JP4734365B2 - X線平面検出器のパラメータ調整方法及び装置、x線診断装置 - Google Patents
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Description
動作パラメータ設定手段20は、各積分アンプ16−1〜16−4における最適な容量値と、各アンプ17−1〜17−4の最適なゲインとが予め格納されており、読み出し制御手段15からの収集モードの設定の切り替えによって各積分アンプ16−1〜16−4の容量値と各アンプ17−1〜17−4のゲインとを最適な値に切り替える。
X線検出器I/F5には、X線平面検出器2のオフセット成分を補正するための加算器21が設けられている。この加算器21の出力端子には、ゲインのばらつきを補正するための乗算器22が接続され、さらにこの乗算器22の出力端子に欠陥点補正手段23が接続されている。
このうち加算器21の「−」入力端子には、オフセット補正係数テーブル24が接続されている。オフセット補正係数計算手段25は、検出器本体11から出力されるX線画像を入力し、このX線画像から各画素毎のオフセット成分であるオフセット補正係数を求めてオフセット補正係数テーブル24に記憶する。
欠陥点補正手段23は、乗算器22から出力されるオフセット補正処理及びゲイン補正処理されたX線画像における欠陥点を欠陥点位置情報テーブル28に記憶されている欠陥点位置情報に基づいて認識し、この欠陥点の近傍の欠陥でない画素の平均値を求め、この画素の平均値で欠陥点を置き換える欠陥点補正処理を行なう。
X線透視スイッチがオン(ON)されると、システム制御手段8は、X線透視スイッチのオンを認識し、X線平面検出器2に対して動作開始の指令を発し、続いてX線発生制御手段4を制御してX線管球1からX線を曝射させる。
X線管球1から曝射されたX線は、被写体3を透過してX線平面検出器2に入射する。
X線平面検出器2は、予め設定された時間によりX線の発生終了を見計らって複数の画素容量12に蓄積された各電荷を読み出す。すなわち、図7に示すようにX線平面検出器2では、ゲートドライバ14から図8に示すように各ゲート線#1〜#4を介して各ゲート信号が出力されると、各画素容量12に蓄積された各電荷が逐次各TFT13のソース電極を通して読み出される。
X線平面検出器2から出力されたX線画像は、図6に示すようにX線検出器I/F5において、加算器21によりオフセット補正係数が引き算されてオフセット補正処理が行われ、次に、乗算器22によりオフセット補正処理されたX線画像信号に対してゲイン補正係数が乗算されてゲイン補正処理される。
この場合、オフセット補正係数及びゲイン補正係数は、透視や撮影などの線量や収集レートの異なる収集モードに応じて最適な値が予め設定される。
オフセット補正処理及びゲイン補正処理されたX線画像は、欠陥点補正手段23に送られる。この欠陥点補正手段23は、X線画像から欠陥点の近傍の欠陥でない画素の平均値を求め、この画素の平均値で欠陥点を置き換える欠陥点補正処理を行なう。
そして、画像処理手段6は、X線平面検出器2から出力されたX線画像信号を入力し、このX線画像をTVモニタなどの画像表示手段7に表示する。
以上の動作が繰り返し行われることにより、画像表示手段7には透視動画像が表示される。
これら動作パラメータ、オフセット補正係数、ゲイン補正係数及び欠陥点位置情報の設定手順は、サービスマンのマニュアル操作によって次の通り行われる。
先ず、各収集モード毎に規定されたX線量のX線をX線管球1から曝射し、X線平面検出器2に入射させる。X線平面検出器2から出力されるX線画像にオフセット成分やゲインのばらつきが含んでも飽和しないようにX線平面検出器2の動作パラメータが設定される。
このとき、オフセット補正処理、ゲイン補正処理は、オフされる。この作業が各収集モード毎に繰り返し行われて、全ての収集モード毎の各動作パラメータが設定される。
次に、X線管球1からX線の曝射を行なわない状態に、オフセット補正係数計算手段25は、X線平面検出器2から出力されるX線画像を複数の画像枚数分入力し、これらX線画像の平均値を求めてこれをオフセット補正係数とし、オフセット補正係数テーブル24に格納する。このとき、検出器本体11における動作パラメータは、動作パラメータ設定手段20によって各収集モード毎に設定される。
次に、X線管球1から平面的に一様な入射条件でX線の曝射を行なう。欠陥点位置情報計算手段29は、オフセット補正処理及びゲイン補正処理の行われたX線画像を入力し、このX線画像において出力画素値を調べ、オフセット補正処理及びゲイン補正処理で補正できない画素を欠陥点として認識し、この欠陥点の位置を示す欠陥点位置情報を欠陥点位置情報テーブル28に格納する。
なお、これら動作パラメータ、オフセット補正係数、ゲイン補正係数及び欠陥点位置情報は、装置電源がオフされても消去されない記憶媒体、例えば磁気ディスクやフラッシュメモリなどに形成された各テーブル24、26、28に格納される。
図1乃至図3は本発明に係るX線平面検出器2のパラメータ調整装置を用いたX線診断装置の構成図であって、図1は全体構成図、図2はX線平面検出器2の構成図、図3は積分アンプ16−1〜16−4及びアンプ17−1〜17−4の構成図である。
システム制御手段30は、X線平面検出器2における各積分アンプ16−1〜16−4及び各アンプ17−1〜17−4の動作パラメータの調整時に、この動作パラメータの設定範囲と、X線平面検出器2から出力されるX線画像の期待される画素値の各基準レベルの上限値及び下限値と、X線画像の収集タイミング(X線の曝射タイミング)とを各収集モード(透視、撮影などでの低線量透視モード、通常線量透視モードなど)ごとに、X線検出器I/F5に設けられた後述する読み出し制御手段31に与える機能を有する。
上記システム制御手段30は、オフセット補正処理及びゲイン補正処理においてそれぞれ期待される画素値の各基準レベルの上限値及び下限値と、X線の曝射タイミングとを各収集モード毎に、X線検出器I/F5に設けられた読み出し制御手段31に与える機能を有する。
又、システム制御手段30は、オフセット補正係数を算出した後、ゲイン補正係数計算手段27にゲイン補正処理で期待される画素値の基準レベルの上限値及び下限値を設定すると共に、ゲイン補正係数計算手段27を動作させてゲイン補正係数を自動的に算出させる機能を有する。
又、システム制御手段30は、ゲイン補正係数を算出した後、欠陥点位置情報計算手段29を動作させてオフセット補正処理及びゲイン補正処理で補正できない画素を欠陥点として認識させてその欠陥点位置情報を自動的に求めさせる機能を有する。
又、システム制御手段30には、バックアップ用メモリ30aが設けられている。システム制御手段30は、後述する動作パラメータ書込み読出し制御手段35との間でデータ授受を行ない、動作パラメータ書込み読出し制御手段35により読み出された動作パラメータ設定手段36の動作パラメータ、オフセット補正係数テーブル24に格納されているオフセット補正係数、ゲイン補正係数テーブル26に格納されているゲイン補正係数、及び欠陥点位置情報テーブル28に格納されている欠陥点位置情報をバックアップ用メモリ30aに格納する機能を有する。
読み出し制御手段31は、システム制御手段30から与えられた動作パラメータを図3に示す動作パラメータ設定手段36に対して設定する機能を有する。
又、読み出し制御手段31は、後述する画素値レベル判断手段32から画素値レベルの判断結果を受け、X線平面検出器2から出力されたX線画像の画素値が基準レベルの下限値に達していなければ、図3に示す動作パラメータ設定手段36に対して各積分アンプ16−1〜16−4及び各アンプ17−1〜17−4でのゲイン値を上げる設定指令を発してシステム制御手段30にX線曝射の要求を行い、かつX線画像の画素値が基準レベルの上限値以上であれば、動作パラメータ設定手段36に対して各積分アンプ16−1〜16−4及び各アンプ17−1〜17−4でのゲイン値を下げる設定指令を発してシステム制御手段30にX線曝射の要求を行なう機能を有する。
画素値レベル判断手段32は、X線平面検出器2から出力されたX線画像を加算器21、乗算器22及び欠陥点補正手段23をバイパスして入力し、画素値が基準レベルの上限値及び下限値の範囲内にあるか否かを判断し、その判断結果を読み出し制御手段31に与える機能を有する。
寿命判定手段33は、動作パラメータ設定手段36により決定された前記動作パラメータとこの動作パラメータの調整時期の情報とを経時的変化データとして蓄積し、これら経時的変化データから経時的推移からX線平面検出器2の寿命を自動的に推し量り、例えば経時的推移値が予め設定された推移値の下限値に達すると、X線平面検出器2の寿命と判断してその旨を通知する機能を有する。
又、寿命判定手段33は、オフセット補正係数計算手段25で計算されたオフセット補正係数と、ゲイン補正係数計算手段27で計算されたゲイン補正係数と、欠陥点位置情報計算手段29により求められた欠陥部の位置情報とをそれぞれ入力し、これら係数及び位置情報と予め基準データメモリ34に記憶されている各基準データとをそれぞれ比較し、各係数及び位置情報と各基準データとの各差が予め設定された各レベル以上であれば、X線平面検出器2の寿命である旨をシステム制御手段30に通知する機能を有する。
なお、寿命を推し量る基準データは、オフセット補正係数であれば、例えばオフセット分布の平均値と標準偏差であり、ゲイン補正係数でも例えばゲイン分布の平均値と標準偏差である。欠陥点であれば、例えば欠陥点の数や各欠陥点の大きさなどである。これら基準データは、例えばX線平面検出器2の出荷時のデータを格納しておけばよい。
上記システム制御手段30には、電話回線37を介してサービスセンタ内の端末装置38に接続されている。この端末装置38は、システム制御手段30との間で電話回線37を介してデータ授受を行ない、バックアップ用メモリ30aに格納されている動作パラメータ設定手段36の動作パラメータ、オフセット補正係数テーブル24に格納されているオフセット補正係数、ゲイン補正係数テーブル26に格納されているゲイン補正係数、及び欠陥点位置情報テーブル28に格納されている欠陥点位置情報を受け取り、これら動作パラメータ、オフセット補正係数、ゲイン補正係数及び欠陥点位置情報を例えば補助記憶装置に格納する機能を有する。
又、端末装置38は、システム制御手段30との間で電話回線37を介してデータ授受を行ない、寿命判定手段33により求められた経時的変化データと、X線平面検出器2が寿命であることの判断結果の旨の通知とを受け取り、これらデータを例えば補助記憶装置に格納する機能を有する。
先ず、X線平面検出器2のおける各積分アンプ16−1〜16−4及び各アンプ17−1〜17−4の動作パラメータ、すなわち各積分アンプ16−1〜16−4における最適な容量値と、各アンプ17−1〜17−4の最適なゲイン値とが調整される。
このときシステム制御手段30は、各収集モードに対する各動作パラメータの設定範囲と、期待される画素値の各基準レベルの上限値及び下限値と、X線画像の収集タイミングとをX線平面検出器2のX線検出器I/F5に与える。
このX線検出器I/F5における読み出し制御手段31は、システム制御手段30から与えられた動作パラメータを図3に示す動作パラメータ設定手段36に対して設定する。
X線の曝射タイミングに応じてX線管球1から曝射されたX線は、被写体3を透過してX線平面検出器2に入射する。
このX線平面検出器2は、X線画像の収集タイミングに応じて複数の画素容量12に蓄積された各電荷を読み出す。すなわち、図6に示すようにX線平面検出器2は、ゲートドライバ14から図7に示すように各ゲート線#1〜#4を介して各ゲート信号が出力されると、各画素容量12に蓄積された各電荷が逐次各TFT13のソース電極を通して読み出される。
これら画素容量12から読み出された電荷は、図6に示すように各積分アンプ16−1〜16−4によって増幅され、さらに各アンプ17−1〜17−4によって増幅された後、マルチプレクサ18を通して1画素単位に選択され、次にA/Dコンバータ19によりデジタル値に変換されて出力される。
画素値レベル判断手段32は、X線平面検出器2から出力されたX線画像を取り込み、画素値が基準レベルの上限値及び下限値の範囲内にあるか否かを判断し、その判断結果を読み出し制御手段31に与える。
この読み出し制御手段31は、画素値レベル判断手段32から画素値レベルの判断結果を受け、X線平面検出器2から出力されたX線画像の画素値が基準レベルの下限値に達していなければ、図3に示す動作パラメータ設定手段36に対して各積分アンプ16−1〜16−4及び各アンプ17−1〜17−4でのゲイン値を上げる設定指令を発し、かつシステム制御手段30に対してX線曝射の要求を行う。
この設定指令を受けて動作パラメータ設定手段36は、各積分アンプ16−1〜16−4における容量値と各アンプ17−1〜17−4のゲインとを再度セットする。
この設定指令を受けて動作パラメータ設定手段36は、各積分アンプ16−1〜16−4における容量値と各アンプ17−1〜17−4のゲインとを再度セットする。
このようにX線画像の画素値が基準レベルの上限値と下限値との範囲内に入るように各アンプ17−1〜17−4のゲイン値が調整され、最終的に各収集モードに応じた最適な各積分アンプ16−1〜16−4の容量値と各アンプ17−1〜17−4のゲインとが自動的に決定される。
このシステム制御手段30は、画素値レベル判断手段32からX線画像の画素値が動作パラメータの設定範囲内で要求される下限値に達していないことの旨を受け取ると、X線平面検出器2の寿命の旨をユーザに報知すると共に、電話回線37を介してサービスセンタ内の端末装置38にX線画像の画素値が動作パラメータの設定範囲内で要求される下限値に達していないことの旨、すなわちX線平面検出器2の寿命の旨を通知する。
サービスセンタ内の端末装置38は、システム制御手段30からの通知を電話回線37を介して受け取り、この通知の内容すなわち画素値レベル判断手段32による画素値が基準レベルの上限値及び下限値の範囲内にあるか否かの判断結果と、X線画像の画素値が動作パラメータの設定範囲内で要求される下限値に達していない旨すなわちX線平面検出器2の寿命の旨を受け取り、これらデータを例えば補助記憶装置に格納する。
そして、寿命判定手段34は、蓄積した経時的変化データの経時的推移からX線平面検出器2の寿命を自動的に推し量り、例えば経時的推移値が予め設定された推移値の下限値に達すると、X線平面検出器2の寿命と判断してその旨を例えばシステム制御手段30に通知する。
このシステム制御手段30は、寿命判定手段33により求められた経時的変化データと、X線平面検出器2が寿命であることの判断結果の旨とを電話回線37を介してサービスセンタ内の端末装置38に通知する。
すなわち、X線を曝射しない状態で、X線平面検出器2はX線画像を出力する。オフセット補正係数計算手段25は、X線平面検出器2から出力されるX線画像を複数の画像枚数分入力し、これらX線画像の平均値を求めてこれをオフセット補正係数とし、オフセット補正係数テーブル24に格納する。このとき、オフセット補正係数は、各収集モード毎に設定される。
そして、オフセット補正係数計算手段25は、オフセット補正係数のキュリブレーションが終了すると、その旨をシステム制御手段30に通知する。
すなわち、ゲイン補正係数計算手段27には、ゲイン補正処理で期待される画素値の基準レベルの上限値及び下限値が設定される。
X線平面検出器2において各画素容量12から読み出された電荷は、図3に示すように最適な容量値に設定された各積分アンプ16−1〜16−4によって増幅され、さらに最適なゲインに設定された各アンプ17−1〜17−4によって増幅された後、マルチプレクサ18を通して1画素単位に選択され、次にA/Dコンバータ19によりデジタル値に変換されてX線画像として出力される。
このX線画像は、加算器21によりオフセット補正係数が引き算されてオフセット補正処理が行われる。
そして、ゲイン補正係数計算手段27は、ゲイン補正係数のキュリブレーションが終了すると、その旨をシステム制御手段30に通知する。
すなわち、X線管球1は、X線の曝射タイミングに応じてX線を曝射する。検出器本体11において各画素容量12から読み出された電荷は、上記同様に最適な動作パラメータに設定された各積分アンプ16−1〜16−4及び各アンプ17−1〜17−4によって増幅された後、マルチプレクサ18を通して1画素単位に選択され、次にA/Dコンバータ19によりデジタル値に変換されてX線画像として出力される。
欠陥点位置情報計算手段29は、オフセット補正処理及びゲイン補正処理の行われたX線画像を入力し、このX線画像において出力画素値を調べ、オフセット補正処理及びゲイン補正処理で補正できない画素を欠陥点として認識し、この欠陥点の位置を示す欠陥点位置情報を欠陥点位置情報テーブル28に格納する。
又、寿命判定手段34は、オフセット補正係数計算手段25で計算されたオフセット補正係数と、ゲイン補正係数計算手段27で計算されたゲイン補正係数と、欠陥点位置情報計算手段29により求められた欠陥部の位置情報とをそれぞれ入力し、これら係数及び位置情報と予め基準データメモリ35に記憶されている各基準データとをそれぞれ比較し、各係数及び位置情報と各基準データとの各差が予め設定された各レベル以上であれば、X線平面検出器2の寿命と判断してその旨をシステム制御手段30に通知する。
又、システム制御手段30は、バックアップ用メモリ30aにバックアップしている動作パラメータやオフセット補正係数、ゲイン補正係数、欠陥点位置情報を読み出し、これらデータを電話回線37を介してサービスセンタ内の端末装置38に送信する。
又、X線平面検出器2のオフセット成分を補正するためのオフセット補正係数や、ゲイン補正係数、欠陥点の位置情報を自動的に決定するので、これら係数などにおいてもサービスマンがマニュアルでかつ試行錯誤を繰り返すことなく、自動的に多数の収集モードに応じた最適なオフセット補正係数や、ゲイン補正係数、欠陥点の位置情報に決定できる。
欠陥部の位置情報からその欠陥点の増加を判定すれば、欠陥点の増加による診断能の低下を判定することができる。
さらに、サービスセンタ内の端末装置38において、X線平面検出器2の動作パラメータの経時的変化データや寿命であることの判断結果などを受け取って記憶するので、X線平面検出器2が据え付けられている現地に赴かなくてもサービスセンタ側で、X線平面検出器2の状態を常に監視でき、X線平面検出器2に対する定期検査のデータとして用いることができ、さらにX線平面検出器2の寿命の判定もできる。
図4はX線診断装置におけるX線平面検出器2、X線検出器I/F5及びシステム制御手段30の構成図である。なお、X線診断装置の全体構成図は、図1を援用する。
システム制御手段30には、上記第1の実施の形態のX線検出器I/F5に備えられていた画素値レベル判断手段32、寿命判定手段34及び基準データメモリ35が設けられている。
又、画素値レベル判断手段32は、X線平面検出器2から出力されたX線画像の画素値が動作パラメータの設定範囲内で要求される下限値に達していない場合、この旨をシステム制御手段30に通知する。
又、寿命判定手段33は、オフセット補正係数計算手段25で計算されたオフセット補正係数と、ゲイン補正係数計算手段27で計算されたゲイン補正係数と、欠陥点位置情報計算手段29により求められた欠陥部の位置情報とをそれぞれ入力し、これら係数及び位置情報と予め基準データメモリ34に記憶されている各基準データとをそれぞれ比較し、各係数及び位置情報と各基準データとの各差が予め設定された各レベル以上であれば、X線平面検出器2の寿命である旨をシステム制御手段30に通知する。
又、システム制御手段30は、バックアップ用メモリ30aにバックアップしている動作パラメータやオフセット補正係数、ゲイン補正係数、欠陥点位置情報を読み出し、これらデータを電話回線37を介してサービスセンタ内の端末装置38に送信する。
又、システム制御手段30において動作パラメータとこの動作パラメータの調整時期の情報とを経時的変化データとして蓄積でき、ユーザによりX線平面検出器2の動作パラメータの経時的変化を監視できる。
例えば、バックアップ用メモリ30aは、システム制御手段30に設けられているが、これに限らず、サービスセンタ内の端末装置38に接続してもよい。
又、システム制御手段30とサービスセンタ内の端末装置38との間のデータ授受は、電話回線を介して行なっているが、これに限らず、各種通信手段例えば無線通信や電力線を介して行なってもよい。
Claims (11)
- 複数の画素容量を2次元平面上で縦横方向に配列して成るX線平面検出器の前記各画素容量から読み出される各電荷を増幅する各積分アンプの各容量値と、前記各積分アンプの出力を増幅する各アンプのゲインとを有する動作パラメータを調整するX線平面検出器のパラメータ調整方法において、
予め設定されたX線入射条件でX線を曝射した際に、前記X線平面検出器から出力される画素値として期待される期待値の基準レベルの範囲及びX線画像の収集タイミングを与える工程と、
前記予め設定されたX線入射条件で前記X線を曝射したときに前記収集タイミングで前記X線平面検出器から出力される画素値を収集し、この画素値が前記期待値の前記基準レベルの範囲内にあるか否かを判断し、この判断結果に基づいて前記動作パラメータを前記期待値の前記基準レベルの前記範囲内に自動的に決定する工程と、
前記決定された動作パラメータと当該動作パラメータの調整時期の情報とを経時的変化データとして蓄積し、これら経時的変化データの経時的推移から前記X線平面検出器の寿命を自動的に推し量る工程と、
を有することを特徴とするX線平面検出器のパラメータ調整方法。 - 前記動作パラメータの決定後、前記X線を曝射しない状態で、前記X線平面検出器から出力される画素値から所定枚数のオフセット画像を収集し、これらオフセット画像の平均画像を求め、この平均画像を前記X線平面検出器のオフセット成分を補正するためのオフセット補正係数として自動設定する工程と、
前記オフセット補正係数の設定終了後、前記X線を曝射したときに前記X線平面検出器から出力されるX線画像を収集してオフセット補正処理を施し、このオフセット補正処理されたX線画像の画素値を前記X線平面検出器から出力されるべき画素値になるようにゲイン補正係数を自動設定する工程と、
前記ゲイン補正係数の設定終了後、前記X線を曝射したときに前記X線平面検出器から出力されるX線画像を収集してオフセット補正処理及びゲイン補正処理を施し、これら補正処理されたX線画像における欠陥点を認識し、この欠陥点の位置情報を自動的に求める工程と、
を有することを特徴とする請求項1記載のX線平面検出器のパラメータ調整方法。 - 前記オフセット補正係数、前記ゲイン補正係数及び前記欠陥部の位置情報と、これら補正係数及び位置情報の各基準値とを比較し、この比較結果に基づいて前記X線平面検出器の寿命を自動的に推し量ることを特徴とする請求項2記載のX線平面検出器のパラメータ調整方法。
- 前記動作パラメータ、前記オフセット補正係数、前記ゲイン補正係数及び前記欠陥部の位置情報は、前記X線画像データの各収集モード毎に設定することを特徴とする請求項2記載のX線平面検出器のパラメータ調整方法。
- 前記X線平面検出器の寿命の推量は、前記X線平面検出器とは別に設置されたサービスセンタにおいて通信手段を介して行なうことを特徴とする請求項1記載のX線平面検出器のパラメータ調整方法。
- 複数の画素容量を2次元平面上で縦横方向に配列して成るX線平面検出器の前記各画素容量から読み出される各電荷を増幅する各積分アンプの各容量値と、前記各積分アンプの出力を増幅する各アンプのゲインとを有する動作パラメータを調整するX線平面検出器のパラメータ調整装置において、
予め設定されたX線入射条件でX線を曝射した際に、前記X線平面検出器から出力される画素値として期待される期待値の基準レベルの範囲及びX線画像の収集タイミングを与える第1の手段と、
前記予め設定されたX線入射条件で前記X線を曝射したときに前記収集タイミングで前記X線平面検出器から出力される画素値を収集し、この画素値が前記期待値の前記基準レベルの範囲内にあるか否かを判断し、この判断結果に基づいて前記動作パラメータを前記期待値の前記基準レベルの前記範囲内に自動的に決定する第2の手段と、
前記決定された動作パラメータと当該動作パラメータの調整時期の情報とを経時的変化データとして蓄積し、これら経時的変化データから経時的推移から寿命を自動的に推し量る寿命判定手段と、
を具備したことを特徴とするX線平面検出器のパラメータ調整装置。 - 前記第2の手段は、前記動作パラメータの決定後、前記X線を曝射しない状態に、前記X線平面検出器から出力される画素値から所定枚数のオフセット画像データを収集し、これらオフセット画像データの平均画像データを求め、前記平均画像データを前記X線平面検出器のオフセット成分を補正するためのオフセット補正係数を自動設定し、
前記オフセット補正係数の設定終了後、前記X線を曝射したときに前記X線平面検出器から出力され、オフセット補正処理が施されたX線画像の画素値を、前記X線平面検出器から出力されるべき画素値になるようにゲイン補正係数を自動設定し、
前記ゲイン補正係数の設定終了後、前記X線を曝射したときに前記X線平面検出器から出力され、オフセット補正処理及びゲイン補正処理が施されたX線画像における欠陥点を認識し、この欠陥点の位置情報を自動的に求める、
ことを特徴とする請求項6記載のX線平面検出器のパラメータ調整装置。 - 前記寿命判定手段は、前記オフセット補正係数、前記ゲイン補正係数及び前記欠陥部の位置情報と、これら補正係数及び位置情報の各基準値とを比較し、この比較結果に基づいて寿命を自動的に推し量ることを特徴とする請求項6記載のX線平面検出器のパラメータ調整装置。
- 前記第2の手段は、前記動作パラメータ、前記オフセット補正係数、前記ゲイン補正係数及び前記欠陥部の位置情報を、前記X線画像の各収集モード毎に設定することを特徴とする請求項7記載のX線平面検出器のパラメータ調整装置。
- 前記寿命判定手段を通信手段を介して接続されたサービスセンタ内の端末装置に備えたことを特徴とする請求項6記載のX線平面検出器のパラメータ調整装置。
- 請求項6乃至10のうちいずれか1項記載のX線平面検出器のパラメータ調整装置を備えたことを特徴とするX線診断装置。
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