JP2010249621A - 2次元画像検出装置 - Google Patents
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 63
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 25
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 48
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 8
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 9
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 6
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Studio Devices (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
【解決手段】2次元画像検出装置2の良否を判定する基準である判定欠陥画素数および判定欠陥サイズの値について、頻繁に診断に使用される画像中央部より使用頻度の少ない画像周辺部で大きな値とすることにより、歩留まりを良好に維持すると同時にアーチファクトの生起がない2次元画像検出装置2の供給が可能である。
【選択図】 図1
Description
2 2次元画像検出装置
3 FPD
4 欠陥画素補間処理部
5 良否判定部
6 画像処理部
7 X線管制御部
8 FPD制御部
30 TFTガラス
31 画素電極
32A 蓄積容量
32a 電気配線
32B TFTスイッチ
32b 電気配線
35 ゲートドライバ
36 増幅器
37 マルチプレクサ
38 A/D変換器
41 欠陥画素抽出部
42 欠陥情報記憶部
43 補正部
51 中央部良否判定部
52 周辺部良否判定部
53 総合判定部
M 被検者
Claims (2)
- フラットパネル型X線検出部と、前記フラットパネル型X線検出部の欠陥画素を抽出し補間する欠陥画素補間処理部を備えた2次元画像検出装置において、前記抽出された欠陥画素数と判定欠陥画素数を比較し、あるいは/および前記抽出された欠陥画素の集合体の大きさと判定欠陥サイズを比較し前記フラットパネル型X線検出部の良否を判定する良否判定手段を備えることを特徴とする2次元画像検出装置。
- 前記判定欠陥画素数および判定欠陥サイズが画像中央部と画像周辺部で異なる値であることを特徴とする請求項1記載の2次元画像検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009098545A JP2010249621A (ja) | 2009-04-15 | 2009-04-15 | 2次元画像検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009098545A JP2010249621A (ja) | 2009-04-15 | 2009-04-15 | 2次元画像検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010249621A true JP2010249621A (ja) | 2010-11-04 |
Family
ID=43312128
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009098545A Pending JP2010249621A (ja) | 2009-04-15 | 2009-04-15 | 2次元画像検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010249621A (ja) |
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