JP6646092B2 - 抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体、及びその製造方法 - Google Patents
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Description
(I)少なくとも1種の金属元素を含む酸化物半導体原料化合物、及びセルロースナノファイバーを含有するスラリーを調製する工程、
(II)得られたスラリーを、温度が100℃以上であり、かつ圧力が0.3MPa〜0.9MPaである水熱反応に付す工程
を備え、かつ焼成する工程を含まない、上記抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体の製造方法を提供するものである。
(III)工程(II)により得られた反応物集合体を焼成する工程
を備える、上記抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体の製造方法を提供するものである。
(I’)少なくとも1種の金属元素を含む酸化物半導体原料化合物、及びセルロースナノファイバーを含有するスラリーを調製する工程、
(II’)得られたスラリーを、温度が100℃以上であり、かつ圧力が0.3MPa〜0.9MPaである水熱反応に付する工程、
(III’)工程(II’)により得られた反応物集合体とセラミックス原料化合物を混合して焼成する工程
を備える、上記抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体の製造方法を提供するものである。
本発明の抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体は、平均繊維径が50nm以下であるセルロースナノファイバー(以下、「CNF」とも称する。)に、平均粒子径が0.1nm〜30nmである複数の酸化物半導体ナノ粒子が、直線的に連続して担持してなるか、或いは平均粒子径が0.1nm〜30nmである複数の酸化物半導体ナノ粒子が、鎖状に集結してなるかの、2つの態様を有する。以後、特に前者の態様である抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体を「ナノ粒子集合体A」と称し、後者の態様である抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体を「ナノ粒子集合体B」と称し、「ナノ粒子集合体」とは、これら2つの態様を包含する抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体を意味することとする。
ここで、平均粒子径とは、SEM又はTEMの電子顕微鏡による観察において、数十個の粒子の粒子径(長軸の長さ)の測定値の平均値を意味する。
また、CNFの平均長さは、ナノ粒子集合体の電極への塗工を効率的に行う観点から、好ましくは100nm〜100μmであり、より好ましくは1μm〜100μmであり、さらに好ましくは5μm〜100μmである。
(I)少なくとも1種の金属元素を含む酸化物半導体原料化合物、及びセルロースナノファイバーを含有するスラリーを調製する工程、
(II)得られたスラリーを、温度が100℃以上であり、かつ圧力が0.3MPa〜0.9MPaである水熱反応に付す工程
を備え、かつ焼成する工程を含まない製造方法により、得ることができる。
(III)工程(II)により得られた反応物集合体を焼成する工程
を備える製造方法により、得ることができる。
(I’)少なくとも1種の金属元素を含む酸化物半導体原料化合物、及びセルロースナノファイバーを含有するスラリーを調製する工程、
(II’)得られたスラリーを、温度が100℃以上であり、かつ圧力が0.3MPa〜0.9MPaである水熱反応に付す工程、
(III’)工程(II’)により得られた反応物集合体とセラミックス原料化合物を混合して焼成する工程
を備える製造方法により、得ることができる。
以後、工程(I)〜(II)を備える酸化物半導体ナノ粒子集合体の製造方法を製造方法A、工程(I)〜(III)を備える製造方法を製造方法B、工程(I’)〜(III’)を備える製造方法を製造方法B’と称する。
製造方法Aの適用が可能な酸化物半導体ナノ粒子集合体としては、焼成せずとも上記工程(I)〜(II)を経るのみで製造できるものに限定され、具体的には、Ce1−xZrxO2、CeO2、TiO2、CeO2/TiO2が挙げられる。
かかる工程(I)では、先ず、少なくとも1種の金属元素を含む酸化物半導体原料化合物、水、及びセルロースナノファイバーを混合してスラリーaを得る。
かかる酸化物半導体原料化合物としては、具体的には、例えば、セリウム化合物、ジルコニア化合物、又はチタン化合物等の金属化合物が挙げられる。なかでも、上記金属元素の硫酸塩、硝酸塩、炭酸塩、酢酸塩、シュウ酸塩、酸化物、水酸化物、ハロゲン化物等を好適に使用することができる。
また、スラリーa中におけるセルロースナノファイバーの含有量は、スラリーa中の水100質量部に対し、炭素原子換算量で、好ましくは0.01質量部〜10質量部であり、より好ましくは0.05質量部〜8質量部である。
水熱反応中の温度は、100℃以上であればよく、130℃〜180℃が好ましい。水熱反応は耐圧容器中で行うのが好ましく、130℃〜180℃で反応を行う場合、この時の圧力は0.3MPa〜0.9MPaであるのが好ましく、140℃〜160℃で反応を行う場合の圧力は0.3MPa〜0.6MPaであるのが好ましい。水熱反応時間は、0.5時間〜24時間が好ましく、さらに0.5時間〜15時間が好ましい。
乾燥手段は、凍結乾燥、真空乾燥が用いられ、凍結乾燥が好ましい。
製造方法Bは、製造方法Aで得られたセルロースナノファイバーに酸化物半導体ナノ粒子が直線的に連続して担持してなる態様のナノ粒子集合体Aを反応物集合体として用い、かかる反応物集合体を焼成する工程(III)を経ることによって、ナノ粒子集合体Aに含まれていたCNFを除去し、酸化物半導体ナノ粒子が鎖状に集結してなるナノ粒子集合体Bを得ることができる製造方法である。かかる酸化物半導体ナノ粒子集合体Bは、酸化物半導体ナノ粒子間でネッキングしながら(弱い焼結が生じながら)複数の酸化物半導体ナノ粒子が連接してなる集合体である。
製造方法Bが備える工程(I)〜(III)のうち、工程(I)〜(II)は、上記製造方法Aが備える工程(I)〜(II)と同様であり、以下工程(III)についてのみ説明する。
工程(III)において焼成する際、酸素雰囲気下で行うのが好ましく、酸化物半導体ナノ粒子同士の強固な焼結を予防し、良好にネッキングしながらこれらの粒子を連接させる観点から、焼成温度は、好ましくは300℃〜1000℃であり、より好ましくは300℃〜800℃である。また焼成時間は、好ましくは10分間〜10時間であり、より好ましくは10分間〜5時間である。
製造方法B’は、製造方法Aが備える工程(I)〜(II)と同様の工程(I’)〜(II’)を経ることにより得られた反応物集合体を前駆体として用い、かかる前駆体と酸化物半導体ナノ粒子を構成する残余の原料化合物を混合して焼成する工程を備える。かかる製造方法B’は、製造方法Aが備える工程(I)〜(II)を備えるのみでは、所望の組成を有する酸化物半導体ナノ粒子により抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体を形成するのが困難である場合に有用な製造方法である。
この製造方法B’の適用が可能な酸化物半導体ナノ粒子集合体としては、具体的には、Ce0.8Sm0.2O1.9、Nb2O5、Ga2O3、SrTiO3、SrTi1−xNbxTiO3、及びLa1−xSrxMnO3から選ばれる1種又は2種以上が挙げられる。
かかる工程(I’)では、先ず、少なくとも1種の金属元素を含む酸化物半導体原料化合物、水、並びにセルロースナノファイバーを混合してスラリーa’を得る。
かかる酸化物半導体原料化合物としては、具体的には、例えば、セリウム化合物、サマリウム化合物、ニオブ化合物、ガリウム化合物、ストロンチウム化合物、チタン化合物、ランタン化合物、又はマンガン化合物等の金属化合物が挙げられる。なかでも、上記金属元素の硫酸塩、硝酸塩、炭酸塩、酢酸塩、シュウ酸塩、酸化物、水酸化物、ハロゲン化物等を好適に使用することができる。
また、スラリーa’中におけるセルロースナノファイバーの含有量は、スラリーa’中の水100質量部に対し、炭素原子換算量で、好ましくは0.01質量部〜10質量部であり、より好ましくは0.05質量部〜8質量部である。
水熱反応中の温度は、100℃以上であればよく、130℃〜180℃が好ましい。水熱反応は耐圧容器中で行うのが好ましく、130℃〜180℃で反応を行う場合、この時の圧力は0.3MPa〜0.9MPaであるのが好ましく、140℃〜160℃で反応を行う場合の圧力は0.3MPa〜0.6MPaであるのが好ましい。水熱反応時間は、0.5時間〜24時間が好ましく、さらに0.5時間〜15時間が好ましい。
ろ過後の反応物集合体を水で洗浄する際、反応物集合体1質量部に対し、水を5質量部〜100質量部用いるのが好ましい。
乾燥方法としては、噴霧乾燥、箱型乾燥、流動床乾燥、外熱式乾燥、媒体流動乾燥、凍結乾燥、真空乾燥等が挙げられる。なかでも、得られる混合物の粒子が必要以上に結晶成長するのを有効に制御して微細化を図る観点から、凍結乾燥、媒体流動乾燥、又は噴霧乾燥が好ましい。
この焼成により、反応物集合体に含まれるセルロースナノファイバーが除去されると共に、酸化物半導体ナノ粒子を生成する固相反応も生じて、所望のナノ粒子集合体Bを得ることができる。
Ce(NO3)3・6H2O1.11g、CNF19.29g(スギノマシン社製TMa−10002、含水量98質量%)、及び水55mLを60分間混合してスラリーa1を作製した。得られたスラリーa1に、10質量%濃度のNaOH水溶液9mLを添加し、5分間混合してスラリーb1を作製した。スラリーb1をオートクレーブに投入し、140℃で1時間水熱反応を行った。得られた水熱反応生成物を放冷した後、ろ過、水洗浄し、水80mLを混合してリパルプすることにより、CeO2ナノ粒子集合体を含有するスラリーc1を得た。なお、スラリーc1中のCeO2ナノ粒子集合体のBET比表面積は、230m2/gであり、CeO2ナノ粒子の平均粒子径は、10nmであった。
かかるCeO2ナノ粒子集合体のTEM観察像を図1に示す。なお、使用したTEMは、日本電子株式会社製JEM−ARM200Fであった。
セルロースナノファイバーを添加しなかった以外、実施例1と同様にして、水熱反応を行った後、ろ過、水洗浄、及びリパルプすることにより、CeO2のナノ粒子を含有するスラリーc2を得た。なお、スラリーc2中のCeO2ナノ粒子のBET比表面積は、180m2/gであり、平均粒子径は、10nmであった。
得られたCeO2ナノ粒子の凝集状態を確認するためTEM観察を行った。得られたTEM写真を図2に示す。
実施例1及び比較例1で得られたスラリー10μLを、指状構造のAu電極(電極の幅は5mm、回路間の幅は5mm)に塗工し、室温で12時間乾燥させ、抵抗型酸素センサ素子を得た。得られた抵抗型酸素センサ素子を用いて、室温での電気抵抗を測定することにより感度を評価した。
具体的には、2.5Lの密閉容器の中に静置した抵抗型酸素センサ素子に、マルチメーターを接続して電気抵抗を測定できるようにした後、密閉容器を窒素ガスで充填し、その後、注射針を用いて密閉容器内の酸素濃度が5000ppmとなるように酸素を導入した。抵抗型酸素センサ素子の感度は、次式(1)により算出した。結果を表1に示す。
[(酸素導入前の電気抵抗)−(酸素導入後の電気抵抗)]/(酸素導入前の電気抵抗) ×100・・・(I)
これは、比較例1で得られたCeO2ナノ粒子は、凝集構造を形成してBET比表面積が180m2/gであったのに対し、実施例1のCeO2ナノ粒子集合体は、CeO2ナノ粒子の平均粒子径が比較例1と同じである一方、BET比表面積が230m2/gと高いことからもわかるように、CeO2ナノ粒子がセルロースナノファイバーに直線的に連続して担持してなる、凝集し難い特異な構造であることによるものである。
Claims (5)
- 平均繊維径が50nm以下であるセルロースナノファイバーに、平均粒子径が0.1nm〜30nmである複数の酸化物半導体ナノ粒子が、直線的に連続して担持してなる抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体。
- 酸化物半導体ナノ粒子が、Ce0.8Sm0.2O1.9、Ce1-xZrxO2、及びCeO2から選択される1種又は2種以上である請求項1に記載の抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体。
- 次の工程(I)〜(II):
(I)少なくとも1種の金属元素を含む酸化物半導体原料化合物、及びセルロースナノファイバーを含有するスラリーを調製する工程、
(II)得られたスラリーを、温度が100℃以上であり、かつ圧力が0.3MPa〜0.9MPaである水熱反応に付す工程
を備え、かつ焼成する工程を含まない、請求項1又は2に記載の抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体の製造方法。 - 平均粒子径が0.1nm〜30nmである複数の酸化物半導体ナノ粒子が、鎖状に集結してなる抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体の製造方法であって、次の工程(I)〜(II):
(I)少なくとも1種の金属元素を含む酸化物半導体原料化合物、及びセルロースナノファイバーを含有するスラリーを調製する工程、
(II)得られたスラリーを、温度が100℃以上であり、かつ圧力が0.3MPa〜0.9MPaである水熱反応に付す工程
を備え、さらに次の工程(III):
(III)工程(II)により得られた反応物集合体を焼成する工程
を備える、抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体の製造方法。 - 平均粒子径が0.1nm〜30nmである複数の酸化物半導体ナノ粒子が、鎖状に集結してなる抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体の製造方法であって、次の工程(I’)〜(III'):
(I')少なくとも1種の金属元素を含む酸化物半導体原料化合物、及びセルロースナノファイバーを含有するスラリーを調製する工程、
(II')得られたスラリーを、温度が100℃以上であり、かつ圧力が0.3〜0.9MPaである水熱反応に付する工程、
(III')工程(II')により得られた反応物集合体とセラミックス原料化合物を混合して焼成する工程
を備える、抵抗型酸素センサ用酸化物半導体ナノ粒子集合体の製造方法。
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