CN102901734A - 薄膜成品率预测系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种薄膜成品率预测系统以及方法，其用于对在制造光学薄膜时产生的缺陷进行检测以算出产品的预期成品率。本发明涉及的成品率预测系统包含：第一检查部，其在光学薄膜的制造工序中，对执行特定步骤中的光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第一缺陷数据；第二检查部，其对执行区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤中的所述光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第二缺陷数据；数据合并部，其合并所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据；以及成品率预测部，其根据由所述数据合并部合并得到的缺陷数据，算出基于所述光学薄膜的预期切削位置和切削尺寸的所述光学薄膜的预期成品率。

Description

薄膜成品率预测系统及方法

技术领域

本发明涉及一种用于对在制造光学薄膜时产生的缺陷进行检测并由此算出产品的预期成品率的薄膜成品率预测系统以及方法。 

背景技术

光学薄膜是用于制造液晶显示装置（LCD，Liquid Crystal Display）的薄膜，是用于统称偏振光薄膜、漫射薄膜、反射薄膜、棱镜薄膜等的术语。这种光学薄膜通常以卷绕在辊（roll）上的方式制造，之后，将卷绕在辊上的薄膜按用户所期望的尺寸切削并提供给用户。此时，在薄膜产生缺陷的情况下，该部分在验收过程中被废弃，这种缺陷的个数和产生位置成为决定光学薄膜成品率的重要因素。 

为了确认这种光学产品的缺陷，在制造光学薄膜的行业中，一般使用在线自动光学检查系统。在线自动光学检查机在产生缺陷的位置用墨水或者条形码等进行标记，由此在后续工序中将标记过的部位废弃或者对该标记过的部位执行追加检查。 

然而，以往的在线自动光学检查系统那样的设备等仅辨别缺陷的存在及其位置，而无法预测偏振光薄膜成品率。由此，需要用于在光学薄膜坯料的产品化之前预测基于产品尺寸或者切削位置的成品率的系统。 

发明内容

本发明的目的在于提供一种薄膜成品率预测系统以及方法，其用于对在制造光学薄膜时产生的缺陷进行检测并由此算出产品的预期成品率。 

1．一种光学薄膜成品率预测系统，具备：第一检查部，其在光学薄膜的制造工序中，对在执行特定步骤中的光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第一缺陷数据；第二检查部，其对执行区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤中的所述光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第二缺陷数据；数据合并部，其合并所述第一缺陷数据和 所述第二缺陷数据；以及成品率预测部，其根据由所述数据合并部合并得到的缺陷数据，算出基于所述光学薄膜的预期切削位置和切削尺寸的所述光学薄膜的预期成品率。 

2．一种成品率预测系统，在上述1中，所述第一检查部和所述第二检查部从所述光学薄膜的上表面拍摄所述光学薄膜的图像，根据拍摄得到的所述图像来生成所述缺陷数据。 

3．一种成品率预测系统，在上述1中，所述数据合并部将所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据的位置坐标进行比较来算出所述第一缺陷数据的校正坐标，在根据算出的所述校正坐标来校正了其位置的所述第一缺陷数据中除去存在于与所述第二缺陷数据相同位置的缺陷，并结合剩余的第一缺陷数据与所述第二缺陷数据，由此合并所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据。 

4．一种成品率预测系统，在上述3中，所述数据合并部以所述第一缺陷数据内包含的缺陷以及所述第二缺陷数据内包含的缺陷中重复缺陷的数量变得最大的方式算出所述第一缺陷数据的校正坐标。 

5．一种成品率预测系统，在上述1中，还具备接缝缺陷排除部，该接缝缺陷排除部从所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据中排除接缝缺陷。 

6．一种成品率预测系统，在上述5中，当所述接缝缺陷排除部在所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据内包含的缺陷中，在与所述光学薄膜的长边方向垂直的方向上识别出既定个数以上的缺陷的情况下，将该缺陷识别为接缝缺陷而予以排除。 

7．一种成品率预测系统，在上述1中，所述成品率预测部对按所述光学薄膜的预期切削位置以及切削得到的薄膜的尺寸来切削得到的各薄膜是否存在缺陷进行判断，根据切削得到的薄膜的个数以及切削得到的薄膜中存在缺陷的薄膜的个数来算出所述光学薄膜的预期成品率。 

8．一种成品率预测系统，在上述1中，所述光学薄膜的制造工序中的特定步骤是对所述光学薄膜涂敷粘合剂或者粘接剂之前的步骤，区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤是对所述光学薄膜涂敷所述粘合剂或者粘接剂之后的步骤。 

9．一种成品率预测系统，在上述1中，所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据还包含分别独立地检测出的缺陷的明亮度和尺寸。 

10．一种光学薄膜成品率预测方法，包含以下步骤：在光学薄膜的制造工 序中，对执行特定步骤中的光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第一缺陷数据；对执行区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤中的所述光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第二缺陷数据；合并所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据；以及根据由所述合并步骤合并得到的缺陷数据，算出基于所述光学薄膜的预期切削位置和切削尺寸的所述光学薄膜的预期成品率。 

11．一种成品率预测方法，在上述10中，在所述第一缺陷数据的生成步骤和所述第二缺陷数据的生成步骤中，从所述光学薄膜的上表面拍摄所述光学薄膜的图像，根据拍摄得到的所述图像来生成所述缺陷数据。 

12．一种成品率预测方法，在上述10中，所述合并步骤包含以下步骤：将所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据的位置坐标进行比较来算出所述第一缺陷数据的校正坐标；根据算出的所述校正坐标来对所述第一缺陷数据的位置进行校正；以及在位置校正过的所述第一缺陷数据中除去存在于与所述第二缺陷数据相同位置的缺陷，并结合剩余的第一缺陷数据与所述第二缺陷数据。 

13．一种成品率预测方法，在上述12中，所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据还包含分别独立地检测出的缺陷的明亮度和尺寸。 

14．一种成品率预测方法，在上述13中，所述第一缺陷数据的校正坐标的算出步骤包含以下步骤：第一步骤，从所述第一缺陷数据中选择具有在既定值以上的明亮度和尺寸的缺陷作为代表缺陷；第二步骤，选择所述代表缺陷中的一个缺陷；第三步骤，从所述第二缺陷数据中选择具有与在所述第二步骤中选择的缺陷相同明亮度和尺寸的缺陷；第四步骤，算出在所述第二步骤中选择的缺陷以及在所述第三步骤中选择的缺陷的位置的差值，以算出的位置的差值来校正所述代表缺陷位置；第五步骤，算出在所述第四步骤中校正过的所述代表缺陷中与所述第二缺陷数据重复的缺陷的个数；以及第六步骤，分别对在所述第一步骤中选择的代表缺陷反复执行所述第二步骤至第五步骤，将在所述第五步骤中重复的缺陷的个数最多的代表缺陷的位置的差值选择为所述校正坐标。 

15．一种成品率预测方法，在上述10中，还包含以下步骤：在执行所述合并步骤之前，从所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据中排除接缝缺陷。 

16．一种成品率预测方法，在上述15中，在所述接缝缺陷排除步骤中，当在所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据内包含的缺陷中，在与所述光学薄膜的长边方向垂直的方向上识别出既定个数以上的缺陷的情况下，将该缺陷识别 为接缝缺陷而予以排除。 

17．一种成品率预测方法，在上述10中，所述光学薄膜的制造工序中的特定步骤是对所述光学薄膜涂敷粘合剂或者粘接剂之前的步骤，区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤是对所述光学薄膜涂敷所述粘合剂或者粘接剂之后的步骤。 

18．一种计算机可读取的记录介质，记录了用于在计算机上执行所述10至17中的任一项所述方法的程序。 

根据本发明，在执行以卷筒方式制造的光学薄膜的后续工序之前，能够正确地判断基于光学薄膜的切削位置和尺寸的预期成品率。另外，由此能够使用最佳切削位置和尺寸来切削光学薄膜而制造片型薄膜，因此具有能够缩减光学薄膜的制造单价这种优点。 

附图说明

图1是表示本发明一个实施方式的光学薄膜的层叠结构的图。 

图2是用于说明本发明一个实施方式的光学薄膜成品率预测系统的框图。 

图3是用于说明本发明一个实施方式中在接缝缺陷排除部排除接缝缺陷的过程的图。 

图4是表示本发明一个实施方式中在数据合并部计算校正坐标的方法的流程图。 

图5是例示第一缺陷数据、第二缺陷数据以及在数据合并部合并得到的数据的图。 

图6A是用于说明成品率预测部模拟基于切削位置的成品率预测的图。 

图6B是用于说明成品率预测部模拟基于切削位置的成品率预测的图。 

图6C是用于说明成品率预测部模拟基于切削位置的成品率预测的图。 

图7A是用于说明成品率预测部模拟基于切削尺寸的成品率预测的图。 

图7B是用于说明成品率预测部模拟基于切削尺寸的成品率预测的图。 

图8是表示本发明一个实施方式的成品率预测系统的图。 

附图标记说明： 

100：成品率预测系统；102：第一检查部；104：第二检查部；106：接缝缺陷排除部；108：数据合并部；110：成品率预测部。 

具体实施方式

下面，参照附图说明本发明的具体实施方式。然而，这仅仅是例示，本发明并不限定于此。 

在说明本发明时，针对本发明涉及的公知技术的具体说明在判断为可脱离本发明的宗旨的情况下，省略其详细的说明。并且，后述的术语等是考虑本发明的功能来定义的，该术语根据用户、使用者的意图或者惯例等可能发生变化。因此，应当根据本说明书整体的内容来定义。 

本发明的技术思想是根据权利要求的范围来决定的，以下实施方式仅是用于向本发明所属技术领域中具有一般知识的人具体说明本发明的技术思想的一个方法。 

在说明本发明的实施方式等之前，首先简单说明一般的光学薄膜的结构以及制造工序。 

图1是表示本发明一个实施方式的光学薄膜的层叠结构的图。如图1所示，本发明一个实施方式的光学薄膜包含偏振镜、在所述偏振镜的两面上层叠的偏振镜保护层、在上侧偏振镜保护层的上表面层叠的隔膜、以及在下侧偏振镜保护层的下表面层叠的保护薄膜。 

如下说明具有这种层叠结构的光学薄膜的制造工序。首先，使实施了染色、交联以及延伸处理的聚乙烯醇（PVA）薄膜干燥而得到偏振镜。接着，在制造出的所述偏振镜的两面使用粘接剂，并附着三乙酰纤维素（TAC）薄膜而制造偏振片。其后，在制造出的偏振片的一面上使用粘合剂来附着隔膜（SP Film），在相反面上附着保护薄膜（PF Film）。 

这样，用于制造光学薄膜的各光学薄膜元件等、即PVA薄膜、TAC薄膜、隔膜、保护薄膜等为带状的薄片状产品，被卷绕在辊（roll）上提供给各工序，制造出的光学薄膜也被卷绕在辊上而提供给后续工序。 

其后，在后续工序中，引出辊状卷绕的所述光学片而切削成规定尺寸的薄片状产品，并将切削得到的薄片中产生缺陷的薄片除去后出厂。 

图2是用于说明本发明一个实施方式的光学薄膜成品率预测系统200的框图。本发明一个实施方式的成品率预测系统200构成如下：在所述光学薄膜的制造工序中，对制造过程中的光学薄膜的缺陷（或者缺点）进行检测，利用检测出的缺陷位置信息，在执行后续工序之前算出基于制造出的光学薄膜的切削位置和尺寸的预期成品率，由此能够算出能得到最高成品率的切削位置和尺寸。 

如图2所示，本发明一个实施方式的成品率预测系统200具备第一检查部202、第二检查部204、接缝缺陷排除部206、数据合并部208、以及成品率预测部210。 

第一检查部202和第二检查部204对制造过程中的光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷位置、明亮度以及尺寸信息的缺陷数据。为了进行区别，由第一检查部202生成的缺陷数据称为第一缺陷数据，由第二检查部204生成的缺陷数据称为第二缺陷数据。 

可以将第一检查部202和第二检查部204分别配置成分别位于光学薄膜的制造工序中相互不同的步骤。例如，如图1示出的实施方式那样，第一检查部202能够从粘接TAC薄膜之后，并在涂敷用于粘接隔膜、保护薄膜的粘合剂之前的光学薄膜收集缺陷数据（未涂敷检查机），第二检查部204能够从涂敷粘合剂之后的光学薄膜收集缺陷数据（涂敷检查机）。但是，这仅是例示，只要第一检查部202和第二检查部204位于适合对光学薄膜制造工序中产生的光学薄膜的缺陷进行识别的位置，在工序中能够存在于任一处。 

这样，将第一检查部202和第二检查部204构成为使它们位于相互不同的工序步骤的理由在于，提高存在于光学薄膜中的缺陷的识别率。例如，有时在粘接隔膜和保护薄膜之前能够易于识别的缺陷在粘接隔膜和保护薄膜之后难以清楚地识别，相反，还可能存在在粘接隔膜和保护薄膜的工序中新产生的缺陷。因此，在仅具备第一检查部202和第二检查部204中的一个的情况下，对存在于光学薄膜的缺陷进行检测的概率变得相对低。由此，本发明构成为，利用第一检查部202和第二检查部204，按照各制造工序来独立识别光学薄膜上的缺陷，并在后述数据合并部208对独立识别的缺陷进行合并，由此，能够无遗漏地识别存在于光学薄膜的缺陷。 

第一检查部202和第二检查部204能够如下构成：具备配置在所述光学薄膜上表面的多个照相机模块，使用所述照相机模块来拍摄光学薄膜，并能够从拍摄得到的图像中检测薄膜上的缺陷。因此，构成为以光学薄膜为基准能够在设置所述照相机模块一面的相反面上具备光源202a、204a，照相机模块能够对从所述光源202a、204a发出并透射所述光学薄膜的光进行拍摄。在该情况下，当光学薄膜存在缺陷时，该部分的光的透射度较低，因此能够易于识别光学薄膜上的缺陷。 

接缝缺陷排除部206从所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据中排除接缝 缺陷。在光学薄膜的生产工序中，在TAC薄膜、隔膜、保护薄膜中的任一个薄膜被耗尽的情况下，需要进行将现有薄膜的结尾部分与新提供的薄膜的开始部分相互粘贴的作业。在该情况下，各薄膜的接缝部分在第一检查部202和第二检查部204中识别为缺陷，具体地说，如图3的左侧图所示，识别为在与光学薄膜的长边方向（图中Z方向）垂直的方向上连续产生缺陷（在图中表示为A的部分）。 

这样，在产生接缝缺陷的情况下，在后述的数据合并部208对第一缺陷数据与第二缺陷数据进行合并时产生错误的可能性变得非常高。数据合并部208利用第一缺陷数据和第二缺陷数据共同表示的缺陷坐标来执行数据合并，但是在产生接缝缺陷的情况下，有可能将相互不同的接缝部分作为相同区域而错误判断。因此，接缝缺陷排除部206通过排除第一缺陷数据和第二缺陷数据中的接缝缺陷，防止在数据合并部208中有可能产生的合并错误。具体地说，接缝缺陷排除部206构成为：当在所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据内包含的缺陷中，在与所述光学薄膜的长边方向（Z方向）垂直的方向上识别出已经设定的个数以上的缺陷的情况下，能够将该缺陷识别为接缝缺陷而予以排除。图3是用于说明这种接缝缺陷排除部206中的接缝缺陷排除过程的图，左侧图示出排除接缝缺陷（A部分）之前的情况，右侧图示出排除接缝缺陷之后的情况。另外，在所述第一缺陷数据和第二缺陷数据中不存在接缝部分的情况下，能够省略接缝缺陷排除部206。 

数据合并部208对所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据进行合并。光学薄膜中产生的缺陷能够划分为仅记录到第一缺陷数据的缺陷、仅记录到第二缺陷数据的缺陷、以及第一缺陷数据和第二缺陷数据中共同记录的缺陷。数据合并部208从记录到所述第一缺陷数据和第二缺陷数据的数据中排除重复的数据，将两份数据合并为一份数据，由此生成包含从光学薄膜中识别出的所有缺陷数据的一份缺陷数据。 

具体地说，数据合并部208将所述第一缺陷数据与所述第二缺陷数据的位置坐标进行比较来算出所述第一缺陷数据的校正坐标，利用算出的所述校正坐标来校正其位置，从校正后的所述第一缺陷数据中除去存在于与所述第二缺陷数据相同位置的缺陷，并将剩余的第一缺陷数据与所述第二缺陷数据进行结合，由此对所述第一缺陷数据与所述第二缺陷数据进行合并。即，即使是同一缺陷，也因第一检查部202、第二检查部204以及光学薄膜的相对位置，而可能判断是 在第一检查部202和第二检查部204中存在于相互不同的位置的缺陷。因此，数据合并部208利用第一缺陷数据和第二缺陷数据共同记录的缺陷位置的差来算出校正坐标，并利用该校正坐标对第一缺陷数据的位置坐标进行校正，以使得同一缺陷在第一缺陷数据和第二缺陷数据上存在于相同位置。在所述实施方式中，记载为校正第一缺陷数据的位置，但是这仅仅是例示，相反，显而易见，还能够校正第二缺陷数据的位置而使其与第一缺陷数据一致。 

下面，说明算出所述校正坐标的方法。 

图4是表示本发明一个实施方式的数据合并部208计算校正坐标的方法400的流程图。在本发明中，以所述第一缺陷数据内包含的缺陷以及所述第二缺陷数据内包含的缺陷中重复的缺陷数量变得最大的方式算出校正坐标。 

首先，从第一缺陷数据（或者第二缺陷数据）中选择规定个数的代表缺陷（402）。此时，所述代表缺陷有可能是在所述第一缺陷数据（第二缺陷数据）中记录的缺陷中具有已经设定的值以上的明亮度和尺寸的缺陷。这种缺陷等相对易于识别，因此在第一缺陷数据和第二缺陷数据中都包括的可能性高。 

接着，从所选择的所述代表缺陷中选择一个缺陷（404），从所述第二缺陷数据（第一缺陷数据）中选择与所选择的缺陷对应的缺陷、即具有与所选择的缺陷相同明亮度和尺寸的缺陷（406）。此时，具有与所选择的缺陷“相同”明亮度和尺寸的缺陷不仅是具有与所选择的缺陷完全相同的明亮度和尺寸的缺陷，还包含存在于规定误差范围内的缺陷。即，即使是同一缺陷，因设备的误差等也可能将其尺寸或者明亮度识别为不同，因此鉴于这一点选择对应的缺陷。 

接着，算出在所述步骤404中选择的缺陷以及在所述步骤406中选择的缺陷的位置的差值（408），以计算出的位置的差值校正所述代表缺陷内包含的缺陷等的位置之后（410），算出在所述步骤410中校正的所述代表缺陷中与所述第二缺陷数据（第一缺陷数据）重复的缺陷个数（412）。 

其后，分别对在所述步骤402中选择的代表缺陷反复执行所述步骤404至412，将与所述第二缺陷数据（第一缺陷数据）重复的缺陷个数最多的代表缺陷的位置的差值选择为所述校正坐标（416）。 

图5是例示第一缺陷数据、第二缺陷数据以及在数据合并部208合并得到的数据的图。 

成品率预测部210根据在数据合并部208合并得到的缺陷数据，算出基于所述光学薄膜的预期切削位置和切削尺寸的所述光学薄膜的预期成品率。 

具体地说，成品率预测部210基于已经设定的切削位置和切削大小，模拟光学薄膜的切削，算出包含在合并得到的所述缺陷数据内的缺陷是否包含在切削的薄膜中的哪一个薄膜中。 

图6是用于说明在成品率预测部210模拟基于切削位置的成品率预测的图，图6A示出以薄膜的行进方向为基准向左方向倾斜、并以四角形片方式切断薄膜的情况，图6B示出以薄膜的中央为基准切断薄膜的情况，图6C示出向右方向倾斜而切断薄膜的情况。在图中用点表示的部分是表示薄膜缺陷的部分。 

根据图可知，在图6A的情况下，18个薄片中存在缺陷的薄片有8个，在图6B的情况下有9个，在图6C的情况下有6个。由此，当分别算出成品率时，在图6A的情况下，为10/18=55％，在图6B的情况下，为9/18=50％，在图6C的情况下，为12/18=66％。因此，可知在以图6的方式分布缺陷的情况下，如图6C所示那样切断薄膜在成品率方面是有利的。 

图7是用于说明在成品率预测部210模拟基于切削尺寸的成品率预测的图，图7A示出以较小尺寸切断薄膜的示例，图7B示出以较大尺寸切断薄膜的示例。当以与图6相同的方式预测各种情况的成品率时，在图7A的情况下为9/18=50％，在图7B的情况下为4/10=40％。因此，可知在该情况下，按图7A的尺寸切削在成品率方面是有利的。 

成品率预测部210模拟基于如上已经设定的薄膜切削位置和切削尺寸的成品率预测，并将各种情况下算出的预期成品率显示给用户。并且，用户确认所算出的预期成品率而选择能得到最高成品率的切削位置和尺寸，从而执行后续工序。 

图8是表示本发明一个实施方式的成品率预测方法（800）的流程图。 

首先，在光学薄膜的制造工序中，对执行特定步骤过程中的光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷位置、明亮度和尺寸的第一缺陷数据（802）。 

接着，对执行区别于所述特定步骤的所述制造工序中的其它步骤过程中的所述光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷位置、明亮度和尺寸的第二缺陷数据（804）。 

如上所述，在所述步骤802和步骤804中，能够从所述光学薄膜的上表面拍摄所述光学薄膜的图像，从拍摄得到的所述图像生成所述缺陷数据。 

接着，在所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据中存在接缝缺陷的情况下， 排除接缝缺陷（806），合并排除了接缝缺陷的所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据（808）。 

此时，在所述步骤806中，当在所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据内包含的缺陷中，在与所述光学薄膜的长边方向垂直的方向上识别出已经设定的个数以上的缺陷的情况下，能够将该缺陷识别为接缝缺陷而予以排除。 

另外，如下构成所述步骤808：将所述第一缺陷数据与所述第二缺陷数据的位置坐标进行比较而算出所述第一缺陷数据的校正坐标，在根据算出的所述校正坐标来对所述第一缺陷数据的位置进行校正之后，将位置校正过的所述第一缺陷数据中的、除了存在于与所述第二缺陷数据相同位置的缺陷以外的所述第一缺陷数据与所述第二缺陷数据进行结合。 

其后，根据合并得到的缺陷数据，算出基于所述光学薄膜的预期切削位置和切削尺寸的所述光学薄膜的预期成品率（810）。 

另一方面，在本发明的实施方式中能够包含计算机可读取的记录介质，该计算机可读取的记录介质包含用于在计算机上执行本说明书所述的方法等的程序。所述计算机可读取的记录介质能够单独或者组合包含程序指令、本地数据文件、本地数据结构等。所述介质可以是针对本发明特别设计而构成的，或者也可以是具有计算机软件领域的常识的人所公知而使用的。作为计算机可读取的记录介质的示例，包含硬盘、软盘和磁带之类的磁介质、CD-ROM、DVD之类的光记录介质、软盘之类的磁-光介质、以及ROM、RAM、闪存之类的以存储并执行程序指令的方式特别构成的硬件装置。作为程序指令的示例，不仅能包含通过编译程序生成的机械语言代码，还包含能使用解释程序等由计算机执行的高级语言代码。 

以上，根据代表性实施方式详细地说明了本发明，但是应该理解为具有本发明所属技术领域常识的人在不脱离本发明范畴的范围内能够对所述实施方式进行各种变形。 

因而，本发明的权利要求范围并不限定于说明的实施方式，应当由后述的权利要求书和与该权利要求书均等的实施方式等确定。 

Claims (18)

1.一种光学薄膜成品率预测系统，具备：

第一检查部，其在光学薄膜的制造工序中，对执行特定步骤中的光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第一缺陷数据；

第二检查部，其对执行区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤中的所述光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第二缺陷数据；

数据合并部，其合并所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据；以及

成品率预测部，其根据由所述数据合并部合并得到的缺陷数据，算出基于所述光学薄膜的预期切削位置和切削尺寸的所述光学薄膜的预期成品率。

2.根据权利要求1所述的成品率预测系统，其特征在于，

所述第一检查部和所述第二检查部从所述光学薄膜的上表面拍摄所述光学薄膜的图像，根据拍摄得到的所述图像来生成所述缺陷数据。

3.根据权利要求1所述的成品率预测系统，其特征在于，

所述数据合并部将所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据的位置坐标进行比较来算出所述第一缺陷数据的校正坐标，在根据算出的所述校正坐标来校正其位置的所述第一缺陷数据中除去存在于与所述第二缺陷数据相同位置的缺陷，并结合剩余的第一缺陷数据与所述第二缺陷数据，由此合并所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据。

4.根据权利要求3所述的成品率预测系统，其特征在于，

所述数据合并部以所述第一缺陷数据内包含的缺陷以及所述第二缺陷数据内包含的缺陷中重复缺陷的数量变得最大的方式算出所述第一缺陷数据的校正坐标。

5.根据权利要求1所述的成品率预测系统，其特征在于，

还具备接缝缺陷排除部，该接缝缺陷排除部从所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据中排除接缝缺陷。

6.根据权利要求5所述的成品率预测系统，其特征在于，

当所述接缝缺陷排除部在所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据内包含的缺陷中，在与所述光学薄膜的长边方向垂直的方向上识别出既定个数以上的缺陷的情况下，将该缺陷识别为接缝缺陷而予以排除。

7.根据权利要求1所述的成品率预测系统，其特征在于，

所述成品率预测部对按所述光学薄膜的预期切削位置以及切削得到的薄膜的尺寸来切削得到的各薄膜是否存在缺陷进行判断，根据切削得到的薄膜的个数以及切削得到的薄膜中存在缺陷的薄膜的个数来算出所述光学薄膜的预期成品率。

8.根据权利要求1所述的成品率预测系统，其特征在于，

所述光学薄膜的制造工序中的特定步骤是对所述光学薄膜涂敷粘合剂或者粘接剂之前的步骤，区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤是对所述光学薄膜涂敷所述粘合剂或者粘接剂之后的步骤。

9.根据权利要求1所述的成品率预测系统，其特征在于，

所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据还包含分别独立地检测出的缺陷的明亮度和尺寸。

10.一种光学薄膜成品率预测方法，包含以下步骤：

在光学薄膜的制造工序中，对执行特定步骤中的光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第一缺陷数据；

对执行区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤中的所述光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第二缺陷数据；

合并所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据；以及

根据由所述合并步骤合并得到的缺陷数据，算出基于所述光学薄膜的预期切削位置和切削尺寸的所述光学薄膜的预期成品率。

11.根据权利要求10所述的成品率预测方法，其特征在于，

在所述第一缺陷数据的生成步骤和所述第二缺陷数据的生成步骤中，从所述光学薄膜的上表面拍摄所述光学薄膜的图像，根据拍摄得到的所述图像来生成所述缺陷数据。

12.根据权利要求10所述的成品率预测方法，其特征在于，

所述合并步骤包含以下步骤：

将所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据的位置坐标进行比较来算出所述第一缺陷数据的校正坐标；

根据算出的所述校正坐标来对所述第一缺陷数据的位置进行校正；以及

在位置校正过的所述第一缺陷数据中除去存在于与所述第二缺陷数据相同位置的缺陷，并结合剩余的第一缺陷数据与所述第二缺陷数据。

13.根据权利要求12所述的成品率预测方法，其特征在于，

所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据还包含分别独立地检测出的缺陷的明亮度和尺寸。

14.根据权利要求13所述的成品率预测方法，其特征在于，

所述第一缺陷数据的校正坐标的算出步骤包含以下步骤：

第一步骤，从所述第一缺陷数据中选择具有既定值以上的明亮度和尺寸的缺陷作为代表缺陷；

第二步骤，选择所述代表缺陷中的一个缺陷；

第三步骤，从所述第二缺陷数据中选择具有与在所述第二步骤中选择的缺陷相同明亮度和尺寸的缺陷；

第四步骤，算出在所述第二步骤中选择的缺陷以及在所述第三步骤中选择的缺陷的位置的差值，以所算出的位置的差值来校正所述代表缺陷的位置；

第五步骤，算出在所述第四步骤中校正过的所述代表缺陷中与所述第二缺陷数据重复的缺陷的个数；以及

第六步骤，分别对在所述第一步骤中选择的代表缺陷反复执行所述第二步骤至第五步骤，将在所述第五步骤中重复的缺陷的个数最多的代表缺陷的位置的差值选定为所述校正坐标。

15.根据权利要求10所述的成品率预测方法，其特征在于，

还包含以下步骤：在执行所述合并步骤之前，从所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据中排除接缝缺陷。

16.根据权利要求15所述的成品率预测方法，其特征在于，

在所述接缝缺陷排除步骤中，当在所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据内包含的缺陷中，在与所述光学薄膜的长边方向垂直的方向上识别出既定个数以上的缺陷的情况下，将该缺陷识别为接缝缺陷而予以排除。

17.根据权利要求10所述的成品率预测方法，其特征在于，

所述光学薄膜的制造工序中的特定步骤是对所述光学薄膜涂敷粘合剂或者粘接剂之前的步骤，区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤是对所述光学薄膜涂敷所述粘合剂或者粘接剂之后的步骤。

18.一种计算机可读取的记录介质，记录了用于在计算机上执行权利要求10至17中的任一项所述方法的程序。

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