JP4913838B2 - 光学表示装置製造システム及び光学表示装置製造方法 - Google Patents

Description

本発明は、光学フィルムがロール状に巻回されることにより形成されたロール原反から前記光学フィルムを送り出し、所定サイズに切断して光学表示ユニットに貼り合せることにより光学表示装置を製造するための光学表示装置製造システム及び光学表示装置製造方法に関する。

従来の液晶表示装置に実装される光学表示装置の製造方法を図７に概念的に示す。まず、光学フィルム製造メーカーでは、光学フィルムを有する長尺（帯状）のシート状製品をロール原反として製造する（＃１）。この具体的製造工程は公知の製造工程であり、説明は省略する。この長尺（帯状）のシート状製品のロール原反として、例えば、液晶表示装置に用いられる偏光板原反、位相差板原反、偏光板と位相差板の積層フィルム原反等がある。次いで、ロール原反を所定サイズ（光学表示ユニットのサイズに従ったサイズ）にスリットする（＃２）。次いで、スリットされた長尺の原反を、貼り合わされる光学表示ユニットのサイズに合わせて定尺切断する（＃３）。次いで、定尺切断された枚葉のシート状製品（光学フィルム）を外観検査する（＃４）。この検査方法としては、例えば、目視による欠点検査、公知の欠点検査装置を用いた検査が挙げられる。欠点は、例えば、表面又は内部の汚れ、傷、異物をかみ込んだ打痕状のひねったような特殊状欠点（クニックと称されることがある）、気泡、異物等を意味している。次いで、完成品検査をする（＃５）。完成品検査は、外観検査よりも良品判定の厳しい品質基準に従った検査である。次いで、枚葉のシート状製品の４方の端面を端面加工する（＃６）。これは、輸送中において、端面から粘着剤等がはみださないように防止するために行なわれる。次いで、クリーンルーム環境において、枚葉のシート状製品をクリーン包装する（＃７）。次いで、輸送のために包装（輸送梱包）する（＃８）。以上のようにして枚葉のシート状製品が製造され、パネル加工メーカーに輸送される。

パネル加工メーカーでは、輸送されてきた枚葉のシート状製品を梱包解体する（＃１１）。次いで、輸送中あるいは梱包解体時に生じた傷、汚れ等を検査するために外観検査をする（＃１２）。検査で良品判定された枚葉のシート状製品は、次工程に搬送される。なお、この外観検査を省略する場合もある。枚葉のシート状製品が貼り合わされる光学表示ユニット（例えば、液晶セルが封入されたガラス基板ユニット）は、予め製造され、光学表示ユニットは貼り合わせ工程の前に洗浄される（＃１３）。

枚葉のシート状製品と光学表示ユニットを貼り合わせる（＃１４）。枚葉のシート状製品から粘着剤層を残して離型フィルムが剥離され、粘着剤層を貼り合わせ面として光学表示ユニットの一方の面に貼り合わせる。さらに、光学表示ユニットの他方の面にも同様に貼り合わせることができる。両面に貼り合わせる場合、光学表示ユニットのそれぞれの面には、同一構成の光学フィルムが貼り合わせるように構成されてもよく、異なる構成の光学フィルムが貼り合わされるように構成されていてもよい。次いで、光学フィルムが貼り合わせられた状態の光学表示装置の検査および欠点検査を行なう（＃１５）。この検査で良品判定された光学表示装置は、実装工程に搬送される（＃１６）。一方、不良品判定された光学表示装置には、リワーク処理が施される（＃１７）。リワーク処理で、光学表示ユニットから光学フィルムが剥離される。リワーク処理された光学表示ユニットは、新たに光学フィルムが貼り合わされる（＃１４）。

上記のように光学フィルム製造メーカーにおいて枚葉のシート状製品を製造する場合に、ロール原反の欠陥を予め検出し、その検出された欠陥の位置情報をバーコードの形態でロール原反に印字したり、当該位置情報を記憶装置に記憶したりする方法が提案されている（特許文献１及び２）。これらの方法では、バーコード又は記憶装置から読み取った上記位置情報に基づいて偏光板を打ち抜くことにより、偏光板における欠陥を含む部分を製造ラインから除去することができるようになっている。

以上の製造工程において、特に端面加工、枚葉のシート状製品の包装、梱包解体等は、光学フィルム製造メーカーとパネル加工メーカーとが別々の場所に存在しているために必要な工程となっている。しかしながら、多工程による製造コストの上昇問題があり、また、多工程や輸送により生じる傷、埃、汚れ等の問題、それに伴う検査工程の必要性、さらに多種類の枚葉シート状製品を在庫として保管・管理しなければならないという問題がある。

これを解決する方法として、特開２００７−１４００４６号公報（特許文献３）が提案されている。この発明によれば、光学表示装置の部材である光学フィルムを有する帯状シート状製品が巻き取られたロール原反から帯状シート状製品を引き出して供給する供給手段と、供給手段によって引き出された帯状シート状製品の欠陥を検出する検出手段と、検出手段の検出結果に基づいて帯状シート状製品を切断し、個々のシート状製品に加工する切断加工手段と、切断加工手段で切断加工されたシート状製品を貼合わせ加工を行うために移送する移送手段と、移送手段によって移送されたシート状製品と光学表示装置の部材である光学表示ユニットを貼合わせる貼合わせ加工手段とを具備し、これら各手段を連続した製造ライン工程上に配置したことを特徴とする。上記の構成においては、光学フィルムを有する帯状シート状製品から直接、所望のサイズに切断加工して、この切断されたシート状製品を光学表示ユニットに貼り合わせることができる。よって、従来であれば、帯状シート状製品を打ち抜き、打ち抜き後のシート状製品を厳重に梱包し、パネル加工メーカーに納品していたところを、ロール原反に巻き付けた帯状シート状製品を直接梱包して納品することが可能となる。

特開２００５−６２１６５号公報 特開２００５−１１４６２４号公報 特開２００７−１４００４６号公報

上記特許文献１及び２のような方法では、予め検出した欠陥の位置情報に基づいて偏光板を打ち抜くことにより、欠陥を含んでいない偏光板を枚葉のシート状製品として製造することができる。しかし、このようにして製造された枚葉のシート状製品を光学表示ユニットに対して実際に貼り合せる際には、上述のような輸送により生じる傷、埃、汚れ等の問題により、シート状製品に新たな欠陥が生じる可能性がある。

これに対し、上記特許文献３のような方法では、光学フィルム製造メーカーからパネル加工メーカーに納品されるロール原反が、光学表示ユニットに対する貼合直前に切断されるので、上記のように輸送に伴って新たな欠陥が生じるのを抑制することができる。しかし、このような方法であっても、より高品質な光学表示装置を製造するためには、納品されたロール原反から引き出されて光学表示ユニットに貼り合せられる光学フィルムを、光学表示ユニットに貼り合せられる前に検査することが好ましい。また、上記のような貼合前の光学フィルムの検査に加え、当該光学フィルムが貼り合せられた光学表示装置も検査することが考えられる。

しかし、上記のように貼合の前後で欠点検査を行う場合、貼合前の欠点検査の基準が貼合後の欠点検査の基準よりも高いときなどには、貼合後の欠点検査では欠点として検出されないレベルの微細な欠点が、貼合前の欠点検査において過検出される場合もある。また、このことは光学フィルムの製造工程とパネルの加工工程が同一メーカーで行われている場合であっても、それらの工程が別ラインでなされる場合には同様に考えられる。

本発明は、上記の実情に鑑みてなされたものであって、欠点検査をより好適に行うことができる光学表示装置製造システム及び光学表示装置製造方法を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、鋭意検討を重ねた結果、以下の本発明を完成するに至ったものである。

第１の本発明に係る光学表示装置製造システムは、光学フィルムがロール状に巻回されることにより形成されたロール原反から前記光学フィルムを送り出し、所定サイズに切断して光学表示ユニットに貼り合せることにより光学表示装置を製造するための光学表示装置製造システムであって、前記光学表示ユニットに貼り合せられる前の前記光学フィルムを検査して欠点を検出する光学フィルム検査手段と、前記光学フィルムが貼り合せられた前記光学表示装置を検査して欠点を検出する光学表示装置検査手段と、前記光学表示装置検査手段の検査結果に基づいて、前記光学フィルム検査手段による前記光学フィルムの欠点の検出条件を補正する検出条件補正手段と、補正された前記検出条件に基づいて前記光学フィルム検査手段により検出された欠点を含む光学フィルムを、排除する排除手段とを備え、前記光学フィルム検査手段は、前記光学フィルムに含まれる欠点が前記検出条件を満たす場合にのみ欠点として検出し、前記検出条件補正手段は、当該光学フィルム検査手段により検出された欠点が前記光学表示装置検査手段により検出されなかった場合に、当該欠点に対応する条件を前記検出条件から除外することを特徴とする。

この構成によれば、光学表示装置検査手段により行われる光学フィルムが貼り合せられた光学表示装置の検査結果に基づいて、光学フィルム検査手段により行われる光学表示ユニットに貼り合せられる前の光学フィルムの検査における欠点の検出条件が補正され、その補正された検出条件に基づいて光学フィルム検査手段により検出された欠点を含む光学フィルムが、排除される。したがって、後に光学表示装置検査手段により行われる欠点検査の基準に合わせて、光学フィルム検査手段により行われる欠点検査の基準を調整することができるので、欠点検査をより好適に行うことができ、光学表示装置の歩留りを向上することができる。また、光学フィルム検査手段により検出された欠点が光学表示装置検査手段により検出されなかった場合には、当該欠点に対応する条件が光学フィルム検査手段の検出条件から除外される。したがって、光学フィルム検査手段により行われる貼合前の欠点検査の基準が、光学表示装置検査手段により行われる貼合後の欠点検査の基準よりも高い場合であっても、貼合後の欠点検査では欠点として検出されないレベルの微細な欠点が、貼合前の欠点検査において過検出されるのを防止することができるので、欠点検査をさらに好適に行うことができる。

第２の本発明に係る光学表示装置製造システムは、補正された前記検出条件に基づいて前記光学フィルム検査手段により検出された欠点が、光学表示ユニットに貼り合せられる領域内に含まれないように、欠点部分を避けて前記光学フィルムを切断する切断手段を備え、前記排除手段は、前記切断手段により切断された前記欠点を含む光学フィルムを排除することを特徴とする。

この構成によれば、補正された検出条件に基づいて光学フィルム検査手段により検出された欠点が、光学表示ユニットに貼り合せられる領域内に含まれないように、欠点部分を避けて光学フィルムを切断し、その切断された欠点を含む光学フィルムを排除することができる。これにより、光学フィルムの欠点を含む部分を効率よく排除することができるので、光学フィルムの歩留りをより向上することができる。

第３の本発明に係る光学表示装置製造システムは、前記検出条件補正手段は、前記光学フィルム検査手段による検査結果と前記光学表示装置検査手段による検査結果とを比較し、前記光学フィルム検査手段と前記光学表示装置検査手段とが、光学フィルムにおける同じ基準を満たす欠点を抽出するように、前記検出条件を補正することを特徴とする。

この構成によれば、光学フィルム検査手段と光学表示装置検査手段とが、光学フィルムにおける同じ基準を満たす欠点を抽出するように検出条件を補正することにより、貼合前後で欠点検査の基準を近付けることができるので、欠点検査をより好適に行うことができる。

第５の本発明に係る光学表示装置製造システムは、前記検出条件が、前記光学フィルムにおける前記欠点と当該欠点の周囲との輝度差、及び、前記欠点のサイズにより規定されることを特徴とする。

この構成によれば、光学フィルム検査手段により検出された欠点が光学表示装置検査手段により検出されなかった場合には、光学フィルムにおける欠点と当該欠点の周囲との輝度差、及び、欠点のサイズにより規定される光学フィルム検査手段の検出条件から、当該欠点に対応する条件を除外することができる。すなわち、光学表示装置検査手段の検査結果に基づいて、所定の輝度差又は所定のサイズの欠点を光学フィルム検査手段の検出条件から除外することにより、欠点検査をより好適に行うことができる。

第６の本発明に係る光学表示装置製造方法は、光学フィルムがロール状に巻回されることにより形成されたロール原反から前記光学フィルムを送り出し、所定サイズに切断して光学表示ユニットに貼り合せることにより光学表示装置を製造するための光学表示装置製造方法であって、前記光学表示ユニットに貼り合せられる前の前記光学フィルムを検査して欠点を検出する光学フィルム検査ステップと、前記光学フィルムが貼り合せられた前記光学表示装置を検査して欠点を検出する光学表示装置検査ステップと、前記光学表示装置検査ステップの検査結果に基づいて、前記光学フィルム検査ステップによる前記光学フィルムの欠点の検出条件を補正する検出条件補正ステップと、補正された前記検出条件に基づいて前記光学フィルム検査ステップにより検出された欠点を含む光学フィルムを、排除する排除ステップとを備え、前記光学フィルム検査ステップでは、前記光学フィルムに含まれる欠点が前記検出条件を満たす場合にのみ欠点として検出し、前記検出条件補正ステップでは、当該光学フィルム検査ステップにより検出された欠点が前記光学表示装置検査ステップにより検出されなかった場合に、当該欠点に対応する条件を前記検出条件から除外することを特徴とする。

この構成によれば、第１の本発明に係る光学表示装置製造システムと同様の効果を奏する光学表示装置製造方法を提供することができる。

第７の本発明に係る光学表示装置製造方法は、補正された前記検出条件に基づいて前記光学フィルム検査ステップにより検出された欠点が、光学表示ユニットに貼り合せられる領域内に含まれないように、欠点部分を避けて前記光学フィルムを切断する切断ステップを備え、前記排除ステップでは、前記切断ステップにより切断された前記欠点を含む光学フィルムを排除することを特徴とする。

この構成によれば、第２の本発明に係る光学表示装置製造システムと同様の効果を奏する光学表示装置製造方法を提供することができる。

第８の本発明に係る光学表示装置製造方法は、前記検出条件補正ステップでは、前記光学フィルム検査ステップによる検査結果と前記光学表示装置検査ステップによる検査結果とを比較し、前記光学フィルム検査ステップと前記光学表示装置検査ステップとで、光学フィルムにおける同じ基準を満たす欠点を抽出するように、前記検出条件を補正することを特徴とする。

この構成によれば、第３の本発明に係る光学表示装置製造システムと同様の効果を奏する光学表示装置製造方法を提供することができる。

第１０の本発明に係る光学表示装置製造方法は、前記検出条件が、前記光学フィルムにおける前記欠点と当該欠点の周囲との輝度差、及び、前記欠点のサイズにより規定されることを特徴とする。

この構成によれば、第５の本発明に係る光学表示装置製造システムと同様の効果を奏する光学表示装置製造方法を提供することができる。

実施形態１の光学表示装置の製造方法のフローチャート 実施形態２の光学表示装置の製造方法のフローチャート 第１、第２光学フィルムの積層構造の一例について説明するための図 第１欠点検査装置及び第２欠点検査装置により行われる欠点検査における欠点の検出条件が補正される際の態様について説明するためのブロック図 検出条件補正部による補正の前後における貼合前検出条件範囲の変化について説明するための図 検査装置の検査結果がフィードバックされたときの検出条件補正部による処理の一例を示したフローチャート 従来の光学表示装置の製造方法のフローチャート

（実施形態１）
本発明の実施形態１について以下に説明する。図１に実施形態１の光学表示装置の製造方法のフローチャートを示す。実施形態１の製造システムは、後述する実施形態２の製造システムの構成の内、第１・第２検査前剥離装置、第１・第２離型フィルム貼付装置を備えていない構成例である。また、実施形態１の製造システムの別実施形態として、第１・第２欠点検査装置を備えていない構成も例示できる。

（光学表示ユニット）
まず、本発明に用いられる光学表示ユニットは、例えば、液晶セルのガラス基板ユニット、有機ＥＬ発光体ユニット等が挙げられる。

（光学フィルム）
光学表示ユニットに貼り合せられる光学フィルムは、偏光子フィルム、位相差フィルム、視角補償フィルム、輝度向上フィルム、それらフィルムの２以上の組み合わせ積層フィルムが例示される。これら光学フィルムの表面には、保護用の透明フィルムが積層される場合がある。また、光学フィルムの一方表面には、光学表示ユニットに貼り付けられるように、粘着剤が形成され、この粘着剤を保護するための離型フィルムが設けられる。また、光学フィルムのその他方表面には、粘着剤を介して表面保護フィルムが設けられる。これらフィルムの具体的構成は後述する。以下において、表面保護フィルムおよび離型フィルムが積層された光学フィルムをシート製品と称することがある。

（製造フローチャート）
（１）第１ロール原反準備工程（図１、Ｓ１）。長尺の第１シート製品を第１ロール原反として準備する。第１ロール原反の幅は、光学表示ユニットの貼り合わせサイズに依存している。図３に示すように、第１シート製品Ｆ１の積層構造は、第１光学フィルムＦ１１と、第１離型フィルムＦ１２と、表面保護フィルムＦ１３とを有する。第１光学フィルムＦ１１は、第１偏光子Ｆ１１ａと、その一方面に接着剤層（不図示）を介した第１フィルムＦ１１ｂと、その他方面に接着剤層（不図示）を介した第２フィルムＦ１１ｃとで構成されている。

第１、第２フィルムＦ１１ｂ、Ｆ１１ｃは、例えば、偏光子保護フィルム（例えばトリアセチルセルロースフィルム、ＰＥＴフィルム等）である。第２フィルムＦ１１ｃは、第１粘着剤Ｆ１４を介して光学表示ユニット面側に貼り合わされる。第１フィルムＦ１１ｂには、表面処理を施すことができる。表面処理としては、例えば、ハードコート処理や反射防止処理、スティッキングの防止や拡散ないしアンチグレア等を目的とした処理等が挙げられる。第１離型フィルムＦ１２は、第２フィルムＦ１１ｃと第１粘着剤層Ｆ１４を介して設けられている。また、表面保護フィルムＦ１３は、第１フィルムＦ１１ｂと粘着剤層Ｆ１５を介して設けられている。以下において、偏光子と偏光子保護フィルムとの積層構造を偏光板と称することがある。

以下の各工程は、工場内において隔離された隔離構造内において行なわれ、清浄度が維持されている。特に光学フィルムを光学表示ユニットに貼り合わせる貼合工程において清浄度が維持されることが好ましい。

（２）搬送工程（図１、Ｓ２）。準備され設置された第１ロール原反から第１シート製品Ｆ１を繰り出し、下流側に搬送する。

（３）第１検査工程（図１、Ｓ３：光学フィルム検査ステップ）。第１シート製品Ｆ１の欠点を第１欠点検査装置を用いて検査する。ここでの欠点検査方法としては、第１シート製品Ｆ１の両面に対し、透過光、反射光による画像撮影・画像処理する方法、検査用偏光フィルムをＣＣＤカメラと検査対象物との間に、検査対象である偏光板の偏光軸とクロスニコルとなるように配置（０度クロスと称することがある）して画像撮影・画像処理する方法、検査用偏光フィルムをＣＣＤカメラと検査対象物との間に、検査対象である偏光板の偏光軸と所定角度（例えば、０度より大きく１０度以内の範囲）になるように配置（ｘ度クロスと称することがある）して画像撮影・画像処理する方法が挙げられる。なお、画像処理のアルゴリズムは公知の方法を適用でき、例えば二値化処理による濃淡判定によって欠点を検出することができる。

透過光による画像撮影・画像処理方法では、第１シート製品Ｆ１内部の異物が検出できる。反射光による画像撮影・画像処理方法では、第１シート製品Ｆ１表面の付着異物が検出できる。０度クロスによる画像撮影・画像処理方法では、主に、表面異物、汚れ、内部の異物等が輝点として検出できる。ｘ度クロスによる画像撮影・画像処理方法では、主に、クニックを検出することができる。

第１欠点検査装置で得られた欠点の情報は、その位置情報（例えば、位置座標）とともに紐付けされて、制御装置に送信され、後述する第１切断装置による切断方法に寄与させることができる。

（４）第１切断工程（図１、Ｓ４）。第１切断装置は、第１離型フィルムＦ１２を切断せずに、表面保護フィルムＦ１３、粘着剤層Ｆ１５、第１光学フィルムＦ１１および第１粘着剤層Ｆ１４を所定サイズに切断する。切断手段としては、例えば、レーザ装置、カッター、その他の公知の切断手段等が挙げられる。第１欠点検査装置で得られた欠点の情報に基づいて、光学表示ユニットＷに貼り合わせられる領域内に欠点を含まないように、欠点を避けて切断するように構成される。これにより、第１シート製品Ｆ１の歩留まりが大幅に向上する。このように、光学表示ユニットＷに貼り合わせられる領域内に欠点を含まないように、欠点を避けて切断する方式をスキップカットと称するが、切断の際の欠点情報は、インラインの欠点検査装置で得られたものでも、予めロール原反に付されたものでもよい。欠点を含む第１シート製品Ｆ１は、後述する第１排除装置によって排除され、光学表示ユニットＷには貼り付けされないように構成される。

（５）第１光学フィルム貼合工程（図１、Ｓ５）。第１剥離装置を用いて第１離型フィルムＦ１２を除去しながら、第１貼合装置を用いて当該第１離型フィルムＦ１２が除去された第１光学フィルムＦ１１を第１粘着剤層Ｆ１４を介して光学表示ユニットＷに貼り合せる。貼り合せに際し、後述するように、第１光学フィルムＦ１１と光学表示ユニットＷをロール対で挟んで圧着する。

（６）洗浄工程（図１、Ｓ６）。光学表示ユニットＷは、研磨洗浄、水洗浄等によって、その表面が洗浄される。洗浄された光学表示ユニットＷは、第１貼合装置まで搬送される。

これら、第１ロール原反準備工程、第１検査工程、第１切断工程、第１光学フィルム貼合工程、洗浄工程のそれぞれの工程は連続した製造ラインとされることが好ましい。以上の一連の製造工程において、光学表示ユニットＷの一方面に第１光学フィルムＦ１１が貼り合わされる。以下では、その他面に第２光学フィルムＦ２１を貼り合わせる製造工程について説明する。

（７）第２ロール原反準備工程（図１、Ｓ１１）。長尺の第２シート製品Ｆ２を第２ロール原反として準備する。図３の示すように、第２シート製品Ｆ２の積層構造は、第１シート製品と同様の構成であるが、これに限定されない。第２シート製品Ｆ２は、第２光学フィルムＦ２１と、第２離型フィルムＦ２２と、表面保護フィルムＦ２３とを有する。第２光学フィルムＦ２１は、第２偏光子２１ａと、その一方面に接着剤層（不図示）を介した第３フィルムＦ２１ｂと、その他方面に接着剤層（不図示）を介した第４フィルムＦ２１ｃとで構成されている。

第３、第４フィルムＦ２１ｂ、Ｆ２１ｃは、例えば、偏光子保護フィルム（例えばトリアセチルセルロースフィルム。ＰＥＴフィルム等）である。第４フィルムＦ２１ｃは、第２粘着剤層Ｆ２４を介して光学表示ユニット面側に貼り合わされる。第３フィルムＦ２１ｂには、表面処理を施すことができる。表面処理としては、例えば、ハードコート処理や反射防止処理、スティッキングの防止や拡散ないしアンチグレア等を目的とした処理等が挙げられる。第２離型フィルムＦ２２は、第４フィルムＦ２１ｃと第２粘着剤層Ｆ２４を介して設けられている。また、表面保護フィルムＦ２３は、第３フィルムＦ２１ｂと粘着剤層Ｆ２５を介して設けられている。

（８）搬送工程（図１、Ｓ１２）。準備され設置された第２ロール原反から第２シート製品Ｆ２を繰り出し、下流側に搬送する。

（９）第２検査工程（図１、Ｓ１３：光学フィルム検査ステップ）。第２シート製品Ｆ２の欠点を第２欠点検査装置を用いて検査する。ここでの欠点検査方法は、上述した第１欠点検査装置による方法と同様である。

（１０）第２切断工程（図１、Ｓ１４）。第２切断装置は、第２離型フィルムＦ２２を切断せずに、表面保護フィルムＦ２３、粘着剤層Ｆ２５、第２光学フィルムＦ２１および第２粘着剤層Ｆ２４を所定サイズに切断する。切断手段としては、例えば、レーザ装置、カッター、その他の公知の切断手段等が挙げられる。第２欠点検査装置で得られた欠点の情報に基づいて、光学表示ユニットＷに貼り合わせられる領域内に欠点を含まないように、欠点を避けて切断するように構成される。これにより、第２シート製品Ｆ２の歩留まりが大幅に向上する。欠点を含む第２シート製品Ｆ２は、後述する第２排除装置によって排除され、光学表示ユニットＷには貼り付けされないように構成される。

（１１）第２光学フィルム貼合工程（図１、Ｓ１５）。次いで、第２切断工程後に、第２剥離装置を用いて第２離型フィルムＦ２２を除去しながら、第２貼合装置を用いて当該第２離型フィルムＦ２２が除去された第２光学フィルムＦ２１を、前記第２粘着剤層Ｆ２４を介して、光学表示ユニットＷの第１光学フィルムＦ１１が貼り合わされている面と異なる面に貼り合せる。なお、第２光学フィルムＦ２１を光学表示ユニットＷに貼り合せる前に、搬送機構の搬送方向切り替え機構によって光学表示ユニットＷを９０度回転させ、第１光学フィルムＦ１１と第２光学フィルムＦ２１をクロスニコルの関係にする場合がある。貼り合せに際し、後述するように、第２光学フィルムＦ２１と光学表示ユニットＷをロールで挟んで圧着する。

（１２）光学表示装置の検査工程（図１、Ｓ１６：光学表示装置検査ステップ）。検査装置は、光学表示ユニットＷの両面に光学フィルムが貼着された光学表示装置を検査する。検査方法としては、光学表示装置の両面に対し、反射光による画像撮影・画像処理する方法が例示される。また他の方法として、検査用偏光フィルムをＣＣＤカメラと検査対象物との間に設置する方法も例示される。なお、画像処理のアルゴリズムは公知の方法を適用でき、例えば二値化処理による濃淡判定によって欠点を検出することができる。

（１３）検査装置で得られた欠点の情報に基づいて、光学表示装置の良品判定がなされる。良品判定された光学表示装置は、次の実装工程に搬送される。不良品判定された場合、リワーク処理が施され、新たに光学フィルムが貼られ、次いで検査され、良品判定の場合、実装工程に移行し、不良品判定の場合、再度リワーク処理に移行するかあるいは廃棄処分される。

以上の一連の製造工程において、第１光学フィルムＦ１１の貼合工程と第２光学フィルムＦ２１貼合工程とを連続した製造ラインとすることによって、光学表示装置を好適に製造することができる。

（スキップカットの別実施形態）
また、上記第１切断工程および第２切断工程の別実施形態を以下に説明する。第１および第２ロール原反の幅方向の一方の端部には、所定ピッチ単位（例えば１０００ｍｍ）に第１、第２シート状製品の欠点情報（欠点座標、欠点の種類、サイズ等）がコード情報（例えばＱＲコード、バーコード）として付されている場合がある。このような場合、切断する前段階で、このコード情報を読み取り、解析して欠点部分を避けるように、第１、第２切断工程において所定サイズに切断する。そして、欠点を含む部分は除去あるいは光学表示ユニットではない部材に貼り合わせるように構成し、所定サイズに切断された良品判定の枚葉のシート状製品を光学表示ユニットに貼り合わされるように構成する。これにより、光学フィルムＦ１１，Ｆ２１の歩留まりが大幅に向上される。

（実施形態２）
本発明の実施形態２について以下に説明する。図２に実施形態２の光学表示装置の製造方法のフローチャートを示す。実施形態１と同様の処理についは簡単に説明する。

（１）第１ロール原反準備工程（図２、Ｓ１）。長尺の第１シート製品Ｆ１を第１ロール原反として準備する。第１シート製品Ｆ１の積層構造は、図３に示す実施形態１と同様である。

（２）搬送工程（図２、Ｓ２）。準備され設置された第１ロール原反から第１シート製品Ｆ１を繰り出し、下流側に搬送する。

（３）離型フィルム除去工程（図２、Ｓ２３）。第１検査前剥離装置は、搬送されている第１シート製品Ｆ１から第１離型フィルムＦ１２を剥離する。剥離機構の詳細は後述する。

（４）第１検査工程（図２、Ｓ２４：光学フィルム検査ステップ）。第１欠点検査装置は、離型フィルム除去工程後に、第１シート製品Ｆ１の欠点を検査する。離型フィルムＦ１２に内在する位相差を考慮する必要がなく、第１光学フィルムＦ１１の欠点検査を行なえる。欠点検査の方法が上述したとおりである。欠点を含む第１シート製品Ｆ１は、後述する第１排除装置によって排除され、光学表示ユニットＷには貼り付けされないように構成される。

（５）離型フィルム貼合工程（図２、Ｓ２５）。第１離型フィルム貼合装置は、第１検査工程後に、第１離型フィルムＦ１２を、第１粘着剤層Ｆ１４を介して、第１光学フィルムＦ１１に貼り合せる。貼り合せに際し、気泡等の泡がみが生じないように行なうことが、平面性維持のため好ましい。第１離型フィルム貼合装置の詳細は後述する。

（６）第１切断工程（図２、Ｓ２６）。次いで、離型フィルム貼合工程後に、第１切断装置は、第１離型フィルムＦ１２を切断せずに、表面保護フィルムＦ１３、粘着剤層Ｆ１５、第１光学フィルムＦ１１および第１粘着剤層Ｆ１４を所定サイズに切断する。切断手段としては、例えば、レーザ装置、カッター、その他の公知の切断手段等が挙げられる。

（７）第１光学フィルム貼合工程（図２、Ｓ２７）。次いで、第１切断工程後に、第１剥離装置は、第１離型フィルムＦ１２を剥離する。第１貼合装置は、第１離型フィルムＦ１２が剥離された第１光学フィルムＦ１１を第１粘着剤層Ｆ１４を介して光学表示ユニットＷに貼り合せる。貼り合せに際し、後述するように、第１光学フィルムＦ１１と光学表示ユニットＷをロールで挟んで圧着する。

（８）光学表示ユニットの洗浄工程（図２、Ｓ６）。上述と同様の工程である。

（９）第２ロール原反準備工程（図２、Ｓ１１）。長尺の第２シート製品Ｆ２を第２ロール原反として準備する。第２シート製品Ｆ２の積層構造は、図３に示す構成である。

（１０）搬送工程（図２、Ｓ１２）。準備され設置された第２ロール原反から第２シート製品Ｆ２を繰り出し、下流側に搬送する。

（１１）離型フィルム除去工程（図２、Ｓ３３）。第２検査前剥離装置は、搬送されている第２シート製品Ｆ２から第２離型フィルムＦ２２を剥離する。剥離機構の詳細は後述する。

（１２）第２検査工程（図２、Ｓ３４：光学フィルム検査ステップ）。第２欠点検査装置は、離型フィルム除去工程後に、第２シート製品Ｆ２の欠点を検査する。離型フィルムＦ２２に内在する位相差を考慮する必要がなく、第２光学フィルムＦ２１の欠点検査を行なえる。欠点検査の方法が上述したとおりである。欠点を含む第２シート製品Ｆ２は、後述する第２排除装置によって排除され、光学表示ユニットには貼り付けされないように構成される。

（１３）離型フィルム貼合工程（図２、Ｓ３５）。第２離型フィルム貼合装置は、第２検査工程後に、第２離型フィルムＦ２２を、第２粘着剤層Ｆ２４を介して、第２光学フィルムＦ２１に貼り合せる。貼り合せに際し、気泡等の泡がみが生じないように行なうことが、平面性維持のため好ましい。第２離型フィルム貼合装置の詳細は後述する。

（１４）第２切断工程（図２、Ｓ３６）。次いで、離型フィルム貼合工程後に、第２切断装置は、第２離型フィルムＦ２２を切断せずに、表面保護フィルムＦ２３、粘着剤層Ｆ２５、第２光学フィルムＦ２１および第２粘着剤層Ｆ２４を所定サイズに切断する。切断手段としては、例えば、レーザ装置、カッター、その他の公知の切断手段等が挙げられる。

（１５）第２光学フィルム貼合工程（図２、Ｓ３７）。次いで、第２切断工程後に、第２剥離装置は、第２離型フィルムＦ２２を剥離する。第２貼合装置は、第２離型フィルムＦ２２が剥離された第２光学フィルムＦ２１を、第２粘着剤層Ｆ２４を介して、光学表示ユニットＷの第１光学フィルムＦ１１が貼り合わされている面と異なる面に貼り合せる。なお、第２光学フィルムＦ２１を光学表示ユニットＷに貼り合せる前に、光学表示ユニットＷを９０度回転させ、第１光学フィルムＦ１１と第２光学フィルムＦ２１とがクロスニコルの関係にする場合がある。貼り合せに際し、後述するように、第２光学フィルムＦ２１と光学表示ユニットＷをロールで挟んで圧着する。以上によって、光学表示ユニットＷの一方面に第１光学フィルムＦ１１が、その他面に第２光学フィルムＦ２１が貼り合わされ、両面に光学フィルムが設けられた光学表示装置を製造することができる。

（１６）光学表示装置の検査工程（図２、Ｓ１６：光学表示装置検査ステップ）。この工程は上述と同様である。

（１７）検査装置で得られた欠点の情報に基づいて、光学表示装置の良品判定がなされる。良品判定された光学表示装置は、次の実装工程に搬送される。不良品判定された場合、リワーク処理が施され、新たに光学フィルムが貼られ、次いで検査され、良品判定の場合、実装工程に移行し、不良品判定の場合、再度リワーク処理に移行するかあるいは廃棄処分される。

以上の一連の製造工程において、第１光学フィルムＦ１１の貼合工程と第２光学フィルムＦ２１貼合工程とを連続した製造ラインで実行することによって、光学表示装置を好適に製造することができる。特に、上記各工程を工場内から隔離した隔離構造内部で行なうことで、清浄度が確保された環境で光学フィルムを光学表示ユニットに貼り合わせることができ、高品質の光学表示装置を製造することができる。

（実施形態１、２の製造方法を実現する好適な製造システム）
以下に、実施形態２の製造方法を実現する好適な製造システムの一例について説明する。

実施形態２の製造方法を実現する各種装置は、隔離構造によって外部と隔離されている。隔離構造で囲まれた内部は、外部に比較し清浄に保たれている。隔離構造は透明材料の壁と骨組み構造とで構成される。隔離構造の天井には、送風装置が設置される。送風装置は、ＨＥＰＡフィルターを備え、清浄度の高い空気を隔壁構造内部に送風する。隔壁構造の壁面下部には、内部空気を外部に排出させるための空気排出開口部が設けられている。また、外部からの侵入物を防ぐために開口面にはフィルターを設けることもできる。この隔壁構造、送風装置によって、製造システム全体を清浄環境に維持でき、外部からの異物混入を好適に防ぐことができる。また、製造システムのみを隔壁構造で外部から隔離しているために、工場全体をいわゆるクリーンルームにする必要がない。

先ず、研磨洗浄装置について説明する。収納箱から光学表示ユニットＷを取り出し、搬送機構に載置させる。光学表示ユニットＷが洗浄位置に到達したら、搬送を停止し、光学表示ユニットＷの端部を保持手段で保持する。研磨手段を垂直上方から光学表示ユニットＷの上面に接触させ、研磨手段を垂直下方から光学表示ユニット下面に接触させる。それぞれの研磨手段を光学表示ユニットＷの両表面において回転させる。これによって、光学表示ユニットＷの両表面の付着異物が除去される。付着異物としては、例えば、ガラスの微小片、繊維片等が例示される。

次に、水洗浄装置について説明する。研磨洗浄された光学表示ユニットＷは、搬送機構によって水浴に搬送され、ここで水洗浄される。水浴の内部は純水が流れている。水浴から搬送された光学表示ユニットＷの両面は、流水パイプから流出される純水によって洗浄される。次いで、光学表示ユニットＷは乾燥装置による清浄空気の送風によって水切りがなされる。次いで、光学表示ユニットＷは、第１貼合装置に搬送される。なお、別実施形態として、純水に代えて、エタノール水溶液を用いて洗浄することもできる。また、他の別実施形態として、水浴を省略することもできる。

次に、各種装置について順に説明する。長尺の第１シート製品Ｆ１の第１ロール原反は、自由回転あるいは一定の回転速度で回転するようにモータ等と連動されたローラ架台装置に設置される。制御装置によって回転速度が設定され、駆動制御される。

第１搬送装置は、第１シート製品Ｆ１を下流側に搬送する搬送機構である。この第１搬送装置は、多数の搬送ローラを備えており、これらの搬送ローラにより形成される搬送路に沿って第１シート製品Ｆ１が搬送される。当該搬送路は、第１ロール原反から第１貼付装置まで延びている。第１搬送装置は制御装置によって制御されている。

第１検査前剥離装置は、搬送路に沿って搬送される第１シート製品Ｆ１から第１離型フィルムＦ１２を剥離し、ロールに巻き取る構成である。ロールへの巻取り速度は制御装置によって制御されている。剥離機構としては、第１離型フィルムＦ１２を反転移送することにより、第１離型フィルムＦ１２を剥離すると共に、第１離型フィルムＦ１２を剥離した後の第１シート製品Ｆ１を搬送方向に搬送するように構成される。

第１欠点検査装置は、第１離型フィルムＦ１２の剥離後に、欠点検査をする。第１欠点検査装置は、ＣＣＤカメラで撮像された画像データを解析して欠点を検出し、さらにその位置座標を算出する。この欠点の位置座標は、後述の第１切断装置によるスキップカットに提供される。

第１離型フィルム貼合装置は、第１欠点検査後に、第１離型フィルムＦ１２を第１粘着剤層Ｆ１４を介して第１光学フィルムＦ１１に貼り合せる。第１離型フィルムＦ１２のロール原反から第１離型フィルムＦ１２を繰り出し、１または複数のローラ対で、第１離型フィルムＦ１２と第１光学フィルムＦ１１を挟持し、当該ローラ対で所定の圧力を作用させて貼り合わせる。ローラ対の回転速度、圧力制御、搬送制御は、制御装置によって制御される。

第１切断装置は、第１離型フィルムＦ１２を切断せずに、第１光学フィルムＦ１１、表面保護フィルムＦ１３、第１粘着剤層Ｆ１４、粘着剤層Ｆ１５を所定サイズに切断する。第１切断装置は、例えばレーザ装置である。第１欠点検査処理で検出された欠点の位置座標に基づいて、第１切断装置は、光学表示ユニットＷに貼り合わせられる領域内に欠点を含まないように、欠点部分を避けて所定サイズに切断する。すなわち、欠点部分を含む切断品は不良品として後工程で第１排除装置によって排除される。あるいは、第１切断装置は、欠点の存在を無視して、連続的に所定サイズに切断してもよい。この場合、後述の貼り合せ処理において、当該部分を貼り合せずに除去するように構成できる。この場合の制御も制御装置の機能による。

また、第１切断装置は、第１シート製品Ｆ１を裏面から吸着保持する保持テーブルを配置し、レーザ装置を第１シート製品Ｆ１の上方に備える。第１シート製品Ｆ１の幅方向にレーザを走査させるように水平移動し、最下部の第１離型フィルムＦ１２を残して第１光学フィルムＦ１１、第１粘着剤層Ｆ１４、表面保護フィルムＦ１３、粘着剤層Ｆ１５をその搬送方向に所定ピッチで切断（以下、適宜「ハーフカット」という）する。また、このレーザ装置は、第１シート製品Ｆ１の幅方向から挟むようにして、切断部位に向けて温風を吹き付けるエアーノズルと、この温風により搬送される切断部位から発生したガス（煙）を集煙する集煙ダクトとが対向した状態で一体構成されていることが好ましい。第１シート製品Ｆ１を保持テーブルで吸着する場合に、その下流側と上流側の第１シート製品Ｆ１の連続搬送を停止しないように、搬送機構のアキュムレート装置は上下垂直方向に移動するように構成されている。この動作も制御装置の制御による。

第１貼合装置は、上記切断処理後に、第１剥離装置によって第１離型フィルムＦ１２が剥離された第１シート製品Ｆ１（第１光学フィルムＦ１１）を、第１粘着剤層Ｆ１４を介して光学表示ユニットＷに貼り合せる。第１シート製品Ｆ１の搬送路は、光学表示ユニットＷの搬送路の上方である。送風装置からの清浄空気の流れは第１シート製品Ｆ１で遮られ、光学表示ユニットＷの上面では風力が弱いものとなっている。

貼り合せる場合には、押さえローラ、案内ローラによって、第１光学フィルムＦ１１を光学表示ユニットＷ面に圧接しながら貼り合わせる。押さえローラ、案内ローラの押さえ圧力、駆動動作は、制御装置によって制御される。

第１剥離装置の剥離機構としては、第１離型フィルムＦ１２を反転移送することにより、第１離型フィルムＦ１２を剥離すると共に、第１離型フィルムＦ１２を剥離した後の第１シート製品Ｆ１（第１光学フィルムＦ１１）を光学表示ユニットＷ面に送り出すように構成される。この際に、第１離型フィルムＦ１２に１５０Ｎ／ｍ以上１０００Ｎ／ｍ以下の張力をかけた状態および／または、第１光学フィルムを第１離型フィルムＦ１２が剥離されてから光学表示ユニットＷ面に圧接するまでの時間を３秒以内で行なうことにより、第１光学フィルムの貼り合わせ精度を向上させることができる。張力が１５０Ｎ／ｍより小さいと第１光学フィルムの送り出し位置が安定せず、１０００Ｎ／ｍより大きいと第１離型フィルムＦ１２が伸びて破断するおそれがあり、圧接するまでの時間が３秒よりも長いと、第１離型フィルムＦ１２から剥離された第１光学フィルム端部が湾曲して折れや気泡が発生するおそれがある。剥離された第１離型離ルムＦ１２はロールに巻き取られる。ロールの巻取り制御は、制御装置によって制御される。

貼合せ機構としては、押さえロ一ラとそれに対向して配置される案内ローラとから構成されている。案内ローラは、モータにより回転駆動するゴムローラで構成され、昇降可能に配備されている。また、その直上方にはモータにより回転駆動する金属ローラからなる押さえローラが昇降可能に配備されている。光学表示ユニットＷを貼合せ位置に送り込む際には押さえローラはその上面より高い位置まで上昇されてローラ間隔を開けるようになっている。なお、案内ローラおよび押さえローラは、いずれもゴムローラであってもよいし金属ローラであってもよい。光学表示ユニットＷは、上述したように各種洗浄装置によって洗浄され、搬送機構によって搬送される構成である。搬送機構の搬送制御も制御装置の制御による。

欠点を含む第１シート製品Ｆ１を排除する第１排除装置について説明する。欠点を含む第１シート製品Ｆ１が貼り合わせ位置に搬送されてくると、案内ローラが垂直下方に移動する。次いで、除去用フィルムが掛け渡されたローラが案内ローラの定位置に移動する。押さえローラを垂直下方に移動させて、欠点を含む第１シート製品Ｆ１を除去用フィルムに押さえつけて、第１シート製品Ｆ１を除去用フィルムに貼り付け、除去用フィルムとともに欠点を含む第１シート製品Ｆ１をローラに巻き取る。除去用フィルムは、第１シート製品Ｆ１の第１粘着剤層Ｆ１４の粘着力を利用して、欠点を含む第１シート製品Ｆ１を貼着することができるが、除去用フィルムとして粘着テープを使用することも可能である。

上記のようにして第１光学フィルムＦ１１が貼り合せられた光学表示ユニットＷは、下流側に搬送され、第２光学フィルムＦ２１（第２シート製品Ｆ２）が貼り合わされる。以下において、同様の装置構成については、その説明を簡単に説明する。

第２光学フィルムＦ２１を第１光学フィルムＦ１１と９０°の関係（クロスニコルの関係）に貼り合わせる場合は、光学表示ユニットＷを搬送機構の搬送方向切り替え機構によって、９０°回転させてから第２光学フィルムＦ２１が貼り合わされる。以下で説明する第２シート製品Ｆ２の貼り合わせ方法においては、第２シート製品Ｆ２を反転させた状態で（第２離型フィルムＦ２２が上面となるようにして）各工程を処理し、第２光学フィルムＦ２１を光学表示ユニットＷの下側から貼り合わせるように構成される。

長尺の第２シート製品Ｆ２の第２ロール原反は、自由回転あるいは一定の回転速度で回転するようにモータ等と連動されたローラ架台装置に設置される。制御装置によって回転速度が設定され、駆動制御される。

第２搬送装置は、第２シート製品Ｆ２を下流側に搬送する搬送機構である。この第２搬送装置は、多数の搬送ローラを備えており、これらの搬送ローラにより形成される搬送路に沿って第２シート製品Ｆ２が搬送される。当該搬送路は、第２ロール原反から第２貼付装置まで延びている。第２搬送装置は制御装置によって制御されている。

第２検査前剥離装置は、搬送路に沿って搬送される第２シート製品Ｆ２から第２離型フィルムＦ２２を剥離し、ロールに巻き取る構成である。ロールへの巻取り速度は制御装置によって制御されている。剥離機構としては、第２離型フィルムＦ２２を反転移送することにより、第２離型フィルムＦ２２を剥離すると共に、第２離型フィルムＦ２２を剥離した後の第２シート製品Ｆ２を搬送方向に搬送するように構成される。

第２欠点検査装置は、第２離型フィルムＦ２２の剥離後に、欠点検査をする。第２欠点検査装置は、ＣＣＤカメラで撮像された画像データを解析し、欠点を検出し、さらにその位置座標を算出する。この欠点の位置座標は、後述の第２切断装置によるスキップカットに提供される。

第２離型フィルム貼合装置は、第２欠点検査後に、第２離型フィルムＦ２２を第２粘着剤層Ｆ２４を介して第２光学フィルムＦ２１に貼り合せる。第２離型フィルムＦ２２のロール原反から第２離型フィルムＦ２２を繰り出し、１または複数のローラ対で、第２離型フィルムＦ２２と第２光学フィルムＦ２１を挟持し、当該ローラ対で所定の圧力を作用させて貼り合わせる。ローラ対の回転速度、圧力制御、搬送制御は、制御装置によって制御される。

第２切断装置は、第２離型フィルムＦ２２を切断せずに、第２光学フィルムＦ２１、表面保護フィルムＦ２３、第２粘着剤層Ｆ２４、粘着剤層Ｆ２５を所定サイズに切断する。第２切断装置は、例えばレーザ装置である。第２欠点検査処理で検出された欠点の位置座標に基づいて、第２切断装置は、光学表示ユニットＷに貼り合わせられる領域内に欠点を含まないように、欠点部分を避けて所定サイズに切断する。すなわち、欠点部分を含む切断品は不良品として後工程で第２排除装置によって排除される。あるいは、第２切断装置は、欠点の存在を無視して、連続的に所定サイズに切断してもよい。この場合、後述の貼り合せ処理において、当該部分を貼り合せずに除去するように構成できる。この場合の制御も制御装置の機能による。

また、第２切断装置は、第２シート製品Ｆ２を裏面から吸着保持する保持テーブルを配置し、レーザ装置を第２シート製品Ｆ２の下方に備える。第２シート製品Ｆ２の幅方向にレーザを走査させるように水平移動し、最下部の第２離型フィルムＦ２２を残して第２光学フィルムＦ２１、第２粘着剤層Ｆ２４、表面保護フィルムＦ２３、粘着剤層Ｆ２５をその搬送方向に所定ピッチで切断する。第２シート製品Ｆ２を保持テーブルで吸着する場合に、その下流側と上流側の第２シート製品Ｆ２の連続搬送を停止しないように、搬送機構のアキュムレート装置は上下垂直方向に移動するように構成されている。この動作も制御装置の制御による。

第２貼合装置は、切断処理後に、第２剥離装置によって第２離型フィルムＦ２２が剥離された第２シート製品Ｆ２（第２光学フィルムＦ２１）を、第２粘着剤層Ｆ２４を介して光学表示ユニットＷに貼り合せる。貼り合せる場合には、押さえローラ、案内ローラによって、第２光学フィルムＦ２１を光学表示ユニットＷ面に圧接しながら貼り合わせる。押さえローラ、案内ローラの押さえ圧力、駆動動作は、制御装置によって制御される。

第２剥離装置の剥離機構としては、第２離型フィルムＦ２２を反転移送することにより、第２離型フィルムＦ２２を剥離すると共に、第２離型フィルムＦ２２を剥離した後の第２シート製品Ｆ２（第２光学フィルム）を光学表示ユニットＷ面に送り出すように構成される。この際に、第２離型フィルムＦ２２に１５０Ｎ／ｍ以上１０００Ｎ／ｍ以下の張力をかけた状態および／または、第２光学フィルムを第２離型フィルムＦ２２が剥離されてから光学表示ユニットＷ面に圧接するまでの時間を３秒以内で行なうことにより、第２光学フィルムの貼り合わせ精度を向上させることができる。張力が１５０Ｎ／ｍより小さいと第２光学フィルムの送り出し位置が安定せず、１０００Ｎ／ｍより大きいと第２離型フィルムＦ２２が伸びて破断するおそれがあり、圧接するまでの時間が３秒よりも長いと、第２離型フィルムＦ２２から剥離された第１光学フィルム端部が湾曲して折れや気泡が発生するおそれがある。剥離された第２離型フィルムＦ２２はロールに巻き取られる。ロールの巻取り制御は、制御装置によって制御される。

貼合せ機構としては、押さえロ一ラとそれに対向して配置される案内ローラとから構成されている。案内ローラは、モータによる回転駆動するゴムローラで構成され昇降可能に配備されている。また、その直下方にはモータにより回転駆動する金属ローラからなる押さえローラが昇降可能に配備されている。光学表示ユニットＷを貼合せ位置に送り込む際に、押さえローラは、下方位置まで移動されてローラ間隔を開けるようになっている。なお、案内ローラおよび押さえローラは、いずれもゴムローラであってもよいし金属ローラであってもよい。

欠点を含む第２シート製品Ｆ２を排除する第２排除装置について説明する。欠点を含む第２シート製品Ｆ２が貼り合わせ位置に搬送されてくると、案内ローラが垂直上方に移動する。次いで、除去用フィルムが掛け渡されたローラが案内ローラの定位置に移動する。押さえローラを垂直上方に移動させて、欠点を含む第２シート製品Ｆ２を除去用フィルムに押さえつけて、第２シート製品Ｆ２を除去用フィルムに貼り付け、除去用フィルムとともに欠点を含む第２シート製品Ｆ２をローラに巻き取る。

第１、第２シート製品が光学表示ユニットＷに貼り合わせされることにより形成された光学表示装置は、検査装置に搬送される。検査装置は、搬送されてきた光学表示装置の両面に対し検査を実行する。光源が、ハーフミラーによって、光学表示装置の上面に垂直に照射し、その反射光像をＣＣＤカメラによって画像データとして撮像する。また、別の光源が、所定角度で光学表示装置表面を照射し、その反射光像をＣＣＤカメラによって画像データとして撮像する。光学表示装置の反対面の検査も光源およびＣＣＤカメラを用いて同様に実行される。これら画像データから欠点が画像処理解析され、良品判定される。

それぞれの装置の動作タイミングは、例えば、所定の位置にセンサーを配置して検知する方法で算出され、または、搬送装置や搬送機構の回転部材をロータリーエンコーダ等で検出するようにして算出される。制御装置は、ソフトウエアプログラムとＣＰＵ、メモリ等のハードウエア資源との協同作用によって実現されてもよく、この場合プログラムソフトウエア、処理手順、各種設定等はメモリが予め記憶されている。また、専用回路やファームウエア等で構成できる。

以上の製造システムにおいては、第１シート製品Ｆ１（第１光学フィルムＦ１１）を光学表示ユニットＷの上面から貼り付け、第２シート製品Ｆ２（第２光学フィルムＦ２１）を光学表示ユニットＷの下面から貼り付ける構成である。送風装置の直下の風力は大きく、隔壁構造の底にいくほど風力は弱くなっている。これは、各種装置部材や第１シート製品Ｆ１、光学表示ユニットＷ、除去用フィルムが清浄空気の流れを邪魔しているからである。特に、第１シート製品Ｆ１の裏側においては清浄空気の流れが弱く、光学表示ユニットＷの上面側で清空気の滞留が生じる場合もある。清浄空気の流れが弱いほど、その清浄度が他よりも低いと考えられる。清浄度が低いと、埃や異物が蓄積するため、光学表示ユニットＷの上面に異物が付着してしまい好ましくないと考えられる。

（別実施形態の製造システム）
そこで、以下では、清浄空気の滞留を抑え、清浄度が高く維持された状態で第１光学フィルムＦ１１を光学表示ユニットＷに貼り合わせることができる製造システムについて説明する。

第１シート製品Ｆ１は、第１離型フィルムＦ１２を上面にして搬送される。第１検査前剥離装置、第１欠点検査装置、第１離型フィルム貼合装置、第１切断装置のそれぞれの構成および機能は上記と同様であるが、第１離型フィルムＦ１２の位置によって、それらの配置が異なっている。

第１剥離装置、第１貼合装置、第１排除装置も同様に、それぞれの構成および機能は上記と同様であるが、第１離型フィルムＦ１２の位置によって、それらの配置が異なっている。これによって、第１シート製品Ｆ１が光学表示ユニットＷよりも下部で搬送されているため、光学表示ユニットＷ上面側の清浄度を高く維持できる。また、第１シート製品Ｆ１の周辺は清浄度が低いが、上面側には剥離される第１離型フィルムＦ１２が形成されているため、第１離型フィルムＦ１２に浮遊物が付着しても、貼り合わせの際に異物が付着する問題も少ない。

第２シート製品Ｆ２は、第２離型フィルムＦ２２を下面にして搬送される。第２検査前剥離装置、第２欠点検査装置、第２離型フィルム貼合装置、第２切断装置は、それぞれの構成および機能は上記と同様であるが、第２離型フィルムＦ２２の位置によって、それらの配置が異なっている。

第２剥離装置、第２貼合装置、第２排除装置も同様に、それぞれの構成および機能は上記と同様であるが、第２離型フィルムＦ２２の位置によって、それらの配置が異なっている。この配置であれば、光学表示ユニットＷ上面側の清浄度を高く維持できる。また、第２シート製品Ｆ２の周辺の清浄度も高く維持できる。

欠点検査は公知の欠点検査方法が適用できる。自動検査装置は、シート状製品の欠点（欠陥とも称される）を自動で検査する装置であり、光を照射し、その反射光像や透過光像をラインセンサーや２次元ＴＶカメラなどの撮像部を介して取得し、取得された画像データに基づいて、欠点検出を行う。また、光源と撮像部の間の光路中に検査用偏光フィルタを介在させた状態で画像データを取得する。通常、この検査用偏光フィルタの偏光軸（例えば、偏光吸収軸）は、検査対象である偏光板の偏光軸（例えば、偏光吸収軸）と直交する状態（クロスニコル）となるように配置される。クロスニコルに配置することで、仮に欠点が存在しなければ撮像部から全面黒の画像が入力されるが、欠点が存在すれば、その部分が黒にならない（輝点として認識される）。従って、適宜のしきい値を設定することで、欠点を検出することができる。このような輝点検出では、表面付着物、内部の異物等の欠点が輝点として検出される。また、この輝点検出のほかに、対象物に対して透過光画像をＣＣＤ撮像し画像解析することで異物検出する方法もある。また、対象物に対して反射光画像をＣＣＤ撮像し画像解析することで表面付着異物を検出する方法もある。

上記切断工程において、離型フィルムを切断せずに、シート製品のその他の部材を切断する方式（ハーフカット方式）について説明した。このような構成によれば、光学フィルムに粘着剤層を介して貼り合せられた離型フィルムを切断せずに、当該光学フィルムおよび粘着剤層を切断し、光学表示ユニットに対する貼り合せ処理の前に、光学フィルムから離型フィルムを剥離することができる。すなわち、光学フィルムの貼り合せ面である粘着剤層が、貼り合せ直前まで露出しない構成とすることができるため、光学フィルムの貼り合せ面に異物が混入するのを防止できる。

特に、離型フィルムを切断せずに、光学フィルムおよび粘着剤層を切断することにより、離型フィルムをキャリアとして、切断された光学フィルムおよび粘着剤層を搬送することができる。したがって、光学フィルムの搬送装置をより簡易な構成とすることができるので、光学表示装置の製造コストをさらに低減することができる。

（検出条件補正処理）
光学表示ユニットＷに第１光学フィルムＦ１１を貼り合せる前に第１欠点検査装置により行われる欠点検査における欠点の検出条件は、第１光学フィルムＦ１１が貼り合せられた後に行われる検査装置の検査結果に基づいて補正されるようになっている。同様に、光学表示ユニットＷに第２光学フィルムＦ２１を貼り合せる前に第２欠点検査装置により行われる欠点検査における欠点の検出条件は、第２光学フィルムＦ２１が貼り合せられた後に行われる検査装置の検査結果に基づいて補正されるようになっている。すなわち、第１欠点検査装置及び第２欠点検査装置により行われる欠点検査には、検査装置の検査結果がフィードバックされるようになっている。上記フィードバックを行う際には、第１切断装置及び第２切断装置によるスキップカット、並びに、第１排除装置及び第２排除装置による欠点を含むシート製品Ｆ１，Ｆ２の排除が行われず、上記フィードバックの終了後に再開されるようになっている。なお、上記検出条件は、例えば閾値などにより規定される条件であり、第１欠点検査装置は第１光学フィルムＦ１１に含まれる欠点が上記検出条件を満たす場合にのみ欠点として検出し、第２欠点検査装置は第２光学フィルムＦ２１に含まれる欠点が上記検出条件を満たす場合にのみ欠点として検出する。

図４は、第１欠点検査装置１４及び第２欠点検査装置２４により行われる欠点検査における欠点の検出条件が補正される際の態様について説明するためのブロック図である。ここで、第１欠点検査装置１４及び第２欠点検査装置２４は、光学表示ユニットＷに貼り合せられる前の光学フィルムＦ１１，Ｆ２１を検査して欠点を検出する光学フィルム検査手段を構成している。第１欠点検査装置１４及び第２欠点検査装置２４にはそれぞれメモリＭ１が備えられており、当該メモリＭ１には、光学表示ユニットＷに貼り合せられる前の光学フィルムＦ１１，Ｆ２１をそれぞれ第１欠点検査装置１４及び第２欠点検査装置２４が検査して欠点を検出する検出条件の範囲（以下、「貼合前検出条件範囲」と呼ぶ。）が記憶されている。

また、検査装置３０は、光学フィルムＦ１１，Ｆ２１が貼り合せられた光学表示装置を検査して欠点を検出する光学表示装置検査手段を構成している。検査装置３０にはメモリＭ２が備えられており、当該メモリＭ２には、光学フィルムＦ１１，Ｆ２１が貼り合せられた光学表示装置を検査装置３０が検査して欠点を検出する検出条件の範囲（以下、「貼合後検出条件範囲」と呼ぶ。）が記憶されている。

制御装置１は、光学表示装置製造システムに備えられた各種装置の動作を制御する制御手段であり、当該制御装置１に備えられたＣＰＵがコンピュータプログラムを実行することにより、貼合制御部１ａ及び検出条件補正部１ｂなどとして機能するようになっている。貼合制御部１ａは、第１切断装置１６、第１貼合装置１８及び第１排除装置１９などを制御することにより、光学表示ユニットＷに対する第１光学フィルムＦ１１の貼り合せに関する制御を行う。また、貼合制御部１ａは、第２切断装置２６、第２貼合装置２８及び第２排除装置２９などを制御することにより、光学表示ユニットＷに対する第２光学フィルムＦ２１の貼り合せに関する制御を行う。

検出条件補正部１ｂは、検査装置３０の検査結果に基づいて、第１欠点検査装置１４及び第２欠点検査装置２４による光学フィルムＦ１１，Ｆ２１の欠点の検出条件を補正する検出条件補正手段である。すなわち、検出条件補正部１ｂは、検査装置３０の検査結果をフィードバックすることにより得られた貼合前検出条件範囲を、第１欠点検査装置１４及び第２欠点検査装置２４の各メモリＭ１に記憶することにより、当該メモリＭ１に記憶されている貼合前検出条件範囲の補正を行う。このとき、検出条件補正部１ｂは、欠点検査装置１４，２４による検査結果と検査装置３０による検査結果とを比較し、欠点検査装置１４，２４と検査装置３０とが、光学フィルムＦ１１，Ｆ２１における同じ基準を満たす欠点を抽出するように、貼合前検出条件範囲を補正するようになっている。

切断装置１６，２６は、貼合制御部１ａの制御により、メモリＭ１に記憶されている補正後の貼合前検出条件範囲に基づいて欠点検査装置１４，２４により検出された欠点が、光学表示ユニットＷに貼り合せられる領域内に含まれないように、欠点部分を避けて、すなわちスキップカットにより光学フィルムＦ１１，Ｆ２１を切断する。排除装置１９，２９は、切断装置１６，２６により切断された欠点を含む光学フィルムＦ１１，Ｆ２１を排除することにより、補正後の貼合前検出条件範囲に基づいて欠点検査装置１４，２４により検出された欠点を含む光学フィルムＦ１１，Ｆ２１を、排除する。

図５は、検出条件補正部１ｂによる補正の前後における貼合前検出条件範囲の変化について説明するための図である。この図５にハッチングを施して示したように、第１欠点検査装置１４及び第２欠点検査装置２４の欠点検査に用いられる検出条件は、光学フィルムＦ１１，Ｆ２１における欠点と当該欠点の周囲との輝度差を縦軸とし、欠点のサイズ（面積）を横軸とした座標により規定される貼合前検出条件範囲からなる。検査装置３０の欠点検査に用いられる検出条件は、光学フィルムＦ１１，Ｆ２１が貼り合せられた光学表示装置における欠点と当該欠点の周囲との輝度差を縦軸とし、欠点のサイズ（面積）を横軸とした座標により規定される貼合後検出条件範囲からなる。

具体的には、第１欠点検査装置１４は、第１光学フィルムＦ１１に含まれる欠点の輝度差が所定の閾値（以下、「輝度差閾値」と呼ぶ。）よりも大きく、かつ、サイズが所定の閾値（以下、「サイズ閾値」と呼ぶ。）よりも大きい場合にのみ、欠点として検出するようになっている。また、第２欠点検査装置２４は、第２光学フィルムＦ２１に含まれる欠点の輝度差が輝度差閾値よりも大きく、かつ、サイズがサイズ閾値よりも大きい場合にのみ、欠点として検出するようになっている。

図５（ａ）の例では、欠点検査装置１４，２４による光学フィルムＦ１１，Ｆ２１の検査の結果、貼合前検出条件範囲内に欠点Ｐ１〜Ｐ５が検出された場合が示されている。この図５（ａ）に示した貼合前検出条件範囲は、検査装置３０の検査結果をフィードバックして補正する前の状態である。その後、当該光学フィルムＦ１１，Ｆ２１が所定サイズに切断されて光学表示ユニットＷに貼り合せられ、検査装置３０による欠点検査が行われた場合には、当該検査装置３０の検査結果がフィードバックされ、検出条件補正部１ｂにより貼合前検出条件範囲が補正される。

欠点検査装置１４，２４により検査される光学フィルムＦ１１，Ｆ２１と、検査装置３０により検査される光学表示装置の光学表示ユニットＷに貼り合せられた光学フィルムＦ１１，Ｆ２１とは同一のものである。そのため、仮に欠点検査装置１４，２４と検査装置３０の欠点検査の基準（レベル）が同じであれば、いずれの検査においても光学フィルムＦ１１，Ｆ２１から同じ基準を満たす欠点が検出され、検査装置３０ではさらに光学表示ユニットＷの欠点も検出されることとなる。しかし、この例では、欠点検査装置１４，２４により検出された欠点Ｐ１〜Ｐ５のうち、欠点Ｐ４及びＰ５が、検査装置３０では検出されなかった場合が示されている。

このように、欠点検査装置１４，２４により検出された欠点が検査装置３０で検出されない場合があるのは、欠点検査装置１４，２４により行われる貼合前の欠点検査の基準が、検査装置３０により行われる貼合後の欠点検査の基準よりも高く設定されているためである。このような場合には、検査装置３０では検出されなかった欠点Ｐ４及びＰ５に対応する範囲が貼合前検出条件範囲から除外されることにより、輝度差閾値又はサイズ閾値が変更されるようになっている。検査装置３０の検査結果をフィードバックして補正した後の貼合前検出条件範囲を示す図５（ｂ）では、貼合前検出条件範囲から除外された範囲が、検出除外条件範囲として破線で示されている。

貼合前検出条件範囲を補正する際の態様について、さらに具体的に説明すると、欠点検査装置１４，２４により検出された欠点が検査装置３０では検出されなかった場合には、その欠点（以下、「非検出欠点」と呼ぶ。）の輝度差及びサイズを基準として貼合前検出条件範囲が補正される。例えば、非検出欠点の輝度差を含む所定の輝度差範囲内で、検査装置３０により他の欠点が検出されなかった場合には、その輝度差範囲が貼合前検出条件範囲から除外される。また、非検出欠点のサイズを含む所定のサイズ範囲内で、検査装置３０により他の欠点が検出されなかった場合には、そのサイズ範囲が貼合前検出条件範囲から除外される。上記所定の輝度差範囲又はサイズ範囲は、非検出欠点の輝度差又はサイズを含む一定の範囲であってもよいし、非検出欠点の輝度差又はサイズよりも小さい全ての範囲であってもよい。

図５の例において、非検出欠点Ｐ４については、当該欠点Ｐ４のサイズを含む所定のサイズ範囲内では、検査装置３０により他の欠点が検出されていないのに対して、当該欠点Ｐ４の輝度差を含む所定の輝度差範囲内で、検査装置３０により他の欠点Ｐ２が検出されている。また、非検出欠点Ｐ５についても、当該欠点Ｐ５のサイズを含む所定のサイズ範囲内では、検査装置３０により他の欠点が検出されていないのに対して、当該欠点Ｐ５の輝度差を含む所定の輝度差範囲内で、検査装置３０により他の欠点Ｐ３が検出されている。このような場合には、図５（ｂ）に示すように、非検出欠点Ｐ４及びＰ５にそれぞれ対応する上記所定のサイズ範囲は貼合前検出条件範囲から除外されるのに対して、非検出欠点Ｐ４及びＰ５にそれぞれ対応する上記所定の輝度差範囲は貼合前検出条件範囲から除外されない。

なお、図５では、貼合前検出条件範囲が、一定の輝度差閾値及び一定のサイズ閾値により規定されるような例が示されているが、このような構成に限らず、輝度差閾値及びサイズ閾値の少なくとも一方が一定の値でないような構成であってもよい。例えば、同じ輝度差であっても、欠点のサイズによって欠点として検出されたり検出されなかったりする場合は、図５とは異なり、検出条件範囲が直線ではなく曲線又は屈曲線で囲まれた範囲で表わされる。また、検出条件の補正は、上述のような態様で行われるような構成に限らず、例えば一次式などの数式を用いて演算を行うことにより検出条件を補正するような構成であってもよい。また、検出条件は、欠点の輝度差及びサイズにより規定されるような構成に限らず、他の条件により規定されるものであってもよい。

図６は、検査装置３０の検査結果がフィードバックされたときの検出条件補正部１ｂによる処理の一例を示したフローチャートである。検査装置３０の検査結果がフィードバックされると、まず、その検査結果に非検出欠点が含まれているか否かが判定される（ステップＳ１０１）。このとき、非検出欠点がない場合、すなわち、欠点検査装置１４，２４により検出された欠点が全て検査装置３０により検出された場合には（ステップＳ１０１でＮｏ）、貼合前検出条件範囲は補正されることなく処理が終了する。

一方、非検出欠点がある場合、すなわち、欠点検査装置１４，２４により検出された欠点の一部又は全部が検査装置３０により検出されなかった場合には（ステップＳ１０１でＹｅｓ）、非検出欠点の１つが注目欠点に決定される（ステップＳ１０２）。すなわち、非検出欠点が１つである場合には、その非検出欠点が注目欠点に決定され、非検出欠点が２つ以上である場合には、いずれか１つの非検出欠点が注目欠点に決定される。

その後、注目欠点を基準として、当該注目欠点（非検出欠点）の輝度差を含む所定の輝度差範囲内で、検査装置３０により他の欠点が検出されなかった場合には（ステップＳ１０３でＮｏ）、その輝度差範囲が貼合前検出条件範囲から除外される（ステップＳ１０４）。また、当該注目欠点（非検出欠点）のサイズを含む所定のサイズ範囲内で、検査装置３０により他の欠点が検出されなかった場合には（ステップＳ１０５でＮｏ）、そのサイズ範囲が貼合前検出条件範囲から除外される（ステップＳ１０６）。

非検出欠点が２つ以上ある場合には、それらの非検出欠点が順次に注目欠点に決定され、当該注目欠点を基準としてステップＳ１０３〜Ｓ１０６の処理（検出条件補正ステップ）が行われる。そして、全ての非検出欠点について上記処理が終了すれば（ステップＳ１０７でＹｅｓ）、検出条件補正部１ｂによる貼合前検出条件範囲の補正が完了する。

この例では、検査装置３０により行われる光学フィルムＦ１１，Ｆ２１が貼り合せられた光学表示装置の検査結果に基づいて、欠点検査装置１４，２４により行われる光学表示ユニットＷに貼り合せられる前の光学フィルムＦ１１，Ｆ２１の検査における欠点の検出条件が補正され、その補正された検出条件に基づいて欠点検査装置１４，２４により検出された欠点を含む光学フィルムＦ１１，Ｆ２１が排除される。したがって、後に検査装置３０により行われる欠点検査の基準に合わせて、欠点検査装置１４，２４により行われる欠点検査の基準を調整することができるので、欠点検査をより好適に行うことができ、光学フィルムの歩留りを向上することができる。

また、欠点検査装置１４，２４により検出された欠点が検査装置３０により検出されなかった場合には、当該欠点に対応する条件が欠点検査装置１４，２４の検出条件から除外される。したがって、欠点検査装置１４，２４により行われる貼合前の欠点検査の基準が、検査装置３０により行われる貼合後の欠点検査の基準よりも高い場合であっても、貼合後の欠点検査では欠点として検出されないレベルの微細な欠点が、貼合前の欠点検査において過検出されるのを防止することができるので、欠点検査をさらに好適に行うことができる。

ただし、上記の例では、貼合前検出条件範囲を補正する検出条件補正手段としての検出条件補正部１ｂが、欠点検査装置１４，２４及び検査装置３０とは別個に設けられた制御装置１に備えられた構成について説明したが、このような構成に限らず、欠点検査装置１４，２４又は検査装置３０に検出条件補正手段が備えられたような構成であってもよい。

（光学フィルムの構成および製造方法の例）
まず、光学フィルムの一例として偏光板について説明する。偏光板は、予め製造しておいたポリビニルアルコール系フィルム（偏光子）の片面に例えばＴＡＣ（トリアセチルセルロース）フィルム（偏光子保護フィルム）を貼り合わせ、他方面にＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）フィルムを貼り合せることで得られる。

偏光板のロール原反は、例えば、以下の製造工程で製造される。前工程として、（Ａ）偏光子を得る工程。ここでは、染色・架橋及び延伸処理を施したポリビニルアルコール（ＰＶＡ）フィルムを乾燥して偏光子を得る。（Ｂ）偏光板を製造する工程。ここでは、偏光子の片面に接着剤を介してＴＡＣフィルムを貼り合わせ、その他面に、ＰＥＴフィルムを貼り合せ、乾燥して偏光板を製造する。表示装置の視認側となるＰＥＴフィルムにはアンチグレア処理が予め施されていてもよい。（Ｃ）離型フィルム（セパレータ）及び保護フィルムを貼り合わせる工程。偏光板のＴＡＣフィルム面に強粘着剤を介してセパレータを、ＰＥＴフィルム面に弱粘着剤を介して表面保護フィルムを貼り合わせる。ここで、セパレータには予め強粘着剤が塗工され、表面保護フィルムには弱粘着剤が塗工されている。セパレータに塗工された強粘着剤は、セパレータを剥離後、ＴＡＣフィルムに転写される。また、表面保護フィルムに塗工された弱粘着剤は、表面保護フィルムを剥離しても表面保護フィルムに形成されたままであり、ＰＥＴフィルムに実質的に転写されない。以上の前工程では、長尺のシート状製品が製造され、ロール状に巻き取られ、後工程に提供される。

この前工程（Ａ，Ｂ，Ｃ）では、それぞれの工程ごとに検査者による所定の検査が行なわれている。例えば、工程（Ａ）の場合、ＰＶＡ原反の搬送途中で、検査者が目視で欠点（異物、汚れ、ねじれ等）を確認する。また、工程（Ｂ）の場合、得られた偏光板原反をロール状に巻き取る際に、検査者が目視でロールの巻き始めと巻き終わりのタイミングで欠点（異物、汚れ、クニック、ねじれ、よれ等）を確認する。また、欠点検査装置（異物、汚れ等をカメラで撮影し、画像処理して欠点を判定する公知の装置）で貼り合わせ後の偏光板原反を自動的に検査し、モニターで欠点を確認する。

また、工程（Ｃ）の場合、得られた帯状のシート状製品原反をロール状巻き取る際に、検査者が目視でロールの巻き始めと巻き終わりのタイミングで欠点（異物、汚れ、ねじれ等）を確認し、この欠点を評価することでシート状製品原反の格付け（良、不良、出荷可否）を行なう。

次いで、後工程として、（Ｄ）ロール原反のスリット工程。ロール原反が幅広であるため、最終製品である光学表示装置のサイズに合わせて所定サイズにロール原反をスリットする。ロール原反の幅によってはこのスリット工程は省略される。次いで、（Ｅ）ロール原反の検査工程。ここでは、長尺のシート状製品の外観検査として、ロール式自動検反装置及び／または検査者による目視検査が行なわれる。ロール式自動検反装置は、巻き不良、外観不良等をカメラで撮影し、画像処理して欠点を判定する公知の装置である。

以上の工程において、製造されたロール原反は、梱包され、次の工程場所に輸送される。一方、光学表示ユニットとの貼り合せ工程を同一の場所で行なう場合は、簡易包装あるいはそのままの状態で次の工程に搬送される。

本発明により製造される光学表示装置は、液晶表示装置、有機ＥＬ表示装置、ＰＤＰ等の画像表示装置に適用することができる。

液晶表示装置の形成は、従来に準じて行いうる。すなわち液晶表示装置は一般に、液晶セル（光学表示ユニットに相当する。）と光学フィルム、及び必要に応じての照明システム等の構成部品を適宜に組立てて駆動回路を組込むことなどにより形成されるが、本発明においては光学フィルムを用いる点を除いて特に限定はなく、従来に準じうる。液晶セルについても、例えばＴＮ型やＳＴＮ型、π型などの任意なタイプのものを用いうる。

液晶セルの片側又は両側に光学フィルムを配置した液晶表示装置や、照明システムにバックライトあるいは反射板を用いたものなどの適宜な液晶表示装置を形成することができる。その場合、光学フィルムは液晶セルの片側又は両側に設置することができる。両側に光学フィルムを設ける場合、それらは同じものであってもよいし、異なるものであってもよい。さらに、液晶表示装置の形成に際しては、例えば拡散板、アンチグレア層、反射防止膜、保護板、プリズムアレイ、レンズアレイシート、光拡散板、バックライトなどの適宜な部品を適宜な位置に１層又は２層以上配置することができる。

液晶表示装置は、光学フィルムを液晶セルの片側または両側に配置してなる透過型や反射型、あるいは透過・反射両用型の従来に準じた適宜な構造を有するものとして形成することができる。従って、液晶表示装置を形成する液晶セルは任意であり、例えば薄膜トランジスタ型に代表されるアクティブマトリクス駆動型のものなどの適宜なタイプの液晶セルを用いたものであってもよい。

また液晶セルの両側に偏光板や光学部材を設ける場合、それらは同じ物であってもよいし、異なるものであっても良い。さらに、液晶表示装置の形成に際しては、例えばプリズムアレイシートやレンズアレイシート、光拡散板やバックライトなどの適宜な部品を適宜な位置に１層または２層以上配置することができる。

１ 制御装置
１ａ 貼合制御部
１ｂ 検出条件補正部
１４ 第１欠点検査装置
２４ 第２欠点検査装置
３０ 検査装置
Ｆ１ 第１シート製品
Ｆ２ 第２シート製品
Ｆ１１ 第１光学フィルム
Ｆ２１ 第２光学フィルム
Ｗ 光学表示ユニット

Claims (8)

1. 光学フィルムがロール状に巻回されることにより形成されたロール原反から前記光学フィルムを送り出し、所定サイズに切断して光学表示ユニットに貼り合せることにより光学表示装置を製造するための光学表示装置製造システムであって、
   前記光学表示ユニットに貼り合せられる前の前記光学フィルムを検査して欠点を検出する光学フィルム検査手段と、
   前記光学フィルムが貼り合せられた前記光学表示装置を検査して欠点を検出する光学表示装置検査手段と、
   前記光学表示装置検査手段の検査結果に基づいて、前記光学フィルム検査手段による前記光学フィルムの欠点の検出条件を補正する検出条件補正手段と、
   補正された前記検出条件に基づいて前記光学フィルム検査手段により検出された欠点を含む光学フィルムを、排除する排除手段とを備え、
   前記光学フィルム検査手段は、前記光学フィルムに含まれる欠点が前記検出条件を満たす場合にのみ欠点として検出し、
   前記検出条件補正手段は、当該光学フィルム検査手段により検出された欠点が前記光学表示装置検査手段により検出されなかった場合に、当該欠点に対応する条件を前記検出条件から除外することを特徴とする光学表示装置製造システム。
2. 補正された前記検出条件に基づいて前記光学フィルム検査手段により検出された欠点が、光学表示ユニットに貼り合せられる領域内に含まれないように、欠点部分を避けて前記光学フィルムを切断する切断手段を備え、
   前記排除手段は、前記切断手段により切断された前記欠点を含む光学フィルムを排除することを特徴とする請求項１に記載の光学表示装置製造システム。
3. 前記検出条件補正手段は、前記光学フィルム検査手段による検査結果と前記光学表示装置検査手段による検査結果とを比較し、前記光学フィルム検査手段と前記光学表示装置検査手段とが、光学フィルムにおける同じ基準を満たす欠点を抽出するように、前記検出条件を補正することを特徴とする請求項１又は２に記載の光学表示装置製造システム。
4. 前記検出条件が、前記光学フィルムにおける前記欠点と当該欠点の周囲との輝度差、及び、前記欠点のサイズにより規定されることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の光学表示装置製造システム。
5. 光学フィルムがロール状に巻回されることにより形成されたロール原反から前記光学フィルムを送り出し、所定サイズに切断して光学表示ユニットに貼り合せることにより光学表示装置を製造するための光学表示装置製造方法であって、
   前記光学表示ユニットに貼り合せられる前の前記光学フィルムを検査して欠点を検出する光学フィルム検査ステップと、
   前記光学フィルムが貼り合せられた前記光学表示装置を検査して欠点を検出する光学表示装置検査ステップと、
   前記光学表示装置検査ステップの検査結果に基づいて、前記光学フィルム検査ステップによる前記光学フィルムの欠点の検出条件を補正する検出条件補正ステップと、
   補正された前記検出条件に基づいて前記光学フィルム検査ステップにより検出された欠点を含む光学フィルムを、排除する排除ステップとを備え、
   前記光学フィルム検査ステップでは、前記光学フィルムに含まれる欠点が前記検出条件を満たす場合にのみ欠点として検出し、
   前記検出条件補正ステップでは、当該光学フィルム検査ステップにより検出された欠点が前記光学表示装置検査ステップにより検出されなかった場合に、当該欠点に対応する条件を前記検出条件から除外することを特徴とする光学表示装置製造方法。
6. 補正された前記検出条件に基づいて前記光学フィルム検査ステップにより検出された欠点が、光学表示ユニットに貼り合せられる領域内に含まれないように、欠点部分を避けて前記光学フィルムを切断する切断ステップを備え、
   前記排除ステップでは、前記切断ステップにより切断された前記欠点を含む光学フィルムを排除することを特徴とする請求項５に記載の光学表示装置製造方法。
7. 前記検出条件補正ステップでは、前記光学フィルム検査ステップによる検査結果と前記光学表示装置検査ステップによる検査結果とを比較し、前記光学フィルム検査ステップと前記光学表示装置検査ステップとで、光学フィルムにおける同じ基準を満たす欠点を抽出するように、前記検出条件を補正することを特徴とする請求項５又は６に記載の光学表示装置製造方法。
8. 前記検出条件が、前記光学フィルムにおける前記欠点と当該欠点の周囲との輝度差、及び、前記欠点のサイズにより規定されることを特徴とする請求項５〜７のいずれかに記載の光学表示装置製造方法。

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