KR20160084601A - 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템 - Google Patents

재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR20160084601A
KR20160084601A KR1020150001004A KR20150001004A KR20160084601A KR 20160084601 A KR20160084601 A KR 20160084601A KR 1020150001004 A KR1020150001004 A KR 1020150001004A KR 20150001004 A KR20150001004 A KR 20150001004A KR 20160084601 A KR20160084601 A KR 20160084601A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
fabric
cutting
distribution density
defect distribution
sub
Prior art date
Application number
KR1020150001004A
Other languages
English (en)
Inventor
이규황
이호경
Original Assignee
주식회사 엘지화학
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 엘지화학 filed Critical 주식회사 엘지화학
Priority to KR1020150001004A priority Critical patent/KR20160084601A/ko
Publication of KR20160084601A publication Critical patent/KR20160084601A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303—Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • G02F1/133528—Polarisers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)

Abstract

본 발명은 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템에 관한 것으로, 본 발명의 일 측면에 따르면, 원단의 길이방향에 따라 소정의 단위 길이에 대한 결점 분포 밀도를 각각 산출하는 결점 분포 밀도 산출단계 및 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 2개 이상의 재단 영역으로 분할하기 위한 분할위치를 선정하는 분할위치 선정단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.

Description

재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템{Manufacturing method for cut-out product and cutting system}
본 발명은 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템에 관한 것으로, 특히, 원단의 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 분할 위치 및 분할 개수를 선정할 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템에 관한 것이다.
일반적으로, 필름(또는 시트) 상의 제품은 실제 사용될 제품의 크기보다 큰 크기의 원단 형태로 제조된다. 예를 들어, 디스플레이 장치 등에 사용되는 편광판이나 위상차판 등과 같은 광학 부재 등이 그러하다. 구체적인 예를 들어, 편광판 공급자(제조업자)는 제조공정의 효율성 측면과 제품에 대한 수요 변동 등의 다양한 요인들을 고려하여, 편광판의 제조 시에 실제 사용될 제품보다 큰 크기의 길이와 폭을 가지는 원단으로 제조하고 있다.
또한, 원단은, 대부분의 경우 연속적인 공정을 통해 띠 형상으로 제조되며, 제조된 원단은 롤(roll)에 권취(winding)되어 보관된다. 이후, 롤에 권취된 원단은 인출된 다음, 소정 크기의 단위 제품으로 재단된다.
일반적으로, 원단을 재단함에 있어서는, 1회의 재단 공정으로 복수 개의 단위 제품이 동시에 얻어질 수 있도록 재단하는 방법이 많이 사용되고 있다. 예를 들어, 복수의 커터가 장착된 재단 프레임을 이용한다. 이때, 재단을 어떠한 방식으로 진행하는가에 따라 재단된 단위 제품의 수율이 달라진다. 낮은 재단 효율성은 재단 후 버려지는 스크랩(scrap), 즉 폐기물의 양을 증가시키며, 이는 궁극적으로 제품의 제조비용을 상승시키는 원인이 된다.
또한, 원단의 종류에 따라 제품으로 바람직하지 못한 결점(defect)이 존재할 수 있다. 이 경우, 원단의 재단 시에는 양질의 품질화(양품화)를 위해 결점이 고려된다. 일반적으로, 결점은 원단의 제조 공정이나 권취 공정 등에서 형성된다.
예를 들어, TV 등의 디스플레이 장치에 사용되는 편광판은, (1)편광자를 얻는 공정, (2)편광자 보호층을 적층하는 공정, 및 (3)보호 필름이나 이형 필름을 적층하는 공정을 통해 제조된다. 편광자를 얻는 공정에서는 주로 폴리비닐알코올(PVA) 필름을 염색 및 연신하여 편광자를 얻는다. 편광자 보호층을 적층하는 공정에서는 상기 편광자의 양면에 접착제를 통해 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름을 부착하여 편광자 보호층을 적층한다. 이때, 편광판은 각 공정을 진행하는 과정에서 롤에 권취될 수 있으며, 적어도 상기 (3)공정을 진행한 제품은 롤에 권취되어 보관된다. 이와 같이 롤에 권취하는 경우, 각 공정으로의 운반성은 물론, 보관의 용이성 및 재단 공정 등에서 취급성 등이 유리하다.
원단의 결점은 상기 연신이나 권취 공정에서 주로 발생된다. 예를 들어, 연신 공정에서는 원단의 양측 단부를 연신 장치에 고정하고 있는데, 이때 상기 고정 부위에 결점이 발생할 수 있다. 권취 공정의 경우에는 롤에 고정하는 단부 부위에 결점이 발생할 수 있다. 또한, 권취 공정의 경우, 롤에 흠집이 존재하는 경우, 회전하는 롤의 특성 상 롤과 접촉되는 부위에 주기적인 결점(periodic defect)이 발생할 수 있다. 재단된 단위 제품에 결점이 확인되는 경우, 제품의 손실이 커진다.
이에 따라, 결점을 가지는 원단을 재단함에 있어서는 재단에 앞서 결점 검사가 이루어지며, 재단된 단위 제품에 결점이 포함되지 않도록 결점을 피하여 재단한다. 또한, 상기한 바와 같이 재단된 단위 제품의 수율이 고려된다.
일반적으로, 원단의 재단은, 결점의 위치(분포)를 검사하는 검사 과정, 상기 검사된 결점 정보에 기초하여 가상으로 재단할 때의 단위 제품의 수율을 산출하는 수율 산출 과정, 상기 수율 산출 과정에서 계산 값을 바탕으로 소정치 이상의 수율(최고 수율)을 갖도록 재단하는 재단 과정을 통해 진행되고 있다.
예를 들어, 대한민국 공개특허 제10-2008-0033863호, 대한민국 등록특허 제10-1179071호, 및 대한민국 등록특허 제10-1315102호 등에는 위와 관련한 기술이 제시되어 있다.
위와 같이 원단을 재단함에 있어서는 결점을 피하여 재단하되, 최고의 수율을 고려하여 재단한다. 이때, 수율은 면적 수율로서, 이는 재단 후에 얻어지는 단위 제품의 총면적을 재단 전 원단의 총면적으로 나누어 산출하며, 통상 백분율(%)로 나타낸다.
그러나 종래 기술에 따른 재단 방법은, 예를 들어 다음과 같은 문제점이 지적된다.
최근, 대부분의 원단은 매우 큰 폭으로 제조되고 있다. 이 또한 원단 제조공정의 효율성 측면과 제품에 대한 수요 변동 등의 요인들을 고려한 것이다. 이러한 큰 폭을 가지는 원단에 대해서는 원단의 길이 방향으로 재단하는 슬리팅(slitting) 재단이 필요할 수 있다. 그러나 종래 기술에 따른 재단 방법은 최대의 면적 수율을 위한 단위 제품의 재단에 국한되고, 슬리팅 재단은 고려하지 않고 있다. 이에 따라, 최대의 재단 효율성을 고려한 방법으로 보기 어렵다.
한국공개특허공보 제10-2008-0033863호 한국등록특허공보 제10-1179071호 한국등록특허공보 제10-1315102호
본 발명은 원단의 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 분할 위치 및 분할 개수를 선정할 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템을 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.
상기한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, 원단의 길이방향에 따라 소정의 단위 길이에 대한 결점 분포 밀도를 각각 산출하는 결점 분포 밀도 산출단계; 및 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 2개 이상의 재단 영역으로 분할하기 위한 분할위치를 선정하는 분할위치 선정단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.
또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 하기 수학식 1에 따라 원단의 길이방향에 따른 각각의 서브영역의 결점 분포 밀도를 각각 산출하는 결점 분포 밀도 산출단계; 및 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 복수 개의 재단 영역으로 분할하기 위한 분할위치 및 분할개수를 선정하는 분할위치 선정단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공되고, 하기 수학식 1은 다음과 같다.
[수학식 1]
Figure pat00001
상기 식에서, i는 원단의 폭, j는 1 내지 원단의 길이를 서브 영역의 단위 길이로 나눈 값, Aj는 j번째 서브 영역의 결점 분포 밀도, n은 원단의 폭을 단위 폭으로 나눈 값, Di ,j는 j번째 서브 영역에서 원단의 폭 방향에 걸친 결점 분포 밀도, α는 자연수를 나타낸다.
또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 하기 수학식 2에 따라 원단의 길이방향에 따른 각각의 서브영역의 결점 분포 밀도를 각각 산출하는 결점 분포 밀도 산출단계; 및 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 복수 개의 재단 영역으로 분할하기 위한 분할위치 및 분할개수를 선정하는 분할위치 선정단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공되고, 수학식 2는 다음과 같다.
[수학식 2]
Figure pat00002
상기 수학식 2에서, i는 원단의 폭, j는 1 내지 원단의 길이를 서브 영역의 단위 길이로 나눈 값, Aj는 j번째 서브 영역의 결점 분포 밀도, n은 원단의 폭을 단위 폭으로 나눈 값, Di ,j는 j번째 서브 영역에서 원단의 폭 방향에 걸친 결점 분포 밀도를 나타낸다.
또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 원단의 길이방향에 따라 소정의 단위 길이에 대한 결점 분포 밀도를 각각 산출하고, 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 복수 개의 재단 영역으로 분할하기 위한 분할위치를 선정하기 위한 분할위치 선정모드를 포함하는 재단 시스템이 제공된다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템은 다음과 같은 효과를 갖는다.
원단의 길이방향의 결점 분포 밀도에 기초하여 최적의 위치에서 원단을 분할할 수 있다. 또한, 분할된 각각의 원단에 대하여 독립적으로 재단 계획을 수립할 수 있다. 즉, 원단의 결점 분포 밀도가 상이한 영역에 대하여 독립적인 가상 재단선을 각각 결정함으로써 양품화율을 향상시킬 수 있다.
또한, 원단의 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 분할 위치 및 분할 개수를 각각 선정할 수 있다.
도 1은 본 발명과 관련된 원단을 나타내는 평면도이다.
도 2는 본 발명과 관련된 원단 및 스트립을 설명하기 위한 평면도이다.
도 3은 본 발명과 관련된 원단의 결점분포지도를 설명하기 위한 평면도이다.
도 4는 본 발명과 관련된 결점 분포 밀도를 설명하기 위한 평면도이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 나타내는 플로우 차트이다.
도 6은 본 발명과 관련된 재단 제품의 생산방법을 설명하기 위한 원단의 개념도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 시스템을 나타내는 블록 구성도이다.
이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템을 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명한다.
또한, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응되는 구성요소는 동일 또는 유사한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 하며, 설명의 편의를 위하여 도시된 각 구성 부재의 크기 및 형상은 과장되거나 축소될 수 있다.
도 1은 본 발명과 관련된 원단(10)을 나타내는 평면도이고, 도 2는 본 발명과 관련된 원단(10) 및 스트립(11)(12)(13)을 설명하기 위한 평면도이다.
또한, 도 3은 본 발명과 관련된 원단의 결점분포지도(30)를 설명하기 위한 평면도이고, 도 4는 본 발명과 관련된 결점 분포 밀도(40)를 설명하기 위한 평면도이다.
본 문서에서, 재단의 대상이 되는 "원단"은 필름(또는 시트) 상의 모재로서, 이는 재단 전보다 상대적으로 큰 크기를 가지는 것이면 여기에 포함한다. 또한, 본 발명에서, 원단(10)의 종류나 적층 구조는 특별히 제한되지 않는다. 원단(10)은, 예를 들어 전기, 전자 제품 등에 적용되는 필름(또는 시트) 상의 광학 부재나 보호 부재 등으로부터 선택될 수 있다. 원단(10)은, 보다 구체적인 예를 들어 TV나 모니터 등과 같은 디스플레이 장치 등에 적용되는 광학 부재로부터 선택될 수 있다. 또한, 원단(10)은 단층체 및/또는 적층체를 포함한다.
하나의 예시에서, 원단(10)은 편광판으로부터 선택될 수 있다. 이때, 상기 편광판은 편광자와, 상기 편광자 상에 형성된 편광자 보호층을 포함하는 적층 구조를 가질 수 있다. 상기 편광자는, 예를 들어 폴리비닐알코올(PVA) 필름 등을 염색 및 연신한 것으로부터 선택될 수 있다. 상기 편광자 보호층은, 예를 들어 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름 등으로부터 선택되어, 상기 편광자의 양면에 접착제를 통해 부착될 수 있다. 아울러, 상기 편광판은 편광자 보호층 상에 형성된 보호 필름 및/또는 이형 필름을 더 포함하는 적층 구조를 가질 수 있다.
원단(10)은, 예를 들어 띠 형상으로서, 롤에 권취된 상태에서 인출될 수 있다. 원단(10)의 폭(X)과 길이(Y)는 제한되지 않는다. 원단(10)은, 예를 들어 40 ㎜ 내지 2,500 ㎜의 폭(X)과, 1,000 ㎝ 내지 3,000 m의 길이(Y)를 가질 수 있다. 구체적으로, 상기 원단(10)은 폭(X)에 비하여 큰 길이(Y)를 갖는다.
또한, 본 발명에서, 재단의 대상이 되는 원단(10)은 결점(d, defect)이 존재하는 것, 및/또는 결점(d)이 존재하지 않는 것을 포함한다. 결점(d)은 제품으로 바람직하지 못한 불량점으로서, 이는 원단(10)의 제조 공정 및/또는 권취 공정 등에서 형성된 것일 수 있다. 결점은, 예를 들어 이물질, 오염, 비틀림, 스크래치 및/또는 기포 등을 예로 들 수 있다.
원단(10)의 결점(d)은 검사자 또는 재단 시스템을 구성하는 결점 검사 장치에 의해 검사될 수 있다. 일 실시예에서, 결점(d)은 결점 검사부(400, 도 7 참조)에 의해 검사될 수 있으며, 상기 결점 검사부(400)는 화상을 통한 자동 스캐닝(scanning) 방식으로 결점(d)을 검사하도록 마련될 수 있다. 또한, 결점 검사부(400)에서 검사된 원단(10)의 결점 정보는 재단 시스템(100)의 출력부(600, 도 7 참조)를 통해 화면상으로 표시될 수 있다.
상기 결정 정보는 결점(d)의 위치(분포), 종류, 크기 및/또는 개수 등을 포함하며, 결점(d)의 위치(분포)의 경우에는, 예를 들어 직교 좌표계 상에 x-y 좌표로 재단 시스템(100)의 출력부(600)에 표시될 수 있다. 결점(d)의 검사 방법 및 표시 방법 등은 특별히 제한되지 않으며, 이들은 예를 들어 통상적인 방법으로 수행할 수 있다. 이와 같이, 원단의 결정정보에 기초하여 원단(10)의 결점 분포 지도(30)가 생성된다. 상기 원단(10)의 결점 분포 지도(30)의 생성은 재단 시스템을 구성하는 제어부를 통해 수행될 수 있다.
첨부된 도면에서, "*"은 결점(d)을 나타낸다. 원단(10)에는 위와 같은 결점(d)이 1종류 또는 서로 다른 2종류 이상이 존재할 수 있으나, 도면에서는 결점(d)의 종류를 고려하지 않고 "*"로 나타내었다.
한편, 본 문서에서, "재단"은 "슬리팅 재단" 및 "단위 재단" 중에서 선택된 하나 이상을 의미로 사용될 수 있다. 또한, 본 발명에서, 상기 "슬리팅 재단"은 원단(10)을 길이(Y) 방향으로 길게 재단하여 띠 형상의 반제품으로 재단하는 것을 의미하여, 상기 "단위 재단"은 원단(10)을 길이(Y) 방향 및 폭(X) 방향으로 재단하여 단위 제품으로 재단하는 것을 의미한다. 이때, 본 발명에서는, 상기 슬리팅 재단을 통해 얻어진 띠 형상의 반제품을 '스트립(strip)'이라 하고, 상기 단위 재단을 통해 얻어진 재단 제품을 '단품' 또는 ‘단위 제품’이라 한다.
상기 단품은 원단(10)보다 작은 길이와 폭을 가지는 낱장의 최종 제품으로서, 이는 예를 들어 사각형의 형상을 가질 수 있다. 또한, 도 2를 참조하면, 본 발명에서, 상기 스트립(11)(12)(13)은 원단(10)보다 폭이 작은 띠 형상의 반제품으로서, 이는 단위 재단을 통해 낱장의 단품으로 재단될 수 있다. 참고로, 도 2는 원단(10)을 슬리팅 재단하여 제1 스트립(11), 제2 스트립(12) 및 제3 스트립(13)으로 분할 재단하기 위한 상태를 나타낸다.
본 발명에서, 재단 방법은 특별히 제한되지 않는다. 재단 방법은 원단(10)을 적어도 하나 이상의 단품 및/또는 스트립(11)(12)(13)으로 분할 수 있는 것이면 좋다. 재단은, 예를 들어 금속 나이프, 제트 워터 나이프 및/또는 광원 등을 통해 진행될 수 있으며, 상기 광원은 레이저 빔 등을 예로 들 수 있다.
본 문서에서, "면적 수율"은 재단 후에 얻어지는 재단 제품의 총면적을 재단 전 원단(10)의 총면적으로 나누어 산출된 것을 의미한다. 면적 수율은, 통상과 같이 백분율(%)로 나타내어질 수 있다. 이때, 상기 재단 제품은 단품 및/또는 스트립(11)(12)(13)으로부터 선택된다. 그리고 상기 '재단 제품의 총면적'은 재단 제품 1개의 면적 x 생산된 재단 제품의 개수로 계산된다. 또한, “양품화율”은 재단 후에 얻어지는 재단 제품 중 양품의 총면적을 재단 전 원단(10)의 총면적으로 나누어 산출된 것을 의미한다. 양품화율은, 통상과 같이 백분율(%)로 나타내어질 수 있다. 한편, 면적 수율과 양품화율은 동일한 개념으로 사용될 수도 있다.
또한, 본 문서에서, "크기"는 원단(10)이나 재단 제품(단품 및/또는 스트립)의 폭, 길이, 면적, 및 대각선 길이 중에서 선택된 하나 이상을 의미한다.
본 발명에서, "크기"는 이하의 실시형태에서 특별히 한정하여 언급하지 않는 한 위와 같은 의미로 사용된다. 또한, 길이를 나타내는 "인치(inch)"는, 주지된 바와 같이 대각선 길이를 의미할 수 있다. 인치는, 예를 들어 제품이 편광판 등과 같이 사각형 단품인 경우에 대각선 길이를 의미할 수 있다.
도 3을 참조하면, 상기 원단(10)은 마킹부(15, marking part)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 원단(10)에는 좌측과 우측을 구분할 수 있는 하나 이상의 마킹부(15)가 형성될 수 있다. 본 문서에서, 마킹부(15)는 원단(10)의 방향을 구분할 수 있도록 마련될 수 있다. 마킹부(15)는, 구체적으로 원단(10)의 적어도 좌측과 우측을 구분할 수 있도록 마련되는 것이 바람직하다.
상기 마킹부(15)는 원단(10)의 좌측 단부(DS) 및 우측 단부(OS) 중 적어도 하나의 단부에 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 형성될 수 있다. 여기서, 각 단부(OS)(DS)는 원단(10)의 가장자리를 의미하며, 이는 예를 들어 원단(10)의 좌측이나 우측의 끝단에서부터 2cm 이내의 폭을 의미할 수 있다. 이때, 마킹부(15)의 폭은 제한되지 않는다. 예를 들어, 마킹부(15)는 0.01mm 내지 2cm, 0.02mm 내지 1.5cm, 0.1 내지 1cm, 또는 0.5mm 내지 0.5cm의 폭을 가질 수 있다. 또한, 마킹부(15)는 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 연속적 또는 불연속적으로 형성될 수 있다. 도 3에는 마킹부(15)가 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 일직선상으로 연속적으로 형성된 실시예가 도시되어 있다.
상기 마킹부(15)는 육안 및/또는 식별 장치 등에 의해 인식이 가능한 것이면 제한되지 않는다. 마킹부(15)는, 예를 들어 인쇄에 의해 형성된 인쇄부, 두께 단차에 의해 형성된 노치(notch)부, 및 천공에 의해 형성된 천공부 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 인쇄부는 색상 물질의 인쇄에 의해 마련될 수 있다. 또한, 상기 노치부는 두께 단차를 가지는 것이면 제한되지 않으며, 이는 가압에 의해 형성된 오시 처리부나 하프 커팅(half- cutting)하여 형성된 하프 커팅부 등으로부터 선택될 수 있다. 또한, 상기 천공부는 불연속적으로 형성될 수 있다.
상기 마킹부(15)는 원단(10)의 결점 검사 전에 형성되거나, 원단(10)의 결점 검사가 이루어진 후에 형성될 수 있다. 일 실시예로, 마킹부(15)는 원단(10)의 결점 검사가 이루어진 후에 형성될 수 있다.
상기 마킹부(15)는 원단(10)의 적어도 재단 생산성 등을 개선한다. 앞서 언급한 바와 같이, 일반적으로 원단(10)은 결점 검사가 이루어진 후에 풀림과 감김을 반복하면서 좌측과 우측이 계속해서 바뀔 수 있다. 이때, 마킹부(15)는 풀림과 감김의 반복에 의해 좌측과 우측이 바뀌는 경우에도 원단(10)의 방향을 구분할 수 있게 한다.
도 1 및 도 2에는 하나의 원단(10)이 도시되어 있다. 원단(10)은 띠 형상으로서, 예를 들어 롤(roll)에 권취되어 있다. 도 1및 도 2에 보인 원단(10)은 펼쳐진 모습으로서, 이는 전체 길이(Y)의 일부를 보이고 있다.
위와 같이 장폭(X)을 가지는 원단(10)에 대해서는 슬리팅 재단과 단위 재단을 순차적으로 진행하는 경우가, 단위 재단만을 진행하는 경우보다 공정 상에서 유리할 수 있다. 즉, 단위 재단에 앞서 원단(10)을 길이(Y) 방향으로 슬리팅 재단하여, 원단(10)의 폭(X)보다 작은 크기의 폭을 가지는 복수의 스트립(11)(12)(13)으로 분할하는 것이 좋다. 이후, 각 스트립(11)(12)(13)을 단위 재단으로 통해 단품으로 재단한다. 또한, 상기 분할된 각 스트립(11)(12)(13)은 롤에 권취된 후에, 수요자의 요청에 따라 단품으로 재단될 수 있다. 이때, 각각의 스트립(11)(12)(13)의 폭(Wa, Wb)은 최종 제품, 즉 단품의 크기(폭 및/또는 길이)와 동일하거나 그 이상일 수 있다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 나타내는 플로우 차트이고, 도 6은 본 발명과 관련된 재단 제품의 생산방법을 설명하기 위한 원단(10)의 개념도이다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은 원단의 길이(Y)방향에 따라 소정의 단위 길이(△y)에 대한 결점 분포 밀도(40)를 각각 산출하는 결점 분포 밀도 산출단계(S101)를 포함한다. 여기서, 결점 분포 밀도(40)는 길이방향의 단위 길이(△y)를 기준으로 원단(10)의 폭(X)방향에 걸친 결점(d)의 개수의 평균에 기초하여 산출될 수 있다. 구체적으로, 결점 분포 밀도는 단위 길이당 원단의 폭 방향에 걸친 결점의 개수에 기초하여 산출될 수 있다. 이러한 경우, 결점 분포 밀도(40)는 평균 분포 밀도라고 정의될 수도 있다. 상기 결점 분포 밀도(40)는 전술한 결점 분포 지도(30)를 기초로 산출될 수 있다.
또한, 재단 제품의 생산방법은 산출된 결점 분포 밀도(40)에 기초하여 원단의 길이(Y)방향을 따라 원단을 2개 이상의 재단 영역(10a, 10b)으로 분할하기 위한 분할위치를 선정하는 분할위치 선정단계(S102)를 포함한다.
이때, 분할된 2개 이상의 재단 영역(10a, 10b)은 재단을 위한 가상 재단선이 독립적으로 각각 결정될 수 있다.
구체적으로, 재단 제품의 생산방법은 산출된 결점 분포 밀도(40)에 기초하여, 각각의 재단 영역(10a, 10b)에 대하여 재단될 단위 제품의 크기 및 위치가 반영된 가상 재단선을 결정하는 단계를 추가로 포함할 수 있다. 여기서, 가상 재단선(20)은 전술한 바와 같이 재단 계획을 의미하는 것으로서, 가상 재단선은 복수 개의 스트립의 배열로 이루어질 수도 있고, 복수 개의 단위 제품의 배열로 이루어질 수도 있다. 또한, 가상 재단선(20)은 스트립과 단위 제품의 배열로 이루어질 수도 있다. 또한, 상기 가상 재단선(20)은 슬리팅 재단을 위한 가상 재단선(20)을 의미할 수도 있고, 단위 재단을 위한 가상 재단선을 의미할 수도 있으며, 슬리팅 재단 및 단위 재단이 동시 또는 차례로 이루어질 수 있는 가상 재단선을 의미할 수도 있다. 또한, 가상 재단선을 결정하는 단계(S102)는 단위 제품의 크기 및 재단 위치를 결정하는 단계가 지칭할 수도 있다.
일 실시예로, 가상 재단선은 소정 폭(예를 들어, WA)을 갖는 복수 개의 스트립(11 내지 13)의 배열로 이루어질 수 있다. 이때, 도 2를 참조하면, 가상 재단선(20)을 구성하는 각각의 스트립(11 내지 13)의 폭은 서로 다르게 설정될 수 있다. 이와는 다르게, 가상 재단선(20)을 구성하는 적어도 2개의 스트립(11 내지 13)의 폭은 서로 동일하게 설정될 수 있다. 이때, 가상 재단선(20)을 구성하는 각각의 스트립(21 내지 23)의 폭은 생산되는 단위 제품의 폭 또는 길이와 동일할 수 있다.
한편 원단(10)의 길이방향의 결점 분포 밀도(40)는 단위 길이(△y)당 결점(d)의 개수에 따라 산출될 수 있다. 이러한 길이방향 결점 분포 밀도(40)는 그래프 또는 테이블 형식으로 생성, 저장 및 사용될 수 있다.
한편, 원단(10)의 폭 방향의 결점 분포 밀도는 단위 폭(△x)당 결점(d)의 개수에 따라 산출될 수 있다. 이러한 폭 방향 결점 분포 밀도(50)는 그래프 또는 테이블 형식으로 생성, 저장 및 사용될 수 있다.
상기 재단 제품의 생산방법은 원단의 길이방향 결점 분포 밀도에 기초하여 원단(10)의 길이방향(Y)을 따라 원단(10)을 2개 이상의 재단 영역(10a, 10b)으로 분할할 위치를 결정할 수 있다. 일 실시태양으로, 원단의 길이방향 결점 분포 밀도(40)를 기초로 하여, 결점 분포 밀도의 차이가 큰 부분이 서로 분리되도록 2개 이상의 재단 영역을 분할할 수 있다. 즉, 길이방향을 따라 결점 분포 밀도(40)의 차이가 큰 원단을 단일의 가상 재단선을 기초로 재단하는 경우 양품화율이 오히려 떨어질 수 있다. 또한, 각각의 가상 재단선은 가상 재단에 따른 각 재단 영역의 양품화율이 최대가 되도록 결정될 수 있다.
한편, 전술한 폭 방향 결점 분포 밀도를 기초로 재단될 단위 제품의 배치를 결정할 수 있다. 폭 방향 결점 밀도 분포가 큰 영역에 상대적으로 작은 단위 제품을 배치하고, 폭 방향 결점 밀도)가 상대적으로 작은 영역에 상대적으로 큰 단위 제품을 배치함으로써 전체적인 양품화율을 향상시킬 수 있다. 즉, 결점 밀도가 높은 영역이라 함은 결점들 사이의 간격이 상대적으로 좁은 영역을 의미할 수 있으며, 이러한 영역에 큰 단위제품을 배치하게 될 경우, 불량률이 높아질 수 있다.
분할 위치 선정단계에서, 원단은 2개 내지 4개로 분할될 수 있다. 구체적으로, 복수 개의 재단 영역(10a, 10b)은 2개 내지 4개일 수 있다. 따라서, 분할 개수는 1개 내지 3개일 수 있다. 여기서 분할 개수는 분할 횟수와 동일한 의미를 나타낸다. 즉, 최적의 분할 위치를 선정함에 따라 분할 횟수를 최소화하는 것이 재단 공정 상 유리하다.
도 6을 참조하면, 결점 분포 밀도 산출단계(S101)에서, 원단(10)은 각각 원단의 폭(W)과 동일한 폭 및 상기 단위 길이(△y)를 갖는 복수 개의 서브 영역(예를 들어, A1 내지 A14)으로 구분되고, 각각의 서브 영역(A1 내지 A14)의 결점 분포 밀도가 산출될 수 있다.
여기서, 재단 제품의 생산방법은 결점 분포 밀도(40)에 따라 2개 내지 4개로 구분되는 품질 등급(예를 들어, 1등급 내지 3등급)을 각각의 서브 영역(A1 내지 A14)에 부여하는 단계를 추가로 포함할 수 있다. 이때, 결점 분포 밀도가 상대적으로 낮은 서브 영역에는 높은 품질 등급, 예를 들어 1등급이 부여되고, 결점 분포 밀도가 상대적으로 높은 서브 영역에는 낮은 품질 등급, 예를 들어 3등급이 부여되며, 결점 분포 밀도가 1등급과 3등급 사이인 서브영역에는 2등급이 부여될 수 있다.
분할 위치 선정 단계(S102)에서는 각각의 서브영역의 품질 등급에 기초하여 원단의 분할 위치가 선정될 수 있다. 즉, 품질 등급이 동일 또는 유사범위에 속하며, 인접한 서브 영역들이 하나의 재단 영역(10a)을 형성하고, 상기 재단 영역(10a)의 서브 영역들과 상이한 품질 등급을 갖는 서브 영역들이 또 다른 재단 영역(10b)을 형성할 수 있다. 한편, 분할 횟수를 최소화하기 위해서, 분할된 어느 한 재단 영역에는 적어도 2개의 서로 다른 품질 등급의 서브 영역이 위치할 수 있다. 또한, 서로 다른 품질 등급의 서브 영역들은 2등급 이상의 차이를 가질 수도 있다.
도 4 및 도 6을 참조하면, 길이가 1400m이고, 길이방향 단위 길이(△y)가 100m인 경우, 서브 영역은 14개로 구분될 수 있다. 제1 서브 영역(A1) 내지 제14 서브영역(A14)에 대한 결점 분포 밀도가 각각 산출될 수 있다. 특히, 도 6을 참조하면, 원단(10)의 길이방향의 700m 부근 영역에서 결점 분포 밀도가 급격히 증가하는 것을 확인할 수 있다. 이러한 경우 제1 재단 영역(10a)은 제1 서브 영역 내지 제6 서브 영역을 포함할 수 있고, 제2 재단 영역(10b)은 제7 서브영역 내지 제14서브 영역을 포함할 수 있다. 즉, 품질 등급이 동일 또는 유사범위에 속하며, 인접한 서브 영역들을 하나의 재단 영역(10a)으로 원단으로부터 분할시킴으로써, 상기 재단 영역(10a)의 결점 정보에 기초하여 독립적인 가상 재단선을 설정할 수 있고, 이에 따라 양품화율을 향상시킬 수 있다.
한편, 각각의 서브 영역은 동일한 단위 길이(△y)로 마련될 수 있다.
본 발명의 제2 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은 하기 수학식 1에 따라 원단(10)의 길이방향에 따른 각각의 서브영역(A1 내지 A14)의 결점 분포 밀도(40)를 각각 산출하는 결점 분포 밀도 산출단계 및 산출된 결점 분포 밀도(40)에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단(10)을 복수 개의 재단 영역(10a, 10b)으로 분할하기 위한 분할위치 및 분할개수를 선정하는 분할위치 선정단계를 포함한다. 여기서, 상기 수학식 1은 다음과 같다.
[수학식 1]
Figure pat00003
상기 식에서, i는 원단의 폭, j는 1 내지 원단의 길이를 서브 영역의 단위 길이로 나눈 값, Aj는 j번째 서브 영역의 결점 분포 밀도, n은 원단의 폭을 단위 폭으로 나눈 값, Di ,j는 j번째 서브 영역에서 원단의 폭 방향에 걸친 결점 분포 밀도, α는 1보다 큰 자연수를 나타낸다. 특히, 수학식 1에서, α가 2인 경우, 수학식 1은RMS(root mean square)와 관련된다.
도 4 및 도 6을 참조하면, 원단의 폭 i는 1490(mm)이고, 원단의 길이는 1400m이다. 이때, 길이방향의 단위 길이(△y)가 100m이고, 단위 폭(△x)이 1mm인 경우, j는 1 내지 14이고, n은 1490이 될 것이다.
이러한 경우, 원단(10)의 길이방향에 따른 각각의 서브영역(A1 내지 A14)의 폭 방향에 걸친 결점 분포 밀도(40)가 각각 산출될 수 있다.
또한, 본 발명의 제3 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은 하기 수학식 2에 따라 원단(10)의 길이방향에 따른 각각의 서브영역의 결점 분포 밀도를 각각 산출하는 결점 분포 밀도 산출단계 및 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 복수 개의 재단 영역으로 분할하기 위한 분할위치 및 분할개수를 선정하는 분할위치 선정단계를 포함한다. 여기서, 상기 수학식 2는 다음과 같다.
[수학식 2]
Figure pat00004
상기 식에서, i는 원단의 폭, j는 1 내지 원단의 길이를 서브 영역의 단위 길이로 나눈 값, Aj는 j번째 서브 영역의 결점 분포 밀도, n은 원단의 폭을 단위 폭으로 나눈 값, Di ,j는 j번째 서브 영역에서 원단의 폭 방향에 걸친 결점 분포 밀도를 나타낸다.
한편, 상기 수학식 2는 산술 평균을 구하는 식일 수 있다. 이때, 결점 분포 밀도(40)(Aj)는 길이방향의 단위 길이(△y)를 기준으로 원단(10)의 폭(X) 방향에 걸친 결점(d)의 개수의 평균에 기초하여 산출될 수 있다.
제1 실시예에서 설명한 바와 같이, 제2 및 제3 실시예에서, 분할된 2개 이상의 재단 영역은 재단을 위한 가상 재단선이 독립적으로 각각 결정될 수 있다. 또한, 분할 위치 선정단계에서, 분할개수는 2개 내지 4개일 수 있다. 또한, 상기 생산방법은 결점 분포 밀도에 따라 2개 내지 4개로 구분되는 품질 등급을 각각의 서브 영역에 부여하는 단계를 추가로 포함할 수 있고, 분할 위치 선정 단계에서는 각각의 서브영역의 품질 등급에 기초하여 원단의 분할 위치가 선정될 수 있다. 또한, 분할된 어느 한 재단 영역에는 적어도 2개의 서로 다른 품질 등급의 서브 영역이 위치할 수 있다. 또한, 각각의 가상 재단선은 각 재단 영역의 결점 정보에 기초하여 양품화율이 최대가 되도록 결정될 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 시스템(100)을 나타내는 블록 구성도이다.
상기 재단 시스템(100)은 원단의 길이방향에 따라 소정의 단위 길이에 대한 결점 분포 밀도를 각각 산출하고, 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 복수 개의 재단 영역으로 분할하기 위한 분할위치를 선정하기 위한 분할위치 선정모드를 포함한다.
도 7을 참조하면, 원단 재단 시스템(100)은 양품 산출부(200)와 재단부(300)를 포함할 수 있다. 또한, 재단 시스템(100)은 제품 정보 입력부(110) 및 원단 정보 입력부(120)를 포함할 수 있다. 또한, 재단 시스템(100)은 결점 검사부(400) 및 결점 정보 저장부(500)를 포함할 수 있다.
상기 제품 정보 입력부(110)에는 제품의 정보가 입력되어 저장된다. 이때, 상기 제품의 정보는 각 제품의 크기를 포함한다. 예를 들어, 원단(10)을 임의의 n개의 제품으로 재단 시, 상기 재단되는 n개의 각 제품에 대한 크기가 제품 정보 입력부(110)에 입력된다. 여기서, n개의 제품(n ≥ 2)은 앞서 설명한 바와 같다. 일례를 들어, 상기 재단되는 제품으로서, 크기(면적 또는 인치)가 서로 동일하거나, 다른 복수 개의 스트립 제품이 있을 때, 상기 제품 정보 입력부(110)에는 각각의 스트립 제품에 대한 크기가 입력되어 저장될 수 있다.
원단 정보 입력부(120)에는 원단(10)에 대한 원단 정보가 입력된다. 원단 정보 입력부(120)에는 원단 정보로서, 예를 들어 원단(10)의 크기가 입력될 수 있다. 구체적으로, 원단 정보 입력부(120)에는 당해 원단(10)의 폭(X) 및 길이(Y) 중에서 선택된 하나 이상이 입력될 수 있다.
상기 결점 정보 저장부(500)에는 원단(10)의 결점 정보가 입력되어 저장된다. 상기 결점 정보는 원단(10)에 존재하는 결점(d)의 분포(위치) 및/또는 결점(d)의 종류 등을 예로 들 수 있다. 상기 결점 정보는, 결점 검사부(400)에 의해 검사되어 결점 정보 저장부(500)에 입력될 수 있다. 또한, 상기 결점 정보는 출력부(600)를 통해 x-y 좌표 상으로 표시될 수 있다. 또한, 상기 결점 정보 저장부(500)에는 원단(10)의 결점 분포 지도(30)와 원단의 길이방향 및 폭 방향 중 적어도 하나의 방향에 따른 결점 분포 밀도(40)가 저장될 수 있다.
상기 양품 산출부(200)는 결점 정보 저장부(500)에 저장된 결점(d) 분포에 기초하여 양품화율, 즉 결점(d)의 분포에 따른 면적 수율을 산출한다. 상기 양품 산출부(200)는 결점(d) 분포를 고려하여 가상 재단선에 따른 양품화율을 산출한다.
상기 재단부(300)는 양품 산출부(200)에서 산출된 결과에 기초하여, 면적 수율 및 양품화율을 최대로 하는 가상 재단선을 따라 원단(10)을 재단할 수 있다. 상기 재단부(300)는 적어도 재단 장치를 포함한다. 상기 재단 장치는, 예를 들어 통상과 같이 구성될 수 있다. 상기 재단 장치는, 예를 들어 원단(10)을 지지하는 지지 수단과, 원단(10)을 재단하는 재단 수단을 포함할 수 있다. 상기 지지 수단은, 예를 들어 이송 컨베이어, 롤(roll), 및 지지 플레이트 등으로부터 선택된 하나 이상을 포함할 수 있다. 상기 재단 수단은, 예를 들어 금속 나이프, 제트 워터 나이프 및 광원(레이저 빔 조사기 등) 등으로부터 선택된 하나 이상을 포함하는 구조를 가질 수 있다. 또한, 상기 재단부(300)는 원단(10)을 길이 방향으로 슬리팅 재단하여 복수의 스트립(11)(12)(13)을 얻는 제1 재단부를 포함할 수 있다. 아울러, 상기 재단부(300)는, 상기 얻어진 복수의 스트립(11)(12)(13)을 폭 방향으로 재단하여 단위 제품을 얻는 제2 재단부를 포함할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 슬리팅 재단에서 최고의 면적 수율을 갖도록 재단할 수 있다. 본 발명은, 예를 들어 각종 디스플레이 산업, 광학 산업 및 필름 제조 산업 등과 같은 기술 분야 등에서 유용하게 적용될 수 있다.
위에서 설명된 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
10: 원단
11, 12, 13: 스트립
20: 가상 재단선
30: 결점 분포 지도
40: 결점 분포 밀도
d: 결점
100: 재단 시스템

Claims (17)

  1. 원단의 길이방향에 따라 소정의 단위 길이에 대한 결점 분포 밀도를 각각 산출하는 결점 분포 밀도 산출단계; 및
    산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 2개 이상의 재단 영역으로 분할하기 위한 분할위치를 선정하는 분할위치 선정단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    분할된 2개 이상의 재단 영역은 재단을 위한 가상 재단선이 독립적으로 각각 결정되는 재단 제품의 생산방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    분할 위치 선정단계에서, 원단은 2개 내지 4개로 분할되는 재단 제품의 생산방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    결점 분포 밀도 산출단계에서, 원단은 각각 원단의 폭과 동일한 폭 및 상기 단위 길이를 갖는 복수 개의 서브 영역으로 구분되고, 각각의 서브 영역의 결점 분포 밀도가 산출되는 재단 제품의 생산방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    결점 분포 밀도에 따라 2개 내지 4개로 구분되는 품질 등급을 각각의 서브 영역에 부여하는 단계를 추가로 포함하며,
    분할 위치 선정 단계에서는 각각의 서브영역의 품질 등급에 기초하여 원단의 분할 위치가 선정되는 재단 제품의 생산방법.
  6. 제 4 항에 있어서,
    분할된 어느 한 재단 영역에는 적어도 2개의 서로 다른 품질 등급의 서브 영역이 위치하는 재단 제품의 생산방법.
  7. 제 4 항에 있어서,
    각각의 서브 영역은 동일한 단위 길이로 마련되는 재단 제품의 생산방법.
  8. 제 1 항에 있어서,
    결점 분포 밀도는 단위 길이당 원단의 폭 방향에 걸친 결점의 개수에 기초하여 산출됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법.
  9. 하기 수학식 1에 따라 원단의 길이방향에 따른 각각의 서브영역의 결점 분포 밀도를 각각 산출하는 결점 분포 밀도 산출단계; 및
    산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 복수 개의 재단 영역으로 분할하기 위한 분할위치 및 분할개수를 선정하는 분할위치 선정단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법.
    [수학식 1]
    Figure pat00005

    상기 식에서, i는 원단의 폭, j는 1 내지 원단의 길이를 서브 영역의 단위 길이로 나눈 값, Aj는 j번째 서브 영역의 결점 분포 밀도, n은 원단의 폭을 단위 폭으로 나눈 값, Di ,j는 j번째 서브 영역에서 원단의 폭 방향에 걸친 결점 분포 밀도, α는 1보다 큰 자연수를 나타낸다.
  10. 하기 수학식 2에 따라 원단의 길이방향에 따른 각각의 서브영역의 결점 분포 밀도를 각각 산출하는 결점 분포 밀도 산출단계; 및
    산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 복수 개의 재단 영역으로 분할하기 위한 분할위치 및 분할개수를 선정하는 분할위치 선정단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법.
    [수학식 2]
    Figure pat00006

    상기 식에서, i는 원단의 폭, j는 1 내지 원단의 길이를 서브 영역의 단위 길이로 나눈 값, Aj는 j번째 서브 영역의 결점 분포 밀도, n은 원단의 폭을 단위 폭으로 나눈 값, Di ,j는 j번째 서브 영역에서 원단의 폭 방향에 걸친 결점 분포 밀도를 나타낸다.
  11. 제 9 항 또는 제10항에 있어서,
    분할된 2개 이상의 재단 영역은 재단을 위한 가상 재단선이 독립적으로 각각 결정되는 재단 제품의 생산방법.
  12. 제 9 항 또는 제10항에 있어서,
    분할 위치 선정단계에서, 분할개수는 2개 내지 4개인 재단 제품의 생산방법.
  13. 제 9 항 또는 제10항에 있어서,
    결점 분포 밀도에 따라 2개 내지 4개로 구분되는 품질 등급을 각각의 서브 영역에 부여하는 단계를 추가로 포함하며,
    분할 위치 선정 단계에서는 각각의 서브영역의 품질 등급에 기초하여 원단의 분할 위치가 선정되는 재단 제품의 생산방법.
  14. 제 13 항에 있어서,
    분할된 어느 한 재단 영역에는 적어도 2개의 서로 다른 품질 등급의 서브 영역이 위치하는 재단 제품의 생산방법.
  15. 원단의 길이방향에 따라 소정의 단위 길이에 대한 결점 분포 밀도를 각각 산출하고, 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 복수 개의 재단 영역으로 분할하기 위한 분할위치를 선정하기 위한 분할위치 선정모드를 포함하는 재단 시스템.
  16. 제 15 항에 있어서,
    분할된 복수 개의 재단 영역에 대하여 재단을 위한 가상 재단선이 독립적으로 각각 결정되기 위한 가상 재단선 결정모드를 추가로 포함하는 재단 시스템.
  17. 제 16 항에 있어서,
    각각의 가상 재단선은 각 재단 영역의 결점 정보에 기초하여 양품화율이 최대가 되도록 결정되는 재단 시스템.
KR1020150001004A 2015-01-06 2015-01-06 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템 KR20160084601A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150001004A KR20160084601A (ko) 2015-01-06 2015-01-06 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150001004A KR20160084601A (ko) 2015-01-06 2015-01-06 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20160084601A true KR20160084601A (ko) 2016-07-14

Family

ID=56499124

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150001004A KR20160084601A (ko) 2015-01-06 2015-01-06 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20160084601A (ko)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20080033863A (ko) 2006-10-11 2008-04-17 닛토덴코 가부시키가이샤 광학 필름을 갖는 시트상 제품의 결점 검사 장치, 그 검사데이터 처리 장치, 그 절단 장치 및 그 제조 시스템
KR101179071B1 (ko) 2009-03-10 2012-09-03 주식회사 엘지화학 사각형 단위체의 제조방법
KR101315102B1 (ko) 2011-07-25 2013-10-07 동우 화인켐 주식회사 필름의 수율 예측 시스템 및 방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20080033863A (ko) 2006-10-11 2008-04-17 닛토덴코 가부시키가이샤 광학 필름을 갖는 시트상 제품의 결점 검사 장치, 그 검사데이터 처리 장치, 그 절단 장치 및 그 제조 시스템
KR101179071B1 (ko) 2009-03-10 2012-09-03 주식회사 엘지화학 사각형 단위체의 제조방법
KR101315102B1 (ko) 2011-07-25 2013-10-07 동우 화인켐 주식회사 필름의 수율 예측 시스템 및 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5436583B2 (ja) 四角形ユニット片の製造方法
JP5519330B2 (ja) 切断情報決定方法、並びに、これを用いた帯状偏光シートの製造方法、光学表示ユニットの製造方法、帯状偏光シート及び偏光シート原反
KR101717857B1 (ko) 재단 제품의 생산방법 및 생산 시스템
KR101688737B1 (ko) 재단 제품의 생산방법 및 생산 시스템
KR101746294B1 (ko) 재단 제품의 생산방법 및 생산 시스템
JP6069842B2 (ja) 光学フィルムチップの切り出し装置、光学フィルムチップの製造システム及び光学フィルムチップの切り出し方法
KR20160084601A (ko) 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템
KR101717846B1 (ko) 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템
KR102006379B1 (ko) 재단 제품의 생산방법
KR102006380B1 (ko) 재단 제품의 생산 시스템
KR102191619B1 (ko) 재단 제품의 생산방법
KR102562389B1 (ko) 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템
TW201707905A (zh) 切出產品的製造方法及切出產品的製造計畫系統
KR101977798B1 (ko) 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템
KR20160037448A (ko) 재단 제품의 생산 방법 및 시스템
KR102056594B1 (ko) 재단 제품의 생산방법
CN106239589B (zh) 一种纸板分切机排单控制方法
WO2016072759A1 (ko) 재단 제품의 생산방법 및 생산 시스템
WO2016064135A1 (ko) 재단 제품의 생산방법 및 생산 시스템
WO2016013833A1 (ko) 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템
KR20240020115A (ko) 비젼 제어를 통한 최적화 프레스 재단 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application