TW201641930A - 光學膜檢測裝置及光學膜檢測方法 - Google Patents

Abstract

一種光學膜檢測裝置及光學膜檢測方法。光學膜檢測裝置包括一輸送系統、一噴印器、一裁切器、一影像擷取器以及一影像判定系統。輸送系統用以承載並輸送一光學膜，噴印器用以噴印一矢印圖案於光學膜上。裁切器用以裁切光學膜。影像擷取器設置於噴印器與裁切器之間，影像擷取器擷取光學膜的一影像。影像判定系統判定影像是否具有一矢印圖案異常。

Description

光學膜檢測裝置及光學膜檢測方法

本揭露內容是有關於一種光學膜檢測裝置及光學膜檢測方法，特別是一種光學膜的矢印之檢測裝置及檢測方法。

在偏光片的製程中，當偏光片沿著輸送帶捲送至裁切機之前，會先噴印一些矢印在偏光片上，此些矢印例如是產品的辨識資料，可能是箭頭、數字或字母編碼。然而，具有矢印的偏光片在進行裁切之後，需再檢驗確認每個裁切好的片材上的矢印圖案是否正常，這不僅耗時，也增加不良品的重工成本。

本揭露內容係有關於一種光學膜檢測裝置及光學膜檢測方法。實施例中，影像擷取器設置於噴印器與裁切器之間，且影像擷取器擷取光學膜的影像，以影像判定系統判定此擷取的影像不具有矢印圖案異常後才進行光學膜的裁切，而可以達到避免大量製作出具有矢印圖案異常之光學膜片的製程成本及重工 成本的損失。

根據本揭露內容之一實施例，係提出一種光學膜檢測裝置。光學膜檢測裝置包括一輸送系統、一噴印器、一裁切器、一影像擷取器以及一影像判定系統。輸送系統用以承載並輸送一光學膜，噴印器用以噴印一矢印圖案於光學膜上。裁切器用以裁切光學膜。影像擷取器設置於噴印器與裁切器之間，影像擷取器擷取光學膜的一影像。影像判定系統判定影像是否具有一矢印圖案異常。

根據本揭露內容之另一實施例，係提出一種光學膜檢測方法。光學膜檢測方法包括以下步驟：以一輸送系統承載並輸送一光學膜；以一噴印器噴印一矢印圖案於光學膜上；以一影像擷取器擷取光學膜的一影像；以一影像判定系統判定影像是否具有一矢印圖案異常；以及當影像不具有矢印圖案異常，以一裁切器裁切光學膜，其中影像擷取器設置於噴印器與裁切器之間。

為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

10‧‧‧光學膜檢測裝置

100‧‧‧輸送系統

110‧‧‧光學膜

120‧‧‧矢印

200‧‧‧噴印器

200A‧‧‧噴印區

210‧‧‧噴頭

300‧‧‧裁切器

300A‧‧‧裁切區

400‧‧‧影像擷取器

400A‧‧‧影像擷取區

410‧‧‧影像擷取單元

500‧‧‧影像判定系統

600‧‧‧控制單元

700‧‧‧光源系統

710‧‧‧側光源

720‧‧‧背光源

C1、C2‧‧‧虛線

D1‧‧‧輸送方向

D2‧‧‧方向

第1圖繪示根據本揭露內容之一實施例之一光學膜檢測裝置之示意圖。

第2圖繪示根據本揭露內容之一實施例之一光學膜通過一輸送系統的一噴印區和一影像擷取區之上視圖。

本揭露內容之實施例中，影像擷取器設置於噴印器與裁切器之間，且影像擷取器擷取光學膜的影像，以影像判定系統判定此擷取的影像不具有矢印圖案異常後才進行光學膜的裁切，而可以達到避免大量製作出具有矢印圖案異常之光學膜片的製程成本及重工成本的損失。實施例所提出的組成為舉例說明之用，並非對本揭露內容欲保護之範圍做限縮。具有通常知識者當可依據實際實施態樣的需要對該些組成加以修飾或變化。

請參照第1圖，其繪示根據本揭露內容之一實施例之一光學膜檢測裝置10之示意圖。光學膜檢測裝置10包括一輸送系統100、一噴印器200、一裁切器300、一影像擷取器400以及一影像判定系統500。輸送系統100用以承載並輸送一光學膜110，噴印器200用以噴印一矢印圖案於光學膜110上。裁切器300用以裁切光學膜110。影像擷取器400設置於噴印器200與裁切器300之間，且影像擷取器400擷取光學膜110的一影像。影像判定系統500判定擷取的影像是否具有一矢印圖案異常。在一實施例中，上述影像擷取器400緊鄰於噴印器200設置。

實施例中，如第1圖所示，輸送系統100沿一輸送方向D1具有一噴印區200A、一影像擷取區400A及一裁切區300A。噴印器200對應噴印區200A設置，影像擷取器400對應影像擷取區400A設置，裁切器300對應裁切區300A設置。

實施例中，矢印圖案可以包括一個或多個矢印，矢印圖案異常可以包括以下狀況之至少其中之一：擷取的影像不具有矢印圖案、擷取的影像中的矢印圖案係變形或為錯誤的圖形、 以及擷取的影像中的矢印圖案具有一錯誤的矢印數目。

再者，光學膜檢測裝置10更可包括一控制單元600。當影像判定系統500判定影像擷取器400擷取的影像具有前述的任何一種矢印圖案異常，影像判定系統500便傳送一異常訊號至控制單元600。在一實施例中，此控制單元600也可設置於遠端，對光學膜檢測裝置10進行遠端遙控。

實施例中，當影像判定系統500傳送異常訊號至控制單元600，控制單元600發出一警告訊號。

實施例中，控制單元600亦可傳送一噴印訊號至噴印器200。

如第1圖所示，光學膜檢測裝置10更可包括一光源系統700，光源系統700對應於影像擷取器400設置。也就是說，光源系統700對應於輸送系統100的影像擷取區400A設置。

實施例中，光源系統700例如可包括多個光源。如第1圖所示，光源系統700包括兩個側光源710和一個背光源720，側光源710設置在光學膜110的待測區域的兩側，背光源720設置在光學膜110的待測區域的背面。側光源710和背光源720設置在光學膜110的相對兩側。在一實施例中，也可由影像擷取器400同時提供一軸向光源(圖未示)。在一實施例中，上述側光源710、背光源720和/或軸向光源也可選擇性的自不同方向提供光源以互相搭配使用。

根據本揭露內容，亦提供一種光學膜檢測方法，特別是利用光學膜檢測裝置10檢測光學膜110上的矢印圖案是否有異常。換言之，根據本揭露內容之實施例，光學膜檢測方法並非 用於檢測光學膜是否具有缺陷；實際上，此光學膜檢測方法的光學膜本身不具有缺陷，此光學膜檢測方法是用來檢測不具有缺陷的光學膜上的矢印圖案是否有異常。

詳細來說，請參照第1圖，輸送系統100承載光學膜110並沿輸送方向D1輸送光學膜110。光學膜110沿輸送方向D1依序通過輸送系統100的噴印區200A、影像擷取區400A及裁切區300A。

實施例中，輸送系統100例如是捲對捲(roll to roll)輸送裝置，光學膜110例如是尚未裁切的偏光片，但不以此為限。在一實施例中，光學膜110可為一光學特性層，即為對光學之增益、配向、補償、轉向、直交、擴散、保護、防黏、耐刮、抗眩、反射抑制、高折射率等有所助益的層。在一實施例中，光學膜110可為一單層或多層結構。

第2圖繪示根據本揭露內容之一實施例之光學膜110通過輸送系統100的噴印區200A和影像擷取區400A之上視圖。

首先，如第1~2圖所示，光學膜110先通過噴印區200A，此時噴印器200噴印矢印圖案於光學膜110上。實施例中，矢印圖案可以包括一個或多個矢印120，舉例而言，如第2圖所示，矢印圖案可包括多個外觀圖像為「A」的矢印120，而虛線C1、C2表示於後續裁切步驟的裁切路徑，因此裁切之後的光學膜片各具有一個矢印120於光學膜片的角落處。

如第2圖所示，噴印器200於約略垂直輸送方向D1的方向D2可包括多個噴頭210，因此可以在同一時間點噴印出多 個矢印120。實施例中，噴印器200的噴頭210的噴印時間及頻率係根據控制單元600傳送至噴印器200的噴印訊號所決定。

接著，以影像擷取器400擷取光學膜110的一影像。詳細來說，印有矢印圖案的光學膜的110的區域沿輸送方向D1輸送，從輸送系統100的噴印區200A離開而來到影像擷取區400A。

如第2圖所示，實施例中，影像擷取器400於約略垂直輸送方向D1的方向D2可包括多個影像擷取單元410，例如是多個照相機，因此可以在同一時間點擷取光學膜110的多個影像，各個影像對應至少一個矢印120。舉例而言，一個影像擷取單元410可以對應於一個噴頭210，也就是說，光學膜110沿著輸送方向D1從噴印區200A移動至影像擷取區400A後，一個影像擷取單元410可擷取一個光學膜110的影像，而此影像中具有對應的噴頭210所噴印的一個矢印120。實施例中，影像擷取器400的影像擷取單元410例如是電荷耦合元件(charge-coupled device；CCD)，但不以此為限。

實施例中，影像擷取器400的影像擷取單元410的影像擷取時間點及頻率可以根據控制單元600傳送至影像擷取器400的訊號所決定，而此訊號可以和控制單元600傳送至噴印器200的噴印訊號相關。

接著，以影像判定系統500判定此影像是否具有一矢印圖案異常。詳細來說，影像擷取器400擷取的影像之影像資訊傳送至影像判定系統500，而影像判定系統500判讀此影像中是否不具有矢印圖案、此影像中的矢印圖案是否變形或為錯誤的 圖形、以及此影像中的矢印圖案的矢印的數目是否有錯誤。當上述其中之一發生時，則判定此影像具有矢印圖案異常；若上述情況都沒有發生，則判定此影像不具有矢印圖案異常。

當此影像不具有矢印圖案異常，則印有矢印圖案的光學膜的110的區域沿輸送方向D1繼續輸送，而來到輸送系統100的裁切區300A。於此處，以裁切器300裁切光學膜110。舉例而言，可沿裁切路徑虛線C1、C2裁切光學膜110，裁切之後的多個光學膜片各具有一個矢印120於各個光學膜片的角落處。在一實施例中，上述裁切路徑虛線C1也可不平行於輸送方向D1。在一實施例中，矢印120也可形成於各個光學膜片上的任意位置。在一實施例中，一個光學膜片上也可包含複數個矢印120。

當此影像確實具有矢印圖案異常，影像判定系統500便傳送一異常訊號至控制單元600，控制單元600則發出一警告訊號。實施例中，經由警告訊號的發出，操作員可即時得知矢印的噴印狀況有異常，因此可以對光學膜的製程做適當的處置，例如可以即時取出異常製品或即時暫停噴印及裁切。

根據本揭露內容之實施例，影像擷取器400設置於噴印器200與裁切器300之間，且影像擷取器400擷取光學膜110的影像，以影像判定系統500判定此擷取的影像不具有矢印圖案異常後才進行光學膜的裁切；若影像判定系統500判定此擷取的影像具有矢印圖案異常，則傳送異常訊號至控制單元。如此一來，可以根據收到的異常訊號對光學膜的製程決定適當的處置，例如可以在裁切大量的光學膜片之前便及時停止製程，則可以避免製程成本的損失或重工的成本與時間之耗損。

相較於裁切前不進行矢印圖案異常檢測的製造流程，有可能裁切了非常大量的光學膜片之後才會發現矢印圖案異常，且由於矢印的圖案較小也較不明顯，甚至有可能在產品製作完成之後才發現矢印圖案異常，這可能會造成非常大的製程成本損失。相對地，根據本揭露內容之實施例，當矢印圖案異常的狀況是由噴印器200導致的矢印圖案變形，則可以及時檢修噴印器200。當矢印圖案異常的狀況是因為輸送系統100的運作情形失常，例如是捲對捲輸送裝置的運送張力出現異常而造成的矢印圖案未噴印出來或噴印的矢印數目不正確，則可以及時檢修或調整輸送系統100，同時也可以準確地確定有矢印圖案異常的光學膜片，不需要在裁切完成之後的大量成品中進行檢查而浪費大量人力成本。

再者，沿輸送方向D1，影像擷取器400設置於噴印器200與裁切器300之間，因此噴印矢印120的步驟在裁切的步驟之前進行，如此可以節省噴印大量矢印在大量片材上的製程時間與人力，同時再搭配在裁切之前判定矢印圖案異常的步驟，而可以進一步達到避免大量製作出具有矢印圖案異常之光學膜片的製程成本及重工成本的損失。

綜上所述，雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧光學膜檢測裝置

100‧‧‧輸送系統

110‧‧‧光學膜

200‧‧‧噴印器

200A‧‧‧噴印區

300‧‧‧裁切器

300A‧‧‧裁切區

400‧‧‧影像擷取器

400A‧‧‧影像擷取區

500‧‧‧影像判定系統

600‧‧‧控制單元

700‧‧‧光源系統

710‧‧‧側光源

720‧‧‧背光源

D1‧‧‧輸送方向

Claims (11)

1. 一種光學膜檢測裝置，包括：一輸送系統，用以承載並輸送一光學膜；一噴印器，用以噴印一矢印圖案於該光學膜上；一裁切器，用以裁切該光學膜；一影像擷取器，該影像擷取器設置於該噴印器與該裁切器之間，該影像擷取器擷取該光學膜的一影像；以及一影像判定系統，判定該影像是否具有一矢印圖案異常。
2. 如申請專利範圍第1項所述之光學膜檢測裝置，其中該矢印圖案異常係為該影像不具有該矢印圖案、該影像中的該矢印圖案係變形或為錯誤的圖形、以及該影像中的該矢印圖案具有一錯誤的矢印數目之至少其中之一。
3. 如申請專利範圍第1項所述之光學膜檢測裝置，更包括：一控制單元，其中當該影像具有該矢印圖案異常，該影像判定系統傳送一異常訊號至該控制單元。
4. 如申請專利範圍第3項所述之光學膜檢測裝置，其中當該影像判定系統傳送該異常訊號至該控制單元，該控制單元發出一警告訊號，及/或傳送一噴印訊號至該噴印器。
5. 如申請專利範圍第1項所述之光學膜檢測裝置，其中該光學膜不具有缺陷。
6. 如申請專利範圍第1項所述之光學膜檢測裝置，更包括一光源系統，對應於該影像擷取器設置。
7. 一種光學膜檢測方法，包括：以一輸送系統承載並輸送一光學膜；以一噴印器噴印一矢印圖案於該光學膜上；以一影像擷取器擷取該光學膜的一影像；以一影像判定系統判定該影像是否具有一矢印圖案異常；以及當該影像不具有該矢印圖案異常，以一裁切器裁切該光學膜，其中該影像擷取器設置於該噴印器與該裁切器之間。
8. 如申請專利範圍第7項所述之光學膜檢測方法，其中該矢印圖案異常係為該影像不具有該矢印圖案、該影像中的該矢印圖案係變形或為錯誤的圖形、以及該影像中的該矢印圖案具有一錯誤的矢印數目之至少其中之一。
9. 如申請專利範圍第7項所述之光學膜檢測方法，其中當該影像具有該矢印圖案異常，該影像判定系統傳送一異常訊號至一控制單元。
10. 如申請專利範圍第9項所述之光學膜檢測方法，其中當該影像判定系統傳送該異常訊號至該控制單元，該控制單元發出 一警告訊號，及/或該控制單元傳送一噴印訊號至該噴印器。
11. 如申請專利範圍第7項所述之光學膜檢測方法，其中該光學膜不具有缺陷。