JP5467692B2 - 穴検査対象物の検査装置 - Google Patents
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Description
そこで、上記貫通穴の良否判定の自動化を図るために、貫通穴の良品パターンを学習しておき、検査画像と良品パターン画像とを比較するパターンマッチング法を採用することが考えられる(特許文献1等参照)。
本発明は、各貫通穴の形状が異なっていても貫通穴の大きさが所定値以内であれば良品とするような良否判定を行える穴検査対象物の検査装置を提供する。
光照射手段11は、貫通穴35が形成された後に搬送路5R中の所定の位置を通過する食品個包装用フィルム5の一方の面5aに光を照射可能な位置に設けられる。
撮像手段12は、貫通穴35が形成された後に搬送路5R中の所定の位置を通過する際に光が照射された食品個包装用フィルム5の一方の面5aの裏側である他方の面5bを所定時間間隔で撮像可能な位置に設けられる。
即ち、光照射手段11と撮像手段12とが貫通穴加工後に所定の位置を通過する食品個包装用フィルム5を挟んで向かい合うように設置される。
また、撮像手段12のレンズ16の前方には偏光フィルター17が設置される。
従って、偏光フィルター15;17による偏光特性によって光は食品個包装用フィルム5の貫通穴35の部分のみを透過し、撮像手段12には貫通穴35の部分のみが明るく、かつ、食品個包装用フィルム5の透明フィルム2の部分が暗くなった画像が撮像される。
つまり、良否判定装置13の輝度演算処理手段21は、前画像データ31における輝度のピークツウピーク値の平均値、及び、当該前画像データ31の後に輝度演算処理手段21に入力される後画像データ32における輝度のピークツウピーク値の平均値を求める。
良否判定装置13の輝度演算処理手段21は、図3に示すように、前画像データ31中や後画像データ32中の複数の貫通穴列33;33…毎の輝度のピークツウピーク値を求め、これらピークツウピーク値の平均値を計算することにより、前画像データ31及び後画像データ32における輝度のピークツウピーク値の平均値を求める。
X=(ALp−p−ΣAp−p)n−(ALp−p−ΣBp−p)n・・・(1)
ここで、
・ALp−p;良品を撮影した画像データにおける輝度のピークツウピーク値の平均値
・ΣAp−p;前画像データにおける輝度のピークツウピーク値の平均値
・ΣBp−p;後画像データにおける輝度のピークツウピーク値の平均値
・乗数nは整数(例えば1〜9)
良否判定装置13の判定処理手段23は、貫通穴35の良否判定により貫通穴35を「不良」と決定した場合に、巻取ロール6及び貫通穴加工手段4の駆動を停止して、食品個包装用フィルム5の製造を中止し、警告を出力する。警告を確認した作業管理者などは、貫通穴不良の原因を特定する。例えば、貫通穴加工手段4の針状部4aの破損、変形などの不具合の特定、貫通穴加工手段4の針状部4aの加熱量調整等を行って、貫通穴不良の原因を特定する。そして、貫通穴不良の原因を取り除いた後に、食品個包装用フィルム5の製造を再開させる。
また、食品個包装用フィルム5の巻取速度(搬送速度)に対応した撮像手段12の撮像間隔(所定時間間隔)で撮影された前後の画像データ31;32に基づいて良否判定処理を行うので、良否判定処理を高速に行える。
また、前後の画像データ31;32における輝度のピークツウピーク値の平均値を用いたので、良品と不良品との差が出やすくなり、不良品検出を確実に行える。
また、穴検査対象物として食品個包装用フィルム5を例にして説明したが、穴検査対象物は、シート状、又は、板状のものでもよい。即ち、穴開け加工対象物を繰り出して巻き取る過程において穴開け加工対象物の面に穴開け加工対象物の送り方向及び送り方向と直交する方向に互いに隣り合うように複数の貫通穴が形成された穴検査対象物であればよい。
5 食品個包装用フィルム(穴検査対象物)、5R 搬送路、7 検査装置、
11 光照射手段、12 撮像手段、13 良否判定装置、21 輝度演算処理手段、
22 判定値算出処理手段、23 判定処理手段。
Claims (1)
- 穴開け加工対象物を繰り出して巻き取る過程において穴開け加工対象物の面に穴開け加工対象物の送り方向及び送り方向と直交する方向に互いに隣り合うように複数の貫通穴が形成された穴検査対象物の検査装置であって、
貫通穴が形成された後に搬送路の所定の位置を通過する穴検査対象物の一方の面に光を照射する光照射手段と、前記所定の位置を通過する際に光が照射された穴検査対象物の一方の面の裏側である他方の面を所定時間間隔で撮像する撮像手段と、良否判定装置とを備え、
良否判定装置は、撮像手段により所定時間間隔で撮像された前後の各画像データにおける輝度のピークツウピーク値の平均値を求める輝度演算処理手段と、以下の計算式(1)に基づいて判定値Xを算出する判定値算出処理手段と、判定値Xに基づいて穴検査対象物の貫通穴の良否を判定する判定処理手段とを備えたことを特徴とする穴検査対象物の検査装置。
X=(ALp−p−ΣAp−p)n−(ALp−p−ΣBp−p)n・・・(1)
ここで、
ALp−p;良品を撮影した画像データにおける輝度のピークツウピーク値の平均値、
ΣAp−p;前画像データにおける輝度のピークツウピーク値の平均値、
ΣBp−p;後画像データにおける輝度のピークツウピーク値の平均値、
乗数nは整数。
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