JP2006204740A - 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 欠損画素を検出し(ステップS1)、その欠損画素が、今回で新たに発生・検出された画素で、過去に検出された既存の欠損画素に近接する、またはその既存の欠損画素に依存しないか否かを判定する(ステップS2〜S4)。もし、新たに検出された画素であれば、各画素の位置情報に基づいて互いに別の欠損画素群として、その検出された画素を区別する(ステップS5a,5b)。このように、既存の欠損画素に近接した欠損画素と、既存の欠損画素に依存しない欠損画素とを互いに区別するので、今後の撮像における対応をとることができて、撮像の不良の目安を簡易に判明することができる。
【選択図】 図4
Description
すなわち、欠損画素が新たに発生する場合には、過去(例えば前回)に検出された既存の欠損画素に近接して、今回で新たに発生して検出された欠損画素と、その既存の欠損画素に依存せずに、今回で新たに発生して検出された欠損画素との2つのタイプに分かれることが判明した。さらに、既存の欠損画素に近接した欠損画素の前者のタイプの場合には、FPDの経年変化による劣化に起因することが多いという見解を得るとともに、既存の欠損画素に依存しない欠損画素の後者のタイプの場合で、かつその欠損画素の発生の頻度が高い場合には、FPDを構成する感応膜などの膜質の初期不良に起因することが多いという見解を得た。このように、タイプに応じて、例えば前者のタイプの場合にはFPDの使用において許容範囲であれば経年変化による劣化が著しくなるまで撮像を行う、後者のタイプの場合で、かつ欠損画素の発生の頻度が高い場合にはFPDを即座に交換するなどの今後の撮像における対応をとることができて、撮像の不良の目安を簡易に判明することができるという知見を得た。
すなわち、請求項1に記載の発明は、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段とを備え、放射線検出手段から検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、検出された放射線検出信号に基づく画素について欠損画素を検出する欠損画素検出手段と、過去に検出された既存の欠損画素について、その既存の欠損画素に近接し、かつ前記欠損画素検出手段によって今回で新たに検出された画素と、その既存の欠損画素に依存せずに、かつ前記欠損画素検出手段によって今回で新たに検出された画素とを、各画素の位置情報に基づいて互いに別の欠損画素群として区別する欠損画素区別手段とを備えることを特徴とするものである。
図1は、実施例に係るX線透視撮影装置のブロック図であり、図2は、X線透視撮影装置に用いられている側面視したフラットパネル型X線検出器の等価回路であり、図3は、平面視したフラットパネル型X線検出器の等価回路である。本実施例では、放射線検出手段としてフラットパネル型X線検出器(以下、適宜「FPD」という)を例に採るとともに、放射線撮像装置としてX線透視撮影装置を例に採って説明する。
過去に欠損画素を検出するために被検体Mを載置せずに一様なX線をX線管2からFPD3に向けて一様に照射した後に、所定期間後(例えば1ヵ月後)に前回と同様に被検体Mを載置せずに一様なX線をX線管2からFPD3に向けて一様に照射する。一様なX線照射で得られたX線検出信号に基づいて欠損画素検出部9aは欠損画素を検出する。今回における欠損画素の検出については、過去における欠損画素の検出と同じ手法を用いればよい。
過去、すなわち前回において検出された欠損画素(すなわち既存の欠損画素)と、今回において検出された欠損画素とを欠損画素区別部9bは比較する。
今回において検出された欠損画素の位置が、前回において検出された既存の欠損画素の位置と同じ場合には、今回において検出された欠損画素は既存の欠損画素と同一の画素で、新たに発生した欠損画素でないと欠損画素区別部9bは判定する。そして、ステップS3aに跳ぶ。逆に、今回において検出された欠損画素の位置が、前回において検出された既存の欠損画素の位置と違う場合には、今回において検出された欠損画素は、今回で新たに発生して検出された欠損画素であると欠損画素区別部9bは判定する。そして、次のステップS4に進む。
別の位置の欠損画素を調べるために、ステップS2に戻って、別の位置の画素についてもステップS2,S3を繰り返して、その位置での欠損画素が、新たに発生した欠損画素であるか否かを判定する。
一方、今回で新たに検出された欠損画素が前回で検出された既存の欠損画素に近接しているのであれば、ステップS5aに進む。また、今回で新たに検出された欠損画素が前回で検出された既存の欠損画素に近接しなければ、ステップS5bに進む。なお、既存の欠損画素に隣接しておらず、既存の欠損画素から1行〜数行分、あるいは1列〜数列分、今回の欠損画素が離間していても、経験則により後述するように近接欠損タイプに属するのであれば、既存の欠損画素に近接していると判定する。
今回の欠損画素が既存の欠損画素に近接しているのであれば、近接欠損としてカウントして、今回の欠損画素が『近接欠損タイプ』に属するとして区別する。そして、ステップS6に進む。
今回の欠損画素が既存の欠損画素に近接しなければ、単独発生欠損としてカウントして、今回の欠損画素が『単独発生欠損タイプ』に属するとして区別する。そして、ステップS6に進む。
今回において新たに検出された欠損画素について全て調べたか否かを判定する。全ての欠損画素について調べていなければ、ステップS3aに跳んで、さらにステップS2に戻る。一方、全ての欠損画素について調べた場合には、今回における欠損画素の検出および区別を終了する。そして、今回において検出された欠損画素のデータを、次回において検出する欠損画素の比較のためにメモリ部11に記憶するのが好ましい。次回においては、今回において検出された欠損画素が過去の既存の欠損画素に含まれる。
3 … フラットパネル型X線検出器(FPD)
9a … 画素検出部
9b … 欠損画素区別部
M … 被検体
Claims (2)
- 被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段とを備え、放射線検出手段から検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、検出された放射線検出信号に基づく画素について欠損画素を検出する欠損画素検出手段と、過去に検出された既存の欠損画素について、その既存の欠損画素に近接し、かつ前記欠損画素検出手段によって今回で新たに検出された画素と、その既存の欠損画素に依存せずに、かつ前記欠損画素検出手段によって今回で新たに検出された画素とを、各画素の位置情報に基づいて互いに別の欠損画素群として区別する欠損画素区別手段とを備えることを特徴とする放射線撮像装置。
- 被検体を照射して検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る信号処理を行う放射線検出信号処理方法であって、検出された放射線検出信号に基づく画素について欠損画素を検出し、その検出された欠損画素が、過去に検出された既存の欠損画素について、その既存の欠損画素に近接し、かつ今回で新たに検出された画素、またはその既存の欠損画素に依存せずに、かつ今回で新たに検出された画素のいずれかである場合には、各画素の位置情報に基づいて互いに別の欠損画素群として、その検出された画素を区別することを特徴とする放射線検出信号処理方法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010261828A (ja) * | 2009-05-08 | 2010-11-18 | Shimadzu Corp | 二次元アレイx線検出器における欠損画素の検出方法および欠損画素の検出装置 |
JP2011013180A (ja) * | 2009-07-06 | 2011-01-20 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2502875B2 (ja) * | 1992-01-30 | 1996-05-29 | 松下電器産業株式会社 | 配線パタ―ン検査装置 |
JP2000135210A (ja) * | 1998-10-30 | 2000-05-16 | General Electric Co <Ge> | 離散的ピクセル型検出器の欠陥のあるピクセル領域を識別するための方法及び装置 |
JP2001000427A (ja) * | 1999-06-18 | 2001-01-09 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、及び記憶媒体 |
JP3374418B2 (ja) * | 1992-10-08 | 2003-02-04 | ソニー株式会社 | Ccdカメラの欠陥補正装置 |
JP2003069901A (ja) * | 2001-08-23 | 2003-03-07 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像信号処理装置および欠陥画素補正方法 |
JP2004015711A (ja) * | 2002-06-11 | 2004-01-15 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像読取方法および装置ならびに補正情報出力方法および装置 |
JP2004305751A (ja) * | 2003-04-08 | 2004-11-04 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 複合的欠陥ピクセル・マップを識別する方法及び装置 |
-
2005
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2502875B2 (ja) * | 1992-01-30 | 1996-05-29 | 松下電器産業株式会社 | 配線パタ―ン検査装置 |
JP3374418B2 (ja) * | 1992-10-08 | 2003-02-04 | ソニー株式会社 | Ccdカメラの欠陥補正装置 |
JP2000135210A (ja) * | 1998-10-30 | 2000-05-16 | General Electric Co <Ge> | 離散的ピクセル型検出器の欠陥のあるピクセル領域を識別するための方法及び装置 |
JP2001000427A (ja) * | 1999-06-18 | 2001-01-09 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、及び記憶媒体 |
JP2003069901A (ja) * | 2001-08-23 | 2003-03-07 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像信号処理装置および欠陥画素補正方法 |
JP2004015711A (ja) * | 2002-06-11 | 2004-01-15 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像読取方法および装置ならびに補正情報出力方法および装置 |
JP2004305751A (ja) * | 2003-04-08 | 2004-11-04 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 複合的欠陥ピクセル・マップを識別する方法及び装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010261828A (ja) * | 2009-05-08 | 2010-11-18 | Shimadzu Corp | 二次元アレイx線検出器における欠損画素の検出方法および欠損画素の検出装置 |
JP2011013180A (ja) * | 2009-07-06 | 2011-01-20 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
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