JP2000253318A - 固体撮像素子の欠陥画素検出装置、欠陥画素補正装置およびビデオカメラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 視覚的に目立つ位置の欠陥画素を確実に検出
して補正できるようにする。 【解決手段】 最初の撮像画面の全体を検出領域Ａ₁と
して欠陥画素を検出して計数し、その欠陥画素数が、メ
モリに記憶可能な所定数を越えるときには、画面の中央
側へ検出領域Ａ₂を小さくして再び欠陥画素を検出して
計数し、欠陥画素数が所定数以下になるまで検出領域を
小さくしていき、画面の中央部の欠陥画素は優先的に検
出されて補正されるようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばＣＣＤ固体
撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出装置および
それを用いて欠陥画素からの撮像信号を補正する欠陥画
素補正装置並びにそれを用いたビデオカメラに関する。

【０００２】

【従来の技術】ＣＣＤ等の半導体で形成した固体撮像素
子では、半導体の局部的な結晶欠陥等によって感度が低
下する欠陥画素が生じることがあり、このような場合、
その欠陥画素の撮像出力に起因する画質劣化、いわゆる
白傷や黒傷が生じることが知られている。なお、黒傷と
は、ある光量を入光しても画素で光電変換されずに、画
面上に黒い点として出てくる現象をいい、逆に白傷と
は、光量には反応せずに、あるレベルを持った白い点と
して出てくる現象をいう。

【０００３】そこで、近年、固体撮像素子をビデオカメ
ラなどに組み込んだ状態で、欠陥画素を検出してこれを
補正する欠陥検出補正システムが提案されている。この
種の欠陥検出補正システムでは、１画面内を検出走査す
る際に、画面の端から順に欠陥画素を検出してその画素
についての欠陥データをメモリに順次記憶するようにし
ている。この欠陥検出時に記憶する欠陥データは、欠陥
画素の絶対位置を特定するアドレスデータもしくはこれ
に欠陥レベルの大きさを示すレベルデータを加えたもの
である。

【０００４】したがって、この欠陥検出補正システム
を、実際にビデオカメラなどの機器に搭載する場合に
は、前記欠陥データを記憶できるデータ量は、メモリの
記憶容量によって制限されることになる。

【０００５】この欠陥検出補正システムでは、欠陥検出
を画面内の初めのラインから順次検査し、欠陥画素を検
出した場合にその欠陥データをリアルタイムでメモリに
記憶し、１フレームの走査を終了するようにしていたの
で、仮に、存在する欠陥画素数がメモリの記憶容量を越
えている場合には、それ以降検出した欠陥画素について
の欠陥データを記憶できず、例えば、画面の前半部分し
か欠陥補正を行えないといった難点がある。

【０００６】そこで、限られた記憶容量のメモリを有効
に用いて画面全体に亘って欠陥画素の検出および補正を
行う技術として、例えば、特開平６−３１５１１２号公
報あるいは特開平７−５９０１１号公報がある。

【０００７】特開平６−３１５１１２号公報は、固体撮
像素子の撮像出力レベルと所定の検出レベルとを比較し
て欠陥画素を検出する際に、検出した欠陥画素数が、メ
モリの記憶容量に対応する記憶許容数を越えたときに
は、前記所定の検出レベルをそれまでよりも高く設定す
ることによって欠陥検出感度を下げ、再検出を欠陥画素
数が記憶許容数に収まるまで繰り返すものであり、これ
によって、メモリの記憶容量を最大限に活用して画面全
体に亘って欠陥画素を検出して補正するものである。

【０００８】また、特開平７−５９０１１号公報は、欠
陥画素を検出してメモリの記憶容量に対応する記憶許容
数の欠陥画素が記憶された後は、検出した欠陥画素の欠
陥レベルとメモリに記憶されている欠陥画素の欠陥レベ
ルとを比較し、検出した欠陥画素の欠陥レベルが記憶さ
れている欠陥画素の欠陥レベルよりも大きいと判断した
ときには、欠陥レベルが小さいと判断された欠陥画素に
代えて大きいと判断された欠陥画素をメモリに記憶させ
るものであり、これによって、欠陥レベルの上位レベル
のものからメモリの記憶容量に対応する記憶許容数まで
欠陥画素を検出して補正するものである。

【０００９】しかしながら、前者は、最終的に設定され
た検出レベルを越える欠陥画素を検出して補正するの
で、例えば、画面の周辺部に、前記検出レベルを越える
欠陥画素が比較的多く存在し、画面の中央部に、前記検
出レベルは越えないけれども、中央部であるために目立
つ欠陥画素が存在するような場合には、比較的目立たな
い周辺部の欠陥画素は補正されるのに対して、画面の中
央部の欠陥画素が放置されてしまうという難点がある。

【００１０】また、後者においても、欠陥レベルの上位
レベルのものからメモリの記憶容量に対応する記憶許容
数まで欠陥画素を検出して補正するので、例えば、画面
の周辺部に、欠陥レベルの上位の欠陥画素が比較的多く
存在し、画面の中央部に、前記記憶許容数に対応する欠
陥レベルは越えないけれども、中央部であるために目立
つ欠陥画素が存在するような場合には、比較的目立たな
い周辺部の欠陥画素は補正されるのに対して、画面の中
央部の欠陥画素が放置されてしまうという難点がある。

【００１１】すなわち、従来例では、欠陥レベルが、周
辺部の欠陥画素の欠陥レベルに比べて低い場合には、周
辺部の欠陥画素に比べて目立つにも拘わらず、補正され
ることなく、放置される一方、比較的目立たない周辺部
の欠陥画素を優先して補正してしまうという難点があ
る。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述の技術
的課題に鑑みて為されたものであって、限られたメモリ
容量を有効に用いて視覚的に目立つ位置の欠陥画素を、
確実に検出できるようにし、さらには、それを補正でき
るようにすることを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明では、上述の目的
を達成するために、次のように構成している。

【００１４】すなわち、本発明の固体撮像素子の欠陥画
素検出装置は、検出領域における欠陥画素を検出してそ
の数を計数し、計数された欠陥画素数が所定数を越えた
ときには、検出領域を小さくして再び欠陥画素の検出お
よびその計数を、欠陥画素数が前記所定数以下になるま
で繰り返すものである。

【００１５】本発明によれば、欠陥画素数が、所定数以
下になるまでは、検出領域が小さくされていくので、例
えば撮像画面の全体から検出領域を徐々に小さくするこ
とにより、視覚的に目立たない周辺部から無視されてい
く、換言すれば、視覚的に目立つ画面の中央部の欠陥画
素が優先的に検出されることになる。

【００１６】

【発明の実施の形態】本発明の請求項１記載の発明は、
検出領域に対応する固体撮像素子の撮像信号のレベルと
所定の検出レベルとを比較して欠陥画素を検出する欠陥
画素検出手段と、前記欠陥画素検出手段で検出された欠
陥画素数を計数する欠陥画素数計数手段と、前記欠陥画
素数計数手段で計数された前記検出領域における欠陥画
素数が所定数を越えたときに、前記検出領域内の領域
を、新たな検出領域として欠陥画素を検出する動作を、
新たな検出領域における欠陥画素数が前記所定数以下に
なるまで繰り返す制御手段とを備えており、この請求項
１記載の発明によれば、欠陥画素数が所定数以下になる
まで検出領域が狭められていくことになり、視覚的に目
立たない周辺部から無視されていく、換言すれば、視覚
的に目立つ画面の内側から優先的に欠陥画素が検出され
ることになる。

【００１７】請求項２記載の発明は、検出領域に対応す
る固体撮像素子の撮像信号のレベルと所定の検出レベル
とを比較して欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
前記欠陥画素検出手段で検出された欠陥画素数を計数す
る欠陥画素数計数手段と、前記欠陥画素数計数手段で計
数された前記検出領域における欠陥画素数が所定数未満
であるときに、前記検出領域を含む領域を、新たな検出
領域として欠陥画素を検出する動作を、新たな検出領域
における欠陥画素数が前記所定数以上になるまで繰り返
す制御手段とを備えており、この請求項２記載の発明に
よれば、欠陥画素数が所定数以上になるまで検出領域を
広げていくことになり、視覚的に目立つ画面の内側から
優先的に欠陥画素が検出されることになる。

【００１８】請求項３記載の発明は、請求項１記載の発
明において、最初の検出領域が、撮像画面全体の領域で
あり、前記検出領域内の領域が、該検出領域の周端部を
除いた領域であり、この請求項３記載の発明によれば、
欠陥画素数が所定数以下になるまで、検出領域を、撮像
画面の全体からその周端部を除いた領域に徐々に狭めて
いくことになり、視覚的に目立たない周辺部から欠陥画
素を無視していく、換言すれば、視覚的に目立つ画面の
中央部から優先的に欠陥画素が検出されることになる。

【００１９】請求項４記載の発明は、請求項２記載の発
明において、最初の検出領域が、撮像画面の中央部の領
域であり、前記検出領域を含む領域が、該検出領域の周
辺部を含む領域であり、この請求項４記載の発明によれ
ば、検出領域を、撮像画面の中央部の領域から徐々に広
めていくことになり、視覚的に目立つ画面の中央部から
優先的に欠陥画素が検出されることになる。

【００２０】請求項５記載の発明は、請求項３または４
記載の発明において、前記制御手段は、前記欠陥画素数
計数手段で計数された欠陥画素数に基づいて、前記周端
部または前記周辺部の大きさを制御するものであり、こ
の請求項５記載の発明によれば、例えば、欠陥画素数が
所定数を大幅に上回っているような場合には、前記周端
部の大きさを大きくして新たな検出領域を大幅に小さく
し、逆に、欠陥画素数が所定数を僅かに上回っているよ
うな場合には、前記周端部の大きさを小さくして新たな
検出領域を小幅に小さくすることにより、欠陥画素数が
所定数以下となる最適な検出領域まで効率的に達するこ
とができる。

【００２１】請求項６記載の発明は、請求項１ないし５
のいずれかに記載の発明において、水平クロック信号お
よび垂直クロック信号に基づいて、固体撮像素子からの
撮像信号をゲートするゲート手段を備え、該ゲート手段
は、前記検出領域以外の領域に対応する撮像信号の前記
欠陥画素検出手段への入力を阻止するものであり、この
請求項６記載の発明によれば、比較的簡単な構成のゲー
ト手段で矩形の検出領域以外の領域に対応する撮像信号
を遮断することができる。

【００２２】請求項７記載の発明は、請求項１ないし６
のいずれかに記載の発明において、前記欠陥画素検出手
段で検出された欠陥画素の位置を示す位置データを記憶
するメモリを備えており、この請求項７記載の発明によ
れば、メモリの位置データによって欠陥画素の位置を特
定できることになる。

【００２３】請求項８記載の発明は、請求項７記載の欠
陥画素検出装置を備えるとともに、前記メモリから読み
出した位置データに対応するタイミングで補正パルスを
発生する補正パルス発生回路と、該補正パルスに応答し
て前記固体撮像素子の撮像信号に対して欠陥補正を行う
欠陥補正回路とを備えるものであり、視覚的に目立つ画
面中央部の欠陥画素を優先的に補正できる。

【００２４】請求項９記載の発明は、請求項８記載の欠
陥画素補正装置を備えるものであり、ビデオカメラにお
いて、視覚的に目立つ画面中央部の欠陥画素を優先的に
補正できる。

【００２５】以下、図面によって本発明の実施の形態に
ついて詳細に説明する。

【００２６】（実施の形態１）図１は、本発明の一つの
実施の形態のブロック図であり、この実施の形態では、
ＣＣＤ固体撮像素子を用いたビデオカメラに適用して白
傷補正を実施する場合について説明する。

【００２７】図示しない被写体は、レンズ１および絞り
２を有する光学系を介してＣＣＤ固体撮像素子３の撮像
面に結像される。タイミングジェネレータ４は、垂直ク
ロック信号や水平クロック信号などの各種のタイミング
信号を発生して、例えばＣＣＤ固体撮像素子３の各画素
（フォトセンサ）からの垂直転送レジスタの信号電荷の
読み出し、垂直転送レジスタによる垂直転送、水平転送
レジスタによる水平転送等の駆動を行う。

【００２８】ＣＣＤ固体撮像素子３からの撮像信号は、
Ｓ／Ｈ（サンプルホールド）およびＡＧＣ（自動利得制
御）回路５を経た後、Ａ／Ｄ変換回路６でＡ／Ｄ変換さ
れて欠陥補正回路７および本発明に係る欠陥画素検出装
置８に与えられる。

【００２９】欠陥補正回路７で補正された撮像信号は、
信号処理回路９で各種の信号処理が行われて輝度信号Ｙ
およびクロマ信号Ｃとして出力されてエンコーダ１０を
介してビデオ信号として出力される。

【００３０】ここで、この実施の形態の欠陥画素検出装
置８の構成について説明する。この実施の形態の欠陥画
素検出装置８は、Ａ／Ｄ変換回路６でＡ／Ｄ変換された
撮像信号をゲートするゲート回路１１と、このゲート回
路１１を介して与えられる撮像信号のレベルと予め設定
されている所定の検出レベルとを比較して欠陥画素を検
出する欠陥画素検出回路１２と、この欠陥画素検出回路
１２で検出される欠陥画素の個数を計数する個数カウン
タ１３と、タイミングジェネレータ４からの水平クロッ
ク信号および垂直クロック信号をそれぞれ計数する水平
カウンタ１４および垂直カウンタ１５と、これらカウン
タ１４，１５の出力および各部を制御する制御手段とし
てのマイクロコンピュータ１６からのゲート制御信号に
基づいて、ゲート信号を発生するゲート信号発生回路１
７と、欠陥画素検出回路１２で欠陥画素が検出されたと
きに、その欠陥画素の位置に対応する水平カウンタ１４
および垂直カウンタ１５からの水平および垂直のアドレ
スデータ（カウント値）を、奇数・偶数の各フィールド
毎に欠陥位置記憶メモリ１８に格納するアドレス制御部
１９とを備えている。

【００３１】この実施の形態の欠陥画素検出装置８は、
先ず、撮像信号にゲートをかけることなく、検出領域を
撮像画面の全体、すなわち、全画素について、欠陥画素
の検出を行い、検出された欠陥画素数が、欠陥位置記憶
メモリ１８で記憶できる所定数、例えば十数個を越えて
いるときには、撮像画面の周端部を除くように撮像信号
にゲートをかけて検出領域を内側へ小さくして再び欠陥
画素を検出するという動作を、検出される欠陥画素数が
前記所定数以下になるまで繰り返すものである。

【００３２】すなわち、例えば図２（ａ）に示されるよ
うに、検出領域Ａ₁を撮像画面の全体として欠陥画素を
検出し、その検出領域Ａ₁における欠陥画素数が、欠陥
位置記憶メモリ１８で記憶できる所定数を越えるときに
は、図２（ａ）の鎖線で示される検出領域Ａ₁の周端部
に対応する撮像信号に図２（ｂ）の斜線で示されるよう
にゲートをかけて新たな検出領域Ａ₂とし、この新たな
検出領域Ａ₂で欠陥画素を同様に検出し、この検出領域
Ａ₂における欠陥画素数が、前記所定数を越えるときに
は、図２（ｂ）の鎖線で示される検出領域Ａ₂の周端部
に対応する撮像信号に図２（ｃ）の斜線で示されるよう
にゲートをかけて新たな検出領域Ａ₃とし、以下同様に
欠陥画素数が所定数以下になるまで繰り返すのである。
したがって、視覚的に目立たない画面の周辺部から無視
されていき、視覚的に目立つ画面の中央部の欠陥画素が
優先的に検出されることになる。なお、新たに検出領域
を設定する際にゲートをかける周端部の大きさは、任意
でよいが、例えば、新たな検出領域は、元の検出領域の
９０％程度になるようにしてもよい。

【００３３】以下、この欠陥画素検出装置８の検出動作
を、図３のフローチャートに基づいてさらに詳細に説明
する。

【００３４】この欠陥画素の検出動作は、例えば、ビデ
オカメラの電源を投入したときや欠陥画素検出用のキー
操作を行った場合などに開始され、マイクロコンピュー
タ１６は、絞り２を閉じてＣＣＤ固体撮像素子３へ光の
入射がない全黒の状態とし（ステップｎ１）、ゲート回
路１１を介して与えられる撮像信号より欠陥画素検出回
路１２で欠陥画素を検出し（ステップｎ２）、欠陥画素
が検出されたときの水平および垂直カウンタ１４，１５
からのアドレスデータを、欠陥位置記憶メモリ１８に記
憶し（ステップｎ３）、欠陥画素数を個数カウンタ１３
で計数し（ステップｎ）、検出領域の全画素、最初は撮
像画面全体の全画素について終了したか否かを判断し
（ステップｎ５）、終了していないときには、ステップ
ｎ２に戻る。

【００３５】検出領域の全画素について終了したときに
は、個数カウンタ１３で計数された欠陥画素数Ｐが、所
定数Ｐ₀を越えているか否かを判断し（ステップｎ
６）、越えているときには、欠陥位置記憶メモリ１８を
クリアし（ステップｎ７）、検出領域内の周端部を除い
た内側の小さな領域を新たな検出領域に設定し（ステッ
プｎ８）、ステップｎ２に戻って再び欠陥画素の検出動
作を行う。この新たな検出領域の設定は、マイクロコン
ピュータ１６からゲート信号発生回路１７へ前記周端部
をゲートするようにゲート制御信号を出力することによ
って行われる。すなわち、ゲート信号発生回路１７は、
水平および垂直カウンタ１４，１５の出力に基づいて、
マイクロコンピュータ１６のゲート制御信号で指定され
た区間に亘ってゲート信号を出力し、前記周端部に対応
する撮像信号の欠陥画素検出回路１２への入力を阻止す
るものである。

【００３６】これによって、新たな検出領域に対応する
撮像信号のみが欠陥画素検出回路１２に与えられること
になり、上述と同様に欠陥画素が検出される。

【００３７】ステップｎ６において、計数された欠陥画
素数Ｐが所定数Ｐ₀を越えていないときには、欠陥画素
の検出動作を終了する。

【００３８】以上のようにして検出された欠陥画素は、
通常の撮像モードにおいて、次のようにして補正され
る。

【００３９】先ず、図１に示されるように、欠陥位置記
憶メモリ１８から欠陥画素のアドレスデータを読み出
し、このアドレスデータと、ＣＣＤ固体撮像素子３から
の撮像信号の画素に対応する水平カウンタ１４および垂
直カウンタ１５からの水平および垂直のアドレスデータ
とを、位置比較回路２０で比較し、一致したときには、
位置比較回路２０は、一致信号を補正パルス回路２１に
出力するとともに、アドレス制御部１９に出力し、アド
レス制御部１９は、次の欠陥画素のアドレスデータを欠
陥位置記憶メモリ１９から読み出し、補正パルス回路２
１は、一致信号に応答して補正パルスを欠陥補正回路７
に出力する。

【００４０】欠陥補正回路７では、この補正パルスによ
って撮像信号中の欠陥画素を特定し、例えば、その欠陥
画素の撮像信号を、１画素前の撮像信号で置換（前値置
換）あるいは前後の撮像信号の平均値信号で置換（平均
値置換）することによって欠陥補正を行う。

【００４１】この欠陥画素の補正を、欠陥位置記憶メモ
リ１８に記憶されるいる全ての位置の欠陥画素について
行うものである。

【００４２】（実施の形態２）上述の実施の形態では、
欠陥画素数が所定数以下になるまで、検出領域を、撮像
画面の全体から内側に徐々に小さくしていったけれど
も、本発明の他の実施の形態として、当初の検出領域Ａ
₁を、図４（ａ）に示されるように、撮像画面の中央部
とし、その検出領域Ａ₁における欠陥画素数が、欠陥位
置記憶メモリ１８で記憶できる所定数未満であるときに
は、図４（ａ）の鎖線で示される検出領域Ａ₁の周辺部
を含むように新たな検出領域Ａ₂を図４（ｂ）に示され
るように設定し、この新たな検出領域Ａ₂で欠陥画素を
同様に検出し、この検出領域Ａ₂における欠陥画素数
が、前記所定数未満であるときには、図４（ｂ）の鎖線
で示される検出領域Ａ₂の周辺部を含むように新たな検
出領域Ａ₃を図４（ｃ）に示されるように設定し、以下
同様に欠陥画素数が所定数以上になるまで繰り返すので
ある。なお、新たに検出領域を設定する際の周辺部の大
きさは、任意でよいが、例えば、新たな検出領域は、元
の検出領域の１１０％程度になるようにしてもよい。

【００４３】この実施の形態では、拡大した検出領域に
おいて検出される欠陥画素数が所定数を越えたときに
は、検出領域が大き過ぎることになるので、その時点で
欠陥位置記憶メモリ１８に記憶されている欠陥画素のア
ドレスデータは、有効なデータではないことになる。そ
こで、この実施の形態では、欠陥画素数が所定数を越え
るまでは、欠陥画素の位置を示すアドレスデータは、欠
陥位置記憶メモリ１８に記憶させることなく、欠陥画素
数のカウントのみを行い、欠陥画素数が所定数を越えた
ときには、検出領域が大き過ぎるのであるから前回の検
出領域を再び設定して欠陥画素を検出し、その際に欠陥
画素の位置を示すアドレスデータを、欠陥位置記憶メモ
リ１８に記憶させるものである。

【００４４】図５は、この実施の形態の欠陥画素の検出
動作をさらに詳細に説明するためのフローチャートであ
る。

【００４５】先ず、マイクロコンピュータ１６は、絞り
２を閉じてＣＣＤ固体撮像素子３へ光の入射がない全黒
の状態とし（ステップｎ１）、撮像画面の中央部を検出
領域として設定し（ステップｎ２）、検出領域以外の撮
像信号にゲート回路１１でゲートをかけ、このゲート回
路１１からの撮像信号より欠陥画素検出回路１２で欠陥
画素を検出し（ステップｎ３）、欠陥画素数を個数カウ
ンタ１３で計数し（ステップｎ４）、検出領域の全画素
について終了したか否かを判断し（ステップｎ５）、終
了していないときには、ステップｎ３に戻る。

【００４６】検出領域の全画素について終了したときに
は、個数カウンタ１３で計数された欠陥画素数Ｐが、所
定数Ｐ₀を越えているか否かを判断し（ステップｎ
６）、越えていないときには、検出領域の周辺部を含む
大きな領域を新たな検出領域に設定し（ステップｎ
７）、ステップｎ３に戻って再び欠陥画素の検出動作を
繰り返す。この新たな検出領域の設定は、マイクロコン
ピュータ１６からゲート信号発生回路１７へ前記周辺部
をゲートしないようにゲート制御信号を出力することに
よって行われる。

【００４７】これによって、新たな検出領域に対応する
撮像信号が欠陥画素検出回路１２に与えられることにな
り、上述と同様に欠陥画素が検出される。

【００４８】ステップｎ６において、計数された欠陥画
素数Ｐが所定数Ｐ₀を越えたときには、欠陥位置記憶メ
モリ１８をクリアし（ステップｎ８）、欠陥画素数Ｐが
所定数Ｐ₀に等しいか否かを判断し（ステップｎ９）、
等しいときには、検出領域を変えることなく、再度同じ
検出領域で欠陥画素を検出し（ステップｎ１０）、検出
された欠陥画素のアドレスデータを、欠陥位置記憶メモ
リ１８に記憶し（ステップｎ１１）、検出領域の全画素
について終了したか否かを判断し（ステップｎ１２）、
終了していないときには、ステップｎ１０に戻り、終了
したときには、検出を終了する。

【００４９】ステップｎ９において、所定数Ｐ₀に等し
くないときには、今回の検出領域は大きき過ぎたのであ
るから前回の検出領域を設定し（ステップｎ１３）、欠
陥画素を検出し（ステップｎ１４）、検出された欠陥画
素のアドレスデータを、欠陥位置記憶メモリ１８に記憶
し（ステップｎ１５）、検出領域の全画素について終了
したか否かを判断し（ステップｎ１６）、終了していな
いときには、ステップｎ１４に戻り、終了したときに
は、検出を終了する。なお、欠陥画素を検出した後の通
常の撮像モードにおける補正動作は、上述の実施の形態
１と同様であるので、その説明は省略する。

【００５０】この実施の形態では、検出領域を広げて新
たな検出領域を設定する度に、その新たな検出領域の全
領域について欠陥画素を検出して計数するように構成し
たけれども、本発明の他の実施の形態として、広げる前
の元の検出領域における欠陥画素数を保持しておき、新
たな検出領域から前記元の検出領域を差し引いた広げた
領域のみの欠陥画素を検出して計数し、元の検出領域の
欠陥画素数に加算するようにしてもよく、さらに、この
場合には、広げた領域は、元の検出領域よりも外側の周
辺部に位置する、すなわち、視覚的により目立たない位
置となるので、元の検出領域に比べてより欠陥レベルの
高い欠陥画素を検出するように欠陥画素検出回路１２に
おける検出レベルを可変するようにしてもよい。

【００５１】（実施の形態３）上述の各実施の形態で
は、検出領域を、一定の割合で小さくあるいは大きくし
て新たな検出領域としたけれども、本発明の他の実施の
形態として、検出される欠陥画素数に応じて小さくある
いは大きくする割合を可変させてもよい。

【００５２】例えば、上述の実施の形態１において、図
６（ａ）の検出領域Ａ₁で検出された欠陥画素数が、所
定数を大きく上回っているとき（例えば欠陥画素数から
所定数を差し引いた値が閾値を越えるとき）には、図６
（ｂ）に示されるように、新たな検出領域Ａ₂を大幅に
小さくして設定し、逆に図６（ａ）の検出領域Ａ₁で検
出された欠陥画素数が、所定数を僅かに上回っていると
き（欠陥画素数から所定数を差し引いた値が閾値以下で
あるとき）には、図６（ｃ）に示されるように新たな検
出領域Ａ₃を小幅に小さくして設定するものである。

【００５３】また、例えば、上述の実施の形態２におい
て、図７（ａ）の検出領域Ａ₁で検出された欠陥画素数
が、所定数を大きく下回っているときには、図７（ｂ）
に示されるように新たな検出領域Ａ₂を大幅に大きくし
て設定し、逆に、図７（ａ）の検出領域Ａ₁で検出され
た欠陥画素数が、所定数を僅かに下回っているときに
は、図７（ｃ）に示されるように新たな検出領域Ａ₃を
小幅に大きくして設定するものであり、これによって、
効率的に最適な検出領域を設定できることになり、これ
によって、補正に要する時間の短縮化を図ることができ
る。

【００５４】（その他の実施の形態）上述の実施の形態
では、ビデオカメラに適用して説明したけれども、本発
明は、ビデオカメラに限らず、電子スチルカメラその他
の撮像装置に適用できるものである。

【００５５】本発明の他の実施の形態として、個数カウ
ンタ１３で計数された欠陥画素数が、非常に多く、撮像
に支障を来すような場合には、それを報知して固体撮像
素子の交換を促すようにしてもよい。

【００５６】また、本発明の他の実施の形態として、欠
陥画素の検出を優先的に行うべき検出領域を予め設定で
きるように構成し、この設定した検出領域から欠陥画素
数が所定数に達するまで検出領域を広げるようにしても
よく、また、設定した検出領域の欠陥画素数が所定数を
越えているときには、それを報知して領域の再設定を促
すように構成してもよい。

【００５７】上述の実施の形態では、検出領域の上下左
右の四方向について、同時に小さくあるいは大きくして
新たな検出領域としたけれども、本発明は、四方向につ
いて同時に変化させる必要はなく、例えば、上下方向と
左右方向とを交互に小さくあるいは大きくしてもよく、
さらには、左と右とを交互に小さくあるいは大きくして
もよい。また、検出領域は、矩形に限らず、円形やその
他の形状であってもよい。

【００５８】上述の実施の形態では、白傷の補正につい
て、レンズを絞る動作を行ったが、絞りを一定値にし
て、ある決まった光量を保てば、黒傷に対しても同様の
形態をとれることはいうまでもない。

【００５９】上述の実施の形態１では、最初の検出領域
を、撮像画面の全体としたれども、必ずしも撮像画面の
全体とする必要はなく、例えば、撮像画面の周辺部を除
いた領域から開始してもよい。

【００６０】上述の実施の形態２では、最初の検出領域
を、撮像画面の中心を含む中央部としたけれども、必ず
しも中心を含む領域である必要はなく、中心からやや偏
心した中央寄りの領域から開始してもよい。

【００６１】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、検出され
る欠陥画素の数が、メモリに記憶可能な所定数以下とな
る適切な検出領域を見出すまで、最初に設定した大きな
検出領域から小さな検出領域へ、あるいは、最初に設定
した小さな検出領域から大きな検出領域へ変化させるの
で、視覚的に目立つ画面の中央部の欠陥画素を優先的に
検出して補正できることになり、これによって、従来の
ように視覚的に目立たない画面の周辺部の欠陥画素が優
先して補正される一方、視覚的に目立つ画面の中央部の
欠陥画素が放置されるといったことが防止され、視覚的
に目立つ画面の中央部の欠陥画素が確実に補正される。

【００６２】また、本発明によれば、検出領域のおける
欠陥画素の数に応じて、新たに設定する検出領域の大き
さを可変するので、欠陥画素の数が、メモリに記憶可能
な所定数以下となる適切な検出領域を見出すまでの時間
を短縮できることになり、これによって、欠陥画素の補
正に要する時間を短縮できることになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一つの実施の形態に係るビデオカメラ
の構成図である。

【図２】実施の形態１の検出領域の設定を示す図であ
る。

【図３】実施の形態１の検出動作を説明するためのフロ
ーチャートである。

【図４】実施の形態２の検出領域の設定を示す図であ
る。

【図５】実施の形態２の検出動作を説明するためのフロ
ーチャートである。

【図６】実施の形態３の検出領域の設定を示す図であ
る。

【図７】実施の形態３の検出領域の設定を示す図であ
る。

【符号の説明】

７ 欠陥補正回路 ８ 欠陥画素検出装置 １１ ゲート回路 １２ 欠陥画素検出回路 １３ 個数カウンタ １６ マイクロコンピュータ １８ 欠陥位置記憶メモリ ２０ 位置比較回路

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 検出領域に対応する固体撮像素子の撮像
   信号のレベルと所定の検出レベルとを比較して欠陥画素
   を検出する欠陥画素検出手段と、 前記欠陥画素検出手段で検出された欠陥画素数を計数す
   る欠陥画素数計数手段と、 前記欠陥画素数計数手段で計数された前記検出領域にお
   ける欠陥画素数が所定数を越えたときに、前記検出領域
   内の領域を、新たな検出領域として欠陥画素を検出する
   動作を、新たな検出領域における欠陥画素数が前記所定
   数以下になるまで繰り返す制御手段と、 を備えることを特徴とする固体撮像素子の欠陥画素検出
   装置。
2. 【請求項２】 検出領域に対応する固体撮像素子の撮像
   信号のレベルと所定の検出レベルとを比較して欠陥画素
   を検出する欠陥画素検出手段と、 前記欠陥画素検出手段で検出された欠陥画素数を計数す
   る欠陥画素数計数手段と、 前記欠陥画素数計数手段で計数された前記検出領域にお
   ける欠陥画素数が所定数未満であるときに、前記検出領
   域を含む領域を、新たな検出領域として欠陥画素を検出
   する動作を、新たな検出領域における欠陥画素数が前記
   所定数以上になるまで繰り返す制御手段と、 を備えることを特徴とする固体撮像素子の欠陥画素検出
   装置。
3. 【請求項３】 最初の検出領域が、撮像画面全体の領域
   であり、前記検出領域内の領域が、該検出領域の周端部
   を除いた領域である請求項１記載の固体撮像素子の欠陥
   画素検出装置。
4. 【請求項４】 最初の検出領域が、撮像画面の中央部の
   領域であり、前記検出領域を含む領域が、該検出領域の
   周辺部を含む領域である請求項２記載の固体撮像素子の
   欠陥画素検出装置。
5. 【請求項５】 前記制御手段は、前記欠陥画素数計数手
   段で計数された欠陥画素数に基づいて、前記周端部また
   は前記周辺部の大きさを制御する請求項３または４記載
   の固体撮像素子の欠陥画素検出装置。
6. 【請求項６】 水平クロック信号および垂直クロック信
   号に基づいて、固体撮像素子からの撮像信号をゲートす
   るゲート手段を備え、該ゲート手段は、前記検出領域以
   外の領域に対応する撮像信号の前記欠陥画素検出手段へ
   の入力を阻止する請求項１ないし５のいずれかに記載の
   固体撮像素子の欠陥画素検出装置。
7. 【請求項７】 前記欠陥画素検出手段で検出された欠陥
   画素の位置を示す位置データを記憶するメモリを備える
   請求項１ないし６のいずれかに記載の欠陥画素検出装
   置。
8. 【請求項８】 請求項７記載の欠陥画素検出装置を備え
   るとともに、前記メモリから読み出した位置データに対
   応するタイミングで補正パルスを発生する補正パルス発
   生回路と、該補正パルスに応答して前記固体撮像素子の
   撮像信号に対して欠陥補正を行う欠陥補正回路とを備え
   ることを特徴とする欠陥画素補正装置。
9. 【請求項９】 請求項８記載の欠陥画素補正装置を備え
   ることを特徴とするビデオカメラ。