JP6391388B2 - 放射線撮像装置 - Google Patents

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Description

本発明は、放射線撮像装置に関する。
X線等の放射線の画像を撮像する放射線撮像装置として、放射線を電荷に変換する変換素子を2次元状に配列した放射線撮像パネルを備えるものが知られている。変換素子には、放射線を可視光に変換し、この可視光を電荷に変換するものや、放射線を直接に電荷に変換するものがある。変換素子は、半導体層を含み、この半導体層で生じる暗電流がオフセット成分となって画像にシェーディングを生じさせうる。
特許文献1には、暗電流によるダーク信号量に基づいて放射線の照射時の電荷情報を補正する撮像装置が記載されている。特許文献1に記載された撮像装置は、光または放射線の情報を電荷情報に変換する変換層の周辺に複数の温度センサを有し、これらによって温度分布を測定する。そして、放射線画像の撮像時は、予め記憶された温度分布とダーク信号量との相関関係と、複数の温度センサを使って得られる温度分布とに基づいてダーク信号量が求められ、このダーク信号量に基づいて電荷情報が補正される。特許文献1に記載された方式では、予め記憶された温度分布とダーク信号量との相関関係と放射線画像の撮像時に測定された温度分布とに基づいて補正を行うので、温度センサや、相関関係を記憶するメモリが不可欠であり、構成が複雑化しうる。また、当該方式では、撮像時に実際にダーク信号量を測定することはないので、相関関係に基づいて求められるダーク信号量と実際のダーク信号量との間に乖離が生じる可能性もある。
露出制御機能を有する放射線撮像装置も知られている。特許文献2には、放射線の照射開始および照射終了の少なくとも一方を検出する放射線画像検出装置が記載されている。該放射線画像検出装置は、複数の画素がマトリクス状に配列された撮像領域と、放射線の入射量に応じた電気信号を出力する複数の検出素子とを有する。該放射線画像検出装置は、複数の検出素子のうち感度が高い検出素子の出力に基づいて放射線の照射開始および照射終了の少なくとも一方を検出する。
なお、露出制御のための検出素子ないしセンサによって得られた情報に基づいて放射線画像を補正する技術は知られていない。
特開2011−223088号公報 特開2012−247354号公報
本発明は、単純な構成で、より正確にノイズ成分を除去するために有利な技術を提供することを目的とする。
本発明の1つの側面は、放射線撮像装置に係り、該放射線撮像装置は、放射線を検出する複数の画素が配列された画素アレイと、露出制御のために放射線の照射を検出するセンサと、前記複数の画素および前記センサから信号を読み出す読出部と、前記読出部によって読み出された信号を処理する処理部と、を備え、前記処理部は、前記読出部によって前記複数の画素から読み出された信号を前記読出部によって前記センサから読み出された信号に基づいて補正する。
本発明によれば、単純な構成で、より正確にノイズ成分を除去するために有利な技術が提供される。
本発明の一実施形態の放射線撮像システムの構成を示す図。 本発明の第1実施形態の放射線撮像パネルの構成を示す図。 本発明の一実施形態の放射線撮像システムの動作例を示す図。 本発明の一実施形態の放射線撮像システムの他の動作例を示す図。 本発明の第2実施形態の放射線撮像パネルの構成を示す図。 本発明の第3実施形態の放射線撮像パネルの構成を示す図。
以下、添付図面を参照しながら本発明の放射線撮像システムをその実施形態を通して例示的に説明する。
図1には、本発明の一実施形態の放射線撮像システム10の構成が示されている。放射線撮像システム10は、例えば、放射線撮像装置100、制御装置200、放射線発生装置310および曝射制御装置320を含みうる。制御装置200の構成の全部または一部は、放射線撮像装置100に組み込まれてもよい。放射線撮像装置100の構成の全部または一部と制御装置200の構成の全部または一部とによって構成される装置を放射線撮像装置として理解することもできる。制御装置200および曝射制御装置320は、1つの装置として実現されてもよい。
放射線撮像装置100は、例えば、画素アレイ110、1又は複数のセンサS、駆動部120、読出部130、増幅部(インピーダンス変換部)140、DA変換器150、処理部160、制御部170、無線インターフェース(I/F)180を含みうる。画素アレイ110には、放射線を検出する複数の画素が配列されている。1又は複数のセンサSは、典型的には、画素アレイ110の複数の画素によって構成される撮像エリアIAに配置される。また、典型的には、複数のセンサSが撮像エリアIAに分散して配列されうる。
駆動部120は、画素アレイ110の複数の画素、および、1又は複数のセンサSを駆動する。読出部130は、画素アレイ110の複数の画素、および、1又は複数のセンサSから信号を読み出す。読出部130によってセンサSから読み出された信号は、露出制御、画素アレイ110によって撮像された放射線画像の補正などに使用されうる。増幅部140は、読出部130によって読み出された信号を増幅する。DA変換器150は、増幅部140から出力される信号(アナログ信号)をデジタル信号に変換する。
処理部160は、画素アレイ110を構成する複数の画素から読出部130によって読みされた信号および1又は複数のセンサSから読出部130によって読み出された信号を処理する。処理部160は、例えば、読出部130によって1又は複数のセンサSから読み出された信号に基づいて、読出部130によって画素アレイ110を構成する複数の画素から読み出された信号を補正する。この実施形態では、処理部160が処理する信号は、読出部130から出力された信号を増幅部140およびDA変換器150で処理した信号である。しかしながら、読出部130、増幅部140およびDA変換器150から出力される信号は互いに等価であるので、処理部160は、増幅部140および/またはDA変換器150を経由せずに読出部130から提供される信号を処理するように構成されてもよい。
処理部160は、放射線撮像装置100に放射線が照射されている状態で読出部130によって1又は複数のセンサSから読み出された信号に基づいて露出制御信号を生成する。露出制御信号は、放射線が照射されていない状態で読出部130によって1又は複数のセンサSから読み出された信号に基づいて放射線が照射されている状態で読出部130によって1又は複数のセンサSから読み出された信号を補正したものでありうる。
制御部170は、画素アレイ110、1又は複数のセンサS、駆動部120、読出部130、増幅部140、DA変換器150、処理部160および無線I/F180を制御する。また、制御部170は、処理部160が生成した露出制御信号に基づいて、放射線発生装置310による放射線の照射を停止させるように、制御装置200を介して曝射制御装置320に曝射停止指令を送る。
無線I/F180は、制御装置200(の無線I/F220)と通信する。無線I/F180は、例えば、処理部160から提供される信号、曝射停止指令、放射線撮像装置100の状態を示す信号などを制御装置200に送信する。無線I/F180は、制御装置200から、例えば、曝射制御装置320が放射線発生装置310に曝射指令を送信したことを示す情報(以下、曝射通知情報)を受信する。
制御装置200は、例えば、処理部210、無線I/F220、表示部230、入力部240(キーボード、ポインティングデバイスなど)を含みうる。制御装置200は、汎用コンピュータにソフトウエア(コンピュータプログラム)を組み込むことによって構成されうる。
曝射制御装置320は、曝射スイッチ(不図示)を含み、曝射スイッチがオンされることに応じて曝射指令を放射線発生装置310に送信するとともに、そのことを曝射制御装置320に通知する。放射線発生装置310は、曝射指令に従って放射線を放射する。制御装置200は、曝射制御装置320から放射線発生装置に曝射指令が送信されることを示す曝射通知情報を放射線撮像装置100に送信する。
図2には、本発明の第1実施形態の放射線撮像装置100の構成が示されている。画素アレイ110には、複数の画素Pが複数の行および複数の列を構成するように2次元状に配列されている。複数の画素Pの配列によって撮像エリアIAが構成されている。撮像エリアIAには、複数のセンサSが分散して配列されうる。図2に示された例では、複数のセンサSが撮像エリアIAの対角線上に配列されているが、これは模式図に過ぎず、実際には、複数のセンサSは、複数の画素Pからなるグループごとに割り当てられるように配置されうる。図2に示された例では、センサSが配置された座標(画素Pの配列における行および列で特定される位置)には画素Pが配置されていないが、他の座標に配置された画素Pより小さいセンサSが当該座標に配置されてもよい。
画素Pは、変換素子CVと、スイッチTTとを含む。同様に、センサSも、変換素子CVと、スイッチTTとを含む。変換素子CVは、放射線を電荷に変換する。変換素子CVは、放射線を可視光に変換するシンチレータと、可視光を電荷に変換する光電変換素子とで構成されうる。この場合、シンチレータは、複数の変換素子CVによって共有されうる。変換素子CVは、放射線を直接に電荷に変換するように構成されてもよい。変換素子CVは、MIS型またはPIN型の光電変換素子で構成されうる。スイッチTTは、例えば、薄膜トランジスタ(TFT)で構成されうる。スイッチTTは、変換素子CVの一方の電極と信号線SLとの間に、それらの間の接続を制御するように配置される。変換素子CVの他方の電極は、バイアス線Bsに接続される。
駆動部120は、複数の画素Pを駆動する画素駆動部121と、1又は複数のセンサSを駆動するセンサ駆動部122とを含む。画素PのスイッチTTのゲートは、画素駆動部121によって駆動されるゲート線G1〜Gmのいずれかに接続されている。ここで、ゲート線G1〜Gmは、第1行〜第m行の画素Pを駆動するゲート線である。センサSのスイッチTTのゲートは、センサ駆動部122によって駆動されるゲート線G1’〜Gm’のいずれかに接続されている。ここで、ゲート線G1’〜Gm’は、第1行〜第m行のセンサSを駆動するゲート線である。
読出部130は、信号線SLを介して画素PまたはセンサSから信号を読み出す。読出部130は、画素アレイ110における列ごとに、積分増幅器(増幅器)131、可変増幅器132、サンプルホールド回路133、バッファアンプ134を有する。信号線SLに出力された信号は、積分増幅器131および可変増幅器132によって増幅され、サンプルホールド回路133によってサンプルホールドされ、バッファアンプ134によって増幅される。読出部130は、マルチプレクサ135を有し、列ごとに設けられたバッファアンプ134から出力された信号は、マルチプレクサ135によって選択されて増幅部140に出力される。
積分増幅器131は、演算増幅器と、積分容量と、リセットスイッチと、を有する。演算増幅器105は、その反転入力端子には、信号線SLに出力された信号が入力され、その非反転入力端子には、基準電圧Vrefが入力され、その出力端子から増幅された信号が出力される。積分容量は、演算増幅器の反転入力端子と出力端子との間に配置される。可変増幅器132は、積分増幅器131から出力された信号を制御部170によって指定される増幅率で増幅する。サンプルホールド回路133は、サンプリングスイッチと、サンプリング容量とで構成されうる。
図3を参照しながら放射線撮像システム10の動作を例示的に説明する。図3において、「曝射指令」は、曝射制御装置320から放射線発生装置310に送信される曝射指令であり、ローレベルからハイレベルへの変化が曝射の指令である。また、「放射線」は、放射線発生装置310が発生する放射線であり、ハイレベルのときは放射線が放射されていることを示し、ローレベルのときは放射線が放射されていないことを示す。また、「状態」は、画素アレイ110の画素Pの状態を示す。また、「VG1’」〜「VGm’」は、センサ駆動部122によって駆動されるゲート線G1’〜Gm’の論理レベルを示す。また、「VG1」〜「VGm」は、画素駆動部121によって駆動されるゲート線G1〜Gmの論理レベルを示す。また、「DACからの信号」は、読出部130から増幅部140およびDA変換器150を介して出力される信号である。
制御部170は、曝射通知情報を制御装置200から受信するまでの期間(t1〜t2)では、ゲート線VG1’〜VGm’が順にアクティブレベルに駆動されるようにセンサ駆動部122を制御する。ゲート線VG1’〜VGm’がアクティブレベルになると、それにゲートが接続されたスイッチTTがオンして、当該スイッチTTを有するセンサS(の変換素子CV)がリセットされる。ここで、センサSのリセットとは、センサSの変換素子CVに蓄積されている電荷を除去することを意味する。つまり、曝射通知情報を制御装置200から受信するまでは、センサSが周期的にリセットされる。
同様に、制御部170は、曝射通知情報を制御装置200から受信するまでの期間(t1〜t2)では、ゲート線VG1〜VGmが順にアクティブレベルに駆動されるように画素駆動部121を制御する。ゲート線VG1〜VGmがアクティブレベルになると、それにゲートが接続されたスイッチTTがオンして、当該スイッチTTを有する画素P(の変換素子CV)がリセットされる。ここで、画素Pのリセットとは、画素Pの変換素子CVに蓄積されている電荷を除去することを意味する。つまり、曝射通知情報を制御装置200から受信するまでは、画素Pが周期的にリセットされる。
典型的には、センサSが配置された行の数は、画素アレイ110を構成する画素Pの行の数よりも小さい。また、センサSのスイッチTTのゲートにアクティブレベルを印加する期間は、画素PのスイッチTTのゲートにアクティブレベルを印加する期間より短く設定されうる。また、全てのセンサSをリセットするために要する時間(リセットのための1周期)は、全ての画素Pをリセットするために要する時間(リセットのための1周期)より短く設定されうる。
制御装置200からの曝射通知情報の受信(t2)に応答して、制御部170は、画素アレイ110の画素Pの周期的なリセットを停止する。ここで、画素アレイ110の画素Pの周期的なリセットは、制御装置200からの曝射通知情報の受信(t2)の後、放射線発生装置310から放射線の照射が開始されるまでに停止されることが好ましい。制御装置200からの曝射通知情報の受信(t2)の後、放射線発生装置310から放射線の照射が開始されるまでの時間は、放射線発生装置310の特性や、曝射制御装置320および制御装置200における曝射通知情報の伝達時間などによって定まりうる。画素アレイ110の画素Pの周期的なリセットの停止によって、画素アレイ110の画素Pでは、変換素子CVが照射された放射線に応じた電荷の蓄積が開始される。
制御部170は、制御装置200から曝射通知情報を受信すると、それをトリガとして定められる第1期間(t2〜t3)において、複数のセンサSからオフセット信号が読み出されるようにセンサ駆動部212および読出部130を制御する。第1期間(t2〜t3)は、放射線発生装置310に対して曝射制御装置320から曝射指令が送信されたことに応答して開始する期間であり、ノイズをサンプリングする期間でもある。また、第1期間(t2〜t3)は、曝射指令が送信されたが、まだ放射線発生装置310から放射線が放射されていない期間である。
第1期間(t2〜t3)では、制御部170は、複数のセンサSから第1ノイズが読み出されるようにセンサ駆動部212および読出部130を制御する。第1ノイズは、センサSがリセットされた後に暗電流等に起因してセンサSに蓄積された電荷に相当する暗電流ノイズの他、読出部130、増幅部140およびDA変換器150のオフセットノイズなどを含みうる。センサ駆動部212は、第1期間において、ゲート線VG1’〜VGm’を順にアクティブレベルに駆動する。ここで、画素アレイ110における座標(位置)を画素Pで構成される行および列の番号で特定することにする。画素アレイ110の第x行の第y行に配置されたセンサSから読み出された第1ノイズは、n1(x,y)として標記される。第1ノイズn1(x,y)は、処理部160内のメモリによって保持される。
その後の期間(t3〜t4)は、放射線撮像装置100に放射線が照射される期間を含む。制御部170は、期間(t3〜t4)において、放射線が照射されている状態の複数のセンサSから周期的に信号が読み出されるようにセンサ駆動部212および読出部130を制御する。また、制御部170は、読出部130によってセンサSから読み出された信号に基づいて露出制御信号を生成し、該露出制御信号に基づいて、放射線発生装置310からの放射線の照射を終了させるべきことを検出する。この際に、制御部170は、放射線が照射されている状態で、放射線が照射された状態で読出部130によってセンサSから読み出された信号と第1期間において保持された第1ノイズn1(x,y)との差分を露出制御信号として生成する。そして、制御部170は、該露出制御信号に基づいて、より具体的には該露出制御信号の積算値に基づいて、放射線の照射を停止させるべきことを検出する。
制御部170は、該積算値が規定値に達すると(t4)、それに応じて制御装置200を介して曝射制御装置320に曝射停止指令を送信する。これに応じて、曝射制御装置320は、放射線発生装置310に放射線の放射を停止させる。
その後の期間(t4〜t5)において、制御部170は、ゲート線VG1’〜VGm’が順にアクティブレベルに駆動されるようにセンサ駆動部122を制御し、センサSをリセットする。
その後の第2期間(t5〜t6)において、制御部170は、複数のセンサSから残像成分ai(x,y)を含む第2ノイズn2(x,y)が読み出されるようにセンサ駆動部212および読出部130を制御する。残像成分ai(x,y)は、期間t3〜t4においてセンサSに放射線が照射されたことによって暗電流が増加することによって生じる信号であり、センサSのリセット後にも残る。
第2ノイズn2(x,y)は、第1ノイズn1(x,y)とほぼ等しいノイズ成分と、残像成分ai(x,y)とを含む。そこで、第2ノイズn2(x,y)と第1ノイズn1(x,y)との差分(つまり、n2(x,y)−n1(x,y))を演算することによって残像成分ai(x,y)を得ることができる。処理部160は、複数のセンサSから読み出された信号に基づいて得られる残像成分ai(x,y)に基づいて、全ての座標(x、y)における残像成分ai’(x、y)を補間等によって決定する。後述のように、残像成分ai’(x、y)は、放射線画像信号の補正のために使用される。
残像成分は、放射線撮像装置100に入射する放射線の強度が強いほど大きくなる。例えば、撮像エリアIAにおいて、被検体を透過せずに放射線が入射した部分で発生する残像成分は、被検体を透過した放射線が入射した部分で発生する残像成分より大きい。また、被検体は、組織によって放射線の透過率が異なるので、撮像エリアIAにおいて、残像成分は、濃淡を有する情報として現れる。残像成分は、放射線が照射されたセンサSから読み出される信号に含まれる他、放射線が照射された画素Pから読み出される信号にも含まれる。画素Pから読み出される信号に含まれる残像成分も、期間t3〜t4において画素Pに放射線が照射されたことによって暗電流が増加することによって生じる信号であり、画素Pのリセット後にも残る。本実施形態では、放射線が照射された画素Pから読み出される信号に含まれる残像成分は、センサSから読み出された信号に基づいて得られた残像成分ai’(x、y)に基づいて除去または低減される。
期間(t6〜t7)において、制御部170は、画素アレイ110を構成する複数の画素Pから放射線画像信号が読み出されるように画素駆動部211および読出部130を制御する。期間t6〜t7において読出部130によって読み出された座標(x,y)に配置された画素Pの放射線画像信号をS(x,y)とする。放射線画像信号S(x,y)には、真の放射線画像信号I(x,y)とノイズ画像信号N(x,y)とが含まれる。つまり、S(x,y)=I(x,y)+N(x,y)である。
その後の期間(t7〜t8)では、制御部170は、画素アレイ110を構成する複数の画素Pがリセットされるように画素駆動部211および読出部130を制御する。
その後の期間(t9〜t10)において、制御部170は、画素アレイ110を構成する複数の画素Pからノイズ画像信号N’(x、y)が読み出されるように画素駆動部211および読出部130を制御する。ノイズ画像信号N’(x、y)には、放射線画像信号A(x,y)に含まれるノイズ画像信号N(x,y)とほぼ等しいノイズと、残像成分AI(x,y)とが含まれる。つまり、N’(x、y)=N(x,y)+AI(x,y)が成り立つ。
互いに近い位置に配置されている画素PおよびセンサSは、ほぼ同等の放射線の照射を受けるので、残像成分AI(x,y)は、残像成分ai(x、y)に対して強い相関を有する。したがって、例えば、AI(x,y)=α×ai(x、y)が成り立つ。ここで、αは、画素PとセンサSとにおけるリセットの時間およびリセットのタイミング等に依存する係数であり、シミュレーションまたは実測等によって求めることができる。
以上を整理すると、
S(x,y)=I(x,y)+N(x,y)
N’(x、y)=N(x,y)+AI(x,y)
AI(x,y)=α×ai(x、y)
が成り立つ。これらの式より、
I(x,y)=S(x,y)−N(x,y)
=S(x,y)−(N’(x,y)−AI(x,y))
=S(x,y)−N’(x,y)+α×ai(x、y)
・・・(1)
が得られる。つまり、処理部160は、(1)式に基づいて、残像成分を含むノイズが除去または低減された放射線画像信号I(x,y)を得ることができる。処理部160によって得られた放射線画像信号I(x,y)は、無線I/F180を介して制御装置200に送られうる。
図3に示された動作例では、期間(t6〜t7)における放射線画像信号S(x,y)の読出の前に第2ノイズn2(x、y)が読み出される。しかしながら、これは一例であって、図4に示された動作例のように、期間(t5〜t6)における放射線画像信号S(x,y)の読出の後の第2期間(t6〜t7)において第2ノイズn2(x、y)が読み出されてもよい。ここで、放射線画像信号S(x,y)の読出において、画素アレイ110、駆動部120、読出部130、増幅部140、DA変換器150等が相応の電力を消費し、これによって発生する熱によって残像成分が大きくなりうる。そこで、図4に示された動作例のように、放射線画像信号S(x,y)の読出の後に第2ノイズn2(x、y)を読み出した方が残像成分をより正確に検出するために有利な場合がある。
上記の実施形態は、本発明の例示的な実施形態に過ぎず、種々の変形が可能である。例えば、第1ノイズn1(x、y)は、期間(t1〜t2)においてセンサSを使って取得されてもよい。この場合、期間(t1〜t2)においてセンサSをリセットするのではなく、センサSから信号を読出部130によって信号を読み出せばよい。
また、リセット動作では、偶数行の画素のスイッチを順番に導通させてから奇数行の画素のスイッチを順番に導通させ、読出動作では、先頭行から最終行まで画素のスイッチを順番に導通させてもよい。あるいは、リセット動作では、先頭行から最終行まで画素のスイッチを順番に導通させ、読出動作では、偶数行の画素のスイッチを順番に導通させてから奇数行の画素のスイッチを順番に導通させてもよい。また、リセット動作と読出動作の両方において、偶数行の画素のスイッチを順番に導通させてから奇数行の画素のスイッチを順番に導通させてもよい。
また、リセット動作では、1度に1行の画素のスイッチのみを導通させるのではなく、複数行の画素のスイッチを同時に導通させてもよい。例えば、複数の偶数行の画素を同時に導通させながら全ての偶数行の画素をリセットした後に、複数の奇数行の画素の同時に導通させながら全ての奇数行の画素をリセットしてもよい。リセット動作は、行の番号の昇順または降順に行う必要はなく、連続的にリセットされる行は、相互に隣接しない行であってもよい。
図5には、本発明の第2実施形態の放射線撮像装置100の構成が示されている。第2実施形態について言及しない事項は、第1実施形態に従いうる。第2実施形態では、読出部130は、センサSから信号を読み出すための専用の回路として、積分増幅器(増幅器)131’、可変増幅器132’、サンプルホールド回路133’、バッファアンプ134’を有する。積分増幅器(増幅器)131’、可変増幅器132’、サンプルホールド回路133’、バッファアンプ134’は、それぞれ積分増幅器(増幅器)131、可変増幅器132、サンプルホールド回路133、バッファアンプ134と同様の構成を有しうる。
図6には、本発明の第3実施形態の放射線撮像装置100の構成が示されている。第3実施形態について言及しない事項は、第1実施形態に従いうる。第3実施形態では、画素アレイ110が、複数の画素行と、複数のセンサ行とを含む。各画素行は、複数の画素Pで構成され、各センサ行は、複数のセンサSで構成される。図6では、説明の便宜のために、ゲート線G2によって駆動される行がセンサ行としてされている。例えば、所定数の画素行に対して1つの割合でセンサ行が設けられうる。
上記の実施形態における機能は、コンピュータがプログラムを実行することによって実現することもできる。また、プログラムをコンピュータに供給するための手段、例えばかかるプログラムを記録したCD−ROM等のコンピュータ読み取り可能な記録媒体又はかかるプログラムを伝送するインターネット等の伝送媒体も本発明の実施形態として適用することができる。また、上記のプログラムも本発明の実施形態として適用することができる。上記のプログラム、記録媒体、伝送媒体及びプログラムプロダクトは、本発明の範疇に含まれる。
110:画素アレイ、P:画素、S:センサ、130:読出部、160:処理部、170:制御部

Claims (11)

  1. 放射線を検出する複数の画素が配列された画素アレイと、
    露出制御のために放射線の照射を検出するセンサと、
    前記複数の画素および前記センサから信号を読み出す読出部と、
    前記読出部によって読み出された信号を処理する処理部と、を備え、
    前記処理部は、前記読出部によって前記複数の画素から読み出された信号を前記読出部によって前記センサから読み出された信号に基づいて補正する、
    ことを特徴とする放射線撮像装置。
  2. 前記処理部は、放射線が照射されている状態で前記読出部によって前記センサから読み出された信号に基づいて露出制御信号を生成し、
    前記露出制御信号に基づいて、放射線発生装置による放射線の照射が停止される、
    ことを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
  3. 前記処理部は、放射線が照射されていない状態で前記読出部によって前記センサから読み出された信号に基づいて、放射線が照射されている状態で前記読出部によって前記センサから読み出された信号を補正し、これによって前記露出制御信号を生成する、
    ことを特徴とする請求項2に記載の放射線撮像装置。
  4. 前記センサは、放射線の照射が停止された後にリセットされ、
    前記読出部は、放射線の照射が開始される前の第1期間、および、放射線の照射が停止され前記センサがリセットされた後の第2期間、のそれぞれにおいて、前記センサから信号を読み出し、
    前記処理部は、前記第1期間において前記読出部によって前記センサから読み出された信号と前記第2期間において前記読出部によって前記センサから読み出された信号との差分に基づいて、前記読出部によって前記複数の画素から読み出された信号を補正する、
    ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  5. 前記差分は、前記センサに放射線が照射されることによって生じ前記センサのリセット後にも残る残像成分を含む、
    ことを特徴とする請求項4に記載の放射線撮像装置。
  6. 前記読出部は、放射線の照射が停止された後に前記複数の画素から放射線画像信号として信号を読み出し、その後に前記複数の画素からノイズ画像信号として信号を読み出し、
    前記処理部は、前記ノイズ画像信号、および、前記差分に基づいて、前記放射線画像信号を補正する、
    ことを特徴とする請求項4又は5に記載の放射線撮像装置。
  7. 前記放射線画像信号の読み出しと前記ノイズ画像信号の読み出しとの間において前記複数の画素がリセットされる、
    ことを特徴とする請求項6に記載の放射線撮像装置。
  8. 前記第2期間は、放射線の照射が停止され前記センサがリセットされた後であって、前記放射線画像信号が読み出される前の期間である、
    ことを特徴とする請求項6又は7に記載の放射線撮像装置。
  9. 前記第2期間は、放射線の照射が停止され、前記センサがリセットされ、かつ前記放射線画像信号が読み出された後であって、前記ノイズ画像信号が読み出される前の期間である、
    ことを特徴とする請求項6又は7に記載の放射線撮像装置。
  10. 前記第1期間は、放射線発生装置に曝射指令を送信したことを示す情報を受信したことに応じて開始する期間である、
    ことを特徴とする請求項4乃至9のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  11. 前記センサは、前記複数の画素によって構成される撮像エリアに配置されていることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
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