WO2011024287A1 - 情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及び情報処理方法を実行するためのコンピュータプログラム - Google Patents
情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及び情報処理方法を実行するためのコンピュータプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- WO2011024287A1 WO2011024287A1 PCT/JP2009/065040 JP2009065040W WO2011024287A1 WO 2011024287 A1 WO2011024287 A1 WO 2011024287A1 JP 2009065040 W JP2009065040 W JP 2009065040W WO 2011024287 A1 WO2011024287 A1 WO 2011024287A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- acquisition
- information processing
- pixel
- image
- unique
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Studio Devices (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
取得方式により変わる欠陥画素などの特異画素が発生する位置を表示させる仕組みを提供する。 取得部103は、外部の欠陥画素取得装置102にて複数の欠陥画素取得方式により取得された欠陥画素の位置の夫々を取得する(ステップ306)。表示制御部104が欠陥画素とその欠陥画素の取得方式とを対応付けて表示させるための表示データを作成し、表示部105に表示させる(ステップ307)。表示の態様として、取得方式毎に異なる表示形式による表示させる態様、ユーザの指定に応じて取得方式を選択して表示させる態様、取得方式毎に並べて表示させる態様がある。
Description
本発明は、撮像装置により撮像された画像に発生する特異画素の位置を表示させるための情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及び当該情報処理方法を実行するためのコンピュータプログラムに関する。
撮像装置が撮像した画像は複数の画素で構成され、この画素が表現する色及び濃淡により全体として画像が形成されるが、この複数の画素の中には特異画素と呼ばれる画素が存在する。特異画素とは、撮像装置中の回路や素子の異常等により、所定の入力に対して予め定められた出力範囲を外れた出力を示す欠陥画素や、その他の異常又は不良の値を示す画素のことである。これら特異画素は撮影画像の画質に影響を与えるため、その周辺画素の平均画素値等を用いて置換する等の方法により補正され、特異画素が補正された画像がユーザに提供される。
また、特異画素の位置は画像の撮像方式やその画像から特異画素を抽出する方式などの、特異画素の取得方式によって変わる。この特異画素を補正するための技術として、特許文献1には撮像装置の撮像方式によって変わる特異画素の位置を補正する技術が開示されている。特許文献2には、回路系の利得に応じて異なる特異画素を抽出し、補正する技術が開示されている。
一方例えば医療分野においては、補正処理がされた特異画素があった位置を確認したいという要求がある。これは、特異画素を補正処理することにより画素値が変わってしまうため、元の画像を確認する必要があるからである。特許文献3には放射線画像においてユーザが選択した領域内に存在する特異画素の位置を表示する技術が開示されている。ただ、この特許文献3における特異画素の表示には、特異画素の取得方式によって特異画素の位置が変わることが考慮されていない。先述の特許文献1、特許文献2に記載の技術は取得方式の違いが考慮されているが、特異画素を見えなくする補正処理に関するものであり、特異画素の表示とは相反するものである。
そのため従来の技術では、複数の撮像方式や、複数の特異画素を抽出する方式がある場合など、特異画素の取得方式が複数利用される場合に、取得方式毎に変わる特異画素の位置を比較して確認したいという要求に応える技術が無かった。
本発明はかかる課題を解決するためになされたものであり、画像の特異画素を表示させる情報処理装置であって、前記特異画素を取得する複数の取得方式毎に特異画素を各々取得する取得手段と、前記複数の取得方式のうち少なくとも1つの取得方式と、前記少なくとも1つの取得方式により得られる特異画素とを対応付けて表示させる表示制御手段とを有することを特徴とする。
本発明によれば、特異画素とその取得方式とを対応付けて表示させることができるため、どの取得方式を利用するとどのように特異画素が現れるかを比較しつつ確認することができる。
以下、本発明の実施形態を実施例1乃至3に従って説明する。なお本発明において特異画素とは異常または出力不良の画素のことであり、その周囲の画素の画素値から大きく外れた画素である。例えば画像を所定領域ごとに区切り、その区切られた各領域における画素の平均画素値から標準偏差値の8倍以上外れた画素を特異画素として定義する方法がある。以下の実施例においては、この特異画素のうち素子や回路等の異常により発生する欠陥画素を特異画素の例として説明する。
(実施例1)
以下、第1実施例について図1乃至図4を用いて説明する。本実施例は、撮像装置により撮像した画像から取得した欠陥画素の位置を表示する情報処理装置に本発明を適用したものである。この情報処理装置は欠陥画素を取得する複数の取得方式の各々により取得された欠陥画素の位置を、取得方式毎に異なる表示形式で表示させる表示制御を行う。これにより欠陥画素の位置情報と取得方式とを対応付けて表示させるものである。図1は本発明に係る情報処理装置の構成を示した図であり、図2は欠陥画素の位置情報を取得する欠陥画素取得装置の構成を示した図である。図3は欠陥画素取得装置及び情報処理が行う処理の流れを示したフローチャートである。図4は情報処理装置が表示部に表示させる画面の例を示す図である。
以下、第1実施例について図1乃至図4を用いて説明する。本実施例は、撮像装置により撮像した画像から取得した欠陥画素の位置を表示する情報処理装置に本発明を適用したものである。この情報処理装置は欠陥画素を取得する複数の取得方式の各々により取得された欠陥画素の位置を、取得方式毎に異なる表示形式で表示させる表示制御を行う。これにより欠陥画素の位置情報と取得方式とを対応付けて表示させるものである。図1は本発明に係る情報処理装置の構成を示した図であり、図2は欠陥画素の位置情報を取得する欠陥画素取得装置の構成を示した図である。図3は欠陥画素取得装置及び情報処理が行う処理の流れを示したフローチャートである。図4は情報処理装置が表示部に表示させる画面の例を示す図である。
ここで、本実施例における欠陥画素の取得方式とは、抽出対象から欠陥画素を抽出する抽出方式に加え、欠陥画素の抽出対象とする画像を撮像装置が取得する際の撮像方式の両方を含む概念とする。
図1に示される情報処理装置の構成について説明する。情報処理装置101は、欠陥画素取得装置102から、欠陥画素の位置情報を取得し、表示部105に表示させる表示制御を行うものである。情報処理装置101の取得部103は、欠陥画素取得装置102が取得した欠陥画素の位置を取得する。この欠陥画素の位置は、複数の取得方式の夫々を実行して得られたものである。取得部103は、複数の抽出方式に対応する欠陥画素の位置を取得する。情報処理装置101の表示制御部104は、画像における欠陥画素の位置を表示させるための表示制御を行うものであり、取得した欠陥画素の位置情報を取得方式毎に異なる表示形式で表示するための表示データを作成する。この表示データが表示部105に対して送られ、欠陥画素とその取得方式とが対応付けられて表示される。
図2に示される欠陥画素を取得する欠陥画素取得装置102の構成について説明する。この欠陥画素取得装置102は、撮像装置205により複数の撮像方式により撮像された画像を取得し、欠陥画素を取得して、取得方式毎に分類して記憶するというものである。方式記憶部201には、欠陥画素の取得方式が複数記憶されている。取得方式として記憶されているデータは、欠陥画素取得の対象とする画像データの撮像方式や、画像から欠陥画素を抽出する抽出方式などである。また、例えば同じ動画について複数の取得方式が記憶されていてもよい。方式選択部202は、方式記憶部201から複数の取得方式を取得し、1つずつ選択して欠陥画素取得部203に送る。なお方式記憶部201を用いずに、ユーザの入力により適宜欠陥画素の取得方式を取得し実行する構成であってもよい。
欠陥画素取得部203の画像取得部204は選択された取得方式に関する情報に基づき、欠陥画素の抽出対象とする画像を撮像装置205から取得する。欠陥画素抽出部206は画像から欠陥画素を抽出する。ここで欠陥画素の抽出方法は、例えば特異画素の定義例を用いて、所定領域内の画素平均値から標準偏差値の8倍以上離れた画素を欠陥画素とする方法を用いる。この方法で抽出される画素は欠陥画素以外の特異画素も含み得る。この点で、本実施形態が欠陥画素のみならず特異画素についても適用できることは明らかである。
欠陥画素抽出部206で抽出された欠陥画素を分類部207が分類する。分類部207は取得された欠陥画素の位置と、方式選択部202で選択された欠陥画素の取得方式とを関連付けて欠陥画素記憶部208に格納する。この欠陥画素の位置に基づいて表示制御部104が表示用のデータを作成し、表示部105に表示させることにより欠陥画素の表示がなされる。この画面表示については後述する。
なお、取得方式は、画像の撮像方式とそれにより得られた画像から欠陥画素を抽出する抽出方式とに分けられる。撮像方式としては、静止画、動画などがある。また、画素加算読み出し(ビニング)を行って動画を撮像する方式と画素加算読み出しをしないで動画を撮像する方式がある。また、画質よりもフレームレートを優先する動画を撮像する方式とフレームレートよりも画質を優先する動画を撮像する方式がある。抽出方式としては、複数枚の画像を取得し、うち所定枚数以上の画像において出力以上と判定された画素を欠陥画素とする方法がある。例えば4枚の画像を取得し、4枚中2枚以上の画像において出力異常と判定された画素を欠陥画素とする。出力異常の判定方法としては、画像を複数の領域に分割して夫々の領域について画素値の平均値を算出し、平均値を含む所定の範囲を外れた値を示す画素を欠陥画素とする方法がある。例えば、平均値から標準偏差値の数倍以上離れた画素値である場合に出力異常とする。また、孤立している欠陥画素、群を形成する欠陥画素、線上に連続して分布するライン欠陥など、抽出対象とする欠陥画素を決めることも、欠陥画素の取得方式に含まれる。更には、撮像された画像であって周知のオフセット補正やゲイン補正と呼ばれる補正がいない画像から欠陥画素を抽出するか、画像処理を終えた画像から欠陥画素を抽出するかも、取得方式に含む。
欠陥画素を抽出する対象の画像は、被写体を介さずに、撮像装置のセンサ面に略均一な光が照射されるようにして取得した白画像と呼ばれる画像であっても、所定のテストパターンを撮像した画像であってもよい。
図3に示される、上記装置による処理の流れを説明する。この処理は、複数の欠陥画素取得方式を実行する装置から欠陥画素の位置情報とその欠陥画素に対応する取得方式を取得し、取得方式毎に異なる表示形式で欠陥画素を表示するというものである。
まず、欠陥画素取得装置102の方式選択部202は方式記憶部201から複数の欠陥画素の取得方式を取得する(ステップ301)。取得した複数の欠陥画素取得方式を順に欠陥画素取得部203が実行する。この欠陥画素取得部203の画像取得部204は、撮像装置205から画像を取得する(ステップ302)。この際、選択された欠陥画素の取得方式に定められた撮像方式で得られた画像を取得する。
欠陥画素取得装置102の欠陥画素抽出部206が取得した白画像から欠陥画素を抽出する(ステップ303)。分類部207は、取得された欠陥画素の位置を抽出部から取得し、取得方式を方式選択部202から取得し、関連付けて欠陥画素記憶部208に記憶させる(ステップ304)。その後、方式選択部202は必要な取得方式の全てが実行されたかを判定する(ステップ305)。この判定は、ユーザの入力に応じて方式選択部202が行ってもよい。実行対象の欠陥画素取得方式があれば、ステップ301に進み欠陥画素の取得が実行され、取得が終わっていれば欠陥画素取得の処理を終える。以上の処理により、撮像装置205について複数の欠陥画素取得方式により得られる欠陥画素が欠陥画素取得装置102の欠陥画素記憶部208に格納されることとなる。
次に、本発明に係る情報処理装置101の取得部103がステップ304にて記憶された欠陥画素の位置情報を取得する(ステップ306)。この欠陥画素の位置情報は、先述のステップ302及びステップ303により、複数の欠陥画素取得方式を欠陥画素取得装置102の欠陥画素取得部203が実行して得たものである。この位置情報には、欠陥画素の位置に関する情報と共に、取得方式に関する情報が含まれる。情報処理装置101の表示制御部104は取得方式に応じて表示形式を変えて欠陥画素を表示させるように表示データを作成し(ステップ307)、表示部105が表示を行う(ステップ308)。
図4(a)に示される表示画面では、欠陥画素が存在する位置に塗り潰された正方形のマークが付されると共に、撮像方式に対応した記号が付される。これにより撮像方式毎に発生する欠陥画素の位置を記号の対応で確認することができる。なお、欠陥画素を異なる色で表示する表示形式であってもよい。このように、欠陥画素の位置を取得方式毎に異なる表示形式で表示されるため、複数の取得方式に対応する欠陥画素の位置を同時に1画面で確認することができる。このような効果は、複数の取得方式により取得した欠陥画素の位置を表示することや、取得方式毎に異なる表示形式で表示することも開示が無い従来技術からは想到し得ないものである。
図4(b)はまた別の表示例である。画面右側には1つの取得方式に対応した表示がされている。1つは白画像を複数枚、例えば4枚撮影し、4枚中1枚以上の画像において出力が異常と判定された画素を欠陥画素とする方式である。もう1つは、3枚以上の画像において異常出力であると判定された画素を欠陥画素とする方式である。前者の方式は、後者の方式に比べ、少しでも不安定と判定される画素を欠陥画素として抽出する方式であり、より欠陥画素による補正を利用する場合に利用される。この方式は、例えば欠陥画素の補正処理の信頼性が高い場合に利用される。後者の方式は、前者の方式に比べ、欠陥画素として抽出する画素を特に不安定なものに限る趣旨で利用される方式である。例えば、多少の不安定さであればゲイン補正等の他の補正により画質を担保できる場合などに利用されるものである。このように、状況に応じて抽出方式を変える場合に、これら抽出方式毎により変わる欠陥画素の位置を確認することができる。
(実施例2)
第2実施例について、図5乃至図10を用いて説明する。本実施例ではX線撮像システム自体が画像を撮像し、その画像から欠陥画素の位置情報を抽出して取得する。そして、取得方式の少なくとも1つを指定するユーザの入力に応じ、欠陥画素の取得方式を選択し、その選択に対応する欠陥画素位置の表示を行うことで、欠陥画素の位置情報と取得方式とを対応付けて表示させるものである。図5は本発明に係る情報処理システムであるX線撮像システムの構成を示した図である。図6はその情報処理システムが行う処理の流れを示すフローチャートである。図7乃至図10は情報処理システムによる欠陥画素の表示画面例を示す図である。
第2実施例について、図5乃至図10を用いて説明する。本実施例ではX線撮像システム自体が画像を撮像し、その画像から欠陥画素の位置情報を抽出して取得する。そして、取得方式の少なくとも1つを指定するユーザの入力に応じ、欠陥画素の取得方式を選択し、その選択に対応する欠陥画素位置の表示を行うことで、欠陥画素の位置情報と取得方式とを対応付けて表示させるものである。図5は本発明に係る情報処理システムであるX線撮像システムの構成を示した図である。図6はその情報処理システムが行う処理の流れを示すフローチャートである。図7乃至図10は情報処理システムによる欠陥画素の表示画面例を示す図である。
以下、図7に示されるX線撮像システムの構成について説明する。X線発生装置510は発生したX線を被写体に対して照射し、これと同期して検出器502がX線を受光する。検出器502は受光したX線を電荷に変換して蓄積し、所定の蓄積時間の後電荷を電気信号として読み出し、所定の画像処理を行って被写体画像を形成する撮像部として機能する。コントロールPC501には、バス509に対して、CPU503、RAM504、ROM505、入力部506、表示部507、記憶部508が接続される。また、コントロールPC501は、信号線である光ファイバー511を介して検出器502と接続されている。コントロールPC501は検出器502から被写体画像を取得して記憶部508に格納すると共に、表示部507に表示する処理をする。入力部506は、マウスやキーボード等からなり、ユーザの指示を受け付ける。表示部507は、例えば液晶ディスプレイからなり、表示制御部として機能するCPU503の制御に応じて、作成された表示データを表示する。
このコントロールPC501では、後述する図8に示される処理を行うためのコンピュータプログラムが記憶部508に格納されており、これがRAM504に読み込まれ、CPU503により実行される。これによって、コントロールPC501のハードウェア資源とコンピュータプログラムが協働して図6の欠陥画素の表示処理が実現される。この際、CPU503が表示部507の表示制御部として機能する。
図6に示される、上述のX線撮像システムが実行する処理の流れを説明する。特に明示が無い限り処理の主体及び処理の実行の指示を行う主体はCPU503である。
まず、検出器502は被写体を透過したX線を受光し、撮像方式を変えて補正前画像を複数枚撮像する(ステップ601)。また、この補正前画像を得ると同時に、検出器502およびX線発生装置510にて実行された撮像方式も複数取得する(ステップ602)。この情報はセンサから自動通知されることで取得してもよいし、ユーザが手動で与えても良い。次に記憶部508から既存の欠陥画素の位置情報を含むデータである欠陥画素マップを取得する(ステップ603)。欠陥画素マップとは、例えば欠陥画素である画素を1とし、正常画素である画素を0としたビットマップ形式のデータである。この場合は、取得する際に、ステップ602にて得られた撮像方式によって分類された欠陥画素マップを取得する。次にステップ601にて取得した補正前画像から欠陥の抽出を行う(ステップ604)。このステップを実行するコントロールPC内のCPU503は、実施例1における欠陥画素の取得部103に対応する。
次にステップ604の検出結果において、欠陥画素が増加していた場合、新たな欠陥画素として取得した日時と共に欠陥画素マップへ分類して追記し、欠陥マップを更新する(ステップ605)。更新された欠陥画素マップは、記憶部508に格納する。例えば、欠陥画素マップが欠陥画素の取得方式によって分類された複数の欠陥画素マップからなる場合には、このマップの更新作業をすることで欠陥の分類がされる。一方、欠陥画素マップが取得方式によって分類されておらず1つのマップである場合は、欠陥画素マップの値に欠陥画素取得方式に関する情報を含ませて更新することで欠陥画素の分類がなされる。
その後、補正前画像を更新された欠陥画素マップを用いて欠陥画素の位置を特定して欠陥画素補正を行い、補正後画像を取得する(ステップ606)。そして、全ての欠陥画素取得方式が実行されているか否かを判定し(ステップ607)、全て実行済みであればステップ608の処理へ進み、まだ実行していない方式があれば、ステップ601の処理に進み、補正前画像に対して欠陥画素の抽出を行う。ここでいう全ての欠陥画素取得方式とは、撮像システムが実行可能な全ての欠陥画素取得方式であっても、ユーザが指定した欠陥画素取得方式の全てであってもよい。
次に表示部507に欠陥画素の取得方式の選択肢を表示する。この選択肢をユーザが入力部506を操作して指定し、その指定情報に応じてCPU503が表示すべき欠陥情報の取得方式を選択する(ステップ608)。これらの欠陥画素取得方式が選択されると、その方式に対応する欠陥画素マップを選択し、このマップに基づいて欠陥画素の位置を表示するための表示データの作成を行う(ステップ609)。その画像データを表示部507が表示し、また画面上においてユーザが指定した画面上の表示を選択状態の表示へと変える。これにより、欠陥画素の位置情報を表示する図7乃至図10の画面表示が実現する(ステップ610)。これにより、ユーザが取得方式の指定に応じて表示させる欠陥画素の位置を任意に切り換えることができ、その時々に応じて必要な欠陥画素の位置を確認することが可能になる。欠陥の確認作業が完了したら、ユーザが確認ボタンを押下し、この入力に応じてCPU503が終了処理を行う(ステップ611)。この終了処理では、ユーザが画面に表示された全ての取得方式を選択し、欠陥を表示したか否かをCPU503にて判定し、全て選択されたと判定された場合に初めて確認ボタンの押下が有効となる。仮に、全て選択されていないと判定された場合には、その旨の通知を行う。確認ボタンの押下が有効か否かで確認ボタンの色を変えることにより、全ての欠陥画素の確認が終了したことをユーザに通知する。これにより欠陥画素の確認漏れを防ぐことができる。
図7に例示される画面表示を説明する。図7(a)右側には、画像の形式として静止画撮影、シネ撮影(X線量が高い動画撮影)、透視撮影(動画撮影)、画素を加算して読み出す際の加算数など、画像の撮影方法が表示される。これら撮影方式等の欠陥画素の取得方式をユーザが指定することにより、対応する欠陥画素の位置情報を選択し、図の左側に表示する。これによって撮像方式毎に変わる欠陥画素の位置を確認することができる。図7(b)にて示されるように複数の取得方式が選択された場合は、選択された方式で得られる論理和をとった欠陥情報を取得し表示する。この際には、取得方式毎に異なる表示形式で表示させれば、取得方式毎に現れる欠陥画素の位置を把握することができる。また、撮像方式自体をそのまま表示しても良い。なお、補正後画像と欠陥画素の位置とを同時に表示をしてもよい。
図8(a)の画面表示では、静止画の駆動であっても、前後の撮像方式によって選択を可能とする。これは例えば動画撮影中の静止画撮影と、単体で行う静止画撮影では撮像装置の駆動が異なる場合があり、この場合欠陥画素の発生位置が異なるため、別々に確認する必要がある。このような表示は、欠陥画素の取得を行う際に、通常の静止画と動画撮影中に撮像した静止画とを分けて取得し、夫々について欠陥画素を抽出することを通して実現できる。これにより、静止画単体で撮像する際の静止画に現れる欠陥画素と、動画撮影中に撮影される静止画に現れる欠陥画素が異なる場合であっても、夫々の静止画に発生する欠陥画素を別々に確認することができる。
図8(a)の画面表示では、静止画の駆動であっても、前後の撮像方式によって選択を可能とする。これは例えば動画撮影中の静止画撮影と、単体で行う静止画撮影では撮像装置の駆動が異なる場合があり、この場合欠陥画素の発生位置が異なるため、別々に確認する必要がある。このような表示は、欠陥画素の取得を行う際に、通常の静止画と動画撮影中に撮像した静止画とを分けて取得し、夫々について欠陥画素を抽出することを通して実現できる。これにより、静止画単体で撮像する際の静止画に現れる欠陥画素と、動画撮影中に撮影される静止画に現れる欠陥画素が異なる場合であっても、夫々の静止画に発生する欠陥画素を別々に確認することができる。
図8(c)では、単体のモードと静止画、動画撮影が組み合わさった混合モードとを分けて選択できる。この場合混合モードでは更に、動画、静止画のそれぞれで加算読み出しをするか否かを選択する。その構成によって欠陥情報を表示する。混合モードの場合は動画の欠陥マップと静止画の欠陥マップとを順送りで表示する。図8(c)の画面表示例では、撮影プロトコルが選択肢として表示される。ここで撮影プロトコルとは、例えば上部消化管撮影や胸部正面撮影であり、動画や静止画など複数の撮像方式を組み合わせた撮影が行われる。撮影プロトコルが決まると検出器による一連の撮像方式と、その撮像方式を含む欠陥画素の取得方式が決まる。欠陥画素マップから得られる画像中の欠陥画素位置に基づき、画面に欠陥画素の位置を表示する。また画面上には再生ボタンが表示される。再生ボタンを押下することで、撮影時の欠陥の遷移がわかるように順送りで表示する。
図9は図8(b)および図8(c)における再生ボタンを押下した際の順送り表示を示した図である。この例では、動画撮影から静止画撮影を行うケースでの動画撮影用の欠陥画素マップが5つあり、動画撮影から静止画撮影を行うケースでの静止画撮影用の欠陥画素マップが1つある。それらを、欠陥の遷移がわかるように欠陥画素マップを順送りで表示する。または、動画撮影用欠陥マップが1つしか無い場合は、動画撮影用の欠陥マップの表示時間を静止画撮影用の欠陥マップの表示時間よりも長くしてもよい。このような画面表示により、撮像方式毎に発生する欠陥画素の位置を撮像方式の利用順と同じ順序で確認することができる。
図10(a)では、静止画の欠陥画素と動画の欠陥画素それぞれについて、所定の小領域内の平均画素値mと標準偏差値σを計算し、画素値がm±5σの範囲外となった画素を欠陥画素とする抽出方式が選択肢として表示されている。また、m±8σの範囲外となった画素を欠陥画素とする抽出方式も選択可能となっている。このどちらかをユーザの入力に応じて選択し、選択に応じた欠陥画素を表示する。例えば、一般に動画では静止画に比べてノイズが多く、動画像ではm±8σの範囲外を欠陥画素として処理し、それ以外をゲイン補正等の補正処理で対処することが考えられる。この観点では、静止画像においてはノイズが小さいため、m±5σの範囲外を欠陥画素として指定することが考え得る。別の観点では、動画の方がX線の線量が小さく静止画に比べゲインを大きくする処理を行うため、ゲインコントロールをする前の画像から欠陥画素を抽出する際にはm±5σを超える画素を欠陥として抽出する必要がある場合が考えられる。このように、状況に応じて抽出方式を変える必要があるため、抽出方式毎に欠陥画素を確認する意義がある。
図10(b)では、孤立欠陥、ブロック欠陥、ライン欠陥をそれぞれ抽出するための抽出方式をユーザの入力に応じて選択し、対応する欠陥画素を表示する。例えば、ブロック欠陥、ライン欠陥等は画質に与える影響が大きいためこれらを優先的に確認する場合に選択する意義がある。また、孤立欠陥は経時劣化によってブロック欠陥へとなる可能性があり、その点で孤立欠陥を選択的に確認する必要がある。
(実施例3)
第3の実施例を図11及び図12を用いて説明する。本実施例は、欠陥画素の位置を示す画像を取得方式毎に並べて表示することで、欠陥画素の位置情報と取得方式とを対応付けて表示させるものである。また、取得された欠陥画素の中から指定された、例えば診断上大きな問題となる欠陥画素を選択して表示する。図11は情報処理システムが行う処理の流れを示すフローチャートであり、図12はシステムによる欠陥画素の表示画面例を示す図である。なお、これらの処理及び表示画面は第2の実施例と同様の構成を有する情報処理システムにより実現されるため、構成の説明は省略する。図11に示される処理の流れのうち、ステップ1108以外は実施例2と同様であるため説明を省略する。
第3の実施例を図11及び図12を用いて説明する。本実施例は、欠陥画素の位置を示す画像を取得方式毎に並べて表示することで、欠陥画素の位置情報と取得方式とを対応付けて表示させるものである。また、取得された欠陥画素の中から指定された、例えば診断上大きな問題となる欠陥画素を選択して表示する。図11は情報処理システムが行う処理の流れを示すフローチャートであり、図12はシステムによる欠陥画素の表示画面例を示す図である。なお、これらの処理及び表示画面は第2の実施例と同様の構成を有する情報処理システムにより実現されるため、構成の説明は省略する。図11に示される処理の流れのうち、ステップ1108以外は実施例2と同様であるため説明を省略する。
X線撮像システムまたは情報処理システムが実行する処理を説明する。図11のステップ1108は、取得した欠陥画素のうち、表示対象とするものを指示する処理である。以下、図12の画面例に基づいて説明する。
図12の欠陥画素を表示する画面の例では、複数の取得方式に対応する欠陥画素が並べて表示される。取得方式毎に位置を変えて現れる欠陥画素を比較して確認することができる。また、図12(a)の画面表示では、静止画、透視動画、シネなどの撮像方式に応じた欠陥画素の位置が並べて表示される。これにより、取得方式毎に欠陥画素の位置を確認することができる。また図12(a)において、ユーザが画面中のボタンを選択することにより、全ての欠陥画素を表示するか、欠陥画素に関する面積、形状、密度等に関する許容値を超えた欠陥画素のみを表示するかの選択をすることができる。ここでいう許容値とは、複数欠陥が集合し連なって群欠陥を構成している場合にはその集合した群欠陥がつくる形状、その集合した群欠陥が画像に占める面積、画像のある範囲内における欠陥画素の密度などの許容値である。例えば、多くの欠陥画素で構成されている群欠陥はそれだけ面積が大きく、画質に与える影響が大きい。また同一欠陥画素数の欠陥群でも、線状に連続する欠陥画素に比べて円状に分布する欠陥画素の方が画質に与える影響が大きいため、形状が問題となる。また、一定の画像領域内に欠陥画素が高い密度で分布している場合にも、画質に与える影響が高いと考えられる。これら面積、形状、密度等に関する閾値を定め、取得された欠陥画素の集合に対してこの閾値による判定を行い分類することで処理が実現される。このように、欠陥画素に関する面積、形状、密度等に関する許容値を超えた欠陥画素を表示させることにより、画質に特に影響が大きい欠陥画素の位置を優先して確認することができる。なお、許容値を超えた欠陥画素のみを表示させても、許容値を超えた欠陥画素に許容値を超えない欠陥画素と異なる表示形式で表示してもよい。
図12(b)では、ユーザが検出日を指定すると、その検出日に対応する欠陥画素が表示されるというものである。欠陥画素は装置の経時劣化により時間経過と共に増加するため、日付ごとに確認する意義がある。これには、欠陥画素検出の前に既存の欠陥画素マップにて欠陥補正をし、その補正後の画像を入力として欠陥画素を抽出し、その抽出日と対応付けて欠陥画素マップを更新しておけばよい。これによって、例えば過去に撮影した画像についての欠陥画素の位置を確認する際には、その画像に対応する欠陥画素の取得方式と、その画像が撮像された日付を指定して、その画像の撮像時に現れる欠陥画素の位置を確認することができる。
以上、特異画素の例として欠陥画素を取り上げ、欠陥画素についての適用例を説明してきたが、本発明の適用例はこれに限らず、欠陥画素以外の特異画素を対象としてもよい。
なお、第1の実施例では、情報処理装置101の外部にある欠陥画素取得装置102が画像から欠陥画素の位置を取得し、情報処理装置101の取得部103がこの欠陥画素取得装置102から欠陥画素の位置取得を行う構成としている。しかしこれに限らず、情報処理装置101自体が画像から欠陥画素の位置を抽出して取得してもよい。この場合には、情報処理装置101が欠陥画素取得装置102における欠陥画素取得部203を備える構成とし、図3に示される処理の全てを情報処理装置101が実行することにより実現される。
上記実施例においては、欠陥画素を表示する際に欠陥画素の位置を示す画像を表示させるものとして説明したが、これに限らず、例えば取得方式毎に得られる欠陥画素の数が問題になる場合には、欠陥画素の数を表示させてよい。また、画像における欠陥画素の座標を文字情報として表示してもよい。
更に本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するプログラムを、情報処理装置または情報処理システムに供給し、そのシステムまたは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
101 情報処理装置
102 欠陥画素取得装置
103 取得部
104 表示制御部
102 欠陥画素取得装置
103 取得部
104 表示制御部
Claims (17)
- 画像の特異画素を表示させる情報処理装置であって、
前記特異画素を取得する複数の取得方式毎に特異画素を各々取得する取得手段と、
前記複数の取得方式のうち少なくとも1つの取得方式と、前記少なくとも1つの取得方式により得られる特異画素とを対応付けて表示させる表示制御手段とを有することを特徴とする情報処理装置。 - 前記表示制御手段は、前記複数の取得方式より得られる特異画素を前記取得方式に応じて表示形式を変えて表示させることを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
- 前記複数の取得方式から少なくとも1つの取得方式を選択する選択手段を有し、
前記表示制御手段は前記選択された取得方式により得られる特異画素を表示させることを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記表示制御手段は、前記複数の取得方式により得られる特異画素の位置を示す画像を前記取得方式毎に並べて表示させることを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
- 前記複数の取得方式では、前記画像を撮像装置が撮像する撮像方式が異なることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記撮像方式は、動画を撮像する撮像方式と静止画を撮像する撮像方式のいずれかであることを特徴とする請求項5に記載の情報処理装置。
- 前記取得手段は、前記撮像装置が動画撮影中に撮像する静止画に現れる特異画素を取得することを特徴とする請求項6に記載の情報処理装置。
- 前記複数の取得方式では、前記画像から特異画素を抽出する抽出方式が異なることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記表示制御手段は、複数の取得方式の夫々により得られる特異画素の位置を示す画像を順送りで表示させることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記特異画素の集合の前記画像における面積の大きさ、前記集合がつくる形状、前記画像の所定の範囲における前記特異画素の密度のいずれかに応じて、前記特異画素を表示させることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記取得手段は、前記複数の取得方式を実行する外部の装置から得ることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記取得手段は、前記複数の取得方式を実行して前記特異画素を得ることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記複数の取得方式は、前記画像における特異画素の位置を取得する方式であり、
前記表示制御手段は、前記少なくとも1つの取得方式により得られる特異画素の位置を表示させることを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記載の情報処理装置。 - 前記特異画素は欠陥画素であることを特徴とする請求項1乃至13のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 画像の特異画素を表示させる情報処理方法であって、
前記特異画素を取得する複数の取得方式毎に特異画素を各々取得する取得ステップと、
前記複数の取得方式のうち少なくとも1つの取得方式と、前記少なくとも1つの取得方式により得られる特異画素とを対応付けて表示させる表示制御ステップとを有することを特徴とする情報処理方法。 - 画像の特異画素を表示させる情報処理方法であって、
前記特異画素を取得する複数の取得方式毎に特異画素を各々取得する取得ステップと、
前記複数の取得方式のうち少なくとも1つの取得方式と、前記少なくとも1つの取得方式により得られる特異画素とを対応付けて表示させる表示制御ステップとを有することを特徴とする情報処理方法をコンピュータに実行させるプログラム。 - 画像を撮像する撮像手段と、
前記撮像された画像における特異画素の位置を複数の取得方式の各々により取得する取得手段と、
前記複数の取得方式により取得された特異画素の位置を、取得方式毎に分類する分類手段と、
前記分類された特異画素の位置と、該特異画素に対応する取得方式とを対応付けて表示する表示手段と
を有することを特徴とする情報処理システム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011528566A JP5539365B2 (ja) | 2009-08-28 | 2009-08-28 | 情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及び情報処理方法を実行するためのコンピュータプログラム |
PCT/JP2009/065040 WO2011024287A1 (ja) | 2009-08-28 | 2009-08-28 | 情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及び情報処理方法を実行するためのコンピュータプログラム |
US12/870,155 US8797430B2 (en) | 2009-08-28 | 2010-08-27 | Information processing apparatus for displaying an anomalous pixel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2009/065040 WO2011024287A1 (ja) | 2009-08-28 | 2009-08-28 | 情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及び情報処理方法を実行するためのコンピュータプログラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2011024287A1 true WO2011024287A1 (ja) | 2011-03-03 |
Family
ID=43624346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2009/065040 WO2011024287A1 (ja) | 2009-08-28 | 2009-08-28 | 情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及び情報処理方法を実行するためのコンピュータプログラム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8797430B2 (ja) |
JP (1) | JP5539365B2 (ja) |
WO (1) | WO2011024287A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5379664B2 (ja) * | 2009-12-11 | 2013-12-25 | キヤノン株式会社 | 画像表示装置およびその制御方法 |
KR101195388B1 (ko) * | 2010-10-29 | 2012-10-29 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 데드 픽셀 보상 테스트 장치 |
JP2013093685A (ja) * | 2011-10-25 | 2013-05-16 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 撮像装置 |
JP2013255040A (ja) * | 2012-06-05 | 2013-12-19 | Canon Inc | 撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法およびプログラム |
US20180005598A1 (en) * | 2016-06-29 | 2018-01-04 | Intel Corporation | Oled-aware content creation and content composition |
WO2018216629A1 (ja) | 2017-05-22 | 2018-11-29 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム |
JP7113657B2 (ja) * | 2017-05-22 | 2022-08-05 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001008928A (ja) * | 1999-04-30 | 2001-01-16 | General Electric Co <Ge> | 画像を表示する方法および装置 |
JP2008022520A (ja) * | 2006-03-16 | 2008-01-31 | Canon Inc | 撮像装置、その処理方法及びプログラム |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6529618B1 (en) * | 1998-09-04 | 2003-03-04 | Konica Corporation | Radiation image processing apparatus |
US6704458B2 (en) * | 1999-12-29 | 2004-03-09 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for correcting heavily damaged images |
JP4485087B2 (ja) * | 2001-03-01 | 2010-06-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の動作方法 |
US6919568B2 (en) * | 2003-04-08 | 2005-07-19 | Ge Medical Systems Global Technology Company Llc | Method and apparatus for identifying composite defective pixel map |
JP4346968B2 (ja) * | 2003-06-13 | 2009-10-21 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影方法、放射線撮影装置、及びコンピュータプログラム |
US20050030412A1 (en) * | 2003-08-07 | 2005-02-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Image correction processing method and image capture system using the same |
US20090097730A1 (en) * | 2005-05-23 | 2009-04-16 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | Abnormal shadow candidate display method and medical image processing system |
JP4773841B2 (ja) * | 2006-02-17 | 2011-09-14 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
JP4874843B2 (ja) * | 2007-03-22 | 2012-02-15 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影方法および放射線画像撮影装置 |
JP2009061176A (ja) * | 2007-09-07 | 2009-03-26 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 医用画像処理装置及びプログラム |
-
2009
- 2009-08-28 WO PCT/JP2009/065040 patent/WO2011024287A1/ja active Application Filing
- 2009-08-28 JP JP2011528566A patent/JP5539365B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-08-27 US US12/870,155 patent/US8797430B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001008928A (ja) * | 1999-04-30 | 2001-01-16 | General Electric Co <Ge> | 画像を表示する方法および装置 |
JP2008022520A (ja) * | 2006-03-16 | 2008-01-31 | Canon Inc | 撮像装置、その処理方法及びプログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20110050933A1 (en) | 2011-03-03 |
JP5539365B2 (ja) | 2014-07-02 |
US8797430B2 (en) | 2014-08-05 |
JPWO2011024287A1 (ja) | 2013-01-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5534756B2 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法、画像処理システム及びプログラム | |
JP5235823B2 (ja) | 情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及び当該情報処理方法をコンピュータに実行させるプログラム | |
WO2011024287A1 (ja) | 情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及び情報処理方法を実行するためのコンピュータプログラム | |
WO2013105373A1 (ja) | 情報処理装置、撮像制御方法、プログラム、デジタル顕微鏡システム、表示制御装置、表示制御方法及びプログラム | |
JP2007143131A (ja) | 画像信号処理方法および装置 | |
JP2007318331A (ja) | 顕微鏡用撮像装置 | |
JP2016208306A (ja) | 画像処理装置及びこれを備えた撮像システムならびに画像処理方法 | |
JP2018186514A (ja) | 画像処理装置及びこれを備えた撮像システムならびに画像処理方法 | |
JP7204499B2 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法、および、プログラム | |
JP5586909B2 (ja) | 情報処理装置、システム、方法及びプログラム | |
JP5423300B2 (ja) | 電子カメラ | |
JP2010114674A (ja) | ビデオカメラ | |
JP5547975B2 (ja) | 撮像装置、顕微鏡システム、及びホワイトバランス調整方法 | |
JPH07274194A (ja) | カラー映像信号処理装置 | |
JP2000224525A (ja) | プリンタ装置 | |
JP2003028812A (ja) | X線透視装置 | |
JP3829024B2 (ja) | 表示画面の検査方法と装置 | |
JP4629629B2 (ja) | デジタルカメラの偽色評価方法、デジタルカメラの偽色評価装置及びデジタルカメラの偽色評価プログラム | |
JP6285759B2 (ja) | コンピュータ、不具合表示パネルの検出システム、不具合表示パネルの検出方法及びプログラム | |
JP2005027161A (ja) | 画像処理装置及び画像処理方法 | |
JP2016225960A (ja) | 撮像装置および撮像方法 | |
US20230419548A1 (en) | Color adjustment apparatus used for color matching between image capturing apparatuses, color adjustment method, and storage medium storing color adjustment program | |
JP5272821B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
JP6111736B2 (ja) | 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法および画像処理プログラム | |
JP2000218907A (ja) | プリンタ装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 09848735 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
WWE | Wipo information: entry into national phase |
Ref document number: 2011528566 Country of ref document: JP |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 09848735 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |