JP2005326323A - 画質検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 撮像装置、表示装置及び投影装置の欠陥を検出する画質検査装置において、表示装置や投影装置の検査対象物の画像を撮影したり、撮像装置からの画像データを直接取り込む画像取込手段と、画像取込手段で撮影された画像データから欠陥候補を抽出し、2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断をする演算制御手段とを設ける。
【選択図】 図1
Description
Semu=|Cx|/CJND
=|Cx|/F(Sx)
=|Cx|/{1.97・(1/Sx0.33)+0.72} (1)
で記述される。
従って本発明が解決しようとする課題は、欠陥強度として客観的な数値出力が可能でパラメータの調整工数を低減することが可能な画質検査装置を実現することにある。
撮像装置、表示装置及び投影装置の欠陥を検出する画質検査装置において、
表示装置や投影装置の検査対象物の画像を撮影したり、撮像装置からの画像データを直接取り込む画像取込手段と、前記画像取込手段で撮影された画像データから欠陥候補を抽出し、2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断をする演算制御手段とを備えたことにより、実験による感度限界コントラストから大きく外れることがなくなりパラメータの調整工数を低減し、欠陥のコントラストを感度限界コントラストで除算して定量化された欠陥強度を求めることにより客観的な数値出力が可能になる。
請求項1記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
前記画像取込手段から入力される画像データから欠陥候補を抽出する欠陥候補抽出機能と、抽出された欠陥候補に基づき2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度を求める特徴量計算機能と、欠陥強度に基づき欠陥であるか否かを判断する判定機能とから構成されたことにより、実験による感度限界コントラストから大きく外れることがなくなりパラメータの調整工数を低減し、欠陥のコントラストを感度限界コントラストで除算して定量化された欠陥強度を求めることにより客観的な数値出力が可能になる。
請求項1記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
前記画像取込手段から入力された画像データに対して前処理を行う共に欠陥候補の輝度差を強調し、輝度差が強調された画像を予め設定されている閾値で2値化して当該閾値を超過した部分を欠陥候補として抽出し、抽出された欠陥候補内部の最大輝度と欠陥候補周辺の輝度から正規化して正規化された欠陥形状を生成し、正規化された欠陥形状に対して2次元フーリエ変換等の処理を行い欠陥形状を形成する周波数成分を抽出し、空間周波数、背景輝度、欠陥の大きさ及び角度方向をそれぞれパラメータとして2次元に拡張された振幅伝達関数特性を計算し、前記周波数成分及び2次元に拡張された前記振幅伝達関数特性に基づき感度限界コントラストを計算し、感度限界コントラストと欠陥のコントラストに基づき定量化された欠陥強度を計算して当該欠陥強度に基づき欠陥であるか否かの判断を行うことにより客観的な数値出力が可能になる。
請求項3記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
シェーディング補正、縮小処理、若しくは、平滑化処理を行うことにより前記前処理を行うことにより、欠陥候補の領域を制度よく抽出でき実験による感度限界コントラストから大きく外れることがなくなりパラメータの調整工数を低減し、欠陥のコントラストを感度限界コントラストで除算して定量化された欠陥強度を求めることにより客観的な数値出力が可能になる。
請求項3記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
ラプラシアン型、ソーベル型、若しくは、射影の強調フィルタにより欠陥候補の輝度差を強調することにより、欠陥候補の領域を制度よく抽出でき実験による感度限界コントラストから大きく外れることがなくなりパラメータの調整工数を低減し、欠陥のコントラストを感度限界コントラストで除算して定量化された欠陥強度を求めることにより客観的な数値出力が可能になる。
請求項2記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
前記特徴量抽出機能で計算された他の物理量と前記欠陥強度を組み合わせて欠陥であるか否かの判断を行うことにより、欠陥強度でだけでは捕捉しきれない欠陥を検出することが可能になる。
請求項2記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
前記特徴量抽出機能で計算された他の物理量及び欠陥候補周辺領域の特徴量と前記欠陥強度を組み合わせて欠陥であるか否かの判断を行うことにより、欠陥強度でだけでは捕捉しきれない欠陥を検出することが可能になる。
請求項2記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
画素値−輝度変換テーブルを備え、或いは、外部から入力された画素値−輝度変換テーブルに基づき画像データから欠陥候補を抽出し、2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断を行うことにより、精度良く欠陥強度を求めることが可能になる。
請求項2記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
リアルタイムに測定された前記検査対象物の輝度に基づき画像データから欠陥候補を抽出し、2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断を行うことにより、検査対象物間のばらつきや経時変化にも対応して欠陥強度を計算することが可能になる。
請求項2記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
感知限界モデルパラメータを備え、或いは、外部から入力された感知限界モデルパラメータに基づき画像データから欠陥候補を抽出し、2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断を行うことにより、精度良く欠陥強度を求めることが可能になる。
請求項2記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
リアルタイムに測定された検査対象物の特性から感知限界モデルパラメータを生成し、生成された感知限界モデルパラメータに基づき画像データから欠陥候補を抽出し、2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断を行うことにより、検査対象物間のばらつきや経時変化にも対応して欠陥強度を計算することが可能になる。
請求項2記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
前記画像取込手段から入力される画像データをRGBに色分解して個々の色の画像データに対して、それぞれの色に対する振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度を求めることにより、精度良く欠陥強度を求めることが可能になる。
請求項2記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
前記画像取込手段から入力される画像データを輝度及び反対色に分解して個々の輝度及び反対色の画像データに対して、それぞれの輝度及び反対色に対する振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度を求めることにより、精度良く欠陥強度を求めることが可能になる。
請求項2記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
画像データと、変換された画像との欠陥強度をそれぞれ比較することにより、個々の形状に対する劣化を評価することが可能になる。
請求項14記載の発明である画質検査装置において、
前記変換された画像が、
画像圧縮や画像転送後の画像であることにより、個々の形状に対する劣化を評価することが可能になる。
請求項1,2,3,4及び請求項5の発明によれば、2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて感度限界コントラストを求めることにより、実験による感度限界コントラストから大きく外れることがなくなりパラメータの調整工数を低減し、欠陥のコントラストを感度限界コントラストで除算して定量化された欠陥強度を求めることにより客観的な数値出力が可能になる。
空間周波数(cpd)=波数/視角(°) (2)
で表され、また、感度限界(JND:just noticeable Defferencd)コントラストは、感知できる最小輝度変化を”ΔL”、背景輝度を”L”とした場合、
感度限界コントラスト=ΔL/L (3)
で表される。そして、式(2)と式(3)の逆数の関係がMTF特性”SMTF”となる。
欠陥強度=C/CJND (5)
但し、”C”は欠陥のコントラストである。
2,8,17,22,28,34 演算制御手段
3,9 表示手段
4,10,13,18,23,29,31 欠陥候補抽出機能
5,11,14,19,24,30,32 特徴量計算機能
6,12,15、20,25,33 判定機能
16,26 画素値−輝度値変換テーブル
21,27 感知限界モデルパラメータ
Claims (15)
- 撮像装置、表示装置及び投影装置の欠陥を検出する画質検査装置において、
表示装置や投影装置の検査対象物の画像を撮影したり、撮像装置からの画像データを直接取り込む画像取込手段と、
前記画像取込手段で撮影された画像データから欠陥候補を抽出し、2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断をする演算制御手段と
を備えたことを特徴とする画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
前記画像取込手段から入力される画像データから欠陥候補を抽出する欠陥候補抽出機能と、
抽出された欠陥候補に基づき2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度を求める特徴量計算機能と、
欠陥強度に基づき欠陥であるか否かを判断する判定機能とから構成されたことを特徴とする
請求項1記載の画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
前記画像取込手段から入力された画像データに対して前処理を行う共に欠陥候補の輝度差を強調し、
輝度差が強調された画像を予め設定されている閾値で2値化して当該閾値を超過した部分を欠陥候補として抽出し、
抽出された欠陥候補内部の最大輝度と欠陥候補周辺の輝度から正規化して正規化された欠陥形状を生成し、
正規化された欠陥形状に対して2次元フーリエ変換等の処理を行い欠陥形状を形成する周波数成分を抽出し、
空間周波数、背景輝度、欠陥の大きさ及び角度方向をそれぞれパラメータとして2次元に拡張された振幅伝達関数特性を計算し、
前記周波数成分及び2次元に拡張された前記振幅伝達関数特性に基づき感度限界コントラストを計算し、
感度限界コントラストと欠陥のコントラストに基づき定量化された欠陥強度を計算して当該欠陥強度に基づき欠陥であるか否かの判断を行うことを特徴とする
請求項1記載の画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
シェーディング補正、縮小処理、若しくは、平滑化処理を行うことにより前記前処理を行うことを特徴とする
請求項3記載の画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
ラプラシアン型、ソーベル型、若しくは、射影の強調フィルタにより欠陥候補の輝度差を強調することを特徴とする
請求項3記載の画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
前記特徴量抽出機能で計算された他の物理量と前記欠陥強度を組み合わせて欠陥であるか否かの判断を行うことを特徴とする
請求項2記載の画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
前記特徴量抽出機能で計算された他の物理量及び欠陥候補周辺領域の特徴量と前記欠陥強度を組み合わせて欠陥であるか否かの判断を行うことを特徴とする
請求項2記載の画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
画素値−輝度変換テーブルを備え、或いは、外部から入力された画素値−輝度変換テーブルに基づき画像データから欠陥候補を抽出し、2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断を行うことを特徴とする
請求項2記載の画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
リアルタイムに測定された前記検査対象物の輝度に基づき画像データから欠陥候補を抽出し、2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断を行うことを特徴とする
請求項2記載の画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
感知限界モデルパラメータを備え、或いは、外部から入力された感知限界モデルパラメータに基づき画像データから欠陥候補を抽出し、2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断を行うことを特徴とする
請求項2記載の画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
リアルタイムに測定された検査対象物の特性から感知限界モデルパラメータを生成し、生成された感知限界モデルパラメータに基づき画像データから欠陥候補を抽出し、2次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断を行うことを特徴とする
請求項2記載の画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
前記画像取込手段から入力される画像データをRGBに色分解して個々の色の画像データに対して、それぞれの色に対する振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度を求めることを特徴とする
請求項2記載の画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
前記画像取込手段から入力される画像データを輝度及び反対色に分解して個々の輝度及び反対色の画像データに対して、それぞれの輝度及び反対色に対する振幅伝達関数特性を用いて欠陥強度を求めることを特徴とする
請求項2記載の画質検査装置。 - 前記演算制御手段が、
画像データと、変換された画像との欠陥強度をそれぞれ比較することを特徴とする
請求項2記載の画質検査装置。 - 前記変換された画像が、
画像圧縮や画像転送後の画像であることを特徴とする
請求項14記載の画質検査装置。
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