JP6573378B2 - 放射線撮像装置、その制御方法及びプログラム - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 154
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 59
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 116
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 35
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 21
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 7
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 32
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 19
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 12
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000023077 detection of light stimulus Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 208000009989 Posterior Leukoencephalopathy Syndrome Diseases 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- JJWKPURADFRFRB-UHFFFAOYSA-N carbonyl sulfide Chemical compound O=C=S JJWKPURADFRFRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20184—Detector read-out circuitry, e.g. for clearing of traps, compensating for traps or compensating for direct hits
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
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- A61B6/42—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4225—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using image intensifiers
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4233—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using matrix detectors
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4241—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using energy resolving detectors, e.g. photon counting
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
- H04N25/75—Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/65—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to reset noise, e.g. KTC noise related to CMOS structures by techniques other than CDS
Description
本発明は、放射線撮像装置、その制御方法及びプログラムに関する。
放射線による医療画像診断や非破壊検査に用いる撮像装置として、半導体材料によって形成された平面検出器(Flat Panel Detector、以下FPD)を用いた放射線撮像装置が知られている。このような放射線撮像装置は、例えば医療画像診断において、静止画や動画などのデジタル撮像装置として用いられうる。
FPDに用いられる放射線の検出方式として、積分型のセンサ及びフォトンカウンティング型のセンサがある。積分型のセンサは、放射線の入射により発生した電荷の総量を計測する。一方、フォトンカウンティング型のセンサは、入射した放射線のエネルギ(波長)を識別し、複数のエネルギレベルの各々について放射線の検出回数をカウントする。即ち、フォトンカウンティング型のセンサは、エネルギ分解能を有するため、積分型のセンサに比べて診断能力を向上させることができる。
特許文献1には、CdTeを用いて放射線を各画素で直接検出する直接型のフォトカウンティング型のセンサが提案されている。また、特許文献2には、入射した放射線をシンチレータで光に変換し、放射線から変換された光を各画素で検出する間接型のフォトカウンティング型のセンサが提案されている。
直接型のセンサに用いられるCdTeの単結晶は、数cm角程度にしか成長させることができない。そのため、直接型のセンサは、大面積化が困難であり、非常に高価となる。また、アモルファスSeを成膜することにより大面積の直接型のセンサを実現する方法もあるが、当該方法により作製されたセンサは、動作が遅く、温度管理が必要などの難点がある。
一方、間接型のセンサは、大面積化が容易であり安価となるという利点がある。しかしながら、間接型のセンサではパイルアップが発生しやすいという課題がある。パイルアップとは、複数の放射線光子が、センサ中の同一の画素によって同時に検出され、複数の放射線光子を単一の放射線光子として検出することである。この場合、センサは、放射線の検出回数のカウント数及び入射した放射線のエネルギを誤って判定する。
間接型のセンサの場合、シンチレータで放射線光子から変換された光がシンチレータ内で拡散し、それぞれの画素で検出される。間接型のセンサは、近接した画素に同時に入射した異なる放射線光子から変換され、シンチレータ内で広がった光を1つの画素で同時に検出し、単一の放射線光子から変換された発光として検出してしまう可能性がある。光の拡散の影響によって、直接型のセンサと比較して、間接型のセンサはパイルアップの発生頻度が高くなる。
特許文献1には、直接型のセンサにおいて、入射する放射線光子に対して、各画素に互いに異なるエネルギの閾値を有するカウンタを配したセンサが示されている。それぞれの画素において、検出された異なるエネルギ閾値のカウント数を比較することで、パイルアップの発生を推定することが示されている。しかし、近接した画素に入射した複数の放射線光子が、光の拡散の影響によってセンサ中の同一の画素で検出され、単一の放射線光子として検出されてしまうことに関して記載されていない。また、間接型のセンサについて示された特許文献2には、パイルアップについて記載されていない。
本発明は、間接型のフォトンカウンティング型のセンサにおいて、パイルアップを検出するのに有利な技術を提供することを目的とする。
上記課題に鑑みて、本発明の実施形態に係る放射線撮像装置は、放射線を光に変換するシンチレータと、光を検出する光検出器を有する複数の画素が2次元アレイ状に配されたセンサパネルと、処理部と、を含む放射線撮像装置であって、処理部は、複数の画素のそれぞれの光検出器で検出された光の強度を示す信号を出力する信号生成部と、信号のうち基準値を超えるレベルの信号を出力する画素の集合体を識別し、集合体のパターンに基づいて、複数の放射線光子が単一の放射線光子として検出されるパイルアップを検出する検出部と、を含むことを特徴とする。
上記手段により、間接型のフォトンカウンティング型のセンサにおいて、パイルアップを検出するのに有利な技術が提供される。
以下、本発明に係る放射線撮像装置の具体的な実施形態を、添付図面を参照して説明する。なお、以下の説明及び図面において、複数の図面に渡って共通の構成については共通の符号を付している。そのため、複数の図面を相互に参照して共通する構成を説明し、共通の符号を付した構成については適宜説明を省略する。なお、本発明における放射線には、放射線崩壊によって放出される粒子(光子を含む)の作るビームであるα線、β線、γ線などの他に、同程度以上のエネルギを有するビーム、例えばX線や粒子線、宇宙線なども含みうる。
<第1実施形態>
本発明に係る第1実施形態の放射線撮像装置100(又は、「放射線撮像システム」と称されてもよい。)について説明する。図1は、本実施形態の放射線撮像装置100の構成例を示す。放射線撮像装置100は、例えば、被検体に放射線を照射する照射部101と、照射部101を制御する照射制御部102と、放射線が照射された被検体を撮像する撮像部104と、プロセッサ103とを含む。照射制御部102及びプロセッサ103はそれぞれ、CPUやメモリなどを有するコンピュータなどによって構成されうる。本実施形態において、照射制御部102及びプロセッサ103が別々に構成されているが、それに限られるものではなく、一体に構成されていてもよい。即ち、照射制御部102及びプロセッサ103が、それらの機能を有する1つのコンピュータで構成されていてもよい。
本発明に係る第1実施形態の放射線撮像装置100(又は、「放射線撮像システム」と称されてもよい。)について説明する。図1は、本実施形態の放射線撮像装置100の構成例を示す。放射線撮像装置100は、例えば、被検体に放射線を照射する照射部101と、照射部101を制御する照射制御部102と、放射線が照射された被検体を撮像する撮像部104と、プロセッサ103とを含む。照射制御部102及びプロセッサ103はそれぞれ、CPUやメモリなどを有するコンピュータなどによって構成されうる。本実施形態において、照射制御部102及びプロセッサ103が別々に構成されているが、それに限られるものではなく、一体に構成されていてもよい。即ち、照射制御部102及びプロセッサ103が、それらの機能を有する1つのコンピュータで構成されていてもよい。
撮像部104は、例えば、入射した放射線を光に変換するシンチレータ105と、センサパネル106とを含む。センサパネル106には、例えば、シンチレータ105によって放射線から変換された光を各々が検出する複数の画素201が、複数の行及び複数の列を形成するように2次元アレイ状に配列されている。詳細は後述するが、画素201は、フォトンカウンティング方式の放射線撮像を行うための構成を有し、光の検出結果に基づいて、入射する放射線の光子の数を計測する。
プロセッサ103は、撮像部104との間で信号又はデータの授受を行い、具体的には、撮像部104を制御して放射線撮像を行い、それにより得られた信号を撮像部104から受ける。この信号は、放射線光子の計測値を含み、例えば、プロセッサ103は、該計測値に基づいて、例えばディスプレイ等の表示部(不図示)に放射線による撮像画像を表示させるための画像データを生成する。このとき、プロセッサ103は、該画像データに対して所定の補正処理を行ってもよい。また、プロセッサ103は、放射線照射を開始または終了するための信号を照射制御部102に供給する。
次に、センサパネル106の構成について図2を参照しながら説明する。図2は、センサパネル106の構成を示す図である。センサパネル106は、複数の画素201、垂直走査回路202、水平走査回路203、列信号線204、信号線205、出力線206、信号線207および列選択回路208を含みうる。複数の画素201の各々は、光の強度に関する複数のレベルの各々について、シンチレータ105で生じた光の検出回数をカウントするように構成されうる。各画素201は、信号線205を介して信号が供給されると、選択された検出された光の強度に応じたレベルごとの検出回数のデータを、列信号線204を介して列選択回路208に出力する。
垂直走査回路202は、複数レベルのうち所望のレベルの検出回数のデータが各画素201から出力されるように、信号を供給する信号線205を順番に切り替える。列選択回路208は、信号線207を介して信号が供給されたときに、各画素201から出力された検出回数のデータを出力線206にデータDATAとして出力する。また、水平走査回路203は、検出回数のデータを出力線206に出力する動作が複数の列選択回路208において順番に行われるように、信号を供給する信号線207を順番に切り替える。ここで、図2では、説明を簡単にするため、3行×3列の画素201が配列されたセンサパネル106を示したが、より多くの画素201が配列されたセンサパネル106が用いられてもよい。例えば、17インチのセンサパネル106(FPD)では、約2800行×約2800列の画素201が2次元アレイ状に配置されうる。
次に、各画素201の構成について図3を参照しながら説明する。図3は、各画素201の構成を示す図である。センサパネル106の各画素201は、例えば、光検出器301、処理部330、出力部305、基準電圧306を供給する基準電圧部を含みうる。また処理部330は、電圧変換部302、比較部303、メモリ304、検出部307を含みうる。光検出器301は、放射線がシンチレータ105に入射することによりシンチレータ105で生じた光を検出し、信号を生成する光電変換器である。光検出器301には、公知の光電変換素子、例えばフォトダイオードなどを用いてもよい。電圧変換部302は、例えば微分回路であり、光検出器301で生成された信号を電圧信号であるパルス信号に変換して比較部303へ出力する。比較部303は、電圧変換部302から出力されたパルス信号の電圧と基準電圧306とを比較し、比較結果に応じた比較結果信号として例えば2値の信号を生成する。電圧変換部302から出力されたパルス信号の電圧が基準電圧306の電圧以上である場合、比較部303は、比較結果に応じた信号としてデジタル値「1」を出力する。一方で、電圧変換部302から出力されたパルス信号の電圧が基準電圧306よりも小さい場合、比較部303は、比較結果に応じた信号としてデジタル値「0」を出力する。比較部303に供給される基準電圧306は、センサパネル106における全ての画素201に対して共通の値になるように設定されうる。シンチレータ105に放射線が入射し光に変換されると、光検出器301で検出された光に応じて、電圧変換部302を介して、比較部303が2値のデジタル値の信号を生成する。このように、電圧変換部302と比較部303とで信号生成部が構成される。
図3に示す構成では、各画素201に3つの比較部303B、303G、303Rが配され、それぞれの比較部303B、303G、303Rには、互いに異なる値を有する基準電圧306B、306G、306Rが供給される。各画素201は、複数の比較部303と基準電圧306とによって、光の強度に応じて複数レベルの信号を出力することができる。図3の構成では、各画素201は、3つの比較部303と基準電圧306とを有することによって、例えば、光が検出されない場合を含み入射した光の強度に応じて4レベルの信号を出力しうる。
検出部307は、同じ期間に複数の画素201の比較部303から出力される複数レベルの信号を含む信号パターン309を取得する。具体的には、複数の画素201から出力された複数レベルの信号のうち、光が検出されたことを示す基準値を超えた信号である検出信号を出力した画素を抽出する。次に同じ期間に光が検出されたことを示す検出信号を出力した1つの注目画素と、注目画素から連続する1つ以上の画素とで構成された集合体を識別する。次に検出部307は、取得した集合体の信号パターン309が、単一の放射線光子によって得られた信号パターンか、複数の放射線光子が同じ期間に入射し、複数の放射線光子を単一の放射線光子として検出するパイルアップの発生した信号パターンかの判定を行う。この判定は、識別された集合体が予め設定されたパイルアップを示す1つ以上の判定基準308を満たすかを比較することによって行われる。この判定結果に基づいて、検出部307はパイルアップを検出する。
パイルアップを示す判定基準308は、集合体を構成する画素201の数、集合体を構成する画素201の配置、集合体のそれぞれの画素201から出力される検出信号の入射した光の強度などに関し、複数の判定基準308を設けてよい。上述したような集合体の信号パターン309に関する少なくとも何れかが、パイルアップを示す1つ以上の判定基準308を満たすかを判定することによって、検出部307はパイルアップを検出する。また、例えば、放射線撮像装置100のセンサパネル106の特性や、撮像条件などに合わせて判定基準308を任意に変更してよい。パイルアップを検出するための判定基準308については、後述する。
各検出部307の後段にはメモリ304が配置される。撮像画像を生成するために、各画素201の処理部330は、光の強度を表す複数レベルの各々について検出信号が出力された回数をカウントする。集合体でパイルアップが検出されなかった場合、検出信号の各レベルに応じて、集合体を構成する画素201のそれぞれが検出信号を出力したことをカウントし、カウントした回数をメモリ304に格納する。また、集合体でパイルアップが検出された場合、放射線の検出回数のカウント数及び入射した放射線のエネルギを誤って判定しないよう、集合体を構成する画素201のそれぞれが検出信号を出力したことをカウントしなくてもよい。また、1つの注目画素で検出信号が出力され、注目画素に隣接する画素で検出信号が出力されなかった場合、パイルアップは検出されないとして、検出信号の各レベルに応じて検出信号が注目画素から出力されたことをカウントしてもよい。
図3に示す構成では、各画素201に3つの検出部307B、307G、307Rが配され、それぞれの検出部307B、307G、307Rには、それぞれ異なるパイルアップを示す判定基準308B、308G、308Rが与えられる。またそれぞれの検出部307B、307G、307Rには、メモリ304B、304G、304Rが接続されている。ここで、各画素201に配された各検出部307は互いに接続され、例えば複数の判定基準のうち少なくとも1つの判定基準を満たした場合、検出部307はパイルアップを検出したと判定してもよい。
出力部305は、信号線205を介して垂直走査回路202から信号が供給されたとき、検出信号の出力された回数をパイルアップ検出の有無に応じてカウントしメモリ304に格納されたデータDATAを、列信号線204を介して列選択回路208に供給する。その後、列選択回路208に信号線207を介して信号が供給されたとき、データDATAがプロセッサ103に出力される。
図3に示す構成では、それぞれの画素201に3つの比較部303を配しているが、任意の個数とし、それぞれに異なる基準電圧を与えてもよい。例えば比較部303が1つの場合、比較部303は、光を検出した場合と光を検出しない場合との2つのレベルの信号を検出部307に出力しうる。また、それぞれの画素201に3つの検出部307を配しているが、任意の個数とし、それぞれ異なる判定基準308を用いてパイルアップの検出を行ってもよい。また同様に、メモリ304も任意の個数としてよい。例えば、1つのメモリ304に、複数レベルの光の強度に応じた検出信号の出力された回数を、パイルアップの有無に応じてそれぞれカウントして格納してもよい。
次に、本実施形態における放射線撮像システムの駆動について説明する。図4は、撮像部104のセンサパネル106の駆動タイミングを示す図である。図4の波形は、横軸を時間として放射線の照射期間、及び、データDATAの読み出しの期間を表している。図4において、放射線照射期間は、照射部101によって被検体に放射線が照射される期間である。この期間、センサパネル106に入射した放射線をシンチレータ105で光に変換し、光の強度に応じた複数のレベルの信号の各々について検出信号が出力された回数を、パイルアップの検出の有無に応じてカウントする。また読出し期間は、放射線照射期間に得られたカウント回数のデータDATAをセンサパネル106から出力させる期間である。図4に示すように、センサパネル106は、放射線照射期間と読出し期間とを交互に行うことによって、動画を取得することが可能となる。また、例えば放射線照射期間と読出し期間とを1度行うことによって静止画を取得してもよい。
次に、図3に示すように構成された画素201における照射期間での動作について図5を参照しながら説明する。図5は、放射線照射期間における各画素201の動作を示す図である。図5の波形は、横軸を時間とした電圧変換部302の出力、比較部303の出力、及び、メモリ304に格納された検出信号の出力されたカウントされた回数をそれぞれ表している。電圧変換部302から出力されたパルス信号の電圧が基準電圧306R以上である場合、比較部303Rから検出信号としてデジタル値「1」が出力される。そして、検出部307でパイルアップが検出されなかった場合、メモリ304Rは比較部303Rからデジタル値「1」が出力されたことをカウントする。一方で、電圧変換部302から出力されたパルス信号の電圧が基準電圧306G以上である場合、比較部303G、303Rから検出信号としてデジタル値「1」が出力される。そして、メモリ304G、304Rは、検出部307でパイルアップが検出されなかった場合、比較部303G、303Rからデジタル値「1」が出力されたことをカウントする。同様に、電圧変換部302から出力されたパルス信号の電圧が基準電圧306B以上である場合、比較部303B、303G、303Rから検出信号としてデジタル値「1」が出力される。そして、メモリ304B、304G、304Rは、検出部307でパイルアップが検出されなかった場合、比較部303B、303G、303Rからデジタル値「1」が出力されたことをカウントする。このように、電圧変換部302から出力された検出信号の数を、複数の基準電圧306の各々についてパイルアップの検出の有無に応じてカウントする。これによって、各画素201は、光の強度に応じた複数のレベルの各々について、放射線の入射によってシンチレータ105で生じた光の検出回数をカウントすることができる。
次に、図3に示すように構成された画素201における読み出し期間での動作について図6を参照しながら説明する。図6は、読み出し期間における各画素201の動作を示す図である。図6における波形は、横軸を時間とした信号線205への信号の供給、信号線207への信号の供給、および列選択回路208からの取得されたデータDATAの出力をそれぞれ表している。図6に示すように、複数の信号線205および複数の信号線207には、順番に信号が供給される。例えば、信号線205−0Rに信号の供給を開始すると、信号線205−0Rに接続された画素201の出力部305Rから、検出信号の出力された回数をパイルアップの検出の有無に応じてカウントしたデータが列選択回路208に供給される。そして、信号線205−0Rに信号を供給している期間において、複数の信号線207に順番に信号を供給し、複数の列選択回路208から出力線206にそれぞれのデータDATAを順番に出力させる。
次いで図7〜9を用いて、パイルアップを検出するための判定基準308について説明する。図7は、1つの放射線光子がシンチレータ105で光に変換された際の発光の分布を示す。シンチレータ105は、入射した放射線光子を光に変換する。変換された光はシンチレータ内で拡散するため、単一の放射線光子によって生じた光が複数の画素201の光検出器301で検出されうる。また放射線光子から変換される光の強度は、放射線光子の有するエネルギに依存しうる。波長が短い放射線光子は、高いエネルギを有するため、発光強度が高く、発光量が多い。図7に示すように、高エネルギの放射線光子から変換された光と、低エネルギの放射線光子から変換された光とで、各画素201の光検出器301で検出される光の分布や光の強度が異なりうる。
光検出器301で検出された光は、各画素201に配された比較部303R、303G、303Bによって、光の強度に応じた複数のレベルの信号に変換される。本実施形態において、レベル0は、比較部303R、303G、303Bのすべてから、上述した比較結果に応じた信号としてデジタル値「0」が出力されたことを表す。レベル1は、比較部303Rからデジタル値「1」が出力され、比較部303G、303Bからデジタル値「0」が出力されたことを表す。同様にレベル2は、比較部303R、303Gからデジタル値「1」が出力され、比較部303Bからデジタル値「0」が出力されたことを表し、レベル3は、比較部303R、303G、303Bのすべてからデジタル値「1」が出力されたことを表す。すなわちレベル0は、画素201で検出された光によって電圧変換部302から出力されたパルス信号の電圧が、基準電圧306Rよりも小さいことを表す。またレベル1は、電圧変換部302から出力されたパルス信号の電圧が、基準電圧306Rと306Gの間であることを表す。同様にレベル2は、基準電圧306Gと306Bの間であること、レベル3は、基準電圧306B以上であることを表す。このようにして、検出された光は、複数レベルの信号に変換される。
図8は、放射線光子から変換された発光の分布及び処理部330によって光の強度に応じた複数のレベルの信号に変換された信号パターンの例を表す。図8の左側に放射線光子から変換された発光の分布、右側に変換された信号パターンを示す。センサパネル106は、複数の画素201が2次元アレイ状に配置されたものであり、各画素201からシンチレータ105での発光の分布及び強度に応じた複数レベルの信号を出力する。本実施形態において、レベル0は、発光が検出されなかった信号、レベル1〜3は、発光が検出された検出信号である。またレベル3、2、1の順番に光の強度が高いことを表す。レベル3が最も高い光の強度を示す。上述したように、放射線光子から変換された光は、シンチレータ105で拡散するため、複数の画素201で検出される。このとき光が検出されたことを示す検出信号を出力した集合体から得られる信号パターン309は、例えば図8に示すような信号パターンとなる。図8の分布Aは、単一の放射線光子から変換された発光の分布から得られる集合体の信号パターンの例である。集合体の中央付近の画素201から光の強度が高いことを示す信号が出力され、周辺の画素201から出力される信号は、強度が低いことを示す信号が出力される。一方、図8の分布B〜Dは、複数の放射線光子が、センサ中の同一の画素によって同時に検出され、複数の放射線光子を単一の放射線光子として検出するパイルアップの生じた集合体の信号パターンの例である。複数の放射線光子から変換された信号パターンを単一の放射線光子から変換された変換パターンとして検出した場合、光の強度に応じた複数のレベルの各々について検出信号が出力された回数のカウントや入射した放射線のエネルギを誤って判定する可能性がある。例えば、2つ以上の放射線光子が入射したにもかかわらず、1つの放射線光子が入射したとカウントする。また、例えば複数の放射線光子に起因する発光のため、高いエネルギの放射線光子が入射したと判定してしまう可能性がある。このため、得られる撮像画像の画質が劣化する可能性がある。また、例えば信号パターン309をデジタルの分布に変換する際にシンチレータ105による光の拡散を除去することで解像度を上げる処理などの補正処理を正確に行うことができなくなる可能性がある。
撮像画像の劣化を抑制するために、本実施形態は、検出部307において集合体の信号パターン309がパイルアップを示す1つ以上の判定基準308を満たすかを比較し、この判定結果に基づいてパイルアップを検出する。判定基準308は、集合体の信号パターン309が単一の放射線光子から変換されることによって取得されえない信号パターンとなるように設定される。
例えば、単一の放射線光子から変換される光の拡散する範囲は上限を有しうる。集合体を構成する検出信号を出力した画素201の数を判定基準308として、検出信号を出力した画素201の数が所定の数よりも多い場合、パイルアップを検出する判定基準308を満たすと判定してもよい。判定基準308を満たす数は、各画素201の大きさや配置される間隔、また放射線光子から変換された光の広がり量などに応じて、適宜、設定することが可能である。
また、単一の放射線光子から変換される光の強度は上限を有しうる。集合体から出力された検出信号に、光の強度が単一の放射線光子から変換された所定のレベルよりも高いレベルの検出信号が出力された場合、パイルアップを検出する判定基準308を満たすと判定してもよい。例えば上述した4つのレベルを出力する処理部330の場合、レベル3を出力するための基準電圧306の値を大きく設定し、この基準電圧306の電圧以上の最も光の強度の高いレベル3の検出信号が出力された場合、パイルアップを検出したと判定してもよい。
また、単一の放射線光子から変換される光が高い強度を示す範囲は上限を有しうる。例えば図8の分布Bのように、集合体から出力される検出信号のうち光の強度の最も高いレベルを示す検出信号を出力した画素201の数を判定基準308としてもよい。光の強度の最も高いレベルを示す検出信号を出力した画素201の数が所定の数よりも多い場合、パイルアップを検出する判定基準308を満たすと判定してもよい。判定基準308を満たす数は、各画素201の大きさや配置される間隔、また放射線光子から変換された光の広がり量などに応じて、適宜、設定することが可能である。
また、単一の放射線光子から変換される光の分布は、図8の分布Aに示すように、放射線光子が入射し光に変換された場所で光の強度が最も高く、円形状又は楕円形状に周辺では光の強度が低くなりうる。このため、図8の分布Cに示すように、集合体から出力される検出信号の光の強度の高いレベルを示す検出信号が複数点在する可能性は低い。集合体から出力される検出信号のレベルが2つ以上のピークを有する場合、パイルアップを検出したと判定してもよい。また、単一の放射線光子から変換される発光の分布は、円形状又は楕円形上でありうることから、集合体を構成する行又は列ごとの画素の数は、列又は行方向に増加した後、減少しうる。このため、図8の分布Dに示すように、集合体を構成する画素の配置において、行又は列ごとの画素の数が、列又は行方向に減少した後に増加する場合、パイルアップを検出したと判定してもよい。
パイルアップを示す判定基準308は、集合体の信号パターン309を構成する画素201の数、画素201の配置、それぞれの画素201から出力される検出信号の入射した光の強度を示すレベルなどに応じて設定されうる。また、検出部307は、複数の判定基準308を用いて判定を行ってもよい。例えば集合体が複数の判定基準308のうち少なくとも1つの判定基準308を満たした場合、パイルアップを検出したと判定してもよい。複数の判定基準308を用いることによって、パイルアップの検出漏れが抑制され、得られる撮像画像の画質の劣化が抑制される。
図9に、放射線撮像装置100の取得画像の例を示す。放射線照射期間に光の強度に応じた複数のレベルの各々について検出信号が出力された回数を、パイルアップの検出の有無に応じてそれぞれカウントする。シンチレータ105での発光の分布に対して、1つ1つの期間(フレーム)ごとに取得される取得画像の、各画素201での光の強度ごとのカウントを重ね合わせる。光の強度ごとにカウントした回数を重ね合わせることで、例えば入射した放射線光子のエネルギに応じた色分けを行い、例えばカラー画像のようなエネルギに応じた画像を得る。各画素201から出力された検出回数のデータDATAは、撮像部104からプロセッサ103に転送され、最終的な画像が表示される。本実施形態において、カウントした回数は各画素201に配されたメモリ304に格納され合算した値が出力される。検出信号が出力された回数をカウントする方法はこの方法に限らない。例えば放射線照射期間中の画素201の動作周波数によって決定される1つ1つの期間(フレーム)ごとに、検出部からの信号をプロセッサ103に出力し、プロセッサ103で検出信号が出力された回数をカウントしてもよい。
画素201に入射する放射線光子の数は、画素201の動作速度によって1つの期間で1個以内となるような撮像であるとよい。さらに、1つの期間あたりの線量を低くし、画素201の動作周波数の高い撮像を行うことによって、パイルアップを抑制できる。例えば、画素201の動作周波数は、10kHzから数MHzの範囲内(例えば100kHz程度)で設定されてもよい。また、例えば照射部101の照射量は、管電圧を100kV程度とし、管電流を10mA程度としたときの値で設定されてもよい。ここで、例えば画素201の動作周波数が100kHzの場合、0.01ミリ秒の期間に複数の放射線光子によって生じた光が同一の画素201に入射すると、複数の放射線光子を単一の放射線光子として検出するパイルアップが生じる。
上述の撮像条件において、各画素201によって撮像画像の画質に対して十分なデータDATAが得られる場合、1つの期間(フレーム)の特定の画素のデータDATAを除いても撮像画像への影響は小さい。このため、上述したようにパイルアップを検出した集合体を構成する画素201のそれぞれが検出信号を出力したことをカウントしなくてもよい。カウントしないことによって、入射した放射線光子のエネルギの識別の正確性を上げることができる。しかしながら、パイルアップを検出した際の処理はこれに限らない。例えば、集合体からパイルアップが検出された場合、複数の放射線光子に起因するパイルアップの検出された集合体を、放射線光子のそれぞれに起因する複数の集合体に変換する。その後、変換された複数の集合体のそれぞれを構成する画素201のそれぞれが検出信号を出力したことをカウントしてもよい。複数の放射線光子に起因する集合体を、単一の放射線光子に起因する集合体に分離する場合、変換するための処理が増えるが、被検体に照射した放射線の線量が無駄にならないため、被ばく線量の低減化の点で有利となりうる。
また、処理にかかる時間や負担を低減するために、あらかじめパイルアップを検出する対象となる画素又は集合体を絞りこんでもよい。例えば、集合体を構成する検出信号を出力した画素201の数が、所定の数よりも多い場合のみパイルアップの検出対象とし、所定の数よりも少ない場合、パイルアップを検出するための判定を行わなくてもよい。例えば、上述した1つの注目画素で検出信号が出力され、注目画素に隣接する画素で検出信号が出力されなかった場合は、パイルアップを検出する判定を行わず、注目画素で検出信号が出力されたことをカウントしてよい。判定を行わない上限の画素数は、各画素201の大きさや配置される間隔、光の広がりに応じて適宜、決定すればよい。
本実施形態において、図1に示すようにプロセッサ103でセンサパネル106からの撮像画像を取得している。この撮像画像は、センサパネル106の各画素201に配置されたメモリ304の値を、出力線206を介して読み出したものである。取得した撮像画像はそのまま表示してもよいが、これに限定されるものではなく任意の画像処理を行ってもよい。例えば、直接線の成分のみを画像形成に用いる画像処理を行い、グリッドを用いずに散乱線を除去してもよい。また、各画素201のカウント値に対して演算処理を施すことで、放射線のエネルギスペクトルを推定してもよい。また、複数の画素201のカウント値から、照射部101の方向と距離を推定してもよい。また更に、被検体を透過する各エネルギの放射線光子の数と各エネルギにおける線減弱係数から、物質の組成や物性値を計算してもよい。例えば、被検体の実効原子番号を算出する処理を行ってもよい。また、例えば被検体が厚くなるほど高いエネルギの放射線光子が相対的に多く入射するビームハードニングを補正する処理を行ってもよい。
<第2実施形態>
本発明に係る第2実施形態の放射線撮像装置(放射線撮像システム)について説明する。前述の第1実施形態によるパイルアップの検出は、画素201に配された処理部330を用いたものであったが、これらの機能は、例えばプロセッサ103においてプログラム上またはソフトウェア上で実現されてもよい。即ち、画素201を、シンチレータ105で変換された光に応じた信号を出力するための回路で構成し、パイルアップの検出及び検出信号の出力回数のカウントを画素201の外部で行ってもよい。
本発明に係る第2実施形態の放射線撮像装置(放射線撮像システム)について説明する。前述の第1実施形態によるパイルアップの検出は、画素201に配された処理部330を用いたものであったが、これらの機能は、例えばプロセッサ103においてプログラム上またはソフトウェア上で実現されてもよい。即ち、画素201を、シンチレータ105で変換された光に応じた信号を出力するための回路で構成し、パイルアップの検出及び検出信号の出力回数のカウントを画素201の外部で行ってもよい。
図10は、本実施形態のセンサパネル106における画素の等価回路を示す図である。本実施形態のセンサパネル106における画素40は、光電変換素子401と、出力回路部402とを含みうる。光電変換素子401は、典型的にはフォトダイオードでありうる。出力回路部402は、増幅回路部404、クランプ回路部405、サンプルホールド回路部407、および選択回路部408を含みうる。
光電変換素子401は、電荷蓄積部を含み、該電荷蓄積部は、増幅回路部404のMOSトランジスタ404aのゲートに接続されている。MOSトランジスタ404aのソースは、MOSトランジスタ404bを介して電流源404cに接続されている。MOSトランジスタ404aと電流源404cとによってソースフォロア回路が構成されている。MOSトランジスタ404bは、そのゲートに供給されるイネーブル信号ENがアクティブレベルになるとオンしてソースフォロア回路を動作状態にするイネーブルスイッチである。
図10に示す例では、光電変換素子401の電荷蓄積部およびMOSトランジスタ404aのゲートが共通のノードを構成していて、このノードは、該電荷蓄積部に蓄積された電荷を電圧に変換する電荷電圧変換部として機能する。即ち、電荷電圧変換部には、該電荷蓄積部に蓄積された電荷Qと電荷電圧変換部が有する容量値Cとによって定まる電圧V(=Q/C)が現れる。電荷電圧変換部は、リセットスイッチ403を介してリセット電位Vresに接続されている。リセット信号PRESがアクティブレベルになると、リセットスイッチ403がオンして、電荷電圧変換部の電位がリセット電位Vresにリセットされる。
クランプ回路部406は、リセットした電荷電圧変換部の電位に応じて増幅回路部404によって出力されるノイズをクランプ容量406aによってクランプする。つまり、クランプ回路部406は、光電変換素子401で光電変換により発生した電荷に応じてソースフォロア回路から出力された信号から、このノイズをキャンセルするための回路である。このノイズはリセット時のkTCノイズを含みうる。クランプは、クランプ信号PCLをアクティブレベルにしてMOSトランジスタ406bをオン状態にした後に、クランプ信号PCLを非アクティブレベルにしてMOSトランジスタ406bをオフ状態にすることによってなされる。クランプ容量406aの出力側は、MOSトランジスタ406cのゲートに接続されている。MOSトランジスタ406cのソースは、MOSトランジスタ406dを介して電流源406eに接続されている。MOSトランジスタ406cと電流源406eとによってソースフォロア回路が構成されている。MOSトランジスタ406dは、そのゲートに供給されるイネーブル信号EN0がアクティブレベルになるとオンしてソースフォロア回路を動作状態にするイネーブルスイッチである。
光電変換素子401で光電変換により発生した電荷に応じてクランプ回路部406から出力される信号は、光信号として、光信号サンプリング信号TSがアクティブレベルになることによってスイッチ407Saを介して容量407Sbに書き込まれる。電荷電圧変換部の電位をリセットした直後にMOSトランジスタ406bをオン状態とした際にクランプ回路部406から出力される信号は、クランプ電圧である。このノイズ信号は、ノイズサンプリング信号TNがアクティブレベルになることによってスイッチ407Naを介して容量407Nbに書き込まれる。このノイズ信号には、クランプ回路部406のオフセット成分が含まれる。スイッチ407Saと容量407Sbによって信号サンプルホールド回路407Sが構成され、スイッチ407Naと容量407Nbによってノイズサンプルホールド回路407Nが構成される。サンプルホールド回路部407は、信号サンプルホールド回路407Sとノイズサンプルホールド回路407Nとを含む。
駆動回路部41が行選択信号VSTをアクティブレベルに駆動すると、容量407Sbに保持された信号(光信号)がMOSトランジスタ408Saおよび行選択スイッチ408Sbを介して信号線45Sに出力される。また、同時に、容量407Nbに保持された信号(ノイズ)がMOSトランジスタ408Naおよび行選択スイッチ408Nbを介して信号線45Nに出力される。MOSトランジスタ408Saは、信号線45Sに設けられた不図示の定電流源とソースフォロア回路を構成する。同様に、MOSトランジスタ408Naは、信号線45Nに設けられた不図示の定電流源とソースフォロア回路を構成する。MOSトランジスタ408Saと行選択スイッチ408Sbとによって信号用選択回路部408Sが構成され、MOSトランジスタ408Naと行選択スイッチ408Nbによってノイズ用選択回路部408Nが構成される。選択回路部408は、信号用選択回路部408Sとノイズ用選択回路部408Nとを含む。
画素40は、隣接する複数の画素40の光信号を加算する加算スイッチ409Sを有してもよい。加算モード時には、加算モード信号ADDがアクティブレベルになり、加算スイッチ409Sがオン状態になる。これにより、隣接する画素の容量407Sbが加算スイッチ409Sによって相互に接続されて、光信号が平均化される。同様に、画素40は、隣接する複数の画素40のノイズを加算する加算スイッチ409Nを有していてもよい。加算スイッチ409Nがオン状態になると、隣接する画素の容量407Nbが加算スイッチ409Nによって相互に接続されて、ノイズが平均化される。加算部409は、加算スイッチ409Sと加算スイッチ409Nとを含む。
画素40は、感度を変更するための感度変更部405を有していてもよい。画素40は、例えば、第1感度変換スイッチ405aおよび第2感度変換スイッチ405a’、並びにそれらに付随する回路素子を含みうる。第1変更信号WIDEがアクティブレベルになると、第1感度変更スイッチ405aがオンして、電荷電圧変換部の容量値に第1付加容量405bの容量値が追加される。これによって画素40の感度が低下する。第2変更信号WIDE2がアクティブレベルになると、第2感度変更スイッチ405a’がオンして、電荷電圧変換部の容量値に第2付加容量405b’の容量値が追加される。これによって画素40の感度が更に低下する。このように画素40の感度を低下させる機能を追加することによって、より大きな光量を受光することが可能となり、ダイナミックレンジを広げることができる。第1変更信号WIDEがアクティブレベルになる場合には、イネーブル信号ENwをアクティブレベルにして、MOSトランジスタ404aに代えてMOSトランジスタ404a’をソースフォロア動作させてもよい。
以上のような画素回路からの出力は、不図示のAD変換器でデジタル値に変換された後、プロセッサ103に供給される。そして、プロセッサ103において、電圧変換部302、比較部303、メモリ304、及び、検出部307に相当する処理が、ソフトウェア上で行われる。
まず、プロセッサ103は、電圧変換部302に相当する処理として、画素回路の出力の微分値を計算する。次に、プロセッサ103は、比較部303に相当する処理として、算出した微分値と基準電圧306に相当するデジタル値とを比較する。プロセッサ103は、当該微分値が基準電圧306に相当するデジタル値以上である場合デジタル値「1」を出力し、当該微分値が基準電圧306に相当するデジタル値より小さい場合デジタル値「0」を出力する。そして、検出部307及びメモリ304に相当する処理として、各比較部303に相当する処理によって出力される信号パターン309に相当するデジタル値と判定基準308に相当するデジタル値とを比較しパイルアップの検出を行う。パイルアップの検出の有無に応じて、画素が光を検出した回数をカウントするか否かを決定する。信号パターン309は、第1実施形態と同様に、光を検出したことを示す検出信号を出力した画素と、同じ期間に検出信号を出力し該画素から連続する1つ以上の画素との比較部303に相当する処理の出力から構成された、複数ビットのデジタル値である。そして、プロセッサ103は、カウントされた回数に基づいて画像を生成する。これらの処理は、例えば、プロセッサ103のCPUにおいて実行されうる。また、検出回数を記憶する記憶領域は、プロセッサ103のメモリに確保される。また、判定基準308に相当するデジタル値や、検出部307に相当する処理、メモリ304に相当する記憶領域は、第1実施形態と同様に複数存在してもよい。その他の照合処理や演算についても同様である。
<その他の実施形態>
本発明における電圧変換部302、比較部303、メモリ304及び検出部307を含む処理部330の各機能は、第1実施形態のようにセンサパネル106の各画素201に配置する形態であってもよい。また第2実施形態のようにソフトウェア上で全てを行う形態であってもよい。しかし、これらの実施形態に限定されるものではない。処理部330で行う処理の少なくとも一部、例えば電圧変換部302および比較部303をセンサパネル106の各画素201に配置し、メモリ304及び検出部307に相当する処理をソフトウェア上で行う形態にしてもよい。また、ソフトウェアではなく、センサパネル106の外部に設けられた回路で行う形態にしてもよい。この場合、例えば、当該回路はFPGAで構成されるとよい。
本発明における電圧変換部302、比較部303、メモリ304及び検出部307を含む処理部330の各機能は、第1実施形態のようにセンサパネル106の各画素201に配置する形態であってもよい。また第2実施形態のようにソフトウェア上で全てを行う形態であってもよい。しかし、これらの実施形態に限定されるものではない。処理部330で行う処理の少なくとも一部、例えば電圧変換部302および比較部303をセンサパネル106の各画素201に配置し、メモリ304及び検出部307に相当する処理をソフトウェア上で行う形態にしてもよい。また、ソフトウェアではなく、センサパネル106の外部に設けられた回路で行う形態にしてもよい。この場合、例えば、当該回路はFPGAで構成されるとよい。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
以上、本発明に係る実施形態を示したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、上述した各実施形態は適宜変更、組み合わせが可能である。
100 放射線撮像装置、105 シンチレータ、106 センサパネル、201 画素、301 光検出器、330 処理部
Claims (19)
- 放射線を光に変換するシンチレータと、前記光を検出する光検出器を有する複数の画素が2次元アレイ状に配されたセンサパネルと、処理部と、を含む放射線撮像装置であって、
前記処理部は、
前記複数の画素のそれぞれの前記光検出器で検出された光の強度を示す信号を出力する信号生成部と、
前記信号のうち基準値を超えるレベルの信号を出力する画素の集合体を識別し、前記集合体のパターンに基づいて、複数の放射線光子が単一の放射線光子として検出されるパイルアップを検出する検出部と、
を含むことを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記集合体に含まれる画素は、同じ期間に前記信号のうち光が検出されたことを示す検出信号を出力し、1つの注目画素と前記注目画素から連続する1つ以上の画素とで構成され、
前記検出部は、前記集合体を構成する画素の数、前記集合体を構成する画素の配置、及び、前記集合体のそれぞれから出力される前記検出信号のレベルの少なくとも何れかが、パイルアップを示す1つ以上の判定基準を満たすかを判定することによって、前記集合体からパイルアップを検出することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。 - 前記1つ以上の判定基準は、前記集合体を構成する画素の数が所定の数よりも多い場合を含むことを特徴とする請求項2に記載の放射線撮像装置。
- 前記1つ以上の判定基準は、前記集合体から出力される前記検出信号のうち光の強度が所定のレベルよりも高いことを示す前記検出信号が出力された場合を含むことを特徴とする請求項2又は3に記載の放射線撮像装置。
- 前記検出信号は、前記光検出器で検出された光の強度に応じて複数のレベルを有し、
前記1つ以上の判定基準は、前記集合体から出力される前記検出信号のうち光の強度の最も高いレベルを示す前記検出信号を出力した画素の数が所定の数よりも多い場合を含むことを特徴とする請求項2乃至4の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記検出信号は、前記光検出器で検出された光の強度に応じて複数のレベルを有し、
前記1つ以上の判定基準は、前記集合体を構成する画素の配置において、前記集合体から出力される前記検出信号のレベルが2つ以上のピークを有する場合を含むことを特徴とする請求項2乃至5の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記1つ以上の判定基準は、前記集合体を構成する画素の配置において、行又は列ごとの画素の数が、列又は行方向に減少した後に増加する場合を含むことを特徴とする請求項2乃至6の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記1つ以上の判定基準は、複数の判定基準であり、
前記検出部は、前記集合体が前記複数の判定基準を満たすかを判定することによって、パイルアップを検出することを特徴とする請求項2乃至7の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記検出部は、前記集合体が前記複数の判定基準のうち少なくとも1つの判定基準を満たした場合、パイルアップを検出することを特徴とする請求項8に記載の放射線撮像装置。
- 前記集合体を構成する前記画素の数が所定の数よりも少ない場合、前記検出部はパイルアップを検出するための判定を行わないことを特徴とする請求項2乃至9の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記処理部は、撮像画像を生成するために、
前記集合体からパイルアップが検出されなかった場合、前記集合体を構成する画素のそれぞれが前記検出信号を出力したことをカウントし、
前記集合体からパイルアップが検出された場合、前記集合体を構成する画素のそれぞれが前記検出信号を出力したことをカウントしないことを特徴とする請求項2乃至10の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記処理部は、撮像画像を生成するために、
前記集合体からパイルアップが検出されなかった場合、前記集合体を構成する画素のそれぞれが前記検出信号を出力したことをカウントし、
前記集合体からパイルアップが検出された場合、
複数の放射線光子に起因する前記集合体を、放射線光子のそれぞれに起因する複数の集合体に変換し、
前記複数の集合体のそれぞれを構成する画素のそれぞれが前記検出信号を出力したことをカウントすることを特徴とする請求項2乃至10の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記処理部は、撮像画像を生成するために、前記注目画素に隣接する画素で前記検出信号が出力されなかった場合、前記注目画素が前記検出信号を出力したことをカウントすることを特徴とする請求項2乃至12の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記処理部は、前記複数の画素のそれぞれにおいて、前記検出信号が出力されたことをカウントした回数を格納するメモリを含むことを特徴とする請求項11乃至13の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記信号生成部は、
前記光検出器から出力される信号を電圧信号に変換する電圧変換部と、
前記電圧信号の電圧を基準電圧と比較し、比較した結果を示す比較結果信号を生成する比較部と、
を含むことを特徴とする請求項1乃至14の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記検出部は、
同じ期間に前記比較結果信号のうち光が検出されたことを示す信号を出力した画素の集合体であって、1つの注目画素と前記注目画素から連続する1つ以上の画素とで構成された集合体を識別し、
前記集合体のパターンに基づいてパイルアップを検出することを特徴とする請求項15に記載の放射線撮像装置。 - 前記処理部のうち少なくとも一部が、前記複数の画素の各画素に配されていることを特徴とする請求項1乃至16の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 放射線を光に変換するシンチレータと、前記光を検出する光検出器を有する複数の画素が2次元アレイ状に配されたセンサパネルと、を用いた放射線撮像装置の制御方法であって、
前記複数の画素のそれぞれの前記光検出器で検出された光の強度を示す信号を出力する工程と、
前記信号のうち基準値を超えるレベルの信号を出力する画素の集合体を識別する工程と、
前記集合体のパターンに基づいて、複数の放射線光子が1つの放射線光子として検出されるパイルアップを検出する工程と、
を含むことを特徴とする制御方法。 - 請求項18に記載の制御方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015139104A JP6573378B2 (ja) | 2015-07-10 | 2015-07-10 | 放射線撮像装置、その制御方法及びプログラム |
PCT/JP2016/002934 WO2017010045A1 (en) | 2015-07-10 | 2016-06-17 | Radiation imaging apparatus, control method thereof, and program |
US15/564,946 US10197684B2 (en) | 2015-07-10 | 2016-06-17 | Radiation imaging apparatus, control method thereof, and non-transitory computer-readable storage medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015139104A JP6573378B2 (ja) | 2015-07-10 | 2015-07-10 | 放射線撮像装置、その制御方法及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017020912A JP2017020912A (ja) | 2017-01-26 |
JP6573378B2 true JP6573378B2 (ja) | 2019-09-11 |
Family
ID=57757269
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015139104A Active JP6573378B2 (ja) | 2015-07-10 | 2015-07-10 | 放射線撮像装置、その制御方法及びプログラム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10197684B2 (ja) |
JP (1) | JP6573378B2 (ja) |
WO (1) | WO2017010045A1 (ja) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6643909B2 (ja) | 2016-01-27 | 2020-02-12 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及びプログラム |
JP6706963B2 (ja) | 2016-04-18 | 2020-06-10 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の制御方法 |
JP6778118B2 (ja) | 2017-01-13 | 2020-10-28 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP6974948B2 (ja) | 2017-02-10 | 2021-12-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像方法 |
JP6929104B2 (ja) | 2017-04-05 | 2021-09-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム |
JP6853729B2 (ja) | 2017-05-08 | 2021-03-31 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム |
JP6788547B2 (ja) | 2017-05-09 | 2020-11-25 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法、制御装置、及び、放射線撮像システム |
CN110869809B (zh) | 2017-07-10 | 2023-07-25 | 佳能株式会社 | 放射线成像装置和放射线成像系统 |
WO2019021819A1 (ja) | 2017-07-25 | 2019-01-31 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 放射線検出装置 |
JP6934769B2 (ja) | 2017-07-28 | 2021-09-15 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像方法 |
JP6912965B2 (ja) | 2017-08-04 | 2021-08-04 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システムおよび放射線撮像装置の作動方法 |
JP7038506B2 (ja) | 2017-08-25 | 2022-03-18 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システムおよび放射線撮像装置の作動方法 |
JP6882135B2 (ja) | 2017-10-06 | 2021-06-02 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
JP7030478B2 (ja) | 2017-11-09 | 2022-03-07 | キヤノン株式会社 | 撮影台および放射線撮影システム |
JP7045834B2 (ja) | 2017-11-10 | 2022-04-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像システム |
JP7067912B2 (ja) | 2017-12-13 | 2022-05-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
JP7245001B2 (ja) | 2018-05-29 | 2023-03-23 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および撮像システム |
JP7093233B2 (ja) | 2018-06-07 | 2022-06-29 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影方法およびプログラム |
WO2020003744A1 (ja) | 2018-06-27 | 2020-01-02 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影方法およびプログラム |
JP6818724B2 (ja) | 2018-10-01 | 2021-01-20 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP7170497B2 (ja) | 2018-10-22 | 2022-11-14 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP7361516B2 (ja) | 2019-07-12 | 2023-10-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影装置の制御方法、および、プログラム |
JP7378245B2 (ja) | 2019-08-29 | 2023-11-13 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP7344769B2 (ja) * | 2019-11-22 | 2023-09-14 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び出力方法 |
JP2022164433A (ja) | 2021-04-16 | 2022-10-27 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP3152476B2 (ja) * | 1992-01-28 | 2001-04-03 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置 |
JP3958987B2 (ja) | 2002-03-25 | 2007-08-15 | 浜松ホトニクス株式会社 | フォトンカウンティングシステム及びフォトンカウンティング方法 |
JP4533010B2 (ja) | 2003-11-20 | 2010-08-25 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像方法及び放射線撮像システム |
JP4469638B2 (ja) | 2004-03-12 | 2010-05-26 | キヤノン株式会社 | 読み出し装置及び画像撮影装置 |
JP4441294B2 (ja) | 2004-03-12 | 2010-03-31 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及びその制御方法 |
JP2005287773A (ja) | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Canon Inc | 画像撮影装置及び画像撮影システム |
US7403594B2 (en) | 2004-03-31 | 2008-07-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus and control method therefor |
JP4307322B2 (ja) | 2004-05-18 | 2009-08-05 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP2006068512A (ja) | 2004-08-06 | 2006-03-16 | Canon Inc | 撮像装置、撮像システム、撮像方法、およびコンピュータプログラム |
JP4208790B2 (ja) | 2004-08-10 | 2009-01-14 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置の製造方法 |
JP4594188B2 (ja) | 2004-08-10 | 2010-12-08 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び放射線検出システム |
US7514686B2 (en) | 2004-08-10 | 2009-04-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation detecting apparatus, scintillator panel, their manufacturing method and radiation detecting system |
JP4266898B2 (ja) | 2004-08-10 | 2009-05-20 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置とその製造方法および放射線撮像システム |
JP5058517B2 (ja) | 2005-06-14 | 2012-10-24 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及びその制御方法並びに放射線撮像システム |
JP4965931B2 (ja) | 2005-08-17 | 2012-07-04 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、その制御方法、及び制御プログラム |
JP4750512B2 (ja) | 2005-09-01 | 2011-08-17 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP5317388B2 (ja) | 2005-09-30 | 2013-10-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム及びプログラム |
JP4834518B2 (ja) | 2005-11-29 | 2011-12-14 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法、及びそれを実行させるためのプログラムを記録した記録媒体 |
JP2007151761A (ja) | 2005-12-02 | 2007-06-21 | Canon Inc | 放射線撮像装置、システム及び方法、並びにプログラム |
JP2007155662A (ja) | 2005-12-08 | 2007-06-21 | Canon Inc | 放射線検出装置及びそれを用いた放射線撮像システム |
JP4989197B2 (ja) | 2005-12-13 | 2012-08-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び補正方法 |
JP4579894B2 (ja) | 2005-12-20 | 2010-11-10 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び放射線検出システム |
JP4921180B2 (ja) | 2006-01-25 | 2012-04-25 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び放射線撮像システム |
JP4891096B2 (ja) | 2006-01-30 | 2012-03-07 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
JP5043448B2 (ja) | 2006-03-10 | 2012-10-10 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP4850730B2 (ja) | 2006-03-16 | 2012-01-11 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、その処理方法及びプログラム |
JP4868926B2 (ja) | 2006-04-21 | 2012-02-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
JP4847202B2 (ja) | 2006-04-27 | 2011-12-28 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び放射線撮像システム |
JP4989120B2 (ja) | 2006-06-16 | 2012-08-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像システム及びその駆動方法 |
JP5159161B2 (ja) | 2006-06-26 | 2013-03-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム及びその制御方法 |
JP5038031B2 (ja) | 2006-07-11 | 2012-10-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、その駆動方法及び放射線撮影システム |
JP2008042478A (ja) | 2006-08-04 | 2008-02-21 | Canon Inc | 撮像装置、放射線撮像装置、及びその駆動方法 |
JP5300216B2 (ja) | 2006-08-29 | 2013-09-25 | キヤノン株式会社 | 電子カセッテ型放射線検出装置 |
JP5049739B2 (ja) | 2006-11-01 | 2012-10-17 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
JP2008212644A (ja) | 2007-02-06 | 2008-09-18 | Canon Inc | 放射線撮像装置及びその駆動方法、並びに放射線撮像システム |
US7869568B2 (en) | 2007-03-13 | 2011-01-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus, and method and program for controlling radiation imaging apparatus |
JP5004848B2 (ja) | 2007-04-18 | 2012-08-22 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び放射線検出システム |
JP4834614B2 (ja) | 2007-06-12 | 2011-12-14 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置および放射線撮像システム |
JP4991459B2 (ja) | 2007-09-07 | 2012-08-01 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び放射線撮像システム |
JP5038101B2 (ja) | 2007-11-12 | 2012-10-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その駆動方法及びプログラム |
JP2009141439A (ja) | 2007-12-03 | 2009-06-25 | Canon Inc | 放射線撮像装置、その駆動方法及びプログラム |
JP5311834B2 (ja) | 2008-01-24 | 2013-10-09 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像システム、信号処理方法及びプログラム |
JP5274098B2 (ja) | 2008-04-30 | 2013-08-28 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、放射線撮像システム、その制御方法及びプログラム |
JP2010005212A (ja) | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Canon Inc | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP5792923B2 (ja) | 2009-04-20 | 2015-10-14 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム |
JP5517484B2 (ja) | 2009-05-01 | 2014-06-11 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム |
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WO2011001610A1 (ja) | 2009-07-03 | 2011-01-06 | 株式会社 日立製作所 | ガンマ線方向検出装置および方法 |
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JP5665494B2 (ja) | 2010-06-24 | 2015-02-04 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び放射線撮像システム |
JP5680943B2 (ja) | 2010-11-16 | 2015-03-04 | キヤノン株式会社 | シンチレータ、放射線検出装置および放射線撮影装置 |
JP5814621B2 (ja) | 2011-05-24 | 2015-11-17 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法、並びに、撮像システム |
JP2013152160A (ja) | 2012-01-25 | 2013-08-08 | Canon Inc | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP2013174465A (ja) | 2012-02-23 | 2013-09-05 | Canon Inc | 放射線検出装置 |
JP5950840B2 (ja) | 2012-03-16 | 2016-07-13 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び撮像システム |
JP5986526B2 (ja) | 2012-04-06 | 2016-09-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP5997512B2 (ja) | 2012-06-20 | 2016-09-28 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び撮像システム |
JP2014044200A (ja) | 2012-07-31 | 2014-03-13 | Canon Inc | 放射線検出装置、その製造方法及び放射線検出システム |
JP6162937B2 (ja) | 2012-08-31 | 2017-07-12 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法および制御プログラム |
JP6041669B2 (ja) | 2012-12-28 | 2016-12-14 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像システム |
JP2014168205A (ja) | 2013-02-28 | 2014-09-11 | Canon Inc | 放射線撮像装置、放射線検査装置、信号の補正方法およびプログラム |
JP5986524B2 (ja) | 2013-02-28 | 2016-09-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
JP6016673B2 (ja) | 2013-02-28 | 2016-10-26 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
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JP6100045B2 (ja) | 2013-03-19 | 2017-03-22 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置、放射線検出システム及び放射線検出装置の製造方法 |
JP6161346B2 (ja) | 2013-03-19 | 2017-07-12 | キヤノン株式会社 | 撮像システム |
JP6200173B2 (ja) | 2013-03-21 | 2017-09-20 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び放射線検出システム |
US20140361189A1 (en) | 2013-06-05 | 2014-12-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging system |
JP6238577B2 (ja) | 2013-06-05 | 2017-11-29 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
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JP6355387B2 (ja) | 2014-03-31 | 2018-07-11 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像システム |
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JP6362421B2 (ja) | 2014-05-26 | 2018-07-25 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法およびプログラム |
JP6494204B2 (ja) | 2014-07-17 | 2019-04-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP6385179B2 (ja) | 2014-07-18 | 2018-09-05 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及びその駆動方法 |
JP6391388B2 (ja) | 2014-09-24 | 2018-09-19 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
JP6525579B2 (ja) | 2014-12-22 | 2019-06-05 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP2016178533A (ja) | 2015-03-20 | 2016-10-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
US10416323B2 (en) | 2016-03-29 | 2019-09-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, and method of operating radiation imaging apparatus |
-
2015
- 2015-07-10 JP JP2015139104A patent/JP6573378B2/ja active Active
-
2016
- 2016-06-17 WO PCT/JP2016/002934 patent/WO2017010045A1/en active Application Filing
- 2016-06-17 US US15/564,946 patent/US10197684B2/en active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
US10197684B2 (en) | 2019-02-05 |
JP2017020912A (ja) | 2017-01-26 |
US20180136343A1 (en) | 2018-05-17 |
WO2017010045A1 (en) | 2017-01-19 |
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