JP4874843B2 - 放射線画像撮影方法および放射線画像撮影装置 - Google Patents
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Description
この放射線画像検出器としては、放射線を電気的な画像信号として取り出す放射線固体検出器(いわゆる「Flat Panel Detector」 以下、FPDとする)や、放射線像を可視像として取り出すX線イメージ管などがある。
すなわち、FPDの画素(検出素子)は、全てが必ずしも入射した放射線(放射線量)に対して適正な強度の信号を出力する訳ではなく、放射線に対して異常に低い値の信号や以上に高い信号を出力する画素が存在する。
そのため、FPDを利用する放射線画像撮影装置では、所定のタイミングでFPDの画素欠陥の位置を検出しておき、放射線画像を撮影する際には、画素欠陥の検出結果に応じて、周辺の画素(その画像データ)を利用して画素欠陥を補正する、画素欠陥補正を行ない、画素欠陥補正済の放射線画像を診断画像等として表示やプリントとして再生するのが、通常である。
このような問題に対応する手段として、特許文献1には、画素欠陥を補正した放射線画像と画素欠陥が未補正の放射線画像の両者を出力する放射線画像処理装置が、また、特許文献2には、画素欠陥の検出を行なった際に、増加(新たに発生)した画素欠陥が多いと判別した場合には警告を発し、また、増加した画素欠陥と以前から存在した画素欠陥とが判別できるように、画素欠陥の位置を表示する放射線画像処理装置が開示されている。
従って、FPDの画素欠陥が増加して、適正な画素欠陥補正が行なえなくなる許容値を超えてしまった場合には、FPDが寿命(仕様限界)になったとして、FPDを交換する必要がある。
従って、このような場合には、放射線画像を用いた診断が不可能になり、あるいは、不適正な放射線画像での診断を強いられる結果となり、大きな問題となる。
また、このような本発明の放射線画像撮影方法において、前記放射線画像を再生する際に、放射線画像に、前記画素欠陥補正を施さなかった局所領域を示す画像を合成するのが好ましい。
このような本発明の画像撮影装置において、さらに、前記補正手段による画素欠陥補正済の放射線画像に、前記欠陥超過領域を示す画像を合成する合成手段を有するのが好ましい。
また、前記解析手段が欠陥超過領域を検出した際に、警告を発する警告手段を有するのが好ましく、さらに、この際において、前記許容値よりも閾値の低い仮許容値が設定されており、前記警告手段は、仮許容値を超えた局所領域を検出した際にも警告を発するのが好ましい。
また、前記欠陥超過領域における画素欠陥補正の実施の有無を選択する選択手段を有するのが好ましく、前記許容値の設定手段を有するのが好ましい。
また、前記放射線固体検出器の撮像面上で予め設定した局所領域が、前記放射線固体検出器の撮像面を格子状に分割した各領域であるのが好ましく、この際には、前記放射線固体検出器の撮像面の4隅近傍の前記局所領域の大きさが、それ以外の前記局所領域よりも小さいのが好ましく、あるいは、前記放射線固体検出器の撮像面上で予め設定した局所領域が、前記放射線固体検出器の撮像面に対して移動可能なマスクであるのが好ましい。
さらに、撮影した放射線画像の画像データに、前記欠陥超過領域が存在する旨の情報、および、前記欠陥超過領域の位置情報を対応付けするのが好ましい。
しかも、放射線固体検出器の画素欠陥の検出を所定の局所領域毎に行い、画素欠陥が所定の許容値を超えた局所領域が生じた場合には、好ましくは放射線固体検出器の使用限界が近い旨を警告した上で、この局所領域のみは、画素欠陥補正を行なわずに画像を再生し、かつ、その事を示す情報を再生する放射線画像に合成する。従って、画素欠陥が許容値を超えた放射線固体検出器で撮影した放射線画像であっても、画放射線画像の観察者は、画素欠陥が許容値を超えた領域を把握した上で、画素欠陥による悪影響を排除して、適正な診断を行なうことができる。
図1に示す放射線画像撮影装置10(以下、撮影装置10とする)は、被検者H(被写体)の放射線画像(診断画像)を撮影する放射線画像診断装置であって、放射線画像を撮影する撮影部12と、撮影部12が撮影した放射線画像を処理する画像処理部14と、モニタ16と、プリンタ18とを有して構成される。
放射線源22は、各種の放射線画像撮影装置に設置される通常の放射線源である。撮影台24も、各種の放射線画像撮影装置で利用される通常の撮影台である。なお、撮影装置10は、必要に応じて、放射線源22の移動手段、撮影台24の昇降手段や水平方向への移動手段、撮影台24を傾ける傾斜手段等を有してもよい。
撮影装置10は、通常の放射線画像撮影装置10と同様に、放射線源22が照射し、被検者Hを透過した放射線をFPD30の受光面で受光し、放射線を光電変換することにより、被検者Hの放射線画像を撮影する。
本発明において、FPD30は、アモルファスセレン等の光導電膜とTFT(Thin Film Transistor)等を用い、放射線の入射によって光導電膜が発した電子−正孔対(e−hペア)を収集してTFTによって電化信号として読み出す、いわゆる直接方式のFPD、および、「CsI:Tl」などの放射線の入射によって発光(蛍光)する蛍光体で形成されたシンチレータ層とフォトダイオードとTFT等を用い、放射線の入射によるシンチレータ層の発光をフォトダイオードで光電変換して、TFTによって電気信号として読み出す、いわゆる間接方式のFPDの、いずれでもよい。なお、画素欠陥が増加し易く、本発明の効果が好適に発現できる等の点で、特に、直接方式のFPDが好適である。
画像処理部14は、FPD30が出力した出力信号を処理して、モニタ16による表示に対応する画像データや、プリンタ18でのプリント出力、さらには、ネットワークや記録媒体を用いた放射線画像(データ)の出力に対応する画像データとするものである。図示例の撮影装置10において、画像処理部14は、データ処理手段32と、画像補正手段34と、画素欠陥検出手段36と、画素欠陥解析手段38とを有して構成される。
画像処理部14は、一例として、1台もしくは複数台のコンピュータやワークステーションで構成されるものであり、図示した部位以外にも、各種の操作や指示の入力等をするためのキーボードやマウス等を有している。
周知のように、画素欠陥(画素欠陥)とは、入射した放射線の線量に対して、不適正に高い出力信号や不適正に低い出力信号を出力する画素(検出素子)である。検出手段36は、FPD30の画素欠陥を検出し、FPD30上における画素欠陥の位置(欠陥を有する画素の位置)を示す欠陥マップを作成するものである。
検出手段36は、作成した欠陥マップを、後述する画像補正手段34および画素欠陥解析手段38に送る。
図示例において、局所領域とは、画素欠陥が連続する領域、および、欠陥マップ(すなわちFPD30の撮像面(受光面))上で予め設定した所定の領域である。また、予め設定した許容値とは、画素欠陥が連続する領域では画素欠陥のサイズであり、他方、撮像面上で設定した所定領域では、画素欠陥の密集度である。解析手段38は、少なくとも一方が所定の許容値を超えた画素欠陥が存在する局所領域を、欠陥超過領域と判定する。
なお、この所定面積と局所領域の面積とは、一致していてもしていなくてもよい。
一例として、画素欠陥を行なっても十分な画質の放射線画像が得られなくなるサイズおよび密集度、すなわち、FPD30が寿命(使用限界)となるようなサイズおよび密集度を、許容値として設定する方法が例示される。
ここで、後述するが、本発明においては、欠陥超過領域が発生した後も、欠陥超過領域における画素欠陥補正を行なわずに、放射線画像の撮影を継続することができる。そのため、寿命に応じて許容値を設定すると、その後の撮影で得られた放射線画像の画質が、診断に支障をきたしてしまうような画質となってしまう可能性も有る。従って、余裕を持たせて、FPD30の寿命に対応する画素欠陥のサイズや密集度に対して、90%〜80%程度のサイズや密集度を許容値とするのも好ましい。
許容値の設定は、例えば寿命に対応する画素欠陥のサイズや密集度を100%として、100%〜60%などの所定の範囲においてに対して連続的に設定可能であってもよく、あるいは、60%,70%…と、段階的に設定するものでもよい。
なお、この際においても、先と同様の理由で、許容値の最大値は寿命に対して余裕を持たせるのが好ましい。あるいは、許容値の最大値は寿命に応じて設定して、サイズや密集度が最大値の80%等の所定値になった時点で、FPD30の寿命が近づいている旨の警告を発生するようにしてもよい。なお、警告の発生方法は、後述の方法と同様でよい。
一例として、図3(A)に示すように、欠陥マップ(FPD30の撮像面)を均等に格子状(メッシュ状)に分割して、分割したブロック状の各領域を局所領域とする方法が例示される。また、一般的に、FPD30の画素欠陥は角部に生じ易い。これに応じて、図3(B)や図3(C)に示すように、局所領域のサイズを均一にするのではなく、FPD30の角部あるいはさらに周辺部の局所領域のサイズを小さくしてもよい。
さらに、局所領域を固定的に設定するのではなく、図3(D)に模式的に示すように、移動可能な所定サイズのマスクm(ウインドウ)を局所領域として設定して、マスクを移動(走査)して、任意の各位置で画素欠陥の解析を行なうようにしてもよい。この場合には、一例として、所定のスタート位置から、所定の方向にマスクを移動して、マスク内に所定数の画素欠陥を検出した時点で、この画素欠陥の位置が中心となる位置にマスクを停止して、画素欠陥の解析を行なう。
従って、何れを採用するかは、撮影装置に要求される画質や精度、さらには単位時間あ当たりの撮影枚数などの処理能力等に応じて、適宜、設定すればよい。
あるいは、仮許容値を設定している場合には、仮許容値を超えた局所領域も、仮の欠陥超過領域として、その位置情報を取得し、画像補正手段34に供給してもよい。
あるいは、前記ブロックなどの予め欠陥マップ上で設定した局所領域の対向する角部の座標位置(画素配列方向の座標位置)や、サイズが許容値を超過した画素欠陥を囲む矩形の座標位置を用いて、「[(n1−m1)−(n2−m2)]を対角とする矩形が欠陥超過領域」のような情報を欠陥超過領域の位置情報として画像補正手段34に送ってもよい。
さらに、各画素の画素番号を利用して、サイズが許容値を超えた画素欠陥の欠陥位置情報として、画素欠陥の画素番号を画像補正手段34に送ってもよい。
また、仮許容値を設定している場合には、画素欠陥が仮許容値を超えた仮の欠陥超過領域が発生した際に、その旨の警告を発するようにしてもよい。
検出手段36が欠陥マップを作成(更新)すると、解析手段38は、この欠陥マップを解析して、各局所領域毎、すなわち、画素欠陥が連続する領域、および、格子で分割したブロックなどの欠陥マップ(撮像面)上で予め設定した領域毎に、サイズ(1)が仮許容値を超える画素欠陥が存在するか、および、画素欠陥の密集度(2)が仮許容値を超えてるか否かを検出する。
なお、サイズが仮許容値を超える画素欠陥の検出を、格子で分割したブロックなどの欠陥マップ上で予め設定した領域毎に行なうようにしてもよい。
また、検出手段36による欠陥マップの作成(更新)タイミングには、特に限定はなく、撮影装置10を起動した後、所定の撮影回数毎、所定の時間経過毎、放射線源22が所定線量の放射線を照射する毎、これらの併用等、各種の放射線画像撮影装置で行なわれている作成タイミングと同様でよい。
なお、F1は仮許容値に、F2は許容値に、それぞれ対応するものであり、0は(仮)許容値を超えた局所領域が存在しないことを(全局所領域が許容値以下であることを)、1は(仮)許容値を超えた局所領域が存在することを、それぞれ示すものである。
さらに、仮の欠陥超過領域の位置情報を取得して、画像補正手段34に情報を送り、あるいはさらに、撮影装置10のFPD30に仮の欠陥超過領域が生じた旨の情報を管理センターに通知する。
さらに、この欠陥超過領域の位置情報を取得して、画像補正手段34に情報を送り、あるいはさらに、撮影装置10のFPD30に欠陥超過領域が生じた旨の情報を管理センターに通知する。
また、本発明において、画像補正手段34は、検出手段36が作成した画素欠陥の欠陥マップに応じて画素欠陥補正を行なう画素欠陥補正手段40、および、放射線画像の欠陥超過領域に、欠陥超過領域である事を示す画像を合成する画像合成手段42を有する。
画像補正手段34が実施する画像処理は、例えば、画素欠陥補正と共にキャリブレーションに応じて行なわれるオフセット補正(暗補正)やゲイン補正(シェーディング補正)、階調補正や濃度補正、さらには、モニタ表示用やプリント出力用のデータに画像データを変換するデータ変換など、各種の放射線画像撮影装置で行なわれている画像処理が、全て実施可能である。
画素欠陥補正の方法には、特に限定はなく、両隣や周辺の画素の平均値を画素欠陥(その画素)のデータとする方法、画素欠陥周辺の所定領域の画素の変化の傾向か画素欠陥のデータを生成する方法等、各種の放射線画像撮影装置で行なわれている画素欠陥補正方法が、各種、利用可能である。
また、画素欠陥の状態(連続性や密集性)に応じて、異なる方法で画素欠陥補正を行なうようにしてもよい。
すなわち、本発明において、欠陥補正手段40は、画素欠陥が許容値を超えている欠陥超過領域を除いて、それ以外の領域のみ画素欠陥の補正を行なう。また、仮許容値を設定している場合には、欠陥超過領域に加え、仮の欠陥超過領域も画素欠陥補正を行なわないようにしてもよい。
しかしながら、新たなFPDが直ぐに準備できない場合もあり、また、コストの問題で、即座にFPDの交換ができない場合も有り得るのは、前述のとおりである。
すなわち、画素欠陥の数が増加して、適正な画素欠陥補正が行なえなくなっても、多くの場合は、その領域は局所的であり、それ以外の領域は、画素欠陥補正を行なうことにより、適正な放射線画像を得ることができる。
従って、本発明によれば、通常であればFPDの交換が必要な状態となってしまった後でも、利用者はFPDの寿命が近いことを把握した上で、しばらくの間は、放射線画像撮影装置を使用することが可能である。また、適正な画素欠陥補正ができない欠陥超過領域は、画素欠陥補正を行なわず、かつ、好ましくは、欠陥超過領域を示す画像を放射線画像に合成するので、放射線画像の観察者は、欠陥超過領域およびその画素欠陥の状態を適正に把握して、画素欠陥による悪影響を最大限に低減して適正な診断(読影)を行なうことができる。
なお、寿命の警告がなくても、欠陥超過領域が発生した場合には、欠陥超過領域を示す画像を放射線画像に合成するので、放射線画像の観察者は、これにより、欠陥超過領域が生じたこと、すなわちFPDの寿命が近いことを知見できる。
なお、この選択手段も、モニタ16、マウスやキーボード等を用いたGUIなどの公知の方法で構成すればよい。
また、複数の欠陥超過領域が存在する場合には、欠陥超過領域毎に補正の有無を選択できるようにしてもよい。
合成手段40が合成する画像は、欠陥超過領域が識別できる各種の画像が利用可能である。例えば、欠陥超過領域を囲む白枠や黒枠などの線枠、同じく白枠や黒枠などの二重線枠、白黒などの点線枠が例示される。また、放射線画像を再生するのがカラーモニタやカラープリンタであれば、欠陥超過領域に彩色を合成して色付けをすることによって、欠陥超過領域を識別可能にしてもよい。
ここで、サイズが許容値を超えた画素欠陥の場合には、欠陥超過領域が識別できるような画像を合成しなくても、許容値によっては再生画像の上で十分に識別可能であるので、必ずしも、この画像合成を行なわなくてもよい。また、密集度の解析を行なう欠陥マップ上に設定した局所領域(前記格子状によるブロック等)を利用して、この局所領域を識別できるように画像を合成して、サイズが超過した画素欠陥を有する欠陥超過領域を認識できるようにしてもよい。
なお、仮許容値を設定している場合には、欠陥超過領域に加え、仮の欠陥超過領域も識別できるように画像の合成を行ってもよい。
欠陥マップのフラグがF1=0およびF2=0である場合(Y)には、仮の欠陥超過領域および欠陥超過領域が存在しないので、欠陥マップを、そのまま画素欠陥の補正用欠陥マップとする。
次いで、欠陥マップから、仮の欠陥超過領域および欠陥超過領域に位置する画素欠陥を消去して、補正用欠陥マップとする。例えば、図6(A)に示す例において、一点鎖線で示す領域が欠陥過領域である場合には、図6(B)に示すように、欠陥マップから、この領域の画素欠陥を除いて、補正用欠陥マップとする。
例えば、欠陥超過領域が存在するとして、図6(C)に示す放射線画像を図6(B)に示す補正用欠陥マップを用いて補正して、図6(D)に示すように、欠陥超過領域を除く画素欠陥を補正した補正済画像を作成する。
さらに、画像補正手段34は、この放射線画像(データ)のヘッダに、欠陥超過領域の存在の有無の情報等を記録する。本例においては、一例として、フローチャートに示すように、放射線画像のヘッダに、前述のフラグ情報(F1およびF2)を記録する。
12 撮影部
14 画像処理部
16 モニタ
18 プリンタ
22 放射線源
24 撮影台
26 撮影手段
30 FPD(放射線固体検出器)
32 データ処理手段
34 画像補正手段
36 (画素欠陥)検出手段
38 (画素欠陥)解析手段
40 欠陥補正手段
42 画像合成手段
Claims (12)
- 放射線固体検出器の画素欠陥を検出して、連続する画素欠陥を局所領域として、予め設定した画素数以上の連続する画素欠陥を有する前記局所領域を欠陥超過領域とする処理、および、前記放射線検出器の撮像面上で予め設定した領域を局所領域として、予め設定した密集度以上の画素欠陥が密集している前記局所領域を欠陥超過領域とする処理の、少なくとも1方を行ない、
前記放射線固体検出器で撮影した放射線画像に対して、前記欠陥超過領域とした局所領域には画素欠陥補正を施さず、かつ、前記欠陥超過領域以外の局所領域には画素欠陥補正を施して、放射線画像を再生することを特徴とする放射線画像撮影方法。 - 前記放射線画像を再生する際に、この再生する放射線画像の前記欠陥超過領域に、この領域が前記欠陥超過領域であることを示す画像を合成する請求項1に記載の放射線画像撮影方法。
- 放射線源と、
前記放射線源が照射した放射線を検出する放射線固体検出器と、
前記放射線固体検出器の画素欠陥を検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥検出手段が検出した画素欠陥のうち連続する画素欠陥を局所領域として、予め設定した画素数以上の連続する画素欠陥を有する前記局所領域を欠陥超過領域とする処理、および、前記放射線固体検出器の撮像面上で予め設定した領域を局所領域として、予め設定した密集度以上の画素欠陥が密集している前記局所領域を欠陥超過領域とする処理の、少なくとも1方を行なう解析手段と、
前記欠陥検出手段による画素欠陥の検出結果、および、前記解析手段による欠陥超過領域の検出結果に応じて、前記放射線固体検出器で撮影した放射線画像に対して、前記解析手段が欠陥超過領域とした局所領域以外の前記局所領域に画素欠陥補正を行なう補正手段とを有することを特徴とする放射線画像撮影装置。 - さらに、前記補正手段による画素欠陥補正済の放射線画像の前記欠陥超過領域に、この領域が前記欠陥超過領域であることを示す画像を合成する合成手段を有する請求項3に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記解析手段が欠陥超過領域を検出した際に、警告を発する警告手段を有する請求項3または4に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記許容値よりも閾値の低い仮許容値が設定されており、前記警告手段は、仮許容値を超えた局所領域を検出した際にも警告を発する請求項5に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記欠陥超過領域における画素欠陥補正の実施の有無を選択する選択手段を有する請求項3〜6のいずれかに記載の放射線画像撮影装置。
- 前記許容値の設定手段を有する請求項3〜7のいずれかに記載の放射線画像撮影装置。
- 前記放射線固体検出器の撮像面上で予め設定した局所領域が、前記放射線固体検出器の撮像面を格子状に分割した各領域である請求項3〜8のいずれかに記載の放射線画像撮影装置。
- 前記放射線固体検出器の撮像面の4隅近傍の前記局所領域の大きさが、それ以外の前記局所領域よりも小さい請求項9に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記放射線固体検出器の撮像面上で予め設定した局所領域が、前記放射線固体検出器の撮像面に対して移動可能なマスクである請求項3〜8のいずれかに記載の放射線画像撮影装置。
- 撮影した放射線画像の画像データに、前記欠陥超過領域が存在する旨の情報、および、前記欠陥超過領域の位置情報を対応付けする請求項3〜11のいずれかに記載の放射線画像撮影装置。
Priority Applications (2)
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