KR101746294B1 - 재단 제품의 생산방법 및 생산 시스템 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템에 관한 것으로, 본 발명의 일 측면에 따르면, 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계 및 단위 제품에 대한 생산 계획 수량 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.
Description
본 발명은 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템에 관한 것으로, 특히, 재고량을 줄이고, 양품화율을 향상시킬 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템에 관한 것이다.
일반적으로, 필름(또는 시트) 상의 제품은 실제 사용될 제품의 크기보다 큰 크기의 원단 형태로 제조된다. 예를 들어, 디스플레이 장치 등에 사용되는 편광판이나 위상차판 등과 같은 광학 부재 등이 그러하다. 구체적인 예를 들어, 편광판 공급자(제조업자)는 제조공정의 효율성 측면과 제품에 대한 수요 변동 등의 다양한 요인들을 고려하여, 편광판의 제조 시에 실제 사용될 제품보다 큰 크기의 길이와 폭을 가지는 원단으로 제조하고 있다.
또한, 원단은, 대부분의 경우 연속적인 공정을 통해 띠 형상으로 제조되며, 제조된 원단은 롤(roll)에 권취(winding)되어 보관된다. 이후, 롤에 권취된 원단은 인출된 다음, 소정 크기의 단위 제품으로 재단된다.
일반적으로, 원단을 재단함에 있어서는, 1회의 재단 공정으로 복수 개의 단위 제품이 동시에 얻어질 수 있도록 재단하는 방법이 많이 사용되고 있다. 예를 들어, 복수의 커터가 장착된 재단 프레임을 이용한다. 이때, 재단을 어떠한 방식으로 진행하는가에 따라 재단된 단위 제품의 수율이 달라진다. 낮은 재단 효율성은 재단 후 버려지는 스크랩(scrap), 즉 폐기물의 양을 증가시키며, 이는 궁극적으로 제품의 제조비용을 상승시키는 원인이 된다.
또한, 원단의 종류에 따라 제품으로 바람직하지 못한 결점(defect)이 존재할 수 있다. 이 경우, 원단의 재단 시에는 양질의 품질화(양품화)를 위해 결점이 고려된다. 일반적으로, 결점은 원단의 제조 공정이나 권취 공정 등에서 형성된다.
예를 들어, TV 등의 디스플레이 장치에 사용되는 편광판은, (1)편광자를 얻는 공정, (2)편광자 보호층을 적층하는 공정, 및 (3)보호 필름이나 이형 필름을 적층하는 공정을 통해 제조된다. 편광자를 얻는 공정에서는 주로 폴리비닐알코올(PVA) 필름을 염색 및 연신하여 편광자를 얻는다. 편광자 보호층을 적층하는 공정에서는 상기 편광자의 양면에 접착제를 통해 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름을 부착하여 편광자 보호층을 적층한다. 이때, 편광판은 각 공정을 진행하는 과정에서 롤에 권취될 수 있으며, 적어도 상기 (3)공정을 진행한 제품은 롤에 권취되어 보관된다. 이와 같이 롤에 권취하는 경우, 각 공정으로의 운반성은 물론, 보관의 용이성 및 재단 공정 등에서 취급성 등이 유리하다.
원단의 결점은 상기 연신이나 권취 공정에서 주로 발생된다. 예를 들어, 연신 공정에서는 원단의 양측 단부를 연신 장치에 고정하고 있는데, 이때 상기 고정 부위에 결점이 발생할 수 있다. 권취 공정의 경우에는 롤에 고정하는 단부 부위에 결점이 발생할 수 있다. 또한, 권취 공정의 경우, 롤에 흠집이 존재하는 경우, 회전하는 롤의 특성 상 롤과 접촉되는 부위에 주기적인 결점(periodic defect)이 발생할 수 있다. 재단된 단위 제품에 결점이 확인되는 경우, 제품의 손실이 커진다.
이에 따라, 결점을 가지는 원단을 재단함에 있어서는 재단에 앞서 결점 검사가 이루어지며, 재단된 단위 제품에 결점이 포함되지 않도록 결점을 피하여 재단한다. 또한, 상기한 바와 같이 재단된 단위 제품의 수율이 고려된다.
일반적으로, 원단의 재단은, 결점의 위치(분포)를 검사하는 검사 과정, 상기 검사된 결점 정보에 기초하여 가상으로 재단할 때의 단위 제품의 수율을 산출하는 수율 산출 과정, 상기 수율 산출 과정에서 계산 값을 바탕으로 소정치 이상의 수율(최고 수율)을 갖도록 재단하는 재단 과정을 통해 진행되고 있다.
예를 들어, 대한민국 공개특허 제10-2008-0033863호, 대한민국 등록특허 제10-1179071호, 및 대한민국 등록특허 제10-1315102호 등에는 위와 관련한 기술이 제시되어 있다.
위와 같이 원단을 재단함에 있어서는 결점을 피하여 재단하되, 최고의 수율을 고려하여 재단한다. 이때, 수율은 면적 수율로서, 이는 재단 후에 얻어지는 단위 제품의 총면적을 재단 전 원단의 총면적으로 나누어 산출하며, 통상 백분율(%)로 나타낸다.
그러나 종래 기술에 따른 재단 방법은, 예를 들어 다음과 같은 문제점이 지적된다.
최근, 대부분의 원단은 매우 큰 폭으로 제조되고 있다. 이 또한 원단 제조공정의 효율성 측면과 제품에 대한 수요 변동 등의 요인들을 고려한 것이다. 이러한 큰 폭을 가지는 원단에 대해서는 원단의 길이 방향으로 재단하는 슬리팅(slitting) 재단이 필요할 수 있다. 그러나 종래 기술에 따른 재단 방법은 최대의 면적 수율을 위한 단위 제품의 재단에 국한되고, 슬리팅 재단은 고려하지 않고 있다. 이에 따라, 최대의 재단 효율성을 고려한 방법으로 보기 어렵다.
또한, 종래에는 원단의 상태에 대한 정확한 정보를 갖고 있지 않기 때문에 원단의 평균 수율을 적용하여 대략적인 작업량을 선정하게 되고, 실제 수율이 평균 수율보다 적게 나타남에 따라 고객의 요구 수량에 맞추기 위하여 계산된 작업량보다 많은 양의 생산을 계획하였다. 또한, 이러한 추가 생산량은 작업자의 경험에 따라 임의로 결정되었다. 따라서 최종 완제품의 재고량이 증가하는 문제가 발생하였다.
본 발명은 고객의 요구수량 및 원단의 결점정보에 기초하여 재단 계획을 세울 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템을 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.
또한, 본 발명은 재고량을 줄이고, 양품화율을 향상시킬 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템을 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.
상기한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계 및 단위 제품에 대한 생산 계획 수량 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.
또한, 원단 선정 단계에서는, 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단을 선정한다.
또한, 원단 선정 단계에서는, 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단을 선정할 수 있다.
또한, 원단 선정단계에서는 재고량을 최소로 하는 원단 중 양품화율이 높은 원단이 선정될 수 있다.
또한, 생산 계획 수량은 고객사 요구 수량일 수 있다.
또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 단위 제품의 크기 별로 각각의 원단을 재단하는 경우, 단위 제품의 크기에 따른 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계 및 단위 제품의 크기에 따른 생산 계획 수량 및 크기 별로 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 각각의 크기에서 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단을 선정하는 원단 선정단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.
또한, 원단 선정 단계에서는, 각각의 크기에서 양품화율이 소정 값 이상이고, 단위제품의 재고량을 최소로 하는 복수 개의 원단을 선정한다.
또한, 원단 선정 단계에서는, 각각의 크기에서 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단을 선정할 수 있다.
또한, 원단 선정단계에서는, 재고량을 최소로 하는 원단 중 양품화율이 높은 원단이 선정될 수 있다.
또한, 원단 선정단계에서는 선정된 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 함께 결정될 수 있다.
또한, 양품 산출단계에서, 원단을 제1 크기를 갖는 단위제품으로만 재단할 경우의 제1 양품화율 및 제1 크기와 다른 제2 크기를 갖는 단위제품으로만 재단할 경우의 제2 양품화율을 각각 산출할 수 있다.
또한, 원단 선정단계에서는, 제1 양품화율보다 제2 양품화율이 높은 경우, 해당 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 제2 크기로 결정될 수 있다.
또한, 원단 선정단계에서는, 제1 양품화율보다 제2 양품화율이 높고, 제1 크기를 갖는 단위 제품의 재고량이 제2 크기를 갖는 단위 제품의 재고량 보다 작게 되는 경우, 해당 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 제1 크기로 결정될 수 있다.
또한, 생산 계획 수량은 고객사 요구 수량일 수 있다.
또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 산출하는 양품 산출 모드 및 단위 제품에 대한 생산 계획 수량 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정모드를 포함하는 재단 제품의 생산 시스템이 제공된다.
또한, 원단 선정모드에서는 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단이 선정된다.
또한, 재단 제품의 생산 시스템은, 단위 제품에 대한 생산 계획 수량을 입력하기 위한 입력부 및 단위 제품에 대한 생산 계획 수량이 입력되면, 재단될 하나 이상의 원단이 표시되는 출력부를 추가로 포함할 수 있다.
또한, 상기 출력부를 통해 각각의 원단을 통해 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율이 각각 표시될 수 있다.
또한, 원단 선정 모드에서는 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단이 선정될 수 있다.
또한, 생산 계획 수량은 고객사 요구 수량일 수 있다.
또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 원단 상의 결점을 검사하기 위한 결점 검사모드와, 결점 정보에 기초하여, 단위 제품의 크기별로 각각의 원단을 재단하는 경우, 크기에 따른 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출모드 및 크기별 단위 제품에 대한 생산 계획 수량이 입력되면, 단위제품의 크기별로 산출된 양품 개수 및 생산 계획 수량에 각각 기초하여 각각의 크기에서, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단을 선정하는 원단 선정모드를 포함하는 재단 제품의 생산 시스템이 제공된다.
또한, 원단 선정모드에서는 선정된 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 함께 결정되고, 각각의 크기에서 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단이 선정될 수 있다.
또한, 생산 계획 수량은 고객사 요구 수량일 수 있다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템은 다음과 같은 효과를 갖는다.
각각의 원단에 대하여, 해당 원단의 결점 정보에 기초하여 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출할 수 있다. 또한, 크기별 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출할 수 있다. 따라서, 원단의 양품 정보를 정확히 산출할 수 있으며, 이를 기초로 재단 계획을 수립할 수 있다.
또한, 생산 계획 수량(고객사 요구 수량) 및 원단의 결점정보에 기초하여 재단 계획을 세울 수 있다. 따라서, 재고량을 최소화하고, 양품화율을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명과 관련된 원단의 평면도이다.
도 2는 본 발명과 관련된 원단 및 스트립을 설명하기 위한 평면도이다.
도 3은 본 발명과 관련된 원단 및 결점 분포 지도를 설명하기 위한 평면도이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 나타내는 플로우차트이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산 시스템을 나타내는 블록 구성도이다.
도 2는 본 발명과 관련된 원단 및 스트립을 설명하기 위한 평면도이다.
도 3은 본 발명과 관련된 원단 및 결점 분포 지도를 설명하기 위한 평면도이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 나타내는 플로우차트이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산 시스템을 나타내는 블록 구성도이다.
이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템을 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명한다.
또한, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응되는 구성요소는 동일 또는 유사한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 하며, 설명의 편의를 위하여 도시된 각 구성 부재의 크기 및 형상은 과장되거나 축소될 수 있다.
도 1은 본 발명과 관련된 원단(10)의 평면도이고, 도 2는 본 발명과 관련된 원단(10) 및 스트립(11, 12, 13)을 설명하기 위한 평면도이며, 도 3은 본 발명과 관련된 원단(10) 및 결점 분포 지도(30)를 설명하기 위한 평면도이다.
본 문서에서, 재단의 대상이 되는 "원단"은 필름(또는 시트) 상의 모재로서, 이는 재단 전보다 상대적으로 큰 크기를 가지는 것이면 여기에 포함한다. 또한, 본 발명에서, 원단(10)의 종류나 적층 구조는 특별히 제한되지 않는다. 원단(10)은, 예를 들어 전기, 전자 제품 등에 적용되는 필름(또는 시트) 상의 광학 부재나 보호 부재 등으로부터 선택될 수 있다. 원단(10)은, 보다 구체적인 예를 들어 TV나 모니터 등과 같은 디스플레이 장치 등에 적용되는 광학 부재로부터 선택될 수 있다. 또한, 원단(10)은 단층체 및/또는 적층체를 포함한다.
하나의 예시에서, 원단(10)은 편광판으로부터 선택될 수 있다. 이때, 상기 편광판은 편광자와, 상기 편광자 상에 형성된 편광자 보호층을 포함하는 적층 구조를 가질 수 있다. 상기 편광자는, 예를 들어 폴리비닐알코올(PVA) 필름 등을 염색 및 연신한 것으로부터 선택될 수 있다. 상기 편광자 보호층은, 예를 들어 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름 등으로부터 선택되어, 상기 편광자의 양면에 접착제를 통해 부착될 수 있다. 아울러, 상기 편광판은 편광자 보호층 상에 형성된 보호 필름 및/또는 이형 필름을 더 포함하는 적층 구조를 가질 수 있다.
원단(10)은, 예를 들어 띠 형상으로서, 롤(Roll)에 권취된 상태에서 인출될 수 있다. 원단(10)의 폭(X)과 길이(Y)는 제한되지 않는다. 원단(10)은, 예를 들어 40 ㎜ 내지 2,500 ㎜의 폭(X)과, 10 m 내지 3,000 m의 길이(Y)를 가질 수 있다. 구체적으로, 상기 원단(10)은 폭(X)에 비하여 큰 길이(Y)를 갖는다.
또한, 본 발명에서, 재단의 대상이 되는 원단(10)은 결점(d, defect)이 존재하는 것, 및/또는 결점(d)이 존재하지 않는 것을 포함한다. 결점(d)은 제품으로 바람직하지 못한 불량점으로서, 이는 원단(10)의 제조 공정 및/또는 권취 공정 등에서 형성된 것일 수 있다. 결점은, 예를 들어 이물질, 오염, 비틀림, 스크래치 및/또는 기포 등을 예로 들 수 있다.
첨부된 도면에서, "*"은 결점(d)을 나타낸다. 원단(10)에는 위와 같은 결점(d)이 1종류 또는 서로 다른 2종류 이상이 존재할 수 있으나, 도면에서는 결점(d)의 종류를 고려하지 않고 "*"로 나타내었다.
한편, 본 문서에서, "재단"은 "슬리팅 재단" 및 "단위 재단" 중에서 선택된 하나 이상을 의미로 사용될 수 있다. 또한, 본 발명에서, 상기 "슬리팅 재단"은 원단(10)을 길이(Y) 방향으로 길게 재단하여 띠 형상의 반제품으로 재단하는 것을 의미하여, 상기 "단위 재단"은 원단(10)을 길이(Y) 방향 및 폭(X) 방향으로 재단하여 단위 제품으로 재단하는 것을 의미한다. 이때, 본 발명에서는, 상기 슬리팅 재단을 통해 얻어진 띠 형상의 반제품을 '스트립(strip)'이라 하고, 상기 단위 재단을 통해 얻어진 재단 제품을 '단품' 또는 ‘단위 제품’이라 한다.
상기 단품은 원단(10)보다 작은 길이와 폭을 가지는 낱장의 최종 제품으로서, 이는 예를 들어 사각형의 형상을 가질 수 있다. 또한, 도 2를 참조하면, 본 발명에서, 상기 스트립(11)(12)(13)은 원단(10)보다 폭이 작은 띠 형상의 반제품으로서, 이는 단위 재단을 통해 낱장의 단품으로 재단될 수 있다. 참고로, 도 2는 원단(10)을 슬리팅 재단하여 제1 스트립(11), 제2 스트립(12) 및 제3 스트립(13)으로 분할하기 위한 상태를 나타낸다. 또한, 각각의 스트립(11 내지 13)은 원단(10) 상의 재단선(20)을 따라 재단될 수 있다. 상기 재단선(20)의 폭(X-Z)은 원단의 폭(X)보다 작게 결정될 수 있다. 또한, 상기 재단선(20)의 폭(X-Z)은 각각의 스트립(11 내지 13)의 폭의 합과 실질적으로 동일할 수 있다.
본 발명에서, 재단 방법은 특별히 제한되지 않는다. 재단 방법은 원단(10)을 적어도 하나 이상의 단품 및/또는 스트립(11)(12)(13)으로 분할 수 있는 것이면 좋다. 재단은, 예를 들어 금속 나이프, 제트 워터 나이프 및/또는 광원 등을 통해 진행될 수 있으며, 상기 광원은 레이저 빔 등을 예로 들 수 있다.
본 문서에서, "면적 수율"은 재단 후에 얻어지는 재단 제품의 총면적을 재단 전 원단(10)의 총면적으로 나누어 산출된 것을 의미한다. 면적 수율은, 통상과 같이 백분율(%)로 나타내어질 수 있다. 이때, 상기 재단 제품은 단품 및/또는 스트립(11)(12)(13)으로부터 선택된다. 그리고 상기 '재단 제품의 총면적'은 재단 제품 1개의 면적 x 생산된 재단 제품의 개수로 계산된다. 또한, “양품화율”은 재단 후에 얻어지는 재단 제품 중 양품의 총면적을 재단 전 원단(10)의 총면적으로 나누어 산출된 것을 의미한다. 양품화율은, 통상과 같이 백분율(%)로 나타내어질 수 있다. 한편, 면적 수율과 양품화율은 동일한 개념으로 사용될 수도 있다.
또한, 본 문서에서, "크기"는 원단(10)이나 재단 제품(단품 및/또는 스트립)의 폭, 길이, 면적, 및 대각선 길이 중에서 선택된 하나 이상을 의미한다.
본 발명에서, "크기"는 이하의 실시형태에서 특별히 한정하여 언급하지 않는 한 위와 같은 의미로 사용된다. 또한, 길이를 나타내는 "인치(inch)"는, 주지된 바와 같이 대각선 길이를 의미할 수 있다. 인치는, 예를 들어 제품이 편광판 등과 같이 사각형 단품인 경우에 대각선 길이를 의미할 수 있다.
원단(10)의 결점(d)은 검사자 또는 재단 시스템(100, 도 5 참조)을 구성하는 결점 검사부(600, 도 5 참조)에 의해 검사될 수 있다. 상기 결점 검사부는 화상을 통한 자동 스캐닝(scanning) 방식으로 결점(d)을 검사하도록 마련될 수 있다. 또한, 결점 검사부(100)에서 검사된 원단의 결점 정보(또는 결점 분포 지도)는 결점 정보 저장부(400)에 저장될 수 있다. 또한, 원단(10)의 결점 정보는 출력부(500, 도 5 참조)를 통해 화면상으로 표시될 수 있다.
상기 결정 정보는 결점(d)의 위치(분포), 종류, 크기 및/또는 개수 등을 포함하며, 결점(d)의 위치(분포)의 경우에는 x-y 좌표로 출력부에 표시될 수 있다. 결점(d)의 검사 방법 및 표시 방법 등은 특별히 제한되지 않으며, 이들은 예를 들어 통상적인 방법으로 수행할 수 있다. 이와 같이, 원단의 결정정보에 기초하여 원단(10)의 결점 분포 지도가 생성된다. 상기 원단(10)의 결점 분포 지도(30)의 생성은 재단 시스템을 구성하는 제어부를 통해 수행될 수 있다.
또한, 상기 제어부는 원단(10)의 재단선(20)을 따라 원단(10)의 결점 분포 지도(30)를 분할하고, 분할된 각각의 결점 분포 지도를 저장할 수 있다. 이와 같이, 분할된 결점 분포 지도는 후속 공정(또는 후속 모드)에 걸쳐 지속적으로 사용될 수 있다.
또한, 도 3을 참조하면, 상기 원단(10)은 마킹부(15, marking part)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 원단(10)에는 좌측과 우측을 구분할 수 있는 하나 이상의 마킹부(15)가 형성될 수 있다. 본 문서에서, 마킹부(15)는 원단(10)의 방향을 구분할 수 있도록 마련될 수 있다. 마킹부(15)는, 구체적으로 원단(10)의 적어도 좌측과 우측을 구분할 수 있도록 마련되는 것이 바람직하다.
상기 마킹부(15)는 원단(10)의 좌측 단부(DS) 및 우측 단부(OS) 중 적어도 하나의 단부에 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 형성될 수 있다. 여기서, 각 단부(OS)(DS)는 원단(10)의 가장자리를 의미하며, 이는 예를 들어 원단(10)의 좌측이나 우측의 끝단에서부터 2cm 이내의 폭을 의미할 수 있다. 이때, 마킹부(15)의 폭은 제한되지 않는다. 예를 들어, 마킹부(15)는 0.01mm 내지 2cm, 0.02mm 내지 1.5cm, 0.1 내지 1cm, 또는 0.5mm 내지 0.5cm의 폭을 가질 수 있다. 또한, 마킹부(15)는 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 연속적 또는 불연속적으로 형성될 수 있다. 도 3에는 마킹부(15)가 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 일직선상으로 연속적으로 형성된 실시예가 도시되어 있다.
상기 마킹부(15)는 육안 및/또는 식별 장치 등에 의해 인식이 가능한 것이면 제한되지 않는다. 마킹부(15)는, 예를 들어 인쇄에 의해 형성된 인쇄부, 두께 단차에 의해 형성된 노치(notch)부, 및 천공에 의해 형성된 천공부 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 인쇄부는 색상 물질의 인쇄에 의해 마련될 수 있다. 또한, 상기 노치부는 두께 단차를 가지는 것이면 제한되지 않으며, 이는 가압에 의해 형성된 오시 처리부나 하프 커팅(half- cutting)하여 형성된 하프 커팅부 등으로부터 선택될 수 있다. 또한, 상기 천공부는 불연속적으로 형성될 수 있다.
상기 마킹부(15)는 원단(10)의 결점 검사 전에 형성되거나, 원단(10)의 결점 검사가 이루어진 후에 형성될 수 있다. 일 실시예로, 마킹부(15)는 원단(10)의 결점 검사가 이루어진 후에 형성될 수 있다.
상기 마킹부(15)는 원단(10)의 적어도 재단 생산성 등을 개선한다. 앞서 언급한 바와 같이, 일반적으로 원단(10)은 결점 검사가 이루어진 후에 풀림과 감김을 반복하면서 좌측과 우측이 계속해서 바뀔 수 있다. 이때, 마킹부(15)는 풀림과 감김의 반복에 의해 좌측과 우측이 바뀌는 경우에도 원단(10)의 방향을 구분할 수 있게 한다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 나타내는 플로우차트이다.
제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은, 원단(10) 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단(10)에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계(S101)를 포함한다.
또한, 상기 재단 제품의 생산방법은, 단위 제품에 대한 생산 계획 수량 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정단계(S102)를 포함한다. 본 문서에서 생산 계획 수량은 고객사 요구 수량일 수 있다.
한편, 원단(10) 상의 결점 정보에 기초한 양품 산출 단계(S101)를 통하여, 각각의 원단에서 재단될 양품 개수와 양품화율이 각각 산출될 수 있다.
예를 들어, 제1 원단을 A제품으로 재단할 경우, 양품 개수와 양품화율이 각각 산출될 수 있다. 또한, 제1 원단을 B제품으로 재단할 경우, 양품 개수와 양품화율이 각각 산출될 수 있다.
여기서, A제품과 B제품은 크기가 서로 다른 단위 제품이다. 특히, 제1 원단을 A제품으로 재단하는 경우의 양품 개수와 양품화율은 제1 원단을 B제품으로 재단하는 경우의 양품 개수와 양품화율과 서로 다를 수 있다. 즉, 동일한 원단일지라도, 재단하고자 하는 단위제품의 크기에 따라 양품 개수 및 양품화율이 달라질 수 있다.
마찬가지로, 제2 원단을 A제품으로 재단할 경우, 양품 개수와 양품화율을 각각 산출할 수 있고, 제2 원단을 B제품으로 재단할 경우, 양품 개수와 양품화율이 각각 산출될 수 있다. 정리하면, 보유 원단들에 대하여, 특정 제품(A제품 또는 B제품)으로 재단 시, 양품 개수와 양품화율이 각각 산출될 수 있다.
원단 선정단계(S102)는 단위 제품에 대한 생산 계획 수량(고객사 요구 수량) 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여 수행된다. 즉, 고객사 수요를 맞추기 위하여 하나 이상의 원단을 통해 재단될 양품 개수는 고객사 요구 수량 이상이 되어야 한다.
이때, 원단 선정 단계에서는, 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단이 선정될 수 있다.
특히, 원단 선정 단계(S102)에서는, 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단을 선정한다. 예를 들어, 원단 선정의 기준이 되는 양품화율은 70% 이상일 수도 있고, 바람직하게, 80% 이상일 수도 있고, 보다 바람직하게, 85% 이상일 수도 있다. 즉, 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서만 단위 제품의 재고량(양품 개수-생산 계획 수량)을 최소로 하는 원단이 선정될 수 있다.
또한, 원단 선정 단계에서, 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단을 선정할 수 있다. 예를 들면, A제품에 대한 생산 계획 수량이 100개인 경우, 제1 원단을 A제품으로 재단하는 경우의 양품 개수는 130개이고, 양품화율 88%이며, 제2 원단을 A제품으로 재단하는 경우의 양품 개수는 110개이고, 양품화율 86%일 수 있다. 이때, 양품화율을 우선하는 경우, 제1 원단이 선택될 수 있다. 그러나, 본 발명에서는, 원단 선정 기준에서 재고량이 양품화율에 우선하게 되며, 재고량을 최소로 하는 제2 원단이 선택될 수 있다.
정리하면, 재고량을 줄이기 위하여, 재단될 양품 개수와 생산 계획 수량(고객사 요구 수량)의 차이가 최소가 되도록 하는 원단이 선정될 수 있다.
또한, 원단 선정단계(S102)에서는 재고량을 최소로 하는 원단 중 양품화율이 높은 원단이 선정될 수 있다.
본 발명의 제2 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은, 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 단위 제품의 크기 별로 각각의 원단을 재단하는 경우, 단위 제품의 크기에 따른 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계를 포함한다.
또한, 제2 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은, 단위 제품의 크기에 따른 생산 계획 수량(고객사 요구 수량) 및 크기 별로 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 각각의 크기에서 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단을 선정하는 원단 선정단계를 포함한다.
또한, 원단 선정 단계에서는, 각각의 크기에서 양품화율이 소정 값 이상이고, 단위제품의 재고량을 최소로 하는 복수 개의 원단을 선정한다.
단위 제품의 크기, 예를 들어 37인치(B제품), 42인치(A제품) 등에 따라 고객사 요구 수량이 각각 산출될 수 있다. 이때, 각각의 원단에 대하여 단위 제품의 크기에 따른 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출할 수 있으며, 이는 제1 실시예를 통해 설명한 바와 같다.
이때, 단위 제품의 크기에 따른 고객사 요구 수량 및 크기 별로 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 각각의 크기에서 단위 제품의 양품 개수가 고객사 요구 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단이 선정된다. 예를 들어, 37인치의 단위제품의 양품 개수와 42인치의 단위제품의 양품 개수는 각각 37인치에 대한 고객사 요구 수량 및 42인치에 대한 고객사 요구 수량 이상이 되어야 한다.
또한, 원단 선정단계에서는, 각각의 단위제품의 크기에서 단위 제품의 재고량이 최소가 되도록 원단이 선정될 수 있다. 또한, 원단 선정 단계에서는, 각각의 크기에서 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단을 선정할 수 있다. 또한, 원단 선정단계에서는, 재고량을 최소로 하는 원단 중 양품화율이 높은 원단이 선정될 수 있다.
한편, 원단 선정단계에서는 선정된 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 함께 결정될 수 있다. 예를 들어, 고객사 요구 수량, 양품 개수 및 양품화율에 따라, 제1 원단은 A제품으로 재단되고, 제2 원단은 B제품으로 재단되도록 결정될 수 있다.
또한, 양품 산출단계에서, 원단을 제1 크기를 갖는 단위제품으로만 재단할 경우의 제1 양품화율 및 제1 크기와 다른 제2 크기를 갖는 단위제품으로만 재단할 경우의 제2 양품화율을 각각 산출할 수 있다. 또한, 양품 산출단계에서 제1 크기를 갖는 단위제품과 제2 크기를 갖는 단위제품을 조합하여 재단할 경우의 제3 양품화율을 산출할 수 있다.
예를 들면, 제1 원단을 제1 크기의 A제품으로만 재단할 경우의 제1 양품화율 및 A제품의 양품 개수가 산출될 수 있다. 또한, 제1 원단을 제2 크기의 B제품으로만 재단할 경우의 제2 양품화율 및 B제품의 양품 개수가 산출될 수 있다. 또한, 제1 원단을 A제품과 B제품의 조합으로 재단할 경우 제3 양품화율, A제품의 양품 개수 및 B제품의 양품 개수가 산출될 수 있다.
이때, 원단 선정단계에서는, 제1 양품화율보다 제2 양품화율이 높은 경우, 해당 원단(제1 원단)에서 재단될 단위 제품의 크기는 제2 크기(B제품)로 결정될 수 있다.
이와는 다르게, 원단 선정단계에서는, 제1 양품화율보다 제2 양품화율이 높고, 제1 크기를 갖는 단위 제품(A제품)의 재고량이 제2 크기를 갖는 단위 제품(B제품)의 재고량 보다 작게 되는 경우, 해당 원단(제1 원단)에서 재단될 단위 제품의 크기가 제1 크기로 결정될 수 있다. 즉, 양품화율이 다소 낮더라도, 고객의 요구 수량을 맞춤과 동시에 재고량을 최소화하는 것이 더욱 중요할 수 있기 때문이다.
이하, 상기와 같은 재단 제품의 생산 방법을 수행하기 위한 재단 제품의 생산 시스템을 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 설명한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산 시스템(100)을 나타내는 블록 구성도이다.
재단 제품의 생산 시스템(100)은, 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출 모드를 포함한다. 또한, 상기 재단 제품의 생산 시스템(100)은 단위 제품에 대한 생산 계획 수량(고객사 요구 수량) 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정모드를 포함한다.
이때 원단 선정모드는 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서 단위 제품의 재고량을 최소로 하는 원단이 선정되도록 마련된다. 상기 재단 제품의 생산 시스템(100)은 단위 제품에 대한 생산 계획 수량을 입력하기 위한 입력부 및 단위 제품에 대한 생산 계획 수량이 입력되면, 재단될 하나 이상의 원단이 표시되는 출력부를 추가로 포함할 수 있다. 또한, 상기 출력부를 통해 각각의 원단을 통해 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율이 각각 표시될 수 있다. 전술한 바와 같이, 원단 선정 모드에서는 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단이 선정될 수 있다.
또한, 본 발명의 또 다른 실시예와 관련된 재단 제품의 생산 시스템은 원단 상의 결점을 검사하기 위한 결점 검사모드 및 결점 정보에 기초하여, 단위 제품의 크기 별로 각각의 원단을 재단하는 경우, 크기에 따른 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출모드를 포함한다. 또한, 재단 제품의 생산 시스템은 크기별 단위 제품에 대한 생산 계획 수량(고객사 요구 수량)이 입력되면, 단위제품의 크기별로 산출된 양품 개수 및 생산 계획 수량에 각각 기초하여 각각의 크기에서, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단을 선정하는 원단 선정모드를 포함한다.
이때 원단 선정모드에서, 각각의 크기에서 양품화율이 소정 값 이상이고, 단위제품의 재고량을 최소로 하는 복수 개의 원단이 선정된다. 전술한 바와 같이, 원단 선정모드에서는 선정된 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 함께 결정되고, 각각의 크기에서 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단이 선정된다.
도 5를 참조하면, 재단 제품의 생산 시스템(100)은 양품 산출부(200) 및 재단부(300)를 포함할 수 있다. 또한, 재단 제품의 생산 시스템(100)은 제품 정보 입력부(110)와 원단 정보 입력부(120) 및 고객 요구 수량 입력부(130)를 포함할 수 있다. 또한, 재단 제품의 생산 시스템(100)은 결점 검사부(600) 및 결점 정보 저장부(400)를 포함할 수 있다.
상기 제품 정보 입력부(110)에는 제품의 정보가 입력될 수 있다. 이때, 상기 제품의 정보는 각 제품의 크기를 포함한다.
예를 들어, 원단(10)을 임의의 n개의 제품으로 재단 시, 상기 재단되는 n개의 각 제품에 대한 크기가 제품 정보 입력부(110)에 입력된다. 여기서, n개의 제품(n ≥ 2)은 앞서 설명한 바와 같다. 일례를 들어, 상기 재단되는 제품으로서, 크기(면적 또는 인치)가 서로 동일하거나, 다른 복수 개의 스트립 제품이 있을 때, 상기 제품 정보 입력부(110)에는 각각의 스트립 제품에 대한 크기가 입력되어 저장될 수 있다. 또한, 고객 요구 수량 입력부(130)에는 크기에 따른 단위 제품의 수량이 각각 입력될 수 있다.
원단 정보 입력부(120)에는 원단(10)에 대한 원단 정보가 입력된다. 원단 정보 입력부(120)에는 원단 정보로서, 예를 들어 원단(10)의 크기가 입력될 수 있다. 구체적으로, 원단 정보 입력부(120)에는 당해 원단(10)의 폭(X) 및 길이(Y) 중에서 선택된 하나 이상이 입력될 수 있다.
상기 결점 정보 저장부(400)에는 원단(10)의 결점 정보가 입력되어 저장된다. 상기 결점 정보는 원단(10)에 존재하는 결점(d)의 분포(위치) 및/또는 결점(d)의 종류 등을 예로 들 수 있다.
상기 결점 정보는, 예를 들어 결점 검사 장치(도시하지 않음)에 의해 검사되어 결점 정보 저장부(400)에 입력될 수 있다. 또한, 상기 결점 정보는 모니터(도시하지 않음)을 통해 x-y 좌표 상으로 표시될 수 있다. 또한, 상기 결점 정보 저장부(400)에는 원단(10)의 결점 분포 지도(30)와 원단의 길이방향 및 폭 방향 중 적어도 하나의 방향에 따른 결점 분포 밀도(40, 50)가 저장될 수 있다.
상기 양품 산출부(200)는 결점 정보 저장부(400)에 저장된 결점(d) 분포에 기초하여 양품 개수 및 양품화율, 즉 결점(d)의 분포에 따른 면적 수율을 산출한다. 상기 양품 산출부(200)는 결점(d) 분포를 고려하여 재단선에 따른 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출한다.
또한, 재단 시 제품의 생산 시스템(100)은 단위 제품에 대한 고객사 요구 수량을 입력하기 위한 입력부(130) 및 단위 제품에 대한 고객사 요구 수량을 입력되면, 재단될 하나 이상의 원단이 표시되는 출력부(500)를 포함할 수 있다. 또한, 상기 출력부(500)를 통해 각각의 원단을 통해 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율이 각각 표시될 수 있다.
예를 들어, 출력부(500)는 단위 제품의 크기(예를 들어, 인치)별 고객사 요구 수량과 양품개수 및 양품화율이 각각 표시되는 제1 표시영역과 원단 정보가 표시되는 제2 표시영역 및 원단의 선정을 위한 제3 표시영역을 포함할 수 있다.
한편, 상기 재단부(300)는 양품 산출부(200)에서 산출된 결과에 기초하여, 면적 효율 및 양품화율을 최대로 하는 가상 재단선을 따라 원단(10)을 재단할 수 있다. 상기 재단부(300)는 적어도 재단 장치를 포함한다.
상기 재단 장치는, 예를 들어 통상과 같이 구성될 수 있다. 상기 재단 장치는, 예를 들어 원단(10)을 지지하는 지지 수단과, 원단(10)을 재단하는 재단 수단을 포함할 수 있다.
상기 지지 수단은, 예를 들어 이송 컨베이어, 롤(roll), 및 지지 플레이트 등으로부터 선택된 하나 이상을 포함할 수 있다.
상기 재단 수단은, 예를 들어 금속 나이프, 제트 워터 나이프 및 광원(레이저 빔 조사기 등) 등으로부터 선택된 하나 이상을 포함하는 구조를 가질 수 있다.
또한, 상기 재단부(300)는 원단(10)을 길이 방향으로 슬리팅 재단하여 복수의 스트립(11)(12)(13)을 얻는 제1 재단부를 포함할 수 있다.
아울러, 상기 재단부(300)는, 상기 얻어진 복수의 스트립(11)(12)(13)을 폭 방향으로 재단하여 단위 제품을 얻는 제2 재단부를 포함할 수 있다.
여기서, 원단(10)의 결점 검사는 결점 검사부(600)를 통해 수행될 수 있다. 또한, 원단(10)의 결점 정보는 결점 정보 저장부(400)에 저장될 수 있다.
위에서 설명된 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
10: 원단
20: 재단선
30: 결점 분포 지도
100: 재단 제품의 생산 시스템
130: 고객 요구 수량 입력부
200: 양품 산출부
400: 결점 정보 저장부
500: 출력부
600: 결점 검사부
20: 재단선
30: 결점 분포 지도
100: 재단 제품의 생산 시스템
130: 고객 요구 수량 입력부
200: 양품 산출부
400: 결점 정보 저장부
500: 출력부
600: 결점 검사부
Claims (20)
- 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계; 및
단위 제품에 대한 생산 계획 수량 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정단계를 포함하며,
원단 선정 단계에서는, 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단을 선정하는 재단 제품의 생산방법. - 제 1 항에 있어서,
원단 선정 단계에서, 양품화율이 최고가 되도록 하는 원단에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단을 선정하는 재단 제품의 생산방법. - 제 2 항에 있어서,
원단 선정단계에서는 재고량을 최소로 하는 원단 중 양품화율이 가장 높은 원단이 선정됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법. - 제 1 항에 있어서,
생산 계획 수량은 고객사 요구 수량인 것을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법. - 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 단위 제품의 크기 별로 각각의 원단을 재단하는 경우, 단위 제품의 크기에 따른 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계; 및
단위 제품의 크기에 따른 생산 계획 수량 및 크기 별로 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 각각의 크기에서 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단을 선정하는 원단 선정단계를 포함하며,
원단 선정 단계에서는, 각각의 크기에서 양품화율이 소정 값 이상이고, 단위제품의 재고량을 최소로 하는 복수 개의 원단을 선정하는 재단 제품의 생산방법. - 제 5 항에 있어서,
원단 선정 단계에서는, 각각의 크기에서 양품화율이 최고가 되도록 하는 원단에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단을 선정하는 재단 제품의 생산방법. - 제 5 항에 있어서,
원단 선정단계에서는, 재고량을 최소로 하는 원단 중 양품화율이 가장 높은 원단이 선정됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법. - 제 5 항에 있어서,
원단 선정단계에서는 선정된 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 함께 결정됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법. - 제 8 항에 있어서,
양품 산출단계에서, 원단을 제1 크기를 갖는 단위제품으로만 재단할 경우의 제1 양품화율 및 제1 크기와 다른 제2 크기를 갖는 단위제품으로만 재단할 경우의 제2 양품화율을 각각 산출함을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법. - 제 9 항에 있어서,
원단 선정단계에서는, 제1 양품화율보다 제2 양품화율이 높은 경우, 해당 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 제2 크기로 결정됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법. - 제 9 항에 있어서,
원단 선정단계에서는, 제1 양품화율보다 제2 양품화율이 높고, 제1 크기를 갖는 단위 제품의 재고량이 제2 크기를 갖는 단위 제품의 재고량 보다 작게 되는 경우, 해당 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 제1 크기로 결정됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법. - 제 5 항에 있어서,
생산 계획 수량은 고객사 요구 수량인 것을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법. - 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 산출하는 양품 산출 모드; 및
단위 제품에 대한 생산 계획 수량 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정모드를 포함하며,
원단 선정모드에서는 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단이 선정되는 재단 제품의 생산 시스템. - 제 13 항에 있어서,
단위 제품에 대한 생산 계획 수량을 입력하기 위한 입력부 및 단위 제품에 대한 생산 계획 수량이 입력되면, 재단될 하나 이상의 원단이 표시되는 출력부를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 재단 제품의 생산 시스템. - 제 14 항에 있어서,
상기 출력부를 통해 각각의 원단을 통해 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율이 각각 표시됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산 시스템. - 제 13 항에 있어서,
원단 선정 모드에서는 양품화율이 최고가 되도록 하는 원단에 우선하여 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단이 선정되는 재단 제품의 생산 시스템. - 제 13 항에 있어서,
생산 계획 수량은 고객사 요구 수량인 것을 특징으로 하는 재단 제품의 생산 시스템. - 원단 상의 결점을 검사하기 위한 결점 검사모드;
결점 정보에 기초하여, 단위 제품의 크기별로 각각의 원단을 재단하는 경우, 크기에 따른 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출모드; 및
크기별 단위 제품에 대한 생산 계획 수량이 입력되면, 단위제품의 크기별로 산출된 양품 개수 및 생산 계획 수량에 각각 기초하여 각각의 크기에서, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단을 선정하는 원단 선정모드를 포함하며,
원단 선정모드에서, 각각의 크기에서 양품화율이 소정 값 이상이고, 단위제품의 재고량을 최소로 하는 복수 개의 원단이 선정되는 재단 제품의 생산 시스템. - 제 18 항에 있어서,
원단 선정모드에서는 선정된 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 함께 결정되고,
각각의 크기에서 양품화율이 최고가 되도록 하는 원단에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단이 선정되는 재단 제품의 생산 시스템. - 제 18 항에 있어서,
생산 계획 수량은 고객사 요구 수량인 것을 특징으로 하는 재단 제품의 생산 시스템.
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