JP4252045B2 - 画素欠陥補正方法 - Google Patents
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Description
正情報メモリ6に記憶する補正アドレス情報を生成する必要がある。このため、組立工程におけるコストの増大を招いている。
そして、検出された画素欠陥を逐次補正することで、経時変化による画素欠陥の変化にも対応できる。
ステップとの順序については、それぞれ逆であってもよい。
入力される画像信号Y(n)を取り込み、目標画素P0に対応する画像信号Y(P0)と、その周辺画素P1〜P8に対応する画像信号Y(P1)〜Y(P8)とを並列に同時に出力する。
、1画素前の画像信号Y(n)が第1のラッチ23に保持され、2画素前の画像信号Y(n)が第2のラッチ24に保持される。これより、入力される画像信号Y(n)が、そのまま周辺画素P8に対応する画像信号Y(P8)として出力され、第1及び第2のラッチ23、24に保持された画像信号Y(n)が、それぞれ周辺画素P7、P6に対応する画像信号Y(P7)、Y(P6)として出力される。
ち上げられる検出出力Dbを発生する。
2 駆動回路
3 タイミング制御回路
4 信号処理回路
5 欠陥補正回路
6 補正情報メモリ
11 メモリ回路
12 欠陥検出回路
13 オフセット算出回路
14 遅延回路
15 欠陥補正回路
21、22 ラインメモリ
23〜28 ラッチ
31 平均値算出部
32 最大値検出部
33 最小値検出部
34〜36 減算器
37、38 加算器
41〜44 除算器
45〜47 加算器
48 セレクタ
Claims (4)
- 1画面の画像信号に含まれる画素欠陥を補正する画素欠陥補正方法であって、
目標画素に隣接する複数の周辺画素の平均レベルを算出するステップと、上記複数の周辺画素の最大レベル及び最小レベルを検出するステップと、上記最大レベルと上記最小レベルとの差を上記平均レベルに加算して判定基準値の上限値とし、上記最大レベルと上記最小レベルとの差を上記平均レベルから減算して判定基準値の下限値とするステップと、を有し、上記目標画素のレベルが上記判定基準値の上限値よりも大きいとき、あるいは、上記判定基準値の下限値よりも小さいとき、上記目標画素を欠陥画素と判定し、上記目標画素が欠陥画素である場合には、上記目標画素の位置を示すアドレス情報を記憶し、上記アドレス情報に基づいて画素欠陥を補正することを特徴とする画素欠陥補正方法。 - 上記アドレス情報は、適数フィールド毎に更新することを特徴とする請求項1に記載の画素欠陥補正方法。
- 上記判定基準値の上限値に対して第1のオフセット値を加算し、
上記第1のオフセット値を、上記平均レベルが大きいときには大きく設定し、小さいときには小さく設定することを特徴とする請求項1に記載の画素欠陥補正方法。 - 上記判定基準値の下限値に対して第2のオフセット値を減算し、
上記第2のオフセット値を、上記平均レベルが大きいときには小さく設定し、小さいときには大きく設定することを特徴とする請求項1に記載の画素欠陥補正方法。
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