WO2005084015A1 - 欠陥画素検出装置と方法および撮像装置 - Google Patents

欠陥画素検出装置と方法および撮像装置 Download PDF

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Yukihiro Naito
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Olympus Corporation
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    • H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
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    • H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects

Definitions

  • the present invention relates to a defective pixel detecting device and method, and an imaging device capable of detecting a defective pixel included in a pixel signal output from a solid-state image sensor such as a CCD image sensor during photographing.
  • a solid-state image sensor such as a CCD image sensor during photographing.
  • Japanese Unexamined Patent Publication No. 7-162 757 discloses a method in which a defective pixel position is checked in advance at the time of factory shipment, and the result is stored in a memory to specify the defective pixel position. I have. JP-A-6-205530, JP-A-6-292010, JP-2002-1024, JP-A-6-204, hold a defective pixel position in a memory.
  • a method of detecting a defective pixel in real time from an output signal of a solid-state imaging device without performing the method is disclosed. According to these methods, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-162757, there is no need to investigate the position of defective pixels at the time of shipment from the factory. Is also detectable.
  • FIG. 1 is a block diagram illustrating a method for detecting a defective pixel in real time, which is described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-292901.
  • the output signal of the solid-state imaging device 901, such as a CCD is converted into a digital signal by the AZD converter 902 and stored in the latch 903.
  • the latch 903 includes a delay unit, a line memory, and the like, and holds pixel data required by the defective pixel detection algorithm.
  • the defective pixel detection section 9 It is determined whether or not it is defective, and the result of the determination is sent to the defective pixel correction unit 905.
  • the defective pixel correction unit 905 outputs, as a correction output 906, a result of correcting a pixel determined to be a defective pixel using peripheral pixels.
  • a synchronized clock signal CLK is input to the latch 903, the defective pixel detecting section 904, and the defective pixel correcting section 905.
  • the clock signal input to the AZD converter 902 is not shown.
  • the present invention has been made in view of such problems of the related art, and has an object to detect a defective pixel in real time with a small amount of computation and low power consumption, a defective pixel detection apparatus and method, and an imaging method. It is to provide a device. Disclosure of the invention
  • a defective pixel detection device is a defective pixel detection device that detects a defective pixel included in pixel data output from a solid-state imaging device. And a defective pixel detecting means for detecting a defective pixel from among the pixels which are not excluded by the normal pixel detecting means.
  • a defective pixel detection device of the present invention pixels having a very low possibility of a defect in the normal pixel detection unit are excluded from the inspection target, and only the pixels having the possibility of the defect are detected in the defect pixel detection unit. Perform pixel detection. For this reason, the operation rate of the defective pixel detection unit can be reduced by excluding pixels with extremely low possibility of defects from the inspection target. Thus, the effects of reducing the amount of calculation and reducing power consumption can be obtained.
  • the normal pixel detection means includes: a level difference calculation unit configured to calculate a level difference between an inspection pixel and a peripheral pixel; and the level difference and a first threshold value. Comparing means for comparing, and when the level difference is smaller than the first threshold value, it is determined that the pixel is a normal pixel.
  • a level difference between the inspection target pixel and one surrounding pixel is compared with a threshold value. For this reason, the normal pixel detection unit having a simple configuration makes it possible to exclude a pixel having a very low possibility of a defect from the inspection target, thereby achieving an effect of reducing the amount of calculation and reducing power consumption. .
  • the normal pixel detection means includes a level difference calculation unit that calculates a level difference between the inspection pixel and a plurality of peripheral pixels, and a level difference calculation unit. Comparing means for comparing each of the calculated plurality of level differences with a first threshold value; and, based on the comparison result of the comparing means, the number of peripheral pixels in which the level difference is smaller than the first threshold value. A determination unit that calculates the number and compares the calculated number with a second threshold, and determines that the pixel is a normal pixel when the number is equal to or greater than the second threshold.
  • a pixel having a very low possibility of a defect in the normal pixel detection unit is excluded from the inspection target, and only a pixel having a possibility of a defect is detected in the defect pixel detection unit.
  • a method for detecting a normal pixel a level difference between a pixel to be inspected and a plurality of peripheral pixels is compared with a threshold value. For this reason, a normal pixel detection unit having a simple configuration makes it possible to exclude a pixel having a very low possibility of a defect from the inspection target, thereby achieving an effect of reducing the amount of calculation and reducing power consumption. it can.
  • the normal pixel detection method is characterized in that the memory for holding the inspection pixel is shared with the memory of the defective pixel detection means.
  • the latch used by the normal pixel detector and the latch used by the defective pixel detector are shared. For this reason, a normal pixel detection unit having a simple configuration makes it possible to exclude a pixel having a very low possibility of a defect from the inspection target, thereby achieving an effect of reducing the amount of calculation and reducing power consumption. it can.
  • the device size of the normal pixel detection unit can be reduced.
  • the defective pixel detection means stops a clock and shifts to a low power consumption state when the normal pixel detection unit determines that the pixel is a normal pixel.
  • the defective pixel detecting unit stops the clock and shifts to the low power consumption state.
  • the pixels with extremely low possibility of defects are excluded from the inspection target by the normal pixel detection unit, and the defective pixel detection unit is shifted to the low power consumption state during this period, so that the power consumption of the entire device is reduced. Can be.
  • a defective pixel detection method includes the steps of: detecting a normal pixel from pixel data output from a solid-state imaging device; removing the detected normal pixel; and excluding the normal pixel. Detecting a defective pixel from the subsequent pixels. In this way, the pixels having a very low possibility of a defect in the normal pixel detecting section are excluded from the inspection target, and the defective pixel detecting section detects the defective pixel only for the pixel having the possibility of the defect. Therefore, compared to the case where defective pixels are detected for all pixels, arithmetic processing can be performed at a higher speed, and processing time can be reduced.
  • the step of detecting a normal pixel includes calculating a level difference between an inspection pixel and a peripheral pixel. 2005/003542 The level difference calculated by the calculation is compared with a first threshold, and if the level difference is smaller than the first threshold, the pixel is determined to be a normal pixel. As described above, a simple operation of comparing the level difference with the first threshold value is used to determine a normal pixel, and a defective pixel is not detected for a normal pixel, thereby shortening the processing time as a whole. Can be.
  • the step of detecting the normal pixel includes calculating a level difference between an inspection pixel and a plurality of peripheral pixels, and calculating the level difference between the calculated level difference and the plurality of peripheral pixels.
  • the number of peripheral pixels in which the level difference is smaller than the first threshold is calculated from each of the comparison results, and the number calculated by the calculation is
  • the pixel When the number is equal to or larger than the second threshold value, the pixel is determined to be a normal pixel. As described above, since the level difference is compared with the first threshold value, the number is compared with the second threshold value, and the pixel is determined to be a normal pixel based on the comparison result. The reliability of pixel detection can be improved.
  • An imaging device is an imaging device including a defective pixel detection device that detects a defective pixel included in pixel data output from a solid-state imaging device. It is characterized by comprising a normal pixel detecting means for detecting and excluding a pixel, and a defective pixel detecting means for detecting a defective pixel from among the pixels which are not excluded by the normal pixel detecting means.
  • the image pickup apparatus of the present invention excludes pixels having a very low possibility of defects from inspection targets. For this reason, it is possible to reduce the operation rate of the defective pixel detection unit, and it is possible to obtain the effects of reducing the amount of calculation and reducing power consumption.
  • the normal pixel detecting unit compares a level difference with a first threshold, and a level difference calculating unit that calculates a level difference between a test pixel and a peripheral pixel. Comparing means, When the level difference is smaller than the first threshold, it is determined that the pixel is a normal pixel. In this case, a pixel having a very low possibility of a defect is excluded from the inspection target by a normal pixel detection unit having a simple configuration. For this reason, it is possible to obtain the effects of reducing the calculation amount of the imaging device and reducing the power consumption.
  • the normal pixel detecting means includes a plurality of level difference calculating means for calculating a level difference between the inspection pixel and a plurality of peripheral pixels; and the plurality of level difference calculating means.
  • Comparing means for respectively comparing the plurality of level differences calculated in the above with a first threshold value; and, based on the comparison result of the comparing means, the peripheral pixels whose level difference is smaller than the first threshold value
  • a determination unit that calculates the number of the peripheral pixels and compares the calculated number of the peripheral pixels with a second threshold value, wherein the level difference is smaller than the first threshold value. When the number is equal to or larger than the second threshold, it is determined that the pixel is a normal pixel. In this case, it is possible to detect defective pixels with high accuracy, and the reliability of the imaging device is improved.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a block diagram showing a configuration example of the latch.
  • FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration example of a normal pixel detection unit.
  • FIG. 4 is a block diagram illustrating another configuration example of the normal pixel detection unit.
  • FIG. 5 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a flowchart showing the third embodiment.
  • FIG. 7 is a block diagram showing a conventional example.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a first exemplary embodiment of the present invention.
  • the output signal of a solid-state image sensor 101 such as a CCD is output by an AZD converter 1
  • the signal is converted into a digital signal by 02 and stored in the latch 103.
  • the latch 103 includes a delay unit D, a line memory, and the like, and holds pixel data required by the defective pixel detection algorithm.
  • the latch 103 ' also includes a delay unit D, a line memory, and the like, and receives the output digital signal of the AZD converter 102.
  • the normal pixel detector 104 receives the output signal of the latch 103 'and simply determines whether the pixel to be inspected is a normal pixel or a defective pixel, and determines the determination result as a defective pixel detector 105. Send to.
  • the defective pixel detection unit 105 determines a defective pixel using only the pixel held in the latch 103 only for a pixel not determined as a normal pixel by the normal pixel detection unit 104. The determination result is sent to the defective pixel correction unit 106. When the defective pixel correction unit 106 determines that the pixel is a defective pixel, the defective pixel correction unit 106 performs a correction process to obtain a corrected output 107.
  • the synchronized clock signal CLK is input to the latch 103, the latch 103 ′, the normal pixel detector 104, the defective pixel detector 105, and the defective pixel corrector 106.
  • FIG. 2 is a block diagram showing a configuration example of the latch 103.
  • the latch 103 shown in FIG. 2 is used when the detection algorithm of the defective pixel detection unit 105 and the correction algorithm of the defective pixel correction unit 106 require a 3 ⁇ 3 pixel centered on the inspection target pixel as an input. It is an example. From the output of the AZD converter 201, the delay device D that holds one pixel and the line memories 202 and 203 that hold the pixels for one line, 3X focusing on the inspection target pixel
  • the nine delay devices D are arranged 24 a to 24 i.
  • the converter output 201 is directly input to the delay units 24a to 24c.
  • the A / D converter output 201 is input to the delay units 24 d to 24 # via the line memory 202.
  • the pixel to be detected is denoted as X (0,0)
  • the pixel on the right is denoted as X (1,0)
  • the pixel on the upper right is denoted as X (0, -1), and so on.
  • the pixel data is output via the delay units 24a to 24i, if the pixel to be detected is X (0, 0), the positions of the pixels at the top, bottom, left and right are shown inverted.
  • the normal pixel detection unit 104 receives the AZD converter output 201 as an input, easily determines whether the inspection target pixel is a normal pixel or a defective pixel, and determines the determination result as defective. It is sent to the pixel detector 105.
  • the normal pixel detection unit 104 calculates the level difference between the inspection target pixel and the adjacent pixel, and determines whether the pixel is a normal pixel or a pixel that may be a defective pixel based on the presence of an adjacent pixel whose level difference is smaller than a predetermined threshold. Is determined.
  • FIG. 3 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a configuration example of a normal pixel detection unit that uses a level difference between one pixel adjacent to a pixel to be inspected and a pixel to be determined.
  • the operation of the normal pixel detection unit 104 will be described in detail with reference to FIG.
  • the latch 103 is constituted by a line memory 302 and a delay device D indicated by 24 j and 24 k.
  • Latch 103 'holds pixel X (0, 0) to be inspected and pixel X (1, 0) on the right thereof.
  • the difference calculator 303 and the absolute value calculator 304 calculate the absolute value of the difference between these pixel values.
  • a threshold comparing unit 305 the absolute value of the difference is compared with a preset threshold, and if the difference is smaller than the threshold, it is determined that the pixel is a normal pixel. If the absolute value of the difference is equal to or larger than the threshold value, it is determined that there is a possibility of a defective pixel, and a normal pixel detection result 306 is set.
  • FIG. 4 is a block diagram showing another configuration example of the normal pixel detection unit 104.
  • FIG. 4 shows a configuration example in which the level difference between two pixels adjacent to the inspection target pixel is used for determination.
  • the latch 103 'includes a line memory 402 and a delay device D indicated by 24p to 24r.
  • Latch 103 allows pixel X (0, 0) to be inspected, pixel X (1, 0) on the right, and left The next pixel X (—1, 0) is held.
  • the difference calculator 403 and the absolute value calculator 404 calculate the level difference between the pixel to be inspected and the pixel on the right, and the difference between the level difference and the first threshold set in the threshold value comparator 405 is calculated. A comparison is made.
  • the difference calculator 406 and the absolute value calculator 407 calculate the level difference between the pixel to be inspected and the pixel on the left, and compare the level difference with the first threshold set in advance by the threshold comparator 408. A comparison is made.
  • the judging unit 409 calculates the number of adjacent pixels when the level difference between the detection target pixel and the adjacent pixel is smaller than the threshold value, and when the difference is equal to or larger than the preset second threshold value, the normal pixel And the normal pixel detection result is 410. When 1 is set as the second threshold, if at least one of the left and right adjacent pixels has a level difference smaller than the second threshold, it is determined to be a normal pixel.
  • the defective pixel detection unit 105 detects defective pixels using the pixels held in the latch 103 only for pixels that are not determined to be normal pixels by the normal pixel detection unit 104.
  • the detection algorithm is a known algorithm that uses 3 ⁇ 3 pixels around the inspection target pixel. It should be noted that an algorithm requiring a pixel in an area larger than 3 ⁇ 3 can also be used by changing the latch 103.
  • the defective pixel detector 105 shifts to a low power consumption mode such as stopping the clock CLK without performing a defective pixel detection operation on a pixel determined as a normal pixel by the normal pixel detector 104. I do.
  • the clock CLK is generated so as to stop the clock CLK supplied to the latch 103, the normal pixel detector 104, the defective pixel detector 105, and the defective pixel corrector 106. source Turn off the transmitter. For this reason, power consumption can be reduced.
  • the detection result of the defective pixel detection unit 105 is sent to the defective pixel correction unit 106.
  • the defective pixel correction unit 106 performs a correction process using peripheral pixels on a pixel determined to be a defective pixel to obtain a corrected output 107.
  • the correction algorithm is a well-known algorithm that uses pixels in the area stored in the latch 103. It should be noted that an algorithm that requires pixels in an area larger than the area required by the defective pixel detection unit can also be used by changing the latch 103.
  • pixels having a very low possibility of a defect are excluded from the inspection target by the normal pixel detection unit 104 having a simple configuration. For this reason, it is possible to reduce the operation rate of the defective pixel detection unit 105, and it is possible to obtain the effect of reducing the amount of calculation and reducing power consumption.
  • examples of the pixel to the left of the inspection target pixel and the pixels on both sides are presented as the pixels to be compared in the normal pixel detection unit 104.
  • Embodiments of the present invention are not limited to these adjacent pixels. It is also possible to target a pixel diagonally above the pixel to be inspected, or a peripheral pixel including a pixel adjacent to the pixel to be inspected.
  • the present embodiment can be easily extended to a single-plate color image pickup device equipped with a CFA (Color Filer Array, a color filter array).
  • the pixels to be compared in the normal pixel detection unit 104 may be configured to be peripheral pixels of the same color as the pixel to be inspected.
  • the threshold value for comparison may be common to the colors or may be an individual value.
  • FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of another embodiment of the present invention.
  • the normal pixel detection unit 501 detects the detection stored in the latch 103.
  • the inspection target pixel and its surrounding pixels are input, and it is simply determined whether the inspection target pixel is a normal pixel or a defective pixel, and the determination result is sent to the defective pixel detection unit 105.
  • the latch 103 is shared by the normal pixel detection unit 501 and the defective pixel detection unit 105.
  • the defective pixel detector 105 performs defective pixel determination only on the pixels that are not determined to be normal pixels by the normal pixel detector 501, using the pixels held in the latch 103. The determination result is sent to the defective pixel correction unit 106. When the defective pixel correction unit 106 is determined to be a defective pixel, the defective pixel correction unit 106 performs correction processing to obtain a corrected output 502.
  • the normal pixel detection unit 501 determines whether a pixel stored in the latch 103 is a normal pixel or a defective pixel. As described above, the normal pixel detection unit 501 simply determines whether the inspection target pixel is a normal pixel or a possibility of a defective pixel, and sends the determination result to the defective pixel detection unit 105. Send out.
  • the configuration of the normal pixel detection unit 501 can be such that the delay unit D and the line memories 302 and 402 are removed from the configuration examples shown in FIGS. In this way, by sharing the latch used by the normal pixel detection unit 501 and the defective pixel detection unit 105, the size of the device can be reduced. In the embodiment of FIG.
  • the defective pixel detection unit 105 detects a defective pixel only for a pixel that is not determined to be a normal pixel by the normal pixel detection unit 501. . Then, the defective pixel correction unit 106 performs a correction process using a peripheral pixel on a pixel determined to be a defective pixel, to obtain a corrected output 502.
  • the device scale can be reduced by sharing the latch 103 used by the normal pixel detection unit 501 and the defective pixel detection unit 105. In addition, effective use of memory resources can be achieved.
  • the detection of the defective pixel is premised on the processing by the hardware X, but the present invention is not limited to such a configuration.
  • CC After the output signal of the solid-state image sensor 101 such as D is converted into a digital signal by the AZD converter 102, the pixel data stored in the memory (latch) is sent to a programmable processor such as a CPU or DSP. It is also possible to adopt a configuration in which processing is performed according to the above.
  • FIG. 6 is a flowchart showing the software processing according to the present invention.
  • the absolute difference value is calculated as the level difference between the inspection target pixel and the adjacent pixel.
  • the adjacent pixels may be one pixel or a plurality of pixels.
  • a comparison with a preset threshold value is performed.
  • STEP 3 it is determined whether there is a possibility of a normal pixel or a defective pixel from the result of the threshold value comparison.
  • the adjacent pixel is one pixel, if the level difference is smaller than the threshold value, the pixel is determined as a normal pixel.
  • the number of adjacent pixels when the level difference is smaller than the threshold value is equal to or larger than a second threshold value set in advance, it is determined to be a normal pixel.
  • a defective pixel is detected in STEP 4. The detection of a defective pixel in STEP 4 is performed by a known algorithm.
  • STE P 5 it is determined whether the inspection for all the pixels has been completed. If not completed, the process returns to STE P 1 and the inspection of the next pixel to be inspected is continued, and the inspection for all the pixels has been completed. In this case, the process ends.
  • the defective pixel detection device and the imaging device of the present invention a simple configuration By using such a normal pixel detection unit, it is possible to reduce the operation rate of the defective pixel detection unit by excluding pixels with extremely low possibility of defects from the detection targets. For this reason, it is possible to obtain the effect of reducing the amount of calculation and reducing the power consumption of the entire apparatus.
  • the device size of the normal pixel detection unit can be reduced.
  • arithmetic processing for detecting a defective pixel can be performed at high speed, so that the processing time can be reduced. Further, the calculation accuracy can be improved.
  • a defective pixel detection device and method and an imaging device capable of detecting a defective pixel included in a pixel signal output from a solid-state imaging device during photographing. be able to.

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Abstract

ＣＣＤ等の固体撮像素子（１０１）の出力信号は、Ａ／Ｄ変換器（１０２）によりデｲジタル信号に変換され、ラッチ（１０３）に格納される。ラッチ（１０３）は、遅延器、ラインメモリ等から構成され、欠陥画素検出アルゴリズムが必要とする画素デ−タを保持する。正常画素検出部（１０４）は、Ａ／Ｄ変換器（１０２）からの信号を入力し、検査対象画素が正常画素か、欠陥画素の可能性があるかを判定し、判定結果を欠陥画素検出部（１０５）に送出する。欠陥画素補正部（１０６）は欠陥画素と判定された場合には補正処理を行い補正出力（１０７）とする。

Description

明 細 書 .
欠陥画素検出装置と方法および撮像装置 技 術 分 野
本発明は、 C C Dィメージセンサ等の固体撮像素子から出力される画 素信号に含まれる欠陥画素を撮影中に検出することが可能な、 欠陥画素 検出装置と方法および撮像装置に関するものである。 背 景 技 術
画素数の多い固体撮像素子を用いるカメラでは、 欠陥画素の発生頻度 の高さが問題となっており、 これらを検出し補正することによって、 固 体撮像素子の歩留まりを向上させ装置価格を低減することが可能となる。 特開平 7— 1 6 2 7 5 7号公報には、 あらかじめ工場出荷時に欠陥画素 位置を調査しておき、 この結果をメモリに保持しておく ことで欠陥画素 位置を特定する方式が開示されている。 特開平 6— 2 0 5 3 0 2号公報、 特開平 6 - 2 9 2 0 9 1号公報、 特開 2 0 0 2— 1 0 2 7 4号公報には、 欠陥画素位置をメモリに保持することなく、 固体撮像素子の出力信号よ り欠陥画素をリアルタイムに検出する方式が開示されている。 これらの 方式によれば、 特開平 7 - 1 6 2 7 5 7号公報に記載されているように、 工場出荷時に欠陥画素位置を調査する必要がなく、 また、 工場出荷後に 発生した欠陥画素についても検出可能という利点がある。
図 Ίは従来の特開平 6— 2 9 2 0 9 1号公報に記載されている、 欠陥 画素をリアルタイム検出する方式を説明するプロック図である。 C C D 等の固体撮像素子 9 0 1の出力信号は、 A Z D変換器 9 0 2によりディ ジ夕ル信号に変換され、 ラッチ 9 0 3に格納される。 ラッチ 9 0 3は、 遅延器、 ライ ンメモリ等から構成され、 欠陥画素検出アルゴリ ズムが必 要とする画素データを保持する。 欠陥画素検出部 9 0 4は、 当該画素が 欠陥であるか否かを判定し、 判定結果を欠陥画素補正部 9 0 5に送出す る。 欠陥画素補正部 9 0 5は、 欠陥画素と判定された画素については、 周辺画素を利用して補正した結果を補正出力 9 0 6として出力する。 ラ ツチ 9 0 3、 欠陥画素検出部 9 0 4、 欠陥画素補正部 9 0 5には、 同期 したクロック信号 C L Kが入力される。 なお、 A Z D変換器 9 0 2に入 力されるクロック信号は図示を省略している。
しかしながら、 特開平 6— 2 9 2 0 9 1号公報に記載されているよう に、 欠陥画素をリアルタイムに検出する方式においては、 欠陥画素の検 出に失敗する 「検出もれ」 や、 正常画素を誤って欠陥画素と認識してし まう 「誤検出」 が発生する可能性がある。 これらによる画質劣化を抑え るためには、 欠陥画素検出アルゴリズムを複雑にする必要があり、 結果 として演算量や消費電力が増大するという問題があった。 本発明は、 従来技術のこのような問題点に鑑みてなされたものであり、 その目的は、 欠陥画素を低演算量 ·低消費電力でリアルタイムに検出す る、 欠陥画素検出装置と方法および撮像装置を提供することにある。 発 明 の 開 示
上記目的を達成する本発明の欠陥画素検出装置は、 固体撮像素子か ら出力される画素データ中に含まれる欠陥画素を検出する欠陥画素検 出装置において、 前記画素中から正常画素を検出し除外する正常画素 検出手段と、 前記画素の内前記正常画素検出手段にて除外されない画 素の中から欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段とを備えたことを特 徴とする。 このように、 本発明の欠陥画素検出装置においては、 正常画 素検出部において欠陥の可能性が極めて低い画素を検査対象から除外し、 欠陥の可能性がある画素についてのみ欠陥画素検出部において欠陥画素 検出を行う。 このため、 欠陥の可能性が極めて低い画素を検査対象から 除外することにより、 欠陥画素検出部の動作率を低下させることが可能 となり、 演算量の削減や低消費電力化の効果を得ることができる。
また、 本発明の欠陥画素検出装置においては、 前記正常画素検出手 段は、 検査画素と周辺画素との間のレベル差を計算する レベル差計算 手段と、 前記レベル差と第 1の閾値とを比較する比較手段とを備えてお り、 前記レベル差が前記第 1の閾値よりも小さい場合には正常画素と判 定することを特徴とする。 このような本発明の実施形態においては、 正 常画素の検出方式として、 検査対象画素と周辺の 1個の画素との間に.あ るレベル差を閾値と比較する。 このため、 簡単な構成からなる正常画素 検出部によって、 欠陥の可能性が極めて低い画素を検査対象から除外す ることが可能となり、 演算量の削減や低消費電力化の効果を得ることが できる。
また、 本発明の欠陥画素検出装置においては、 前記正常画素検出手 段は、 検査画素と複数の周辺画素との間のレベル差を各々計算する レ ベル差計算手段と、 該レベル差計算手段で計算された前記複数のレべ ル差と第 1の閾値とを各々比較する比較手段と、 前記比較手段の比較結 果から、 前記レベル差が前記第 1の閾値よりも小さくなる周辺画素の個 数を計算し、 該計算で算出した個数と、 第 2の閾値とを比較する判定 部とを備えており、 前記個数が前記第 2の閾値以上の場合には正常画 素と判定することを特徴とする。 このような本発明の実施形態において は、 正常画素検出部において欠陥の可能性が極めて低い画素を検査対象 から除外し、 欠陥の可能性がある画素についてのみ欠陥画素検出部にお いて欠陥画素検出を行う。 正常画素の検出方式として、 検査対象画素と 周辺の複数個の画素との間にあるレベル差を閾値と比較する。 このため、 簡単な構成からなる正常画素検出部によって、 欠陥の可能性が極めて低 い画素を検査対象から除外することが可能となり、 演算量の削減や低消 費電力化の効果を得ることができる。
また、 本発明の欠陥画素検出装置においては、 前記正常画素検出手 段は、 検査画素保持用のメモ リを、 前記欠陥画素検出手段のメモ リ と 共用することを特徴とする。 このような本発明の実施形態においては、 正常画素検出部が使用するラッチと欠陥画素検出部が使用するラツチを 共用とする。 このため、 簡単な構成からなる正常画素検出部によって、 欠陥の可能性が極めて低い画素を検査対象から除外することが可能とな り、 演算量の削減や低消費電力化の効果を得ることができる。 また、 ラ ツチを共用とすることで、 正常画素検出部の装置規模を削減することが できる。
また、 本発明の欠陥画素検出装置においては、 前記欠陥画素検出手 段は、 前記正常画素検出手段において正常画素と判定された際にはク ロックを停止して低消費電力状態に移行することを特徴とする。 この ような本発明の実施形態においては、 欠陥画素検出部は、 正常画素検出 部が正常と判定した際にはクロックを停止し低消費電力状態に移行する。 すなわち、 正常画素検出部によって、 欠陥の可能性が極めて低い画素を 検査対象から除外し、 この間欠陥画素検出部を低消費電力状態に移行さ せているので、 装置全体の消費電力を削減することができる。
本発明の欠陥画素検出方法は、 固体撮像素子から出力される画素デ —夕の中から正常画素を検出するステップと、 前記検出された正常画 素を除外するステツプと、 前記正常画素を除外した後の画素の中から 欠陥画素を検出するステップと、 を有することを特徴とする。 このよ うに、 正常画素検出部において欠陥の可能性が極めて低い画素を検査対 象から除外し、 欠陥の可能性がある画素についてのみ欠陥画素検出部に おいて欠陥画素検出を行う。 このため、 すべての画素について欠陥画素 の検出を行う場合と比較して、 演算処理を高速で行え、 処理時間の短縮 を図ることができる。
また、 本発明の欠陥画素検出方法においては、 前記正常画素を検出 するステップは、 検査画素と周辺画素との間のレベル差を計算し、 該 2005/003542 計算で算出されたレベル差と第 1の閾値とを比較し、 該比較した結果レ ベル差が前記第 1の閾値よりも小さい場合には正常画素と判定すること を特徴とする。 このように、 前記レベル差を第 1の閾値と比較するとい う簡単な演算により正常画素と判定して、 正常画素については欠陥画素 検出を行わないので、 全体としての処理時間の短縮を図ることができる。
また、 本発明の欠陥画素検出方法においては、 前記正常画素を検出 するステップは、 検査画素と複数の周辺画素との間のレベル差を各々 計算し、 該計算された前記複数のレベル差と第 1の閾値とを各々比較し、 該比較した各々の比較結果から、 前記レベル差が前記第 1の閾値よりも 小さくなる周辺画素の個数を計算し、 該計算で算出された個数と、 第
2の閾値とを比較して前記個数が前記第 2の閾値以上の場合には正常 画素と判定することを特徴とする。 このように、 前記レベル差を第 1の 閾値と比較し、 前記個数を第 2の閾値と比較してその比較結果に基づ いて正常画素と判定しているので、 判定精度が向上し、 欠陥画素検出の 信頼性を高めることができる。
本発明の撮像装置は、 固体撮像素子から出力される画素データ中に 含まれる欠陥画素を検出する欠陥画素検出装置を備えた撮像装置にお いて、 前記欠陥画素検出装置は、 前記画素中から正常画素を検出し除 外する正常画素検出手段と、 前記画素の内前記正常画素検出手段にて 除外されない画素の中から欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段とを 備えたことを特徴とする。 このように、 本発明の撮像装置は、 欠陥の可 能性が極めて低い画素を検査対象から除外している。 このため、 欠陥画 素検出部の動作率を低下させることが可能となり、 演算量の削減や低消 費電力化の効果を得ることができる。 また、 本発明の撮像装置においては、 前記正常画素検出手段は、 検 査画素と周辺画素との間のレベル差を計算する レベル差計算手段と、 前記レベル差と第 1の閾値とを比較する比較手段とを備えており、 前記 レベル差が前記第 1の閾値よりも小さい場合には正常画素と判定するこ とを特徴とする。 この場合には、 簡単な構成からなる正常画素検出部に よって、 欠陥の可能性が極めて低い画素を検査対象から除外している。 このため、 撮像装置の演算量の削減や低消費電力化の効果を得ることが できる。
また、 本発明の撮像装匱においては、 前記正常画素検出手段は、 検 査画素と複数の周辺画素との間のレベル差を計算する複数のレベル差 計算手段と、 該複数のレベル差計算手段で計算された前記複数のレべ ル差と第 1の閾値とを各々比較する比較手段と、 前記比較手段の比較結 果から、 前記レベル差が前記第 1の閾値よりも小さくなる周辺画素の個 数を計算し、 前記計算した前記周辺画素の個数と、 第 2の閾値とを比 較する判定部と、 を備えており、 前記レベル差が前記第 1の閾値よりも 小さく なる周辺画素の個数が前記第 2の閾値以上の場合には正常画素 と判定することを特徴とする。 この場合には、 精度が高い欠陥画素の 検出が可能となり、 撮像装置の信頼性が向上する。 図面の箇単な説明
図 1は本発明の第 1の実施形態を示すブロック図である。
図 2はラッチの構成例を示すブロック図である。
図 3は正常画素検出部の構成例を示すブロック図である。
図 4は正常画素検出部の他の構成例を示すプロック図である。
図 5は本発明の第 2の実施形態を示すプロック図である。
図 6は第 3の実施形態を示すフローチヤ一トである。
図 7は従来例を示すプロック図である。
発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の実施の形態について図を参照して説明する。 図 1は、 本発明における第 1の実施形態の構成を示すプロック図である.。 図 1に おいて、 C C D等の固体撮像素子 1 01の出力信号は、 AZD変換器 1
02によりディジタル信号に変換され、 ラッチ 103に格納される。 ラ ツチ 1 03は、 遅延器 D、 ラインメモリ等から構成され、 欠陥画素検出 アルゴリズムが必要とする画素データを保持する。 また、 ラッチ 1 03' も遅延器 D、 ライ ンメモリ等から構成され、 AZD変換器 1 02の出力 ディジ夕ル信号が入力される。 正常画素検出部 104は、 ラッチ 1 03' の出力信号が入力され、 検査対象画素が正常画素か、 欠陥画素の可能性 があるかを簡易的に判定し、 判定結果を欠陥画素検出部 1 05に送出す る。 欠陥画素検出部 1 05は、 正常画素検出部 1 04により正常画素と 判定されなかった画素についてのみ、 ラッチ 1 03中に保持された画素 を用いて欠陥画素判定を行う。 判定結果は欠陥画素補正部 1 06に送出 され、 欠陥画素補正部 1 06は欠陥画素と判定された場合には補正処理 を行い補正出力 1 07とする。 ラッチ 1 03、 ラッチ 103'正常画素検 出部 1 04、 欠陥画素検出部 1 05、 欠陥画素補正部 1 06には同期し たクロック信号 C LKが入力される。
図 2は、 ラッチ 1 03の構成例を示すブロック図である。 図 2に示し たラッチ 1 03は、 欠陥画素検出部 1 05の検出アルゴリズム、 および 欠陥画素補正部 106の補正アルゴリズムが、 検査対象画素を中心とし た 3 X 3画素を入力として必要とする場合の例である。 AZD変換器出 力 20 1から、 1画素を保持する遅延器 Dと 1ライン分の画素を保持す るライ ンメモリ 202、 203により、 検査対象画素を中心とした 3 X
3画素が保持される。 遅延器 Dは、 24 a~24 iの 9個配列されてい る。 遅延器 24 a〜24 cには、 変換器出力 201がそのまま入 力される。 また、 遅延器 24 d〜24 ίには、 A/D変換器出力 201 がライ ンメモリ 202を介して入力される。 さらに、 遅延器 24 g〜 2
4 iには、 AZD変換器出力 201がラインメモリ 202、 203を介 して入力される。 図 2の例では、 検查対象画素を X(0, 0)とし、 その 右隣の画素を X (1， 0)、 上隣の画素を X (0 ,— 1)等のように表記して ある。 ただし、 画素データは遅延器 24 a〜24 iを介して出力される ので、 検查対象画素を X(0， 0)とすると、 その上下左右の画素の位置 は反転して表記されている。
図 1において、 正常画素検出部 1 04は、 AZD変換器出力 20 1を 入力とし、 検査対象画素が正常画素か、 欠陥画素の可能性があるかを簡 易的に判定し、 判定結果を欠陥画素検出部 1 05に送出する。 正常画素 検出部 104は、 検査対象画素と隣接画素との間のレベル差を計算し、 レベル差が所定の閾値より小さい隣接画素の存在に基づき正常画素か欠 陥画素の可能性がある画素かを判定する。
図 3は、 本発明の実施形態を示すブロック図である。 図 3は、 検査対 象画素に隣接する 1個の画素との間のレベル差を判定に用いる正常画素 検出部の構成例である。 図 3を用いて正常画素検出部 1 04の動作につ いて詳細に説明する。 ラッチ 1 03，は、 ラインメモリ 302と、 24 j、 24 kで示した遅延器 Dとにより構成される。 ラッチ 1 03'には、 検査 対象画素 X(0， 0)およびその右隣の画素 X (1 , 0)が保持される。 差分 演算器 303と絶対値演算部 304により、 これら画素値の差分の絶対 値が計算される。 次に閾値比較部 305において、 前記差分の絶対値と 予め設定された閾値との比較がなされ、 閾値よりも小さい場合には正常 画素と判定する。 また、 差分の絶対値が閾値以上の場合には欠陥画素の 可能性ありと判定し、 正常画素検出結果 306とする。
図 4は正常画素検出部 1 04の別の構成例を示すプロック図である。 図 4は、 検査対象画素に隣接する 2個の画素との間のレベル差を判定に 用いる構成例である。 この例では、 ラッチ 103'は、 ラインメモリ 40 2と、 24 p〜 24 rで示した遅延器 Dとにより構成される。 ラッチ 1 03，により、 検査対象画素 X (0， 0)、 右隣の画素 X(1 , 0)、 および左 隣の画素 X (— 1 ， 0 )が保持される。 差分演算器 4 0 3と絶対値演算部 4 0 4により、 検査対象画素と右隣の画素間のレベル差が計算され、 閾 値比較部 4 0 5において予め設定された第 1の閾値との比較がなされる。 差分演算器 4 0 6と絶対値演算部 4 0 7では、 検査対象画素と左隣の画 素間のレベル差が計算され、 閾値比較部 4 0 8において予め設定された 第 1の閾値との比較がなされる。 判定部 4 0 9で、 検查対象画素と隣接 画素のレベル差が閾値よりも小さくなる場合の隣接画素数を計算し、 こ れがあらかじめ設定された第 2の閾値以上の場合には正常画素と判定し て、 正常画素検出結果 4 1 0とする。 第 2の閾値として 1 を設定した場 合には、 左右隣接画素のうち少なく ともどちらか一方のレベル差が第 2 の閾値よりも小さい場合に正常画素と判定される。 第 2の閾値として 2 を設定した場合には、 左右隣接画素のうち両方のレベル差が第 2の閾値 よりも小さい場合に正常画素と判定される。 図 4の例では、 閾値比較部 4 0 5と 4 0 8、 および判定部 4 0 9の 2段階の判定手段を用いて正常 画素か否かを判定している。 このため、 正常画素の判定精度が向上し、 信頼性を高めることができる。
図 1 において、 欠陥画素検出部 1 0 5は、 正常画素検出部 1 0 4にて 正常画素と判定されなかった画素についてのみ、 ラッチ 1 0 3中に保持 された画素を用いて欠陥画素検出を行う。 本実施形態においては、 検出 ァルゴリズムは、 検査対象画素の周辺の 3 X 3画素を用いる公知のアル ゴリズムとする。 なお、 3 X 3より大きい領域の画素を必要とするアル ゴリズムも、 ラッチ 1 0 3を変更することにより利用可能である。 欠陥 画素検出部 1 0 5は、 正常画素検出部 1 0 4にて正常画素と判定された 画素については、 欠陥画素検出動作を行わず、 クロック C L Kを停止す る等の低消費電力モードに移行する。 この場合には、 ラッチ 1 0 3、 正 常画素検出部 1 0 4、 欠陥画素検出部 1 0 5、 欠陥画素補正部 1 0 6に 供給されるクロック C L Kを停止するように、 クロック C L Kの発生源 である発信器の電源をオフにする。 このため、 電力消費を少なくするこ とができる。 欠陥画素検出部 1 0 5での検出結果は欠陥画素補正部 1 0 6に送出される。 欠陥画素補正部 1 0 6は欠陥画素と判定された画素に ついては周辺画素を用いた補正処理を行い補正出力 1 0 7とする。 本実 施例においては、 補正アルゴリズムはラッチ 1 0 3に格納された領域の 画素を用いる公知のアルゴリ ズムとする。 なお、 欠陥画素検出部が必要 とする領域よりも大きい領域の画素を必要とするアルゴリズムも、 ラッ チ 1 0 3を変更することにより利用可能である。
以上説明したように、 この実施形態においては簡易な構成からなる正 常画素検出部 1 0 4により欠陥の可能性が極めて低い画素を検査対象か ら除外している。 このため、 欠陥画素検出部 1 0 5の動作率を低下させ ることが可能となり、 演算量の削減や低消費電力化の効果を得ることが できる。
なお本実施形態においては、 正常画素検出部 1 0 4において比較対象 とする画素として、 検査対象画素の左隣の画素、 および、 両隣の画素の 例を提示した。 本発明の実施形態は、 これらの隣接画素に限られるもの ではない。 検査対象画素の斜め上の画素や、 あるいは、 隣の隣の画素等 まで含めた周辺画素を対象とすることも可能である。 また、 本実施形態 は C F A ( C o l o r F i l t e r A r r a y、 カラーフ ィ ルタァ レイ） が搭載されている単版カラ一撮像素子に対しても容易に拡張する ことが可能である。 その際には、 正常画素検出部 1 0 4にて比較対象と する画素は、 検査対象画素と同色の周辺画素となるように構成すれば良 い。 また、 比較の際の閾値は、 各色間で共通であっても、 個別の値とし ても良い。
図 5は、 本発明における他の実施形態の構成を示すプロック図である。 図 1 と同じ部分には同一の符号を付しており、 詳細な説明は省略する。 図 5の例では、 正常画素検出部 5 0 1は、 ラッチ 1 0 3に格納された検 査対象画素およびその周辺画素を入力とし、 検査対象画素が正常画素か、 欠陥画素の可能性があるかを簡易的に判定し、 判定結果を欠陥画素検出 部 1 0 5に送出する。 このように、 図 5の例では、 ラッチ 1 0 3を正常 画素検出部 5 0 1 と欠陥画素検出部 1 0 5で共用している。 欠陥画素検 出部 1 0 5は、 正常画素検出部 5 0 1 において正常画素と判定されなか つた画素についてのみ、 ラッチ 1 0 3中に保持された画素を用いて欠陥 画素判定を行う。 判定結果は欠陥画素補正部 1 0 6に送出され、 欠陥画 素補正部 1 0 6は欠陥画素と判定された場合には補正処理を行い補正出 力 5 0 2とする。
本実施形態においては、 正常画素検出部 5 0 1 は、 ラッチ 1 0 3に格 納された画素を対象として正常画素か、 欠陥画素の可能性があるかを判 定している。 このように、 正常画素検出部 5 0 1は、 検査対象画素が正 常画素か、 欠陥画素の可能性があるか否かを簡易的に判定し、 判定結果 を欠陥画素検出部 1 0 5に送出する。 正常画素検出部 5 0 1の構成は、 図 3、 図 4に示した構成例から遅延器 Dとライ ンメモリ 3 0 2、 4 0 2 を除いたものとすることができる。 このように、 正常画素検出部 5 0 1 と欠陥画素検出部 1 0 5が使用するラツチを共用とすることで、 装置規 模を削減することができる。 図 5の実施形態においては第 1の実施形態 と同様に、 欠陥画素検出部 1 0 5は、 正常画素検出部 5 0 1 にて正常画 素と判定されなかった画素についてのみ欠陥画素検出を行う。 そして、 欠陥画素補正部 1 0 6は欠陥画素と判定された画素については、 周辺画 素を用いた補正処理を行い補正出力 5 0 2とする。 図 5の実施形態では、 正常画素検出部 5 0 1 と欠陥画素検出部 1 0 5が使用するラツチ 1 0 3 を共用とすることで、 装置規模を削減することができる。 また、 メモリ 資源の有効利用が図れる。
以上説明した実施形態では、 欠陥画素の検出はハードウ Xァによる処 理を前提としていたが、 本発明はこのような構成に限定されない。 C C D等の固体撮像素子 1 0 1の出力信号を、 AZD変換器 1 02によりデ イジタル信号に変換した後、 メモリ （ラッチ） に保存した画素データに 対して、 C PUや D S P等のプログラマブルプロセッサによつて処理す る構成も可能である。 第 6図は本発明のソフ トウヱァ処理に関するフ口 一チャートである。 STE P 1で検査対象画素と隣接する画素との間の レベル差として差分絶対値が計算される。 隣接画素は第 1の実施例に示 した通り、 1個の画素であっても、 また、 複数の画素であっても良い。
STE P 2において予め設定された閾値との比較がなされる。 STE P 3において閾値比較の結果から正常画素か欠陥画素の可能性があるかを 判定する。 隣接画素を 1個の画素とした場合には、 レベル差が閾値より も小さい場合に正常画素と判定する。 隣接画素が複数の場合には、 レべ ル差が閾値よりも小さくなる場合の隣接画素数が、 あらかじめ設定され た第 2の閾値以上の場合には正常画素と判定する。 正常画素と判定され なかった検査対象画素に関しては S TE P 4において欠陥画素検出を行 う。 S TE P 4の欠陥画素検出は公知のアルゴリ ズムとする。 STE P 5において全画素に対する検査が完了したかを判定し、 完了していない 場合には S TE P 1に戻り次の検査対象画素の検査を続行し、 全画素に 対する検査が完了している場合には終了とする。
以上説明した構成においては、 STE P 1〜STE P 3からなる簡易 な正常画素検出により欠陥の可能性が極めて低い画素を検査対象から除 外している。 このため、 S TE P 4の処理の動作率を低下させることが 可能となり、 演算量削減の効果を得ることができる。 また、 演算量が削 減されることにより、 C PUや D S Pを低消費電力モードに移行させる 時間を増やすことが可能となり、 これによつて低消費電力化の効果も得 ることができる。 また、 演算処理の速度が高められ全体としての処理に 要する時間を短縮することができる。
本発明の欠陥画素検出装置および撮像装置においては、 簡単な構成か らなる正常画素検出部を用いることによって、 欠陥の可能性が極めて低 い画素を検查対象から除外することにより、 欠陥画素検出部の動作率を 低下させることが可能となる。 このため、 演算量の削減や装置全体とし ての低消費電力化の効果を得ることができる。 また、 ラッチを共用とす ることで正常画素検出部の装置規模を削減することができる。 さらに、 本発明の欠陥画素検出方法においては、 欠陥画素を検出する際の演算処 理を高速で行えるので、 処理時間の短縮が図れる。 また、 演算精度を高 めることができる。 産業上の利用可能性
以上説明したように、 本発明によれば、 固体撮像素子から出力される 画素信号に含まれる欠陥画素を撮影中に検出することが可能な、 欠陥画 素検出装置と方法および撮像装置を提供することができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 固体撮像素子から出力される画素データ中に含まれる欠陥画素 を検出する欠陥画素検出装置において、 前記画素中から正常画素を検 出し除外する正常画素検出手段と、 前記画素の内前記正常画素検出手 段にて除外されない画素の中から欠陥画素を検出する欠陥画素検出手 段とを備えたことを特徴とする欠陥画素検出装置。
2 . 前記正常画素検出手段は、 検査画素と周辺画素との間のレベル 差を計算するレベル差計算手段と、 前記レベル差と第 1の閾値とを比較 する比較手段とを備えており、 前記レベル差が前記第 1の閾値よりも小 さい場合には正常画素と判定することを特徴とする請求項 1に記載の欠 陥画素検出装置。
3 . 前記正常画素検出手段は、 検査画素と複数の周辺画素との間の レベル差を各々計算する レベル差計算手段と、 該レベル差計算手段で 計算された前記複数のレベル差と第 1の閾値とを各々比較する比較手段 と、 前記比較手段の比較結果から、 前記レベル差が前記第 1の閾値より も小さ くなる周辺画素の個数を計算し、 該計算で算出した個数と、 第
2の閾値とを比較する判定部とを備えており、 前記個数が前記第 2の 閾値以上の場合には正常画素と判定することを特徴とする請求項 1に記 載の欠陥画素検出装置。
4 . 前記正常画素検出手段は、 検査画素保持用のメモリを、 前記欠 陥画素検出手段のメモリ と共用することを特徴とする請求項 1乃至 3に 記載の欠陥画素検出装置。
5 . 前記欠陥画素検出手段は、 前記正常画素検出手段において正常 画素と判定された際にはクロックを停止して低消費電力状態に移行す ることを特徴とする請求項 1乃至 4に記載の欠陥画素検出装置。
6 . 固体撮像素子から出力される画素データの中から正常画素を検 出するステップと、 前記検出された正常画素を除外するステツプと、 前記正常画素を除外した後の画素の中から欠陥画素を検出するステッ プと、 を有することを特徴とする欠陥画素検出方法。
7 . 前記正常画素を検出するステップは、 検査画素と周辺画素との 間のレベル差を計算し、 該計算で算出されたレベル差と第 1の閾値とを 比較し、 該比較した結果レベル差が前記第 1の閾値よりも小さい場合に は正常画素と判定することを特徴とする請求項 6に記載の欠陥画素検 出方法。
8 . 前記正常画素を検出するステップは、 検査画素と複数の周辺画 素との間のレベル差を各々計算し、 該計算された前記複数のレベル差 と第 1の閾値とを各々比較し、 該比較した各々の比較結果から、 前記レ ベル差が前記第 1の閾値よりも小さくなる周辺画素の個数を計算し、 該 計算で算出された個数と、 第 2の閾値とを比較して前記個数が前記第 2の閾値以上の場合には正常画素と判定することを特徴とする請求項 6に記載の欠陥画素検出方法。
9 . 固体撮像素子から出力される画素データ中に含まれる欠陥画素 を検出する欠陥画素検出装置を備えた撮像装置において、 前記欠陥画 素検出装置は、 前記画素中から正常画素を検出し除外する正常画素検 出手段と、 前記画素の内前記正常画素検出手段にて除外されない画素 の中から欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段とを備えたこ とを特徴 とする撮像装置。
1 0 . 前記正常画素検出手段は、 検査画素と周辺画素との間のレべ ル差を計算する レベル差計算手段と、 前記レベル差と第 1の閾値とを比 較する比較手段とを備えており、 前記レベル差が前記第 1の閾値よりも 小さい場合には正常画素と判定することを特徴とする請求項 9に記載 の撮像装置。
1 1 . 前記正常画素検出手段は、 検査画素と複数の周辺画素との間 のレベル差を計算する複数のレベル差計算手段と、 該複数のレベル差 計算手段で計算された前記複数のレベル差と第 1の閾値とを各々比較す る比較手段と、 前記比較手段の比較結果から、 前記レベル差が前記第 1 の閾値より も小さく なる周辺画素の個数を計算し、 前記計算した前記 周辺画素の個数と、 第 2の閾値とを比較する判定部と、 を備えており、 前記レベル差が前記第 1の閾値よりも小さくなる周辺画素の個数が前記 第 2の閾値以上の場合には正常画素と判定することを特徴とする請求 項 9に記載の撮像装置。
PCT/JP2005/003542 2004-02-27 2005-02-24 欠陥画素検出装置と方法および撮像装置 WO2005084015A1 (ja)

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