JP3984936B2 - 撮像装置および撮像方法 - Google Patents
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Description
一つ目の補正方法は、撮像装置の工場出荷時に欠陥画素の位置を検出し、撮像装置内に設けられたEEPROM(電気的書き換え可能な読出し専用メモリ)等の不揮発性メモリにその情報を記憶しておき、撮像動作中その情報を元に欠陥画素をその周辺の画素から補間した画素に置き換えることで補正する方法である。
また上記二つ目の補正方法によると、欠陥画素の位置情報を格納する不揮発性メモリが不要になる反面、特に自然画像(複雑な明度差や彩度差のある画像)などを撮像中に欠陥画素の検出を行うと、欠陥画素の検出精度が低くなり、誤検出による補正で画質劣化を伴うという問題を有する。
ここで、撮像信号がアナログ−デジタル変換されているものならば撮像データと呼称してもよい。また、撮像信号をアナログ−デジタル変換する機能は、固体撮像素子内に設けてもよいし、固体撮像素子の外に設けてもよい。
制御手段を有することにより、固体撮像素子における露光時間や撮像装置の使用環境に応じて、固体撮像素子における欠陥画素の数が変化した場合に、これに対応するように、検出信号を参照する周辺画素の組み合わせを制御することができる。
これにより、精度良く欠陥画素を検出した検出信号を基に、欠陥画素の補正を行うことができる。すなわち、精度の悪い検出信号を基に欠陥画素の補正を行う場合と比べて画質が向上する。
これにより、欠陥画素の検出に適した周辺画素と、エッジ部分を誤検出した検出信号を判定することに適した周辺画素において、その数や注目画素との位置関係が異なる場合には、これに対応することができる。
これにより、撮像装置の周辺温度が上昇したことにより固体撮像素子の温度も上昇して、欠陥画素の数が増加する現象に対応することができる。
これにより、固体撮像素子における露光時間に応じて欠陥画素の数が増減する現象に対応することができる。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態における単板撮像装置の概略構成を示す図である。図1において、被写体からの入射光は結像光学系101により撮像素子102の撮像面上に結像される。撮像素子102の各画素にはカラー撮像のために色フィルタが貼られている。また、撮像素子102とは例えばCCDであり、撮像素子102の各画素は、被写体の輝度に応じて光電変換する。本実施形態において、色フィルタとは、例えば図3に示すようにRGB(赤、緑、青)の3色の色フィルタが周期的に配列されたものである。尚、色フィルタの配列形態は、この限りではなく、補色のみや補色と原色の組み合わせなど種々の色を組み合わせた種々の配列形態であって好適である。
|L1−(L0+L1)/2| > TH … 式1
図6は、図1に示したエッジ部判定回路105の回路構成例を示す図である。図6に示すように、エッジ部判定回路105は、撮像素子102の水平方向1ライン分の遅延を行う1ライン遅延手段601、602及び1画素遅延手段603〜608とエッジ判定部609により構成されている。欠陥画素検出回路104より入力される検出信号DETは、1ライン遅延手段601の入力端子と、1画素遅延手段603の入力端子と、エッジ判定部609の入力端子D9に接続されている。また、1画素遅延手段603の出力端子は、エッジ判定部609の入力端子D8と1画素遅延手段604の入力端子に接続されている。また、1ライン遅延手段601の出力は1画素遅延手段605およびエッジ判定部609の入力端子D6および1ライン遅延手段602の入力端子に接続されている。また、1画素遅延手段605の出力は、1画素遅延手段606の入力端子と、エッジ判定部609の入力端子D5に接続されている。1画素遅延手段604、606、608の出力は、各々がエッジ判定部609の入力端子D7、D4、D1に接続されている。また、1ライン遅延手段の出力は、エッジ判定部609の入力端子D3と、1画素遅延手段607の入力端子に接続されている。
図8は、図1に示した欠陥画素補正回路107の回路構成例を示す図である。図8において、遅延調整回路801は、AFE回路103より供給される撮像データSINに対して、欠陥画素補正を行う注目画素とエッジ部判定回路105が出力する判定信号DEFとの位相が合うように遅延調整する。次に、1画素遅延手段802〜805は、遅延調整された撮像データより隣接する同じ色フィルタの3画素(X1,X2,X3)を同時化する。これにより、平均化回路806は、画素データX1、X3の平均値AVを算出する。同時に、切替回路807は、判定信号DEFに基づき、注目画素X2が欠陥画素である場合には平均値AVを補正後の撮像データSOUTとして出力し、欠陥画素でない場合には画素信号X2を撮像データSOUTとして出力する。
次に、上述した第1の実施形態の撮像装置とエッジ部の判定処理が異なる第2の実施形態における撮像装置について説明する。図9は、第2の実施形態における撮像装置の概略構成を示す図である。図9において上述した図1と同一の符号101,102,103,104,107,108,109を付与されているものは、同一の機能を有するものであるので説明を省略する。すなわち、第2の実施形態における撮像装置は、第1の実施形態における撮像装置と、制御CPU901およびエッジ部判定回路902を具備する点で異なる。
図10は、図9に示したエッジ部判定回路902の回路構成例を示す図である。図10において上述した図6と同一の符号601〜608を付与されているものは、同一の機能を有するものであるので説明を省略する。すなわち、図10に示すエッジ部判定回路902は、図1に示したエッジ部判定回路105とエッジ判定部1009を備える点で異なる。
まず、図1には示していないが、揮発性のメモリまたはレジスタなどに、撮影中に検出した欠陥画素の位置情報を数フレーム分格納する。これにより、全てのフレーム(または所定数以上のフレーム)で同じ位置に欠陥画素が検出されていれば、その欠陥画素の位置情報は信頼性の高い位置情報であると言える。この位置情報に応じて過去に検出した欠陥画素の検出信号(以下、第2の検出信号とする)を出力してこれを基に欠陥画素補正回路107が補正を行う。または、第2の検出信号と判定信号DEFを比較して両者が真の場合にのみ欠陥画素補正回路107が補正を行ってもよい。これにより、欠陥画素の誤検出を更に防ぐことができる。尚、数フレーム分格納される欠陥画素の位置情報は、任意のタイミングで更新すればよい。また、撮影中に検出した欠陥画素の位置情報は、カウンタなどでタイミング基準信号(水平同期信号など)の変化点から判定信号DEFの変化点までのカウント数を計ることで得られる。また、位置情報を基にした第2の検出信号も、カウンタのカウント値と位置情報のカウント数が一致した場合に真となる回路より出力することができる。
102 撮像素子
103 AFE(アナログフロントエンド)回路
104 欠陥画素検出回路
105、902 エッジ部判定回路
106、901 制御CPU
107 欠陥画素補正回路
108 カメラ信号処理回路
609、1009 エッジ判定部
Claims (9)
- 各画素において被写体の輝度に応じて光電変換することで撮像信号を出力する1つ又は複数の固体撮像素子と、
前記撮像信号において欠陥画素の検出の対象となる注目画素の信号レベルと、前記注目画素周辺に位置する複数の周辺画素との信号レベルとの差を基に、前記注目画素が欠陥画素候補であるか否かの検出を行い、検出結果に応じた検出信号を出力する検出手段と、
前記検出手段が出力する前記注目画素の前記検出信号が欠陥画素候補であることを示す場合に、前記注目画素の周辺画素の前記検出信号のうち、いずれかの検出信号が欠陥画素候補であることを示しているか否かに基づき、前記注目画素に対する検出信号が誤検出であるか否かを判定する判定手段と、
前記周辺画素の組み合わせを制御する制御手段と
を具備し、
前記判定手段が誤検出でないと判定した前記検出信号により撮像動作中に1つ又は複数の前記固体撮像素子における欠陥画素を検出すること
を特徴とする撮像装置。 - 前記判定手段が誤検出でないと判定した前記検出信号を基に、前記注目画素の画素データの替わりに、前記周辺画素の画素データを基に生成する補正データを用いることで補正を行う補正手段を更に具備することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記検出手段において信号レベルの差を求める前記周辺画素と、前記判定手段において前記検出信号を参照する前記周辺画素とは、周辺画素の数又は/及び周辺画素と前記注目画素との位置関係が異なることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像装置。
- 各画素において被写体の輝度に応じて光電変換することで撮像信号を出力する1つ又は複数の固体撮像素子と、
前記撮像信号に基づき欠陥画素候補を検出する検出手段と、
前記検出手段による検出が誤検出であるか否かを、前記欠陥画素候補とされた注目画素の周辺の領域に含まれる画素のうち、いずれかの画素が欠陥画素候補であるか否に基づき、判定する判定手段と、
撮像条件に基づいて、前記領域を変化させる制御手段と、
を具備することを特徴とする撮像装置。 - 前記判定手段が誤検出でないと判定した前記注目画素の画素データの替わりに、前記注目画素の周辺画素の画素データを基に生成する補正データを用いることで補正を行う補正手段を更に具備することを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。
- 前記撮像条件は、前記撮像装置の周辺温度を含むことを特徴とする請求項4又は5に記載の撮像装置。
- 前記撮像条件は、1つ又は複数の前記固体撮像素子における露光時間を含むことを特徴とする請求項4又は5に記載の撮像装置。
- 各画素において被写体の輝度に応じて光電変換することで撮像信号を出力する1つ又は複数の固体撮像素子を有する撮像装置を用いた撮像方法であって、
前記撮像信号において欠陥画素の検出の対象となる注目画素の信号レベルと、前記注目画素周辺に位置する複数の周辺画素との信号レベルとの差を基に、前記注目画素が欠陥画素候補であるか否かの検出を行い、検出結果に応じた検出信号を出力する第1のステップと、
前記第1のステップで出力する前記注目画素の前記検出信号が欠陥画素候補であることを示す場合に、前記注目画素の周辺画素の前記検出信号のうち、いずれかの検出信号が欠陥画素候補であることを示しているか否かに基づき、前記注目画素に対する検出信号が誤検出であるか否かを判定する第2のステップと、
前記第2のステップにおいて前記周辺画素の組み合わせを制御する第3のステップと、
前記第2のステップで誤検出でないと判定した前記検出信号により撮像動作中に1つ又は複数の前記固体撮像素子における欠陥画素を検出する第4のステップと
を有することを特徴とする撮像方法。 - 各画素において被写体の輝度に応じて光電変換することで撮像信号を出力する1つ又は複数の固体撮像素子を有する撮像装置を用いた撮像方法であって、
前記撮像信号に基づき欠陥画素候補を検出するステップと、
前記ステップによる検出が誤検出であるか否かを、前記欠陥画素候補とされた注目画素の周辺の領域に含まれる画素のうち、いずれかの画素が欠陥画素候補であるか否に基づき、判定するステップと、
撮像条件に基づいて、前記領域を変化させるステップと、
を有することを特徴とする撮像方法。
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US8471852B1 (en) | 2003-05-30 | 2013-06-25 | Nvidia Corporation | Method and system for tessellation of subdivision surfaces |
US8184923B2 (en) * | 2004-04-19 | 2012-05-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Image analysis method, image analysis program, pixel evaluation system having the image analysis method, and pixel evaluation system having the image analysis program |
TWI256847B (en) * | 2004-08-30 | 2006-06-11 | Via Tech Inc | Method and apparatus for dynamically detecting pixel values |
JP4709514B2 (ja) * | 2004-09-16 | 2011-06-22 | オリンパス株式会社 | カプセル型内視鏡システム |
JP4591046B2 (ja) * | 2004-11-11 | 2010-12-01 | ソニー株式会社 | 欠陥検出補正回路及び欠陥検出補正方法 |
KR100690342B1 (ko) | 2005-08-08 | 2007-03-09 | 엠텍비젼 주식회사 | 이미지 센서의 불량 화소 판별 방법 및 장치 |
US8009209B2 (en) | 2005-09-30 | 2011-08-30 | Simon Fraser University | Methods and apparatus for detecting defects in imaging arrays by image analysis |
US8571346B2 (en) | 2005-10-26 | 2013-10-29 | Nvidia Corporation | Methods and devices for defective pixel detection |
US7750956B2 (en) | 2005-11-09 | 2010-07-06 | Nvidia Corporation | Using a graphics processing unit to correct video and audio data |
US8588542B1 (en) | 2005-12-13 | 2013-11-19 | Nvidia Corporation | Configurable and compact pixel processing apparatus |
US8737832B1 (en) | 2006-02-10 | 2014-05-27 | Nvidia Corporation | Flicker band automated detection system and method |
US8630498B2 (en) | 2006-03-02 | 2014-01-14 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for detecting pictorial regions in digital images |
KR100780224B1 (ko) | 2006-05-11 | 2007-11-27 | 삼성전기주식회사 | 이미지 센서의 불량 화소 검출 및 복원방법 |
EP1863272B1 (en) * | 2006-05-29 | 2016-03-23 | STMicroelectronics (Research & Development) Limited | Correction of defective adjacent pixels in image sensors |
US7864365B2 (en) * | 2006-06-15 | 2011-01-04 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for segmenting a digital image into regions |
US8437054B2 (en) | 2006-06-15 | 2013-05-07 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for identifying regions of substantially uniform color in a digital image |
US8594441B1 (en) | 2006-09-12 | 2013-11-26 | Nvidia Corporation | Compressing image-based data using luminance |
US7952646B2 (en) * | 2006-12-27 | 2011-05-31 | Intel Corporation | Method and apparatus for content adaptive spatial-temporal motion adaptive noise reduction |
US8723969B2 (en) | 2007-03-20 | 2014-05-13 | Nvidia Corporation | Compensating for undesirable camera shakes during video capture |
JP4975515B2 (ja) * | 2007-05-01 | 2012-07-11 | シャープ株式会社 | 固体撮像素子の欠陥画素補正装置、固体撮像素子の欠陥画素補正方法、制御プログラム、可読記録媒体、撮像装置および電子情報機器 |
US8724895B2 (en) | 2007-07-23 | 2014-05-13 | Nvidia Corporation | Techniques for reducing color artifacts in digital images |
US8570634B2 (en) | 2007-10-11 | 2013-10-29 | Nvidia Corporation | Image processing of an incoming light field using a spatial light modulator |
US8780128B2 (en) | 2007-12-17 | 2014-07-15 | Nvidia Corporation | Contiguously packed data |
US9177368B2 (en) | 2007-12-17 | 2015-11-03 | Nvidia Corporation | Image distortion correction |
US8698908B2 (en) | 2008-02-11 | 2014-04-15 | Nvidia Corporation | Efficient method for reducing noise and blur in a composite still image from a rolling shutter camera |
US9379156B2 (en) | 2008-04-10 | 2016-06-28 | Nvidia Corporation | Per-channel image intensity correction |
AU2009240461A1 (en) * | 2008-04-24 | 2009-10-29 | 3M Innovative Properties Company | Analysis of nucleic acid amplification curves using wavelet transformation |
JP5311916B2 (ja) * | 2008-07-31 | 2013-10-09 | 株式会社エルモ社 | 撮像装置 |
US8310570B1 (en) * | 2008-10-08 | 2012-11-13 | Marvell International Ltd. | Repairing defective pixels |
US8373718B2 (en) | 2008-12-10 | 2013-02-12 | Nvidia Corporation | Method and system for color enhancement with color volume adjustment and variable shift along luminance axis |
US8749662B2 (en) | 2009-04-16 | 2014-06-10 | Nvidia Corporation | System and method for lens shading image correction |
JP5169994B2 (ja) * | 2009-05-27 | 2013-03-27 | ソニー株式会社 | 画像処理装置、撮像装置及び画像処理方法 |
US8259198B2 (en) * | 2009-10-20 | 2012-09-04 | Apple Inc. | System and method for detecting and correcting defective pixels in an image sensor |
US8698918B2 (en) | 2009-10-27 | 2014-04-15 | Nvidia Corporation | Automatic white balancing for photography |
JP5697433B2 (ja) * | 2010-12-22 | 2015-04-08 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
JP2013168793A (ja) | 2012-02-15 | 2013-08-29 | Toshiba Corp | 画像処理装置 |
US8872946B2 (en) | 2012-05-31 | 2014-10-28 | Apple Inc. | Systems and methods for raw image processing |
US9031319B2 (en) | 2012-05-31 | 2015-05-12 | Apple Inc. | Systems and methods for luma sharpening |
US9105078B2 (en) | 2012-05-31 | 2015-08-11 | Apple Inc. | Systems and methods for local tone mapping |
US8817120B2 (en) | 2012-05-31 | 2014-08-26 | Apple Inc. | Systems and methods for collecting fixed pattern noise statistics of image data |
US9014504B2 (en) | 2012-05-31 | 2015-04-21 | Apple Inc. | Systems and methods for highlight recovery in an image signal processor |
US9025867B2 (en) | 2012-05-31 | 2015-05-05 | Apple Inc. | Systems and methods for YCC image processing |
US8953882B2 (en) | 2012-05-31 | 2015-02-10 | Apple Inc. | Systems and methods for determining noise statistics of image data |
US9077943B2 (en) | 2012-05-31 | 2015-07-07 | Apple Inc. | Local image statistics collection |
US9332239B2 (en) | 2012-05-31 | 2016-05-03 | Apple Inc. | Systems and methods for RGB image processing |
US9743057B2 (en) | 2012-05-31 | 2017-08-22 | Apple Inc. | Systems and methods for lens shading correction |
US9142012B2 (en) | 2012-05-31 | 2015-09-22 | Apple Inc. | Systems and methods for chroma noise reduction |
US8917336B2 (en) | 2012-05-31 | 2014-12-23 | Apple Inc. | Image signal processing involving geometric distortion correction |
US11089247B2 (en) | 2012-05-31 | 2021-08-10 | Apple Inc. | Systems and method for reducing fixed pattern noise in image data |
US9798698B2 (en) | 2012-08-13 | 2017-10-24 | Nvidia Corporation | System and method for multi-color dilu preconditioner |
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JP3227815B2 (ja) | 1992-07-06 | 2001-11-12 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置 |
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JPH0723297A (ja) | 1993-06-29 | 1995-01-24 | Sony Corp | 固体撮像素子の欠陥検出装置 |
JP3125124B2 (ja) * | 1994-06-06 | 2001-01-15 | 松下電器産業株式会社 | 欠陥画素傷補正回路 |
JP3384209B2 (ja) | 1995-10-13 | 2003-03-10 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子の測定方法 |
JP3785520B2 (ja) * | 1997-03-19 | 2006-06-14 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 電子カメラ |
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