JP2011041039A - 撮像装置およびプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】記憶部での登録限度数に拘らず、補正対象とするすべての欠陥画素を補正することを可能とする撮像装置およびその欠陥画素補正のためのプログラムを提供する。
【解決手段】複数の画素を有する撮像素子（２０）から出力された複数の電気信号に基づいて画像データを生成する画像生成手段（２８）を備え、画像生成手段が、欠陥画素補正動作により画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部４２を有する撮像装置であって、画像生成手段は、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定し、補正画素数が、記憶部４３に登録可能な欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、記憶部４３における欠陥画素データの登録内容を変更しつつ欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作を繰り返す。
【選択図】図４

Description

本発明は、撮像装置およびプログラムに関し、特に、欠陥画素補正機能を有するデジタルスチルカメラ等の撮像装置およびその欠陥画素補正のためのプログラムに関する。

デジタルスチルカメラに使用される撮像素子、例えばＣＣＤでは、半導体の製造工程において、全ての画素が完全に同一性能で形成されるわけではなく、欠陥画素もできてしまう。しかし、製品の歩留まり上、所定の数以下の個数の欠陥画素があっても、良品のＣＣＤとしてデジタルスチルカメラ等の商品に使用されるのが一般的である。このため、当該商品では、その欠陥画素のＣＣＤ上の縦横座標（アドレス）等（以下、欠陥画素データ）を予め商品に設けられた欠陥画素補正部の記憶部に格納しておき、撮影時に欠陥画素補正部において、撮像データにおける記憶部に格納された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを、隣接する同じカラーフィルタの画素データで補間し、その後、静止画画像処理をする等の欠陥画素補正処理を実施することが考えられている。

また、ＣＣＤでは、上述した欠陥画素とは別に、暗電流特性の悪い画素（温度キズ）である欠陥画素も存在する。この暗電流による欠陥画素は、動的な欠陥要因であるので、上述したように欠陥画素補正処理を実施する際、露光秒時等の撮影パラメータによって、ＣＣＤにおいて補正対象とする欠陥画素（およびその数）を変更し、それに応じて欠陥画素補正することが考えられている（例えば、特許文献１参照）。

ところで、このような撮像装置では、装置全体としての大きさ寸法を出来る限り小さくすることが要求されているとともに内部には種々の機能のための機構が収容されることから、欠陥画素補正処理のための欠陥画素補正部およびその記憶部の回路等の構成を大規模なものとすることができず、記憶部に格納することができる欠陥画素データの数（欠陥画素数）には限りがある。

このため、撮像素子において補正対象とする欠陥画素の数が、欠陥画素補正部の記憶部に登録可能な欠陥画素数（登録限度数）を超えてしまうと、補正対象とするすべての欠陥画素を補正することができなくなってしまう。

本発明は、上記の問題に鑑みて為されたもので、記憶部での登録限度数に拘らず、補正対象とするすべての欠陥画素を補正することを可能とする撮像装置およびその欠陥画素補正のためのプログラムを提供することを目的としている。

上記課題を解決するため、請求項１に係る発明は、複数の画素を有する撮像素子から出力された複数の電気信号に基づいて画像データを生成する画像生成手段を備え、該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置であって、前記画像生成手段は、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定し、該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする。

請求項２に係る発明は、請求項１に記載の撮像装置であって、さらに、前記画像生成手段が適宜格納および読出することのできるメモリを備え、前記欠陥画素データは、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納され、前記画像生成手段は、前記設定条件に適合する前記欠陥画素データを前記メモリから読み出して前記記憶部に登録することを特徴とする。

請求項３に係る発明は、請求項１または請求項２に記載の撮像装置であって、前記画像生成手段は、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データを、前記補正画素数を前記登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする。

請求項４に係る発明は、請求項１または請求項２に記載の撮像装置であって、前記画像生成手段は、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データに対して、前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行い、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする。

請求項５に係る発明は、請求項１または請求項２に記載の撮像装置であって、前記画像生成手段は、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データに対して、前記欠陥画素レベルが高い方から順に前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行い、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする。

請求項６に係る発明は、請求項３ないし請求項５のいずれか１項に記載の撮像装置であって、前記欠陥画素データは、等分された前記分割画像データに対応する前記撮像素子上での区画毎に、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納されていることを特徴とする。

請求項７に係る発明は、請求項２ないし請求項６のいずれか１項に記載の撮像装置であって、前記判断基準は露光時間であり、前記設定条件は露光時間として設定された数値であることを特徴とする。

請求項８に係る発明は、請求項２ないし請求項６のいずれか１項に記載の撮像装置であって、前記判断基準はＩＳＯ感度であり、前記設定条件はＩＳＯ感度として設定された数値であることを特徴とする。

請求項９に係る発明は、複数の画素を有する撮像素子から出力された複数の電気信号に基づいて画像データを生成する画像生成手段を備え、該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置の制御部に、前記欠陥画素補正部による欠陥画素を補正する機能を実現させるためのプログラムであって、前記画像生成手段に、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定させる機能と、該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させる機能と、を実現させることを特徴とする。

請求項１０に係る発明は、請求項９に記載のプログラムであって、前記画像生成手段に、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納された前記欠陥画素データのうち、前記設定条件に適合する前記欠陥画素データを前記メモリから読み出して前記記憶部に登録する機能を、実現させることを特徴とする。

請求項１１に係る発明は、請求項９または請求項１０に記載のプログラムであって、前記画像生成手段に、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データを、前記補正画素数を前記登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させる機能を、実現させることを特徴とする。

請求項１２に係る発明は、請求項９または請求項１０に記載のプログラムであって、前記画像生成手段に、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データに対して、前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行わせ、かつ、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させる機能を、実現させることを特徴とする。

請求項１３に係る発明は、請求項１1または請求項１2に記載のプログラムであって、前記欠陥画素データとして、等分された前記分割画像データに対応する前記撮像素子上での区画毎に、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納する機能を、実現させることを特徴とする。

本発明に係る撮像装置によれば、設定した補正対象とする補正画素数が登録限度数を超える場合であっても、欠陥画素補正部での欠陥画素補正動作を繰り返すことにより、その超えた数の画素を２回目以降（設定条件によっては２回）の欠陥画素補正部での欠陥画素補正動作により補正するので、補正が必要とされる補正画素数と記憶部の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子の全ての欠陥画素を補正することができる。

また、欠陥画素補正部での欠陥画素補正動作の繰り返しの際、補正対象とする画素データを重複させることなく補正画素数の欠陥画素補正を行うように、記憶部における欠陥画素データの登録内容を変更させるので、設定した補正画素数だけ補正すること、換言すると過不足なく適切に補正することができ、欠陥画素の補正不足や過補正に基因する画質の低下を防止することができる。

上記した構成に加えて、さらに、前記画像生成手段が適宜格納および読出することのできるメモリを備え、前記欠陥画素データは、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納され、前記画像生成手段は、前記設定条件に適合する前記欠陥画素データを前記メモリから読み出して前記記憶部に登録することとすると、欠陥画素補正部が、欠陥画素補正動作を繰り返す際、記憶部にはメモリから読み出された設定条件に適合する欠陥画素データが登録されているので、設定条件に適合する適切な欠陥画素補正を行うことができる。

上記した構成に加えて、前記画像生成手段は、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データを、前記補正画素数を前記登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すこととすると、欠陥画素補正部での欠陥画素補正に要する処理時間が入力されるデータ量に略比例することから、撮像素子の全ての欠陥画素を補正する際の処理時間を、欠陥画素補正部での欠陥画素補正動作の回数に拘らず、分割される前の画像生成データを欠陥画素補正部で欠陥画素補正処理させる場合と略等しいものとすることができる。

上記した構成に加えて、前記画像生成手段は、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データに対して、前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行い、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すこととすると、初めに撮像素子の全領域に対して登録限度数の欠陥画素の補正を行うことにより、より適切に欠陥画素補正をすることができ、その後の残りの補正画素数分の欠陥画素補正を各分割画像データに対して行うことにより、残りの補正画素数分の欠陥画素補正に要する処理時間の増大を抑制することができる。

上記した構成に加えて、前記画像生成手段は、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データに対して、前記欠陥画素レベルが高い方から順に前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行い、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すこととすると、初めに欠陥画素レベルが高い方から順に登録限度数だけ撮像素子の全領域に対して欠陥画素の補正を行うことにより、さらに適切に欠陥画素補正をすることができ、その後の残りの補正画素数分の欠陥画素補正を各分割画像データに対して行うことにより、残りの補正画素数分の欠陥画素補正に要する処理時間の増大を抑制することができる。

上記した構成に加えて、前記欠陥画素データは、等分された前記分割画像データに対応する前記撮像素子上での区画毎に、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納されていることとすると、設定条件に応じた各分割画像データでの欠陥画素データを適切に欠陥画素補正部の記憶部に登録することができ、かつ欠陥画素補正処理のための各欠陥画素データを効率よくメモリに格納することができる。

上記した構成に加えて、前記判断基準は露光時間であり、前記設定条件は露光時間として設定された数値であることとすると、撮影時の露光時間に応じて適切に欠陥画素を補正することができる。

上記した構成に加えて、前記判断基準はＩＳＯ感度であり、前記設定条件はＩＳＯ感度として設定された数値であることとすると、撮影時のＩＳＯ感度に応じて適切に欠陥画素を補正することができる。

本発明の実施例１に係る撮像装置の一例としてのデジタルスチルカメラ（以下、「デジタルカメラ１」という）を示す説明図であり、（ａ）は正面図であり、（ｂ）は上面図であり、（ｃ）は背面図である。 図１のデジタルカメラ１のシステム構成の概要を示すブロック図である。 デジタルカメラ１に用いられるＲＧＢフィルタを模式的に示す説明図である。 各優先補正画素群Ｐ_ＮにおけるＲＡＭ４４に格納された欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ２０上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）等を表で示す説明図である。 制御部２８にて実行される実施例１の欠陥画素補正処理内容を示すフローチャートである。 図５のフローチャートにおけるステップＳ４の処理内容を示すフローチャートである。 各優先補正画素群Ｐ_ＮＭにおけるＲＡＭ４４に格納された欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ２０上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）等を表で示す図４と同様の説明図である。 取得した画像（画像データ）をＳ等分した様子を説明するための説明図であり、（ａ）は４分割した様子を示し、（ｂ）は２分割した様子を示している。 制御部２８にて実行される実施例２の欠陥画素補正処理内容を示すフローチャートである。 図９のフローチャートにおけるステップＳ２４の処理内容を示すフローチャートである。 各優先補正画素群Ｐ_Ｎ´もしくは各優先補正画素群Ｐ_ＮＭ´におけるＲＡＭ４４に格納された欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ２０上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）等を表で示す図４および図７と同様の説明図である。 制御部２８にて実行される実施例３の欠陥画素補正処理内容を示すフローチャートである。 図１２のフローチャートにおけるステップＳ５６の処理内容を示すフローチャートである。

以下に、本発明に係る撮像装置およびその撮像装置で実行される欠陥画素補正処理のためのプログラムの実施の形態を図面を参照しつつ説明する。

図１は、本発明の実施例１に係る撮像装置の一例としてのデジタルスチルカメラ（以下、「デジタルカメラ１」という）を示す説明図であり、（ａ）は正面図であり、（ｂ）は上面図であり、（ｃ）は背面図である。図２は、図１のデジタルカメラ１のシステム構成の概要を示すブロック図である。図３は、デジタルカメラ１に用いられるＲＧＢフィルタを模式的に示す説明図である。図４は、各優先補正画素群Ｐ_ＮにおけるＲＡＭ４４に格納された欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ２０上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）等を表で示す説明図である。
（デジタルカメラの外観構成）
実施例１のデジタルカメラ１では、図１に示すように、上面側に、レリーズボタン（シャッタボタン）２、電源ボタン３、撮影・再生切替ダイアル４が設けられ、正面（前面）側に、撮影レンズ系５を有する鏡胴ユニット６、ストロボ発光部（フラッシュ）７、光学ファインダ８が設けられている。

また、デジタルカメラ１では、背面側に、液晶モニタ（ＬＣＤ）９、前記光学ファインダ８の接眼レンズ部８ａ、広角側ズーム（Ｗ）スイッチ１０、望遠側ズーム（Ｔ）スイッチ１１、メニュー（ＭＥＮＵ）ボタン１２、確定ボタン（ＯＫボタン）１３等が設けられている。このデジタルカメラ１の側面内部には、撮影した画像データを保存するためのメモリカード１４（図２参照）を収納するメモリカード収納部１５が設けられている。なお、本発明に係る撮像装置の外観は、必ずしも実施例１に限定されるものではなく、他の外観を備えていてもよい。
（デジタルカメラのシステム構成）
デジタルカメラ１は、図２に示すように、鏡胴ユニット６の撮影レンズ系５を通して入射される被写体画像が受光面上に結像する固体撮像素子としてのＣＣＤ２０、ＣＣＤ２０から出力される電気信号（アナログＲＧＢ画像信号）をデジタル信号に処理するアナログフロントエンド部２１（以下、「ＡＦＥ部２１」という）、ＡＦＥ部２１から出力されるデジタル信号を処理する信号処理部２２、データを一時的に格納するＳＤＲＡＭ２３、制御プログラム等が記憶されたＲＯＭ２４、鏡胴ユニット６を駆動するモータドライバ２５、後述する制御部２８が適宜データを格納および読み出すことが可能とされたメモリとしてのＲＡＭ４４等を備えている。

撮影レンズ系５は、ズームレンズやフォーカスレンズ等を有する。鏡胴ユニット６は、撮影レンズ系５、絞りユニット２６、メカシャッタユニット２７を有し、その撮影レンズ系５、絞りユニット２６、メカシャッタユニット２７の各駆動ユニットは、モータドライバ２５によって駆動される。モータドライバ２５は、信号処理部２２の制御部（ＣＰＵ）２８からの駆動信号により駆動制御される。

ＣＣＤ２０は、結像された被写体像を電気信号（画像データ）に変換して出力する固体撮像素子である。このＣＣＤ２０は、受光面全体が画素(ピクセル)と呼ばれる格子状の領域（以下、画素２０ａ（図３参照）ともいう）に分割されており、デジタルデータである画素データの集合で構成される画像データを、電気信号として出力する。ＣＣＤ２０では、分割された各領域（画素)にベイヤー配列を構成するように色フィルタ（ＲＧＢ、ＣＹＭ等）が設けられており、実施例１では、図３に示すように、ベイヤー配列のＲＧＢ原色フィルタ（以下、「ＲＧＢフィルタ」という）が配置されている。このため、ＣＣＤ２０は、各画素２０ａからＲＧＢ３原色に対応した電気信号（アナログＲＧＢ画像信号）を出力する。なお、ＣＣＤ２０は、固体撮像素子としてのＣＭＯＳ型イメージセンサ等で構成することもできる。

ＡＦＥ部２１は、ＣＣＤ２０を駆動するＴＧ（タイミング信号発生部）３０、ＣＣＤ２０から出力される電気信号（アナログＲＧＢ画像信号）をサンプリングするＣＤＳ（相関２重サンプリング部）３１、ＣＤＳ３１にてサンプリングされた信号のゲインを調整するＡＧＣ（アナログ利得制御部）３２、ＡＧＣ３２でゲイン調整された信号をデジタル信号（以下、「ＲＡＷ−ＲＧＢデータ」という）に変換するＡ／Ｄ変換部３３を有する。

信号処理部２２は、ＣＣＤインターフェース（以下、「ＣＣＤＩ／Ｆ」という）３４と、メモリコントローラ３５と、ＹＵＶ変換部３６と、リサイズ処理部３７と、表示出力制御部３８と、データ圧縮部３９と、メディアインターフェース（以下、「メディアＩ／Ｆ」という）４０と、欠陥画素補正部４２と、制御部（ＣＰＵ）２８と、を有する。

ＣＣＤＩ／Ｆ３４は、ＡＦＥ部２１のＴＧ３０へ画面水平同期信号（ＨＤ）と画面垂直同期信号（ＶＤ）の出力を行い、これらの同期信号に合わせて、ＡＦＥ部２１のＡ／Ｄ変換部３３から出力されるＲＡＷ−ＲＧＢデータを取り込む。メモリコントローラ３５は、ＳＤＲＡＭ２３を制御する。ＹＵＶ変換部３６は、ＣＣＤＩ／Ｆ３４にて取り込んだＲＡＷ−ＲＧＢデータを、表示や記録が可能なＹＵＶ形式の画像データに変換する。リサイズ処理部３７は、表示や記録される画像データのサイズに合わせて画像サイズを変更する。表示出力制御部３８は、画像データの表示出力を制御する。データ圧縮部３９は、画像データをＪＰＥＧ形式等で記録させるべくデータの変換を行う。メディアＩ／Ｆ４０は、画像データをメモリカード１４へ書き込み、またはメモリカード１４に書き込まれた画像データを読み出す。欠陥画素補正部４２は、ＣＣＤ２０にて取得された画像データが、信号処理部２２内を伝播する過程において、欠陥画素の補正を行うものである。この欠陥画素の補正については、後に詳述する。制御部２８は、操作部４１からの操作入力情報等に応じて、ＲＯＭ２４に記憶された制御プログラムに基づいてデジタルカメラ１全体のシステム制御等を行う。

操作部４１は、デジタルカメラ１の外観表面に設けられているレリーズボタン２、電源ボタン３、撮影・再生切替ダイアル４、広角側ズームスイッチ１０、望遠側ズームスイッチ１１、メニューボタン１２、確定ボタン１３等（図１参照）であり、撮影者の操作に応じた所定の動作指示信号が制御部２８に入力される。

ＳＤＲＡＭ２３には、ＣＣＤＩ／Ｆ３４に取り込まれたＲＡＷ−ＲＧＢデータが保存されるとともに、ＹＵＶ変換部３６で変換処理されたＹＵＶデータ（ＹＵＶ形式の画像データ）が保存され、加えて、データ圧縮部３９で圧縮処理されたＪＰＥＧ形成などの画像データが保存される。なお、このＹＵＶデータとは、輝度データ（Ｙ）と、輝度データと青色（Ｂ）成分データの差分である色差（Ｕ）と、輝度データと赤色（Ｒ）成分データの差分である色差（Ｖ）の情報で色を表現する形式である。
（デジタルカメラのモニタリング動作、静止画撮影動作）
次に、前記したデジタルカメラ１のモニタリング動作と静止画撮影動作について説明する。このデジタルカメラ１は、静止画撮影モード時には、以下に説明するようなモニタリング動作を実行しながら静止画撮影動作が行われる。

先ず、撮影者が電源ボタン３をＯＮし、撮影・再生切替ダイアル４を撮影モードに設定することで、デジタルカメラ１が記録モードで起動する。制御部２８は、電源ボタン３がＯＮされて、撮影・再生切替ダイアル４が撮影モードに設定されたことを検知すると、モータドライバ２５に制御信号を出力して、鏡胴ユニット６を撮影可能位置に移動させ、かつ、ＣＣＤ２０、ＡＦＥ部２１、信号処理部２２、ＳＤＲＡＭ２３、ＲＯＭ２４、液晶モニタ９等を起動させる。

そして、鏡胴ユニット６の撮影レンズ系５が被写体に向けられることにより、撮影レンズ系５を通して入射される被写体画像がＣＣＤ２０の各画素の受光面上に結像する。そして、ＣＣＤ２０から出力される被写体画像に応じた電気信号（アナログＲＧＢ画像信号）は、ＣＤＳ３１、ＡＧＣ３２を介してＡ／Ｄ変換部３３に入力され、Ａ／Ｄ変換部３３により１２ビット（ｂｉｔ）のＲＡＷ−ＲＧＢデータに変換される。

このＲＡＷ−ＲＧＢデータは、信号処理部２２のＣＣＤＩ／Ｆ３４に取り込まれてメモリコントローラ３５を介してＳＤＲＡＭ２３に保存される。そして、ＳＤＲＡＭ２３から読み出されたＲＡＷ−ＲＧＢデータは、ＹＵＶ変換部３６でＹＵＶデータ（ＹＵＶ信号）に変換された後に、メモリコントローラ３５を介してＳＤＲＡＭ２３にＹＵＶデータとして保存される。

そして、ＳＤＲＡＭ２３からメモリコントローラ３５を介して読み出されるＹＵＶデータは、表示出力制御部３８を介して液晶モニタ（ＬＣＤ）９へ送られ、液晶モニタ（ＬＣＤ）９において撮影画像が表示される。その液晶モニタ（ＬＣＤ）９に撮影画像を表示しているモニタリング時においては、ＣＣＤＩ／Ｆ３４による画素数の間引き処理により１／３０秒の時間で１フレームが読み出されている。このため、ＡＦＥ部２１および信号処理部２２は、制御部２８の制御下で画像生成手段として機能する。

なお、このモニタリング動作時は、電子ファインダとして機能する液晶モニタ（ＬＣＤ）９に撮影画像が表示されているだけで、まだレリーズボタン２が押圧（半押も含む）操作されていない状態である。

この撮影画像の液晶モニタ（ＬＣＤ）９への表示によって、撮影者は、静止画を撮影するための構図の確認等を行うことができる。なお、デジタルカメラ１では、表示出力制御部３８からＴＶビデオ信号として出力して、ビデオケーブルを介して外部のＴＶ（テレビ）（図示せず）に撮影画像を表示することもできる。
（欠陥画素とその検出方法）
デジタルスチルカメラに使用される撮像素子（上記したＣＣＤ２０等）では、半導体の製造工程において、全ての受光素子が完全に同一性能で形成されるわけではなく、一部の受光素子に欠陥が生じてしまうことがある。この欠陥が生じてしまった受光素子に相当する画素を、以下では欠陥画素という。しかし、製品の歩留まり上、所定の数以下の個数の欠陥画素があっても、良品の撮像素子としてデジタルスチルカメラ等の商品に使用されるのが一般的である。このため、デジタルカメラ１では、その欠陥画素のＣＣＤ２０上における縦横座標（アドレス）等（以下、欠陥画素データ）を予めＲＡＭ４４等に格納しておき、撮影時に、撮像データにおけるＲＡＭ４４等に格納された欠陥画素のアドレスに相当する画素データに対して欠陥画素補正処理を実施する。この欠陥画素は、例えば、画像全体の輝度値の平均値であるＡＥ評価値が１２８程度の真白な画像を取得させ、当該画像データの各画素データにおいて、輝度値の１２８からの差異が所定の値よりも大きいか否かを判断することにより、検出することができる。ここで、輝度値が１２８よりも低いものを黒キズといい、輝度値が１２８よりも高いものを白キズという。

また、上述の欠陥画素とは別に、暗電流特性の悪い画素（温度キズ）である欠陥画素も存在する。この温度キズは、暗電流が増えたり蓄積されたりする条件、すなわち撮像素子の温度が上昇したり露光時間が長くなったりするほど影響が大きくなるという動的な欠陥要因である。このため、この温度キズの欠陥画素では、通常１秒程度の露光では問題とならないが、露光時間が長くなるに従って暗電流の増加が大きくなり、それが画像データに重畳され、画像上において輝点となって見える。夜景撮影等の長時間露光撮影による画像において、点々の星状のノイズとして現れるものがこれである。この温度キズの欠陥画素は、３００万画素の撮像素子に対して６０個程度であり、個々の欠陥画素のアドレスをＲＡＭ４４等に格納しておくことができる。しかし、温度キズの欠陥画素は、上述したように動的な欠陥要因であることから、露光秒時などの撮影パラメータによって補正しなければならない。この温度キズの欠陥画素は、例えば、遮光して真暗な画像を取得させ、当該画像データの各画素データにおいて、輝度値が所定の値よりも大きいか否かを判断することにより、検出することができる。
（欠陥画素の基本的な補正方法）
欠陥画素の補正は基本的に以下の方法で行われる。

先ず、デジタルカメラ１では、上記したように検出してＲＡＭ４４等に格納した欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ２０上の縦横座標）のデータを、信号処理部２２の欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。その後、レリーズ２（図１参照）が押し下げられて、上述したようにＣＣＤ２０により取得された画像データが信号処理部２２内を伝播される過程において、当該画像データ（生成過程の画像データである画像生成データ）が欠陥画素補正部４２へと送られる。欠陥画素補正部４２では、当該画像データ（その各画素データ）において、記憶部４３に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間する。

ここでいう周辺の画素とは、緑色（Ｇ）の場合、水平方向に隣接する両隣の画素または垂直方向に隣接する両隣の画素あるいは斜め方向に隣接する両隣の画素をいい、青色（Ｂ）や赤色（Ｒ）の場合、水平方向に隣接する両隣の画素または垂直方向に隣接する両隣の画素をいう。

実施例１では、基本的には、注目した欠陥画素（補正対象としての欠陥画素）の水平方向に隣接する両隣の画素データの平均値を、当該注目した欠陥画素の画素データとすることにより補間する。ここで、注目した欠陥画素が、画像データにおける左端または右端に位置していた場合は、水平方向に隣接する画素データを、当該注目した欠陥画素の画素データとすることにより補正する。

また、実施例１では、ＲＧＢフィルタで見て同色の欠陥画素が、水平方向に２つ並んでいる場合（以下では、連続２画素の欠陥画素ともいう）であっても、補正することができる。この注目した連続２画素の欠陥画素を補正する場合、一方の欠陥画素が他方の欠陥画素とは逆側で隣接する画素データを、当該一方の欠陥画素の画素データとし、他方の欠陥画素が一方の欠陥画素とは逆側で隣接する画素データを、当該他方の欠陥画素の画素データとすることにより、補間する。ここで、注目した連続２画素の欠陥画素が、画像データにおける左端または右端に位置していた場合は、水平方向に隣接する画素データとそれに隣接する画素データとの２画素分の画素データを、当該注目した連続２画素の欠陥画素の画素データとすることにより補正する。

ここで、欠陥画素補正部４２の記憶部４３では、登録可能な欠陥画素（その欠陥画素のアドレスデータ等）の個数（欠陥画素データの量）は有限であり、例えば、実施例１のデジタルカメラ１では５１２個である。これは、デジタルカメラ１では、一般の撮像装置と同様に、装置全体としての大きさ寸法を出来る限り小さくすることが要求されているとともに内部には種々の機能のための機構が収容されること等から、欠陥画素補正部４２およびその記憶部４３の回路等の構成を大規模なものとすることができず、記憶部４３に登録（格納）することができる欠陥画素データの量（欠陥画素数）には限りがあることによる。このため、従来のデジタルスチルカメラ等では、撮像素子において、欠陥画素補正部の記憶部に登録（格納）可能な欠陥画素数を超える欠陥画素が存在する場合、その全てを欠陥画素補正することができなかった。

本願発明は、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）可能な欠陥画素数を超える欠陥画素が存在する場合であっても、その全てを欠陥画素補正することを可能とするものであって、欠陥画素補正部４２により実行される欠陥画素補正処理内容が従来のものとは異なるものとされている。以下では、このことについて詳細に説明する。
（欠陥画素補正処理）
以下の説明では、理解容易のために、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）可能な欠陥画素数（登録限度数）を５００としている。また、欠陥画素の影響の変化の判断基準を露光時間としかつその判断基準の設定条件を露光時間として設定された秒数とすべく、ＣＣＤ２０における欠陥画素の検出の際、遮光して真暗な画像（ダーク画像）を取得（撮影）させ、取得した当該画像（画像データ）における画素（画素データ）の輝度値を欠陥画素レベルとし、取得した当該画像（画像データ）において輝点として現れる輝度値（欠陥画素レベル）を補正判断値としている。実施例１では、欠陥画素レベル（輝度値）が２４０以上であると露光時間が２秒の場合に画像（画像データ）において輝点として現れることからその補正判断値を２４０〜２５５とし、欠陥画素レベル（輝度値）が２２０以上であると露光時間が４秒の場合に画像（画像データ）において輝点として現れることからその補正判断値を２２０〜２３９とし、欠陥画素レベル（輝度値）が２００以上であると露光時間が８秒の場合に画像（画像データ）において輝点として現れることからその補正判断値を２００〜２１９とし、欠陥画素レベル（輝度値）が１８０以上であると露光時間が１６秒の場合に画像（画像データ）において輝点として現れることからその補正判断値を１８０〜１９９としている。実施例１では、当該欠陥画素レベル（輝度値）が高いものほど、補正優先度の高い欠陥画素（温度キズ）であるものとしている。なお、欠陥画素レベルとしての輝度値は、出力のフルスケールを２５５とした出力値を示しており、数値が大きくなるほど大きな（高い）出力であることを示している。

実施例１のデジタルカメラ１では、ＲＯＭ２４に記憶されたプログラムを、制御部２８が実行して欠陥画素補正部４２等を適宜制御することにより、本願発明に係る欠陥画素補正処理を行う。この欠陥画素補正処理は、基本的には、欠陥画素補正部４２において一度の欠陥画素補正の動作により補正可能な欠陥画素数が、記憶部４３に登録（格納）された欠陥画素数となることから、記憶部４３に登録可能な欠陥画素数（登録限度数）を超える場合、記憶部４３への登録内容を書き換えつつ欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正の動作を繰り返すことにより、撮像素子（ＣＣＤ２０）の全ての欠陥画素の補正を可能とするものである。この欠陥画素補正処理のために、露光時間に応じた補正する欠陥画素数が設定されている。この露光時間に応じた補正画素数の決定は以下のように行う。

欠陥画素の数は撮像素子（センサ）の特性に依存する。例えば、ＣＭＯＳでは、同条件下であってもＣＣＤより１０倍も多い欠陥画素が出現すると言われている。このため、実際にデジタルスチルカメラ（実施例１ではデジタルカメラ１）にセンサ（実施例１ではＣＣＤ２０）を搭載した状態において、露光２秒で出現する欠陥画素の数、露光４秒で出現する欠陥画素の数、・・・・というように、設定された各露光時間で出現する欠陥画素の数を統計的に把握し、露光時間に応じて出現する欠陥画素の全てを補正するために充分だと判断できる数を、露光時間に応じた補正画素数として設定する。このため、上記した露光時間に対する補正判断値すなわち欠陥画素レベル（輝度値）の各数値は、露光時間に応じた補正画素数の設定のための目安であるということができる。この欠陥画素補正処理においては、欠陥画素レベルが高い画素から順に、露光時間に応じた補正画素数だけ、欠陥画素補正を行う。

この実施例１では、露光時間が２秒の場合の補正画素数を２００とし、露光時間が４秒の場合の補正画素数を５００とし、露光時間が８秒の場合の補正画素数を７００とし、露光時間が１６秒の場合の補正画素数を１０００としている（図４参照）。すなわち、統計的に、欠陥画素レベル（輝度値）が２４０〜２５５となる画素数が２００以下であり、欠陥画素レベル（輝度値）が２２０〜２３９となる画素数が５００以下であり、欠陥画素レベル（輝度値）が２００〜２１９となる画素数が７００以下であり、欠陥画素レベル（輝度値）が１８０〜１９９となる画素数が１０００以下であることを意味している。

制御部２８は、設定された露光時間に応じた補正画素数での欠陥画素補正処理のために、実施例１では、欠陥画素データとして、検出した欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ２０上の縦横座標）のデータを、それぞれの欠陥画素レベルおよび設定された露光時間に関連付けて、以下のようにＲＡＭ４４に格納する。なお、実施例１では、後述するように記憶部４３に適宜登録するための欠陥画素データをＲＡＭ４４に格納しているが、制御部２８が適宜データを格納および読み出すことが可能とされたメモリであればよく、実施例１に限定されるものではない。

先ず、図４に示すように、ＣＣＤ２０の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に２００個の画素を欠陥画素として検出し、第１優先補正画素群Ｐ_１の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。この第１優先補正画素群Ｐ_１として検出された２００個の欠陥画素は、そのまま露光時間が２秒の場合に補正する２００個の欠陥画素となる。

次に、ＣＣＤ２０の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に５００個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した５００個の画素から、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第２優先補正画素群Ｐ_２の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。これは、例えば、ＣＣＤ２０の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に５００個の画素を検出する過程において、それらのうち第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素において最も低い欠陥画素レベルよりも低い欠陥画素レベルのものを選出することにより行う。このため、第２優先補正画素群Ｐ_２の欠陥画素として、ＣＣＤ２０の全ての画素の中における欠陥画素レベルが高い５００個の画素から、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素を減算した、残りの３００個の画素を検出することとなる。この第２優先補正画素群Ｐ_２として検出された３００個の欠陥画素は、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が４秒の場合に補正する５００個の欠陥画素となる。また、本願発明に係る欠陥画素補正処理では、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）可能な欠陥画素数を、後述するように、欠陥画素レベルが高い方から順に補正優先度の高い欠陥画素として設定することから、実施例１では、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）可能な欠陥画素数が５００であるので、露光時間が４秒の場合に補正する５００個の欠陥画素が、そのまま補正優先度の高い欠陥画素となる。

次に、ＣＣＤ２０の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に７００個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した７００個の画素から、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素および第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第３優先補正画素群Ｐ_３の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。これは、例えば、ＣＣＤ２０の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に７００個の画素を検出する過程において、それらのうち第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素において最も低い欠陥画素レベルよりも低い欠陥画素レベルのものを選出することにより行う。このため、第３優先補正画素群Ｐ_３の欠陥画素として、ＣＣＤ２０の全ての画素の中における欠陥画素レベルが高い７００個の画素から、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素および第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素を減算した、残りの２００個の画素を検出することとなる。この第３優先補正画素群Ｐ_３として検出された２００個の欠陥画素は、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素および第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が８秒の場合に補正する７００個の欠陥画素となる。

次に、ＣＣＤ２０の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に１０００個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した１０００個の画素から、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素、第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素および第３優先補正画素群Ｐ_３の２００個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第４優先補正画素群Ｐ_４の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。これは、例えば、ＣＣＤ２０の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に１０００個の画素を検出する過程において、それらのうち第３優先補正画素群Ｐ_３の２００個の欠陥画素において最も低い欠陥画素レベルよりも低い欠陥画素レベルのものを選出することにより行う。このため、第４優先補正画素群Ｐ_４の欠陥画素として、ＣＣＤ２０の全ての画素の中における欠陥画素レベルが高い１０００個の画素から、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素、第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素および第３優先補正画素群Ｐ_３の２００個の欠陥画素を減算した、残りの３００個の画素を検出することとなる。この第４優先補正画素群Ｐ_４として検出された３００個の欠陥画素は、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素、第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素および第３優先補正画素群Ｐ_３の２００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が１６秒の場合に補正する１０００個の欠陥画素となる。

なお、上記したように補正画素数を設定していることから、各優先補正画素群Ｐ_Ｎ（Ｎ＝１〜４）の各欠陥画素では、ＣＣＤ２０の全ての画素の中において、補正判断値すなわち設定の目安としての欠陥画素レベル（輝度値）の範囲にある欠陥画素レベルの画素の全てを漏らすことなく含むものではあるが、設定の目安としての欠陥画素レベル（輝度値）よりも小さな欠陥画素レベルの画素が含まれている場合はあり得る。

実施例１の制御部２８では、上述したようにＲＡＭ４４に格納した各優先補正画素群Ｐ_Ｎ（Ｎ＝１〜４）のアドレスデータ（図４参照）すなわち各欠陥画素データを利用して、欠陥画素補正処理を行う。図５は、この制御部２８にて実行される実施例１の欠陥画素補正処理内容を示すフローチャートであり、図６は、図５のフローチャートにおけるステップＳ４の処理内容を示すフローチャートである。以下、図５のフローチャートの各ステップ（図６のフローチャートの各ステップも含む）について図４を用いて説明する。

ステップＳ１では、設定された露光時間を取得して、ステップＳ２へ進む。このステップＳ１では、レリーズ２が押し下げられて撮影動作が開始されると、それにより得ることが可能となる当該撮影時の露光時間の情報を取得する。この露光時間は、撮影モードや撮影現場の雰囲気等に応じて制御部２８が設定する場合もあれば、操作部４１（図２参照）への操作により設定される場合もあるが、撮影動作が開始されると当該撮影時の露光時間が決まることから、撮影動作の開始に伴って露光時間の情報を取得する。

ステップＳ２では、ステップＳ１での設定された露光時間の取得に続き、取得した露光時間が８秒以上であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ３へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ４へ進む。このステップＳ２では、欠陥画素補正処理の内容の切り換え、すなわち欠陥画素補正部４２による欠陥画素補正動作の回数の切り換えのために、ステップＳ１で取得した露光時間の長さ（数値）を判断している。これは、上述したように、露光時間に応じた補正画素数が予め設定されていることと、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）可能な欠陥画素数（登録限度数）には限度があることと、による。実施例１では、記憶部４３に登録可能な欠陥画素数（登録限度数）が５００であるのに対し、露光時間が４秒の場合の補正画素数が５００に設定されかつ露光時間が８秒の場合の補正画素数が７００に設定されていることから、露光時間が８秒以上であると設定された補正画素数が登録限度数を越えるので、欠陥画素補正部４２による欠陥画素補正動作を２回とすべくステップＳ３へ進み、露光時間が４秒以下であると設定された補正画素数が登録限度数以下であるので、欠陥画素補正部４２による欠陥画素補正動作を１回とすべくステップＳ４へ進む。

ステップＳ３では、ステップＳ２での露光時間が８秒以上であるとの判断に続き、補正優先度の高い欠陥画素の補正を実行して、ステップＳ４へ進む。このステップＳ３では、ステップＳ２にて露光時間が８秒以上であると判断したことから、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数（登録限度数）よりも多くの欠陥画素を補正する必要があるので、補正優先度の高い順すなわち欠陥画素レベル（輝度値）の大きい順から、記憶部４３の登録限度数の欠陥画素を補正する。実施例１では、記憶部４３の登録限度数が５００であることから、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素のアドレスデータと、第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素のアドレスデータと、を、ＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。その後、欠陥画素補正部４２は、送られてきた画像データ（その各画素データ）において、記憶部４３に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素と、第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素と、の合計５００個の欠陥画素の補正を行う。ここで、当該５００個の欠陥画素のアドレスデータは、その全てが記憶部４３に登録可能であることから、欠陥画素補正部４２では一度の欠陥画素補正動作で、補正優先度の高い５００個の欠陥画素の全てを補正することができる。なお、各優先補正画素群Ｐ_Ｎ（Ｎ＝１〜４）の欠陥画素の個数の区切りが、記憶部４３の登録限度数に対応していない場合、補正優先度の高い方から順に登録可能な登録限度数の欠陥画素のアドレスデータを、記憶部４３への登録を可能とする状態で予めＲＡＭ４４に格納しておくことが望ましい。

ステップＳ４では、ステップＳ２での露光時間が８秒以上ではないとの判断、あるいは、ステップＳ３での補正優先度の高い欠陥画素の補正の実行に続き、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、ステップＳ５へ進む。このステップＳ４では、ステップＳ１で取得した露光時間に応じた補正画素数の欠陥画素を補正するために、各優先補正画素群Ｐ_Ｎ（Ｎ＝１〜４）のアドレスデータをＲＡＭ４４から適宜読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）することにより、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行う（これを処理Ａとする）。すなわち、実質的な補正画素数の設定を行う。以下では、この露光時間に応じた欠陥画素補正の準備（ステップＳ４）における処理内容を示す図６のフローチャートの各ステップについて説明する。

ステップＳ１１では、ステップＳ１で取得した露光時間が２秒であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ１２へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ１３へ進む。

ステップＳ１２では、ステップＳ１１での露光時間が２秒であるとの判断に続き、２秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理Ａ（ステップＳ４）を終了し、ステップＳ５（図５参照）へと進む。ここで、露光時間が２秒である場合、図５のフローチャートにおいて、ステップＳ１→ステップＳ２→ステップＳ４へと進んできている場面である。このステップＳ１２では、２秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素のアドレスデータ（図４参照）をＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ１３では、ステップＳ１１での露光時間が２秒ではないとの判断に続き、ステップＳ１で取得した露光時間が４秒であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ１４へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ１５へ進む。

ステップＳ１４では、ステップＳ１３での露光時間が４秒であるとの判断に続き、４秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理Ａ（ステップＳ４）を終了し、ステップＳ５（図５参照）へと進む。ここで、露光時間が４秒である場合、図５のフローチャートにおいて、ステップＳ１→ステップＳ２→ステップＳ４へと進んできている場面である。このステップＳ１４では、４秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素のアドレスデータおよび第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素のアドレスデータ（図４参照）をＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ１５では、ステップＳ１３での露光時間が４秒ではないとの判断に続き、ステップＳ１で取得した露光時間が８秒であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ１６へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ１７へ進む。

ステップＳ１６では、ステップＳ１５での露光時間が８秒であるとの判断に続き、８秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理Ａ（ステップＳ４）を終了し、ステップＳ５（図５参照）へと進む。ここで、露光時間が８秒である場合、図５のフローチャートにおいて、ステップＳ１→ステップＳ２→ステップＳ３→ステップＳ４へと進んできている場面であることから、補正優先度の高い５００個の欠陥画素（第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素と、第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素と、の合計５００個の欠陥画素）の補正が既に完了している。このため、ステップＳ１６では、８秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、第３優先補正画素群Ｐ_３の２００個の欠陥画素のアドレスデータ（図４参照）をＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ１７では、ステップＳ１５での露光時間が８秒ではないとの判断に続き、１６秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理Ａ（ステップＳ４）を終了し、ステップＳ５（図５参照）へと進む。ここで、ステップＳ１５において露光時間が８秒ではない場合、設定されている露光時間の上限である１６秒に設定されていることとなる。この場合、図５のフローチャートにおいて、ステップＳ１→ステップＳ２→ステップＳ３→ステップＳ４へと進んできている場面であることから、補正優先度の高い５００個の欠陥画素（第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素と、第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素と、の合計５００個の欠陥画素）の補正が既に完了している。このため、ステップＳ１７では、１６秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、第３優先補正画素群Ｐ_３の２００個の欠陥画素のアドレスデータおよび第４優先補正画素群Ｐ_４の３００個の欠陥画素のアドレスデータ（図４参照）をＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ５では、ステップＳ４での露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に続き、露光時間に応じた欠陥画素補正を実行して、図５のフローチャートを終了する。このステップＳ５では、欠陥画素補正部４２は、送られてきた画像データ（その各画素データ）において、記憶部４３に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、ステップＳ４での露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に応じた補正画素数の補正を行う。詳細には、露光時間が２秒の場合、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素の補正を行い、露光時間が４秒の場合、第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素と第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素との合計５００個の欠陥画素の補正を行い、露光時間が８秒の場合、第３優先補正画素群Ｐ_３の２００個の欠陥画素の補正を行い、露光時間が１６秒の場合、第３優先補正画素群Ｐ_３の２００個と第４優先補正画素群Ｐ_４の３００個の欠陥画素との合計５００個の欠陥画素の補正を行う。このとき、何れの場面であっても、欠陥画素のアドレスデータの全てを記憶部４３に登録可能であることから、欠陥画素補正部４２では一度の欠陥画素補正動作で、露光時間に応じた補正画素数の欠陥画素の全てを補正することができる。このため、ステップＳ５では、露光時間が２秒もしくは４秒の場合、１回目の欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作として、ステップＳ１で取得した露光時間に応じた補正画素数の補正を実行することとなり、露光時間が８秒もしくは１６秒の場合、ステップＳ３に続く２回目の欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作として、ステップＳ１で取得した露光時間に応じた補正画素数から、ステップＳ３で実行した欠陥画素補正の補正画素数５００を減算した残りの補正画素数の補正を、補正対象となる画素データを重複させることなく実行することとなる。
（高速な撮影処理での欠陥画素補正処理）
ここで、撮影モードや撮影現場の雰囲気等により、高速な撮影処理が必要な場合（例えば、連写等）、上記した欠陥画素補正処理の実行により欠陥画素補正部４２で繰り返し（上記した実施例１では２回）欠陥画素補正動作を行うと、その欠陥画素補正の処理時間が問題となる。このため、本願発明に係る欠陥画素補正処理では、連写等の高速な撮影処理が必要な場合、欠陥画素レベルが高い画素（補正優先度の高い欠陥画素）を優先的に補正することを前提として、欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作を１回だけ行う。これは、欠陥画素レベルが高い画素は、欠陥画素として画像（画像データ）に表れやすい画素であることによる。この場合、例えば、図５のフローチャートにおいてステップＳ３で欠陥画素補正動作を実行した場合はステップＳ４へと進むことなく、欠陥画素補正処理を終了する。これにより、連写等の高速な撮影処理が必要な場合、欠陥画素補正に要する処理時間を短縮しつつ画像（画像データ）に出現し易い欠陥画素を補正することができる。
（本願発明の欠陥画素補正処理の作用）
本願発明の欠陥画素補正処理では、上述したように、撮像素子（ＣＣＤ２０）において補正対象とすべき欠陥画素の数が、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数を超える場合、当該記憶部４３への登録内容を書き換えつつ、すなわち記憶部４３における欠陥画素データの登録内容を変更しつつ、欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正の動作を繰り返すことから、撮像素子（ＣＣＤ２０）の全ての欠陥画素を補正することができる。詳細には、実施例１では、記憶部４３に登録（格納）可能な登録限度数が５００であるのに対し、露光時間に応じて必要な補正画素数を、露光時間が２秒の場合の補正画素数を２００とし、露光時間が４秒の場合の補正画素数を５００とし、露光時間が８秒の場合の補正画素数を７００とし、露光時間が１６秒の場合の補正画素数を１０００としている（図４参照）ことから、露光時間が２秒もしくは４秒の場合、欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作として、ステップＳ１で取得した露光時間に応じた補正画素数の補正を実行し、露光時間が８秒もしくは１６秒の場合、１回目の欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作としてステップＳ３にて５００個の補正優先度の高い欠陥画素の補正を実行し、ステップＳ３に続く２回目の欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作として、ステップＳ１で取得した露光時間に応じた補正画素数から、ステップＳ３で実行した欠陥画素補正の補正画素数５００を減算した残りの補正画素数の補正をステップＳ５にて実行する。このように、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数を超える場合（実施例１では露光時間が８秒もしくは１６秒の場合）であっても、その超えた画素数を２回目（設定条件によっては複数回）の欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作により補正するので、補正が必要とされる欠陥画素数と記憶部４３の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子（ＣＣＤ２０）の全ての欠陥画素を補正することができる。

また、露光時間に応じて補正対象とする画素数を変更していることから、露光時間に応じた必要な補正画素数だけ補正すること、換言すると過不足のなく適切に補正することができ、欠陥画素の補正不足や過補正に基因する画質の低下を防止することができる。これは、補正不足により、画像（画像データ）において出現する欠陥画素が補正されていないと、画像上にて当該欠陥画素が認識されてしまう虞があり、過補正により、画像（画像データ）において出現しない画素を欠陥画素として補正してしまうと、補正前の画像において問題とはならない画素（およびその周辺）であったにも拘らず当該画素の周辺を実質的に平滑化することによる空間解像度の劣化等を招いてしまう虞があることによる。

さらに、欠陥画素レベルが高い画素を優先的に補正することから、画像（画像データ）上において欠陥画素と認識され易い画素を優先的に補正することができるので、より効率的に画質を向上させることができる。

このため、本願発明に係る撮像装置のデジタルカメラ１では、記憶部４３での登録限度数に拘らず、補正対象とするすべての欠陥画素を適切に補正することができる。これにより、暗電流が増えたり蓄積されたりする条件、例えば、撮像素子（ＣＣＤ２０）の温度が上昇したり露光時間が長い状況で撮影された画像（画像データ）であっても、その品質を向上させることができる。

なお、上記した実施例１では、欠陥画素の影響の変化の判断基準を露光時間とし、露光時間に応じた補正画素数が設定されている例を示したが、動的な欠陥要因である温度キズの影響が変化する要因を判断基準として補正画素数を設定するものであればよく、実施例１に限定されるものではない。例えば、ＩＳＯ感度に応じた補正画素数の設定に基づいて欠陥画素補正処理を行うものとすることができる。この場合、露光時間と同様に、実際にデジタルスチルカメラ（実施例１ではデジタルカメラ１）にセンサ（実施例１ではＣＣＤ２０）を搭載した状態において、ＩＳＯ感度１００で出現する欠陥画素の数、ＩＳＯ感度２００で出現する欠陥画素の数、・・・・というように、設定された各ＩＳＯ感度で出現する欠陥画素の数を統計的に把握し、ＩＳＯ感度に応じて出現する欠陥画素の全てを補正するために充分だと判断できる数を、ＩＳＯ感度に応じた補正画素数として設定すればよい。この一例として、露光時間がＩＳＯ１００の補正画素数を２００とし、ＩＳＯ２００の場合の補正画素数を５００とし、ＩＳＯ４００の場合の補正画素数を７００とし、ＩＳＯ８００の場合の補正画素数を１０００とすることにより、上記した露光時間に対応して補正画素数が設定されている場合と同様に欠陥画素補正処理を行うことができる。この場合であっても、制御部２８は、設定されたＩＳＯ感度に応じた補正画素数での欠陥画素補正処理のために、検出した欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ２０上の縦横座標）のデータを、ＲＡＭ４４に格納する。

また、実施例１では、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数が５００であり、かつ露光時間に応じた補正画素数の設定が露光時間１６秒の場合の補正画素数１０００を最大としていたが、各数値は例示であってこれらに限定されるものではない。すなわち、さらに多くの露光時間の設定がある場合には、それらに応じた欠陥画素数を適宜設定すればよく、記憶部４３に登録可能な欠陥画素数や露光時間に対する補正画素数も撮像装置の各設定に応じて変化するものである。ここで、記憶部４３に登録可能な欠陥画素数（登録限度数）に対して、露光時間に応じた補正画素数の設定の最大値が２倍を超える場合、ステップＳ３での１回目の欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作として登録限度数の補正を実行し、ステップＳ３に続く２回目の欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作として、ステップＳ１で取得した露光時間に応じた補正画素数に対応する各画素から、ステップＳ３で実行した欠陥画素補正の補正画素数に対応する各画素の補正の対象外となった各画素のうち登録限度数分の補正優先度の高い欠陥画素の補正を実行し、それに続く３回目の欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作として、ステップＳ１で取得した露光時間に応じた補正画素数から、上記した２回で実行した欠陥画素補正の補正画素数（登録限度数×２）を減算した残りの補正画素数の補正を実行する等のように、欠陥画素補正部４２での登録限度数の画素の欠陥画素補正動作を（（設定された補正画素数）／登録限度数）だけ繰り返した後に、残りの補正画素数の補正を実行すればよい。

次に、本発明の実施例２に係る撮像装置およびそこで行われる欠陥画素補正処理について説明する。この実施例２は、欠陥画素補正処理における処理内容の一部が実施例１とは異なる例である。この実施例２の撮像装置は、基本的な構成は上記した実施例１の撮像装置であるデジタルカメラ１と同様であることから、等しい構成の個所には同じ符号を付し、その詳細な説明は省略する。図７は、各優先補正画素群Ｐ_ＮＭにおけるＲＡＭ４４に格納された欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ２０上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）等を表で示す図４と同様の説明図である。図８は、取得した画像（画像データ）をＳ等分した様子を説明するための説明図であり、（ａ）は４分割した様子を示し、（ｂ）は２分割した様子を示している。

この実施例２の欠陥画素補正処理は、補正する必要のある欠陥画素の個数が記憶部４３に登録可能な欠陥画素数（登録限度数）を超える場合であってもすべての当該欠陥画素の補正を可能としつつ、欠陥画素補正部４２で欠陥画素補正動作を繰り返すことに伴って処理時間が増大することを抑制するものである。例えば、実施例１のデジタルカメラ１において、ハードウェアでの欠陥画素補正処理を行うブロックとしての欠陥画素補正部４２へ１０ＭＢの画像データを入力した場合、当該画像データの欠陥画素補正に約８０ｍｓの処理時間が必要になるものとし、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数５００に対して、１５００個の欠陥画素を補正するものとする。すると、欠陥画素補正部４２では、先ず、１０ＭＢの画像データに対して、欠陥画素レベルが高い画素から順に５００個の欠陥画素の補正を実行し、次に、１０ＭＢの画像データに対して、既に補正した５００個を除いた中で欠陥画素レベルが高い画素から順に５００個の欠陥画素の補正を実行し、最後に、１０ＭＢの画像データに対して、残りの５００個の欠陥画素の補正を実行する。このことから、補正する必要のある欠陥画素のすべてを欠陥画素補正するために、欠陥画素補正部４２での１０ＭＢの画像データに対する欠陥画素補正動作の３回分の処理時間（約８０ｍｓ×３＝約２４０ｍｓ）を要することとなる。

実施例２の欠陥画素補正処理では、撮像素子（ＣＣＤ２０）において、欠陥画素補正部の記憶部に登録（格納）可能な欠陥画素数を超える欠陥画素が存在する場合（設定した補正画素数が登録限度数を超える場合）であっても、その全てを欠陥画素補正することを可能としつつ、その欠陥画素補正に要する処理時間の増大を抑制するものである。

先ず、実施例２の欠陥画素補正処理のために、実施例１と同様に、設定された各露光時間で出現する欠陥画素の数を統計的に把握し、露光時間に応じて出現する欠陥画素の全てを補正するために充分だと判断できる数を、露光時間に応じた補正画素数として設定する。この実施例２では、露光時間が２秒の場合の補正画素数を２００とし、露光時間が４秒の場合の補正画素数を５００とし、露光時間が８秒の場合の補正画素数を８００とし、露光時間が１６秒の場合の補正画素数を１２００とし、露光時間が３２秒の場合の補正画素数を２０００としている（図７参照）。この露光時間に応じた補正画素数は、ＲＡＭ４４に格納されている。

ここで、制御部２８は、露光時間に応じた補正画素数の最大値が２０００に設定されていることから、この２０００個の欠陥画素のすべてを、記憶部４３に登録可能な欠陥画素数が５００である欠陥画素補正部４２で補正するには、４回（２０００／５００）の欠陥画素補正動作を行う必要があることに基づいて、分割数Ｓの最大値を４に設定する。この分割数Ｓとは、図８に示すように、ＣＣＤ２０により取得された１つの画像データにおいて、欠陥画素補正部４２での１回の欠陥画素補正動作における対象となる領域すなわちデータ量を設定するために当該画像データを等分する数であり、実施例２では１、２、４のいずれかに設定される。この分割は、欠陥画素補正部４２による欠陥画素補正を可能とすべく画像データ（データ量）を等分する。この実施例２では、欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作が、基本的に注目した欠陥画素の水平方向に隣接する両隣の画素データの平均値を当該注目した欠陥画素の画素データとすることにより補間するものであることから、図８に示すように、画像データにおける等分線が水平方向となるように当該画像データを垂直方向に等分する。

制御部２８は、設定された露光時間に応じた補正画素数での欠陥画素補正処理のために、実施例２では、検出した欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ２０上の縦横座標）のデータを、それぞれの欠陥画素レベルおよび設定された露光時間に関連付けて、以下のようにＲＡＭ４４に格納する。

実施例２での基本的な欠陥画素の検出方法は、実施例１と同様であるが、上述したように、分割数Ｓの最大値を４に設定したことから、４つの領域に分割した画像データ毎（以下、後述する分割画像データＩ_４１（分割画像Ａ）、分割画像データＩ_４２（分割画像Ｂ）、分割画像データＩ_４３（分割画像Ｃ）、分割画像データＩ_４４（分割画像Ｄ）とする（図８（ａ）参照））に各優先補正画素群Ｐ_ＮＭを取得する。ここで、Ｎは、欠陥画素レベルが高い順からの優先番号を表すもの、すなわち各画像データにおいて補正対象となる各群の優先度を表すものであり、実施例１の第Ｎ優先補正画素群Ｐ_ＮでのＮに相当するものである。実施例２では、露光時間の設定が２、４、８、１６、３２秒の５つであることから、順に、１、２、３、４、５を当て嵌めている。また、Ｍは、各Ｎ番目の群において４分割されたいずれの分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄに該当するものであるかを表すものであり、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの順に１、２、３、４を当て嵌めている。

先ず、図７に示すように、ＣＣＤ２０の全ての画素が４つの領域に分割された各分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ（図８（ａ）参照）において、それらの各画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に５０個の画素を欠陥画素として検出し、分割画像Ａでの第１優先補正画素群Ｐ_１１の欠陥画素のアドレスデータと、分割画像Ｂでの第１優先補正画素群Ｐ_１２の欠陥画素のアドレスデータと、分割画像Ｃでの第１優先補正画素群Ｐ_１３の欠陥画素のアドレスデータと、分割画像Ｄでの第１優先補正画素群Ｐ_１４の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。ここで、第１優先補正画素群Ｐ_１１として検出された５０個の欠陥画素と、第１優先補正画素群Ｐ_１２として検出された５０個の欠陥画素と、第１優先補正画素群Ｐ_１３として検出された５０個の欠陥画素と、第１優先補正画素群Ｐ_１４として検出された５０個の欠陥画素とを合わせたものが、露光時間が２秒の場合に補正する２００個の欠陥画素となる（第１優先補正画素群Ｐ_１とする）。

次に、各分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの各画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に１２５個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した１２５個の画素から、対応する各第１優先補正画素群Ｐ_１Ｍ（Ｍ＝１〜４）の５０個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第２優先補正画素群Ｐ_２Ｍ（Ｍ＝１〜４）の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。これらの、第２優先補正画素群Ｐ_２１として検出された７５個の欠陥画素と、第２優先補正画素群Ｐ_２２として検出された７５個の欠陥画素と、第２優先補正画素群Ｐ_２３として検出された７５個の欠陥画素と、第２優先補正画素群Ｐ_２４として検出された７５個の欠陥画素とを合わせたもの（第２優先補正画素群Ｐ_２とする）は、上記した第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が４秒の場合に補正する５００個の欠陥画素となる。また、本願発明に係る欠陥画素補正処理では、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）可能な欠陥画素数を、欠陥画素レベルが高い方から順に補正優先度の高い欠陥画素として設定することから、実施例２では、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）可能な欠陥画素数が５００であるので、露光時間が４秒の場合に補正する５００個の欠陥画素が、そのまま補正優先度の高い欠陥画素となる。この補正優先度の高い欠陥画素は、実施例１と同様に、連写等の高速な撮影処理が必要な場合に欠陥画素補正部４２で欠陥画素補正動作を１回だけ行う際に用いられる。

次に、各分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの各画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に２００個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した２００個の画素から、対応する各第１優先補正画素群Ｐ_１Ｍ（Ｍ＝１〜４）の５０個の欠陥画素および各第２優先補正画素群Ｐ_２Ｍ（Ｍ＝１〜４）の７５個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第３優先補正画素群Ｐ_３Ｍ（Ｍ＝１〜４）の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。これらの、第３優先補正画素群Ｐ_３１として検出された７５個の欠陥画素と、第３優先補正画素群Ｐ_３２として検出された７５個の欠陥画素と、第３優先補正画素群Ｐ_３３として検出された７５個の欠陥画素と、第３優先補正画素群Ｐ_３４として検出された７５個の欠陥画素とを合わせたもの（第３優先補正画素群Ｐ_３とする）は、上記した第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素および第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が８秒の場合に補正する８００個の欠陥画素となる。

次に、各分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの各画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に３００個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した３００個の画素から、対応する各第１優先補正画素群Ｐ_１Ｍ（Ｍ＝１〜４）の５０個の欠陥画素、各第２優先補正画素群Ｐ_２Ｍ（Ｍ＝１〜４）の７５個の欠陥画素および各第３優先補正画素群Ｐ_３Ｍ（Ｍ＝１〜４）の７５個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第４優先補正画素群Ｐ_４Ｍ（Ｍ＝１〜４）の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。これらの、第４優先補正画素群Ｐ_４１として検出された１００個の欠陥画素と、第４優先補正画素群Ｐ_４２として検出された１００個の欠陥画素と、第４優先補正画素群Ｐ_４３として検出された１００個の欠陥画素と、第４優先補正画素群Ｐ_４４として検出された１００個の欠陥画素とを合わせたもの（第４優先補正画素群Ｐ_４とする）は、上記した第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素、第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素および第３優先補正画素群Ｐ_３の３００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が１６秒の場合に補正する１２００個の欠陥画素となる。

次に、各分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの各画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に５００個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した５００個の画素から、対応する各第１優先補正画素群Ｐ_１Ｍ（Ｍ＝１〜４）の５０個の欠陥画素、各第２優先補正画素群Ｐ_２Ｍ（Ｍ＝１〜４）の７５個の欠陥画素、各第３優先補正画素群Ｐ_３Ｍ（Ｍ＝１〜４）の７５個の欠陥画素および各第４優先補正画素群Ｐ_４Ｍ（Ｍ＝１〜４）の１００個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第５優先補正画素群Ｐ_５Ｍ（Ｍ＝１〜４）の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。これらの、第５優先補正画素群Ｐ_５１として検出された２００個の欠陥画素と、第５優先補正画素群Ｐ_５２として検出された２００個の欠陥画素と、第５優先補正画素群Ｐ_５３として検出された２００個の欠陥画素と、第５優先補正画素群Ｐ_５４として検出された２００個の欠陥画素とを合わせたもの（第５優先補正画素群Ｐ_５とする）は、上記した第１優先補正画素群Ｐ_１の２００個の欠陥画素、第２優先補正画素群Ｐ_２の３００個の欠陥画素、第３優先補正画素群Ｐ_３の３００個の欠陥画素および第４優先補正画素群Ｐ_４の４００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が３２秒の場合に補正する２０００個の欠陥画素となる。

実施例２の制御部２８では、上述したようにＲＡＭ４４に格納した各優先補正画素群Ｐ_ＮＭ（Ｎ＝１〜５、Ｍ＝１〜４）のアドレスデータ（図７参照）すなわち各欠陥画素データを利用して、欠陥画素補正処理を行う。図９は、この制御部２８にて実行される実施例２の欠陥画素補正処理内容を示すフローチャートであり、図１０は、図９のフローチャートにおけるステップＳ２４の処理内容を示すフローチャートである。以下、図９のフローチャートの各ステップ（図１０のフローチャートの各ステップも含む）について図７を用いて説明する。

ステップＳ２１では、設定された露光時間を取得して、ステップＳ２２へ進む。このステップＳ２１では、図５のフローチャートのステップＳ１と同様に、レリーズ２が押し下げられて撮影動作が開始されると、それにより得ることが可能となる当該撮影時の露光時間の情報を取得する。

ステップＳ２２では、ステップＳ２１での露光時間の取得に続き、取得した露光時間に応じた補正画素数を読み出して、ステップＳ２３へ進む。このステップＳ２２では、ＲＡＭ４４に格納された露光時間に応じた補正画素数を読み出す。

ステップＳ２３では、ステップＳ２２での露光時間に応じた補正画素数の読み出しに続き、取得した露光時間に対応する分割数Ｓを設定して、ステップＳ２４へ進む。このステップＳ２３では、読み出した露光時間に応じた補正画素数を、記憶部４３に登録可能な欠陥画素数（５００）で除算し、その商が１以下であれば分割数Ｓを１に、商が１よりも大きく２以下であれば分割数Ｓを２に、商が２よりも大きければ分割数Ｓを４に設定する。すなわち、露光時間に応じた補正画素数のすべてを欠陥画素補正部４２で補正するために必要となる欠陥画素補正動作の回数を、分割数Ｓ（Ｓ＝１、２、４）として設定する。なお、基本的には、読み出した露光時間に応じた補正画素数を、記憶部４３の登録限度数（実施例２では５００）で除算し、その商の小数点以下を切り上げた値を分割数Ｓとするものであるが、実施例２では分割数Ｓの設定が１、２、４のいずれかとされていることから、切り上げた数値が３である場合であっても分割数Ｓは４に設定する。具体的には、露光時間が２秒の場合の分割数Ｓを１とし、露光時間が４秒の場合の分割数Ｓを１とし、露光時間が８秒の場合の分割数Ｓを２とし（図８（ｂ）参照）、露光時間が１６秒の場合の分割数Ｓを４とし、露光時間が３２秒の場合の分割数Ｓを４としている（図８（ａ）参照）。また、このステップＳ２３では、カウンタ数Ｃを１に設定する。このカウンタ数Ｃは、分割数Ｓで等分された各分割画像（分割数４の場合Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ（図８（ａ）参照）、分割数２の場合Ｅ、Ｆ（図８（ｂ）参照））の画像データ（分割画像データＩ_ＳＣ（Ｓ：分割数、Ｃ：カウンタ数））の何れに該当するものであるかを表すものであり、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ（もしくはＥ、Ｆ）の順に１、２、３、４（もしくは１、２）を当て嵌めている。このため、分割数Ｓが２の場合、画像データは、分割画像Ｅの分割画像データＩ_２１と分割画像Ｆの分割画像データＩ_２２とに分割され（図８（ｂ）参照）、分割数Ｓが４の場合、画像データは、分割画像Ａの分割画像データＩ_４１と、分割画像Ｂの分割画像データＩ_４２と、分割画像Ｃの分割画像データＩ_４３と、分割画像Ｄの分割画像データＩ_４４とに分割される（図８（ａ）参照）。

ステップＳ２４では、ステップＳ２３での分割数Ｓの設定、あるいは、ステップＳ２７でのカウンタ数Ｃのインクリメントに続き、その分割数Ｓおよび露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、ステップＳ２５へ進む。このステップＳ２４では、ステップＳ２１で取得した露光時間に応じた補正画素数の画素を補正する（実質的に補正画素数を設定する）ために、各優先補正画素群Ｐ_ＮＭ（Ｎ＝１〜５、Ｍ＝１〜４）のアドレスデータをＲＡＭ４４から適宜読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）することにより、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行う（これを処理Ｂとする）。以下では、この露光時間に応じた欠陥画素補正の準備（ステップＳ２４）における処理内容を示す図１０のフローチャートの各ステップについて説明する。

ステップＳ３１では、ステップＳ２１で取得した露光時間が２秒であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ３２へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ３３へ進む。

ステップＳ３２では、ステップＳ３１での露光時間が２秒であるとの判断に続き、２秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理Ｂ（ステップＳ２４）を終了し、ステップＳ２５（図９参照）へと進む。ここで、露光時間が２秒である場合、図９のフローチャートのステップＳ２３において、分割数Ｓが１に設定されている場面である。このステップＳ３２では、２秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、分割数１であることからそのまま画像データとなる分割画像データＩ_１１におけるすべての欠陥画素の補正のために、第１優先補正画素群Ｐ_１Ｍ（Ｍ＝１〜４）の各５０個の欠陥画素のアドレスデータ（図７参照）の計２００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ３３では、ステップＳ３１での露光時間が２秒ではないとの判断に続き、ステップＳ２１で取得した露光時間が４秒であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ３４へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ３５へ進む。

ステップＳ３４では、ステップＳ３３での露光時間が４秒であるとの判断に続き、４秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理Ｂ（ステップＳ２４）を終了し、ステップＳ２５（図９参照）へと進む。ここで、露光時間が４秒である場合、図９のフローチャートのステップＳ２３において、分割数Ｓが１に設定されている場面である。このステップＳ３４では、４秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、分割数１であることからそのまま画像データとなる分割画像データＩ_１１におけるすべての欠陥画素の補正のために、第１優先補正画素群Ｐ_１Ｍ（Ｍ＝１〜４）の各５０個の欠陥画素のアドレスデータおよび第２優先補正画素群Ｐ_２Ｍ（Ｍ＝１〜４）の各７５個の欠陥画素のアドレスデータ（図７参照）、の計５００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ３５では、ステップＳ３３での露光時間が４秒ではないとの判断に続き、ステップＳ２１で取得した露光時間が８秒であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ３６へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ３９へ進む。

ステップＳ３６では、ステップＳ３５での露光時間が８秒であるとの判断に続き、カウンタ数Ｃが１であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ３７へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ３８へ進む。これは、露光時間が８秒である場合、図９のフローチャートのステップＳ２３において、分割数Ｓが２に設定されている場面であることから、後述するように、図９のフローチャートのステップＳ２４からステップＳ２７を経てステップＳ２４へと戻る流れにおいてカウンタ数Ｃが１から２へと増加されて（ステップＳ２７）分割画像Ｅおよび分割画像Ｆ（図８（ｂ）参照）のそれぞれについて欠陥画素補正部４２で欠陥画素補正動作を実行することとなるので、カウンタ数Ｃによって８秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備が異なることによる。

ステップＳ３７では、ステップＳ３６でのカウンタ数Ｃが１であるとの判断に続き、８秒の露光時間に応じた分割画像Ｅ（図８（ｂ）参照）の欠陥画素補正の準備を行って、処理Ｂ（ステップＳ２４）を終了し、ステップＳ２５（図９参照）へと進む。このステップＳ３７では、８秒の露光時間に応じた分割画像Ｅ（図８（ｂ）参照）の欠陥画素補正の準備として、画像データの半分となる分割画像データＩ_２１におけるすべての欠陥画素の補正のために、８秒の露光時間に対応する優先番号（Ｎ＝１〜３）であって画像データが２分割された分割画像Ｅ（分割画像Ａおよび分割画像Ｂ）に対応する番号（Ｍ＝１、２）である第Ｎ優先補正画素群Ｐ_ＮＭ（Ｎ＝１〜３、Ｍ＝１〜２）の各欠陥画素のアドレスデータ（図７参照）をＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。すなわち、第１優先補正画素群Ｐ_１Ｍ（１〜２）の両５０個の欠陥画素のアドレスデータ、第２優先補正画素群Ｐ_２Ｍ（１〜２）の両７５個の欠陥画素のアドレスデータおよび第３優先補正画素群Ｐ_３Ｍ（１〜２）の両７５個の欠陥画素のアドレスデータ（図７参照）、の計４００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ３８では、ステップＳ３６でのカウンタ数Ｃが１ではないとの判断に続き、８秒の露光時間に応じた分割画像Ｆ（図８（ｂ）参照）の欠陥画素補正の準備を行って、処理Ｂ（ステップＳ２４）を終了し、ステップＳ２５（図９参照）へと進む。このステップＳ３８では、８秒の露光時間に応じた分割画像Ｆ（図８（ｂ）参照）の欠陥画素補正の準備として、画像データの半分となる分割画像データＩ_２２におけるすべての欠陥画素の補正のために、８秒の露光時間に対応する優先番号（Ｎ＝１〜３）であって画像データが２分割された分割画像Ｆ（分割画像Ｃと分割画像Ｄ）に対応する番号（Ｍ＝３、４）である第Ｎ優先補正画素群Ｐ_ＮＭ（Ｎ＝１〜３、Ｍ＝３〜４）の各欠陥画素のアドレスデータ（図７参照）をＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。すなわち、第１優先補正画素群Ｐ_１Ｍ（３〜４）の両５０個の欠陥画素のアドレスデータ、第２優先補正画素群Ｐ_２Ｍ（３〜４）の両７５個の欠陥画素のアドレスデータおよび第３優先補正画素群Ｐ_３Ｍ（３〜４）の両７５個の欠陥画素のアドレスデータ（図７参照）、の計４００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ３９では、ステップＳ３５での露光時間が８秒ではないとの判断に続き、ステップＳ２１で取得した露光時間が１６秒であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ４０へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ４１へ進む。

ステップＳ４０では、ステップＳ３９での露光時間が１６秒であるとの判断に続き、１６秒の露光時間に応じた各分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ（図８（ａ）参照）のいずれかの欠陥画素補正の準備を行って、処理Ｂ（ステップＳ２４）を終了し、ステップＳ２５（図９参照）へと進む。これは、露光時間が１６秒である場合、図９のフローチャートのステップＳ２３において、分割数Ｓが４に設定されている場面であることから、後述するように、図９のフローチャートのステップＳ２４からステップＳ２７を経てステップＳ２４へと戻る流れにおいてカウンタ数Ｃが１から４へと順次増加されて（ステップＳ２７）分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ（図８（ａ）参照）のそれぞれについて欠陥画素補正部４２で欠陥画素補正動作を実行することとなるので、カウンタ数Ｃによって１６秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備が異なることによる。このステップＳ４０では、１６秒の露光時間に応じた各分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ（図８（ａ）参照）のいずれかの欠陥画素補正の準備として、画像データの１／４となる分割画像データＩ_４Ｃ（Ｃ＝１〜４）におけるすべての欠陥画素の補正のために、１６秒の露光時間に対応する優先番号（Ｎ＝１〜４）であって画像データが４分割された各分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄに対応する番号（順に、Ｍ＝１、２、３、４）である第Ｎ優先補正画素群Ｐ_ＮＭ（Ｎ＝１〜４、Ｍ＝１〜４）の各欠陥画素のアドレスデータ（図７参照）をＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。すなわち、カウンタ数Ｃが１のとき、分割画像データＩ_４１（分割画像Ａ）の欠陥画素補正のために、第１優先補正画素群Ｐ_１１の５０個の欠陥画素のアドレスデータ、第２優先補正画素群Ｐ_２１の７５個の欠陥画素のアドレスデータ、第３優先補正画素群Ｐ_３１の７５個の欠陥画素のアドレスデータおよび第４優先補正画素群Ｐ_４１の１００個の欠陥画素のアドレスデータ、の計３００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録する。また、カウンタ数Ｃが２のとき、分割画像データＩ_４２（分割画像Ｂ）の欠陥画素補正のために、第１優先補正画素群Ｐ_１２の５０個の欠陥画素のアドレスデータ、第２優先補正画素群Ｐ_２２の７５個の欠陥画素のアドレスデータ、第３優先補正画素群Ｐ_３２の７５個の欠陥画素のアドレスデータおよび第４優先補正画素群Ｐ_４２の１００個の欠陥画素のアドレスデータ、の計３００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録する。さらに、カウンタ数Ｃが３のとき、分割画像データＩ_４３（分割画像Ｃ）の欠陥画素補正のために、第１優先補正画素群Ｐ_１３の５０個の欠陥画素のアドレスデータ、第２優先補正画素群Ｐ_２３の７５個の欠陥画素のアドレスデータ、第３優先補正画素群Ｐ_３３の７５個の欠陥画素のアドレスデータおよび第４優先補正画素群Ｐ_４３の１００個の欠陥画素のアドレスデータ、の計３００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録する。ついで、カウンタ数Ｃが４のとき、分割画像データＩ_４４（分割画像Ｄ）の欠陥画素補正のために、第１優先補正画素群Ｐ_１４の５０個の欠陥画素のアドレスデータ、第２優先補正画素群Ｐ_２４の７５個の欠陥画素のアドレスデータ、第３優先補正画素群Ｐ_３４の７５個の欠陥画素のアドレスデータおよび第４優先補正画素群Ｐ_４４の１００個の欠陥画素のアドレスデータ、の計３００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録する。

ステップＳ４１では、ステップＳ３９での露光時間が１６秒ではないとの判断に続き、３２秒の露光時間に応じた各分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ（図８（ａ）参照）のいずれかの欠陥画素補正の準備を行って、処理Ｂ（ステップＳ２４）を終了し、ステップＳ２５（図９参照）へと進む。これは、ステップＳ３９において露光時間が１６秒ではない場合、設定されている露光時間の上限である３２秒に設定されていることとなり、図９のフローチャートのステップＳ２３において、分割数Ｓが４に設定されている場面であることから、後述するように、図９のフローチャートのステップＳ２４からステップＳ２７を経てステップＳ２４へと戻る流れにおいてカウンタ数Ｃが１から４へと順次増加されて（ステップＳ２７）分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ（図８（ａ）参照）のそれぞれについて欠陥画素補正部４２で欠陥画素補正動作を実行することとなるので、カウンタ数Ｃによって３２秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備が異なることによる。このステップＳ４１では、３２秒の露光時間に応じた各分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ（図８（ａ）参照）のいずれかの欠陥画素補正の準備として、画像データの１／４となる分割画像データＩ_４Ｃ（Ｃ＝１〜４）におけるすべての欠陥画素の補正のために、３２秒の露光時間に対応する優先番号（Ｎ＝１〜５）であって画像データが４分割された各分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄに対応する番号（順に、Ｍ＝１、２、３、４）である第Ｎ優先補正画素群Ｐ_ＮＭ（Ｎ＝１〜５、Ｍ＝１〜４）の各欠陥画素のアドレスデータ（図７参照）をＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。すなわち、カウンタ数Ｃが１のとき、分割画像データＩ_４１（分割画像Ａ）の欠陥画素補正のために、第１優先補正画素群Ｐ_１１の５０個の欠陥画素のアドレスデータ、第２優先補正画素群Ｐ_２１の７５個の欠陥画素のアドレスデータ、第３優先補正画素群Ｐ_３１の７５個の欠陥画素のアドレスデータ、第４優先補正画素群Ｐ_４１の１００個の欠陥画素のアドレスデータおよび第５優先補正画素群Ｐ_５１の２００個の欠陥画素のアドレスデータ、の計５００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録する。また、カウンタ数Ｃが２のとき、分割画像データＩ_４２（分割画像Ｂ）の欠陥画素補正のために、第１優先補正画素群Ｐ_１２の５０個の欠陥画素のアドレスデータ、第２優先補正画素群Ｐ_２２の７５個の欠陥画素のアドレスデータ、第３優先補正画素群Ｐ_３２の７５個の欠陥画素のアドレスデータ、第４優先補正画素群Ｐ_４２の１００個の欠陥画素のアドレスデータ、および第５優先補正画素群Ｐ_５２の２００個の欠陥画素のアドレスデータ、の計５００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録する。さらに、カウンタ数Ｃが３のとき、分割画像データＩ_４３（分割画像Ｃ）の欠陥画素補正のために、第１優先補正画素群Ｐ_１３の５０個の欠陥画素のアドレスデータ、第２優先補正画素群Ｐ_２３の７５個の欠陥画素のアドレスデータ、第３優先補正画素群Ｐ_３３の７５個の欠陥画素のアドレスデータ、第４優先補正画素群Ｐ_４３の１００個の欠陥画素のアドレスデータおよび第５優先補正画素群Ｐ_５３の２００個の欠陥画素のアドレスデータ、の計５００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録する。ついで、カウンタ数Ｃが４のとき、分割画像データＩ_４４（分割画像Ｄ）の欠陥画素補正のために、第１優先補正画素群Ｐ_１４の５０個の欠陥画素のアドレスデータ、第２優先補正画素群Ｐ_２４の７５個の欠陥画素のアドレスデータ、第３優先補正画素群Ｐ_３４の７５個の欠陥画素のアドレスデータ、第４優先補正画素群Ｐ_４４の１００個の欠陥画素のアドレスデータおよび第５優先補正画素群Ｐ_５４の２００個の欠陥画素のアドレスデータ、の計５００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録する。

ステップＳ２５では、ステップＳ２４での分割数Ｓおよび露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に続き、露光時間に応じた分割数Ｓでのカウンタ数Ｃに対応する分割画像の分割画像データＩ_ＳＣに対して欠陥画素補正を実行して、ステップＳ２６へ進む。このステップＳ２５では、欠陥画素補正部４２が、送られてきた画像データ（その各画素データ）のうちのカウンタ数Ｃに対応する分割画像データＩ_ＳＣにおいて、記憶部４３に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、ステップＳ２４での露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に応じた補正画素数の補正を行う。

ステップＳ２６では、ステップＳ２５での露光時間に応じた分割数Ｓでのカウンタ数Ｃに対応する分割画像の分割画像データＩ_ＳＣに対する欠陥画素補正の実行に続き、カウンタ数Ｃが分割数Ｓと等しいか否かを判定し、Ｙｅｓの場合は図９のフローチャートを終了し、Ｎｏの場合はステップＳ２７へ進む。このステップＳ２６では、カウンタ数Ｃが露光時間に応じた分割数Ｓに等しいか否かを判断することにより、分割画像データＩ_ＳＣに対して欠陥画素補正を実行するステップＳ２５が繰り返されることにより、全ての分割画像すなわち分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行ったか否かを判断するものである。

ステップＳ２７では、ステップＳ２６でのカウンタ数Ｃが分割数Ｓと等しくないとの判断に続き、カウンタ数Ｃをインクリメント（Ｃ＝Ｃ＋１）して、ステップＳ２４へと戻る。このステップＳ２７では、分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行うために、ステップＳ２５における分割画像データＩ_ＳＣに対する欠陥画素補正の実行の回数（カウンタ数Ｃ）を１ずつ加算する。

このように、実施例２の欠陥画素補正処理では、取得した露光時間に応じた補正画素数に対応して分割数Ｓを設定し（ステップＳ２３）、画像（画像データ）を分割数Ｓで等分して、それぞれの分割画像データＩ_ＳＣに対する欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作の繰り返しにより、補正対象となる画素データを重複させることなく画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行う（ステップＳ２５）。このとき、ステップＳ２４において、ステップＳ２５での欠陥画素補正の実行の回数（カウンタ数Ｃ）に応じた分割画像データＩ_ＳＣにおける各欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４に登録していることから、ステップＳ２４→ステップＳ２５→ステップＳ２６→ステップＳ２７へと進んでステップＳ２４へと戻る流れが繰り返されることにより、分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行うことができる。これは、例えば、露光時間が３２秒に設定されて（補正画素数は２０００個）いる場合、ステップＳ２１→ステップＳ２２→ステップＳ２３へと進むことにより、分割数Ｓが４とされて画像データを分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄに等分する。その後、ステップＳ２４で露光時間３２秒に応じた分割画像Ａの分割画像データＩ_４１の欠陥画素補正のための準備を行ってステップＳ２５へと進むことにより、欠陥画素補正部４２が、送られてきた画像データのうちの分割画像データＩ_４１において、記憶部４３に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データ（第１優先補正画素群Ｐ_１１の５０個の欠陥画素、第２優先補正画素群Ｐ_２１の７５個の欠陥画素、第３優先補正画素群Ｐ_３１の７５個の欠陥画素、第４優先補正画素群Ｐ_４１の１００個の欠陥画素および第５優先補正画素群Ｐ_５１の２００個の欠陥画素、の計５００個の欠陥画素）を読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、分割画像Ａの露光時間３２秒に応じた欠陥画素補正が終了する。その後、ステップＳ２６へと進むがカウンタ数Ｃが１であって分割数Ｓ＝４に等しくないことから、ステップＳ２７へと進んでステップＳ２４へと戻ることにより、露光時間３２秒に応じた分割画像Ｂの分割画像データＩ_４２の欠陥画素補正のための準備を行う。その後、ステップＳ２５へと進むことにより、欠陥画素補正部４２が、送られてきた画像データのうちの分割画像データＩ_４２において、記憶部４３に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データ（第１優先補正画素群Ｐ_１２の５０個の欠陥画素、第２優先補正画素群Ｐ_２２の７５個の欠陥画素、第３優先補正画素群Ｐ_３２の７５個の欠陥画素、第４優先補正画素群Ｐ_４２の１００個の欠陥画素および第５優先補正画素群Ｐ_５２の２００個の欠陥画素、の計５００個の欠陥画素）を読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、分割画像Ｂの欠陥画素補正が終了する。上記した処理（テップＳ２４→ステップＳ２５→ステップＳ２６→ステップＳ２７へと進んでステップＳ２４へと戻る流れ）を分割数Ｓである４回繰り返すと、その４回目のステップＳ２６において、カウンタ数Ｃが４となっていることからステップＳ２７へと進むことはなく図９のフローチャートを終了することにより、上記した分割画像Ａおよび分割画像Ｂに加えて、分割画像Ｃおよび分割画像Ｄの欠陥画素補正が終了して分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行うことができる。このとき、何れの場面であっても、欠陥画素のアドレスデータの全てが記憶部４３に登録可能であることから、欠陥画素補正部４２では一度の欠陥画素補正動作で、露光時間に応じた分割数Ｓでのカウンタ数Ｃに対応する分割画像の分割画像データＩ_ＳＣの欠陥画素の全てを補正することができる。

実施例２の欠陥画素補正処理では、撮像素子（ＣＣＤ２０）において補正対象とすべき欠陥画素の数が、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数（登録限度数）を超える場合（実施例２では露光時間が８秒、１６秒あるいは３２秒の場合）であっても、当該記憶部４３への登録内容を書き換えつつ、すなわち記憶部４３における欠陥画素データの登録内容を変更しつつ、欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正の動作を繰り返すことから、補正が必要とされる欠陥画素数と記憶部４３の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子（ＣＣＤ２０）の全ての欠陥画素を補正することができる。

また、実施例２の欠陥画素補正処理では、欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作の回数に拘らず、元の画像データを欠陥画素補正部４２で欠陥画素補正処理させる場合と略等しいものとすることができる。これは、欠陥画素補正部４２では、元の画像データを分割数Ｓで等分したそれぞれの分割画像データＩ_ＳＣに対して欠陥画素補正動作を行う（ステップＳ２５）ことから、各欠陥画素補正動作（ステップＳ２５）において元の画像データの１／Ｓのデータ量を処理すればよいため、各欠陥画素補正動作（ステップＳ２５）における処理時間を、元の画像データに対する処理時間の略１／Ｓに近いものとすることができるので、元の画像データに対する欠陥画素補正動作での処理時間を１とすると、分割数Ｓに拘らず元の画像データの全ての欠陥画素補正に要する処理時間は、各分割画像データＩ_ＳＣでの処理時間に分割数Ｓを乗算したもの（（１／Ｓ）×分割数Ｓ＝１）で表すことができ、双方を略等しいものとすることができることによる。このため、補正が必要とされる欠陥画素数と記憶部４３の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子（ＣＣＤ２０）の全ての欠陥画素を補正することができるとともに、欠陥画素補正部４２で欠陥画素補正動作を繰り返すことに伴って処理時間が増大すること、すなわちその全ての欠陥画素補正に要する処理時間の増大を抑制することができる。

さらに、実施例２の欠陥画素補正処理では、露光時間に応じて補正する画素数を変更していることから、露光時間に応じた必要な補正画素数だけ補正することができ、欠陥画素の補正不足や過補正に基因する画質の低下を防止することができる。

実施例２の欠陥画素補正処理では、欠陥画素レベルが高い画素を優先的に補正することから、画像（画像データ）上において欠陥画素と認識され易い画素を優先的に補正することができるので、より効率的に画質を向上させることができる。

実施例２の欠陥画素補正処理では、分割数Ｓの最大値を４に設定し、それに伴って４つの領域に分割した画像データ毎（分割画像Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ（図８（ａ）参照））に各優先補正画素群Ｐ_ＮＭを取得してＲＡＭ４４に格納するとともに、分割数Ｓを１、２、４に設定している（分割数Ｓの取り得る値を、その最大値の約数に設定している）ことから、露光時間に応じた補正画素数に適合する各欠陥画素のアドレスデータを適切に欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録することを可能としつつ、欠陥画素補正処理のためのデータ（各優先補正画素群Ｐ_ＮＭ）を効率よくＲＡＭ４４に格納することができる。

このため、本発明に係る撮像装置のデジタルカメラ１では、記憶部４３での登録限度数に拘らず、補正対象とするすべての欠陥画素を適切に補正することができる。これにより、暗電流が増えたり蓄積されたりする条件、例えば、撮像素子（ＣＣＤ２０）の温度が上昇したり露光時間が長い状況で撮影された画像（画像データ）であっても、その品質を向上させることができる。

特に、実施例２の欠陥画素補正処理では、補正が必要とされる欠陥画素数と記憶部４３の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子（ＣＣＤ２０）の全ての欠陥画素を補正することができるとともに、欠陥画素補正部４２で欠陥画素補正動作を繰り返すことに伴って処理時間が増大することを抑制することができる。

なお、上記した実施例２では、欠陥画素の影響の変化の判断基準を露光時間とし、露光時間に応じた補正画素数が設定されている例を示したが、動的な欠陥要因である温度キズの影響が変化する要因を基準として補正画素数を設定するものであれば、例えば、ＩＳＯ感度に応じた補正画素数の設定に基づいて補正画素数を設定するものであってもよく、実施例２に限定されるものではない。

また、実施例２では、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数が５００であり、かつ露光時間に応じた補正画素数の設定が露光時間３２秒の場合の補正画素数２０００を最大としていたが、各数値は例示であってこれらに限定されるものではない。

さらに、実施例２では、分割数Ｓが取り得る値を、その最大値の約数に設定していたが、補正する必要のある欠陥画素のすべてを欠陥画素補正部４２による欠陥画素補正動作で補正するために、その記憶部４３に登録可能な欠陥画素数（登録限度数）に応じて分割数Ｓを設定するもの、すなわち少なくとも補正画素数を登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値を分割数Ｓとして設定するものであればよく、実施例２に限定されるものではない。例えば、実施例２では、露光時間が１６秒である場合、補正画素数が１２００に設定されており、かつ記憶部４３の登録限度数が５００であることから、欠陥画素補正部４２による欠陥画素補正動作を３回行えば、１２００個の欠陥画素のすべてを補正することができることとなるので、分割数Ｓを３に設定してもよい。この場合、予めＲＡＭ４４に各欠陥画素のアドレスデータを格納する際、分割数Ｓが３、すなわち画像（画像データ）を３分割した状態での各欠陥画素のアドレスデータを格納しておく必要がある。

実施例２では、露光時間に応じた補正画素数に対応して分割数Ｓを設定して、その分割数Ｓおよび露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行うものとしていたが、分割数Ｓの最大値で等分（実施例２では４）された領域の画像データ毎に各優先補正画素群Ｐ_ＮＭを取得してＲＡＭ４４に格納していることから、分割数Ｓが最大値の約数（実施例２では、１または２）である場合（露光時間が２、４、８秒）、最大値で等分された画像データ毎の各優先補正画素群Ｐ_ＮＭを合わせることとなる（ステップＳ３２、ステップＳ３４、ステップＳ３７およびステップＳ３８参照）ので、分割数Ｓを常に最大値として欠陥画素補正の準備を行うものとしてもよい。

実施例２では、分割数Ｓの最大値（実施例２では４）で等分された領域の画像データ毎に各優先補正画素群Ｐ_ＮＭを取得してＲＡＭ４４に格納していたが、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を可能とする、すなわち各欠陥画素のアドレスデータを欠陥画素補正部４２の記憶部４３に適宜登録することができるものであればよく、実施例２に限定されるものではない。

次に、本発明の実施例３に係る撮像装置およびそこで行われる欠陥画素補正処理について説明する。この実施例３は、欠陥画素補正処理における処理内容の一部が実施例１および実施例２とは異なる例である。この実施例３の撮像装置は、基本的な構成は上記した実施例１の撮像装置であるデジタルカメラ１と同様であることから、等しい構成の個所には同じ符号を付し、その詳細な説明は省略する。図１１は、各優先補正画素群Ｐ_Ｎ´もしくは各優先補正画素群Ｐ_ＮＭ´におけるＲＡＭ４４に格納された欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ２０上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）等を表で示す図４および図７と同様の説明図である。

先ず、実施例３の欠陥画素補正処理のために、実施例１と同様に、設定された各露光時間で出現する欠陥画素の数を統計的に把握し、露光時間に応じて出現する欠陥画素の全てを補正するために充分だと判断できる数を、露光時間に応じた補正画素数として設定する。この実施例３では、露光時間が２秒の場合の補正画素数を２００とし、露光時間が４秒の場合の補正画素数を５００とし、露光時間が８秒の場合の補正画素数を７００とし、露光時間が１６秒の場合の補正画素数を１０００とし、露光時間が３２秒の場合の補正画素数を１５００としている（図１１参照）。この露光時間に応じた補正画素数は、ＲＡＭ４４に格納されている。

ここで、制御部２８は、露光時間に応じた補正画素数の最大値を１５００に設定しているとともに、記憶部４３に登録可能な欠陥画素数が５００であることから、この１５００から５００を減算した欠陥画素（１０００）のすべてを欠陥画素補正部４２で補正するには、２回の欠陥画素補正動作を行う必要があることに基づいて、分割数Ｓ´の最大値を２に設定する。この実施例３では、後述するように、記憶部４３に登録可能な欠陥画素数（登録限度数）を超える数の画素を補正する場合、先ず欠陥画素補正部４２において登録限度数の欠陥画素補正を行い、その後、残りの欠陥画素のすべてを欠陥画素補正するものであることから、実施例３での分割数Ｓ´とは、その残りの欠陥画素のすべてを処理時間の増大を抑制しつつ補正するために、ＣＣＤ２０により取得された１つの画像データにおいて、欠陥画素補正部４２での１回の欠陥画素補正動作における対象となる領域すなわちデータ量を設定するために当該画像データを等分する数である。

制御部２８は、設定された露光時間に応じた補正画素数での欠陥画素補正処理のために、実施例３では、検出した欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ２０上の縦横座標）のデータを、それぞれの欠陥画素レベルおよび設定された露光時間に関連付けて、以下のようにＲＡＭ４４に格納する。

実施例３での基本的な欠陥画素の検出方法は、実施例１と同様であるが、上述したように、先ず欠陥画素補正部４２において登録限度数の欠陥画素補正を行うため、最初に、ＣＣＤ２０の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い順から登録限度数すなわち５００個までの画素を検出し、上から２００個を第１優先補正画素群Ｐ_１´の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納し、残りの３００個を第２優先補正画素群Ｐ_２´の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。この第１優先補正画素群Ｐ_１´として検出された２００個の欠陥画素は、そのまま露光時間が２秒の場合に補正する２００個の欠陥画素となり、第２優先補正画素群Ｐ_２´として検出された３００個の欠陥画素は、第１優先補正画素群Ｐ_１´の２００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が４秒の場合に補正する５００個の欠陥画素となる。また、実施例３では、この露光時間が４秒の場合に補正する５００個の欠陥画素が、そのまま補正優先度の高い欠陥画素となる。

次に、上述したように、分割数Ｓ´の最大値を２に設定したことから、２つの領域に分割した画像データ毎（以下、分割画像Ｅ、Ｆとする（図８（ｂ）参照））に各優先補正画素群Ｐ_ＮＭ´を取得する。ここで、Ｎは、実施例２と同様であるが（但し、既に第１優先補正画素群Ｐ_１´と第２優先補正画素群Ｐ_２´とが取得されていることから、取り得る値は３〜５）、Ｍは、実施例３では、各Ｎ番目の群においてどの分割画像Ｅ、Ｆのいずれに該当するものであるかを表すものであるので、Ｅ、Ｆの順に１、２を当て嵌めている。

両分割画像Ｅ、Ｆの各画素の中から、それぞれにおける第２優先補正画素群Ｐ_２´の中の最も欠陥画素レベルが低いものよりも欠陥画素レベルが低いことを前提として、欠陥画素レベルが高い画素から順に１００個の画素を欠陥画素として検出し、第３優先補正画素群Ｐ_３Ｍ´（Ｍ＝１、２）の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。これらの、第３優先補正画素群Ｐ_３１´として検出された１００個の欠陥画素と、第３優先補正画素群Ｐ_３２´として検出された１００個の欠陥画素とを合わせたもの（第３優先補正画素群Ｐ_３´とする）は、上記した第１優先補正画素群Ｐ_１´の２００個の欠陥画素および第２優先補正画素群Ｐ_２´の３００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が８秒の場合に補正する７００個の欠陥画素となる。

次に、両分割画像Ｅ、Ｆの各画素の中から、それぞれにおける第３優先補正画素群Ｐ_３´（第３優先補正画素群Ｐ_３１´または第３優先補正画素群Ｐ_３２´）の中の最も欠陥画素レベルが低いものよりも欠陥画素レベルが低いことを前提として、欠陥画素レベルが高い画素から順に１５０個の画素を欠陥画素として検出し、第４優先補正画素群Ｐ_４Ｍ´（Ｍ＝１、２）の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。これらの、第４優先補正画素群Ｐ_４１´として検出された１５０個の欠陥画素と、第４優先補正画素群Ｐ_４２´として検出された１５０個の欠陥画素とを合わせたもの（第４優先補正画素群Ｐ_４´とする）は、上記した第１優先補正画素群Ｐ_１´の２００個の欠陥画素、第２優先補正画素群Ｐ_２´の３００個の欠陥画素および第３優先補正画素群Ｐ_３´の２００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が１６秒の場合に補正する１０００個の欠陥画素となる。

次に、両分割画像Ｅ、Ｆの各画素の中から、それぞれにおける第３優先補正画素群Ｐ_３´（第４優先補正画素群Ｐ_４１´または第４優先補正画素群Ｐ_４２´）の中の最も欠陥画素レベルが低いものよりも欠陥画素レベルが低いことを前提として、欠陥画素レベルが高い画素から順に２５０個の画素を欠陥画素として検出し、第５優先補正画素群Ｐ_５Ｍ´（Ｍ＝１、２）の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ４４に格納する。これらの、第５優先補正画素群Ｐ_５１´として検出された２５０個の欠陥画素と、第５優先補正画素群Ｐ_５２´として検出された２５０個の欠陥画素とを合わせたもの（第５優先補正画素群Ｐ_５´とする）は、上記した第１優先補正画素群Ｐ_１´の２００個の欠陥画素、第２優先補正画素群Ｐ_２´の３００個の欠陥画素、第３優先補正画素群Ｐ_３´の２００個の欠陥画素および第４優先補正画素群Ｐ_４´の２００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が３２秒の場合に補正する１５００個の欠陥画素となる。

実施例３の制御部２８では、上述したようにＲＡＭ４４に格納した各優先補正画素群Ｐ_ＮＭ´（Ｎ＝１〜５、Ｍ＝１、２）のアドレスデータ（図１１参照）すなわち各欠陥画素データを利用して、欠陥画素補正処理を行う。図１２は、この制御部２８にて実行される実施例３の欠陥画素補正処理内容を示すフローチャートであり、図１３は、図１２のフローチャートにおけるステップＳ５６の処理内容を示すフローチャートである。以下、図１２のフローチャートの各ステップ（図１３のフローチャートの各ステップも含む）について図１１を用いて説明する。

ステップＳ５１では、設定された露光時間を取得して、ステップＳ５２へ進む。このステップＳ５１では、図５のフローチャートのステップＳ１と同様に、レリーズ２が押し下げられて撮影動作が開始されると、それにより得ることが可能となる当該撮影時の露光時間の情報を取得する。

ステップＳ５２では、ステップＳ５１での設定された露光時間の取得に続き、取得した露光時間が８秒以上であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ５３へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ６０へ進む。このステップＳ５２では、欠陥画素補正処理の内容の切り換え、すなわち欠陥画素補正部４２による欠陥画素補正動作の回数の切り換えのために、ステップＳ５１で取得した露光時間の長さを判断している。実施例３では、記憶部４３に登録（格納）可能な欠陥画素数が５００であるのに対し、露光時間が４秒の場合の補正画素数が５００に設定され、かつ露光時間が８秒の場合の補正画素数が７００に設定されていることから、露光時間が８秒以上である場合の補正画素数が登録限度数を越えているので、欠陥画素補正部４２による欠陥画素補正動作を２回とすべくステップＳ５３へ進み、露光時間が４秒以下である場合の補正画素数が登録限度数以下であるので、欠陥画素補正部４２による欠陥画素補正動作を１回とすべくステップＳ６０へ進む。

ステップＳ５３では、ステップＳ５２での露光時間が８秒以上であるとの判断に続き、補正優先度の高い欠陥画素の補正を実行して、ステップＳ５４へ進む。このステップＳ５３では、ステップＳ５２にて露光時間が８秒以上であると判断したことから、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数よりも多くの欠陥画素を補正する必要があるので、補正優先度の高い順すなわち欠陥画素レベル（輝度値）の大きい順から、記憶部４３の登録限度数の欠陥画素を補正する。実施例３では、記憶部４３の登録限度数が５００であることから、第１優先補正画素群Ｐ_１´の２００個の欠陥画素のアドレスデータと、第２優先補正画素群Ｐ_２´の３００個の欠陥画素のアドレスデータと、を、ＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。その後、欠陥画素補正部４２が、送られてきた画像データ（その各画素データ）において、記憶部４３に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、第１優先補正画素群Ｐ_１´の２００個の欠陥画素と、第２優先補正画素群Ｐ_２´の３００個の欠陥画素と、の合計５００個の欠陥画素の補正を行う。

ステップＳ５４では、ステップＳ５３での補正優先度の高い欠陥画素の補正の実行に続き、ステップＳ５１で取得した露光時間に応じた補正画素数を読み出して、ステップＳ５５へ進む。このステップＳ５４では、ＲＡＭ４４に格納された露光時間に応じた補正画素数を読み出す。

ステップＳ５５では、ステップＳ５４での露光時間に応じた補正画素数の読み出しに続き、取得した露光時間に対応する分割数Ｓ´を設定して、ステップＳ５６へ進む。このステップＳ５５では、読み出した露光時間に応じた補正画素数から、記憶部４３に登録可能な欠陥画素数（５００）を減算した値を、当該欠陥画素数（５００）で除算し、その商が１以下であれば分割数Ｓ´を１に、商が１よりも大きく２以下であれば分割数Ｓ´を２に設定する。すなわち、露光時間に応じた補正画素数のうち、ステップＳ５３にて既に欠陥画素補正を行った補正優先度の高い欠陥画素の数を減算した残りの補正画素数のすべてを欠陥画素補正部４２で補正するために必要となる欠陥画素補正動作の回数を、分割数Ｓ´（Ｓ＝１、２）として設定する。具体的には、露光時間が８秒の場合の分割数Ｓ´を１とし、露光時間が１６秒の場合の分割数Ｓ´を１とし、露光時間が３２秒の場合の分割数Ｓ´を２としている（図８（ｂ）参照）。なお、基本的には、読み出した露光時間に応じた補正画素数から、記憶部４３の欠陥画素数（５００）を減算した値を、当該欠陥画素数で除算し、その商の小数点以下を切り上げた値を分割数Ｓとするものである。また、このステップＳ５５では、カウンタ数Ｃを１に設定する。このカウンタ数Ｃは、分割数Ｓ´で等分された各分割画像（Ｅ、Ｆ（図８（ｂ）参照））の画像データ（分割画像データＩ_ＳＣ´（Ｓ：分割数、Ｃ：カウンタ数））の何れに該当するものであるかを表すものであり、Ｅ、Ｆの順に１、２を当て嵌めている。このため、分割数Ｓ´が２の場合、画像データは、分割画像Ｅの分割画像データＩ_２１´と分割画像Ｆの分割画像データＩ_２２´とに分割される（図８（ｂ）参照）。

ステップＳ５６では、ステップＳ５５での分割数Ｓ´の設定、あるいはステップＳ５９でのカウンタ数Ｃのインクリメントに続き、その分割数Ｓ´および露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、ステップＳ５７へ進む。このステップＳ５６では、ステップＳ５１で取得した露光時間に応じた補正画素数の画素を補正する（実質的に補正画素数を設定する）ために、各優先補正画素群Ｐ_ＮＭ´（Ｎ＝３〜５、Ｍ＝１、２）のアドレスデータをＲＡＭ４４から適宜読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）することにより、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行う（これを処理Ｃとする）。以下では、この露光時間に応じた欠陥画素補正の準備（ステップＳ５６）における処理内容を示す図１３のフローチャートの各ステップについて説明する。なお、上述したように、この図１３のフローチャートに進んでくる場合、図１２のフローチャートにおいて、ステップＳ５１→ステップＳ５２→ステップＳ５３→ステップＳ５４→ステップＳ５５へと進んできている場面であることから、補正優先度の高い５００個の欠陥画素（第１優先補正画素群Ｐ_１´の２００個の欠陥画素と、第２優先補正画素群Ｐ_２´の３００個の欠陥画素と、の合計５００個の欠陥画素）の補正が既に完了している。

ステップＳ７１では、ステップＳ５１で取得した露光時間が８秒であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ７２へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ７３へ進む。

ステップＳ７２では、ステップＳ７１での露光時間が８秒であるとの判断に続き、８秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理Ｃ（ステップＳ５６）を終了し、ステップＳ５７（図１２参照）へと進む。ここで、露光時間が８秒である場合、図１２のフローチャートのステップＳ５５において、分割数Ｓ´が１に設定されている場面である。このステップＳ７２では、８秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、分割数１であることからそのまま画像データとなる分割画像データＩ_１１´におけるすべての欠陥画素の補正のために、第３優先補正画素群Ｐ_３Ｍ´（Ｍ＝１、２）の各１００個の欠陥画素のアドレスデータ（図１１参照）の計２００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ７３では、ステップＳ７１での露光時間が８秒ではないとの判断に続き、ステップＳ５１で取得した露光時間が１６秒であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ７４へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ７５へ進む。

ステップＳ７４では、ステップＳ７３での露光時間が１６秒であるとの判断に続き、１６秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理Ｃ（ステップＳ５６）を終了し、ステップＳ５７（図９参照）へと進む。ここで、露光時間が１６秒である場合、図１２のフローチャートのステップＳ５５において、分割数Ｓ´が１に設定されている場面である。このステップＳ７４では、１６秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、分割数１であることからそのまま画像データとなる分割画像データＩ_１１´におけるすべての欠陥画素の補正のために、第３優先補正画素群Ｐ_３Ｍ´（Ｍ＝１、２）の各１００個の欠陥画素のアドレスデータおよび第４優先補正画素群Ｐ_４Ｍ´（Ｍ＝１、２）の各１５０個の欠陥画素のアドレスデータ（図４参照）、の計５００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ７５では、ステップＳ７３での露光時間が１６秒ではないとの判断に続き、カウンタ数Ｃが１であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ７６へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ７７へ進む。これは、ステップＳ７３において露光時間が１６秒ではない場合、設定されている露光時間の上限である３２秒に設定されていることとなり、図１２のフローチャートのステップＳ５５において、分割数Ｓ´が２に設定されている場面であることから、後述するように、図１２のフローチャートのステップＳ５６からステップＳ５９を経てステップＳ５６へと戻る流れにおいてカウンタ数Ｃが１から２へと増加されて（ステップＳ５９）分割画像Ｅおよび分割画像Ｆ（図８（ｂ）参照）のそれぞれについて欠陥画素補正部４２で欠陥画素補正動作を実行することとなるので、カウンタ数Ｃによって３２秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備が異なることによる。

ステップＳ７６では、ステップＳ７５でのカウンタ数Ｃが１であるとの判断に続き、３２秒の露光時間に応じた分割画像Ｅ（図８（ｂ）参照）の欠陥画素補正の準備を行って、処理Ｃ（ステップＳ５６）を終了し、ステップＳ５７（図１２参照）へと進む。このステップＳ７６では、３２秒の露光時間に応じた分割画像Ｅ（図８（ｂ）参照）の欠陥画素補正の準備として、画像データの半分となる分割画像データＩ_２１´におけるすべての欠陥画素の補正のために、３２秒の露光時間に対応する優先番号（Ｎ＝３〜５）であって画像データが２分割された分割画像Ｅに対応する番号（Ｍ＝１）である第Ｎ優先補正画素群Ｐ_ＮＭ´（Ｎ＝３〜５、Ｍ＝１）の各欠陥画素のアドレスデータ（図１１参照）をＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。すなわち、第３優先補正画素群Ｐ_３１´の１００個の欠陥画素のアドレスデータ、第４優先補正画素群Ｐ_４１´の１５０個の欠陥画素のアドレスデータおよび第５優先補正画素群Ｐ_５１´の２５０個の欠陥画素のアドレスデータ（図１１参照）、の計５００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ７７では、ステップＳ７５でのカウンタ数Ｃが１ではないとの判断に続き、３２秒の露光時間に応じた分割画像Ｆ（図８（ｂ）参照）の欠陥画素補正の準備を行って、処理Ｃ（ステップＳ５６）を終了し、ステップＳ５７（図１２参照）へと進む。このステップＳ７７では、３２秒の露光時間に応じた分割画像Ｆ（図８（ｂ）参照）の欠陥画素補正の準備として、画像データの半分となる分割画像データＩ_２２´におけるすべての欠陥画素の補正のために、３２秒の露光時間に対応する優先番号（Ｎ＝３〜５）であって画像データが２分割された分割画像Ｆに対応する番号（Ｍ＝２）である第Ｎ優先補正画素群Ｐ_ＮＭ´（Ｎ＝３〜５、Ｍ＝２）の各欠陥画素のアドレスデータ（図１１参照）をＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。すなわち、第３優先補正画素群Ｐ_３２´の１００個の欠陥画素のアドレスデータ、第４優先補正画素群Ｐ_４２´の１５０個の欠陥画素のアドレスデータおよび第５優先補正画素群Ｐ_５２´の２５０個の欠陥画素のアドレスデータ（図１１参照）、の計５００個の欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ５７では、ステップＳ５６での分割数Ｓ´および露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に続き、露光時間に応じた分割数Ｓ´でのカウンタ数Ｃに対応する分割画像の分割画像データＩ_ＳＣ´に対して欠陥画素補正を実行して、ステップＳ５８へ進む。このステップＳ５７では、欠陥画素補正部４２が、送られてきた画像データ（その各画素データ）のうちのカウンタ数Ｃに対応する分割画像データＩ_ＳＣ´において、記憶部４３に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、ステップＳ５６での露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に応じた補正画素数の補正を行う。

ステップＳ５８では、ステップＳ５７での露光時間に応じた分割数Ｓ´でのカウンタ数Ｃに対応する分割画像の分割画像データＩ_ＳＣに対する欠陥画素補正の実行に続き、カウンタ数Ｃが分割数Ｓ´と等しいか否かを判定し、Ｙｅｓの場合は図１２のフローチャートを終了し、Ｎｏの場合はステップＳ５９へ進む。このステップＳ５８では、カウンタ数Ｃが露光時間に応じた分割数Ｓ´に等しいか否かを判断することにより、分割画像データＩ_ＳＣ´に対して欠陥画素補正を実行するステップＳ５７が繰り返されることで、全ての分割画像すなわち分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行ったか否かを判断するものである。

ステップＳ５９では、ステップＳ５８でのカウンタ数Ｃが分割数Ｓ´と等しくないとの判断に続き、カウンタ数Ｃをインクリメント（Ｃ＝Ｃ＋１）して、ステップＳ５６へと戻る。このステップＳ５９は、分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行うために、ステップＳ５７における分割画像データＩ_ＳＣ´に対する欠陥画素補正の実行の回数（カウンタ数Ｃ）を１ずつ加算する。

ステップＳ６０では、ステップＳ５２での露光時間が８秒以上ではないとの判断に続き、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、ステップＳ６１へ進む。このステップＳ６０では、図５のフローチャートのステップＳ４と同様に、ステップＳ５１で取得した露光時間に応じた補正画素数の画素を補正するために、各優先補正画素群Ｐ_Ｎ´のアドレスデータをＲＡＭ４４から適宜読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）することにより、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行う。このステップＳ６０では、露光時間が２秒の場合、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、第１優先補正画素群Ｐ_１´の２００個の欠陥画素のアドレスデータ（図４参照）をＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。また、露光時間が４秒の場合、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、第１優先補正画素群Ｐ_１´の２００個の欠陥画素のアドレスデータおよび第２優先補正画素群Ｐ_２´の３００個の欠陥画素のアドレスデータ（図４参照）をＲＡＭ４４から読み出して、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録（格納）する。

ステップＳ６１では、ステップＳ６０での露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に続き、露光時間に応じた欠陥画素補正を実行して、図１２のフローチャートを終了する。このステップＳ６１では、欠陥画素補正部４２が、送られてきた画像データ（その各画素データ）において、記憶部４３に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、ステップＳ６０での露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に応じた補正画素数の補正を行う。詳細には、露光時間が２秒の場合、第１優先補正画素群Ｐ_１´の２００個の欠陥画素の補正を行い、露光時間が４秒の場合、第１優先補正画素群Ｐ_１´の２００個の欠陥画素と第２優先補正画素群Ｐ_２´の３００個の欠陥画素との合計５００個の欠陥画素の補正を行う。このとき、何れの場面であっても、欠陥画素のアドレスデータの全てが記憶部４３に登録可能であることから、欠陥画素補正部４２では一度の欠陥画素補正動作で、露光時間に応じた補正画素数の欠陥画素の全てを補正することができる。このため、ステップＳ６１では、露光時間が２秒もしくは４秒の場合であって、１回目の欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作として、ステップＳ５１で取得した露光時間に応じた補正画素数の補正を実行することとなる。

このように、実施例３の欠陥画素補正処理では、撮像素子（ＣＣＤ２０）において補正対象とする欠陥画素の数が、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数以内である場合（実施例３では露光時間が２秒あるいは４秒の場合）、ステップＳ５１→ステップＳ５２→ステップＳ６０→ステップＳ６１へと進んで、等分されていないそのままの画像（画像データ）に対して、欠陥画素補正部４２で取得した露光時間に応じた補正画素数の欠陥画素補正動作を行う。このため、全体としての処理内容をより簡易なものとしつつ、露光時間に応じた補正画素数の欠陥画素補正を行うことができる。

また、撮像素子（ＣＣＤ２０）において補正対象とする欠陥画素の数が、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数を超える場合（実施例３では露光時間が８秒、１６秒あるいは３２秒の場合）、ステップＳ５１→ステップＳ５２→ステップＳ５３へと進んで、先ず、補正優先度の高い５００個の欠陥画素（第１優先補正画素群Ｐ_１´の２００個の欠陥画素および第２優先補正画素群Ｐ_２´の３００個の欠陥画素）の補正を行い、その後、ステップＳ５４→ステップＳ５５→ステップＳ５６→ステップＳ５７へと進んで、取得した露光時間に応じた補正画素数のうちの補正をしていない残りの欠陥画素数に対応して分割数Ｓ´を設定し（ステップＳ５５）、画像（画像データ）を分割数Ｓ´で等分して、それぞれの分割画像データＩ_ＳＣ´に対する欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正動作の繰り返しにより、補正対象となる画素データを重複させることなく画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行う（ステップＳ５７）。このとき、ステップＳ５６において、ステップＳ５７での欠陥画素補正の実行の回数（カウンタ数Ｃ）に応じた分割画像データＩ_ＳＣ´における各欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ４４に格納していることから、ステップＳ５６→ステップＳ５７→ステップＳ５８→ステップＳ５９へと進んでステップＳ５６へと戻る流れが繰り返されることにより、分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行うことができる。これは、例えば、露光時間が３２秒に設定されて（補正画素数は１５００個）いる場合、ステップＳ５１→ステップＳ５２→ステップＳ５３→ステップＳ５４→ステップＳ５５へと進むことにより、分割数Ｓ´が２とされて画像データを分割画像Ｅ、Ｆに等分する。その後、ステップＳ５６で露光時間３２秒に応じた分割画像Ｅの分割画像データＩ_２１´の欠陥画素補正のための準備を行ってステップＳ５７へと進むことにより、欠陥画素補正部４２が、送られてきた画像データのうちの分割画像データＩ_２１´において、記憶部４３に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データ（第３優先補正画素群Ｐ_３１´の１００個の欠陥画素、第４優先補正画素群Ｐ_４１´の１５０個の欠陥画素および第５優先補正画素群Ｐ_５１´の２５０個、の計５００個の欠陥画素）を読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間して、分割画像Ｅの露光時間３２秒に応じた欠陥画素補正が終了する。その後、ステップＳ５８へと進むがカウンタ数Ｃが１であって分割数Ｓ´＝２に等しくないことから、ステップＳ５９へと進んでステップＳ５６へと戻ることにより、露光時間３２秒に応じた分割画像Ｆの分割画像データＩ_２２´の欠陥画素補正のための準備を行う。その後、ステップＳ５７へと進むことにより、欠陥画素補正部４２に、送られてきた画像データのうちの分割画像データＩ_２２´において、記憶部４３に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データ（第３優先補正画素群Ｐ_３２´の１００個の欠陥画素、第４優先補正画素群Ｐ_４２´の１５０個の欠陥画素および第５優先補正画素群Ｐ_５２´の２５０個の欠陥画素、の計５００個の欠陥画素）を読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間して、分割画像Ｆの欠陥画素補正が終了する。その後、ステップＳ５８へと進むと、カウンタ数Ｃが２となっていることからステップＳ５９へと進むことはなく図１２のフローチャートを終了することにより、上記した分割画像Ｅおよび分割画像Ｆの欠陥画素補正が終了し、分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行うことができる。このとき、何れの場面であっても、欠陥画素のアドレスデータの全てが記憶部４３に登録可能であることから、欠陥画素補正部４２では一度の欠陥画素補正動作で、露光時間に応じた分割数Ｓ´でのカウンタ数Ｃに対応する分割画像の分割画像データＩ_ＳＣ´の欠陥画素の全てを補正することができる。

実施例３の欠陥画素補正処理では、撮像素子（ＣＣＤ２０）において補正対象とする欠陥画素の数が、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数を超える場合（実施例３では露光時間が８秒、１６秒あるいは３２秒の場合）であっても、当該記憶部４３への登録内容を書き換えつつ、すなわち記憶部４３における欠陥画素データの登録内容を変更しつつ、欠陥画素補正部４２での欠陥画素補正の動作を繰り返すことから、補正が必要とされる欠陥画素数と記憶部４３の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子（ＣＣＤ２０）の全ての欠陥画素を補正することができる。

また、実施例３の欠陥画素補正処理では、撮像素子（ＣＣＤ２０）において補正対象とする欠陥画素の数が、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数を超えない場合は、画像（画像データ）全体に対する欠陥画素補正部４２での１回分の欠陥画素補正動作の処理時間で、より適切に欠陥画素補正をすることができる。これは、画像（画像データ）全体に対して欠陥画素補正部４２が欠陥画素補正動作を行うことから、注目した欠陥画素の両隣の画素が存在する確率が高まることと、画像（画像データ）全体における各欠陥画素の分散具合に偏りがあった場合であっても当該偏りに拘らず確実に欠陥画素レベルの高い画素を優先的に補正することができることと、による。

さらに、実施例３の欠陥画素補正処理では、撮像素子（ＣＣＤ２０）において補正対象とする欠陥画素の数が、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数を超える場合であっても、画像（画像データ）全体に対する欠陥画素補正部４２での略２回分の欠陥画素補正動作の処理時間で、より適切に欠陥画素補正をすることができる。すなわち、画像（画像データ）全体に対して、先ず、補正優先度の高い５００個の欠陥画素の補正を行い、その後に、残りの各欠陥画素に対して分割数Ｓ´を設定し、元の画像データを分割数Ｓ´で等分したそれぞれの分割画像データＩ_ＳＣ´に対して欠陥画素補正動作を行う（ステップＳ５７）ことから、画像（画像データ）全体に対して欠陥画素補正をすることによるより適切な補正が可能であるという効果と、元の画像データを分割数Ｓ´で等分して欠陥画素補正をすることによる処理時間の増大を抑制する効果と、の双方を調和させつつ得ることができる。

実施例３の欠陥画素補正処理では、露光時間に応じて補正する画素数を変更していることから、露光時間に応じた必要な補正画素数だけ補正することができ、欠陥画素の補正不足や過補正に基因する画質の低下を防止することができる。

実施例３の欠陥画素補正処理では、欠陥画素レベルが高い画素を優先的に補正することから、画像（画像データ）上において欠陥画素と認識され易い画素を優先的に補正することができるので、より効率的に画質を向上させることができる。

このため、本発明に係る撮像装置のデジタルカメラ１では、記憶部４３での登録限度数に拘らず、補正対象とするすべての欠陥画素を適切に補正することができる。これにより、暗電流が増えたり蓄積されたりする条件、例えば、撮像素子（ＣＣＤ２０）の温度が上昇したり露光時間が長い状況で撮影された画像（画像データ）であっても、その品質を向上させることができる。

特に、実施例３の欠陥画素補正処理では、補正が必要とされる欠陥画素数と記憶部４３の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子（ＣＣＤ２０）の全ての欠陥画素をより適切に補正することができるとともに、欠陥画素補正部４２で欠陥画素補正動作を繰り返すことに伴って処理時間が増大することを抑制することができる。

なお、上記した実施例３では、欠陥画素の影響の変化の判断基準を露光時間として露光時間に応じた補正画素数が設定されている例を示したが、動的な欠陥要因である温度キズの影響が変化する要因を基準として補正画素数を設定するものであれば、例えば、ＩＳＯ感度に応じた補正画素数の設定に基づいて補正画素数を設定するものであってもよく、実施例３に限定されるものではない。

また、実施例３では、欠陥画素補正部４２の記憶部４３に登録可能な欠陥画素数が５００であり、かつ露光時間に応じた補正画素数の設定が露光時間３２秒の場合の補正画素数１５００を最大としていたが、各数値は例示であってこれらに限定されるものではない。ここで、設定した補正画素数が登録限度数の３倍以上である場合、少なくとも、当該補正画素数から登録限度数を減算した値（差分）を、登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値を分割数Ｓ´として設定すればよい。

さらに、実施例３では、露光時間に応じた補正画素数に対応して分割数Ｓ´を設定して、その分割数Ｓ´および露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行うものとしていたが、分割数Ｓ´の最大値で等分（実施例３では２）された領域の画像データ毎に各優先補正画素群Ｐ_ＮＭ´を取得してＲＡＭ４４に格納していることから、分割数Ｓ´が最大値の約数（実施例３では、１）である場合（露光時間が８、１６秒）、最大値で等分された画像データ毎の各優先補正画素群Ｐ_ＮＭ´を合わせることとなる（ステップＳ７２およびステップＳ７４参照）ので、分割数Ｓ´を常に最大値として欠陥画素補正の準備を行うものとしてもよい。

実施例３では、分割数Ｓ´の最大値（実施例３では２）で等分された領域の画像データ毎に各優先補正画素群Ｐ_ＮＭ´を取得してＲＡＭ４４に格納していたが、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を可能とする、すなわち各欠陥画素のアドレスデータを欠陥画素補正部４２の記憶部４３に適宜登録することができるものであればよく、実施例３に限定されるものではない。

以上、本発明を各実施例に基づき詳述してきたが、これらの具体的な構成に限らず、本発明の趣旨を逸脱しない程度の設計的変更は、本発明の技術的範囲に含まれる。

なお、上記した各実施例では、各露光時間に応じた補正画素数を設定し、それを判断基準として各露光時間での欠陥画素を検出していたが、実際にデジタルスチルカメラ（デジタルカメラ１）にセンサ（ＣＣＤ２０）を搭載した状態において、設定された各露光時間における取得したダーク画像（画像データ）で輝点として現れる画素（画素データ）の輝度値を把握して、露光時間に応じて出現する輝点（画素）の全てを補正するために充分だと判断できる輝度値を、露光時間に応じた欠陥画素レベルの閾値（補正判断値）として設定し、その露光時間に応じた欠陥画素レベルを判断基準として各露光時間での欠陥画素を検出するものであってもよい。このことは、欠陥画素（温度キズ）の影響の変化の判断基準をＩＳＯ感度とした場合であっても同様である。

また、上記した各実施例では、撮像素子（ＣＣＤ２０）にＲＧＢフィルタが設けられていたが、当該フィルタを設けずに構成されていてもよい。この場合、欠陥画素補正部４２における欠陥画素補正では、色の区分けを考慮することなく、注目した欠陥画素に隣接する両隣の画素データの平均値を、当該注目した欠陥画素の画素データとすることにより補間すればよい。

１ （撮像装置として）デジタルカメラ
２１ （画像生成手段としての）アナログフロントエンド部
２２ （画像生成手段としての）信号処理部
２３ （画像生成手段としての）ＳＤＲＡＭ
２４ （画像生成手段としての）ＲＯＭ
２８ （画像生成手段としての）制御部
４２ 欠陥画素補正部
４３ 記憶部
４４ （メモリとしての）ＲＡＭ
Ｉ_ＳＣ 分割画像データ
Ｐ_Ｎ、Ｐ_ＮＭ （欠陥画素データとしての）優先補正画素群
Ｓ、Ｓ´ 分割数

特開２００２−９４８８４号公報

Claims (13)

1. 複数の画素を有する撮像素子から出力された複数の電気信号に基づいて画像データを生成する画像生成手段を備え、
   該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置であって、
   前記画像生成手段は、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定し、該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする撮像装置。
2. 請求項１に記載の撮像装置であって、
   さらに、前記画像生成手段が適宜格納および読出することのできるメモリを備え、
   前記欠陥画素データは、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納され、
   前記画像生成手段は、前記設定条件に適合する前記欠陥画素データを前記メモリから読み出して前記記憶部に登録することを特徴とする撮像装置。
3. 前記画像生成手段は、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データを、前記補正画素数を前記登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の撮像装置。
4. 前記画像生成手段は、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データに対して、前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行い、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の撮像装置。
5. 前記画像生成手段は、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データに対して、前記欠陥画素レベルが高い方から順に前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行い、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の撮像装置。
6. 前記欠陥画素データは、等分された前記分割画像データに対応する前記撮像素子上での区画毎に、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納されていることを特徴とする請求項３ないし請求項５のいずれか１項に記載の撮像装置。
7. 前記判断基準は露光時間であり、前記設定条件は露光時間として設定された数値であることを特徴とする請求項２ないし請求項６のいずれか１項に記載の撮像装置。
8. 前記判断基準はＩＳＯ感度であり、前記設定条件はＩＳＯ感度として設定された数値であることを特徴とする請求項２ないし請求項６のいずれか１項に記載の撮像装置。
9. 複数の画素を有する撮像素子から出力された複数の電気信号に基づいて画像データを生成する画像生成手段を備え、
   該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置の制御部に、前記欠陥画素補正部による欠陥画素を補正する機能を実現させるためのプログラムであって、
   前記画像生成手段に、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定させる機能と、
   該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させる機能と、
   を実現させることを特徴とするプログラム。
10. 前記画像生成手段に、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納された前記欠陥画素データのうち、前記設定条件に適合する前記欠陥画素データを前記メモリから読み出して前記記憶部に登録する機能を、実現させることを特徴とする請求項９に記載のプログラム。
11. 前記画像生成手段に、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データを、前記補正画素数を前記登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させる機能を、実現させることを特徴とする請求項９または請求項１０に記載のプログラム。
12. 前記画像生成手段に、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データに対して、前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行わせ、かつ、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させる機能を、実現させることを特徴とする請求項９または請求項１０に記載のプログラム。
13. 前記欠陥画素データとして、等分された前記分割画像データに対応する前記撮像素子上での区画毎に、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納する機能を、実現させることを特徴とする請求項１1または請求項１2に記載のプログラム。
    

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