JP2003244540A - Ｘ線平面検出器のパラメータ調整方法及びその装置、ｘ線診断装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】動作パラメータなどの設定を自動化して作業時
間の短縮、入力ミスや設定ミスの低減を図ること。 【解決手段】Ｘ線平面検出器２から出力されるべき画素
値の期待値の基準レベル範囲を与え、Ｘ線を曝射したと
きのＸ線画像の画素値と画素値の期待値の基準レベル範
囲とを比較し、この比較結果に基づいて動作パラメータ
を期待値の基準レベル範囲内に自動的に決定し、かつＸ
線平面検出器１２のオフセット成分を補正するためのオ
フセット補正係数や、ゲイン補正係数、欠陥点の位置情
報を自動的に決定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線平面検出器を
動作させるための動作パラメータなどを調整するのパラ
メータ調整方法及び装置、この装置を用いたＸ線診断装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図５はＸ線診断装置の構成図である。Ｘ
線管球１とＸ線平面検出器２とが対向配置され、これら
Ｘ線管球１とＸ線平面検出器２との間には被写体３が配
置される。Ｘ線管球１にはＸ線の曝射を制御するＸ線発
生制御手段４が接続され、かつＸ線平面検出器２にはＸ
線平面検出器インタフェース（以下、Ｘ線検出器Ｉ／Ｆ
と省略する）５を介して画像処理手段７が接続されてい
る。この画像処理手段７は、Ｘ線検出器Ｉ／Ｆ５を通し
てＸ線平面検出器２から出力されるＸ線画像信号を入力
し、このＸ線画像信号を映像化してテレビジョンモニタ
（ＴＶモニタ）などの画像表示手段７に表示する。

【０００３】システム制御手段８には、操作者からのＸ
線診断の操作を受けるユーザインタフェース９が接続さ
れている。システム制御手段７は、ユーザインタフェー
ス９からのＸ線条件の設定の情報や透視開始の指令を受
け、この指令に基づいてＸ線発生手段４を制御してＸ線
管球１からＸ線を曝射させ、かつＸ線平面検出器２及び
画像処理手段６を制御する。

【０００４】このような装置であれば、Ｘ線管球１から
曝射されたＸ線は、被写体３を透過してＸ線平面検出器
２に入射する。このＸ線平面検出器２は、被写体３を透
過したＸ線を入射し、そのＸ線画像信号を出力する。画
像処理手段６は、Ｘ線平面検出器２から出力されたＸ線
画像信号をＸ線検出器Ｉ／Ｆ５を通して入力し、このＸ
線画像を映像化してＴＶモニタなどの画像表示手段７に
表示する。

【０００５】図６はＸ線平面検出器２及びＸ線検出器Ｉ
／Ｆ５の構成図である。Ｘ線平面検出器２は、図７に示
すように複数の画素容量１２を２次元平面上で縦横方向
に配列（例えば４列×４列）したものである。これら画
素容量１２には、入射したＸ線を図示しない変換素子に
よって変換された電荷を蓄積する。

【０００６】これら画素容量１２には、それぞれ当該画
素容量１２に蓄積された電荷を読み出すための半導体ス
イッチであるＴＦＴ（thin film trasistor）１３のド
レイン電極が接続されている。これらＴＦＴ１３の各ゲ
ート電極は、例えば図面上横方向の各ＴＦＴ１３別に各
ゲート線＃１〜＃４を介してゲートドライバ１４が接続
されている。

【０００７】このゲートドライバ１４は、読み出し制御
手段１５によって制御されるもので、図８に示すように
各ゲート線＃１〜＃４を介して図面上横方向の各ＴＦＴ
１３別にそれぞれオン（ＯＮ）、オフ（ＯＦＦ）させる
各ゲート信号を出力する。これにより、図面上横方向の
各ＴＦＴ１３別に逐次各画素容量１２に蓄積された各電
荷が各ＴＦＴ１３のソース電極を通して読み出される。

【０００８】これらＴＦＴ１３のソース電極には、例え
ば図面上縦方向の各ＴＦＴ１３別にそれぞれ積分アンプ
１６−１〜１６−４と、その後段にアンプ１７−１〜１
７−４とが直列接続されている。さらに、各アンプ１７
−１〜１７−４の出力端子には、マルチプレクサ１８、
Ａ／Ｄコンバータ１９が接続されている。

【０００９】従って、各画素容量１２から読み出された
電荷は、それぞれ各積分アンプ１６−１〜１６−４によ
って増幅され、さらに各アンプ１７−１〜１７−４によ
って増幅された後、マルチプレクサ１８を通して１画素
単位に選択され、次にＡ／Ｄコンバータ１９によりデジ
タル値に変換されて出力される。

【００１０】図９は積分アンプ１６−１〜１６−４及び
アンプ１７−１〜１７−４の構成図である。各積分アン
プ１６−１〜１６−４は、オペアンプ２０と、このオペ
アンプ２０の「−」入力端子と出力端子との間に接続さ
れた容量の異なる複数のコンデンサＣ_１〜Ｃ_３及び複数
のスイッチＳ_１〜Ｓ_４とからなっている。このうちスイ
ッチＳ_４は、電荷を読み出す最初に、各コンデンサＣ_１
〜Ｃ_３に蓄積されている各電荷をリセットするもので、
コンデンサを介さずにオペアンプ２１の「−」入力端子
と出力端子との間に接続されている。

【００１１】これらアンプ１７−１〜１７−４は、Ｘ線
診断装置においてＸ線画像を撮像するときの透視、撮影
などの各収集モード（低線量透視モード、通常線量透視
モードなど）毎に最適なゲインとなるようにセットされ
る。

【００１２】動作パラメータ設定手段２０は、各積分ア
ンプ１６−１〜１６−４における最適な容量値と、各ア
ンプ１７−１〜１７−４の最適なゲインとが予め格納さ
れており、読み出し制御手段１５からの収集モードの設
定の切り替えによって各積分アンプ１６−１〜１６−４
の容量値と各アンプ１７−１〜１７−４のゲインとを最
適な値に切り替える。

【００１３】再び図６において、Ｘ線平面検出器２の出
力端子には、Ｘ線検出器Ｉ／Ｆ５が接続されている。こ
のＸ線検出器Ｉ／Ｆ５は、Ｘ線平面検出器２に対して取
り付け、取り外し可能である。

【００１４】Ｘ線検出器Ｉ／Ｆ５には、Ｘ線平面検出器
２のオフセット成分を補正するための加算器２１が設け
られている。この加算器２１の出力端子には、ゲインの
ばらつきを補正するための乗算器２２が接続され、さら
にこの乗算器２２の出力端子に欠陥点補正手段２３が接
続されている。

【００１５】このうち加算器２１の「−」入力端子に
は、オフセット補正係数テーブル２４が接続されてい
る。オフセット補正係数計算手段２５は、検出器本体１
１から出力されるＸ線画像を入力し、このＸ線画像から
各画素毎のオフセット成分であるオフセット補正係数を
求めてオフセット補正係数テーブル２４に記憶する。

【００１６】乗算器２２の一入力端子には、ゲイン補正
係数テーブル２６が接続されている。ゲイン補正係数計
算手段２７は、加算器２１から出力されるＸ線画像を入
力し、このＸ線画像から各画素毎のゲインのばらつきを
なくすようなゲイン補正係数を求めてゲイン補正係数テ
ーブル２６に格納する。

【００１７】欠陥点補正手段２３は、乗算器２２から出
力されるオフセット補正処理及びゲイン補正処理された
Ｘ線画像における欠陥点を補正するもので、一入力端子
には欠陥点位置情報テーブル２８が接続されている。欠
陥点位置情報計算手段２９は、乗算器２２から出力され
るＸ線画像を入力し、このＸ線画像から欠陥点を認識
し、この欠陥点の位置を示す欠陥点位置情報を欠陥点位
置情報テーブル２８に格納する。

【００１８】欠陥点補正手段２３は、乗算器２２から出
力されるオフセット補正処理及びゲイン補正処理された
Ｘ線画像における欠陥点を欠陥点位置情報テーブル２８
に記憶されている欠陥点位置情報に基づいて認識し、こ
の欠陥点の近傍の欠陥でない画素の平均値を求め、この
画素の平均値で欠陥点を置き換える欠陥点補正処理を行
なう。

【００１９】次に、Ｘ線診断装置の透視の一連の動作に
ついて図１０に示す動作タイミング図を参照して説明す
る。

【００２０】Ｘ線透視スイッチがオン（ＯＮ）される
と、システム制御手段８は、Ｘ線透視スイッチのオンを
認識し、Ｘ線平面検出器２に対して動作開始の指令を発
し、続いてＸ線発生制御手段４を制御してＸ線管球１か
らＸ線を曝射させる。

【００２１】Ｘ線管球１から曝射されたＸ線は、被写体
３を透過してＸ線平面検出器２に入射する。

【００２２】Ｘ線平面検出器２は、予め設定された時間
によりＸ線の発生終了を見計らって複数の画素容量１２
に蓄積された各電荷を読み出す。すなわち、図７に示す
ようにＸ線平面検出器２では、ゲートドライバ１４から
図８に示すように各ゲート線＃１〜＃４を介して各ゲー
ト信号が出力されると、各画素容量１２に蓄積された各
電荷が逐次各ＴＦＴ１３のソース電極を通して読み出さ
れる。

【００２３】これら画素容量１２から読み出された電荷
は、図７に示すように各積分アンプ１６−１〜１６−４
によって増幅され、さらに各アンプ１７−１〜１７−４
によって増幅された後、マルチプレクサ１８を通して１
画素単位に選択され、次にＡ／Ｄコンバータ１９により
デジタル値に変換されて出力される。

【００２４】Ｘ線平面検出器２から出力されたＸ線画像
は、図６に示すようにＸ線検出器Ｉ／Ｆ５において、加
算器２１によりオフセット補正係数が引き算されてオフ
セット補正処理が行われ、次に、乗算器２２によりオフ
セット補正処理されたＸ線画像信号に対してゲイン補正
係数が乗算されてゲイン補正処理される。

【００２５】この場合、オフセット補正係数及びゲイン
補正係数は、透視や撮影などの線量や収集レートの異な
る収集モードに応じて最適な値が予め設定される。

【００２６】オフセット補正処理及びゲイン補正処理さ
れたＸ線画像は、欠陥点補正手段２３に送られる。この
欠陥点補正手段２３は、Ｘ線画像から欠陥点の近傍の欠
陥でない画素の平均値を求め、この画素の平均値で欠陥
点を置き換える欠陥点補正処理を行なう。

【００２７】そして、画像処理手段６は、Ｘ線平面検出
器２から出力されたＸ線画像信号を入力し、このＸ線画
像をＴＶモニタなどの画像表示手段７に表示する。

【００２８】以上の動作が繰り返し行われることによ
り、画像表示手段７には透視動画像が表示される。

【００２９】ところで、図９に示す各積分アンプ１６−
１〜１６−４における最適な容量値及び各アンプ１７−
１〜１７−４の最適なゲイン値の動作パラメータ、オフ
セット補正係数、ゲイン補正係数、欠陥点位置情報など
の設定は、通常の使用モードとは異なるモード、すなわ
ち調整、ギャブレーションモード（サービスモード）に
おいて行われる。

【００３０】さらに、これらの設定は、Ｘ線平面検出器
２の欠陥点などの特性が各Ｘ線平面検出器２毎に異なる
ので、各Ｘ線平面検出器２個々の調整、ギャブレーショ
ンにおいて行われる。

【００３１】これら動作パラメータ、オフセット補正係
数、ゲイン補正係数及び欠陥点位置情報の設定手順は、
サービスマンのマニュアル操作によって次の通り行われ
る。

【００３２】先ず、各収集モード毎に規定されたＸ線量
のＸ線をＸ線管球１から曝射し、Ｘ線平面検出器２に入
射させる。Ｘ線平面検出器２から出力されるＸ線画像に
オフセット成分やゲインのばらつきが含んでも飽和しな
いようにＸ線平面検出器２の動作パラメータが設定され
る。

【００３３】このとき、オフセット補正処理、ゲイン補
正処理は、オフされる。この作業が各収集モード毎に繰
り返し行われて、全ての収集モード毎の各動作パラメー
タが設定される。

【００３４】次に、Ｘ線管球１からＸ線の曝射を行なわ
ない状態に、オフセット補正係数計算手段２５は、Ｘ線
平面検出器２から出力されるＸ線画像を複数の画像枚数
分入力し、これらＸ線画像の平均値を求めてこれをオフ
セット補正係数とし、オフセット補正係数テーブル２４
に格納する。このとき、検出器本体１１における動作パ
ラメータは、動作パラメータ設定手段２０によって各収
集モード毎に設定される。

【００３５】次に、Ｘ線管球１から平面的に一様な入射
条件でＸ線の曝射を行なう。そして、ゲイン補正係数計
算手段２７は、オフセット補正処理の行われたＸ線画像
を複数の画像枚数分入力し、実際に入力されたＸ線画像
の画素値がそのＸ線入射条件で期待される出力画素値に
等しくなるようなゲイン補正係数を求めてゲイン補正係
数テーブル２６に格納する。

【００３６】次に、Ｘ線管球１から平面的に一様な入射
条件でＸ線の曝射を行なう。欠陥点位置情報計算手段２
９は、オフセット補正処理及びゲイン補正処理の行われ
たＸ線画像を入力し、このＸ線画像において出力画素値
を調べ、オフセット補正処理及びゲイン補正処理で補正
できない画素を欠陥点として認識し、この欠陥点の位置
を示す欠陥点位置情報を欠陥点位置情報テーブル２８に
格納する。

【００３７】なお、これら動作パラメータ、オフセット
補正係数、ゲイン補正係数及び欠陥点位置情報は、装置
電源がオフされても消去されない記憶媒体、例えば磁気
ディスクやフラッシュメモリなどに形成された各テーブ
ル２４、２６、２８に格納される。

【００３８】

【発明が解決しようとする課題】以上のＸ線平面検出器
２の個々によって異なる各動作パラメータ、各オフセッ
ト補正係数、各ゲイン補正係数及び各欠陥点位置情報
は、Ｘ線診断装置が例えば病院などに据え付けられると
きにサービスマンによって設定、格納するのが前提にな
っている。

【００３９】しかしながら、例えば各動作パラメータの
うち各アンプ１７−１〜１７−４のゲイン設定は、Ｘ線
条件の設定を始めとして実際にゲインの最適値を選択す
るのにサービスマンのマニュアルでかつ試行錯誤を繰り
返して行なっている。

【００４０】しかも、多数の収集モードのあるＸ線診断
装置では、サービス調整作業に時間がかかり、入力ミス
や設定ミスが発生するおそれがある。

【００４１】又、Ｘ線平面検出器２以外の機能ユニッ
ト、例えばオフセット補正係数計算手段２５及びオフセ
ット補正係数テーブル２４が故障した場合には、これら
オフセット補正係数計算手段２５及びオフセット補正係
数テーブル２４などのユニットが交換されるので、既に
調整、キャリブレーションよって求められたオフセット
補正係数が格納されたオフセット補正係数テーブル２４
がユニットごと失われてしまい、全ての調整、キャリブ
レーションをやり直さなければならない。

【００４２】さらに、Ｘ線診断装置は、Ｘ線平面検出器
２の寿命を判断する機能を持たないので、Ｘ線変換効率
などが経年変化によって低下してその検出器出力が低下
することから、これを補うためにＸ線の曝射量が増加す
る傾向にある。このため、例えば患者の被爆や診断能の
低下、さらには欠陥点の増加による診断能の低下の問題
がある。

【００４３】そこで本発明は、動作パラメータなどの設
定を自動化して作業時間の短縮、入力ミスや設定ミスの
低減を図ることができるＸ線平面検出器のパラメータ調
整方法及びその装置、さらにはこの装置を用いたＸ線診
断装置を提供することを目的とする。

【００４４】

【課題を解決するための手段】本発明は、Ｘ線平面検出
器を動作させるための動作パラメータを調整するＸ線平
面検出器のパラメータ調整方法において、Ｘ線平面検出
器から出力される画素値の期待値の基準レベル範囲及び
Ｘ線画像の収集タイミングを与える工程と、Ｘ線を曝射
したときに収集タイミングでＸ線平面検出器から出力さ
れる画素値を収集し、この画素値と期待値の基準レベル
範囲とを比較し、この比較結果に基づいて動作パラメー
タを期待値の基準レベル範囲内に自動的に決定する工程
とを有することを特徴とするＸ線平面検出器のパラメー
タ調整方法である。

【００４５】本発明は、Ｘ線平面検出器を動作させるた
めの動作パラメータを調整するＸ線平面検出器のパラメ
ータ調整装置において、Ｘ線平面検出器から出力される
画素値の期待値の基準レベル範囲及びＸ線画像の収集タ
イミングを与える第１の手段と、Ｘ線を曝射したときに
収集タイミングでＸ線平面検出器から出力される画素値
を収集し、この画素値と期待値の基準レベル範囲とを比
較し、この比較結果に基づいて動作パラメータを期待値
の基準レベル範囲内に自動的に決定する第２の手段とを
具備したことを特徴とするＸ線平面検出器のパラメータ
調整装置である。

【００４６】本発明は、上記本発明のＸ線平面検出器の
パラメータ調整装置を備えたことを特徴とするＸ線診断
装置である。

【００４７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の第１の実施の形態
について図面を参照して説明する。なお、図５乃至図７
と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略
する。

【００４８】図１乃至図３は本発明に係るＸ線平面検出
器２のパラメータ調整装置を用いたＸ線診断装置の構成
図であって、図１は全体構成図、図２はＸ線平面検出器
２の構成図、図３は積分アンプ１６−１〜１６−４及び
アンプ１７−１〜１７−４の構成図である。

【００４９】システム制御手段３０は、Ｘ線平面検出器
２における各積分アンプ１６−１〜１６−４及び各アン
プ１７−１〜１７−４の動作パラメータの調整時に、こ
の動作パラメータの設定範囲と、Ｘ線平面検出器２から
出力されるＸ線画像の期待される画素値の各基準レベル
の上限値及び下限値と、Ｘ線画像の収集タイミング（Ｘ
線の曝射タイミング）とを各収集モード（透視、撮影な
どでの低線量透視モード、通常線量透視モードなど）ご
とに、Ｘ線検出器Ｉ／Ｆ５に設けられた後述する読み出
し制御手段３１に与える機能を有する。

【００５０】このＸ線検出器Ｉ／Ｆ５には、上記図５に
示すＸ線検出器Ｉ／Ｆ５の構成に加えて、図２に示すよ
うに読み出し制御手段３１の他に、後述する画素レベル
判断手段３２、寿命判定手段３３、基準データメモリ３
４及び動作パラメータ書込み／読み出し制御手段３５が
備えられると共に、Ｘ線平面検出器２には図３に示すよ
うに動作パラメータ設定手段３６が設けられている。

【００５１】上記システム制御手段３０は、オフセット
補正処理及びゲイン補正処理においてそれぞれ期待され
る画素値の各基準レベルの上限値及び下限値と、Ｘ線の
曝射タイミングとを各収集モード毎に、Ｘ線検出器Ｉ／
Ｆ５に設けられた読み出し制御手段３１に与える機能を
有する。

【００５２】又、システム制御手段３０は、動作パラメ
ータを決定した後、オフセット補正係数計算手段２５に
オフセット補正処理で期待される画素値の基準レベルの
上限値及び下限値を設定すると共に、オフセット補正係
数計算手段２５を動作させてオフセット補正係数を自動
的に算出させる機能を有する。

【００５３】又、システム制御手段３０は、オフセット
補正係数を算出した後、ゲイン補正係数計算手段２７に
ゲイン補正処理で期待される画素値の基準レベルの上限
値及び下限値を設定すると共に、ゲイン補正係数計算手
段２７を動作させてゲイン補正係数を自動的に算出させ
る機能を有する。

【００５４】又、システム制御手段３０は、ゲイン補正
係数を算出した後、欠陥点位置情報計算手段２９を動作
させてオフセット補正処理及びゲイン補正処理で補正で
きない画素を欠陥点として認識させてその欠陥点位置情
報を自動的に求めさせる機能を有する。

【００５５】又、システム制御手段３０は、後述する画
素値レベル判断手段３２から検出器本体１１から出力さ
れたＸ線画像の画素値が動作パラメータの設定範囲内で
要求される下限値に達していないことの旨を受け取る
と、ユーザ及びサービスセンタ１０に対してＸ線平面検
出器２の寿命を通知する機能を有する。

【００５６】又、システム制御手段３０には、バックア
ップ用メモリ３０ａが設けられている。システム制御手
段３０は、後述する動作パラメータ書込み読出し制御手
段３５との間でデータ授受を行ない、動作パラメータ書
込み読出し制御手段３５により読み出された動作パラメ
ータ設定手段３６の動作パラメータ、オフセット補正係
数テーブル２４に格納されているオフセット補正係数、
ゲイン補正係数テーブル２６に格納されているゲイン補
正係数、及び欠陥点位置情報テーブル２８に格納されて
いる欠陥点位置情報をバックアップ用メモリ３０ａに格
納する機能を有する。

【００５７】Ｘ線検出器Ｉ／Ｆ５に設けられた読み出し
制御手段３１は、システム制御手段３０から与えられた
各収集モード毎の各動作パラメータの設定範囲、期待さ
れる画素値の基準レベルの上限値及び下限値、及びＸ線
画像の収集タイミングのうち動作パラメータの設定範囲
で各積分アンプ１６−１〜１６−４の最適な容量値と各
アンプ１７−１〜１７−４の最適なゲイン値とをセット
し、Ｘ線画像の収集タイミングでＸ線を入射してそのＸ
線画像を出力動作する機能を有する。

【００５８】読み出し制御手段３１は、システム制御手
段３０から与えられた動作パラメータを図３に示す動作
パラメータ設定手段３６に対して設定する機能を有す
る。

【００５９】又、読み出し制御手段３１は、後述する画
素値レベル判断手段３２から画素値レベルの判断結果を
受け、Ｘ線平面検出器２から出力されたＸ線画像の画素
値が基準レベルの下限値に達していなければ、図３に示
す動作パラメータ設定手段３６に対して各積分アンプ１
６−１〜１６−４及び各アンプ１７−１〜１７−４での
ゲイン値を上げる設定指令を発してシステム制御手段３
０にＸ線曝射の要求を行い、かつＸ線画像の画素値が基
準レベルの上限値以上であれば、動作パラメータ設定手
段３６に対して各積分アンプ１６−１〜１６−４及び各
アンプ１７−１〜１７−４でのゲイン値を下げる設定指
令を発してシステム制御手段３０にＸ線曝射の要求を行
なう機能を有する。

【００６０】又、読み出し制御手段３１は、システム制
御手段３０から与えられたオフセット補正処理で期待さ
れる画素値の基準レベルの上限値及び下限値をオフセッ
ト補正係数計算手段２５に与え、次にゲイン補正処理で
期待される画素値の基準レベルの上限値及び下限値をゲ
イン補正係数計算手段２７に与える機能を有する。

【００６１】画素値レベル判断手段３２は、Ｘ線平面検
出器２から出力されたＸ線画像を加算器２１、乗算器２
２及び欠陥点補正手段２３をバイパスして入力し、画素
値が基準レベルの上限値及び下限値の範囲内にあるか否
かを判断し、その判断結果を読み出し制御手段３１に与
える機能を有する。

【００６２】又、画素値レベル判断手段３２は、Ｘ線平
面検出器２から出力されたＸ線画像の画素値が動作パラ
メータの設定範囲内で要求される下限値に達していない
場合、この旨をシステム制御手段３０に通知する機能を
有する。

【００６３】寿命判定手段３３は、動作パラメータ設定
手段３６により決定された前記動作パラメータとこの動
作パラメータの調整時期の情報とを経時的変化データと
して蓄積し、これら経時的変化データから経時的推移か
らＸ線平面検出器２の寿命を自動的に推し量り、例えば
経時的推移値が予め設定された推移値の下限値に達する
と、Ｘ線平面検出器２の寿命と判断してその旨を通知す
る機能を有する。

【００６４】又、寿命判定手段３３は、オフセット補正
係数計算手段２５で計算されたオフセット補正係数と、
ゲイン補正係数計算手段２７で計算されたゲイン補正係
数と、欠陥点位置情報計算手段２９により求められた欠
陥部の位置情報とをそれぞれ入力し、これら係数及び位
置情報と予め基準データメモリ３４に記憶されている各
基準データとをそれぞれ比較し、各係数及び位置情報と
各基準データとの各差が予め設定された各レベル以上で
あれば、Ｘ線平面検出器２の寿命である旨をシステム制
御手段３０に通知する機能を有する。

【００６５】なお、寿命を推し量る基準データは、オフ
セット補正係数であれば、例えばオフセット分布の平均
値と標準偏差であり、ゲイン補正係数でも例えばゲイン
分布の平均値と標準偏差である。欠陥点であれば、例え
ば欠陥点の数や各欠陥点の大きさなどである。これら基
準データは、例えばＸ線平面検出器２の出荷時のデータ
を格納しておけばよい。

【００６６】動作パラメータ書込み読出し制御手段３５
は、Ｘ線平面検出器２の動作パラメータ設定手段３６に
格納されている動作パラメータや、オフセット補正係数
テーブル２４に格納されているオフセット補正係数、ゲ
イン補正係数テーブル２６に格納されているゲイン補正
係数、及び欠陥点位置情報テーブル２８に格納されてい
る欠陥点位置情報の書き込み、読み出しを行ない、シス
テム制御手段３０との間でこれら動作パラメータやオフ
セット補正係数、ゲイン補正係数、欠陥点位置情報をデ
ータ授受する機能を有する。

【００６７】上記システム制御手段３０には、電話回線
３７を介してサービスセンタ内の端末装置３８に接続さ
れている。この端末装置３８は、システム制御手段３０
との間で電話回線３７を介してデータ授受を行ない、バ
ックアップ用メモリ３０ａに格納されている動作パラメ
ータ設定手段３６の動作パラメータ、オフセット補正係
数テーブル２４に格納されているオフセット補正係数、
ゲイン補正係数テーブル２６に格納されているゲイン補
正係数、及び欠陥点位置情報テーブル２８に格納されて
いる欠陥点位置情報を受け取り、これら動作パラメー
タ、オフセット補正係数、ゲイン補正係数及び欠陥点位
置情報を例えば補助記憶装置に格納する機能を有する。

【００６８】又、端末装置３８は、システム制御手段３
０との間で電話回線３７を介してデータ授受を行ない、
画素値レベル判断手段３２による画素値が基準レベルの
上限値及び下限値の範囲内にあるか否かの判断結果と、
Ｘ線画像の画素値が動作パラメータの設定範囲内で要求
される下限値に達していない旨の通知とを受け取り、こ
れらデータを例えば補助記憶装置に格納する機能を有す
る。

【００６９】又、端末装置３８は、システム制御手段３
０との間で電話回線３７を介してデータ授受を行ない、
寿命判定手段３３により求められた経時的変化データ
と、Ｘ線平面検出器２が寿命であることの判断結果の旨
の通知とを受け取り、これらデータを例えば補助記憶装
置に格納する機能を有する。

【００７０】次に、上記の如く構成された装置の作用に
ついて説明する。

【００７１】先ず、Ｘ線平面検出器２のおける各積分ア
ンプ１６−１〜１６−４及び各アンプ１７−１〜１７−
４の動作パラメータ、すなわち各積分アンプ１６−１〜
１６−４における最適な容量値と、各アンプ１７−１〜
１７−４の最適なゲイン値とが調整される。

【００７２】このときシステム制御手段３０は、各収集
モードに対する各動作パラメータの設定範囲と、期待さ
れる画素値の各基準レベルの上限値及び下限値と、Ｘ線
画像の収集タイミングとをＸ線平面検出器２のＸ線検出
器Ｉ／Ｆ５に与える。

【００７３】このＸ線検出器Ｉ／Ｆ５における読み出し
制御手段３１は、システム制御手段３０から与えられた
動作パラメータを図３に示す動作パラメータ設定手段３
６に対して設定する。

【００７４】この動作パラメータ設定手段３６は、各積
分アンプ１６−１〜１６−４における容量値をセットす
ると共に、各アンプ１７−１〜１７−４のゲインをセッ
トする。

【００７５】Ｘ線の曝射タイミングに応じてＸ線管球１
から曝射されたＸ線は、被写体３を透過してＸ線平面検
出器２に入射する。

【００７６】このＸ線平面検出器２は、Ｘ線画像の収集
タイミングに応じて複数の画素容量１２に蓄積された各
電荷を読み出す。すなわち、図６に示すようにＸ線平面
検出器２は、ゲートドライバ１４から図７に示すように
各ゲート線＃１〜＃４を介して各ゲート信号が出力され
ると、各画素容量１２に蓄積された各電荷が逐次各ＴＦ
Ｔ１３のソース電極を通して読み出される。

【００７７】これら画素容量１２から読み出された電荷
は、図６に示すように各積分アンプ１６−１〜１６−４
によって増幅され、さらに各アンプ１７−１〜１７−４
によって増幅された後、マルチプレクサ１８を通して１
画素単位に選択され、次にＡ／Ｄコンバータ１９により
デジタル値に変換されて出力される。

【００７８】Ｘ線平面検出器２から出力されたＸ線画像
は、Ｘ線検出器Ｉ／Ｆ５における加算器２１、乗算器２
２及び欠陥点補正手段２３をバイパスする。

【００７９】画素値レベル判断手段３２は、Ｘ線平面検
出器２から出力されたＸ線画像を取り込み、画素値が基
準レベルの上限値及び下限値の範囲内にあるか否かを判
断し、その判断結果を読み出し制御手段３１に与える。

【００８０】この読み出し制御手段３１は、画素値レベ
ル判断手段３２から画素値レベルの判断結果を受け、Ｘ
線平面検出器２から出力されたＸ線画像の画素値が基準
レベルの下限値に達していなければ、図３に示す動作パ
ラメータ設定手段３６に対して各積分アンプ１６−１〜
１６−４及び各アンプ１７−１〜１７−４でのゲイン値
を上げる設定指令を発し、かつシステム制御手段３０に
対してＸ線曝射の要求を行う。

【００８１】この設定指令を受けて動作パラメータ設定
手段３６は、各積分アンプ１６−１〜１６−４における
容量値と各アンプ１７−１〜１７−４のゲインとを再度
セットする。

【００８２】一方、Ｘ線画像の画素値が基準レベルの上
限値以上であれば、読み出し制御手段３１は、動作パラ
メータ設定手段３６に対して各積分アンプ１６−１〜１
６−４及び各アンプ１７−１〜１７−４でのゲイン値を
下げる設定指令を発し、かつシステム制御手段３０に対
してＸ線曝射の要求を行う。

【００８３】この設定指令を受けて動作パラメータ設定
手段３６は、各積分アンプ１６−１〜１６−４における
容量値と各アンプ１７−１〜１７−４のゲインとを再度
セットする。

【００８４】このようにＸ線画像の画素値が基準レベル
の上限値と下限値との範囲内に入るように各アンプ１７
−１〜１７−４のゲイン値が調整され、最終的に各収集
モードに応じた最適な各積分アンプ１６−１〜１６−４
の容量値と各アンプ１７−１〜１７−４のゲインとが自
動的に決定される。

【００８５】又、画素値レベル判断手段３２は、Ｘ線平
面検出器２から出力されたＸ線画像の画素値と動作パラ
メータの設定範囲内で要求される下限値とを比較する。
この比較の結果、Ｘ線画像信号の画素値が動作パラメー
タの設定範囲内で要求される下限値に達していない場
合、画素値レベル判断手段３２は、この旨をシステム制
御手段３０に通知する。

【００８６】このシステム制御手段３０は、画素値レベ
ル判断手段３２からＸ線画像の画素値が動作パラメータ
の設定範囲内で要求される下限値に達していないことの
旨を受け取ると、Ｘ線平面検出器２の寿命の旨をユーザ
に報知すると共に、電話回線３７を介してサービスセン
タ内の端末装置３８にＸ線画像の画素値が動作パラメー
タの設定範囲内で要求される下限値に達していないこと
の旨、すなわちＸ線平面検出器２の寿命の旨を通知す
る。

【００８７】サービスセンタ内の端末装置３８は、シス
テム制御手段３０からの通知を電話回線３７を介して受
け取り、この通知の内容すなわち画素値レベル判断手段
３２による画素値が基準レベルの上限値及び下限値の範
囲内にあるか否かの判断結果と、Ｘ線画像の画素値が動
作パラメータの設定範囲内で要求される下限値に達して
いない旨すなわちＸ線平面検出器２の寿命の旨を受け取
り、これらデータを例えば補助記憶装置に格納する。

【００８８】一方、寿命判定手段３４は、動作パラメー
タ設定手段３６により決定された動作パラメータとこの
動作パラメータの調整時期の情報とを経時的変化データ
として蓄積する。

【００８９】そして、寿命判定手段３４は、蓄積した経
時的変化データの経時的推移からＸ線平面検出器２の寿
命を自動的に推し量り、例えば経時的推移値が予め設定
された推移値の下限値に達すると、Ｘ線平面検出器２の
寿命と判断してその旨を例えばシステム制御手段３０に
通知する。

【００９０】このシステム制御手段３０は、寿命判定手
段３３により求められた経時的変化データと、Ｘ線平面
検出器２が寿命であることの判断結果の旨とを電話回線
３７を介してサービスセンタ内の端末装置３８に通知す
る。

【００９１】サービスセンタ内の端末装置３８は、シス
テム制御手段３０からの通知を電話回線３７を介して受
け取り、この通知の内容すなわち寿命判定手段３３によ
り求められた経時的変化データと、Ｘ線平面検出器２が
寿命であることの判断結果の旨の通知とを受け取り、こ
れらデータを例えば補助記憶装置に格納する。

【００９２】次に、オフセット補正係数の調整、キュリ
ブレーションに移る。システム制御手段３０は、動作パ
ラメータを決定した後、オフセット補正係数計算手段２
５に対してオフセット補正処理で期待される画素値の基
準レベルの上限値及び下限値を設定すると共に、オフセ
ット補正係数計算手段２５を動作させてオフセット補正
係数を自動的に算出させる。このとき、Ｘ線管球１から
はＸ線を曝射しない。

【００９３】すなわち、Ｘ線を曝射しない状態で、Ｘ線
平面検出器２はＸ線画像を出力する。オフセット補正係
数計算手段２５は、Ｘ線平面検出器２から出力されるＸ
線画像を複数の画像枚数分入力し、これらＸ線画像の平
均値を求めてこれをオフセット補正係数とし、オフセッ
ト補正係数テーブル２４に格納する。このとき、オフセ
ット補正係数は、各収集モード毎に設定される。

【００９４】そして、オフセット補正係数計算手段２５
は、オフセット補正係数のキュリブレーションが終了す
ると、その旨をシステム制御手段３０に通知する。

【００９５】次に、ゲイン補正係数の調整、キュリブレ
ーションに移る。システム制御手段３０は、オフセット
補正係数のキュリブレーションが終了した旨を受ける
と、オフセット補正処理において期待される画素値の各
基準レベルの上限値及び下限値と、Ｘ線画像の収集タイ
ミングとを各収集モード毎にＸ線平面検出器２に与え、
ゲイン補正係数計算手段２７を動作させてゲイン補正係
数を自動的に算出させる。

【００９６】すなわち、ゲイン補正係数計算手段２７に
は、ゲイン補正処理で期待される画素値の基準レベルの
上限値及び下限値が設定される。

【００９７】Ｘ線管球１は、Ｘ線の曝射タイミングに応
じてＸ線を曝射する。このとき、Ｘ線管球１から平面的
に一様な入射条件でＸ線の曝射を行なう。

【００９８】Ｘ線平面検出器２において各画素容量１２
から読み出された電荷は、図３に示すように最適な容量
値に設定された各積分アンプ１６−１〜１６−４によっ
て増幅され、さらに最適なゲインに設定された各アンプ
１７−１〜１７−４によって増幅された後、マルチプレ
クサ１８を通して１画素単位に選択され、次にＡ／Ｄコ
ンバータ１９によりデジタル値に変換されてＸ線画像と
して出力される。

【００９９】このＸ線画像は、加算器２１によりオフセ
ット補正係数が引き算されてオフセット補正処理が行わ
れる。

【０１００】ゲイン補正係数計算手段２７は、オフセッ
ト補正処理されたＸ線画像を複数の画像枚数分入力し、
この実際に入力されたＸ線画像の画素値がそのＸ線入射
条件で期待される出力画素値に等しくなるようなゲイン
補正係数を求めてゲイン補正係数テーブル２６に格納す
る。

【０１０１】そして、ゲイン補正係数計算手段２７は、
ゲイン補正係数のキュリブレーションが終了すると、そ
の旨をシステム制御手段３０に通知する。

【０１０２】次に、欠陥点の認識に移る。システム制御
手段３０は、ゲイン補正係数のキュリブレーション終了
の通知を受けると、Ｘ線画像の収集タイミングを各収集
モード毎にＸ線平面検出器２に与え、かつ欠陥点位置情
報計算手段２９を動作させてオフセット補正処理及びゲ
イン補正処理で補正できない画素を欠陥点として認識さ
せてその欠陥点位置情報を自動的に求めさせる。

【０１０３】すなわち、Ｘ線管球１は、Ｘ線の曝射タイ
ミングに応じてＸ線を曝射する。検出器本体１１におい
て各画素容量１２から読み出された電荷は、上記同様に
最適な動作パラメータに設定された各積分アンプ１６−
１〜１６−４及び各アンプ１７−１〜１７−４によって
増幅された後、マルチプレクサ１８を通して１画素単位
に選択され、次にＡ／Ｄコンバータ１９によりデジタル
値に変換されてＸ線画像として出力される。

【０１０４】このＸ線画像は、加算器２１によりオフセ
ット補正係数が引き算されてオフセット補正処理が行わ
れ、乗算器２２によりゲイン補正係数が乗算されてゲイ
ン補正処理される。

【０１０５】欠陥点位置情報計算手段２９は、オフセッ
ト補正処理及びゲイン補正処理の行われたＸ線画像を入
力し、このＸ線画像において出力画素値を調べ、オフセ
ット補正処理及びゲイン補正処理で補正できない画素を
欠陥点として認識し、この欠陥点の位置を示す欠陥点位
置情報を欠陥点位置情報テーブル２８に格納する。

【０１０６】一方、寿命判定手段３４は、動作パラメー
タ設定手段３６により決定された前記動作パラメータと
この動作パラメータの調整時期の情報とを経時的変化デ
ータとして蓄積し、これら経時的変化データから経時的
推移からＸ線平面検出器２の寿命を自動的に推し量り、
例えば経時的推移値が予め設定された推移値の下限値に
達すると、Ｘ線平面検出器２の寿命と判断してその旨を
システム制御手段３０に通知する。

【０１０７】又、寿命判定手段３４は、オフセット補正
係数計算手段２５で計算されたオフセット補正係数と、
ゲイン補正係数計算手段２７で計算されたゲイン補正係
数と、欠陥点位置情報計算手段２９により求められた欠
陥部の位置情報とをそれぞれ入力し、これら係数及び位
置情報と予め基準データメモリ３５に記憶されている各
基準データとをそれぞれ比較し、各係数及び位置情報と
各基準データとの各差が予め設定された各レベル以上で
あれば、Ｘ線平面検出器２の寿命と判断してその旨をシ
ステム制御手段３０に通知する。

【０１０８】さらに、動作パラメータ書込み読出し制御
手段３６は、Ｘ線平面検出器２の動作パラメータ設定手
段３６に格納されている動作パラメータや、オフセット
補正係数テーブル２４に格納されているオフセット補正
係数、ゲイン補正係数テーブル２６に格納されているゲ
イン補正係数、及び欠陥点位置情報テーブル２８に格納
されている欠陥点の位置情報の書き込み、読み出しを行
ない、システム制御手段３０との間でこれら動作パラメ
ータやオフセット補正係数、ゲイン補正係数、欠陥点位
置情報をデータ授受する。

【０１０９】システム制御手段３０は、動作パラメータ
書込み読出し制御手段３５との間でデータ授受を行な
い、動作パラメータ書込み読出し制御手段３５により読
み出された動作パラメータ設定手段３６の動作パラメー
タ、オフセット補正係数テーブル２４に格納されている
オフセット補正係数、ゲイン補正係数テーブル２６に格
納されているゲイン補正係数、及び欠陥点位置情報テー
ブル２８に格納されている欠陥点位置情報をバックアッ
プ用メモリ３０ａに格納する。

【０１１０】バックアップ用メモリ３０ａに動作パラメ
ータ、オフセット補正係数、ゲイン補正係数及び欠陥点
位置情報を格納しておけば、Ｘ線検出器Ｉ／Ｆ５が交換
されたとしても、システム制御手段３０内のバックアッ
プ用メモリ３０ａにバックアップしておいた動作パラメ
ータやオフセット補正係数、ゲイン補正係数、欠陥点位
置情報を用いて復元できる。

【０１１１】又、システム制御手段３０は、バックアッ
プ用メモリ３０ａにバックアップしている動作パラメー
タやオフセット補正係数、ゲイン補正係数、欠陥点位置
情報を読み出し、これらデータを電話回線３７を介して
サービスセンタ内の端末装置３８に送信する。

【０１１２】この端末装置３８は、システム制御手段３
０との間で電話回線３７を介して送られてくる動作パラ
メータ、オフセット補正係数、ゲイン補正係数及び欠陥
点位置情報を受け取り、これらデータを例えば補助記憶
装置に格納する。

【０１１３】このように上記第１の実施の形態において
は、Ｘ線平面検出器２から出力されるべき画素値の期待
値の基準レベル範囲を与え、Ｘ線を曝射したときのＸ線
画像信号の画素値と期待値の基準レベル範囲とを比較
し、この比較結果に基づいて動作パラメータを期待値の
基準レベル範囲内に自動的に決定するので、サービスマ
ンがマニュアルでかつ試行錯誤を繰り返して動作パラメ
ータを設定することなく、自動的に多数の収集モードに
応じた最適な各動作パラメータを決定できる。これによ
り、多数の収集モードのあるＸ線診断装置の各動作パラ
メータの調整において、サービス調整作業の時間を短縮
でき、しかも入力ミスや設定ミスの発生を防止できる。

【０１１４】又、Ｘ線平面検出器２のオフセット成分を
補正するためのオフセット補正係数や、ゲイン補正係
数、欠陥点の位置情報を自動的に決定するので、これら
係数などにおいてもサービスマンがマニュアルでかつ試
行錯誤を繰り返すことなく、自動的に多数の収集モード
に応じた最適なオフセット補正係数や、ゲイン補正係
数、欠陥点の位置情報に決定できる。

【０１１５】さらに、決定された動作パラメータとこの
動作パラメータの調整時期の情報とを経時的変化データ
として蓄積し、これら経時的変化データから経時的推移
からＸ線平面検出器２の寿命を自動的に推し量ったり、
オフセット補正係数、ゲイン補正係数及び欠陥部の位置
情報と、これら補正係数及び位置情報の各基準値とを比
較し、この比較結果に基づいて寿命を自動的に推し量る
ので、Ｘ線変換効率などが経年変化によって低下してそ
の検出器出力が低下することを補うためにＸ線の曝射量
が増加して、例えば患者の被爆や診断能が低下する前
に、Ｘ線平面検出器２の寿命を判定して例えば患者の被
爆の増加や診断能の低下を低減できる。

【０１１６】欠陥部の位置情報からその欠陥点の増加を
判定すれば、欠陥点の増加による診断能の低下を判定す
ることができる。

【０１１７】又、動作パラメータやオフセット補正係
数、ゲイン補正係数、欠陥点位置情報を書込み読出し制
御手段３６によって読み出してシステム制御手段３０内
のバックアップ用メモリ３０ａにバックアップするの
で、例えばＸ線平面検出器２におけるＸ線検出器Ｉ／Ｆ
５が交換されたとしても、バックアップ用メモリ３０ａ
にバックアップしておいたＸ線平面検出器２固有の動作
パラメータやオフセット補正係数、ゲイン補正係数、欠
陥点位置情報を交換された新たなＸ線検出器Ｉ／Ｆ５に
与えることにより、Ｘ線平面検出器２の動作パラメータ
やオフセット補正係数、ゲイン補正係数、欠陥点位置情
報を再度決定しなくても、Ｘ線検出器Ｉ／Ｆ５が交換さ
れる前と同じ条件で直ぐに動作させることができる。

【０１１８】又、サービスセンタ内の端末装置３８は、
システム制御手段３０との間で電話回線３７を介してデ
ータ授受を行ない、バックアップ用メモリ３０ａに格納
されている動作パラメータ、オフセット補正係数、ゲイ
ン補正係数及び欠陥点位置情報を例えば補助記憶装置に
格納したり、画素値が基準レベルの上限値及び下限値の
範囲内にあるか否かの判断結果と、Ｘ線画像の画素値が
動作パラメータの設定範囲内で要求される下限値に達し
ていない旨を例えば補助記憶装置に格納したり、経時的
変化データと、Ｘ線平面検出器２が寿命であることの判
断結果の旨などを例えば補助記憶装置に格納するので、
例えばＸ線平面検出器２におけるＸ線検出器Ｉ／Ｆ５が
交換されたとしても、サービスセンタ内の端末装置３８
からＸ線平面検出器２固有の動作パラメータやオフセッ
ト補正係数、ゲイン補正係数、欠陥点位置情報を交換さ
れた新たなＸ線検出器Ｉ／Ｆ５に与えることができ、Ｘ
線平面検出器２をＸ線検出器Ｉ／Ｆ５が交換される前と
同じ条件で直ぐに動作させることができる。

【０１１９】そのうえ、サービスセンタ内の端末装置３
８から例えばＸ線平面検出器２の使用状態を変更するた
めに、Ｘ線平面検出器２固有の動作パラメータやオフセ
ット補正係数、ゲイン補正係数、欠陥点位置情報の修正
もすることができる。

【０１２０】さらに、サービスセンタ内の端末装置３８
において、Ｘ線平面検出器２の動作パラメータの経時的
変化データや寿命であることの判断結果などを受け取っ
て記憶するので、Ｘ線平面検出器２が据え付けられてい
る現地に赴かなくてもサービスセンタ側で、Ｘ線平面検
出器２の状態を常に監視でき、Ｘ線平面検出器２に対す
る定期検査のデータとして用いることができ、さらにＸ
線平面検出器２の寿命の判定もできる。

【０１２１】しかるに、ユーザがＸ線平面検出器２に寿
命が来たことに気が付かなくても、サービスセンタ内の
端末装置３８からＸ線平面検出器２が据え付けられてい
る現地のユーザに対してＸ線平面検出器２に寿命が来た
ことを確実に知らせることができる。これにより、Ｘ線
平面検出器２の例えば患者の被爆や診断能が低下した
り、患者への被爆量が増加する前に、正常なＸ線平面検
出器２に交換でき、Ｘ線平面検出器２の的確な管理がで
き、信頼性を向上できる。

【０１２２】又、サービスセンタ内の端末装置３８から
Ｘ線平面検出器２のＸ線検出器Ｉ／Ｆ５にＸ線平面検出
器２固有の動作パラメータやオフセット補正係数、ゲイ
ン補正係数、欠陥点位置情報を与えることができるの
で、例えばＸ線診断装置を据え付けるときに、Ｘ線平面
検出器２の動作パラメータやオフセット補正係数、ゲイ
ン補正係数、欠陥点位置情報を決定しているが、これら
動作パラメータやオフセット補正係数、ゲイン補正係
数、欠陥点位置情報は、例えば工場からＸ線診断装置を
出荷する前に調整データとして取得されている。

【０１２３】従って、工場での調整時に取得された動作
パラメータやオフセット補正係数、ゲイン補正係数、欠
陥点位置情報をサービスセンタ内の端末装置３８から現
地に据え付けられたＸ線診断装置のＸ線検出器Ｉ／Ｆ５
に送信することにより、新しく据え付けたＸ線診断装置
のＸ線平面検出器２の動作パラメータやオフセット補正
係数、ゲイン補正係数、欠陥点位置情報を決定する作業
を現地に赴くことなく、サービスセンタ内からできる。

【０１２４】又、新しく据え付けたＸ線診断装置のＸ線
平面検出器２の動作パラメータやオフセット補正係数、
ゲイン補正係数、欠陥点位置情報の決定は、工場での調
整時に取得された動作パラメータやオフセット補正係
数、ゲイン補正係数、欠陥点位置情報を例えばフレキシ
ブルメモリの記憶させ、このフレキシブルメモリをサー
ビスマンがＸ線診断装置が据え付けられた現地に持参し
たり又は郵送し、現地においてフレキシブルメモリに記
憶されている動作パラメータやオフセット補正係数、ゲ
イン補正係数、欠陥点位置情報をＸ線検出器Ｉ／Ｆ５に
与えるようにしてもよい。

【０１２５】次に、本発明の第２の実施の形態について
図面を参照して説明する。なお、図１乃至図３と同一部
分には同一符号を付してその詳しい説明は省略する。

【０１２６】図４はＸ線診断装置におけるＸ線平面検出
器２、Ｘ線検出器Ｉ／Ｆ５及びシステム制御手段３０の
構成図である。なお、Ｘ線診断装置の全体構成図は、図
１を援用する。

【０１２７】システム制御手段３０には、上記第１の実
施の形態のＸ線検出器Ｉ／Ｆ５に備えられていた画素値
レベル判断手段３２、寿命判定手段３４及び基準データ
メモリ３５が設けられている。

【０１２８】このような構成であれば、システム制御手
段３０において、画素値レベル判断手段３２は、Ｘ線平
面検出器２から出力されたＸ線画像の画素値が基準レベ
ルの上限値及び下限値の範囲内にあるか否かを判断し、
その判断結果を読み出し制御手段３１に与える。

【０１２９】又、画素値レベル判断手段３２は、Ｘ線平
面検出器２から出力されたＸ線画像の画素値が動作パラ
メータの設定範囲内で要求される下限値に達していない
場合、この旨をシステム制御手段３０に通知する。

【０１３０】一方、寿命判定手段３３は、システム制御
手段３０において、動作パラメータ設定手段３６により
決定された動作パラメータとこの動作パラメータの調整
時期の情報とを経時的変化データとして蓄積し、これら
経時的変化データから経時的推移からＸ線平面検出器２
の寿命を自動的に推し量り、例えば経時的推移値が予め
設定された推移値の下限値に達すると、Ｘ線平面検出器
２の寿命と判断する。

【０１３１】又、寿命判定手段３３は、オフセット補正
係数計算手段２５で計算されたオフセット補正係数と、
ゲイン補正係数計算手段２７で計算されたゲイン補正係
数と、欠陥点位置情報計算手段２９により求められた欠
陥部の位置情報とをそれぞれ入力し、これら係数及び位
置情報と予め基準データメモリ３４に記憶されている各
基準データとをそれぞれ比較し、各係数及び位置情報と
各基準データとの各差が予め設定された各レベル以上で
あれば、Ｘ線平面検出器２の寿命である旨をシステム制
御手段３０に通知する。

【０１３２】システム制御手段３０は、動作パラメータ
書込み読出し制御手段３５との間でデータ授受を行な
い、動作パラメータ書込み読出し制御手段３５により読
み出された動作パラメータ設定手段３６の動作パラメー
タ、オフセット補正係数テーブル２４に格納されている
オフセット補正係数、ゲイン補正係数テーブル２６に格
納されているゲイン補正係数、及び欠陥点位置情報テー
ブル２８に格納されている欠陥点位置情報をバックアッ
プ用メモリ３０ａに格納する。

【０１３３】又、システム制御手段３０は、バックアッ
プ用メモリ３０ａにバックアップしている動作パラメー
タやオフセット補正係数、ゲイン補正係数、欠陥点位置
情報を読み出し、これらデータを電話回線３７を介して
サービスセンタ内の端末装置３８に送信する。

【０１３４】このように上記第２の実施の形態において
は、システム制御手段３０に、画素値レベル判断手段３
２、寿命判定手段３４及び基準データメモリ３５を設け
たので、上記第１の実施の形態と同様な効果を奏するこ
とは言うまでもなく、システム制御手段３０はユーザが
操作することが可能であり、このシステム制御手段３０
においてＸ線平面検出器２から出力されたＸ線画像の画
素値が基準レベルの上限値及び下限値の範囲内にあるか
否かの判断や、Ｘ線平面検出器２の寿命を自動的に推し
量ることによって、ユーザに対してＸ線平面検出器２の
状態を的確に知らせることができる。

【０１３５】又、システム制御手段３０において動作パ
ラメータとこの動作パラメータの調整時期の情報とを経
時的変化データとして蓄積でき、ユーザによりＸ線平面
検出器２の動作パラメータの経時的変化を監視できる。

【０１３６】又、基準データメモリ３５がシステム制御
手段３０に設けられているので、基準データメモリ３５
に格納されている寿命を推し量る基準データ、すなわち
オフセット補正係数であれば、例えばオフセット分布の
平均値と標準偏差であり、ゲイン補正係数でも例えばゲ
イン分布の平均値と標準偏差であり、欠陥点であれば、
例えば欠陥点の数や各欠陥点の大きさなどの基準データ
を、Ｘ線平面検出器２が据え付けられている現地に赴か
なくてもサービスセンタ内の端末装置３８から確認した
り、例えばＸ線平面検出器２の設計変更や使用の仕方の
変更に応じて書き替えることができる。

【０１３７】なお、本発明は、上記第１及び第２の実施
の形態に限定されるものでなく、実施段階ではその要旨
を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。

【０１３８】例えば、バックアップ用メモリ３０ａは、
システム制御手段３０に設けられているが、これに限ら
ず、サービスセンタ内の端末装置３８に接続してもよ
い。

【０１３９】又、システム制御手段３０とサービスセン
タ内の端末装置３８との間のデータ授受は、電話回線を
介して行なっているが、これに限らず、各種通信手段例
えば無線通信や電力線を介して行なってもよい。

【０１４０】さらに、上記実施形態には、種々の段階の
発明が含まれており、開示されている複数の構成要件に
おける適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出でき
る。例えば、実施形態に示されている全構成要件から幾
つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとす
る課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で
述べられている効果が得られる場合には、この構成要件
が削除された構成が発明として抽出できる。

【０１４１】

【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、動
作パラメータなどの設定を自動化して作業時間の短縮、
入力ミスや設定ミスの低減を図ることができるＸ線平面
検出器のパラメータ調整方法及びその装置、さらにはこ
の装置を用いたＸ線診断装置をを提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係わるＸ線平面検出器のパラメータ調
整装置の第１の実施の形態を用いたＸ線診断装置の構成
図。

【図２】同装置におけるＸ線平面検出器の構成図。

【図３】同装置におけるＸ線平面検出器の積分アンプ及
びアンプの構成図。

【図４】本発明に係わるＸ線平面検出器のパラメータ調
整装置の第２の実施の形態を用いたＸ線診断装置におけ
るＸ線平面検出器、Ｘ線検出器Ｉ／Ｆ及びシステム制御
手段の構成図。

【図５】Ｘ線診断装置の構成図。

【図６】従来のＸ線平面検出器及びＸ線平面検出器イン
タフェースの構成図。

【図７】同Ｘ線平面検出器における検出器本体の構成
図。

【図８】同Ｘ線平面検出器における各ＴＦＴのゲート線
の読み出し動作を示す図。

【図９】同Ｘ線平面検出器における積分アンプ及びアン
プの構成図。

【図１０】Ｘ線診断装置の動作タイミング図。

【符号の説明】

１：Ｘ線管球 ２：Ｘ線平面検出器 ３：被写体 ４：Ｘ線発生制御手段 ５：Ｘ線検出器Ｉ／Ｆ ６：画像処理手段 ７：画像表示手段 ９：ユーザインタフェース １２：画素容量 １３：ＴＦＴ １４：ゲートドライバ １５：読み出し制御手段 １６−１〜１６−４：積分アンプ １７−１〜１７−４：アンプ １８：マルチプレクサ １９：Ａ／Ｄコンバータ ２０：オペアンプ Ｃ_１〜Ｃ_３：コンデンサ Ｓ_１〜Ｓ_４：スイッチ ２１：加算器 ２２：乗算器 ２３：欠陥補正手段 ２４：オフセット補正係数テーブル ２５：オフセット補正係数計算手段 ２６：ゲイン補正係数テーブル ２７：ゲイン補正係数計算手段 ２８：欠陥点位置情報テーブル ２９：欠陥点位置情報計算手段 ３０：システム制御手段 ３０ａ：バックアップ用メモリ ３１：読み出し制御手段 ３２：画素値レベル判断手段 ３３：寿命判定手段 ３４：基準データメモリ ３５：動作パラメータ書込み読出し制御手段 ３６：動作パラメータ設定手段

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G088 EE01 FF02 GG19 JJ05 LL17 LL27 4C093 AA01 CA15 CA17 CA18 CA36 EB17 FA34 FA43 FC04 FC16 FC18 FC19 FD11 FD12 FD13 GA06 GA07 5C024 AX12 BX00 CX00 CX22 GZ00 HX00 HX18

Claims (24)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 Ｘ線平面検出器を動作させるための動作
   パラメータを調整するＸ線平面検出器のパラメータ調整
   方法において、 前記Ｘ線平面検出器から出力される画素値の期待値の基
   準レベル範囲及びＸ線画像の収集タイミングを与える工
   程と、 前記Ｘ線を曝射したときに前記収集タイミングで前記Ｘ
   線平面検出器から出力される画素値を収集し、この画素
   値と前記期待値の基準レベル範囲とを比較し、この比較
   結果に基づいて前記動作パラメータを前記期待値の基準
   レベル範囲内に自動的に決定する工程と、を有すること
   を特徴とするＸ線平面検出器のパラメータ調整方法。
2. 【請求項２】 前記動作パラメータの決定後、前記Ｘ線
   を曝射しない状態で、前記Ｘ線平面検出器から出力され
   る画素値から所定枚数のオフセット画像を収集し、これ
   らオフセット画像の平均画像を求め、この平均画像を前
   記Ｘ線平面検出器のオフセット成分を補正するためのオ
   フセット補正係数として自動設定することを特徴とする
   請求項１記載のＸ線平面検出器のパラメータ調整方法。
3. 【請求項３】 前記オフセット補正係数の設定終了後、
   前記Ｘ線を曝射したときに前記Ｘ線平面検出器から出力
   されるＸ線画像を収集してオフセット補正処理を施し、
   このオフセット補正処理されたＸ線画像の画素値を前記
   Ｘ線平面検出器から出力されるべき画素値になるように
   ゲイン補正係数を自動設定することを特徴とする請求項
   １記載のＸ線平面検出器のパラメータ調整方法。
4. 【請求項４】 前記ゲイン補正係数の設定終了後、前記
   Ｘ線を曝射したときに前記Ｘ線平面検出器から出力され
   るＸ線画像を収集してオフセット補正処理及びゲイン補
   正処理を施し、これら補正処理されたＸ線画像における
   欠陥点を認識し、この欠陥点の位置情報を自動的に求め
   ることを特徴とする請求項１記載のＸ線平面検出器のパ
   ラメータ調整方法。
5. 【請求項５】 決定された前記動作パラメータと当該動
   作パラメータの調整時期の情報とを経時的変化データと
   して蓄積し、これら経時的変化データの経時的推移から
   前記Ｘ線平面検出器の寿命を自動的に推し量ることを特
   徴とする請求項１記載のＸ線平面検出器のパラメータ調
   整方法。
6. 【請求項６】 前記オフセット補正係数、前記ゲイン補
   正係数及び前記欠陥部の位置情報と、これら補正係数及
   び位置情報の各基準値とを比較し、この比較結果に基づ
   いて前記Ｘ線平面検出器の寿命を自動的に推し量ること
   を特徴とする請求項１記載のＸ線平面検出器のパラメー
   タ調整方法。
7. 【請求項７】 前記動作パラメータ、前記オフセット補
   正係数、前記ゲイン補正係数及び前記欠陥部の位置情報
   は、前記Ｘ線画像データの各収集モード毎に設定するこ
   とを特徴とする請求項１乃至４のうちいずれか１項記載
   のＸ線平面検出器のパラメータ調整方法。
8. 【請求項８】 前記動作パラメータ、前記オフセット補
   正係数、前記ゲイン補正係数及び前記欠陥部の位置情報
   を前記Ｘ線平面検出器とは別に設けられたバックアップ
   用メモリに格納することを特徴とする請求項１乃至４の
   うちいずれか１項記載のＸ線平面検出器のパラメータ調
   整方法。
9. 【請求項９】 請求項５又は６記載の前記Ｘ線平面検出
   器の寿命の推量は、前記Ｘ線平面検出器とは別に設置さ
   れたサービスセンタにおいて通信手段を介して行なうこ
   とを特徴とするＸ線平面検出器のパラメータ調整方法。
10. 【請求項１０】 前記動作パラメータ、前記オフセット
    補正係数、前記ゲイン補正係数、前記欠陥部の位置情
    報、又は前記位置情報の基準値を前記Ｘ線平面検出器と
    は別に設置されたサービスセンタから通信手段を介して
    設定又は変更することを特徴とする請求項１乃至４のう
    ちいずれか１項記載のＸ線平面検出器のパラメータ調整
    方法。
11. 【請求項１１】 前記動作パラメータ、前記オフセット
    補正係数、前記ゲイン補正係数及び前記欠陥部の位置情
    報をバックアップ用メモリに格納し、かつ前記Ｘ線平面
    検出器のインタフェースが交換された場合、新たな前記
    インタフェースに対して前記バックアップ用メモリに格
    納されている前記動作パラメータ、前記オフセット補正
    係数、前記ゲイン補正係数及び前記欠陥部の位置情報を
    与えることを特徴とする請求項１乃至４のうちいずれか
    １項記載のＸ線平面検出器のパラメータ調整方法。
12. 【請求項１２】 Ｘ線平面検出器を動作させるための動
    作パラメータを調整するＸ線平面検出器のパラメータ調
    整装置において、 前記Ｘ線平面検出器から出力される画素値の期待値の基
    準レベル範囲及びＸ線画像の収集タイミングを与える第
    １の手段と、 前記Ｘ線を曝射したときに前記収集タイミングで前記Ｘ
    線平面検出器から出力される画素値を収集し、この画素
    値と前記期待値の基準レベル範囲とを比較し、この比較
    結果に基づいて前記動作パラメータを前記期待値の基準
    レベル範囲内に自動的に決定する第２の手段と、を具備
    したことを特徴とするＸ線平面検出器のパラメータ調整
    装置。
13. 【請求項１３】 前記第２の手段は、前記動作パラメー
    タの決定後、前記Ｘ線を曝射しない状態に、前記Ｘ線平
    面検出器から出力される画素値から所定枚数のオフセッ
    ト画像データを収集する手段と、 これらオフセット画像データの平均画像データを求める
    手段と、 前記平均画像データを前記Ｘ線平面検出器のオフセット
    成分を補正するためのオフセット補正係数として自動設
    定する手段と、を備えたことを特徴とする請求項１２記
    載のＸ線平面検出器のパラメータ調整装置。
14. 【請求項１４】 前記第２の手段は、前記オフセット補
    正係数の設定終了後、前記Ｘ線を曝射したときに前記Ｘ
    線平面検出器から出力され、オフセット補正処理が施さ
    れたＸ線画像の画素値を、前記Ｘ線平面検出器から出力
    されるべき画素値になるようにゲイン補正係数を自動設
    定することを特徴とする請求項１２記載のＸ線平面検出
    器のパラメータ調整装置。
15. 【請求項１５】 前記第２の手段は、前記ゲイン補正係
    数の設定終了後、前記Ｘ線を曝射したときに前記Ｘ線平
    面検出器から出力され、オフセット補正処理及びゲイン
    補正処理が施されたＸ線画像における欠陥点を認識し、
    この欠陥点のの位置情報を自動的に求めることを特徴と
    する請求項１２記載のＸ線平面検出器のパラメータ調整
    装置。
16. 【請求項１６】 決定された前記動作パラメータと当該
    動作パラメータの調整時期の情報とを経時的変化データ
    として蓄積し、これら経時的変化データから経時的推移
    から寿命を自動的に推し量る寿命判定手段、を具備した
    ことを特徴とする請求項１２記載のＸ線平面検出器のパ
    ラメータ調整装置。
17. 【請求項１７】 前記オフセット補正係数、前記ゲイン
    補正係数及び前記欠陥部の位置情報と、これら補正係数
    及び位置情報の各基準値とを比較し、この比較結果に基
    づいて寿命を自動的に推し量る寿命判定手段、を具備し
    たことを特徴とする請求項１２記載のＸ線平面検出器の
    パラメータ調整装置。
18. 【請求項１８】 前記第２の手段は、前記動作パラメー
    タ、前記オフセット補正係数、前記ゲイン補正係数及び
    前記欠陥部の位置情報を、前記Ｘ線画像の各収集モード
    毎に設定することを特徴とする請求項１２乃至１５のう
    ちいずれか１項記載のＸ線平面検出器のパラメータ調整
    装置。
19. 【請求項１９】 前記動作パラメータ、前記オフセット
    補正係数、前記ゲイン補正係数及び前記欠陥部の位置情
    報を記憶媒体に対して書き込み、読み出しする書込み読
    出し制御手段、を具備したことを特徴とする請求項１２
    乃至１５のうちいずれか１項記載のＸ線平面検出器のパ
    ラメータ調整装置。
20. 【請求項２０】 前記Ｘ線平面検出器とは別に設けら
    れ、前記動作パラメータ、前記オフセット補正係数、前
    記ゲイン補正係数及び前記欠陥部の位置情報を格納する
    バックアップ用メモリを備えたことを特徴とする請求項
    １２乃至１５のうちいずれか１項記載のＸ線平面検出器
    のパラメータ調整装置。
21. 【請求項２１】 請求項１６又は１７記載の寿命判定手
    段を通信手段を介して接続されたサービスセンタ内の端
    末装置に備えたことを特徴とするＸ線平面検出器のパラ
    メータ調整装置。
22. 【請求項２２】 前記動作パラメータ、前記オフセット
    補正係数、前記ゲイン補正係数、前記欠陥部の位置情
    報、又は前記位置情報の基準値を通信手段を介して設定
    又は変更するもので、前記Ｘ線平面検出器とは別に設置
    されたサービスセンタ内の端末装置を備えたことを特徴
    とする請求項１２乃至１５のうちいずれか１項記載のＸ
    線平面検出器のパラメータ調整装置。
23. 【請求項２３】 前記動作パラメータ、前記オフセット
    補正係数、前記ゲイン補正係数及び前記欠陥部の位置情
    報をバックアップ用メモリに格納し、かつ前記Ｘ線平面
    検出器のインタフェースが交換された場合、新たな前記
    インタフェースに対してバックアップ用メモリに格納さ
    れている前記動作パラメータ、前記オフセット補正係
    数、前記ゲイン補正係数及び前記欠陥部の位置情報を与
    えるシステム制御手段を備えたことを特徴とする請求項
    １２乃至１５のうちいずれか１項記載のＸ線平面検出器
    のパラメータ調整装置。
24. 【請求項２４】 請求項１２乃至２３のうちいずれか１
    項記載のＸ線平面検出器のパラメータ調整装置を備えた
    ことを特徴とするＸ線診断装置。