JP5248385B2 - 欠陥画素検出方法および放射線画像撮影装置 - Google Patents
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また、このようなFPDとしては、例えば放射線の入射によってアモルファスセレンなどの光導電膜が発した電子−正孔対(e−hペア)を収集して電化信号として読み出す、いわば放射線を直接的に電気信号に変換する直接方式と、放射線の入射によって発光(蛍光)する蛍光体で形成された蛍光体層(シンチレータ層)を有し、この蛍光体層によって放射線を可視光に変換し、この可視光を光電変換素子で読み出す、いわば放射線を可視光として電気信号に変換する間接方式との、2つの方式がある。
すなわち、FPDの画素(検出素子)は、全てが必ずしも入射した放射線(放射線量)に対して適正な強度の信号を出力するわけではなく、放射線に対して不適正に低い値の信号や、不適正に高い値の信号を出力する画素が存在する。
そのため、FPDを利用する放射線画像撮影装置では、欠陥画素補正を行ない、欠陥画素補正済の放射線画像を診断画像等として画像表示やプリントとして再生するのが、通常である。この欠陥画素補正は、一例として、所定のタイミングでFPDの欠陥画素の位置を検出しておき、放射線画像を撮影/出力する際に、欠陥画素の検出結果に応じて、周辺の画素(その画像データ)を利用して欠陥画素を補正することで行なわれる。
また、特許文献2には、第1の画像データを用いてFPDの欠陥画素を検出しておき、放射線画像を撮影した第2の画像データに対して、第1の画像データから検出した欠陥画素情報に応じて欠陥画素を補正した第3の画像データを生成し、第2の画像データおよび第3の画像データを、両画像データの同時表示、切り換え表示、合成表示等を行なう放射線画像処理装置が記載されている。
このような過補正は、逆に、誤診の原因となってしまう可能性もあり、改善が望まれている。
また、欠陥画素の連続数に対応する仕様限界が、2つ設定されており、前記第2検出閾値によって検出された欠陥画素には高い仕様限界が、前記第3検出閾値によって検出された欠陥画素には低い仕様限界が、それぞれ選択されるのが好ましく、この際において、前記第3検出閾値によって検出された欠陥画素に対応する仕様限界が、前記放射線画像検出器に対して標準で設定された仕様限界であるのが好ましく、また、前記第3選択閾値が、前記第3検出閾値によって検出された欠陥画素の仕様限界に対応するであるのが好ましく、さらに、欠陥画素の連続数が仕様限界を超えた場合に、警告を出力するのが好ましい。
さらに、本発明の欠陥画素検出方法においては、さらに、前記補正不要な欠陥画素である旨の情報を付された欠陥画素以外の欠陥画素を補正するのが好ましい。
長尺な欠陥は、ノイズ等に起因する可能性は低く、すなわち、誤検出では無い適正な欠陥画素の検出である可能性が高い。また、このような欠陥は、低濃度である場合が多い。これに対し、当方的(x−y方向の画素数が同等)な欠陥は、ノイズである場合も有り、誤検出である可能性を否定できない。従って、上記構成を有する本発明によれば、長尺に連続する欠陥画素を確実に検出できると共に、ノイズ等を欠陥画素として誤検出することを、好適に抑制することができる。
長尺な絵柄は、人造物に起因する可能性が高く、乳ガン等の石灰部と誤診する可能性は極めて低い。また、非常に大きな欠陥を補正してしまうと、この領域の情報が全て失われれてしまうため、万が一、其処に石灰化などの有用な情報が存在した場合に、逆に、補正が誤診に繋がる可能性も有る。
従って、長尺に連続する大きな欠陥画素の補正を行なわない本発明によれば、目視でFPDの異常を確認できるため、欠陥画素を補正しない事に起因する誤診を避けつつ、かつ、大きな領域の過補正による誤診も好適に抑制できる。
図1に示すように、乳ガン検査装置10は、基本的に、撮影台12と、放射線照射部14と、圧迫手段16と、アーム18と、基台20と、X線照射用の高圧電源22と、画像処理部30(図3参照)とを有して構成される。図示例の乳ガン検査装置10は、後に詳述する本発明の特徴であるFPD56の欠陥画素検出および欠陥画素補正を行なう以外には、基本的に、通常の乳ガン検査装置(マンモグラフィ(乳房の放射線画像撮影装置))と同様のものである。なお、図1等において、図中の符号Mは乳房を、同Hは被写体(その胸壁)を、それぞれ概念的に示している。
このアーム18は、軸24によって基台20に支持されている。基台20の内部には、軸24の回転手段および昇降手段が内蔵されている。アーム18すなわち撮影台12および放射線照射部14は、昇降手段による軸24の昇降によって昇降され、また、回転手段による軸24の回転によって回転(図1紙面と垂直方向に回転)されて、角度を調整されてMLO撮影等に対応する。
図示例において、操作手段26aおよび操作手段26bは、共に、アーム18の回転および昇降を行なうためのスイッチや、光照射野の点灯スイッチ等が設けられている。また、操作手段28は、ケーブル28aで基台20に接続されたフットペダル型の操作手段で、後述する圧迫板38の昇降を行なうスイッチやアーム18の昇降を行なうスイッチ等が設けられている。
図示例の乳ガン検査装置10において、圧迫板48および昇降手段50は、基本的に、公知の乳ガン検査装置に設けられる、公知の圧迫板と、その昇降手段である。
また、図示は省略するが、撮影台12内には、撮影条件を決定するために、放射線画像の撮影に先立って行なうプレ照射において、乳房Mを透過した放射線を測定するためのAEC(Automatic Exposure Control)センサや、散乱除去グリッド54の移動手段等、公知の乳ガン検査装置が有する各種の部材が、適宜、配置される。
従って、本発明において、FPD56は各種のものが全て利用可能である。すなわち、アモルファスセレン等の光導電膜を有し、放射線の入射によって光導電膜が発した電荷(電子−正孔対(e−hペア))を収集して電化信号として読み出す、いわゆる直接方式のFPDでも、「CsI:Tl」などの放射線の入射によって発光(蛍光)する蛍光体で形成されたシンチレータ層とフォトダイオードとを用い、放射線の入射によるシンチレータ層の発光をフォトダイオードで光電変換して、電気信号として読み出す、いわゆる間接方式のFPDでもよい。
画像処理部30は、FPD56が出力した出力信号を処理して、モニタ32による表示や、プリンタ34でのプリント出力、さらには、ネットワークや記録媒体を用いた出力に対応する画像(画像データ(画像信号))とするものである。図示例の撮影装置10において、画像処理部30は、図3に概念的に示すように、データ処理手段60、欠陥検出手段62、欠陥補正手段64、および画像処理手段68を有する。
また、画像処理部30(画像処理部30を構成するコンピュータ等)は、乳ガン検査装置10の全体の制御や管理を行なうものであり、乳ガン検査装置10の動作を制御し、また、管理する、制御手段70を有している。
欠陥補正手段64は、欠陥検出手段62による欠陥画素の検出結果に応じて、データ処理手段60が処理した放射線画像に、FPD56の欠陥画素補正を行なうものである。
欠陥検出手段62および欠陥補正手段64については、後に詳述する。
以下、図4に示すフローチャートを参照して、欠陥検出手段62および欠陥補正手段64の作用を説明することにより、本発明について、より詳細に説明する。
欠陥検出手段62は、検出用画像を用いてFPD30の画素欠陥を検出し、FPD30上における画素欠陥の位置(欠陥を有する画素の位置)を示す欠陥画素マップを作成するものである。
具体的には、暗画像(FPD56の暗電流を読み取った画像)、被検者Hがいない状態で所定量の放射線をFPD56の全面に一様照射して得られた放射線画像(いわゆるベタ画像)、ベタ画像から暗画像を減算した放射線画像等が例示される。また、このようなベタ画像などを元画像として、元画像をローパスフィルタや平均化等で平滑化処理し、元画像から平均化した画像を減算して得られた放射線画像も、検出用画像として好適に利用可能である。
第1検出閾値を用いた仮の欠陥画素の検出方法は、特許文献1や特許文献2に記載される方法等、公知のFPD56の欠陥画素検出方法と同様に行なえばよい。例えば、第1検出閾値(濃度値(濃度データ))と、検出用画像の各画素の濃度(絶対値)とを比較し、濃度の絶対値が第1検出閾値を超える画素を、仮の欠陥画素として検出する方法が例示される。あるいは、検出用画像の基準値(中央値や平均値など)を定め、基準値との差が、検出用画像において、第1検出閾値を超える画素を、仮の欠陥画素として検出する方法も利用可能である。
あるいは、濃度に変えて、FPD56の出力信号強度や輝度を用いて、検出用画像から仮の欠陥画素を検出してもよい。
以上の点に関しては、後述する第2検出閾値、および、第3検出閾値に関しても、同様である。但し、第1検出閾値は、全ての欠陥画素を漏れることなく検出できるように、低めの閾値を設定するのが好ましい。
欠陥検出手段62は、このようにして仮の検出画素を検出したら、x方向および/またはy方向に連続する仮の欠陥画素を検出して、x方向に連続する画素数(長さ)Δxと、y方向に連続する画素数Δyとを検出する。言い換えれば、x方向および/またはy方向に連続する仮の欠陥画素を1個の欠陥と見なし、x方向の画素数Δxと、y方向の画素数Δyとを検出する(以下、x方向および/またはy方向に連続する(仮の)欠陥画素を、まとめて「欠陥」とも言う)。
例えば、図5に示されるような欠陥であれば、x方向の画素数Δxは4、y方向の画素の長さΔyは6となる。
すなわち、本例においては、一例として、第1選択閾値として0.8を、第1選択閾値よりも大きな第2選択閾値として1.5を、それぞれ用いて、x方向(横方向)に長い欠陥と、y方向(縦方向)に長い欠陥とを、長尺欠陥として検出し、長尺欠陥と、それ以外の通常の欠陥とに分類する。
図5に示す欠陥であれば、Δx/Δy=4/6=0.67であるので、この欠陥は、長尺欠陥として検出される。
言い換えれば、乳ガン検査装置10では、第1検出閾値以上の第2検出閾値と、第1検出閾値よりも大きい第3検出閾値とが設定されており、長尺欠陥に対しては第2検出閾値を、それ以外の欠陥画素に対しては第3検出閾値を選択して、第1検出閾値で検出した欠陥画素から欠陥画素を再検出する。
また、仮の欠陥画素の検出と、欠陥画素の再検出とで、異なる方法を用いてもよい。
FPD56の欠陥画素検出において、長尺な欠陥すなわち画素配列方向すなわちx方向もしくはy方向に連続する欠陥画素は、ノイズ等に起因するものでは無く、適正に検出された欠陥画素である可能性が極めて高い。しかも、長尺な欠陥は、低濃度で、かつ、グラデーションのように濃度が変化する場合が多い。他方、x−y方向のサイズが同じ位の欠陥(当方的な欠陥)は、ノイズである可能性も有り、誤検出の可能性を否定できない。
好ましくは、第3検出閾値を、第2検出閾値よりも大きくすることにより、より、ノイズ等の誤検出を好適に抑制することができる。
なお、第2検出閾値と第1検出閾値とを同じ閾値にする場合には、長尺欠陥に対する欠陥画素の再検出は行なわず、第1検出閾値を用いた最初の欠陥検出で検出された長尺欠陥(仮の欠陥画素)を、欠陥画素として確定してもよい。
なお、この時点で、第3検出閾値で検出された欠陥画素が、x方向および/またはy方向に、予め設定されたFPD56の仕様限界を超える画素数、連続していた場合には、音声出力やモニタ32での表示によって、その旨を警告する。
しかしながら、本発明の乳ガン検査装置10では、第2検出閾値で検出された欠陥画素については、x方向およびy方向に連続する画素数を検出し、x方向およびy方向の多い方の欠陥画素の連続数(欠陥サイズC)が、予め設定された第3選択閾値以上(3rd選択Th)である場合には、この欠陥画素は欠陥画素補正を行なわない欠陥画素である旨の情報を、欠陥画素マップに付す。
すなわち、第2検出閾値で検出された欠陥が、「欠陥サイズC≧3rd選択Th」である場合には、欠陥画素補正を行なわない欠陥とする。
なお、第2検出閾値で検出した欠陥画素に対する、第3選択閾値を用いた選択処理は、欠陥画素マップの作成の前に行なってもよく、あるいは、欠陥画素マップの作成と並行して行なってもよい。
一方、FPD56の欠陥画素補正は、隣接する画素を用いた穴埋め等を行なうのが通常であり、すなわち、欠陥画素に撮影された画像(情報)は、放射線画像から除去される。従って、大きな欠陥画素を補正すると、逆に、画像が不自然となってしまい、これが誤診の原因となる可能性も有り、また、この大きな欠陥画素領域に石灰化等の情報が有る場合には、これらの情報を読影することができず、この点でも、誤診の原因となってしまう可能性が有る。
さらに、第3選択閾値は、経時、撮影枚数、乳ガン検査装置10の設置環境などに応じて、適宜、最設定(更新)してもよい。
言い換えれば、乳ガン検査装置10には、FPD56における欠陥画素の連続数の仕様限界として、FPD56の性能や特性等に対応して設定された小さい仕様限界(いわばFPD56に対応する標準(デフォルト)の仕様限界)と、長尺な欠陥画素に対応する大きい仕様限界とが設定されており、第3選択閾値に対応する長尺な欠陥画素は、大きな仕様限界を選択し、それ以外の欠陥画素に対しては、小さい仕様限界を選択する。
従って、上記構成を有することにより、長尺な欠陥画素に関しては、補正を行なうと診断に支障を来すような長尺な欠陥画素が発生するまで仕様限界を大きくすることができ、これにより、FPD56の寿命やメンテナンス頻度を低減することができる。
欠陥補正手段64は、欠陥画素マップを参照して、FPD56が撮影し、データ処理部60が処理した乳房Mの放射線画像に、欠陥画素補正を行ない、画像処理手段68に供給する。ここで、欠陥補正手段64は、欠陥画素マップに載っている欠陥画素は、基本的に、全て、欠陥画素補正を行なうが、第3選択閾値を超え、欠陥画素マップに補正不要の情報が付された欠陥画素については、欠陥画素補正を行なわない。すなわち、この欠陥画素は、そのまま、可視像に再生される。
乳房Mの大きさに応じた圧迫板48が装着され、技師による指示が出されると、昇降手段50が圧迫板48を降下して、被験者の右乳房を圧迫する。圧迫板48による右乳房の圧迫が所定の状態となった時点で、放射線照射部14の線源から放射線が照射されて、プレ照射を行い、撮影条件が設定される。次いで、この撮影条件に応じて、乳房Mの放射線画像の撮影が行なわれ、FPD56に乳房Mの放射線画像が撮影される。
前述のように、欠陥検出部62は、所定のタイミングで検出用画像を取得して、FPD56の欠陥画素の位置を示す欠陥画素マップを作成(更新)して、欠陥補正部64に供給している。欠陥補正部64は、この欠陥画素マップを参照して、欠陥画素マップに記された欠陥画素の補正を行なう。ここで、欠陥画素マップには、第3選択閾値以上、画素が連続する欠陥画素は、補正不要である旨の情報が付されているので、欠陥補正部64は、この補正不要である情報を付された欠陥画素には、欠陥画素補正を行なわない。
放射線画像を受け取ったモニタ32やプリンタ34は、放射線画像を可視像として再生/出力する。ここで、この乳房Mの放射線画像では、第3選択閾値を超え、欠陥画素マップに補正不要の情報が付された欠陥画素については、欠陥画素補正が行なわれていない。従って、再生された可視像には、この欠陥画素は、そのまま再生される。
また、以上の例は、本発明を好適な例として乳ガン検査装置に利用した例であるが、本発明は、これに限定はされず、胸部を撮影するX線検査装置等、公知のX線画像の撮影装置に、全て、利用可能である。
12 撮影台
14 放射線照射部
16 圧迫手段
18 アーム
20 基台
22 高圧電源
24 軸
26,28 操作手段
30 画像処理部
32 モニタ
34 プリンタ
48 圧迫板
50 昇降手段
54 散乱除去グリッド
56 FPD
60 データ処理手段
62 欠陥検出手段
64 欠陥補正手段
68 画像処理手段
70 制御手段
Claims (13)
- x−y方向に二次元的に画素が配列された放射線画像検出器の欠陥画素を検出するに際し、
前記放射線画像検出器の欠陥画素を検出するための検出用画像を取得する工程と、
前記検出用画像を用いて、第1検出閾値によって仮の欠陥画素を検出する工程と、
前記x方向およびy方向の少なくとも一方に連続する前記仮の欠陥画素に対して、x方向に連続する画素数Δxと、y方向に連続する画素数Δyとの比である「Δx/Δy」を算出し、この「Δx/Δy」が、第1選択閾値以下もしくは第2選択閾値以上である長尺欠陥を検出する工程と、
前記長尺欠陥に対しては、前記第1検出閾値以上の第2検出閾値によって、前記長尺欠陥以外の仮の欠陥画素に対しては、前記第1検出閾値よりも大きい第3検出閾値によって、前記検出用画像を用いて放射線画像検出器の欠陥画素を再検出する工程と、
前記放射線画像検出器上における前記欠陥画素の位置を示す情報を生成する工程と
前記第2検出閾値によって検出された欠陥画素に対して、x方向およびy方向に連続する画素数を検出し、x方向およびy方向の多い方の連続画素数が第3選択閾値以上である欠陥画素に対して、前記欠陥画素の位置を示す情報に、補正不要な欠陥画素である旨の情報を付す工程と、を行なうことを特徴とする欠陥画素検出方法。 - 前記第1選択閾値が0.8で、前記第2選択閾値が1.5である請求項1に記載の欠陥画素検出方法。
- 欠陥画素の連続数に対応する仕様限界が、2つ設定されており、前記第2検出閾値によって検出された欠陥画素には高い仕様限界が、前記第3検出閾値によって検出された欠陥画素には低い仕様限界が、それぞれ選択される請求項1または2に記載の欠陥画素検出方法。
- 前記第3検出閾値によって検出された欠陥画素に対応する仕様限界が、前記放射線画像検出器に対して標準で設定された仕様限界である請求項3に記載の欠陥画素検出方法。
- 前記第3選択閾値が、前記第2検出閾値によって検出された欠陥画素の仕様限界に対応する請求項3または4に記載の欠陥画素検出方法。
- 欠陥画素の連続数が仕様限界を超えた場合に、警告を出力する請求項3〜5の何れかに記載の欠陥画素検出方法。
- さらに、前記補正不要な欠陥画素である旨の情報を付された欠陥画素以外の欠陥画素を補正する請求項1〜6のいずれかに記載の欠陥画素検出方法。
- 放射線源と、
x−y方向に二次元的に画素が配列された放射線画像検出器と、
前記放射線画像検出器の欠陥画素を検出するための検出用画像を取得し、この検出用画像を用いて、第1検出閾値によって仮の欠陥画素を検出し、前記x方向およびy方向の少なくとも一方に連続する前記仮の欠陥画素に対して、x方向に連続する画素数Δxと、y方向に連続する画素数Δyとの比である「Δx/Δy」を算出して、この「Δx/Δy」が、第1選択閾値以下もしくは第2選択閾値以上である長尺欠陥を検出し、前記長尺欠陥に対しては、前記第1検出閾値以上の第2検出閾値によって、前記長尺欠陥以外の仮の欠陥画素に対しては、前記第1検出閾値よりも大きい第3検出閾値によって、前記検出用画像を用いて放射線画像検出器の欠陥画素を再検出し、前記放射線画像検出器上における前記欠陥画素の位置を示す欠陥位置情報を生成し、さらに、前記第2検出閾値によって検出された欠陥画素に対して、x方向およびy方向に連続する画素数を検出し、x方向およびy方向の多い方の連続画素数が第3選択閾値以上である欠陥画素に対して、前記欠陥位置情報に、補正不要な欠陥画素である旨の情報を付す、欠陥画素検出手段と、
前記欠陥画素検出手段が作成した欠陥位置情報に応じて、前記放射線画像検出器で撮影した放射線画像に対して、補正不要な欠陥画素である旨の情報を付された以外の欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段とを有することを特徴とする放射線画像撮影装置。 - 前記第1選択閾値が0.8で、前記第2選択閾値が1.5である請求項8に記載の放射線画像撮影装置。
- 欠陥画素の連続数に対応する仕様限界が2つ設定されており、前記第2検出閾値によって検出された欠陥画素には高い仕様限界が、前記第3検出閾値によって検出された欠陥画素には低い仕様限界が、それぞれ選択される請求項8または9に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第3検出閾値で検出された欠陥画素に対応する仕様限界が、前記放射線画像検出器に対して標準で設定された仕様限界である請求項10に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第3選択閾値が、前記第2検出閾値によって検出された欠陥画素の仕様限界に対応する請求項10または11に記載の放射線画像撮影装置。
- 欠陥画素の連続数が仕様限界を超えた場合に、警告を出力する請求項10〜12の何れかに記載の放射線画像撮影装置。
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