위에 의해 결정되며, 이하의 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 효율적으로 설명하기 위한 일 수단일 뿐이다.

본 발명의 실시예들을 설명하기 전에, 먼저 일반적인 광학 필름의 구조 및 제조 공정을 간단히 설명한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 적층 구조를 나타낸 도면이다. 도시된 바와 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름은 편광자, 상기 편광자의 양면에 적층되는 편광자 보호층, 상측 편광자 보호층의 상면에 적층되는 세퍼레이터 및 하측 편광자 보호층의 하면에 적층되는 보호 필름을 포함한다.

이와 같은 적층 구조를 가지는 광학 필름의 제조 공정을 설명하면 다음과 같다. 먼저 염색, 가교 및 연신 처리를 거친 폴리비닐알코올(PVA) 필름을 건조시켜 편광자를 얻는다. 다음으로, 상기 제조된 편광자의 양면에 접착제를 이용하여 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름을 부착하여 편광판을 제조한다. 이후, 제조된 편광판의 일면에 점착제를 이용하여 세퍼레이터(SP Film)를 부착하고, 반대면에는 보호 필름(PF Film)을 부착한다.

이와 같이 광학 필름을 제조하기 위한 각 광학 필름 부재들, 즉 PVA 필름 TAC 필름, 세퍼레이터, 보호 필름 등은 벨트 형상의 시트상 제품으로서 롤(roll)에 감겨 각 공정으로 제공되며, 제조된 광학 필름 또한 롤에 감겨 후공정에 제공된다.

이후 후공정에서는 롤상으로 감긴 상기 광학 시트를 인출하여 소정 사이즈의 시트상 제품으로 절삭하고, 절삭된 시트 중 결함이 발생한 시트를 제외한 뒤 출하하게 된다.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 수율 예측 시스템(200)을 설명하기 위한 블록도이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 수율 예측 시스템(200)은 전술한 광학 필름의 제조 공정에서 제조 중인 광학 필름의 결함(또는 결점)을 인지하고, 인지된 결함의 위치 정보를 이용하여 후공정을 수행하기 전에 제조된 광학 필름의 절삭 위치 및 크기에 따른 예상 수율을 산출함으로써 가장 높은 수율을 얻을 수 있는 절삭 위치 및 크기를 계산할 수 있도록 구성된 것이다.

도시된 바와 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 수율 예측 시스템(200)은 제 1 검사부(202), 제 2 검사부(204), 이음매 결함 제거부(206), 데이터 병합부(208) 및 수율 예측부(210)를 포함한다.

제 1 검사부(202) 및 제 2 검사부(204)는 제조 중인 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치, 밝기 및 크기 정보를 포함하는 결함 데이터를 생성한다. 구별을 위하여, 제 1 검사부(202)로부터 생성된 결함 데이터를 제 1 결함 데이터, 제 2 검사부(204)로부터 생성된 결함 데이터를 제 2 결함 데이터로 지칭하기로 한다.

제 1 검사부(202) 및 제 2 검사부(204)는 각각 광학 필름의 제조 공정 중 각각 서로 다른 단계에 위치하도록 배치될 수 있다. 예를 들어, 도 1에 도시된 실시예와 같이 제 1 검사부(202)는 TAC 필름 접착 후 세퍼레이터/보호 필름 점착을 위해 점착제를 도공하기 전의 광학 필름으로부터 결함 데이터를 수집할 수 있으며(미도공 검사기), 제 2 검사부(204)는 점착제 도공 후의 광학 필름으로부터 결함 데이터를 수집할 수 있다(도공 검사기). 다만, 이는 예시적인 것으로서, 제 1 검사부(202) 및 제 2 검사부(204)는 광학 필름의 제조 공정 중 발생하는 광학 필름의 결함을 식별하기 적합한 위치라면 공정 중 어디에도 존재할 수 있음을 유의한다.

이와 같이 제 1 검사부(202) 및 제 2 검사부(204)를 서로 다른 공정 단계에 위치하도록 구성하는 이유는 광학 필름에 존재하는 결함의 인식률을 향상하기 위해서이다. 예를 들어, 세퍼레이터 및 보호 필름 점착 전에는 용이하게 인식 가능한 결함이 세퍼레이터 및 보호 필름 점착 후에는 잘 인식되지 않을 수도 있으며, 반대로 세퍼레이터 및 보호 필름 점착 공정에서 새롭게 발생하는 결함 또한 존재할 수 있다. 따라서 제 1 검사부(202) 및 제 2 검사부(204) 중 하나만을 구비할 경우에는 광학 필름에 존재하는 결함을 인지할 확률이 상대적으로 떨어지게 된다. 이에 따라 본 발명에서는 제 1 검사부(202) 및 제 2 검사부(204)를 이용하여 각 제조 공정 별로 독립적으로 광학 필름상의 결함을 인식하고 후술할 데이터 병합부(208)에서 독립적으로 인식된 결함을 병합함으로써 광학 필름에 존재하는 결함을 빠짐없이 인식할 수 있도록 구성하였다.

제 1 검사부(202) 및 제 2 검사부(204)는 상기 광학 필름의 상면에 배치되는 복수 개의 카메라 모듈을 포함할 수 있으며, 상기 카메라 모듈을 이용하여 광학 필름을 촬영하고 촬영된 이미지로부터 필름 상의 결함을 인지하도록 구성될 수 있다. 또한, 이를 위하여 광학 필름을 기준으로 상기 카메라 모듈이 위치한 면의 반대면에 광원(202a, 204a)을 구비할 수 있으며, 카메라 모듈은 상기 광원(202a, 204a)으로부터 방출되어 상기 광학 필름을 투과한 빛을 촬영하도록 구성될 수 있다. 이 경우 광학 필름에 결함이 존재할 경우 해당 부분은 빛의 투과도가 낮아지게 되므로 용이하게 광학 필름상의 결함을 식별할 수 있다.

이음매 결함 제거부(206)는 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터로부터 이음매 결함을 제거한다. 광학 필름 생산 공정 중 TAC 필름, 세퍼레이터, 보호 필름 중 어느 하나의 필름이 소진되는 경우에는 기존 필름의 끝 부분과 새로 공급되는 필름의 첫 부분을 서로 이어 붙이는 작업을 진행하게 된다. 이 경우 각 필름의 이음매 부분은 제 1 검사부(202) 및 제 2 검사부(204)에서 결함으로 인식되며, 구체적으로는 도 3의 왼쪽 도면에 도시한 것과 같이 광학 필름의 길이 방향(도면에서 Z 방향)과 수직하는 방향으로 연속하여 결함이 발생한 것으로 인식된다(도면에서 A로 표시된 부분).

이와 같이 이음매 결함이 발생한 경우, 후술할 데이터 병합부(208)에서 제 1 결함 데이터 및 제 2 결함 데이터를 병합하는 데 오류가 발생할 가능성이 매우 높아진다. 데이터 병합부(208)는 제 1 결함 데이터 및 제 2 결함 데이터에 공통적으로 나타나는 결함의 좌표를 이용하여 데이터 병합을 수행하는데, 이음매 결함이 발생할 경우 서로 다른 이음매 부분을 동일 영역으로 잘못 판단할 수 있기 때문이다. 이에 이음매 결함 제거부(206)는 제 1 결함 데이터 및 제 2 결함 데이터에서 이음매 결함을 제거함으로써 데이터 병합부(208)에서 병합 오류가 발생할 가능성을 차단한다. 구체적으로 이음매 결함 제거부(206)는 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터에 포함된 결함 중 상기 광학 필름의 길이 방향(Z 방향)과 수직하는 방향으로 기 설정된 개수 이상의 결함이 인식되는 경우 해당 결함을 이음매 결함으로 인식하여 제거하도록 구성된다. 도 3은 이러한 이음매 결함 제거부(206)에서의 이음매 결함 제거 과정을 설명하기 위한 도면으로서, 왼쪽에는 이음매 결함(A 부분)이 제거되기 전, 오른쪽에는 이음매 결함이 제거된 이후를 각각 도시한 것이다. 또한, 상기 제 1 결함 데이터 및 제 2 결함 데이터에 이음매 부분이 없을 경우 이음매 결함 제거부(206)는 생략될 수 있다.

데이터 병합부(208)는 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터를 병합한다. 광학 필름에 발생한 결함은 제 1 결함 데이터에만 기록된 결함, 제 2 결함 데이터에만 기록된 결함, 제 1 결함 데이터 및 제 2 결함 데이터에 공통적으로 기록된 결함으로 구분할 수 있다. 데이터 병합부(208)는 상기 제 1 결함 데이터 및 제 2 결함 데이터에 기록된 데이터로부터 중복되는 데이터를 제거하고 두 데이터를 하나로 합침으로써 광학 필름으로부터 인식된 모든 결함 데이터가 포함된 하나의 결함 데이터를 생성하게 된다.

구체적으로, 데이터 병합부(208)는 상기 제 1 결함 데이터와 상기 제 2 결함 데이터의 위치 좌표를 비교하여 상기 제 1 결함 데이터의 보정 좌표를 계산하고, 계산된 상기 보정 좌표에 따라 그 위치가 보정된 상기 제 1 결함 데이터 중 상기 제 2 결함 데이터와 동일 위치에 존재하는 결함을 제외한 나머지 제 1 결함 데이터를 상기 제 2 결함 데이터와 결합함으로써 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터를 병합한다. 즉, 동일한 결함이라도 제 1 검사부(202), 제 2 검사부(204) 및 광학 필름의 상대적인 위치에 따라 제 1 검사부(202) 및 제 2 검사부(204)에서 서로 다른 위치에 존재하는 결함으로 판단될 수 있다. 따라서 데이터 병합부(208)는 제 1 결함 데이터와 제 2 결함 데이터에 공통적으로 기록된 결함의 위치 차이를 이용하여 보정 좌표를 계산하고, 이에 따라 제 1 결함 데이터의 위치 좌표를 보정함으로써 동일한 결함이 제 1 결함 데이터 및 제 2 결함 데이터상에서 동일한 위치에 존재하도록 한다. 상기 실시예에서는 제 1 결함 데이터의 위치를 보정하는 것으로 기재하였으나, 이는 예시적인 것이며 반대로 제 2 결함 데이터의 위치를 보정하여 제 1 결함 데이터에 일치시키는 것도 가능함은 자명하다.

이하에서는 상기 보정 좌표를 계산하는 방법을 설명한다.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 데이터 병합부(208)에서의 보정 좌표 계산 방법(400)을 도시한 순서도이다. 본 발명에서 보정 좌표는 상기 제 1 결함 데이터에 포함된 결함과 상기 제 2 결함 데이터에 포함된 결함 중 중복되는 결함의 수가 최대가 되도록 계산된다.

먼저, 제 1 결함 데이터(또는 제 2 결함 데이터)로부터 소정 개수의 대표결함을 선택한다(402). 이때 상기 대표결함은 상기 제 1 결함 데이터(제 2 결함 데이터)에 기록된 결함 중 기 설정된 값 이상의 밝기 및 크기를 가지는 결함일 수 있다. 이러한 결함들은 상대적으로 인식이 용이하므로 제 1 결함 데이터 및 제 2 결함 데이터 모두에 포함되어 있을 가능성이 높기 때문이다.

다음으로, 상기 선택된 대표결함 중 하나의 결함을 선택하고(404), 선택된 결함에 대응되는 결함, 즉 선택된 결함과 동일한 밝기 및 크기를 가지는 결함을 상기 제 2 결함 데이터(제 1 결함 데이터)로부터 선택한다(406). 이때 선택된 결함과 "동일한" 밝기 및 크기를 가지는 결함이란, 선택된 결함과 완전히 동일한 밝기 및 크기를 가지는 결함뿐만 아니라 소정의 오차 범위 내에 존재하는 결함을 포함한다. 즉, 동일한 결함이더라도 기기의 오차 등에 의하여 그 크기 또는 밝기가 다르게 인식될 수 있으므로 이러한 점을 감안하여 대응되는 결함을 선택한다.

다음으로, 상기 404 단계에서 선택된 결함 및 상기 406 단계에서 선택된 결함의 위치 차이값을 계산하고(408), 계산된 위치 차이값만큼 상기 대표결함에 포함된 결함들의 위치를 보정한 뒤(410), 상기 410 단계에서 보정된 상기 대표결함 중 상기 제 2 결함 데이터(제 1 결함 데이터)와 중복되는 결함의 개수를 계산한다(412)

이후, 상기 402 단계에서 선택된 대표결함 각각에 대하여 상기 404 내지 412 단계를 반복 수행하고, 상기 제 2 결함 데이터(제 1 결함 데이터)와 중복되는 결함의 개수가 가장 많은 대표결함의 위치 차이값을 상기 보정 좌표로 선정한다(416).

도 5는 제 1 결함 데이터, 제 2 결함 데이터 및 데이터 병합부(208)에서 병합된 데이터를 예시한 것이다.

수율 예측부(210)는 데이터 병합부(208)에서 병합된 결함 데이터에 따라 상기 광학 필름의 예상 절삭 위치 및 절삭 크기에 따른 상기 광학 필름의 예상 수율을 계산한다.

구체적으로, 수율 예측부(210)는 기 설정된 절삭 위치 및 절삭 크기에 따라 광학 필름의 절삭 시뮬레이션을 수행하고, 상기 병합된 결함 데이터에 포함된 결함이 절삭된 필름 중 어떤 필름에 포함되는지의 여부를 계산한다.

도 6은 수율 예측부(210)에서의 절삭 위치에 따른 수율 예측 시뮬레이션을 설명하기 위한 도면으로서, 도 6a는 필름의 진행 방향을 기준으로 왼쪽으로 치우쳐서 필름을 사각형의 시트 형태로 절단한 경우, 도 6b는 필름의 중앙을 기준으로 절단한 경우, 도 6c는 오른쪽으로 치우쳐서 필름을 절단한 경우의 예를 각각 나타낸다. 도면에서 점으로 표시된 부분은 필름의 결함을 나타낸 것이다.

도면에서 알 수 있는 바와 같이, 도 6a의 경우 18개의 시트 중 결함이 존재하는 시트는 8개이고, 도 6b의 경우에는 9개이며, 도 6c의 경우 6개이다. 이에 따라 각각의 수율을 계산하여 보면, 도 6a의 경우 10/18=55%, 도 6b의 경우 9/18=50%, 도 6c의 경우 12/18=66%이다. 따라서 도 6과 같은 형태로 결함이 분포된 경우에는 도 6c와 같이 필름을 절단하는 것이 수율 면에서 유리함을 알 수 있다.

도 7은 수율 예측부(210)에서의 절삭 크기에 따른 수율 예측 시뮬레이션을 설명하기 위한 도면으로서, 도 7a는 작은 크기로, 도 7b는 큰 크기로 필름을 절단한 예를 나타낸다. 도 6과 같은 방식으로 각 경우의 수율을 예측하여 보면, 도 7a의 경우 9/18=50%, 도 7b의 경우에는 4/10=40%가 된다. 따라서 이 경우에는 도 7a와 같은 크기로 절삭하는 것이 수율 면에서 유리함을 알 수 있다.

수율 예측부(210)는 이와 같이 기 설정된 필름의 절삭 위치 및 절삭 크기에 따른 수율 예측 시뮬레이션을 수행하고, 각 경우의 계산된 예상 수율을 사용자에게 디스플레이한다. 그러면 사용자는 계산된 예상 수율을 보고 가장 높은 수율을 얻을 수 있는 절삭 위치 및 크기를 선택하여 후공정을 수행하게 된다.

도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 수율 예측 방법(800)을 도시한 순서도이다.

먼저, 광학 필름의 제조 공정 중 특정 단계를 수행 중인 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치, 밝기 및 크기를 포함하는 제 1 결함 데이터를 생성한다(802).

다음으로, 상기 특정 단계와 구별되는 상기 제조 공정 중의 다른 단계를 수행중인 상기 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치, 밝기 및 크기를 포함하는 제 2 결함 데이터를 생성한다(804).

전술한 바와 같이, 상기 802 단계 및 804 단계는 상기 광학 필름의 상면에서 상기 광학 필름의 이미지를 촬영하고, 촬영된 상기 이미지로부터 상기 결함 데이터를 생성할 수 있다.

다음으로, 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터에 이음매 결함이 존재할 경우, 이로부터 이음매 결함을 제거하고(806), 이음매 결함이 제거된 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터를 병합한다(808).

이때 상기 806 단계는 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터에 포함된 결함 중 상기 광학 필름의 길이 방향과 수직하는 방향으로 기 설정된 개수 이상의 결함이 인식되는 경우 해당 결함을 이음매 결함으로 인식하여 제거할 수 있다.

또한 상기 808 단계는, 상기 제 1 결함 데이터와 상기 제 2 결함 데이터의 위치 좌표를 비교하여 상기 제 1 결함 데이터의 보정 좌표를 계산하고, 계산된 상기 보정 좌표에 따라 상기 제 1 결함 데이터의 위치를 보정한 뒤, 위치 보정된 상기 제 1 결함 데이터 중 상기 제 2 결함 데이터와 동일 위치에 존재하는 결함을 제외하고 상기 제 1 결함 데이터를 상기 제 2 결함 데이터와 결합하도록 구성될 수 있다.

이후, 병합된 결함 데이터에 따라 상기 광학 필름의 예상 절삭 위치 및 절삭 크기에 따른 상기 광학 필름의 예상 수율을 계산한다(810).

한편, 본 발명의 실시예는 본 명세서에서 기술한 방법들을 컴퓨터상에서 수행하기 위한 프로그램을 포함하는 컴퓨터 판독 가능 기록매체를 포함할 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 기록매체는 프로그램 명령, 로컬 데이터 파일, 로컬 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체는 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체, CD-ROM, DVD와 같은 광 기록 매체, 플로피 디스크와 같은 자기-광 매체, 및 롬, 램, 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함할 수 있다.

이상에서 대표적인 실시예를 통하여 본 발명에 대하여 상세하게 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 상술한 실시예에 대하여 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 다양한 변형이 가능함을 이해할 것이다.

그러므로 본 발명의 권리범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.

100: 수율 예측 시스템
102: 제 1 검사부
104: 제 2 검사부
106: 이음매 결함 제거부
108: 데이터 병합부
110: 수율 예측부

Claims

광학 필름의 제조 공정 중 특정 단계를 수행 중인 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치를 포함하는 제 1 결함 데이터를 생성하는 제 1 검사부;
상기 특정 단계와 구별되는 상기 제조 공정 중의 다른 단계를 수행중인 상기 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치를 포함하는 제 2 결함 데이터를 생성하는 제 2 검사부;
상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터를 병합하는 데이터 병합부; 및
상기 데이터 병합부에서 병합된 결함 데이터에 따라 상기 광학 필름의 예상 절삭 위치 및 절삭 크기에 따른 상기 광학 필름의 예상 수율을 계산하는 수율 예측부를 포함하는 광학 필름의 수율 예측 시스템.
청구항 1 에 있어서, 상기 제 1 검사부 및 상기 제 2 검사부는 상기 광학 필름의 상면에서 상기 광학 필름의 이미지를 촬영하고, 촬영된 상기 이미지로부터 상기 결함 데이터를 생성하는 수율 예측 시스템.
청구항 1 에 있어서, 상기 데이터 병합부는 상기 제 1 결함 데이터와 상기 제 2 결함 데이터의 위치 좌표를 비교하여 상기 제 1 결함 데이터의 보정 좌표를 계산하고, 계산된 상기 보정 좌표에 따라 그 위치가 보정된 상기 제 1 결함 데이터 중 상기 제 2 결함 데이터와 동일 위치에 존재하는 결함을 제외한 나머지 제 1 결함 데이터를 상기 제 2 결함 데이터와 결합함으로써 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터를 병합하는 수율 예측 시스템.
청구항 3 에 있어서, 상기 데이터 병합부는 상기 제 1 결함 데이터에 포함된 결함과 상기 제 2 결함 데이터에 포함된 결함 중 중복되는 결함의 수가 최대가 되도록 상기 제 1 결함 데이터의 보정 좌표를 계산하는 수율 예측 시스템.
청구항 1 에 있어서, 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터로부터 이음매 결함을 제거하는 이음매 결함 제거부를 더 포함하는 수율 예측 시스템.
청구항 5 에 있어서, 상기 이음매 결함 제거부는 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터에 포함된 결함 중 상기 광학 필름의 길이 방향과 수직하는 방향으로 기 설정된 개수 이상의 결함이 인식되는 경우 해당 결함을 이음매 결함으로 인식하여 제거하는 수율 예측 시스템.
청구항 1 에 있어서, 상기 수율 예측부는 상기 광학 필름의 예상 절삭 위치 및 절삭된 필름의 크기 별로 절삭된 각각의 필름의 결함 존재 여부를 판단하고, 절삭된 필름의 개수 및 절삭된 필름 중 결함이 존재하는 필름의 개수로부터 상기 광학 필름의 예상 수율을 계산하는 수율 예측 시스템.
청구항 1 에 있어서, 상기 광학 필름의 제조 공정 중 특정 단계는 상기 광학 필름에 점착제 또는 접착제를 도공하기 전 단계이고, 상기 특정 단계와 구별되는 상기 제조 공정 중의 다른 단계는 상기 광학 필름에 상기 점착제 또는 접착제를 도공한 후의 단계인 수율 예측 시스템.
청구항 1 에 있어서, 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제2 결함 데이터는 각각 독립적으로 인지된 결함의 밝기 및 크기를 더 포함하는 수율 예측 시스템.
광학 필름의 제조 공정 중 특정 단계를 수행 중인 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치를 포함하는 제 1 결함 데이터를 생성하는 단계;
상기 특정 단계와 구별되는 상기 제조 공정 중의 다른 단계를 수행 중인 상기 광학 필름상의 결함을 인지하고, 인지된 결함의 위치를 포함하는 제 2 결함 데이터를 생성하는 단계;
상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터를 병합하는 단계; 및
상기 병합 단계에서 병합된 결함 데이터에 따라 상기 광학 필름의 예상 절삭 위치 및 절삭 크기에 따른 상기 광학 필름의 예상 수율을 계산하는 단계를 포함하는 광학 필름의 수율 예측 방법.
청구항 10 에 있어서, 상기 제 1 결함 데이터 생성 단계 및 상기 제 2 결함 데이터 생성 단계는, 상기 광학 필름의 상면에서 상기 광학 필름의 이미지를 촬영하고, 촬영된 상기 이미지로부터 상기 결함 데이터를 생성하는 수율 예측 방법.
청구항 10 에 있어서, 상기 병합 단계는,
상기 제 1 결함 데이터와 상기 제 2 결함 데이터의 위치 좌표를 비교하여 상기 제 1 결함 데이터의 보정 좌표를 계산하는 단계;
계산된 상기 보정 좌표에 따라 상기 제 1 결함 데이터의 위치를 보정하는 단계; 및
위치 보정된 상기 제 1 결함 데이터 중 상기 제 2 결함 데이터와 동일 위치에 존재하는 결함을 제외한 나머지 제 1 결함 데이터를 상기 제 2 결함 데이터와 결합하는 단계를 포함하는 수율 예측 방법.
청구항 12 에 있어서, 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제2 결함 데이터는 각각 독립적으로 인지된 결함의 밝기 및 크기를 더 포함하는 수율 예측 방법.
청구항 13 에 있어서, 상기 제 1 결함 데이터의 보정 좌표 계산 단계는,
상기 제 1 결함 데이터로부터 기 설정된 값 이상의 밝기 및 크기를 가지는 결함을 대표결함으로 선택하는 제1단계;
상기 대표결함 중 하나의 결함을 선택하는 제2단계;
상기 제2단계에서 선택된 결함과 동일한 밝기 및 크기를 가지는 결함을 상기 제 2 결함 데이터로부터 선택하는 제3단계;
상기 제2단계에서 선택된 결함 및 상기 제3단계에서 선택된 결함의 위치 차이값을 계산하고, 계산된 위치 차이값만큼 상기 대표결함의 위치를 보정하는 제4단계;
상기 제4단계에서 보정된 상기 대표결함 중 상기 제 2 결함 데이터와 중복되는 결함의 개수를 계산하는 제5단계; 및
상기 제1단계에서 선택된 대표결함 각각에 대하여 상기 제2단계 내지 제5단계를 반복 수행하고, 상기 제5단계에서 중복되는 결함의 개수가 가장 많은 대표결함의 위치 차이값을 상기 보정 좌표로 선정하는 제6단계를 포함하는 수율 예측 방법.
청구항 10 에 있어서, 상기 병합 단계의 수행 전, 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터로부터 이음매 결함을 제거하는 단계를 더 포함하는 수율 예측 방법.
청구항 15 에 있어서, 상기 이음매 결함 제거 단계는 상기 제 1 결함 데이터 및 상기 제 2 결함 데이터에 포함된 결함 중 상기 광학 필름의 길이 방향과 수직하는 방향으로 기 설정된 개수 이상의 결함이 인식되는 경우 해당 결함을 이음매 결함으로 인식하여 제거하는 수율 예측 방법.
청구항 10 에 있어서, 상기 광학 필름의 제조 공정 중 특정 단계는 상기 광학 필름에 점착제 또는 접착제를 도공하기 전 단계이고, 상기 특정 단계와 구별되는 상기 제조 공정 중의 다른 단계는 상기 광학 필름에 상기 점착제 또는 접착제를 도공한 후의 단계인 수율 예측 방법.
청구항 10 내지 17 중 어느 한 항에 기재된 방법을 컴퓨터상에서 수행하기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체.