JP2000023051A

JP2000023051A - 欠陥画素補正装置及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体

Info

Publication number: JP2000023051A
Application number: JP10186088A
Authority: JP
Inventors: Yoshinobu Sato; 佳宣佐藤
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1998-07-01
Filing date: 1998-07-01
Publication date: 2000-01-21
Anticipated expiration: 2018-07-01
Also published as: JP4313860B2

Abstract

(57)【要約】【課題】ＣＣＤ固体撮像素子の欠陥画素の信号をその
欠陥画素アドレスに基づいて補正する際に用いる上記ア
ドレスを格納する揮発性メモリの容量を減らす。【解決手段】ＥＥＰＲＯＭ１２には、予め求めたＣＣ
Ｄ撮像部２の全部の欠陥画素の位置アドレスが格納され
ている。別に５個のレジスタ１０１〜１０５を用意し、
補正を行う前にＥＥＰＲＯＭ１２から５個のアドレスを
転送しておく。撮影時には、ＣＣＤ撮像部２からの画像
信号は欠陥画素補正ＩＣ１３に送られる。ここで各レジ
スタに格納されたアドレスがセレクタ１８により順次読
み出され、上記画像信号の画素の位置と比較され、両者
が一致したときを欠陥画素として近傍の画素の信号と置
き換える。全部のレジスタのアドレスを使ってしまう
か、ある程度使用したら次のアドレスをＥＥＰＲＯＭ１
２から各レジスタへ転送する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＣＤカメラの固
体撮像素子中の欠陥画素を検出し、この欠陥画素に対応
する表示画面上での画素を正常な画素に補正するのに用
いて好適な欠陥画素補正装置及びコンピュータ読み取り
可能な記憶媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＣＣＤカメラにおいては、レンズを通し
て入射した外光は、多数の受光素子（いわゆるセンサ）
を平面内にマトリックス状に配列して形成された固体撮
像素子で受光される。各受光素子（センサ）は、夫々の
位置座標における受光量に応じた大きさのアナログ電気
信号を出力する。固体撮像素子の各受光素子の出力は走
査されて一つずつ順次Ａ／Ｄ変換器でディジタル信号に
変換された後に信号処理回路へ供給される。信号処理回
路は、ディジタル信号を表示信号に変換し表示器に供給
する。その結果、表示器の画面には、センサマトリック
スと１対１で対応する画素により画像が表示されること
になる。

【０００３】ところが、固体撮像素子を構成する多数の
画素の中には、所定のレベルの電気信号を発生しない欠
陥品が含まれることが確率的に避けられず、このような
画素に対応する表示画面上の画素は正常の輝度を持たな
い所謂欠陥画素となる。欠陥画素には、白点の欠陥画素
と呼ばれるものと黒点の欠陥画素と呼ばれるものとがあ
る。白点の欠陥画素は、入射光量に対して所定以上の大
きさの電気信号を出力する欠陥ＣＣＤによるものであ
り、正常な画素より輝度が強く明るくなり、所謂白点と
よばれている。また、黒点の欠陥画素は、入射光量に対
して所定以下の大きさの電気信号を出力によるものであ
り、正常な画素より輝度が弱く暗くなる。

【０００４】従来、欠陥画素を持つＣＣＤをできるだけ
無くすための製造上の対策は取られているが、それでも
欠陥画素を持つＣＣＤがある場合に備えて、ＣＣＤカメ
ラの固体撮像素子と信号処理回路との間に、欠陥画素の
検出とその補正とを行うための欠陥画素補正回路が設け
られており、これは一般にＩＣ化されている。

【０００５】従来の欠陥画素補正用ＩＣを揃えたＣＣＤ
カメラにおいては、欠陥画素の検出動作は次のように行
われる。即ち、ＣＣＤ固体撮像素子を構成する多数のセ
ンサの中の欠陥画素のアドレスに関する情報を揮発性メ
モリ内に記憶しておき、撮像時に上記情報を上記揮発性
メモリから欠陥画素の信号を補正する補正手段に設けら
れた揮発性メモリとしてのＲＡＭに記憶する。また、撮
像時における上記欠陥画素の補正動作は次のように行わ
れる。即ち、検出時に上記揮発性メモリであるＲＡＭに
記憶したアドレスと一致するアドレスを持つセンサの出
力を近傍の正常な画素の出力と置き換えることにより補
正する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の欠陥画素補正用ＩＣの上記ＲＡＭの揮発性メモリ
は、補正すべき欠陥画素の数に比例するＲＡＭ容量を必
要とするため、製造上の問題点及びメモリ容量等の問題
点及びコストの面でも問題があった。更に、欠陥画素補
正用ＩＣの上記ＲＡＭをＩＣ内に持つ場合、欠陥画素を
補正できる数は、欠陥画素補正用ＩＣのＲＡＭ容量で制
限されるという問題があった。

【０００７】従って、本発明は、上記従来の欠陥画素補
正システムの問題点を解消し、最小のメモリ構成で、欠
陥画素を補正する数に影響されないＣＣＤ固体撮像素子
の欠陥画素補正システムを提供できるようにすることを
目的としている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明による欠陥画素補
正装置においては、画像における欠陥画素の位置情報を
記憶する第１の記憶手段と、上記第１の記憶手段から位
置情報が転送されるようになされ、所定個数の位置情報
を記憶する第２の記憶手段と、入力される画像信号にお
ける画素の位置と上記第２の記憶手段に記憶された位置
情報とを比較し、両者が一致したときその画素の信号を
補正する補正手段と、上記第２の記憶手段に記憶した位
置情報の上記比較のために使用した状態に応じて上記第
１の記憶手段から次の位置情報を転送させる制御手段と
を設けている。

【０００９】本発明による記憶媒体においては、画像に
おける欠陥画素の位置情報を記憶する第１の記憶手段か
ら上記位置情報が転送されるようになされ、所定個数の
位置情報を記憶する第２の記憶手段に記憶された上記位
置情報と入力される画像信号における画素の位置とを比
較し、両者が一致したときその画素の信号を補正する補
正処理と、上記第２の記憶手段に記憶した位置情報の上
記比較のために使用した状態に応じて上記第１の記憶手
段から次の位置情報を転送させる制御処理とを実行させ
るためのプログラムを記憶している。

【００１０】

【発明の実施の形態】本発明に係るＣＣＤ固体撮像素子
の欠陥画素補正システムの最も望ましい実施の形態は、
ＣＣＤカメラに適用される。第１の実施の形態によるＣ
ＣＤカメラは、図１に示すように、光学系１と、ＣＣＤ
固体撮像部２と、ＡＧＣ回路３と、Ａ／Ｄ変換器４と、
欠陥補正回路５と、欠陥画素検出回路６と、アドレス比
較部７と、アドレスカウンタ８と、制御部９と、欠陥ア
ドレスレジスタ１０と、マイクロコンピュータ１１と、
不揮発性メモリに相当するＥＥＰＲＯＭ１２と、欠陥画
素補正ＩＣ１３と、信号処理回路１４、バス１５、１７
と、セレクタ１８と、マイクロコンピュータ１１の制御
プログラムを格納した本発明を構成する記憶媒体１９と
により構成されている。

【００１１】光学系１は、複数のレンズから構成されて
おり、ＣＣＤカメラの被写体からの光を入射しＣＣＤ固
体撮像部２へ集光する。ＣＣＤ固体撮像部２は、光学系
１からの出射光に対して直角な平面内に多数のセンサを
Ｍ行Ｎ列のマトリックス状に配列して構成されている。
即ち、このセンサマトリックスは撮影画面に相当する。
これらのセンサは、夫々への入射光の光量に応じた大き
さの電気信号を並列に出力する。

【００１２】ＣＣＤ固体撮像部２内のセンサの位置は水
平アドレスと垂直アドレスとで表される。水平アドレス
はセンサが属する水平ライン（行）内での順位Ｘ（ただ
しＸ＝１〜Ｎ）であり、垂直アドレスはセンサが属する
水平ラインのマトリックス内での順位Ｙ（ただしＹ＝１
〜Ｍ）である。つまり、各センサの位置はアドレス
（Ｘ、Ｙ）で表される。このセンサのアドレス（Ｘ、
Ｙ）は、また、表示画像の画素マトリックス上での画素
の位置と１対１で対応している。

【００１３】ＣＣＤ固体撮像部２のセンサマトリックス
の第１行から第Ｍ行までの各行の出力は、図示していな
い走査回路により順次水平方向に走査され、その結果、
各センサの出力信号は周期Ｔで直列にＡＧＣ回路３へ出
力されることになる。ＡＧＣ回路３は各センサからの出
力信号を増幅した後、Ａ／Ｄ変換器４へ出力する。Ａ／
Ｄ変換器４は、ＡＧＣ回路３からのアナログ信号を段階
的レベルからなるディジタル信号に変換して出力する。

【００１４】図１において、アドレス比較部７、アドレ
スカウンタ８、制御部９、欠陥アドレスレジスタ１０か
らなる実線で囲まれた部分は、欠陥画素検出回路６であ
り、欠陥補正回路５、欠陥画素検出回路６からなる点線
で囲まれた部分は、欠陥画素補正ＩＣ１３である。欠陥
画素補正ＩＣ１３の機能は、欠陥画素を近傍の正常な画
素により置き換えることにより補正することである。

【００１５】欠陥補正回路５は、Ａ／Ｄ変換器４の出力
信号を入力すると同時に欠陥画素検出回路６から補正制
御信号を入力している。この欠陥補正回路５は、補正制
御信号が論理１（“１”）の場合は、Ａ／Ｄ変換器４か
らの入力信号をＣＣＤ欠陥画素の近傍の正常な画素の出
力信号に置き換えることにより補正を行う。また、この
欠陥補正回路５は、補正制御信号が論理０（“０”）の
場合は上記補正動作を行わない。

【００１６】アドレスカウンタ８は、水平カウンタと垂
直カウンタとからなる。水平カウンタは水平アドレスを
計数し、垂直カウンタは垂直アドレスを計数する。垂直
カウンタは１〜Ｍのカウントを繰り返し、垂直カウンタ
の各カウントｍにおいて、水平カウンタは１〜Ｎのカウ
ントを行うことになる。

【００１７】欠陥アドレスレジスタ１０は、複数のレジ
スタ０〜４（１０１〜１０５）で構成され、１つのレジ
スタには１個の欠陥画素の水平アドレス、垂直アドレス
を保持する。即ち、ｒ個のレジスタはｒ画素分の欠陥画
素のアドレスを保持する。

【００１８】アドレス比較部７は、アドレスカウンタ８
の出力する水平アドレスと欠陥アドレスレジスタ１０の
保持する水平アドレスとを比較すると共に、アドレスカ
ウンタ８の出力する垂直アドレスと欠陥アドレスレジス
タ１０の保持する垂直アドレスとを比較、水平、垂直と
もに一致したとき、即ち欠陥画素の時、アドレス比較部
７は、欠陥補正回路５に補正制御信号を“１”として出
力し、水平、垂直ともに一致しないときは補正制御信号
を“０”として出力する。

【００１９】制御部９は、セレクタ１８を制御し、検索
する欠陥画素を設定する。また、欠陥アドレスレジスタ
１０に次の画素の検索するアドレスデータがないとき、
マイクロコンピュータ１１に割込み信号１６を“１”と
して出力する。マイクロコンピュータ１１は、バス１７
により欠陥アドレスレジスタ１０及び制御部９と接続さ
れると共に、バス１５により不揮発性メモリであるＥＥ
ＰＲＯＭ１２と接続され、割込み信号１６により制御部
９と接続されている。

【００２０】このマイクロコンピュータ１１は、欠陥画
素補正ＩＣ１３に対して次のような欠陥画素出力機能を
行う。撮像時に、不揮発性メモリであるＥＥＰＲＯＭ１
２に記憶されている全欠陥画素情報から、欠陥アドレス
レジスタ１０のレジスタ数ｒ個の欠陥画素を読出し、欠
陥アドレスレジスタ１０に書き込む。ＥＥＰＲＯＭ１２
は、電源が無い状態でも記憶内容が消滅しない所謂不揮
発性ＲＡＭである。ＥＥＰＲＯＭ１２には、全欠陥画素
に関する情報が予め記憶されている。

【００２１】次に、上記構成による欠陥画素補正システ
ムの動作について説明する。撮像時の補正動作（１）マイクロコンピュータ１１は撮像に先立ち、ＥＥ
ＰＲＯＭ１２に記憶されている全欠陥画素に関する情報
から、アドレスの先頭から５画素分の欠陥画素に関する
情報を欠陥アドレスレジスタ１０のレジスタ０（１０
１）、レジスタ１（１０２）、レジスタ２（１０３）、
レジスタ３（１０４）、レジスタ４（１０５）、へ書き
込む。（２）制御部９は、セレクタ１８を制御し、レジスタ０
（１０１）を選択し、検索する第１番目の欠陥アドレス
をアドレス比較部７に入力する。

【００２２】（３）マイクロコンピュータ１１は撮像操
作を行う。入射光は光学系１からＣＣＤ固体撮像部２に
入射し、センサマトリックスは周期Ｔで走査される。即
ち、周期Ｔ毎に１個のセンサの出力がＡＧＣ回路３及び
Ａ／Ｄ変換器４を通じてディジタル信号となって出力さ
れ、欠陥補正回路５に入力する。

【００２３】（４）アドレスカウンタ８は、ＣＣＤ固体
撮像部２の走査に同期してセンサマトリックスのアドレ
スのカウントを行う。アドレスカウンタ８の水平カウン
タは、周期Ｔでカウントを行い、１〜Ｎの計数を繰り返
し、垂直カウンタは周期Ｎでカウントを行い、１〜Ｍの
計数を繰り返す。水平カウンタがＮとなると、垂直カウ
ンタのカウントは１増加し、水平カウンタは１に戻る。

【００２４】（５）アドレス比較部７は、レジスタ０
（１０１）の出力と、アドレスカウンタ８の水平カウン
タ及び垂直カウンタの各カウント値とを比較し、レジス
タ０（１０１）とアドレスカウンタ８のカウント値が一
致した時、即ち欠陥画素の時、欠陥補正回路５への補正
制御信号を“１”にする。（６）欠陥補正回路５は、アドレス比較部７からの補正
制御信号が“１”、即ち欠陥画素の時、Ａ／Ｄ変換器４
からの入力信号を欠陥画素の近傍の正常な画素の信号に
置き換える。

【００２５】（７）制御部９は、セレクタ１８を制御し
て次のレジスタ１（１０２）を選択し、検索する第２番
目の欠陥画素アドレスをアドレス比較部７に入力する。（８）順次上記（３）から（６）の動作を行い、次の画
素の欠陥補正を行う。

【００２６】（９）制御部９は、レジスタ４（１０５）
の欠陥アドレス補正後、即ち、次の画素の検索アドレス
が無くなると、マイクロコンピュータ１１への割込み信
号１６を“１”にする。セレクタ１８を制御してレジス
タ０（１０１）を選択する。（１０）マイクロコンピュータ１１は制御部９からの割
込み信号１６が“１”即ち、欠陥アドレスレジスタ１０
がすべて使用済みの時、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶されて
いる全欠陥画素に関する情報から、次の欠陥画素に関す
る情報をレジスタ０（１０１）に書き込む。（１１）以上の操作を、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶されて
いる全欠陥画素について欠陥補正が行われるまで繰り返
す。

【００２７】次に、第２の実施の形態は、図２に示すよ
うに、制御部９はセレクタ１８を制御し、検索する欠陥
画素を設定する。また、欠陥アドレスレジスタ１０の使
用状態をＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１で監視し、カウン
ト値が“０”の値の時、マイクロコンピュータ１１に割
込み信号１６“１”を出力する。

【００２８】（１）撮像前に、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶
されている全欠陥画素情報から欠陥アドレスレジスタ１
０のレジスタ数ｒ個の欠陥画素を読出し、欠陥アドレス
レジスタ１０に書き込む。（２）撮像時、アドレスカウンタ８は、ＣＣＤ固体撮像
部２の走査に同期してセンサマトリックスのアドレスの
カウントを行う。欠陥補正回路５は、アドレスカウンタ
８のカウント値が欠陥画素検出回路６に記憶されている
アドレスと一致した時、Ａ／Ｄ変換器４からの入力信号
を欠陥画素の近傍の正常な画素の信号に置き換えて出力
することにより、欠陥画素の補正動作を行う。

【００２９】（３）ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１は、欠
陥アドレスレジスタ１０へ書き込み信号（ＷＲ９２）に
よりカウンタを“＋１”し、アドレス比較部７の読み込
み信号（ＲＤ９３）によりカウンタを“−１”し、カウ
ント値が“０”の値の時、マイクロコンピュータ１１に
割込み信号１６を“１”として出力する。（４）マイクロコンピュータ１１は制御部９からの割込
み信号１６が“１”即ち、欠陥アドレスレジスタ１０の
未使用レジスタがなくなった時、ＥＥＰＲＯＭ１２か
ら、欠陥アドレスレジスタ１０のレジスタ０（１０１）
に書き込む。（５）以上の操作を、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶されてい
る全欠陥画素について欠陥補正が行われるまで繰り返
す。

【００３０】以上のように、本実施の形態においては、
レジスタの位置情報を全て使用してから新たにＥＥＰＲ
ＯＭからデータをレジスタに転送するようにしている。

【００３１】第３の実施の形態は、図３に示すように、
制御部９はセレクタ１８を制御し、検索する欠陥画素を
設定する。また、欠陥アドレスレジスタ１０の使用状態
をＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１で監視し、カウント値を
カウンタ比較部９４へ出力する。比較レジスタ９５は、
マイクロコンピュータ１１により欠陥アドレスレジスタ
１０のレジスタ数より少ない所定の値を入力され、その
値をカウンタ比較部９４へ出力する。カウンタ比較部９
４は、比較レジスタ９５の値とＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ
９１のカウント値とを比較し、一致した時、即ち、ＵＰ
／ＤＯＷＮカウンタ９１が所定の値以下になった時、マ
イクロコンピュータ１１に割込み信号１６を“１”とし
て出力し、それ以外は“０”を出力する。

【００３２】（１）撮像前に、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶
されている全欠陥画素情報から欠陥アドレスレジスタ１
０のレジスタ数ｒ個の欠陥画素を読出し、欠陥アドレス
レジスタ１０に書き込む。（２）マイクロコンピュータ１１は、比較レジスタ９５
に欠陥アドレスレジスタ１０のレジスタ数より少ない所
定の値を入力する。

【００３３】（３）撮像時、アドレスカウンタ８は、Ｃ
ＣＤ固体撮像部２の走査に同期してセンサマトリックス
のアドレスのカウントを行う。欠陥補正回路５は、アド
レスカウンタ８のカウント値が欠陥画素検出回路６に記
憶されているアドレスと一致した時、Ａ／Ｄ変換器４か
らの入力信号を欠陥画素の近傍の正常な画素の信号に置
き換えて出力することにより、欠陥画素の補正動作を行
う。

【００３４】（４）ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１は、欠
陥アドレスレジスタ１０へ書き込み信号（ＷＲ９２）に
よりカウンタを“＋１”し、アドレス比較部７の読み込
み信号（ＲＤ９３）によりカウンタを“−１”し、カウ
ント値をカウンタ比較部９４へ出力する。（５）カウンタ比較部９４は、比較レジスタ９５の値と
ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１のカウント値とを比較し、
一致した時、即ち、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１が所定
の値以下になった時、マイクロコンピュータ１１に割込
み信号１６を“１”として出力する。

【００３５】（６）マイクロコンピュータ１１は、制御
部９からの割込み信号１６が“１”即ち、欠陥アドレス
レジスタ１０の未使用レジスタ数が所定の値以下になっ
た時、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１のカウンタ値を読み
取り、ＥＥＰＲＯＭ１２から、欠陥アドレスレジスタ１
０の使用済みレジスタに書き込む。（７）以上の操作を、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶されてい
る全欠陥画素の欠陥補正まで繰り返す。

【００３６】以上のように本実施の形態においては、レ
ジスタの使用状態をマイクロコンピュータが監視して、
残りが少なくなると割り込み信号を送って次のデータを
レジスタに転送するようにしている。これにより、早目
にデータが転送されるので、欠陥画素の補正が中断され
にくくなる。

【００３７】次に第４の実施の形態を説明する。第４の
実施の形態の構成は、図３と同一構成である。マイクロ
コンピュータ１１は、所定のタイミング（以下ポーリン
グ）でＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１のカウント値を読み
取り、カウント値が減少している時、ＥＥＰＲＯＭ１２
から、欠陥アドレスレジスタ１０の使用済みレジスタに
書き込み処理を行う。

【００３８】（１）撮像前に、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶
されている全欠陥画素情報から欠陥アドレスレジスタ１
０のレジスタ数ｒ個の欠陥画素を読出し、欠陥アドレス
レジスタ１０に書き込む。（２）マイクロコンピュータ１１は、比較レジスタ９５
に欠陥アドレスレジスタ１０のレジスタ数より少ない所
定の値を入力する。

【００３９】（３）撮像時、アドレスカウンタ８は、Ｃ
ＣＤ固体撮像部２の走査に同期してセンサマトリックス
のアドレスのカウントを行う。欠陥補正回路５は、アド
レスカウンタ８のカウント値が欠陥画素検出回路６に記
憶されているアドレスと一致した時、Ａ／Ｄ変換器４か
らの入力信号を欠陥画素の近傍の正常な画素の信号に置
き換えて出力することにより、欠陥画素の補正動作を行
う。（４）ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１は、欠陥アドレスレ
ジスタ１０へ書き込み信号（ＷＲ９２）によりカウンタ
を“＋１”し、アドレス比較部７の読み込み信号（ＲＤ
９３）によりカウンタを“−１”し、カウント値をカウ
ンタ比較部９４へ出力する。

【００４０】（５）マイクロコンピュータ１１は、ポー
リングでＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１のカウント値を読
み取り、カウント値が減少している時、即ち、欠陥アド
レスレジスタ１０が、カウンタ比較部９４によって読み
出され、レジスタに空きが発生したことを示した時、Ｅ
ＥＰＲＯＭ１２から欠陥アドレスレジスタ１０の使用済
みレジスタに書き込み処理を行う。また、カウント値が
減少していない時、即ち、欠陥アドレスレジスタ１０
が、カウンタ比較部９４によって読み出されていなく、
レジスタに空きが発生していないことを示した時は、次
のポーリングを待つ。（６）以上の操作を、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶されてい
る全欠陥画素について欠陥補正が行われるまで繰り返
す。

【００４１】以上のように、本実施の形態においては、
マイクロコンピュータがレジスタの使用状態をポーリン
グにより監視し、レジスタが使用されると直ちに次のデ
ータが転送されるので、補正が中断されにくくなる。

【００４２】次に、第５の実施の形態を説明する。第５
の実施の形態は、図４に示すように、図３に画像メモリ
４１とカウント停止信号９６を追加した構成である。画
像メモリ４１は、Ａ／Ｄ変換器４からの入力信号を記憶
するものであり、欠陥画素補正ＩＣ１３のタイミングで
出力される。

【００４３】ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１は、欠陥アド
レスレジスタ１０への書き込み信号（ＷＲ９２）により
カウンタを“＋１”し、アドレス比較部７の読み込み信
号（ＲＤ９３）によりカウンタを“−１”し、カウント
値をカウンタ比較部９４へ出力する。またカウント値が
“０”の時、カウント停止信号９６をアドレスカウンタ
８に“１”として出力し、それ以外は“０”を出力す
る。アドレスカウンタ８は、ＣＣＤ固体撮像部２の走査
に同期してセンサマトリックスのアドレスのカウントを
行い、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１のカウント停止信号
９６が“１”の時、アドレスカウンタ８のカウントを停
止し、それ以外はカウントを停止しない。

【００４４】（１）撮像前に、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶
されている全欠陥画素情報から欠陥アドレスレジスタ１
０のレジスタ数ｒ個の欠陥画素を読出し、欠陥アドレス
レジスタ１０に書き込む。（２）マイクロコンピュータ１１は、比較レジスタ９５
に欠陥アドレスレジスタ１０のレジスタ数より少ない所
定の値を入力する。

【００４５】（３）撮像時、アドレスカウンタ８は、Ｃ
ＣＤ固体撮像部２の走査に同期してセンサマトリックス
のアドレスのカウントを行う。欠陥補正回路５は、アド
レスカウンタ８のカウント値が欠陥画素検出回路６に記
憶されているアドレスと一致した時、Ａ／Ｄ変換器４か
らの入力信号を欠陥画素の近傍の正常な画素の信号に置
き換えて出力することにより、欠陥画素の補正動作を行
う。（４）ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１は、欠陥アドレスレ
ジスタ１０へ書き込み信号（ＷＲ９２）によりカウンタ
を“＋１”し、アドレス比較部７の読み込み信号（ＲＤ
９３）によりカウンタを“−１”し、カウント値をカウ
ンタ比較部９４へ出力する。また、カウント停止信号９
６をアドレスカウンタ８に“０”として出力する。（５）カウンタ比較部９４は、比較レジスタ９５の値と
ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１のカウント値とを比較し、
一致した時、即ち、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１が所定
の値以下になった時、マイクロコンピュータ１１に割込
み信号１６を“１”として出力する。（６）マイクロコンピュータ１１から、欠陥アドレスレ
ジスタ１０への書き込みが行われないとき、ＵＰ／ＤＯ
ＷＮカウンタ９１は欠陥画素補正毎にカウントダウンを
続け、カウント値が“０”の時、カウント停止信号９６
をアドレスカウンタ８に“１”として出力する。（７）アドレスカウンタ８は、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ
９１のカウント停止信号９６が“１”の時、アドレスカ
ウンタ８のカウントを停止する。即ち、マイクロコンピ
ュータ１１の欠陥アドレスレジスタ１０への書き込みが
欠陥補正に追いつかれた状態を示す。（８）マイクロコンピュータ１１は、ＵＰ／ＤＯＷＮカ
ウンタ９１のカウント値を読み取り、カウント値が
“０”の時、即ち、欠陥アドレスレジスタ１０の全レジ
スタが使用済みの時、ＥＥＰＲＯＭ１２から欠陥アドレ
スレジスタ１０の全レジスタに書き込み処理を行う。（９）ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１は、欠陥アドレスレ
ジスタ１０への書き込み信号（ＷＲ９２）によりカウン
タを“＋１”し、アドレス比較部７の読み込み信号（Ｒ
Ｄ９３）によりカウンタを“−１”し、カウント値をカ
ウンタ比較部９４へ出力する。また、カウント停止信号
９６をアドレスカウンタ８に“０”として出力する。（１０）アドレスカウンタ８は、ＵＰ／ＤＯＷＮカウン
タ９１の、カウント停止信号９６が“０”の時アドレス
カウンタ８の計数を再開する。即ち、マイクロコンピュ
ータ１１の欠陥アドレスレジスタ１０への書き込が行わ
れた状態を示す。（１１）カウンタ比較部９４は、比較レジスタ９５の値
とＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１のカウント値とを比較
し、一致した時、即ち、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１が
所定の値より大きくなった時、マイクロコンピュータ１
１に割込み信号１６を“０”として出力する。（１２）以上の操作を、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶されて
いる全欠陥画素について欠陥補正が行われるまで繰り返
す。以上のように、本実施の形態においては、補正ＩＣ
の前段に画像メモリを設けて、レジスタが空になってマ
イクロコンピュータからの書き込みが間に合わない場
合、画像メモリからのデータ入力を停止するようにして
いる。

【００４６】次に第６の実施の形態を図４を用いて説明
する。第６の実施の形態では、マイクロコンピュータ１
１は、不図示のカメラの制御状態に応じて、ＵＰ／ＤＯ
ＷＮカウンタ９１のカウント停止信号９６を制御し、所
定のカメラの制御状態時には、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ
９１のカウント状態に関わらずカウント停止信号９６を
アドレスカウンタ８に“０”として出力する。（１）撮像前に、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶されている全
欠陥画素情報から欠陥アドレスレジスタ１０のレジスタ
数ｒ個の欠陥画素を読出し、欠陥アドレスレジスタ１０
に書き込む。（２）マイクロコンピュータ１１は、比較レジスタ９５
に欠陥アドレスレジスタ１０のレジスタ数より少ない所
定の値を入力する。また、所定のカメラ制御状態の時、
ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１のカウント状態に関わらず
カウント停止信号９６をアドレスカウンタ８に“０”と
して出力するように設定する。

【００４７】（３）撮像時、アドレスカウンタ８は、Ｃ
ＣＤ固体撮像部２の走査に同期してセンサマトリックス
のアドレスのカウントを行う。欠陥補正回路５は、アド
レスカウンタ８のカウント値が欠陥画素検出回路６に記
憶されているアドレスと一致した時、Ａ／Ｄ変換器４か
らの入力信号を欠陥画素の近傍の正常な画素の信号に置
き換えて出力することにより、欠陥画素の補正動作を行
う。（４）ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１は、欠陥アドレスレ
ジスタ１０へ書き込み信号（ＷＲ９２）によりカウンタ
を“＋１”し、アドレス比較部７の読み込み信号（ＲＤ
９３）によりカウンタを“−１”し、カウント値をカウ
ンタ比較部９４へ出力する。また、カウント停止信号９
６をアドレスカウンタ８に“０”として出力する。

【００４８】（５）カウンタ比較部９４は、比較レジス
タ９５とＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１を比較し、一致し
た時、即ち、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１が所定の値以
下になった時、マイクロコンピュータ１１に割込み信号
１６を“１”として出力する。（６）マイクロコンピュータ１１から欠陥アドレスレジ
スタ１０への書き込みが行われないとき、ＵＰ／ＤＯＷ
Ｎカウンタ９１は欠陥画素補正毎にカウントを続け、カ
ウント値が“０”の時でも、カウント停止信号９６をア
ドレスカウンタ８に“０”として出力する。即ち、マイ
クロコンピュータ１１の欠陥アドレスレジスタ１０への
書き込みが欠陥補正に追いつかれた状態を示す。

【００４９】（７）欠陥補正回路５は、欠陥画素検出回
路６からの補正制御信号が“０”として入力されている
ため、欠陥画素に対して欠陥補正回路５は、補正を行わ
ない。（８）マイクロコンピュータ１１は、ＵＰ／ＤＯＷＮカ
ウンタ９１のカウント値を読み取り、カウント値が
“０”の時、即ち、欠陥アドレスレジスタ１０の全レジ
スタが使用済みの時、アドレスカウンタ８のカウント値
を読み取り、カウント値以降の位置情報をＥＥＰＲＯＭ
１２から、欠陥アドレスレジスタ１０の全レジスタに書
き込み処理を行う。

【００５０】（９）ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１は、欠
陥アドレスレジスタ１０への書き込み信号（ＷＲ９２）
によりカウンタを“＋１”し、アドレス比較部７の読み
込み信号（ＲＤ９３）によりカウンタを“−１”し、カ
ウント値をカウンタ比較部９４へ出力する。（１０）カウンタ比較部９４は、比較レジスタ９５の値
とＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１のカウント値とを比較
し、一致した時、即ち、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１が
所定の値より大きくなったときマイクロコンピュータ１
１に割込み信号１６を“０”として出力する。（１１）以上の操作を、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶されて
いる全欠陥画素について欠陥補正が行われるまで繰り返
す。

【００５１】以上のように、本実施の形態においては、
特定の制御状態において、レジスタの書き込みが間に合
わないとき、次のデータの書き込みがあるまで補正をし
ないで欠陥画素のまま処理を進め、その後、マイクロコ
ンピュータの書き込みにより補正処理を再開するように
している。これにより撮影目的に応じた補正を行うこと
ができる。

【００５２】次に、第７の実施の形態を図４を用いて説
明する。第７の実施の形態では、マイクロコンピュータ
１１は、不図示のカメラの制御状態がＥＶＦ（電子ビュ
ーファインダ）モードの時、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９
１のカウント停止信号９６を制御して、ＵＰ／ＤＯＷＮ
カウンタ９１のカウント状態に関わらずカウント停止信
号９６をアドレスカウンタ８に“０”として出力する。
以下の動作は、上記第６の実施の形態と同様である。

【００５３】次に、第８の実施の形態を図４を用いて説
明する。第８の実施の形態は、マイクロコンピュータ１
１は、不図示のカメラの制御状態が低画質モードの時、
ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１のカウント停止信号９６を
制御して、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１のカウント状態
に関わらずカウント停止信号９６をアドレスカウンタ８
に“０”として出力する。以下の動作は、第６の実施の
形態と同様である。

【００５４】次に第９の実施の形態を図３を用いて説明
する。第９の実施の形態では、マイクロコンピュータ１
１は、不図示のカメラの制御状態に応じて、ＥＥＰＲＯ
Ｍ１２に記憶されている全欠陥画素情報から、カメラの
制御状態が所定の状態の時、ＥＥＰＲＯＭ１２からの読
み出し数を制御し、欠陥画素補正数を制御する。即ち、
欠陥画素補正数を削減することにより、マイクロコンピ
ュータ１１が他の動作を優先的に制御できるようにな
る。

【００５５】（１）マイクロコンピュータ１１は撮像前
に、カメラが所定の状態の時、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶
されている全欠陥画素情報から、所定位置情報置きに欠
陥アドレスレジスタ１０のレジスタ数ｒ個の欠陥画素を
読出し、欠陥アドレスレジスタ１０に書き込む。（２）マイクロコンピュータ１１は、比較レジスタ９５
に欠陥アドレスレジスタ１０のレジスタ数より少ない所
定の値を入力する。

【００５６】（３）撮像時、アドレスカウンタ８は、Ｃ
ＣＤ固体撮像部２の走査に同期してセンサマトリックス
のアドレスのカウントを行う。欠陥補正回路５は、アド
レスカウンタ８のカウント値が欠陥画素検出回路６に記
憶されているアドレスと一致した時、Ａ／Ｄ変換器４か
らの入力信号を欠陥画素の近傍の正常な画素の信号に置
き換えて出力することにより、欠陥画素の補正動作を行
う。（４）ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１は、欠陥アドレスレ
ジスタ１０へ書き込み信号（ＷＲ９２）によりカウンタ
を“＋１”し、アドレス比較部７の読み込み信号（ＲＤ
９３）によりカウンタを“−１”し、カウント値をカウ
ンタ比較部９４へ出力する。

【００５７】マイクロコンピュータ１１は、ポーリング
でＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９１のカウント値を読み取
り、カウント値が減少している時、即ち、欠陥アドレス
レジスタ１０が、カウンタ比較部９４によって読み出さ
れ、レジスタに空きが発生したことを示した時、ＥＥＰ
ＲＯＭ１２から欠陥アドレスレジスタ１０の使用済みレ
ジスタに書き込み処理を行う。また、カウント値が減少
していない時、即ち、欠陥アドレスレジスタ１０が、カ
ウンタ比較部９４によって読み出されていなく、レジス
タに空きが発生していないことを示している時は、次の
ポーリングを待つ。（６）以上の操作を、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶されてい
る全欠陥画素について欠陥補正が行われるまで繰り返
す。

【００５８】次に、第１０の実施の形態を図３を用いて
説明する。第１０の実施の形態では、マイクロコンピュ
ータ１１は、不図示のカメラの制御状態がＥＶＦモード
の時、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶されている全欠陥画素情
報から、所定位置情報置きに欠陥アドレスレジスタ１０
のレジスタ数ｒ個の欠陥画素を読出し、欠陥アドレスレ
ジスタ１０に書き込む。以下の動作は、第９の実施の形
態と同様である。

【００５９】次に、第１１の実施の形態を図３を用いて
説明する。第１１の実施の形態では、マイクロコンピュ
ータ１１は、不図示のカメラの制御状態が低画質モード
の時、ＥＥＰＲＯＭ１２に記憶されている全欠陥画素情
報から、所定位置情報置きに欠陥アドレスレジスタ１０
のレジスタ数ｒ個の欠陥画素を読出し、欠陥アドレスレ
ジスタ１０に書き込む。以下の動作は、第９の実施の形
態と同様である。

【００６０】尚、本発明を構成する記憶媒体１９には、
前述した第１〜第１１の実施の形態で述べた手順を実行
するためのプログラムが記憶される。またこの記憶媒体
１９としてはＲＯＭ、ＲＡＭ等の半導体メモリ、光ディ
スク、光磁気ディスク、磁気媒体等を用いてよく、これ
らをＣＤ−ＲＯＭ、フロッピディスク、磁気テープ、磁
気カード、不揮発性のメモリカード等に構成して用いて
よい。従って、この記憶媒体１９を図１〜４に示した以
外の他のシステムあるいは装置に供給し、そのシステム
あるいは装置のコンピュータが、この記憶媒体１９に格
納されたプログラムコードを読み出し、実行することに
よっても、同等の効果が得られ、本発明は達成される。

【００６１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
予め求めた全欠陥画素の位置情報を記憶する第１の記憶
手段とは別に第２の記憶手段を用意し、この第２の記憶
手段に第１の記憶手段から位置情報を所定個数だけ転送
し、転送された位置情報を使用して欠陥画素の補正を行
うと共に、位置情報の使用状態に応じて次の位置情報を
転送するように構成したので、第２の記憶手段として第
１の記憶手段より記憶容量の小さいレジスタ等の揮発性
メモリを使用することができ、コストを削減することが
できる。また、欠陥画素数に影響されないため、各種Ｃ
ＣＤに対応が可能となり、ＣＣＤごとに欠陥画素補正Ｉ
Ｃを開発する必要がなく開発期間の短縮が可能となる。

【００６２】また、請求項３、４、１３、１４の発明に
よれば、位置情報を全部使わないうちに早目に次の位置
情報が転送されるので、欠陥画素の補正が中断されにく
くすることができる。

【００６３】また、請求項６〜９、１６〜１９の発明に
よれば、撮影の目的に応じて欠陥画素補正を行うことに
より、最適なシステムを構成することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるＣＣＤ固体撮像素子の欠陥画素補
正システムの第１の実施の形態を示すブロック図であ
る。

【図２】本発明によるＣＣＤ固体撮像素子の欠陥画素補
正システムの第２の実施の形態を示すブロック図であ
る。

【図３】本発明によるＣＣＤ固体撮像素子の欠陥画素補
正システムの第３、第４、第９、第１０、第１１の実施
の形態を示すブロック図である。

【図４】本発明によるＣＣＤ固体撮像素子の欠陥画素補
正システムの第５、第６、第７、第８、第１１の実施の
形態を示すブロック図である。

【符号の説明】

２ＣＣＤ固体撮像部５欠陥補正回路６欠陥画素検出回路７アドレス比較部８アドレスカウンタ９制御部１０欠陥アドレスレジスタ１１マイクロコンピュータ１２ＥＥＰＲＯＭ１３欠陥画素補正ＩＣ１４信号処理回路１８セレクタ９１ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９２ＷＲ信号９３ＲＤ信号９４カウンタ比較部９５比較レジスタ９６カウント停止信号１０１〜１０５レジスタ０〜４

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】画像における欠陥画素の位置情報を記憶
する第１の記憶手段と、上記第１の記憶手段から位置情報が転送されるようにな
され、所定個数の位置情報を記憶する第２の記憶手段
と、入力される画像信号における画素の位置と上記第２の記
憶手段に記憶された位置情報とを比較し、両者が一致し
たときその画素の信号を補正する補正手段と、上記第２の記憶手段に記憶した位置情報の上記比較のた
めに使用した状態に応じて上記第１の記憶手段から次の
位置情報を転送させる制御手段とを備えた欠陥画素補正
装置。
【請求項２】上記制御手段は、上記第２の記憶手段に
記憶された位置情報を全部使用したとき上記転送を行う
ことを特徴とする請求項１記載の欠陥画素補正装置。
【請求項３】上記制御手段は、上記第２の記憶手段に
おける未使用の位置情報の数が所定以下となったとき上
記転送を行うことを特徴とする請求項１記載の欠陥画素
補正装置。
【請求項４】上記制御手段は、所定のタイミングで上
記第２の記憶手段の位置情報の数を検出し、位置情報の
数が減じたとき上記転送を行うことを特徴とする請求項
１記載の欠陥画素補正装置。
【請求項５】上記入力される画像信号を記憶する画像
記憶手段を設け、上記補正手段は上記画像記憶手段から
読み出した画像信号について上記補正を行い、上記制御
手段は、上記転送が間に合わないとき上記画像記憶手段
の読み出しを停止させることを特徴とする請求項１記載
の欠陥画素補正装置。
【請求項６】上記制御手段は、特定の制御状態におい
て上記転送が間に合わないとき上記補正を停止させるこ
とを特徴とする請求項１記載の欠陥画素補正装置。
【請求項７】上記制御手段は、特定の制御状態におい
て上記転送が間に合わないとき上記補正される欠陥画素
数を制御することを特徴とする請求項１記載の欠陥画素
補正装置。
【請求項８】上記特定の制御状態とは、ＥＶＦモード
であることを特徴とする請求項６又は７記載の欠陥画素
補正装置。
【請求項９】上記特定の制御状態とは、低画質モード
であることを特徴とする請求項６又は７記載の欠陥画素
補正装置。
【請求項１０】上記入力される画像信号は、固体撮像
素子を用いた撮像手段から出力されたものであり、上記
位置情報は、上記固体撮像素子の欠陥画素の位置を示す
情報であることを特徴とする請求項１記載の欠陥画素補
正装置。
【請求項１１】画像における欠陥画素の位置情報を記
憶する第１の記憶手段から上記位置情報が転送されるよ
うになされ、所定個数の位置情報を記憶する第２の記憶
手段に記憶された上記位置情報と、入力される画像信号
における画素の位置とを比較し、両者が一致したときそ
の画素の信号を補正する補正処理と、上記第２の記憶手段に記憶した位置情報の上記比較のた
めに使用した状態に応じて上記第１の記憶手段から次の
位置情報を転送させる制御処理とを実行させるためのプ
ログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒
体。
【請求項１２】上記制御処理は、上記第２の記憶手段
に記憶された位置情報を全部使用したとき上記転送を行
うことを特徴とする請求項１１記載のコンピュータ読み
取り可能な記憶媒体。
【請求項１３】上記制御処理は、上記第２の記憶手段
における未使用の位置情報の数が所定以下となったとき
上記転送を行うことを特徴とする請求項１１記載のコン
ピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項１４】上記制御処理は、所定のタイミングで
上記第２の記憶手段の位置情報の数を検出し、位置情報
の数が減じたとき上記転送を行うことを特徴とする請求
項１１記載のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項１５】上記補正処理は、上記入力される画像
信号を記憶する画像記憶手段から読み出した画像信号に
ついて上記補正を行い、上記制御処理は、上記転送が間
に合わないとき上記画像記憶手段の読み出しを停止させ
ることを特徴とする請求項１１記載のコンピュータ読み
取り可能な記憶媒体。
【請求項１６】上記制御処理は、特定の制御状態にお
いて上記転送が間に合わないとき上記補正を停止させる
ことを特徴とする請求項１１記載のコンピュータ読み取
り可能な記憶媒体。
【請求項１７】上記制御処理は、特定の制御状態にお
いて上記転送が間に合わないとき上記補正される欠陥画
素数を制御することを特徴とする請求項１１記載のコン
ピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項１８】上記特定の制御状態とは、ＥＶＦモー
ドであることを特徴とする請求項１６又は１７記載のコ
ンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項１９】上記特定の制御状態とは、低画質モー
ドであることを特徴とする請求項１６又は１７記載のコ
ンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項２０】上記入力される画像信号は、固体撮像
素子を用いた撮像手段から出力されたものであり、上記
位置情報は、上記固体撮像素子の欠陥画素の位置を示す
情報であることを特徴とする請求項１１記載のコンピュ
ータ読み取り可能な記憶媒体。