JP2008022520A5 - - Google Patents
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- 複数の単位画素を具備して構成され、入射した放射線または光を画素情報に変換する変換部と、
複数の動作モードに応じて前記変換部の駆動を制御する制御部による制御に基づいて、前記変換部における前記単位画素の画素情報を読み出す、又は、複数の前記単位画素の画素情報を加算して複画素の画素情報を読み出すことが可能な信号処理回路部と、
を有する撮像装置であって、
前記単位画素に関する欠陥単位画素の位置情報を含む単位画素の欠陥情報と、前記複画素に関する欠陥複画素の位置情報を含む複画素の欠陥情報と、を記憶する記憶部と、
前記動作モードに応じて、前記単位画素の画素情報に対して前記単位画素の欠陥情報に基づいて補正を行う、又は、前記複画素の画素情報に対して前記複画素の欠陥情報に基づいて補正を行う画像処理部と、
を有し、
前記単位画素の欠陥情報は、被写体が存在しない状態で前記変換部に放射線又は光が照射されて得られた前記単位画素の画素情報と第1の閾値とを比較して抽出されたものであり、
前記複画素の欠陥情報は、被写体が存在しない状態で前記変換部に放射線又は光が照射され、且つ複数の前記単位画素の画素情報を加算した前記複画素の画素情報と第2の閾値とを比較して抽出されたものであることを特徴とする撮像装置。 - 前記記憶部は、複数の動作モードに応じて、被写体が存在しない状態で変換部において変換され前記信号処理回路部で読み出された複数のゲイン補正用画像を有し、
前記画像処理部は、前記複数の動作モードに応じて前記記憶部から対応するゲイン補正用画像を抽出し、当該ゲイン補正用画像を用いて前記画素情報に基づく被写体画像のゲイン補正を行うことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記画像処理部は、前記単位画素の画素情報の加算数が同じである前記ゲイン補正用画像及び前記被写体画像を用いて、前記ゲイン補正処理を行うことを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。
- 前記ゲイン補正用画像は、複数枚の画像を平均化処理したものであることを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。
- 前記第1の閾値と前記第2の閾値とは異なる値であることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記単位画素の画素情報の加算は、アナログ信号の加算であることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記変換部は、アモルファスシリコンを主材料とする光電変換素子を含むことを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記変換部は、入射した放射線の波長を変換する波長変換体を更に有することを特徴とする請求項7に記載の撮像装置。
- 複数の単位画素を具備して構成され、入射した放射線または光を画素情報に変換する変換部と、複数の動作モードに応じて前記変換部の駆動を制御する制御部による制御に基づいて、前記変換部における前記単位画素の画素情報を読み出す、又は、複数の前記単位画素の画素情報を加算して複画素の画素情報を読み出すことが可能な信号処理回路部と、を具備する撮像装置の処理方法であって、
前記撮像装置は、前記単位画素に関する欠陥単位画素の位置情報を含む単位画素の欠陥情報と、前記複画素に関する欠陥複画素の位置情報を含む複画素の欠陥情報と、を記憶する記憶部と、前記動作モードに応じて、前記単位画素の画素情報に対して前記単位画素の欠陥情報に基づいて補正を行う、又は、前記複画素の画素情報に対して、前記複画素の欠陥情報に基づいて補正を行う画像処理部と、を更に有し、
前記制御部による制御に基づいて、前記単位画素の画素情報を読み出す、又は、前記複画素の画素情報を読み出す読み出しステップと、
前記単位画素の欠陥情報に基づいて前記単位画素の画素情報に対して補正を施す、又は、前記複画素の欠陥情報に基づいて前記複画素の画素情報に対して補正を施す補正ステップと、を有し、
前記単位画素の欠陥情報は、被写体が存在しない状態で前記変換部に放射線又は光が照射されて得られた前記単位画素の画素情報と第1の閾値とを比較して抽出されたものであり、
前記複画素の欠陥情報は、被写体が存在しない状態で前記変換部に放射線又は光が照射され、且つ複数の前記単位画素の画素情報を加算した前記複画素の画素情報と第2の閾値とを比較して抽出されたものであることを特徴とする撮像装置の処理方法。 - 複数の単位画素を具備して構成され、入射した放射線または光を画素情報に変換する変換部と、複数の動作モードに応じて前記変換部の駆動を制御する制御部による制御に基づいて、前記変換部における前記単位画素の画素情報を読み出す、又は、複数の前記単位画素の画素情報を加算して複画素の画素情報を読み出すことが可能な信号処理回路部と、を具備する撮像装置の処理方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記撮像装置は、前記単位画素に関する欠陥単位画素の位置情報を含む単位画素の欠陥情報と、前記複画素に関する欠陥複画素の位置情報を含む複画素の欠陥情報と、を記憶する記憶部と、前記動作モードに応じて、前記単位画素の画素情報に対して前記単位画素の欠陥情報に基づいて補正を行う、又は、前記複画素の画素情報に対して、前記複画素の欠陥情報に基づいて補正を行う画像処理部と、を更に有し、
前記制御部による制御に基づいて、前記単位画素の画素情報を読み出す、又は、前記複画素の画素情報を読み出す読み出しステップと、
被写体が存在しない状態で前記変換部に放射線又は光が照射されて得られた前記単位画素の画素情報と第1の閾値とを比較して抽出され、前記記憶部に記憶された、前記単位画素の欠陥情報に基づいて前記単位画素の画素情報に対して補正を施す、又は、被写体が存在しない状態で前記変換部に放射線又は光が照射され、且つ複数の前記単位画素の画素情報を加算した前記複画素の画素情報と第2の閾値とを比較して抽出され、前記記憶部に記憶された、前記複画素の欠陥情報に基づいて前記複画素の画素情報に対して補正を施す補正ステップと、
をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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