JP2005205221A - 画像撮影装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】高エネルギー光子(2)による高エネルギー画像(11)の撮影に用いられる検出器(3)と、画像撮影装置の状態を記述するシステムパラメータを検出する評価ユニット(8)とを備え、評価ユニット(8)は、画像処理プロセス(17,18,22,26)において使用可能な補正画像の作成と関連してシステムパラメータ(19,23)の現在値を検出し、このシステムパラメータ(19,23)の時間的動向を監視し、予め定められた限界値を上回る場合に補正画像(17,18,26)の新たな作成を要求する。
【選択図】図3
Description
更に、最後のオフセット取得から経過した時間を監視することは有意義である。このようにして、長い時間の間、欠陥のあるオフセット画像が使用されないことが保証されている。
(1)評価ユニットは、較正の実行と関連して基準システムデータを検出し、その後に現在の比較システムデータを取得し、比較システムデータが基準システムデータから予め定められた基準だけずれている場合に新たな較正を要求する。
画像撮影装置は低エネルギー光子のための光源を有し、評価ユニットはこの光源を用いて撮影された低エネルギー画像を基準システムデータおよび比較システムデータとして使用する。
(2)評価ユニットは基準低エネルギー画像および比較低エネルギー画像から商画像を算出する。
評価ユニットは、商画像の平均値が予め定められた限界値を上回る場合に新たな較正を要求する。
評価ユニットは、商画像内のノイズが予め定められた基準を上回る場合に新たな較正を要求する。
評価ユニットは、商画像の異なる範囲が予め定められた基準だけ異なる場合に新たな較正を要求する。
(3)評価ユニットは、較正と関連して基準欠陥画像を検出し、その後に現在の比較欠陥画像を取得し、比較欠陥画像が基準欠陥画像から予め定められた基準だけずれている場合に新たな較正を要求する。
(4)評価ユニットは、較正と関連して検出器の基準温度を検出し、その後に検出器の現在の比較温度を取得し、現在の比較温度が基準温度から予め定められた基準だけずれている場合に新たな較正を要求する。
(5)評価ユニットは、オフセット画像の撮影と関連して基準システムデータを検出し、その後に現在の比較システムデータが基準システムデータから予め定められた基準だけずれている場合に新たなオフセット画像の撮影を指示する。
基準システムデータおよび比較システムデータは検出器の温度値である。
基準システムデータおよび比較システムデータは画像撮影装置のシステム時間の値である。
基準システムデータおよび比較システムデータは高エネルギー画像の暗範囲におけるオフセット補正された高エネルギー画像の値である。
画像処理ユニットは高エネルギー画像の補正のためにオフセット画像の線形結合を使用する。
図1は部分的に破断された間接変換式の平面形画像検出器を有する画像撮影装置の斜視図、
図2は図1の画像撮影装置の横断面図、
図3は平面形画像検出器の較正の監視の際に行なわれる動作ステップを示す流れ図、
図4はオフセット取得の監視時に行なわれる動作ステップを示す流れ図である。
2 X線
3 平面形画像検出器
4 シンチレータ
5 能動マトリックス
6 ホトダイオード
7 能動スイッチング素子
8 評価ユニット
9 アドレス線
10 データ線
11 X線画像
12 ハウジング
13 プリント回路基板
14 リセット光源
15 光
16 現在の較正
17 ゲイン画像
18 欠陥画像
19 基準システムデータ
20 比較システムデータ
21 演算ユニット
22 オフセット画像
23 基準システムデータ
24 演算ユニット
25 比較システムデータ
26 オフセット画像
Claims (14)
- 高エネルギー光子(2)による高エネルギー画像(11)の撮影に用いられる検出器(3)と、画像撮影装置の状態を記述するシステムパラメータを検出する評価ユニット(8)とを有する画像撮影装置において、
評価ユニット(8)は、画像処理プロセス(17,18,22,26)において使用可能な補正画像の作成と関連してシステムパラメータ(19,23)の現在値を検出し、このシステムパラメータ(19,23)の時間的動向を監視し、予め定められた限界値を上回る場合に補正画像(17,18,26)の新たな作成を要求することを特徴とする画像撮影装置。 - 評価ユニット(8)は、較正(16)の実行と関連して基準システムデータ(19)を検出し、その後に現在の比較システムデータ(20)を取得し、比較システムデータ(20)が基準システムデータ(19)から予め定められた基準だけずれている場合に新たな較正(16)を要求することを特徴とする請求項1記載の画像撮影装置。
- 画像撮影装置は低エネルギー光子(15)のための光源(14)を有し、評価ユニット(8)はこの光源(14)を用いて撮影された低エネルギー画像を基準システムデータ(19)および比較システムデータ(20)として使用することを特徴とする請求項2記載の画像撮影装置。
- 評価ユニット(8)は基準低エネルギー画像(19)および比較低エネルギー画像(20)から商画像を算出することを特徴とする請求項3記載の画像撮影装置。
- 評価ユニット(8)は、商画像の平均値が予め定められた限界値を上回る場合に新たな較正(16)を要求することを特徴とする請求項4記載の画像撮影装置。
- 評価ユニット(8)は、商画像内のノイズが予め定められた基準を上回る場合に新たな較正(16)を要求することを特徴とする請求項4記載の画像撮影装置。
- 評価ユニット(8)は、商画像の異なる範囲が予め定められた基準だけ異なる場合に新たな較正(16)を要求することを特徴とする請求項4記載の画像撮影装置。
- 評価ユニット(8)は、較正(16)と関連して基準欠陥画像(19)を検出し、その後に現在の比較欠陥画像(20)を取得し、比較欠陥画像(20)が基準欠陥画像(19)から予め定められた基準だけずれている場合に新たな較正(16)を要求することを特徴とする請求項1乃至7の1つに記載の画像撮影装置。
- 評価ユニット(8)は、較正(16)と関連して検出器(3)の基準温度(19)を検出し、その後に検出器(3)の現在の比較温度(20)を取得し、現在の比較温度(20)が基準温度(19)から予め定められた基準だけずれている場合に新たな較正(16)を要求することを特徴とする請求項1乃至8の1つに記載の画像撮影装置。
- 評価ユニット(8)は、オフセット画像(22,26)の撮影と関連して基準システムデータ(23)を検出し、その後に現在の比較システムデータ(25)が基準システムデータ(23)から予め定められた基準だけずれている場合に新たなオフセット画像(22,26)の撮影を指示することを特徴とする請求項1乃至9の1つに記載の画像撮影装置。
- 基準システムデータ(23)および比較システムデータ(25)は検出器(3)の温度値であることを特徴とする請求項10記載の画像撮影装置。
- 基準システムデータ(23)および比較システムデータ(25)は画像撮影装置のシステム時間の値であることを特徴とする請求項10記載の画像撮影装置。
- 基準システムデータ(23)および比較システムデータ(25)は高エネルギー画像(11)の暗範囲におけるオフセット補正された高エネルギー画像の値であることを特徴とする請求項10記載の画像撮影装置。
- 画像処理ユニットは高エネルギー画像(11)の補正のためにオフセット画像(22,26)の線形結合を使用することを特徴とする請求項10乃至13の1つに記載の画像撮影装置。
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