JPH0723297A - 固体撮像素子の欠陥検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 カメラ撮像動作中に固体撮像素子の欠陥を検
出し補正する装置を提供すること。 【構成】 固体撮像素子１から供給される画素信号をラ
ッチ（５）して検査画素を中心に周辺画素を並べ、検査
画素と隣接画素の差をとって欠陥画素の可能性を調べる
（８，１０）と共に、画像のエッジを判定し（９，１
１）、画像のエッジと欠陥の可能性がある画素が重なっ
ているときにそれを欠陥とするか否かを判定する（１
２）ようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ＣＣＤイメージセンサ
等の固体撮像素子に発生する点欠陥を撮像中に検出して
補正することが可能な点欠陥の検出装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来欠陥検出補正方法として次のような
方法が知られている。

【０００３】１．工場出荷時に画像欠陥の位置情報を測
定し、カメラ内に設けられたＲＯＭ（読み出し専用メモ
リ）等にその情報を記憶しておき撮像中、欠陥画素信号
をその前後の画素信号で置き換えることによって補正す
る。

【０００４】２．カメラを使用する前に絞りを閉じるこ
とによって欠陥を検出し、この位置をＲＡＭ（随時書き
込み読み出しメモリ）等に記憶しておき、撮像中には、
上記欠陥画素を補正して出力する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記１の方
法によって欠陥補正を行なう場合は、ＲＯＭを使うので
コストアップになる。

【０００６】また、上記２の方法によって欠陥補正を行
なう場合は、欠陥検出のためにカメラ使用前に絞りを閉
じる等の操作が必要になり複雑な制御システムを必要と
する。

【０００７】本発明は、従来技術の上述の欠点を克服
し、カメラ撮像動作中に欠陥を検出し補正することがで
きる欠陥検出補正装置を提供することを目的とする。

【０００８】以下の説明においては主として欠陥検出装
置として説明するが、その検出結果を使って補正を行な
う装置の構成は当業者にとって明らかなことである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、固定撮
像素子から供給される画素信号をＡＧＣ増巾器を含む信
号処理回路を経て送出する映像信号回路において、前記
画素信号中に含まれる欠陥画素信号を撮像中に検出する
装置であって、検査画素信号とその隣接画素信号との信
号レベル差を調べるレベル差測定回路と、検査画素信号
の周囲に画像のエッジが存在しないかどうかを調べるエ
ッジ測定回路と、検査画素信号が画像エッジにかかって
いる場合にその画素が欠陥画素であるか否かを判定する
エッジ欠陥測定回路と、前記レベル差判定回路、エッジ
判定回路、及びエッジ欠陥判定回路の出力に基いて欠陥
検出を行なう論理演算回路とを具備することを特徴とす
る画素信号の欠陥検出装置を提供するものであって、一
例として前記レベル差判定回路は所定のスレッシホール
ドレベル以上のレベル差を検出する検出回路でなり、こ
のスレッシホールドレベルが検査画素の信号レベルに応
じて可変するようにする。

【００１０】また、前記スレッシホールドレベルは検査
画素の信号レベルが小さいときは予め設定した固定値に
切り換えられるようにする。

【００１１】さらに、前記固定値は固体撮像素子の出力
信号のレベル調整を行なうＡＧＣアンプのゲインに応じ
て変えられるようにする。

【００１２】また、前記エッジ判定回路は所定のスレッ
シホールドレベル以上の周辺画素信号の振巾変化を検出
する検出回路で成り、このスレッシホールドレベルが検
査画素信号のレベルに応じて変えられるようにする。

【００１３】検査画素の信号レベルが小さいときは、上
記スレッシホールドレベルは予め設定した固定値に切り
換えられるようにする。

【００１４】前記固定値は固体撮像素子の出力信号のレ
ベル調整を行なうＡＧＣアンプのゲインに応じて可変と
する。

【００１５】

【作用】本発明の画素信号欠陥検出装置は、レベル差判
定回路、エッジ判定回路及びエッジ欠陥判定回路の３つ
の回路の出力に基いて論理演算回路で欠陥検出を行なっ
ているので、カメラ撮像動作中に画素欠陥検出を行なっ
ても撮像された映像情報に含まれるエッジ情報やランダ
ムノイズを見誤ることなく精度良く欠陥検出ができる。

【００１６】

【実施例】図１を参照して本発明の一実施例の説明をす
る。

【００１７】図１において、１はＣＣＤイメージセンサ
等の固体撮像素子、２はサンプリングホールド回路、３
はＡＧＣ回路、４はＡＤ変換器、５はラッチ回路、６は
ディジタル信号処理回路である。

【００１８】これらは、固体撮像素子１で撮像したアナ
ログ画像信号をディジタル信号に変換し、信号処理して
出力する回路である。

【００１９】７はスレッシホールド（閾値）を設定する
スレッシホールド設定回路、８は画素信号のレベル差を
演算するレベル差演算回路、９は画像のエッジを検出す
るためのエッジ検出回路、１０はレベル差判定回路、１
１はエッジ判定回路、１２はエッジ欠陥判定回路、１３
は論理演算回路であり、これらは欠陥画像信号を検出す
るための回路である。

【００２０】図１の固定撮像素子１は、図１１に示すよ
うな画素配列となっている。図１１においてＣ３が検査
画素であるとして以下の説明を行なうこととする。

【００２１】図１の固体撮像素子１からの出力はサンプ
ルホールド回路２、ＡＧＣ回路３、ＡＤ変換器４を通っ
て直列に伝送され、ラッチ回路５に入力する。

【００２２】このラッチ回路５は図２に詳細に記載して
ある。ＡＤ変換器４から送られて来る入力画像信号は、
１画素分の遅延を与えるラッチ素子ＤによりＢ１〜Ｂ５
に示すように各画素信号をラッチする。

【００２３】また、上記入力画像信号は第１の１Ｈ（１
水平期間）遅延線２０３で１水平期間遅延されて次の行
のラッチ素子Ｄに与えられ、これによりＣ１〜Ｃ５に示
すような画素信号としてラッチされる。

【００２４】上記第１の１Ｈ遅延線２０３の出力はさら
に第２の遅延線２０４に供給され、そこで１水平期間遅
延された信号が第３行のラッチ素子Ｄの直列配列に印加
される。その結果、同図にＤ１〜Ｄ５で示したとおりの
画素信号がラッチされる。

【００２５】図から明らかなとおり、ラッチ回路にラッ
チされた画素信号Ｂ１〜Ｂ５，Ｃ１〜Ｃ５，Ｄ１〜Ｄ５
は、図１１に図示した撮像素子上の２〜４行目の画素配
列と対応している。

【００２６】即ち、このラッチ回路５は、固体撮像素子
１から直列信号として伝送されてくる信号を並列になら
べて隣接画素の比較をしやすくするものである。

【００２７】図４は、レベル差演算回路８を詳細に記し
たものである。入力端子４０１には図２のラッチ回路か
ら与えられる検査画素信号Ｃ３が入力されている。この
画素信号は先に述べたとおり撮像素子上の画素配列にお
ける画素Ｃ３に対応するものであり、検査しようとする
画素信号である。

【００２８】図４の回路の入力端子４０２には画素信号
Ｂ３、４０４には画素信号Ｄ３が印加されており、これ
らは図１１から明らかなとおり、縦方向に見たＣ３と隣
接の画素信号である。

【００２９】また入力端子４０３と４０５には画素信号
Ｃ２とＣ４が印加されており、これらは横方向に見たＣ
３と隣接の画素信号である。

【００３０】減算器４０６〜４０９は検査をする画素信
号Ｃ３と隣接画素信号との差を計算する回路であって、
それぞれ出力端子４１０〜４１３に隣接画素信号との差
信号Ｃ３−Ｄ３，Ｃ３−Ｃ２，Ｃ３−Ｄ３及びＣ３−Ｃ
４を出力する。

【００３１】図７は、レベル判定回路１０を詳しく記し
たもので図４を参照して前述したレベル差演算回路８か
ら供給される隣接画素信号との差信号Ｃ３−Ｂ３，Ｃ３
−Ｃ２，Ｃ３−Ｄ３，Ｃ３−Ｃ４が入力端子７０２〜７
０５に印加されている。

【００３２】これらの差信号は比較器７０６〜７０９に
おいて、夫々後述する或る閾値ｔｈ１′と比較される。
差信号が閾値を超えていればその比較器の出力が論理
“１”になり、全比較器の出力が“１”の時、アンド回
路７１０の出力は“１”となって、検査した画素信号が
隣接画素信号に比べて孤立して大きいことを示す。

【００３３】閾値信号ｔｈ１′については後ほど詳しく
説明することにして、次に、図５を参照してエッジ演算
回路９について更に詳しい説明をする。

【００３４】この回路の入力端子５０１〜５０８には、
図２のラッチ回路５からの出力Ｂ２，Ｂ４，Ｃ１，Ｃ
２，Ｃ４，Ｃ５及びＤ４が印加されている。

【００３５】差動増巾器５０９〜５１２は、検査画素Ｃ
３の１つ前の画素Ｃ２について、それと隣接する画素の
信号の様子を調べるもので、差動増巾器５０９は上隣り
の画素信号Ｂ２との差を出力端子５１６に与え、差動増
巾器５１１は前隣の画素信号Ｃ１との差を出力端子５１
７に与え、差動増巾器５１２は下隣りの画素信号Ｄ２と
の差を出力端子５１８に与える。

【００３６】差動増巾器５１３〜５１５は、検査画素Ｃ
３の１つ後の画素Ｃ４について、それと隣接する画素の
信号の様子を調べるもので、差動増巾器５１３はＣ４の
上隣りの画素信号Ｂ４との差を出力端子５１９に出力
し、差動増巾器５１４は右隣り（１つ後）の画素信号Ｃ
５との差を出力端子５２０に出力し、差動増巾器５１５
は下隣りＤ４との差信号を出力端子５２１に出力する。

【００３７】以上の説明から明らかなとおり、エッジ演
算回路９の出力は検査画素信号の前後の画素信号が増大
傾向にあるか否かを表わす信号である。

【００３８】図６はエッジ判定回路１１を詳細に記した
回路図である。入力端子６０２〜６０７には図５のエッ
ジ演算回路９の出力端子５１６〜５２１からの出力信号
が印加されている。

【００３９】また入力端子６０１にはスレッシホールド
設定回路７からの閾値信号ｔｈ２′が印加されている。
比較器６０８〜６１３は入力端子６０２〜６０７に入力
する信号と入力端子６０１に入力する閾値信号ｔｈ２′
とを比較して入力端子６０２〜６０７に印加された信号
が閾値以上であればそれぞれ出力論理“１”を出力す
る。

【００４０】比較器６０８〜６１３の出力はＮＯＲ（ノ
ア）回路６１４の入力に印加されている。このＮＯＲ回
路６１４は、比較器６０８〜６１３の出力が全部論理
“０”の時出力６１５に論理“１”を出力するものであ
る。

【００４１】換言すると、検査画素信号Ｃ３の周辺の画
素信号間に所定の閾値ｔｈ２′を超える振巾差のないこ
とを示す信号を出力するものである。

【００４２】図８はエッジ欠陥判定回路１２を詳細に記
したものである。入力端子８０１，８０３，８０６及び
８０９には図４のレベル差演算回路８からの出力が印加
れており、入力端子８０２，８０４，８０５，８０７，
８０８及び８１０には図５のエッジ演算回路９からの出
力が印加されている。

【００４３】同図において、８１１〜８１４はＫ倍（Ｋ
＝ｔｈ３：第３の閾値）の係数器であり、８１５〜８２
０は比較器である。比較器８１５は、検査画素信号Ｃ３
とその１つ前の画素信号Ｃ２との差（Ｃ３−Ｃ２）をＫ
倍したものと、１つ前の画素信号Ｃ２と２つ前の画素信
号Ｃ１との差（Ｃ２−Ｃ１）とを比較し、前者が大きけ
れば出力に論理“１”を出力する。

【００４４】従って比較器８１５は検査画素信号の前方
の画素信号の増大傾向に対して検査画素信号の振巾が急
増していることを検出する働きをする。

【００４５】同様にして、比較器８１６は検査画素信号
の後方の画素信号が検査画素信号の方向に増大する率に
比べて検査画素の点での信号が著しく増大していること
を検出する働きをする。

【００４６】入力端子８０６には検査画素信号とその１
つ上の画素信号との差信号が印加されており、入力端子
８０５には１画素前とその上の画素の信号の差信号（Ｃ
２−Ｂ２）が入力されており、入力端子８０７には１画
素後とその上の画素の信号の差信号（Ｃ４−Ｂ４）が印
加されている。

【００４７】従って、比較器８１７は検査画素の前上方
の画素信号の検査画素方向の増大率よりも検査画素点で
の信号の増大率が著しく大きいことを表わす出力を出
し、比較器８１８は検査画素の後上方の画素信号の検査
画素方向への増大率よりも検査画素点での信号の増大率
が著しく大きいことを検出する出力を出す。

【００４８】同様にして、入力端子８０９には検査画素
Ｃ３の下方画素に対する差信号（増分）が印加されてお
り、入力端子８０８，８１０には、それぞれ前下方、後
下方にある周辺画素信号の検査画素方向への増大傾向を
示す信号が印加されているので比較器８１９，８２０は
検査画素信号の振巾増大率がその下方の周辺画素信号の
検査画素方向に向けての増大率よりも著しく大きいこと
を表わす信号が出力される。

【００４９】アンド回路８２１は前述の比較器８１５〜
８２０の出力が全部論理“１”のとき、出力“１”を出
す。即ち、このエッジ欠陥判定回路は、周囲の画素間の
変化に比べて検査画素信号が突出しているか否かを検出
するものである。

【００５０】図９は図１の論理演算回路１３と詳述した
ものである。図において、９０４と９０５はアンド回
路、９０６はオア回路である。従って、入力端子９０２
に印加されるレベル判定信号と入力端子９０１に印加さ
れるエッジ判定信号がともに論理“１”のとき検出出力
“１”を出力する。

【００５１】即ち、レベル判定の結果が隣接画素信号に
比べて大きいこと（欠陥らしいこと）を示し、かつエッ
ジ判定の結果が周辺画素信号の増大傾向なし（画像のエ
ッジにかかっていない）で孤立しているとき、その画素
信号を欠陥として検出する。

【００５２】また、入力端子９０２に印加されるレベル
判定信号と入力端子９０３に印加されるエッジ欠陥判定
信号がともに論理“１”のときも出力端子９０７に検出
出力を出す。

【００５３】これは、検査画素信号Ｃ３が周辺画素信号
の増大（画像のエッジ）に比べて著しく増大していれば
欠陥信号として検出しようと云う考えに基いている。

【００５４】逆に、検査画素信号Ｃ３が周辺の画素信号
に比べて特に際立って増大していなければ、これを欠陥
画素信号としては扱わない。

【００５５】次に図１のスレッシホールド設定回路７に
ついて、図３を参照して詳述する。入力端子３０２には
図１のＡＧＣ回路からのゲイン設定情報信号が印加され
ており、制御用マイコン３０３はこの印加信号に基いて
スレッシホールドレベル（閾値）ｔｈ１，ｔｈ２を設定
する。

【００５６】他方、入力端子３０１には図１，図３に示
したラッチ回路５からの画素信号Ｃ３が印加される。

【００５７】ＲＯＭ３０４は入力に印加された検査画素
信号Ｃ３の平方根を算出するために設けられた読み出し
専用メモリであり、ここからの出力は係数器３０５でα
倍されて切り換えスイッチ３０９の接点ａに送出され
る。

【００５８】また、入力画素信号Ｃ３は係数器３０６で
β倍されて切り換スイッチ３１０の接点ａに送出され
る。

【００５９】切り換えスイッチ３０９は係数器３０５の
出力信号と制御用マイコンからの出力信号ｔｈ１を切り
換えて出力するスイッチであって、比較器３０７でそれ
ら２つの出力信号を比較して大きい方の値を出力ｔｈ
１′として出力するように切り換えスイッチ３０９を制
御する。

【００６０】切り換えスイッチ３１０は係数器３０６の
出力信号と制御マイコンからの出力信号ｔｈ２とを切り
換えて出力するスイッチであって、比較器３０８でそれ
ら２つの出力信号を比較して大きい方の値を出力ｔｈ
２′として出力するように切り換えスイッチ３１０を制
御する。

【００６１】出力端子３１１に現われる閾値信号ｔｈ
１′は前述のとおりレベル差判定回路で用いられ、出力
端子３１２に現われる閾値信号ｔｈ２′はエッジ判定回
路で用いられる。

【００６２】これらの信号は主に暗信号時のランダムノ
イズ等による誤判定を避けるために設定するものである
が、固体撮像素子を用いたビデオカメラ等では信号処理
回路にＡＧＣ増巾器が設けられているため、画像の平均
輝度レベルによってＡＧＣ増巾器のゲインが変わり、ラ
ンダムノイズが変化する。

【００６３】従って、ＡＧＣ増巾器のゲインに応じてス
レッシホールドレベルを変えることが必要である。例え
ば、暗い被写体を撮像しているときはＡＧＣ増巾器のゲ
インがあがるのでスレッシホールドレベルも大きな値に
変更する必要がある。

【００６４】スレッシホールドレベルｔｈ１′の変化の
様子は図１２に示すとおりである。入力信号レベルが大
きいときは検査画素信号Ｃ３に基いて決められる値でＣ
３の増大とともに増大するが、入力信号レベルが小さい
ときはマイコンで発生した所定の値ｔｈ１とする。２つ
の値の切り換えはスイッチ３０９で行われる。

【００６５】以上、本発明の欠陥検出補正装置の１例の
回路構成について詳細に説明してきたが、次に図１０の
フローチャートを参照して本実施例の欠陥検出補正装置
の動作の説明をする。

【００６６】ステップＳ１の検査開始に続いて、ステッ
プＳ２に進み図１のレベル差判定回路１０はレベル差判
定を行なう。この判定は、検査画素Ｃ３が周囲の画素に
比べて閾値ｔｈ１′以上にレベルが大きくなっていない
かどうかを検査する過程であって、図１のレベル差演算
回路８から供給されるレベル差信号について、Ｃ３−Ｃ
２＞ｔｈ１′，Ｃ３−Ｃ４＞ｔｈ１′，Ｃ３−Ｂ３＞ｔ
ｈ１′，Ｃ３−Ｄ３＞ｔｈ１′の全条件を満たすとき、
レベル差判定結果をＹｅｓ（欠陥らしい）と判定する。

【００６７】上記検査項目は水平と垂直の検査を行った
場合であり、更に詳しい検査が必要な場合は、斜め方向
の検査Ｃ３−Ｂ２＞ｔｈ１′，Ｃ３−Ｂ４＞ｔｈ１′，
Ｃ３−Ｄ２＞ｔｈ１′，Ｃ３−Ｄ４＞ｔｈ１′をこれに
加える。

【００６８】この判定結果がＮｏならばステップＳ５に
進み欠陥ではないと判断する。もし、判定結果がＹｅｓ
ならばステップＳ３に進み、エッジ判定を行なう。

【００６９】この判定は、レベル差判定の結果が欠陥に
起因するものか画像エッジに起因するものかを調べるた
めのものである。

【００７０】エッジ判定についても、ランダムノイズ等
により間違った判定をしないようレベルに判定スレッシ
ホールドｔｈ２′を設定する。

【００７１】エッジ信号量は検査画素の信号レベルに比
例して変化する性質を持っているので、図３を参照して
前述したとおり、閾値ｔｈ２とβ×Ｃ３を比較して大き
い方を新たなスレッシホールドレベル（閾値）ｔｈ２′
とする。

【００７２】エッジ判定は、検査画素Ｃ３の周囲の画素
間でレベル比較を行ない、ｔｈ２′以上のレベル差がな
いかどうかを検査することによって行われる。

【００７３】エッジ判定の結果がＮｏならばステップＳ
６に進み欠陥であると判断する。もし、エッジ判定の結
果がＹｅｓならば次のステップＳ４に進んで、エッジ欠
陥判定を行なう。

【００７４】エッジ欠陥判定は検査画素Ｃ３と近傍の画
素のレベル差ΔＤｉｆと検査画素近傍の画素間のレベル
差ΔＥｄｇｅの比が設定レベルＫ＝ｔｈ３以上であれば
エッジに存在する欠陥と判断するものである。

【００７５】例えば検査画素の左側の水平エッジに存在
するエッジ欠陥の場合は、ΔＤｉｆ＝Ｃ３−Ｃ２，ΔＥ
ｄｇｅ＝Ｃ２−Ｃ１でありΔＤｉｆ／ΔＥｄｇｅ＞ｔｈ
３を検査する。この様子は前述の図８における最上部
（入力端子８０１，８０２の部分の回路）に示してあ
る。

【００７６】エッジ欠陥判定の結果がＹｅｓならば欠陥
があると判断し、Ｎｏならば欠陥がないと判断する。

【００７７】以上、本発明について実施例の説明をして
きたが、本願発明は、上記実施例で説明した細部に限定
されるものではなく、本発明の技術思想を逸脱しない範
囲で種々の変形があることは勿論である。

【００７８】

【発明の効果】本発明の欠陥検出補正装置の情実の構成
によれば、カメラ撮像動作中に欠陥を検出することがで
き、その際、撮像された映像情報に含まれるエッジ情報
やランダムノイズを見誤ることなく精度良く欠陥を検出
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の欠陥検出装置の一実施例を示すブロッ
ク図である。

【図２】ラッチ回路の回路図である。

【図３】スレッシホールド設定回路の回路図である。

【図４】レベル差演算回路の回路図である。

【図５】エッジ演算回路の回路図である。

【図６】エッジ判定回路の回路図である。

【図７】レベル判定回路の回路図である。

【図８】エッジ欠陥判定回路の回路図である。

【図９】論理演算回路の回路図である。

【図１０】欠陥検出のメインアルゴリズムを示すフロー
チャートである。

【図１１】固体撮像素子の画素配列図である。

【図１２】スレッシホールド設定回路の出力特性図であ
る。

【符号の説明】

１ 固体撮像素子 ３ ＡＧＣ増巾器 ５ 画素信号ラッチ回路 ７ スレッシホールド設定回路 ８ レベル差演算回路 ９ エッジ演算回路 １０ レベル差判定回路 １１ エッジ判定回路 １２ エッジ欠陥判定回路 １３ 論理演算回路

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 固体撮像素子から供給される画素信号を
   ＡＧＣ増巾器を含む信号処理回路を経て送出する映像信
   号回路において、前記画素信号中に含まれる欠陥画素信
   号を撮像中に検出する装置であって、 検査画素信号とその隣接画素信号との信号レベル差を調
   べるレベル判定回路と、 検査画素信号の周囲に画像のエッジが存在しないかどう
   かを調べるエッジ判定回路と、 検査画素信号が画像エッジにかかっている場合にその画
   素が欠陥画素であるか否かを判定するエッジ欠陥判定回
   路と、 前記レベル差判定回路、エッジ判定回路及びエッジ欠陥
   判定回路の出力に基いて欠陥検出を行なう論理演算回路
   とを具備することを特徴とする画素信号の欠陥検出装
   置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の欠陥検出装置において、
   前記レベル差判定回路は所定のスレッシホールドレベル
   以上のレベル差を検出する検出回路でなり、このスレッ
   シホールドレベルが検査画素の信号レベルに応じて可変
   するようになされたことを特徴とする画素信号の欠陥検
   出装置。
3. 【請求項３】 請求項２記載の欠陥検出装置において、
   前記スレッシホールドレベルは検査画素の信号レベルが
   小さいときは予め設定した固定値に切り換えられるよう
   にしたことを特徴とする画素信号の欠陥検出装置。
4. 【請求項４】 請求項３記載の欠陥検出装置において、
   前記固定値は固体撮像素子の出力信号のレベル調整を行
   なうＡＧＣアンプのゲインに応じて変えられるようにし
   たことを特徴とする画素信号の欠陥検出装置。
5. 【請求項５】 請求項１〜４のいずれか１つに記載の欠
   陥検出装置において、前記エッジ判定回路は所定のスレ
   ッシホールドレベル以上の周辺画素信号の振幅変化を検
   出する検出回路で成り、このスレッシホールドレベルが
   検査画素信号のレベルに応じて変えられるようにしたこ
   とを特徴とする画素信号の欠陥検出装置。
6. 【請求項６】 請求項５に記載の欠陥検出装置におい
   て、検査画素の信号レベルが小さいときは予め設定した
   固定値に切り換えられるようにしたことを特徴とする画
   素信号の欠陥検出装置。
7. 【請求項７】 請求項６に記載の欠陥検出装置におい
   て、前記固定値は固体撮像素子の出力信号のレベル調整
   を行なうＡＧＣアンプのゲインに応じて可変としたこと
   を特徴とする画素信号の欠陥検出装置。