JP2002101343A

JP2002101343A - Ｘ線平面検出器及びｘ線診断システム

Info

Publication number: JP2002101343A
Application number: JP2000289308A
Authority: JP
Inventors: Takuya Sakaguchi; 卓弥坂口; Akihito Takahashi; 章仁高橋; Seiichiro Nagai; 清一郎永井
Original assignee: Toshiba Corp; Toshiba Medical Systems Corp
Current assignee: Toshiba Corp; Canon Medical Systems Corp
Priority date: 2000-09-22
Filing date: 2000-09-22
Publication date: 2002-04-05

Abstract

(57)【要約】【課題】正常なダーク画素のみを用いて横引き補正を
行うＸ線検出器、及びＸ線診断システムを提供するこ
と。【解決手段】Ｘ線を検出する画素を二次元マトリック
ス状に配列したＸ線平面検出器と、横引き補正処理を行
う演算器を有するＸ線診断システムである。Ｘ線平面検
出器の画素は、列単位でダーク画素群と正常画素群とか
らなる。演算器は、ダーク画素群を、欠陥ダーク画素と
正常ダーク画素とに判別し、正常ダーク画素からの出力
信号のみに基づいて横引きノイズを演算する。そして、
演算器は、該横引きノイズを各通常画素からの出力信号
から減算することで横引き補正を行うことを特徴とする
Ｘ線診断システム。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線平面検出器及
び該Ｘ線平面検出器を備えたＸ線診断システムに関す
る。

【０００２】

【従来の技術】Ｘ線診断システムとは、被験者の体内を
透過したＸ線の強弱を濃淡画像として表示する画像装置
である。近年、このＸ線診断システムに利用されるＸ線
検出器として、従来から利用されてきたＩ．Ｉ．（イメ
ージインテンシファイア）及びイメージングプレートに
置き換わるものとして、Ｘ線平面検出器が製品化されつ
つある。

【０００３】このＸ線平面検出器によるＸ線情報の検
出、読み出しの構成は次のようである。まず、入射した
Ｘ線を画素電極によって電荷量に変換し、前記電荷量を
画素毎にコンデンサにて蓄積する。そして、コンデンサ
毎に接続された半導体スイッチを随時同一行毎にＯＮ／
ＯＦＦして、該コンデンサより電気情報として読み出
す。読み出された電気情報は、同一列の画素毎に設けら
れた増幅系により増幅して後続の処理系統へと出力され
る。

【０００４】一般に、このＸ線平面検出器によるＸ線デ
ータの検出おいて、横引きノイズと称されるノイズ成分
が検出データに重畳し、被検体に関する純粋なデータを
乱してしまうことがある。この横引きノイズは、Ｘ線平
面検出器の構造に起因して潜在する信号成分であり、各
検出器が有する特性等にも依存する。

【０００５】近年、この横引きノイズを画像処理によっ
て除去する方法が提案されている。この画像処理は、マ
トリクス状に配列された画素の一部をシールドで覆うこ
よにより、Ｘ線を検出しないようにした複数の画素（以
下、何らかの方法によってＸ線を検出しないようにした
画素を「ダーク画素」と称する。）を利用する。そし
て、該ダーク画素群によって検出された電気信号を装置
に潜在するノイズとみなし、横引きノイズに関する補正
を行うものである。この様な補正方法は、例えば特開平
０９−１９７０５３、特開平１１−２１５２１４等に開
示されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、該画像補正
に使用されるダーク画素群には、幾つかの欠陥ダーク画
素が存在する。これらの欠陥ダーク画素は、歩留まりの
観点からある程度許容されるのが一般的である。

【０００７】しかしながら、ダーク画素を使用した従来
の横引き補正は、ダーク画素の欠陥までを考慮したもの
ではなかった。すなわち、ダーク画素群に欠陥ダーク画
素が存在する場合であっても、従来の画像処理によれ
ば、該欠陥ダーク画素を含むダーク画素群からの電気信
号に基づいて横引き補正が実行される。従って、欠陥ダ
ーク画素からの出力をも含んで補正を実行した場合に
は、該補正が不適切な画像処理となることがあった。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記事情に鑑
みてなされたもので、欠陥を有するダーク画素による出
力の影響を排除して横引き補正を行うＸ線検出器、及び
Ｘ線診断システムを提供することを目的としている。

【０００９】本発明の第１の視点は、入射したＸ線を検
出し第１の電気情報を発生する複数の第１の電気情報発
生手段と、Ｘ線検出防止手段を備え第２の電気情報を発
生する複数の第２の電気情報発生手段と、からなるＸ線
検出手段と、読み出された前記各第２の電気情報が第１
の電気情報の補正に有効か否かを判別する判別手段と、
前記判別手段によって有効と判別された前記第２の電気
情報に基づいて、前記第１の電気情報を補正する補正手
段とを具備することを特徴とするＸ線平面検出器であ
る。

【００１０】本発明の第２の視点は、電気情報発生手段
を二次元マトリックス状に配列したＸ線検出手段であっ
て、入射したＸ線を検出し第１の電気情報を発生する複
数の第１の電気情報発生手段とＸ線検出防止手段を備え
第２の電気情報を発生する複数の第２の電気情報発生手
段とが列単位で混在するＸ線検出手段と、前記第各１の
電気情報発生手段から各第１の電気情報を、前記各第２
の電気情報発生手段から前記各第２の電気情報をそれぞ
れ列単位で読み出す読み出し手段と、前記複数の第２の
電気情報発生手段のうち、欠陥を有する電気情報発生手
段が存在する列を特定するための欠陥画素列情報を記憶
する記憶手段と、前記欠陥画素列情報に基づいて前記欠
陥を有する電気情報発生手段が存在しない列からの前記
第２の電気情報を選択する選択手段と、前記選択手段に
よって選択された列単位の前記第２の電気情報に基づい
て、前記第１の電気情報を補正する補正手段とを具備す
ることを特徴とするＸ線平面検出器である。

【００１１】本発明の第３の視点は、入射したＸ線を検
出し第１の電気情報を発生する複数の第１の電気情報発
生手段と、Ｘ線検出防止手段を備え第２の電気情報を発
生する複数の第２の電気情報発生手段と、を有するＸ線
平面検出器と、読み出された前記各第２の電気情報が第
１の電気情報の補正に有効か否かを判別する判別手段
と、前記判別手段によって有効と判別された前記第２の
電気情報に基づいて、前記第１の電気情報を補正する補
正手段とを具備することを特徴とするＸ線診断システム
である。

【００１２】本発明の第４の視点は、電気情報発生手段
を二次元マトリックス状に配列したＸ線検出手段であっ
て、入射したＸ線を検出し第１の電気情報を発生する複
数の第１の電気情報発生手段とＸ線検出防止手段を備え
第２の電気情報を発生する複数の第２の電気情報発生手
段とが列単位で混在するＸ線平面検出器と、前記第各１
の電気情報発生手段から各第１の電気情報を、前記各第
２の電気情報発生手段から前記各第２の電気情報をそれ
ぞれ列単位で読み出す読み出し手段と、前記複数の第２
の電気情報発生手段のうち、欠陥を有する電気情報発生
手段が存在する列を特定するための欠陥画素列情報を記
憶する記憶手段と、前記欠陥画素列情報に基づいて前記
欠陥を有する電気情報発生手段が存在しない列からの前
記第２の電気情報を選択する選択手段と、前記選択手段
によって選択された列単位の前記第２の電気情報に基づ
いて、前記第１の電気情報を補正する補正手段とを具備
することを特徴とするＸ線診断システムである。

【００１３】このような構成によれば、上記事情に鑑み
てなされたもので、欠陥を有するダーク画素による出力
の影響を排除して横引き補正を行うＸ線検出器、及びＸ
線診断システムを実現することができる。

【００１４】本発明に係る実施の形態には種々の段階の
発明が含まれており、開示される複数の構成用件におけ
る適宜な組み合わせにより種々の発明が摘出され得る。
例えば、実施の形態に示される全構成要素から幾つかの
構成要件が省略されることで発明が抽出された場合、そ
の抽出された発明を実施する場合には省略部分が周知慣
用技術で適宜補われるものである。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の第１実施形態〜第
３実施形態を図面に従って説明する。なお、以下の説明
において、略同一の機能及び構成を有する構成要素につ
いては、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ
行う。

【００１６】（第１実施形態）まず、本発明に係るＸ線
診断システムの特徴的な構成要素を、図１を参照しなが
ら説明する。

【００１７】図１は、本発明に係るＸ線診断システム１
０のＸ線平面検出器１２と、Ｘ線診断システムの本体に
内蔵されたＸ線データ処理装置１４とを示したブロック
構成図である。以下、Ｘ線平面検出器１２、Ｘ線データ
処理装置１４の順にその構成を説明する。

【００１８】Ｘ線平面検出器１２は、入射したＸ線を検
出するＸ線検出部１６、ゲート走査線駆動部１８、積分
アンプ２０、マルチプレクサ２２、Ａ／Ｄコンバータ２
４を有している。

【００１９】Ｘ線検出部１６は、マトリックス状に配列
され入射したＸ線を電荷情報に変換する複数の画素電極
（図１参照。以下、画素電極を単に「画素」と称す
る。）と、画素電極毎に設けられ各画素からの電荷を蓄
積する複数のコンデンサと、ゲート走査駆動部１８から
の制御信号に基づいて各コンデンサに蓄積された電荷を
電気信号として読み出すスイッチング素子（例えば、薄
膜トランジスタ等）と、を有している。

【００２０】マトリックス状に配列された複数の画素の
一部の列は、Ｘ線を検出しないようにその表面（Ｘ線入
射側）がシールドで覆われたダーク画素１７となってい
る（以下、何らかの方法によりＸ線を検出しないように
した画素を「ダーク画素」と称する。一方、入射したＸ
線を検出可能な画素１５を「通常画素」と称する）。こ
のダーク画素が発生する電気信号は、後述する補法によ
り横引きノイズ補正に使用される。

【００２１】図１は、ダーク画素１７がマトリックス配
列の左側複数列にわたって形成されたＸ線検出部１６の
上面図が示されている。該Ｘ線検出部１６は、左から複
数列がダーク画素のみを配列したダーク画素群であり、
残りの画素は通常画素による通常画素群として構成され
ている。なお、ダーク画素１７群の形成位置は、列単位
であれば何れの場所でもかまわないが、診断画像領域を
できるだけ広く確保する観点から、マトリックス配列の
右端又は左端或いは両端に沿った複数列を選択するのが
好ましい。

【００２２】なお、理論的には１列でも横引きノイズ補
正は可能であるが、本実施形態では、後述するように複
数列のダーク画素列にて横引きノイズ補正を行ってい
る。これは次の理由による。現実の撮影においては、Ｘ
線照射時の出力信号に対し、アンプや信号線に飛来する
ノイズの影響を受けるため、１の列で出力される横引き
ノイズにはノイズが含まれる。このノイズは、同一行の
複数列のダーク画素を加算平均すれば、低減させること
が可能となるからである。

【００２３】ゲート走査線駆動部１８は、ゲート走査線
１８０を介してＸ線検出部１６の各スイッチング素子の
ゲート端子に電気的に接続されている。ゲート走査線駆
動部１８は、各スイッチング素子のゲート端子に制御信
号を供給することで、ゲート走査線１８０毎（すなわ
ち、行単位毎）のスイッチング素子群のＯＮ／ＯＦＦ制
御を行う。

【００２４】積分アンプ２０は、Ｘ線検出部１６から信
号線１８１を介して所定のタイミングによって列単位で
読み出された同一列の画素毎の電気信号を増幅する。

【００２５】マルチプレクサ２２は、積分アンプ２０に
よって増幅された信号を順次選択し、後続のＡ／Ｄコン
バータ２４に送り出す。

【００２６】Ａ／Ｄコンバータ２４は、マルチプレクサ
２２から入力したアナログ信号をディジタル信号へと変
換する。

【００２７】次に、Ｘ線データ処理装置１４について説
明する。

【００２８】Ｘ線データ処理装置１４は、演算器１４
０、メモリ１４１、表示部１４２を有している。

【００２９】表示部１４２は、演算器１４０から入力し
た信号を透視画像としてＴＶモニタに表示する。

【００３０】メモリ１４１は、ダーク画素１７群のうち
の欠陥ダーク画素の情報を記憶する記憶手段である。該
メモリ１４１に記憶された欠陥ダーク画素情報に基づい
て、演算器１４０では後述する画像処理が実行される。

【００３１】また、メモリ１４１は、事前に収集され
た、暗時画像情報格納部１４１ａ、アンプゲイン情報格
納部１４１ｂ、ピクセルゲイン情報格納部１４１ｃを有
している。

【００３２】暗時画像データ格納部１４１ａは、事前
（例えば、検査直前等）に暗時画像に関する情報を格納
する格納部である。該暗時画像情報格納部１４１ａに格
納された暗時画像情報は適宜読み出され、演算器１４０
にて実行される差分処理により、通常画素１５及びダー
ク画素１７から出力された各Ｘ線情報から減算される。

【００３３】なお、暗時画像とは、Ｘ線曝射を伴わない
でＸ線検出部１６が検出する画像である。すなわち、Ｘ
線検出部１６において各画素が有する暗電流や各積分ア
ンプ２０が有するオフセット、Ｘ線発生系（図示せず）
からの暗流Ｘ線等を原因として、Ｘ線が曝射されていな
い状態で検出される電気信号のバックグラウンドに基づ
く画像である。当然ながら、この暗時画像は、被検体に
関するＸ線診断画像収集においては不要なものである。

【００３４】アンプゲイン情報格納部１４１ｂは、積分
アンプ２０の増幅率のばらつきを補正するため、画素毎
のピクセルゲイン値を格納する格納部である。すなわ
ち、積分アンプ２０は、増幅率のばらつきを持ってお
り、前述されたオフセット成分を差し引いたのみでは入
射されたＸ線による純粋な信号成分を取り出すことがで
きない。従って、これらのゲイン値にて画素毎に補正を
かける必要がある。該アンプゲイン格納部１４１ｂに格
納された画素毎のアンプゲインは適宜読み出され、演算
器１４０にて実行される補正処理により、通常画素１５
及びダーク画素１７から出力された各Ｘ線情報に除算さ
れる。

【００３５】ピクセルゲイン情報格納部１４１ｃは、画
素毎の変換効率のばらつきを補正するため、画素毎のピ
クセルゲイン値を格納する格納部である。すなわち、各
通常画素１５及び各ダーク画素１７は、変換効率のばら
つきを持っており、前述されたオフセット成分を差し引
いたのみでは入射されたＸ線による純粋な信号成分を取
り出すことができない。従って、これらのゲイン値にて
画素毎に補正をかける必要がある。該ピクセルゲイン格
納部１４１ｃに格納された画素毎のピクセルゲインは適
宜読み出され、演算器１４０にて実行される補正処理に
より、通常画素１５及びダーク画素１７から出力された
各Ｘ線情報に除算される。

【００３６】演算器１４０は、Ｘ線検出部１６からの出
力信号を入力し、欠陥ダーク画素を考慮した横引き補正
処理を実行する。すなわち、欠陥ダーク画素を除いた正
常なダーク画素のみを横引き補正に使用することで、顕
著なノイズ除去を実現する。

【００３７】ここで、横引きノイズ及び該横引きノイズ
を除去するための横引き補正について説明する。

【００３８】ゲート走査線１８０と信号線１８１とは、
絶縁層を介して積層されている。この積層構造により、
ゲート走査線１８０と信号線１８１との間に形成される
部位は、キャパシタとしての作用を有することがある。

【００３９】一方、各ゲート走査線１８０には、オフセ
ット等に基づく電圧のゆらぎが生じている。このゆらぎ
による電圧の変動によって、キャパシタ部位に蓄積され
た電荷は移動し、信号となって信号線１８２へ伝わって
各画素からの電気信号に重畳されることになる。このキ
ャパシタ部位の電荷の移動に基づいて発生した電気信号
が、横引きノイズの正体である。なお、「横引き」と称
されるのは、該ノイズは画像上では横線状のノイズとし
て現れることに起因する。

【００４０】横引き補正とは、横引きノイズを画像処理
によって除去する方法であり、例えば全てのダーク画素
１７を利用した形態（すなわち、欠陥ダーク画素と正常
なダーク画素とを区別せず全てを使用する形態）によれ
ば、次の様である。

【００４１】すなわち、ダーク画素１７はＸ線を入射し
ない画素であるから、該ダーク画素１７から検出される
電気信号はＸ線に関係しないものである。従って、ダー
ク画素１７から検出される電気信号は、Ｘ線検出器１２
が潜在的に有する電気信号であると考えられ、上述した
横引きノイズを含んでいると思われる。

【００４２】一方、上述したように、通常画素１５群か
ら検出される各電気信号には、横引きノイズが重畳され
ている。従って、ダーク画素１７群から検出された各電
気信号に基づいて横引きノイズを演算し、各通常画素１
５からの電気信号から減算すれば、横引きノイズの影響
を受けないＸ線診断画像を取得することができる。

【００４３】この様に、複数のダーク画素１７の各出力
に基づいて演算された横引きノイズによって、各通常画
素１５からの出力を補正することを、本実施形態では
「横引き補正」と呼ぶ。

【００４４】ところで、ダーク画素１７群の中には、欠
陥を有する画素が存在することがある（以下、欠陥を有
するダーク画素を「欠陥ダーク画素」、欠陥を有さない
正常なダーク画素を「正常ダーク画素」と称する。ま
た、単に「ダーク画素」とした場合には、「欠陥ダーク
画素」と「正常ダーク画素」とを区別しない趣旨であ
る。）。この場合において、欠陥ダーク画素を正常ダー
ク画素と区別せず一律に横引き補正を実行すると、適切
な補正値を得ることができないことがある。さらには、
欠陥ダーク画素に基づいた補正値により補正を実行した
場合には、該補正が不適切な画像処理となることも考え
られる。

【００４５】本発明に係るＸ線診断システムが実行する
画像補正処理は、欠陥ダーク画素による影響を排除した
ダーク画素１７の群による電気信号に基づいて横引き補
正を実行することをその本質としている。以下、演算器
１４０が実行する該画像補正処理について図２を参照し
て詳説する。

【００４６】図２は、演算器１４０が実行する画像補正
処理の流れを示した概念図である。なお、図２〜図７に
おいては、以下の様に定義してある。

【００４７】ｉ：任意の走査線番号或いは二次元マトリックス配置の任意の画素の行番号ｊ：任意の信号線番号或いは二次元マトリックス配置の任意の画素の列番号ａ_ｉｊ：ｉ行ｊ列に存在する画素のピクセルゲインｂ_ｉｊ：ｉ行ｊ列に存在する画素のピクセルオフセットｃ_ｊ：ｊ列に存在する信号線に接続された積分アンプのアンプゲインｄ_ｊ：ｊ列に存在する信号線に接続された積分アンプのアンプオフセットｎ_ｊ（ｔ）：ｊ列に存在する横引きノイズ（なお、一般に横引きノイズは時々刻々と変化するから、時間の関数としてある。）ｘ_ｉｊ：ｉ行ｊ列に存在する画素のＸ線曝射に伴う出力ｐ：ダーク画素列の合計数ｑ：通常画素列の合計数（従って、ｐ＋ｑ＝信号線の総数）ｋ：任意のダーク画素の列番号（０≦ｋ≦p ）ｌ：任意の通常画素の列番号（０≦ｌ≦ｑ）上記定義に従えば、例えば、ｋ列上に存在する任意のダ
ーク画素の出力はｃ_ｋ（ｂ_ｉｋ＋ｎ_ｋ（ｔ））＋ｄ_ｋと
書くことができる。また、ｌ列上に存在する任意の通常
画素の出力はｃ_ｌ（ａ_ｉｌｘ_ｉｌ＋ｂ_ｉｌ＋ｎ
_ｌ（ｔ））＋ｄ_ｌとなる。

【００４８】図２に示した画像補正処理は、複数のダー
ク画素１７からの出力に対して処理を行う第１の処理系
と、通常画素１５群からの出力に対して処理を行う第２
の処理系と大きく二つに分けることができる。以下、第
１の処理系、第２の処理系の順に説明する。

【００４９】第１の処理系にて実行される補正処理の目
的は、正常ダーク画素１７によって検出された信号から
横引きノイズ成分を取り出すことである。

【００５０】まず、ｋ列上に存在するダーク画素１７群
によって検出された電気信号ｃ_ｋ（ｂ_ｉｋ＋ｎ
_ｋ（ｔ））＋ｄ_ｋがＸ線平面検出器１２から出力され、
演算器１４０内の欠陥画素判別部１４０ａに入力され
る。

【００５１】欠陥画素判別部１４０ａでは、その信号出
力値が正常であるか異常であるかの判別を閾値を用いて
行う。この欠陥画素判別部は、ソフトまたはハードで実
現されるものであり、欠陥を判別するアルゴリズムが含
まれている。なお、欠陥画素判別部は、図２におけるダ
ーク画素出力信号１２０ａと暗時差分１４０ｂの間に挿
入するのが好ましい。なぜなら、暗時差分を実施してし
まうと、欠陥が見つかりにくくなる（閾値判定が困難に
なる）からである。

【００５２】該欠陥画素判別部１４０ａにおいて異常で
ないと判別された信号（すなわち、欠陥を有さない正常
ダーク画素１７からの出力信号）は、暗時差分処理部１
４０ｂに出力される。一方、異常であると判別された信
号は補正処理に利用されず、破棄される。

【００５３】暗時差分処理部１４０ｂでは、電気信号ｃ
_ｋ（ｂ_ｉｋ＋ｎ_ｋ（ｔ））＋ｄ_ｋから暗時画像成分ｃ_ｋ
ｂ_ｉｋ＋ｄ_ｋを減算する補正が行われる。こうして暗時
差分が施されたデータｃ_ｋｎ_ｋ（ｔ）は、アンプゲイン
補正処理部１４０ｃへと出力される。

【００５４】アンプゲイン補正処理部１４０ｃでは、入
力した暗時差分後のデータｃ_ｋｎ_ｋ（ｔ）に対して、ア
ンプゲイン格納部１４１ｂから読み出したアンプゲイン
ｃ_ｋを除算する補正処理を行う。その結果、ｋ列に存在
する正常ダーク画素の横引きノイズ成分ｎ_ｋ（ｔ）を取
り出すことができる。

【００５５】加算平均部１４０ｄでは、上述した正常ダ
ーク画素１７の基づくノイズ成分ｎ _ｋ（ｔ）を計ｑ列分
加算平均し、各行に関する横引きノイズの平均値ａｖｅ
（ｎ _ｋ（ｔ））を演算する。こうして得られた横引きノ
イズの各平均値ａｖｅ（ｎ_ｋ（ｔ））は、第２の処理系
にて実行される各行毎の横引き補正において、各信号線
１８１によって読み出される通常画素１５の出力から減
算される。なお、当該加算平均１４０ｄは、アンプゲイ
ン補正後に挿入するのが望ましい。なぜなら、アンプゲ
インは列によって固有のものであり（積分アンプ２０が
信号線毎に設けられていることに注意）、先に加算平均
してしまうと各列固有のアンプゲイン補正ができなくな
るからである。

【００５６】次に、第２の処理系について説明する。第
２の処理系にて実行される補正処理の目的は、通常画素
によって検出された信号から横引きノイズ成分ａｖｅ
（ｎ_ｋ（ｔ））を取り除き、横引きノイズの影響を受け
ないＸ線情報を取り出すことである。

【００５７】まず、ｌ列通常画素１５群によって検出さ
れた電気信号ｃｌ（ａ_ｉｌｘ_ｉｌ＋ｂ_ｉｌ＋ｎ
_ｌ（ｔ））＋ｄ_ｌがＸ線検出部１６から出力され、演算
器１４０内の暗時差分処理部１４０ｅに出力される。暗
時差分処理部１４０ｅでは、電気信号ｃｌ（ａ_ｉｌｘ
_ｉｌ＋ｂ_ｉｌ＋ｎ_ｌ（ｔ））＋ｄ_ｌから暗時画像成分ｃ
_ｌｂ_ｉｌ＋ｄ_ｌを減算する補正が行われる。こうして暗
時差分が施されたデータｃ_ｌ（ａ _ｉｌｘ_ｉｌ＋ｎ
_ｌ（ｔ））は、アンプゲイン補正処理部１４０ｆへと出
力される。

【００５８】アンプゲイン補正処理部１４０ｆでは、入
力した暗時差分後のデータｃ_ｌ（ａ _ｉｌｘ_ｉｌ＋ｎ
_ｌ（ｔ））に対して、アンプゲイン格納部１４１ｅから
読み出したアンプゲインｃ_ｌを除算する補正処理を行
う。その結果、通常画素毎に含まれている横引きノイズ
成分ｎ_ｌ（ｔ）とＸ線曝射に伴って検出された信号成分
ａ_ｉ _ｌｘ_ｉｌとを取り出すことができる。

【００５９】横引きノイズ補正部１４０ｇでは、加算平
均部１４０ｄ演算されたｊ列に存在する横引きノイズの
平均値ａｖｅ（ｎ_ｋ（ｔ））をアンプゲイン補正後のＸ
線情報ａ_ｉｌｘ_ｉｌ＋ｎ_ｌ（ｔ）から減算する。その結
果、横引きノイズが取り除かれたＸ線情報ａ_ｉｌｘ_ｉｌ
を得ることができる。

【００６０】ここで重要な点は、欠陥ダーク画素に関す
る情報を排除して求められた横引きノイズの平均値ａｖ
ｅ（ｎ_ｋ（ｔ））によって横引き補正が実行されている
ことである。すなわち、従来における横引き補正はダー
ク画素の欠陥部分まで考慮した構成とはなっておらず、
従って例えばｋ列が欠陥ダーク画素を含む場合には、該
ｋ列のダーク画素群に基づいて演算された横引きノイズ
は、信頼性の低いものとなっていた。これに対し、本実
施形態において使用される横引きノイズは正常なダーク
画素のみによって演算された横引きノイズであるから、
高い信頼性にて横引き補正を行うことができる。その結
果、精度の高いＸ線診断画像を得ることができる。

【００６１】続いて、ピクセルゲイン補正手段１４０ｈ
は、横引きノイズが取り除かれたＸ線情報ａ_ｉｌｘ_ｉｌ
に対して、ピクセルゲイン格納部１４１ｃから読み出し
たピクセルゲインa_ｉｌを除算する補正処理を行う。そ
の結果、ｌ列上に存在する各通常画素によって検出され
たＸ線曝射に伴う信号成分ｘ_ｉｌを取り出すことができ
る。

【００６２】以下、各通常画素列ごとに同様の処理を施
すことにより、横引きノイズ等の影響を受けない適切な
被検体に関するＸ線情報を取り出すことができる。

【００６３】従って、この様な構成によれば、欠陥画素
判別部１４０ａによって検査毎に適切な欠陥ダーク画素
を把握することができる。さらに、検査毎に作成された
欠陥画素マップに基づいて横引きノイズを演算するか
ら、精度の高い横引き補正を実現することができる。

【００６４】（第２の実施形態）次に、第２の実施形態
について説明する。

【００６５】第１の実施形態では、欠陥画素判別手段に
おいて閾値処理を行うことで欠陥ダーク画素からの出力
を排除し、正常ダーク画素のみによって横引きノイズを
演算する構成であった。

【００６６】これに対し、第２の実施形態では、欠陥ダ
ーク画素を特定するためのマップを暗時画像情報に基づ
いて作成し、該マップを用いて欠陥ダーク画素を特定
し、該欠陥ダーク画素からの欠陥出力の影響を除去して
横引きノイズを演算する画像処理について説明する。横
引きノイズの演算方法としては、欠陥画素マップによっ
て特定された欠陥ダーク画素を全く無視する方法と、欠
陥画素マップによって特定された欠陥ダーク画素に関し
ては、補間処理によって求めた出力を当てることで常に
一定量のダーク画素数を確保する方法とがある。前者を
実施例２−１、後者を実施例２−２として以下順番に説
明する。

【００６７】（実施例２−１）図３は、実施例２−１に
係るＸ線診断システムにおいて、演算器１４０が実行す
る画像補正処理の流れを示す概念図である。

【００６８】図３に示した演算器１４０の特徴は、事前
に収集した暗時画像情報に基づいて欠陥画素マップを作
成する第３の処理系と、欠陥画素マップに基づいて正常
ダーク画素を特定し、該正常ダーク画素からの出力によ
って横引きノイズ演算を行う第４の処理系とを有する点
である。以下、第３の処理系、第４の処理系の順に説明
する。なお、通常画素１５群からの出力に対して横引き
補正処理を行う第２の処理系については、第１の実施形
態と同様であるから、その説明は省略する。

【００６９】まず、欠陥画素判別部１４０ａは、暗時画
像情報格納部１４０ａから事前に収集された暗時画像情
報を読み出して閾値処理を行うことで、各ダーク画素１
７の出力のうち正常でないものを判別する。より詳しく
は、事前に収集した複数の暗時画像情報に対し、時間方
向のノイズを消し、アンプごとのばらつきを補正し、そ
の上で閾値を用いて判別を行う方法を使用することがで
きる。

【００７０】続いて、欠陥画素マップ作成部１４０ｉ
は、閾値処理にて欠陥と判別された画素の座標（すなわ
ち、マトリックス配列の位置）を取得し、メモリに保管
する。より詳しくは、全画素について０から１かが記載
されているマップ（例えば、欠陥ダーク画素を１とし、
欠陥のない画素を０と対応させる）を有するか、欠陥個
所の座標のみを記載されているかの形態にて作成される
マップを有する方法を適用することができる。なお、メ
モリに保管された該欠陥座標データは、通常「傷マッ
プ」とも呼ばれる。

【００７１】この様にして生成された欠陥画素マップ
は、第４の処理系に出力され横引きノイズ計算に使用さ
れる。

【００７２】なお、上記第３の処理系の説明において
は、例えば各検査直前に収集する暗時画像情報に基づい
て欠陥画素マップを作成する場合を想定している。これ
に対し、検査毎に欠陥画素マップを作成せず、予め作成
された欠陥画素マップを記憶しておき、該マップに基づ
いて処理する構成であってもよい。

【００７３】次に、第４の処理系の説明を行う。

【００７４】正常画素出力判別部１４０ｊは、欠陥画素
マップに基づいて、逐次ダーク画素の座標を確認し、欠
陥ダーク画素以外（すなわち、正常ダーク画素）から読
み出された出力はそのまま次処理に流し、欠陥ダーク画
素からの出力はそのまま排除する。従って、例えば、欠
陥画素マップに合計ｒ個分の欠陥ダーク画素が記載され
て且つ合計ｐ画素分のダーク画素信号が検出器１２から
読み出された場合には、正常画素出力選択部１４０ｊ
は、ｐ−ｒ個の正常なダーク画素による出力信号を後続
の処理系統に送り出し、ｒ個の欠陥ダーク画素による出
力信号を排除して使用しない。

【００７５】加算平均処理部１４０ｄは、正常と判別さ
れた全てのダーク画素１７の出力信号を加算平均し、各
行毎の横引きノイズの平均値（すなわち、ａｖｅ｛ｎ_ｋ
（ｔ）｝）を演算する。こうして得られた横引きノイズ
の各平均値は、第２の処理系にて実行される横引き補正
において、各通常画素１５からの出力から減算される。
なお、加算平均１４０ｄをアンプゲイン補正後に挿入す
るのが望ましいのは、第１の実施形態と同様である。

【００７６】（実施例２−２）図４は、実施例２−２に
係るＸ線診断システムにおいて、演算器１４０が実行す
る画像補正処理の流れを示した概念図である。本実施例
２−２で示す画像処理の特徴は、欠陥画素マップを作成
する第３の処理系と、欠陥画素マップを用いて特定され
た欠陥ダーク画素については、正常ダーク画素から求め
られた出力値にて補間し、常に一定のダーク画素数にて
横引きノイズを演算する第５の処理系とを有する点であ
る。この補間処理によって欠陥ダーク画素についても正
常な出力値があてがわれ、常に一定数のダーク画素出力
を確保することができる。さらに、加算平均して横引き
ノイズを求める場合、常に決まった数にて割ることがで
きるため、ハード構成がより実現的となる。以下、第２
の処理系及び第３の処理系については既述の通りである
から、その説明は省略し、第５の処理系について詳しく
説明する。

【００７７】まず、正常画素出力判別部１４０ｊは、欠
陥画素マップに基づいて、逐次ダーク画素の座標を確認
し、欠陥ダーク画素以外から読み出された出力はそのま
ま次処理に流し、欠陥ダーク画素の出力は補間処理部１
４０ｋへと流す。従って、例えば、欠陥画素マップに合
計ｒ個分の欠陥ダーク画素が記載されて且つ合計ｐ画素
分のダーク画素信号が検出器１２から読み出された場合
には、正常画素出力選択部１４０ｊは、ｐ−ｒ個の正常
なダーク画素による出力信号を後続の処理系統に送り出
し、ｒ個の欠陥ダーク画素による出力信号を補間処理部
１４０ｋへと送り出す。

【００７８】補間処理部１４０ｋは、正常画素出力判別
部１４０ｊから入力した各欠陥ダーク画素の出力を補間
処理によって補う。この場合の補間方法としては、同一
行の近傍画素による補間（例えば、左と右の画素値を参
照してその平均を該当画素の信号値とする補間。すぐ隣
だけでなくても数画素隣まで使用する方法でもよい。）
或いは、同一行の近傍画素による置き換え（隣接する左
または右の画素値をそのまま該当画素の信号値とする方
法）等の方法を選択することができる。

【００７９】なお、上記補間処理は、横方向（すなわ
ち、同一行上）の画素値から補間しなければならない。
なぜなら、横方向（行方向）の画素には同一コモンモー
ドノイズが含まれているため、横方向の補間処理であれ
ば同一コモンモードノイズ（横引きノイズ）を含ませる
ことができるからである。一方、例えば、縦方向（列方
向）による補間処理では、該補間処理が成された画素
は、同一行の他の画素と違ったノイズを含むことになる
からである。

【００８０】補間処理部１４０ｋにて補間された各欠陥
ダーク画素の出力は、各正常ダーク画素の出力と共に加
算平均処理部１４０ｄへと送り出される。従って、第５
の処理系によって成される処理に従えば、常に一定数の
ダーク画素出力を得ることができる。

【００８１】加算平均処理部１４０ｄは、正常と判別さ
れた全てのダーク画素１７及び全ての欠陥ダーク画素の
補間処理された出力信号を加算平均し、各行毎の横引き
ノイズの平均値（すなわち、第１の実施形態のａｖｅ
｛ｎ_ｋ（ｔ）｝）を演算する。具体的には、入力した全
ての画素信号を加算し、ビットシフトによる割り算をす
る。従って、入力されるダーク画素数は２のｎ乗（ただ
し、ｎは自然数）であることが好ましい。

【００８２】こうして得られた横引きノイズの各平均値
は、第２の処理系にて実行される横引き補正において、
各通常画素１５からの出力から減算される。なお、加算
平均１４０ｄは、アンプゲイン補正後に挿入するのが望
ましいのは、実施例２−２と同様である。

【００８３】以上述べた構成によれば、以下の効果を得
ることができる。

【００８４】暗時画像情報に基づいてダーク画素の欠陥
画素マップを作成するので、検査毎に適切な欠陥ダーク
画素を把握することができる。さらに、検査毎に作成さ
れた欠陥画素マップに基づいて横引きノイズを演算する
から、精度の高い横引き補正を実現することができる。

【００８５】第４の処理系によれば、欠陥画素マップに
よって欠陥ダーク画素が除外され正常なダーク画素のみ
で横引きノイズが演算される。従って、精度の高い横引
き補正を実現することができる。

【００８６】第５の処理系によれば、欠陥ダーク画素の
出力に対しては補間処理を施すため、最終的に横引きノ
イズ演算時のダーク画素信号の個数は不変となる。従っ
て、横引きノイズ演算においては、常に同じ数で割れば
よく、回路構成を容易にすることができる。

【００８７】（第３の実施形態）次に、第３の実施形態
について説明する。

【００８８】第２の実施形態では、欠陥画素マップに基
づいて欠陥ダーク画素を特定し、該欠陥ダーク画素を取
り除いたダーク画素１７によって横引きノイズを求め
る、或いは、欠陥画素マップに基づいて欠陥ダーク画素
を特定し、該欠陥ダーク画素の出力を補間処理によって
補い、一定数のダーク画素１７を確保して横引きノイズ
を求める、といった方法にて横引き補正を行った。

【００８９】これに対し、第３の実施形態では、欠陥画
素列マップ等を用いて欠陥ダーク画素が存在する列を特
定し（以下、欠陥ダーク画素が存在する列を「欠陥画素
列」と称する。また、全てのダーク画素が正常である列
を「正常画素列」と称する。）、該欠陥画素列に存在す
る画素からの欠陥出力の影響を除去して横引きノイズを
演算する構成である。横引きノイズの演算方法として
は、すべての正常画素列のダーク画素を使用する方法、
一部の正常画素列のダーク画素を使用する方法とがあ
る。いずれにしても、列単位にて制御する点が第３の実
施形態の特徴であると言える。以下、横引きノイズの演
算方法、実現手段の構成等の観点にて分類した４つの実
施例を説明する。

【００９０】（実施例３−１）まず、欠陥画素列を特定
し、該欠陥画素列の影響を排除したすべての正常画素列
のダーク画素を使用する例について説明する。

【００９１】図５は、第３の実施形態に係るＸ線診断シ
ステムにおいて、演算器１４０が実行する画像補正処理
の流れを示した概念図である。実施例３−１に示す画像
処理の特徴は、事前に行われたアレイテストに関する情
報に基づいて、欠陥が存在する列を特定する欠陥画素列
マップ（傷マップ）を作成する第６の処理系を有する点
である。なお、この第６の処理系によって作成される欠
陥画素列マップは、アレイテスト情報に基づいて作成さ
れるものであるから、アレイテスト情報が変更されれ
ば、欠陥画素列マップを書き換えることになる。従っ
て、横引きノイズ補正に使用するダーク画素列は、欠陥
画素列マップに応じて変化することになる。この点が、
常に特定のダーク画素列を使用する第８の処理系（実施
例３−２にて後述する）と異なる点である。そして、こ
の欠陥画素列マップによって特定された列上に存在する
ダーク画素の出力は全て排除され、正常なダーク画素の
みが存在する列からの出力にて横引きノイズが演算され
る。

【００９２】なお、第３の処理系については既述の通り
であるから、その説明は省略する。また、第７の処理系
については、既述の第４の処理系と比較してダーク画素
列選択部１４０ｌのみ異なるから、以下の説明では、ダ
ーク画素列選択部１４０ｌの機能に重点をおいて説明す
る。

【００９３】アレイテスト情報格納部１４１ｄは、事前
に行われたアレイテストに関する情報を格納する。ここ
で、「アレイテスト」とは、各画素に所定の電荷を注入
しその出力を調べることで、各画素の状態を調べる試行
（テスト）をいう。アレイテスト情報格納部１４１ｄ
は、この試行に基づいて生成された欠陥画素に関する情
報（座標等）を格納している。

【００９４】欠陥画素列マップ作成部１４０ｉは、閾値
処理にて欠陥と判別された画素が存在する列（すなわ
ち、マトリックス配列の列の位置）を取得し、メモリに
保管する。より詳しくは、全画素について０から１かが
記載されているマップ（例えば、欠陥ダーク画素が存在
する欠陥画素列を１とし、欠陥ダーク画素が存在しない
列を０と対応させる）を有するか、欠陥個所の座標のみ
を記載されているかの形態にて作成されるマップを有す
る方法を適用することができる。なお、メモリに保管さ
れた該欠陥画素列データも、通常「傷マップ」とも呼ば
れる。

【００９５】ダーク画素列選択部１４０ｌは、Ｘ線の曝
射に応じて読み出された各出力のうち、欠陥画素列マッ
プに基づいて欠陥ダーク画素の存在しない画素列を選択
し、該画素列からの正常な画素の出力のみ後続の処理部
へと出力する。すなわち、ダーク画素列選択部１４０ｌ
は、欠陥画素列マップに基づいて、逐次欠陥ダーク画素
が存在する列を確認し、欠陥画素列以外の列から読み出
された出力はそのまま次処理に流し、欠陥画素列からの
出力はそのまま排除する。従って、例えば、欠陥画素列
マップに合計ｒ列分の欠陥画素列が記載されて且つ合計
ｐ列分のダーク画素信号が検出器１２から読み出された
場合には、ダーク画素列選択部１４０ｌは、ｐ−ｒ列分
の正常なダーク画素による出力信号を後続の処理系統に
送り出し、ｒ列分の欠陥ダーク画素による出力信号を排
除して使用しない。

【００９６】加算平均処理部１４０ｄは、欠陥画素列以
外の全ての列に存在するダーク画素１７の出力信号を加
算平均し、各行毎の横引きノイズの平均値（すなわち、
ａｖｅ｛ｎ_ｊ（ｔ）｝）を演算する。この場合の加算平
均のための割り算の分母は、アレイひとつひとつによっ
て変わる。こうして得られた横引きノイズの各平均値
は、第２の処理系にて実行される横引き補正において、
各通常画素１５からの出力から減算される。なお、加算
平均１４０ｄは、アンプゲイン補正後に挿入するのが望
ましい。

【００９７】なお、上記第６の処理系では、アレイテス
ト情報に基づいて欠陥画素列マップを作成し、該欠陥画
素列マップに基づいて処理を行った。これに対し、アレ
イテスト情報に基づいて正常である列を記載したマップ
を作成し、該マップに基づいて同一趣旨の処理を行う構
成であってもよい。

【００９８】また、上記第６の処理系では、欠陥ダーク
画素が存在する欠陥画素列を特定できるマップを、アレ
イテスト情報に基づいて作成している。これに対し、該
マップは、暗時画像情報によって作成する構成であって
もよい。すなわち、図５に示すように、欠陥画素列マッ
プ作成部４０ｉは、欠陥画素判別部１４０ａにて判別さ
れた欠陥ダーク画素情報をもとに、該欠陥ダーク画素が
存在する列を記載した欠陥画素列マップを作成すればよ
い。

【００９９】ところで、上記第６の処理系は、以下に述
べるハード構成によっても実現することができる。

【０１００】図６は、第６の処理系をハード的に実現す
る構成を示している。

【０１０１】図６において、演算器１４０に設けられた
信号線選択部１４０ｍは、Ｘ線検出器１２から入力した
ダーク画素列のうち、欠陥画素列についての信号線を回
路系から切り離した構成となっている。従って、欠陥画
素列に存在する画素の出力は、後段処理回路に出力され
ない。

【０１０２】このハード的な切り離し構成は、該スイッ
チを制御する制御手段（図示せず）によって、第３の処
理系或いは第６の処理系によって得られた欠陥画素列マ
ップに基づいて、適宜スイッチ設定を変更することで実
現される。

【０１０３】これらの構成においても、同様の効果を得
ることができる。

【０１０４】（実施例３−２）続いて、予め決定された
特定のダーク画素列のみを横引きノイズの演算に使用す
る例について説明する。この特定のダーク画素列を欠陥
画素列以外にしておけば、欠陥ダーク画素の影響を排除
することが可能である。

【０１０５】図７は、第３の実施形態に係るＸ線診断シ
ステムにおいて、演算器１４０が実行する画像補正処理
の流れを示した概念図である。実施例３−２に示す画像
処理の特徴は、事前に決定された特定のダーク画素列の
みに基づいて横引きノイズを演算する第８の処理系を有
する点である。このように予め選択されたダーク画素列
のみを使用して横引きノイズを演算する構成であれば、
常に一定数のダーク画素からの信号を確保することがで
きる。

【０１０６】図７において、ダーク画素列選択部１４０
ｌは、Ｘ線検出器１２から入力した各列毎のダーク画素
出力のうち、予め決定された特定のダーク画素列のみを
選択し、後述の加算平均処理部１４０ｌへと送り出す。
このとき、選択されるダーク画素列は、欠陥画素列マッ
プに基づいて事前に決定されたものである。例えば、欠
陥画素列マップに基づいて事前に特定のｓ列分のダーク
画素列が決定されており、Ｘ線検出器１２からｐ列分の
ダーク画素出力を入力する場合には、ダーク画素列選択
部１４０ｌが、そのうちの合計ｓ列分の特定のダーク画
素列の画素出力を取り出し、加算平均処理部１４０ｌへ
と送り出す。

【０１０７】加算平均処理部１４０ｌでは、同様に、欠
陥画素列以外の全ての列に存在するダーク画素１７の出
力信号を加算平均し、各行毎の横引きノイズの平均値
（すなわち、第１の実施形態のａｖｅ｛ｎ_ｊ（ｔ）｝）
を演算する。この場合の加算平均のための割り算の分母
は、予め使用するダーク画素列を選択してあるから、ど
のアレイであっても常に同値である。こうして得られた
横引きノイズの各平均値は、第２の処理系にて実行され
る横引き補正において、各通常画素１５からの出力から
減算される。なお、加算平均１４０ｄは、アンプゲイン
補正後に挿入するのが望ましい。

【０１０８】ところで、上記第８の処理系は、以下に述
べるハード構成によっても実現することができる。図６
を利用して第８の処理系を説明する。該第８の処理系
は、選択するダーク画素列を予め記憶しておくメモリを
必要としていない。

【０１０９】図６において、演算器１４０に設けられた
信号線選択部１４０ｍは、Ｘ線検出器１２から入力した
ダーク画素列のうち、欠陥画素列についての信号線を回
路系から切り離した構成となっている。従って、欠陥画
素列に存在する画素の出力は、後段処理回路に出力され
ない。

【０１１０】このハード的な切り離し構成は、スイッチ
等によって実現することができる。このスイッチの設定
は、製造時或いは定期メンテナンス時等に、例えばアレ
イテスト等による欠陥画素列マップに基づいて予め定め
られた数に設定される。

【０１１１】これらの構成によれば、欠陥を有するダー
ク画素による出力の影響を排除して横引き補正を行うＸ
線検出器、及びＸ線診断システムを実現することができ
る。その結果、診断画像の質を向上させることができ
る。

【０１１２】以上、本発明を実施形態に基づき説明した
が、本発明の思想の範疇において、当業者であれば、各
種の変更例及び修正例に想到し得るものであり、それら
変形例及び修正例についても本発明の範囲に属するもの
と了解される。例えば以下に示すように、その要旨を変
更しない範囲で種々変形可能である。

【０１１３】上記各実施形態においては、横引き補正の
ための演算機能をＸ線診断システムの本体に有する構成
であった。これに対し、Ｘ線平面検出器に該演算機能を
もたせる構成であってもよい。

【０１１４】

【発明の効果】以上本発明によれば、欠陥を有するダー
ク画素による出力の影響を排除して横引き補正を行うＸ
線検出器、及びＸ線診断システムを実現することができ
る。その結果、診断画像の質を向上させることができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は、本発明に係るＸ線診断システム１０の
Ｘ線平面検出器１２と、Ｘ線診断システムの本体に内蔵
されたＸ線データ処理装置１４とを示したブロック構成
図である。

【図２】図２は、演算器１４０が実行する画像補正処理
の流れを示した概念図である。

【図３】図３は、第２の実施形態に係るＸ線診断システ
ムにおいて、演算器１４０が実行する画像補正処理の流
れを示す概念図である。

【図４】図４は、第２の実施形態に係るＸ線診断システ
ムにおいて、演算器１４０が実行する画像補正処理の流
れを示した概念図である。

【図５】図５は、第３の実施形態に係るＸ線診断システ
ムにおいて、演算器１４０が実行する画像補正処理の流
れを示した概念図である。

【図６】図６は、第６の処理系をハード的に実現する構
成を示している。

【図７】図７は、第３の実施形態に係るＸ線診断システ
ムにおいて、演算器１４０が実行する画像補正処理の流
れを示した概念図である。

【符号の説明】１２…Ｘ線平面検出器１４…Ｘ線データ処理装置１５…通常画素１６…Ｘ線検出部１７…ダーク画素１８…ゲート走査線駆動部２０…積分アンプ２２…マルチプレクサ２４…Ａ／Ｄコンバータ１４０…演算器１４１…メモリ１４０ａ…欠陥画素判別部１４０ｂ、１４０ｅ…暗時差分処理部１４０ｃ、１４０ｆ…アンプゲイン補正処理部１４０ｄ…加算平均処理部１４０ｇ…横引きノイズ補正処理部１４０ｈ…ピクセルゲイン補正処理部１４０ｉ…欠陥画素列マップ作成部１４０ｊ…正常画素出力判別部１４０ｋ…補間処理部１４０ｌ…ダーク画素列選択部１４１…メモリ１４１ａ…暗時画像情報格納部１４１ｂ…アンプゲイン情報格納部１４１ｃ…ピクセルゲイン情報格納部１４１ｄ…アレイテスト情報格納部１４２…表示部１８０…ゲート走査線１８１…信号線

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号ＦＩテーマコート゛(参考）Ｈ０４Ｎ 5/225 Ｈ０４Ｎ 5/32 5/32 Ｈ０１Ｌ 27/14 ＫＺ (72)発明者高橋章仁栃木県大田原市下石上1385番の１株式会社東芝那須工場内 (72)発明者永井清一郎東京都北区赤羽２丁目16番４号東芝医用システムエンジニアリング株式会社内Ｆターム(参考） 2G088 EE01 EE27 FF02 FF14 GG21 JJ05 JJ08 JJ29 KK01 KK05 KK07 KK24 KK29 KK32 LL11 LL12 4M118 AA07 AB01 DD09 DD10 FB09 FB13 FB16 GA10 GB09 5B057 AA08 BA03 BA12 CA02 CA08 CA12 CA16 CB02 CB08 CB12 CB16 CE02 5C022 AA08 AB19 AB37 AC42 AC69 5C024 AX11 CX03 CX23 GY31 GZ37 GZ38 HX14 HX21 HX23 HX29

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】入射したＸ線を検出し第１の電気情報を発
生する複数の第１の電気情報発生手段と、Ｘ線検出防止
手段を備え第２の電気情報を発生する複数の第２の電気
情報発生手段と、からなるＸ線検出手段と、読み出された前記各第２の電気情報が第１の電気情報の
補正に有効か否かを判別する判別手段と、前記判別手段によって有効と判別された前記第２の電気
情報に基づいて、前記第１の電気情報を補正する補正手
段と、を具備することを特徴とするＸ線平面検出器。
【請求項２】前記判別手段は、閾値処理にて前記判別を
行うことを特徴とする請求項１記載のＸ線平面検出器。
【請求項３】前記複数の第２の電気情報発生手段のう
ち、欠陥を有する電気情報発生手段を特定するための欠
陥情報を記憶する記憶手段をさらに具備し、前記判別手段は、前記欠陥情報に基づいて前記判別を行
うことを特徴とする請求項１記載のＸ線平面検出器。
【請求項４】前記欠陥情報は、暗時画像情報或いはアレ
イテスト情報に基づいて作成された情報であることを特
徴とする請求項３記載のＸ線平面検出器。
【請求項５】前記判別手段によって有効でないと判別さ
れた前記第２の電気情報に対し補間処理を行う補間処理
実行手段をさらに具備し、前記補正手段は、前記判別手段によって有効と判別され
た前記第２の電気情報と前記補間手段によって補間処理
された前記第２の電気情報とに基づいて、前記第１の電
気情報を補正すること、を特徴とする請求項３記載のＸ線平面検出器。
【請求項６】電気情報発生手段を二次元マトリックス状
に配列したＸ線検出手段であって、入射したＸ線を検出
し第１の電気情報を発生する複数の第１の電気情報発生
手段とＸ線検出防止手段を備え第２の電気情報を発生す
る複数の第２の電気情報発生手段とが列単位で混在する
Ｘ線検出手段と、前記第各１の電気情報発生手段から各第１の電気情報
を、前記各第２の電気情報発生手段から前記各第２の電
気情報をそれぞれ列単位で読み出す読み出し手段と、前記複数の第２の電気情報発生手段のうち、欠陥を有す
る電気情報発生手段が存在する列を特定するための欠陥
画素列情報を記憶する記憶手段と、前記欠陥画素列情報に基づいて前記欠陥を有する電気情
報発生手段が存在しない列からの前記第２の電気情報を
選択する選択手段と、前記選択手段によって選択された列単位の前記第２の電
気情報に基づいて、前記第１の電気情報を補正する補正
手段と、を具備することを特徴とするＸ線平面検出器。
【請求項７】前記欠陥画素列情報は、暗時画像情報或い
はアレイテスト情報に基づいて作成された情報であるこ
とを特徴とする請求項６記載のＸ線平面検出器。
【請求項８】入射したＸ線を検出し第１の電気情報を発
生する複数の第１の電気情報発生手段と、Ｘ線検出防止
手段を備え第２の電気情報を発生する複数の第２の電気
情報発生手段と、を有するＸ線平面検出器と、読み出された前記各第２の電気情報が第１の電気情報の
補正に有効か否かを判別する判別手段と、前記判別手段によって有効と判別された前記第２の電気
情報に基づいて、前記第１の電気情報を補正する補正手
段と、を具備することを特徴とするＸ線診断システム。
【請求項９】前記判別手段は、閾値処理にて前記判別を
行うことを特徴とする請求項８記載のＸ線平面検出器。
【請求項１０】前記複数の第２の電気情報発生手段のう
ち、欠陥を有する電気情報発生手段を特定するための欠
陥情報を記憶する記憶手段をさらに具備し、前記判別手段は、前記欠陥情報に基づいて前記判別を行
うことを特徴とする請求項９記載のＸ線診断システム。
【請求項１１】前記欠陥情報は、暗時画像情報或いはア
レイテスト情報に基づいて作成された情報であることを
特徴とする請求項１０記載のＸ線診断システム。
【請求項１２】前記判別手段によって有効でないと判別
された前記第２の電気情報に対し補間処理を行う補間処
理実行手段をさらに具備し、前記補正手段は、前記判別手段によって有効と判別され
た前記第２の電気情報と前記補間手段によって補間処理
された前記第２の電気情報とに基づいて、前記第１の電
気情報を補正すること、を特徴とする請求項１０記載のＸ線診断システム。
【請求項１３】電気情報発生手段を二次元マトリックス
状に配列したＸ線検出手段であって、入射したＸ線を検
出し第１の電気情報を発生する複数の第１の電気情報発
生手段とＸ線検出防止手段を備え第２の電気情報を発生
する複数の第２の電気情報発生手段とが列単位で混在す
るＸ線平面検出器と、前記第各１の電気情報発生手段から各第１の電気情報
を、前記各第２の電気情報発生手段から前記各第２の電
気情報をそれぞれ列単位で読み出す読み出し手段と、前記複数の第２の電気情報発生手段のうち、欠陥を有す
る電気情報発生手段が存在する列を特定するための欠陥
画素列情報を記憶する記憶手段と、前記欠陥画素列情報に基づいて前記欠陥を有する電気情
報発生手段が存在しない列からの前記第２の電気情報を
選択する選択手段と、前記選択手段によって選択された列単位の前記第２の電
気情報に基づいて、前記第１の電気情報を補正する補正
手段と、を具備することを特徴とするＸ線診断システム。
【請求項１４】前記欠陥画素列情報は、暗時画像情報或
いはアレイテスト情報に基づいて作成された情報である
ことを特徴とする請求項１３記載のＸ線平面検出器。