JP7449260B2 - 放射線撮像装置及び放射線撮像システム - Google Patents
放射線撮像装置及び放射線撮像システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP7449260B2 JP7449260B2 JP2021069264A JP2021069264A JP7449260B2 JP 7449260 B2 JP7449260 B2 JP 7449260B2 JP 2021069264 A JP2021069264 A JP 2021069264A JP 2021069264 A JP2021069264 A JP 2021069264A JP 7449260 B2 JP7449260 B2 JP 7449260B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- radiation imaging
- pixel
- acquisition process
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 263
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 205
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 215
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 66
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 60
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 35
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 24
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 74
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 40
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 17
- ORQBXQOJMQIAOY-UHFFFAOYSA-N nobelium Chemical compound [No] ORQBXQOJMQIAOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 9
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 8
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 8
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 7
- 230000004044 response Effects 0.000 description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 description 6
- CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N lawrencium atom Chemical compound [Lr] CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 6
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 4
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 4
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/02—Dosimeters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/616—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise involving a correlated sampling function, e.g. correlated double sampling [CDS] or triple sampling
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/702—SSIS architectures characterised by non-identical, non-equidistant or non-planar pixel layout
Description
この式では、開始可能信号を送信した後に補正画素107から読み出された信号の値Scと、開始可能信号を送信する前に補正画素107から読み出された信号に基づいて決定された補正値Ocとの差分に基づいてDOSEが決定される。
この式では、開始可能信号を送信した後に補正画素107から読み出された信号の値Scと、開始可能信号を送信する前に補正画素107から読み出された信号に基づいて決定された補正値Ocとの比率に基づいてDOSEが決定される。
第2実施形態に係る放射線撮像装置について説明する。第2実施形態の放射線撮像装置のハードウェア構成は第1実施形態と同様であってもよい。そのため、第2実施形態の放射線撮像装置も放射線撮像装置100と表す。第2実施形態は、放射線撮像装置100の動作が第1実施形態とは異なる。他の点は第1実施形態と同様であってもよいので、重複する説明を省略する。以下では、第1実施形態との相違点について説明するが、第2実施形態又は第3実施形態に対して同じ変更がなされてもよい。
第3実施形態に係る放射線撮像装置について説明する。第3実施形態の放射線撮像装置のハードウェア構成は第1実施形態と同様であってもよい。そのため、第3実施形態の放射線撮像装置も放射線撮像装置100と表す。第3実施形態は、放射線撮像装置100の動作が第1実施形態とは異なる。他の点は第1実施形態と同様であってもよいので、重複する説明を省略する。以下では、第1実施形態との相違点について説明するが、第2実施形態に対して同じ変更がなされてもよい。
第4実施形態に係る放射線撮像装置について説明する。第4実施形態の放射線撮像装置のハードウェア構成は第1実施形態と同様であってもよい。そのため、第4実施形態の放射線撮像装置も放射線撮像装置100と表す。第4実施形態は、放射線撮像装置100の動作が第1実施形態とは異なる。他の点は第1実施形態と同様であってもよいので、重複する説明を省略する。以下では、第1実施形態との相違点について説明するが、第2実施形態又は第3実施形態に対して同じ変更がなされてもよい。
この式では、開始可能信号を送信した後に補正画素107から読み出された信号の値Sc1と、開始可能信号を送信する前に補正画素107から読み出された信号に基づいて決定された補正値Oc1との差分に基づいてDOSEが決定される。
この式では、開始可能信号を送信した後に補正画素107から読み出された信号の値Sc1と、開始可能信号を送信する前に補正画素107から読み出された信号に基づいて決定された補正値Oc1との比率に基づいてDOSEが決定される。その他の動作は第1実施形態と同様であってもよいので、重複する説明を省略する。
第5実施形態に係る放射線撮像装置について説明する。第5実施形態の放射線撮像装置のハードウェア構成は第1実施形態と同様であってもよい。そのため、第5実施形態の放射線撮像装置も放射線撮像装置100と表す。第5実施形態は、放射線撮像装置100の動作が第1実施形態とは異なる。他の点は第1実施形態と同様であってもよいので、重複する説明を省略する。以下では、第1実施形態との相違点について説明するが、第2実施形態又は第3実施形態に対して同じ変更がなされてもよい。
第6実施形態に係る放射線撮像装置について説明する。第6実施形態の放射線撮像装置のハードウェア構成は第1実施形態及び第2実施形態と同様であってもよい。そのため、第6実施形態の放射線撮像装置も放射線撮像装置100と表す。第6実施形態は、放射線撮像装置100の動作が第1実施形態及び第2実施形態とは異なる。他の点は第1実施形態及び第2実施形態と同様であってもよいので、重複する説明を省略する。以下では、第2実施形態との相違点について説明する。
以下、図12を参照しながら放射線撮像装置100を放射線検知システムに応用した例を説明する。放射線源であるX線チューブ6050で発生したX線6060は、患者あるいは被験者6061の胸部6062を透過し、前述の放射線撮像装置100に代表される放射線撮像装置6040に入射する。この入射したX線には被験者6061の体内部の情報が含まれている。X線の入射に対応してシンチレータは発光し、これを光電変換素子で光電変換して、電気的情報を得る。この情報はデジタルに変換され信号処理部となるイメージプロセッサ6070により画像処理され制御室の表示部となるディスプレイ6080で観察できる。
Claims (15)
- 放射線撮像システム内の他の装置と通信して放射線撮像を行う放射線撮像装置において、
所定の画素を含む複数の画素を備える放射線検出器であって、補正情報を取得するための取得動作と放射線撮像の準備を行うための準備動作と放射線撮像を行うための撮像動作とを含む複数の動作のうちのいずれかの動作を行う放射線検出器と、
放射線撮像に関する第1の通信が発生したことにしたがって第1の取得処理を実行するか否かを判定し、前記第1の取得処理を実行するとの判定にしたがって前記放射線検出器に前記取得動作を実行させて前記第1の取得処理を実行してから前記放射線検出器に前記準備動作を実行させ、前記第1の取得処理を実行しないとの判定にしたがって前記第1の取得処理を実行せずに前記放射線検出器に前記準備動作を実行させる手段と、
放射線撮像に関する第2の通信であって前記第1の通信の後に発生する第2の通信に基づいて前記放射線検出器に前記撮像動作を実行させ、放射線撮像の期間中に第2の取得処理を実行する手段と、
放射線発生装置による放射線の照射を停止させるための第3の通信を実行する手段と、を有し、
前記第1の取得処理は、前記放射線発生装置から放射線が照射されていない状態で前記所定の画素からの信号を1回以上読み出し、該読み出された信号に基づいて前記補正情報を取得する処理であり、
前記第2の取得処理は、前記放射線発生装置から放射線が照射されている状態において前記所定の画素からの信号を1回以上読み出し、該読み出された信号に基づいて線量情報を取得する処理であり、
所定の放射線撮像に関する第1の通信の発生にしたがって前記第1の取得処理が実行されて所定の補正情報が取得された場合、前記所定の放射線撮像の期間中に取得される所定の線量情報および前記所定の補正情報を用いた線量の閾値判定の結果に基づいて、前記所定の放射線撮像における前記第3の通信が実行されることを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記第1の通信は放射線撮像の撮像情報を受信する通信であることを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
- 前記放射線撮像装置を省電力状態に移行する前に前記第1の取得処理を更に実行することを特徴とする請求項1又は2に記載の放射線撮像装置。
- 前記第1の通信によって撮像情報を受信してから所定の時間が経過するまでに前記撮像情報を使用した放射線撮像が開始されない場合に前記第1の取得処理を実行することを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記第1の取得処理を実行すると判定するための判定基準は、直近に前記第1の取得処理を実行してからの経過時間に関する基準を含むことを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記第1の取得処理を実行すると判定するための判定基準は、前記放射線撮像装置の内部温度に関する基準を含むことを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記第1の取得処理を実行すると判定するための判定基準は、前記所定の画素のオフセット出力に関する基準を含むことを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記所定の画素は第1の画素であり、前記複数の画素は、放射線画像を構成する画素値を生成するための第2の画素をさらに含み、
前記第2の画素のオフセット出力に基づいて、前記補正情報を推定し、
前記推定された補正情報に基づいて、前記第1の取得処理を実行するかどうかを判定することを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記第1の取得処理を実行しないと判定した場合に、前記推定された補正情報を前記補正情報として使用することを特徴とする請求項8に記載の放射線撮像装置。
- 前記所定の画素は第1の画素であり、前記複数の画素は、前記第1の画素よりも放射線に対する感度が低い第3の画素をさらに含み、
前記補正情報は第1の補正情報であり、
前記第1の取得処理において、前記放射線撮像装置に放射線が照射されていない状態で前記第3の画素から信号を1回以上読み出し、前記第3の画素から読み出された信号に基づく第2の補正情報をさらに決定し、
前記第2の取得処理において、前記放射線撮像装置に放射線が照射中に前記第1の画素及び前記第3の画素から信号を読み出し、前記第1の画素から読み出された信号の値と、前記第3の画素から読み出された信号の値と、前記第1の補正情報と、前記第2の補正情報とを用いて、照射中の放射線の量を決定することを特徴とする請求項1乃至9の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記準備動作によって前記複数の画素に蓄積された電荷はリセットされることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記所定の放射線撮像に関する第1の通信の発生にしたがって前記第1の取得処理が実行されなかった場合、前記所定の放射線撮像の期間中に取得される前記所定の線量情報および予め記憶された補正情報を用いた線量の閾値判定の結果に基づいて、前記所定の放射線撮像における前記第3の通信が実行されることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記予め記憶された補正情報は、以前に実行された前記第1の取得処理で取得された補正情報であることを特徴とする請求項12に記載の放射線撮像装置。
- 前記第1の取得処理を実行しない場合は前記第1の取得処理を実行する場合よりも早いタイミングで放射線撮像を開始可能であることを特徴とする請求項1乃至13のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
- 請求項1乃至14の何れか1項に記載の放射線撮像装置と、
前記放射線撮像装置からの信号を処理する信号処理部とを備えることを特徴とする放射線撮像システム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021069264A JP7449260B2 (ja) | 2021-04-15 | 2021-04-15 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
EP22164498.2A EP4075791A1 (en) | 2021-04-15 | 2022-03-25 | Radiation imaging apparatus and radiation imaging system |
US17/657,435 US11835664B2 (en) | 2021-04-15 | 2022-03-31 | Radiation imaging apparatus and radiation imaging system |
CN202210396561.2A CN115220081A (zh) | 2021-04-15 | 2022-04-15 | 辐射成像设备和辐射成像系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021069264A JP7449260B2 (ja) | 2021-04-15 | 2021-04-15 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022164047A JP2022164047A (ja) | 2022-10-27 |
JP7449260B2 true JP7449260B2 (ja) | 2024-03-13 |
Family
ID=80952147
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021069264A Active JP7449260B2 (ja) | 2021-04-15 | 2021-04-15 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11835664B2 (ja) |
EP (1) | EP4075791A1 (ja) |
JP (1) | JP7449260B2 (ja) |
CN (1) | CN115220081A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7449260B2 (ja) * | 2021-04-15 | 2024-03-13 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20140010353A1 (en) | 2010-11-16 | 2014-01-09 | Michael C. Lalena | Systems and methods for calibrating, correcting and processing images on a radiographic detector |
JP2020089714A (ja) | 2018-11-27 | 2020-06-11 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
Family Cites Families (76)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4307138B2 (ja) | 2003-04-22 | 2009-08-05 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置、及び光電変換装置の制御方法 |
JP4533010B2 (ja) | 2003-11-20 | 2010-08-25 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像方法及び放射線撮像システム |
DE102004003881B4 (de) * | 2004-01-26 | 2013-06-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Bildaufnahmevorrichtung |
JP4441294B2 (ja) | 2004-03-12 | 2010-03-31 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及びその制御方法 |
JP4469638B2 (ja) | 2004-03-12 | 2010-05-26 | キヤノン株式会社 | 読み出し装置及び画像撮影装置 |
US7403594B2 (en) | 2004-03-31 | 2008-07-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus and control method therefor |
JP2005287773A (ja) | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Canon Inc | 画像撮影装置及び画像撮影システム |
JP4307322B2 (ja) | 2004-05-18 | 2009-08-05 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP2006068512A (ja) | 2004-08-06 | 2006-03-16 | Canon Inc | 撮像装置、撮像システム、撮像方法、およびコンピュータプログラム |
JP5058517B2 (ja) | 2005-06-14 | 2012-10-24 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及びその制御方法並びに放射線撮像システム |
JP4965931B2 (ja) | 2005-08-17 | 2012-07-04 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、その制御方法、及び制御プログラム |
JP4750512B2 (ja) | 2005-09-01 | 2011-08-17 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP5317388B2 (ja) | 2005-09-30 | 2013-10-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム及びプログラム |
JP2007104219A (ja) | 2005-10-03 | 2007-04-19 | Canon Inc | 放射線撮影装置及びその制御方法、放射線撮影システム |
JP4834518B2 (ja) | 2005-11-29 | 2011-12-14 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法、及びそれを実行させるためのプログラムを記録した記録媒体 |
JP2007151761A (ja) | 2005-12-02 | 2007-06-21 | Canon Inc | 放射線撮像装置、システム及び方法、並びにプログラム |
JP4989197B2 (ja) | 2005-12-13 | 2012-08-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び補正方法 |
JP4891096B2 (ja) | 2006-01-30 | 2012-03-07 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
JP5043448B2 (ja) | 2006-03-10 | 2012-10-10 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP4850730B2 (ja) | 2006-03-16 | 2012-01-11 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、その処理方法及びプログラム |
JP4868926B2 (ja) | 2006-04-21 | 2012-02-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
JP4847202B2 (ja) | 2006-04-27 | 2011-12-28 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び放射線撮像システム |
JP4989120B2 (ja) | 2006-06-16 | 2012-08-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像システム及びその駆動方法 |
JP5159161B2 (ja) | 2006-06-26 | 2013-03-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム及びその制御方法 |
JP5038031B2 (ja) | 2006-07-11 | 2012-10-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、その駆動方法及び放射線撮影システム |
JP2008042478A (ja) | 2006-08-04 | 2008-02-21 | Canon Inc | 撮像装置、放射線撮像装置、及びその駆動方法 |
JP5300216B2 (ja) | 2006-08-29 | 2013-09-25 | キヤノン株式会社 | 電子カセッテ型放射線検出装置 |
JP4986771B2 (ja) | 2006-08-31 | 2012-07-25 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、その駆動方法及び放射線撮像システム |
JP5121473B2 (ja) | 2007-02-01 | 2013-01-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP2008212644A (ja) | 2007-02-06 | 2008-09-18 | Canon Inc | 放射線撮像装置及びその駆動方法、並びに放射線撮像システム |
US7869568B2 (en) | 2007-03-13 | 2011-01-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus, and method and program for controlling radiation imaging apparatus |
JP2008264528A (ja) * | 2007-03-27 | 2008-11-06 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影システム |
JP4991459B2 (ja) | 2007-09-07 | 2012-08-01 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び放射線撮像システム |
JP5038101B2 (ja) | 2007-11-12 | 2012-10-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その駆動方法及びプログラム |
JP2009141439A (ja) | 2007-12-03 | 2009-06-25 | Canon Inc | 放射線撮像装置、その駆動方法及びプログラム |
JP5311834B2 (ja) | 2008-01-24 | 2013-10-09 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像システム、信号処理方法及びプログラム |
JP5274098B2 (ja) | 2008-04-30 | 2013-08-28 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、放射線撮像システム、その制御方法及びプログラム |
JP2010005212A (ja) | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Canon Inc | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
WO2010004776A1 (ja) * | 2008-07-07 | 2010-01-14 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 放射線画像検出器を用いた画像生成方法、画像生成プログラム、放射線画像検出器、および放射線画像生成システム |
JP5792923B2 (ja) | 2009-04-20 | 2015-10-14 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム |
JP5517484B2 (ja) | 2009-05-01 | 2014-06-11 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム |
JP5814621B2 (ja) | 2011-05-24 | 2015-11-17 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法、並びに、撮像システム |
JP5950840B2 (ja) | 2012-03-16 | 2016-07-13 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び撮像システム |
JP5986526B2 (ja) | 2012-04-06 | 2016-09-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP6162937B2 (ja) * | 2012-08-31 | 2017-07-12 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法および制御プログラム |
JP6041669B2 (ja) | 2012-12-28 | 2016-12-14 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像システム |
JP2014168205A (ja) | 2013-02-28 | 2014-09-11 | Canon Inc | 放射線撮像装置、放射線検査装置、信号の補正方法およびプログラム |
JP5986524B2 (ja) | 2013-02-28 | 2016-09-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
JP6016673B2 (ja) | 2013-02-28 | 2016-10-26 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
JP5934128B2 (ja) | 2013-02-28 | 2016-06-15 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP6161346B2 (ja) | 2013-03-19 | 2017-07-12 | キヤノン株式会社 | 撮像システム |
JP6238577B2 (ja) | 2013-06-05 | 2017-11-29 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
US20140361189A1 (en) | 2013-06-05 | 2014-12-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging system |
JP6355387B2 (ja) | 2014-03-31 | 2018-07-11 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像システム |
US9737271B2 (en) | 2014-04-09 | 2017-08-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus and control method of the same |
JP6362421B2 (ja) | 2014-05-26 | 2018-07-25 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法およびプログラム |
JP6494204B2 (ja) | 2014-07-17 | 2019-04-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP6385179B2 (ja) | 2014-07-18 | 2018-09-05 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及びその駆動方法 |
JP6391388B2 (ja) | 2014-09-24 | 2018-09-19 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
JP6525579B2 (ja) | 2014-12-22 | 2019-06-05 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP6494274B2 (ja) * | 2014-12-24 | 2019-04-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、撮影制御装置、撮影制御方法およびプログラム |
JP6576102B2 (ja) | 2015-05-26 | 2019-09-18 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、積算照射量を求める方法および露出制御方法 |
JP6572025B2 (ja) | 2015-07-02 | 2019-09-04 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及びその制御方法 |
JP6663210B2 (ja) | 2015-12-01 | 2020-03-11 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及びその制御方法 |
US10416323B2 (en) * | 2016-03-29 | 2019-09-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, and method of operating radiation imaging apparatus |
JP6706963B2 (ja) | 2016-04-18 | 2020-06-10 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の制御方法 |
JP6912933B2 (ja) * | 2017-05-10 | 2021-08-04 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その駆動方法及び放射線撮像システム |
JP7079113B2 (ja) | 2018-02-21 | 2022-06-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
WO2019181494A1 (ja) | 2018-03-19 | 2019-09-26 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
CN108169791B (zh) * | 2018-03-23 | 2024-03-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | 用于x射线探测器的读取装置及其方法、x射线探测器 |
JP6818724B2 (ja) | 2018-10-01 | 2021-01-20 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP7170497B2 (ja) | 2018-10-22 | 2022-11-14 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
EP3661190A1 (en) * | 2018-11-27 | 2020-06-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus and radiation imaging system |
JP7361516B2 (ja) | 2019-07-12 | 2023-10-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影装置の制御方法、および、プログラム |
JP2022022844A (ja) | 2020-07-08 | 2022-02-07 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
JP7449260B2 (ja) * | 2021-04-15 | 2024-03-13 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
-
2021
- 2021-04-15 JP JP2021069264A patent/JP7449260B2/ja active Active
-
2022
- 2022-03-25 EP EP22164498.2A patent/EP4075791A1/en active Pending
- 2022-03-31 US US17/657,435 patent/US11835664B2/en active Active
- 2022-04-15 CN CN202210396561.2A patent/CN115220081A/zh active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20140010353A1 (en) | 2010-11-16 | 2014-01-09 | Michael C. Lalena | Systems and methods for calibrating, correcting and processing images on a radiographic detector |
JP2020089714A (ja) | 2018-11-27 | 2020-06-11 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11835664B2 (en) | 2023-12-05 |
JP2022164047A (ja) | 2022-10-27 |
EP4075791A1 (en) | 2022-10-19 |
CN115220081A (zh) | 2022-10-21 |
US20220334269A1 (en) | 2022-10-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9838638B2 (en) | Radiation imaging apparatus, method of driving the same, and radiation imaging system | |
US9835732B2 (en) | Radiation imaging apparatus and radiation imaging system | |
US11243314B2 (en) | Radiation imaging apparatus and radiation imaging system | |
JP4829426B2 (ja) | 放射線撮像装置及び方法、並びに記録媒体及びプログラム | |
KR20100011954A (ko) | 오프셋 보정된 노출 이미지 형성 방법 및 디지털 x선 촬영 시스템 | |
US11294078B2 (en) | Radiation imaging apparatus and radiation imaging system | |
JP7373338B2 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP7449260B2 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP6808458B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線撮像システム | |
JP7438720B2 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP6494387B2 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP7190360B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線撮像システム | |
US11831813B2 (en) | Apparatus, system, and method for controlling apparatus | |
WO2023189201A1 (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮影システム、および制御方法 | |
JP6041856B2 (ja) | 放射線撮影システム、制御方法、記録媒体及びプログラム | |
JP6169148B2 (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像方法、記録媒体及びプログラム | |
JP5721869B2 (ja) | 制御装置及び制御方法、放射線撮影装置、並びにプログラム | |
JP5615396B2 (ja) | 画像処理装置、放射線撮影システム、放射線撮像方法及びプログラム | |
JP5318265B2 (ja) | 放射線撮像システム、放射線撮像装置、放射線撮像方法、画像処理装置、記録媒体及びプログラム | |
JP5127881B2 (ja) | 放射線撮像装置及びその方法、並びに記録媒体及びプログラム | |
JP2019161365A (ja) | 放射線撮像装置、その制御方法、プログラムおよび放射線撮像システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220404 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230306 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230501 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230901 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20231027 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240202 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240301 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7449260 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |