JP4166246B2 - 画像信号処理装置及び画素欠陥の検出方法 - Google Patents
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Description
正情報メモリ6に記憶する補正アドレス情報を生成する必要がある。このため、素子の組立工程、さらには、素子を組み込む撮像装置の組み立て工程におけるコストの増大を招いている。
したことで、より的確な判定が可能になる。そして、画素欠陥の判定を、画面を分割して行うようにしたことで、画素欠陥情報を記憶する位置メモリ回路の容量を節約することができる。さらに、各制御情報の読み出し及び書き込みが可能なインタフェース回路を接続したことで、外付けされるコンピュータ機器から制御情報を容易に変更することができるようになり、装置の汎用性を拡大できる。
れ、2画素前の画像信号Y(n)が第6のラッチ28に保持される。これより、第2のラインメモリから読み出される画像信号Y(n)が、周辺画素P3に対応する画像信号Y(P3)として出力され、第5及び第6のラッチ27、28に保持された画像信号Y(n)が、それぞれ周辺画素P2、P1に対応する画像信号Y(P2)、Y(P2)として出力される。
1の判定基準値Lbを生成し、加算器36において、平均レベルLavに差ΔLを加算し、白欠陥を検出するための第2の判定基準値Lwを生成する。そして、第5のステップS5では、第1及び第2の比較器37、38において、第1及び第2の判定基準値Lb、Lwを目標画素P0の画像信号Y(P0)と比較して画素欠陥を判定し、検出出力Db、Dwを発生する。
位置する周辺画素P2、P7の画像信号Y(P2)、Y(P7)と、上下に位置する周辺画素P4、P5の画像信号Y(P4)、Y(P5)とに基づいて補正信号Y(c)を生成する場合を示している。
いないときでも、周辺の画素とは明らかな差が生じるため、焦点が定まる前に欠陥判定を行えば、より正確な判定をすることが可能になる。
G(m)を判定に用いるか否かの選択や、用いる場合には、何れの情報を優先させるか等をシリアルバス及びインタフェース回路18を介してコンピュータ機器から設定できるようになる。また、第3の実施形態においては、エリア指定回路17の分割範囲をシリアルバス及びインタフェース回路18を介してコンピュータ機器から供給して変更できるようになる。
陥検出回路12、位置メモリ回路13、欠陥判定回路14、欠陥登録回路15及び欠陥補正回路16により実行される。
2 駆動回路
3 タイミング制御回路
4 信号処理回路
5 欠陥補正回路
6 補正情報メモリ
11 画像メモリ回路
12 欠陥検出回路
13 位置メモリ回路
14、14’ 欠陥判定回路
15 欠陥登録回路
16 欠陥補正回路
17 エリア指定回路
18 インタフェース回路
21、22 ラインメモリ
23〜28 ラッチ
31 平均値算出部
32 最大値検出部
33 最小値検出部
34、35 減算器
36 加算器
37、38 比較器
51 水平カウンタ
52 垂直カウンタ
53 水平データラッチ
54 垂直データラッチ
61〜64 除算器
65〜67 加算器
68 セレクタ
69 比較器
Claims (6)
- 画像信号に基づいて画素欠陥を検出する画像信号処理装置であって、目標画素に対応する画像信号のレベルを目標画素に隣接する複数の周辺画素に対応する画像信号のレベルに基づいて設定される判定基準値と比較して欠陥候補を検出する検出回路と、上記検出回路により検出された欠陥候補の複数の画面にわたる連続性に基づいて画素欠陥を判定する判定回路と、上記判定回路で判定された画素欠陥の位置を示す欠陥情報を記憶するメモリ回路と、を備え、上記判定回路は、上記画像信号を得る撮像制御情報を受け、上記撮像制御情報に基づいて画素欠陥の判定を行い、上記メモリ回路は、上記欠陥情報と共に上記撮像制御情報を付加して記憶しておくことにより、欠陥補正を行う時点で上記欠陥情報で示される画素に対して上記撮像制御情報に応じて画素欠陥としての補正処理を施すか否かを選択することを特徴とする画像信号処理装置。
- 上記判定回路は、上記撮像制御情報から推定される被写体の輝度が所定の範囲のときに画素欠陥の判定を行うことを特徴とする請求項1に記載の画像信号処理装置。
- 上記撮像制御情報は、露光制御情報又は利得制御情報を含むことを特徴とする請求項2に記載の画像信号処理装置。
- 上記判定回路は、上記撮像制御情報に基づいて判定基準値を変更することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の画像信号処理装置。
- 画像信号に基づいて画素欠陥を検出する画素欠陥の検出方法であって、目標画素の画像信号のレベルを目標画素に隣接する複数の周辺画素の画像信号のレベルに基づいて設定される判定基準値と比較して欠陥候補を検出し、欠陥候補の位置を記憶する第1のステップと、上記第1のステップで記憶された位置の目標画素の画像信号のレベルを上記判定基準値と再度比較する第2のステップと、上記第2のステップの比較結果を記憶する第3のステップと、画素欠陥の補正処理を施す第4のステップと、を含み、上記第2及び第3のステップを複数回繰り返して得られる複数の比較結果と共に上記画像信号を得る撮像制御情報に応じて画素欠陥を検出し、上記第3のステップは、上記比較結果と共に上記撮像制御情報を付加して記憶することと、上記第4のステップは、上記第3のステップで記憶された上記比較結果で示される画素に対して上記撮像制御情報に応じて補正処理を施すか否かを選択することを特徴とする画素欠陥の検出方法。
- 上記撮像制御情報から推定される被写体の輝度が所定の範囲のときに上記第2のステップを実行することを特徴とする請求項5に記載の画素欠陥の検出方法。
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