JP3544304B2

JP3544304B2 - 画素欠陥補正装置及び画素欠陥補正方法

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Publication number: JP3544304B2
Application number: JP22016598A
Authority: JP
Inventors: 信行松川
Original assignee: Victor Company of Japan Ltd
Current assignee: Victor Company of Japan Ltd
Priority date: 1998-08-04
Filing date: 1998-08-04
Publication date: 2004-07-21
Anticipated expiration: 2018-08-04
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Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、全画素読み出し方式の固体撮像素子を用いた撮像装置において、固体撮像素子の画素欠陥を信号処理により補正する画素欠陥補正装置及び画素欠陥補正方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に、ＣＣＤ等の半導体により形成される固体撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等により画素劣化が生じることが知られている。入射光量に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電圧が加算されてしまう画素欠陥は、この画素欠陥がそのまま信号処理されてしまうとモニタ上に高輝度の白い点として現れるため白キズと呼ばれている。
【０００３】
図７は、インターラインで画素信号が読み出されるインターライン固体撮像素子（以下、インターラインＣＣＤと記す）の白キズを補正する画素欠陥補正装置における画素欠陥補正方法を説明するための図である。
なお、インターラインＣＣＤから出力されるＣＣＤ信号は、白キズ補正が行われる前にまずノイズ成分が除去され、所定の信号レベルに調整されてディジタル信号に変換される。
【０００４】
そして、ディジタルの形態に変換されたＣＣＤ信号は、水平方向に２画素が混合されて輝度信号とされ、複数設けられたラインメモリにライン毎に書き込まれて白キズの補正が行われる。なお、ここでは、２ライン分のラインメモリを設け、ラインメモリから読み出した２ライン分の輝度信号とこの２ラインに続き入力される１ライン分の輝度信号との合計３ライン分の輝度信号を用いて、３ライン分の輝度信号の白キズ補正を行う例を示している。
【０００５】
図７は、連続する３ライン、即ちラインＬ０、ラインＬ１、ラインＬ２における水平方向に連続する３画素を夫々示しており、画素ａ乃至ｃはラインＬ０上の３画素、画素ｄ乃至ｆはラインＬ１上の３画素、画素ｇ乃至ｉはラインＬ２上の３画素を示している。
【０００６】
従来の画素欠陥補正方法では、このような水平３画素及び垂直３画素のマトリクスよりなる合計９画素の輝度信号を用いて図７に示す画素ｂ、画素ｅ、画素ｈにおける白キズの補正を行っている。なお、ここで１ライン毎に補正を行わず、３ライン分の輝度信号をまとめて補正するのは、垂直アパーチャー信号に白キズが含まれるのを防止するためである。
【０００７】
まず、画素ｅの白キズ補正を行う場合について説明する。
初めに、画素ｄと画素ｆとの輝度信号を比較して信号レベルが低い方を代表値Ｙ１Ｌとし、画素ａ乃至ｃ及び画素ｇ乃至ｉの合計６画素での輝度信号を比較して信号レベルが最も高いものを代表値Ｙ１Ｈとする。そして、代表値Ｙ１Ｌと代表値Ｙ１Ｈとを比較して値が大きい方をＹ１として、画素ｅにおける輝度信号の値からＹ１の値を引いて、その結果が所定のしきい値を越えている場合には、画素ｅに白キズが発生していると判別する。
【０００８】
このように、画素ｅに白キズが発生していると判別された場合、画素ｅにおける輝度信号の値をＹ１の値で置き換えることにより白キズの補正を行う。一方、画素ｅにおける輝度信号の値からＹ１の値を引いて、その結果が所定のしきい値を越えていない場合には、画素ｅに白キズが発生していないと判別し、画素ｅにおける輝度信号の値をそのまま用いる。
【０００９】
次に、画素ｂの白キズ補正を行う場合、画素ａと画素ｃとの輝度信号を比較して信号レベルが低い方を代表値Ｙ０Ｌとする。また、画素ｄ乃至ｆの輝度信号を比較して信号レベルが最も高いものを代表値Ｙ０Ｈとする。そして、代表値Ｙ０Ｌと代表値Ｙ０Ｈとを比較して値が大きい方をＹ０として、画素ｂにおける輝度信号の値からＹ０の値を引いて、その結果が所定のしきい値を越えている場合には、画素ｂに白キズが発生していると判別する。
【００１０】
そして、画素ｂに白キズが発生していると判別された場合は、画素ｂにおける輝度信号の値をＹ０の値で置き換えることにより白キズの補正を行う一方、画素ｂに白キズが発生していないと判別された場合は、画素ｂにおける輝度信号の値をそのまま用いる。
【００１１】
また、画素ｈでの白キズの補正を行う場合、画素ｇと画素ｉとの輝度信号を比較して信号レベルが低い方を代表値Ｙ２Ｌとする。また、画素ｄ乃至ｆの輝度信号を比較して信号レベルが最も高いものを代表値Ｙ２Ｈとする。そして、代表値Ｙ２Ｌと代表値Ｙ２Ｈとを比較して値が大きい方をＹ２として、画素ｈにおける輝度信号の値からＹ２の値を引いて、その結果が所定のしきい値を越えている場合には、画素ｈに白キズが発生していると判別する。
【００１２】
そして、画素ｈに白キズが発生していると判別された場合は、画素ｈにおける輝度信号の値をＹ２の値で置き換えることにより白キズの補正を行う一方、画素ｈに白キズが発生していないと判別された場合は、画素ｈにおける輝度信号の値をそのまま用いる。
【００１３】
以上に示す方法により、隣接画素の信号レベルと比較して輝度信号の信号レベルが極端に高い画素がある場合には、これを白キズとみなして補正処理が行われていた。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、ＣＣＤ等の固体撮像素子を使用した最近のカメラ一体型ＶＴＲでは、更なる高画質化が進められると共に、偶数フィールド及び奇数フィールドよりなる動画像信号よりぶれのない１枚の静止画像信号を得ようとするニーズが強まりつつあり、このようなカメラ一体型ＶＴＲでは、インターラインで画素信号が読み出されるインターラインＣＣＤでなく、全画素読み出し方式のプログレッシブスキャンＣＣＤ（以下、ＰＳ−ＣＣＤとも記す）が用いられる場合がある。
【００１５】
しかし、このようなＰＳ−ＣＣＤから得られるＣＣＤ信号に対して、従来の画素欠陥補正装置の如く、水平方向に２画素を混合して輝度信号を得て白キズ補正を行った場合、解像度の低下を招いてしまうという問題があった。また、水平方向に２画素を混合する前のＣＣＤ信号を用い、従来例のような単純な補正範囲で周辺画素と比較することにより白キズ補正を行った場合、固体撮像素子から出力されるＣＣＤ信号における色成分毎の信号レベルの違いにより、正確な白キズ検出及び白キズ補正ができないといった問題があった。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
以上の課題を解決するために、本発明に係る画素欠陥補正装置は、
全画素読み出し方式の固体撮像素子から出力され、１画素の画像情報が複数の色成分のうちのいずれか１つの色成分を示してなる画素信号列から同一色成分をなす画素信号を連続する複数ラインにおける画面所定範囲にわたり抽出する抽出手段と、
前記抽出手段にて抽出された画素信号における注目画素の画素情報と、前記画素信号における注目画素を除く他の画素の画素情報とを比較して、前記注目画素における画素欠陥の有無を判別する画素欠陥判別手段と、
前記画素欠陥判別手段にて前記注目画素に画素欠陥があると判別された場合には、前記画素信号における注目画素を除く他の画素の画素情報を用いて前記注目画素の画素情報を補正して出力し、前記画素欠陥判別手段にて前記注目画素に画素欠陥がないと判別された場合には、前記注目画素の画素情報をそのまま出力する画素欠陥補正手段とを備える画素欠陥補正装置であって、
前記画素欠陥判別手段及び前記画素欠陥補正手段は、前記連続する複数ラインにおける前記注目画素の上下の画素についても同時に画素欠陥の有無を判別すると共に画素情報を補正するようにしたことを特徴とするものである。
【００１７】
また、本発明に係る画素欠陥補正方法は、
全画素読み出し方式の固体撮像素子から出力され、１画素の画像情報が複数の色成分のうちのいずれか１つの色成分を示してなる画素信号列から同一色成分をなす画素信号を連続する複数ラインにおける画面所定範囲にわたり抽出し、
前記抽出された画素信号における注目画素の画素情報と、前記画素信号における注目画素を除く他の画素の画素情報とを比較して、前記注目画素における画素欠陥の有無を判別し、
前記注目画素に画素欠陥があると判別された場合には、前記画素信号における注目画素を除く他の画素の画素情報を用いて前記注目画素の画素情報を補正して出力し、前記注目画素に画素欠陥がないと判別された場合には、前記注目画素の画素情報をそのまま出力する画素欠陥補正方法であって、
前記連続する複数ラインにおける前記注目画素の上下の画素についても同時に画素欠陥の有無を判別すると共に画素情報を補正するようにしたことを特徴とするものである。
【００１８】
【発明の実施の形態】
図１は本発明に係る画素欠陥補正装置への信号経路を説明するためのブロック図、図２はプログレッシブスキャンＣＣＤにおけるＣＣＤフィルタ配列を示す図、図３はプログレッシブスキャンＣＣＤから出力されるＣＣＤ信号を説明するための図、図４は本発明に係る画素欠陥補正装置における画素欠陥の補正方法を説明するための図、図５及び図６は本発明に係る画素欠陥補正装置の構成を示すブロック図である。
以下図面を参照しながら、本発明の一実施の形態を説明する。
【００１９】
図１において、１は伝送経路Ｓａ及びＳｂを通じて全画素のＣＣＤ信号を出力するＰＳ−ＣＣＤ、２はＰＳ−ＣＣＤ１が出力するＣＣＤ信号からノイズ成分を除去するＣＤＳ、３はＣＣＤ信号を所定の信号レベルに調整するＡＧＣ、４はＣＣＤ信号をディジタルの信号形態に変換するＡ／Ｄ変換器である。
【００２０】
また、５はＡ／Ｄ変換器４にてディジタルの信号形態に変換されたＣＣＤ信号を、伝送系路Ｓａに対して２ライン分、伝送経路Ｓｂに対して２ライン分保持することのできるラインメモリ、６は伝送系路Ｓａ及びＳｂにて各３ライン分ずつのＣＣＤ信号が同時に入力され、３ライン分のＣＣＤ信号に対して夫々白キズ補正をして出力する画素欠陥補正装置である。
【００２１】
このように、本発明に係る画素欠陥補正装置は、各伝送系路を通じてラインメモリ５から出力される３ライン分ずつのＣＣＤ信号に対して３ライン分のＣＣＤ信号の白キズ補正を同時に行って出力している。なお、図２はＰＳ−ＣＣＤ１におけるＣＣＤフィルタのフィルタ配列の一例を示す図であり、ＰＳ−ＣＣＤ１はＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄに示す４つのＣＣＤフィルタ（色成分透過フィルタ）を備えており、ここで示すＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、例えばホワイト、グリーン、シアン、イエロー等の各色成分を意味する。
【００２２】
そして、ＰＳ−ＣＣＤ１は図３（ａ）に示す如く伝送系路Ｓａを通じて色成分Ａ及び色成分ＢのＣＣＤ信号を交互に出力し、図３（ｂ）に示す如く伝送系路Ｓｂを通じて色成分Ｃ及び色成分ＤのＣＣＤ信号を交互に出力する。
【００２３】
また、図２に示すように、色成分ＡのためのＣＣＤフィルタと色成分ＢのためのＣＣＤフィルタとが配置されるラインでは、垂直方向１ラインおきに夫々のＣＣＤフィルタの位置が逆になるよう配置され、同様に色成分ＣのためのＣＣＤフィルタと色成分ＤのためのＣＣＤフィルタとが配置されるラインでは、垂直方向１ラインおきに夫々のＣＣＤフィルタの位置が逆になるよう配置されている。
【００２４】
従って、図３に示すように、伝送系路Ｓａから出力されるラインＬａ０では色成分Ａ、色成分Ｂ、色成分Ａ、…の順にＣＣＤ信号が出力されるのに対し、これに続くラインＬａ１では、色成分Ｂ、色成分Ａ、色成分Ｂ、…の順にＣＣＤ信号が出力される。また、同様に、伝送系路Ｓｂから出力されるラインＬｂ０では色成分Ｃ、色成分Ｄ、色成分Ｃ、…の順にＣＣＤ信号が出力されるのに対し、これに続くラインＬｂ１では、色成分Ｄ、色成分Ｃ、色成分Ｄ、…の順にＣＣＤ信号が出力される。
【００２５】
このようにしてＰＳ−ＣＣＤ１から出力されるＣＣＤ信号は、ＣＤＳ２、ＡＧＣ３、Ａ／Ｄ変換器４を経て、ラインメモリ５に入力される。そして、ラインメモリ５からは連続する３ライン分のＣＣＤ信号が画素欠陥補正装置６に同時に入力される。
【００２６】
次に、画素欠陥補正装置６における白キズ補正装置について図４を用いて説明する。なお、伝送系路Ｓａからは色成分Ａ及び色成分ＢのＣＣＤ信号、伝送系路Ｓｂからは色成分Ｃ及び色成分ＤのＣＣＤ信号が入力されるが、いずれの伝送系路に対しても同一方法にて白キズ補正を行うため、ここでは、伝送経路Ｓａを通じて入力される色成分Ａ及び色成分Ｂに対する白キズ補正についてのみ説明する。
【００２７】
また、ここでは、後述する如く水平５画素及び垂直３画素のマトリクスよりなる合計１５画素のＣＣＤ信号を用いて、画素ｃ、画素ｈ、画素ｍにおける白キズの補正を行うが、更に多くの画素を用いて画素ｃ、画素ｈ、画素ｍにおける白キズの補正を行っても構わない。
【００２８】
図４における画素ａ乃至ｅはラインＬａ０でのＣＣＤ信号、画素ｆ乃至ｊはラインＬａ１でのＣＣＤ信号、画素ｋ乃至ｏはラインＬａ２でのＣＣＤ信号を夫々示しており、本発明に係る画素欠陥補正装置では、このように水平５画素及び垂直３画素のマトリクスよりなる合計１５画素のＣＣＤ信号を用いて、画素ｃ、画素ｈ、画素ｍにおける白キズの補正を行うことができる。
【００２９】
ここでは、まず画素ｈの白キズ補正について説明する。
前述の如くラインメモリ５からは、ラインＬａ０乃至Ｌａ２の３ライン分のＣＣＤ信号が同時に入力されるが、この時のＣＣＤ信号は色成分Ａと色成分Ｂとが交互に入力され、例えば画素ｈが色成分ＢのＣＣＤ信号である場合には、画素ｂ、画素ｄ、画素ｆ、画素ｊ、画素ｌ、画素ｎは色成分ＢのＣＣＤ信号であり、画素ａ、画素ｃ、画素ｅ、画素ｇ、画素ｉ、画素ｋ、画素ｍ、画素ｏは色成分ＡのＣＣＤ信号となっている。
【００３０】
この時、色成分Ａと色成分Ｂとの間にはＣＣＤ信号の信号レベルに差があるため、色成分ＢのＣＣＤ信号である画素ｈの白キズ有無の判別を行う際に、色成分ＡのＣＣＤ信号の信号レベルを使用しては正確な判別が行えなくなる。従って、画素ｈでの白キズ補正を行う際には、画素ｈと同一の色成分である画素のＣＣＤ信号のみを用いる。
【００３１】
画素欠陥補正装置６では、まず、注目画素となる画素ｈの周辺に存在し、画素ｈと同一の色成分である画素ｂ、画素ｄ、画素ｆ、画素ｊ、画素ｌ、画素ｎの合計６画素でのＣＣＤ信号を比較して、信号レベルが最も高いものを最大値Ｃ１Ｈとする。そして、画素ｈにおけるＣＣＤ信号の値ＣｈからＣ１Ｈの値を引いて、その結果が所定のしきい値を越えている場合には、画素ｈに白キズが発生していると判別する。
【００３２】
そして、画素ｈに白キズが発生していると判別された場合は、画素ｈにおけるＣＣＤ信号の値ＣｈをＣ１Ｈの値で置き換えることにより白キズの補正を行う。一方、画素ｈにおけるＣＣＤ信号の値ＣｈからＣ１Ｈの値を引いて、その結果が所定のしきい値を越えていない場合には、画素ｈに白キズが発生していないと判別し、画素ｈにおけるＣＣＤ信号の値Ｃｈをそのまま出力する。
【００３３】
次に、画素ｃの白キズ補正を行う場合、画素ａ、画素ｅ、画素ｇ、画素ｉの合計４画素でのＣＣＤ信号を比較して、信号レベルが最も高いものを最大値Ｃ０Ｈとする。そして、画素ｃにおけるＣＣＤ信号の値ＣｃからＣ０Ｈの値を引いて、その結果が所定のしきい値を越えている場合には、画素ｃに白キズが発生していると判別する。
【００３４】
そして、画素ｃに白キズが発生していると判別された場合は、画素ｃにおけるＣＣＤ信号の値ＣｃをＣ０Ｈの値で置き換えることにより白キズの補正を行う一方、画素ｃに白キズが発生していないと判別された場合は、画素ｃにおけるＣＣＤ信号の値Ｃｃをそのまま出力する。
【００３５】
また、画素ｍの白キズ補正を行う場合、画素ｇ、画素ｉ、画素ｋ、画素ｏの合計４画素でのＣＣＤ信号を比較して、信号レベルが最も高いものを最大値Ｃ２Ｈとする。そして、画素ｍにおけるＣＣＤ信号の値ＣｍからＣ２Ｈの値を引いて、その結果が所定のしきい値を越えている場合には、画素ｍに白キズが発生していると判別する。
【００３６】
そして、画素ｍに白キズが発生していると判別された場合は、画素ｍにおけるＣＣＤ信号の値ＣｍをＣ２Ｈの値で置き換えることにより白キズの補正を行う一方、画素ｍに白キズが発生していないと判別された場合は、画素ｍにおけるＣＣＤ信号の値Ｃｍをそのまま出力する。
【００３７】
図５及び図６は、このようにして白キズの発生を判別した上で白キズの補正を行う画素欠陥補正装置６の構成を示すブロック図である。なお、図５及び図６で示す構成は、本画素欠陥補正装置の構成の一例であり、図４を用いて説明したように白キズを補正できる回路であれば、ここで示す構成に限らず他の構成であっても構わない。
【００３８】
ここで、図５は図４を用いて説明したラインＬａ０乃至ラインＬａ２における画素ａ乃至ｏから画素ｃ、ｈ、ｍにおけるＣＣＤ信号の値Ｃｃ、Ｃｈ、Ｃｍ、そして最大値Ｃ０Ｈ、Ｃ１Ｈ、Ｃ２Ｈを得るための構成を示しており、また、図６はこれらの値を用いて画素ｃ、ｈ、ｍにおけるＣＣＤ信号の値を必要に応じて置き換えて出力する構成を示している。
【００３９】
ここでは、まず図５の構成により、ＣＣＤ信号の値Ｃｃ、Ｃｈ、Ｃｍ、そして最大値Ｃ０Ｈ、Ｃ１Ｈ、Ｃ２Ｈを得る方法を説明する。なお、同図において、１０乃至２１は入力されるＣＣＤ信号を１画素分遅延させて出力する遅延素子、２２乃至３１は入力されるＣＣＤ信号のうち、信号レベルの高い何れか一方の信号を出力する選択出力回路である。
【００４０】
ラインＬａ０乃至ラインＬａ２を通じてＣＣＤ信号が入力されると各遅延素子は入力されるＣＣＤ信号を１画素分ずつ遅延させて出力し、ここでは遅延素子１０乃至１３が図４における画素ａ乃至ｄのＣＣＤ信号、遅延素子１４乃至１７が画素ｆ乃至ｉのＣＣＤ信号、遅延素子１８乃至２１が画素ｋ乃至ｎのＣＣＤ信号を夫々出力し、ラインＬａ０を通じて画素ｅのＣＣＤ信号、ラインＬａ１を通じて画素ｊのＣＣＤ信号、ラインＬａ２を通じて画素ｏのＣＣＤ信号が入来しているものとする。
【００４１】
まず、画素ｃでのＣＣＤ信号の値Ｃｃ、画素ｈでのＣＣＤ信号の値Ｃｈ、画素ｍでのＣＣＤ信号の値Ｃｍは、夫々遅延素子１２、１６、２０からの出力信号により得ることができる。そして画素ｈでの白キズの有無を判別するためには、画素ｂ、画素ｄ、画素ｆ、画素ｊ、画素ｌ、画素ｎの合計６画素におけるＣＣＤ信号の最大値Ｃ１Ｈが必要であるが、これは、選択回路２４、２７、２９にて夫々のライン毎に前記画素のＣＣＤ信号の最大値を得て、その後選択回路２５にてラインＬａ０とラインＬａ１の最大値を得た後に、選択回路２６にて何れか大きい一方の値を選択することにより、前記合計６画素におけるＣＣＤ信号の最大値Ｃ１Ｈを得ることができる。
【００４２】
また、画素ｃでの白キズの有無を判別するためには、画素ａ、画素ｅ、画素ｇ、画素ｉの合計４画素におけるＣＣＤ信号の最大値Ｃ０Ｈが必要であるが、これは、選択回路２２、２８にて夫々のライン毎に前記画素のＣＣＤ信号の最大値を得て、その後選択回路２３にて何れか大きい一方の値を選択することにより、前記合計４画素におけるＣＣＤ信号の最大値Ｃ０Ｈを得ることができる。
【００４３】
また、同様に、画素ｍでの白キズの有無を判別するためには、画素ｇ、画素ｉ、画素ｋ、画素ｏの合計４画素におけるＣＣＤ信号の最大値Ｃ２Ｈが必要であるが、これは、選択回路２８、３０にて夫々のライン毎に前記画素のＣＣＤ信号の最大値を得て、その後選択回路３１にていずれか大きい一方の値を選択することにより、前記合計４画素におけるＣＣＤ信号の最大値Ｃ２Ｈを得ることができる。
【００４４】
次に、図６を用いて画素ｃ、画素ｈ、画素ｍにおけるＣＣＤ信号の値の補正について説明する。なお、画素ｃ、画素ｈ、画素ｍにおけるＣＣＤ信号の値の補正については、図６に示す構成を各ライン毎に設けて３ラインのＣＣＤ信号を同時に補正するが、いずれのラインに対しても同一方法にて白キズ補正を行うため、ここではラインＬａ０、即ち画素ｃに対する補正についてのみ説明する。
【００４５】
同図において、３２は図４に示す画素ｃにおけるＣＣＤ信号の値Ｃｃから最大値Ｃ０Ｈを減算する減算回路であり、この減算回路３２の出力はコンパレータ（ＣＭＰ）３４の端子Ａに入力される。一方、９ビットのディジタル信号で供給される所定のしきい値ＷＫＳは、ビット変換器３３にて１０ビットのディジタル信号に変換されてコンパレータ３４の端子Ｂに入力される。
【００４６】
ここで、コンパレータ３４は減算回路３２が出力する減算値としきい値ＷＫＳとを比較して、減算回路３２が出力する減算値が大きい場合は１の値を出力し、それ以外の場合は０の値を出力する。そして、論理積回路３５の一方の入力端には減算回路３２が出力する１０ビットの減算値のうちの最上位ビット（ＭＳＢ）を反転させた信号が入力され、他方の入力端にはコンパレータ３４からの１あるいは０の信号が入力される。
【００４７】
そして、論理積回路３５は、２つの入力信号の論理積を出力し、論理積回路３５が１を出力した場合には、セレクタ３６は最大値Ｃ０Ｈを選択出力し、論理積回路３５が０を出力した場合には、画素ｃにおけるＣＣＤ信号の値Ｃｃを選択出力する。
【００４８】
例えば、画素ｃでのＣＣＤ信号の値Ｃｃが同じ色成分を示す周辺画素のＣＣＤ信号の最大値Ｃ０Ｈと比べてはるかに大きく、画素ｃでのＣＣＤ信号の値Ｃｃから最大値Ｃ０Ｈを引いた値がしきい値ＷＫＳを越えている場合、即ち、画素ｃに白キズが発生している可能性が高い場合には、コンパレータ３４は１を出力する。
【００４９】
そして、この時減算回路３２の出力する減算値は正の値となっているため、この減算回路３２が出力する１０ビットの減算値のうちの最上位ビットは０であり、この０の値は１に反転された後にコンパレータ３４に出力される。従って、論理積回路３５は１の値を出力し、セレクタ３６が最大値Ｃ０Ｈを選択出力することにより、画素ｃにおけるＣＣＤ信号が最大値Ｃ０Ｈに置き換えられて白キズの補正がなされる。
【００５０】
一方、画素ｃでのＣＣＤ信号の値Ｃｃが同じ色成分を示す周辺画素のＣＣＤ信号の最大値Ｃ０Ｈと比べてさほど大きくなく、画素ｃでのＣＣＤ信号の値Ｃｃから最大値Ｃ０Ｈを引いた値がしきい値ＷＫＳを越えていない場合、即ち、画素ｃには白キズが発生していない可能性が高い場合には、コンパレータ３４は０を出力する。従って、論理積回路３５は０の値を出力し、セレクタ３６は画素ｃにおけるＣＣＤ信号の値Ｃｃをそのまま出力する。
【００５１】
また、画素ｃでのＣＣＤ信号の値Ｃｃが同じ色成分を示す周辺画素のＣＣＤ信号の最大値Ｃ０Ｈよりも小さい値である場合、即ち、画素ｃに白キズが発生していない場合には、減算回路３２の出力する減算値は負の値となる。
【００５２】
従って、減算回路３２が出力する１０ビットの減算値のうちの最上位ビットは１であり、この１の値は０に反転された後に論理積回路３５に出力されるため、論理積回路３５は０の値を出力し、セレクタ３６は画素ｃにおけるＣＣＤ信号の値Ｃｃをそのまま出力する。
【００５３】
なお、以上に示す実施の形態では、白キズが発生していると判別された場合には、白キズが発生していると判別された注目画素のＣＣＤ信号の値をその画素と同じ色成分を示す周辺画素の値（最大値）により置き換えた例を示したが、これに限らず、白キズが発生していると判別された注目画素のＣＣＤ信号の値をその画素と同じ色成分を示す周辺画素の値の平均値により置き換えても良い。
【００５４】
【発明の効果】
本発明によれば、全画素読み出し方式の固体撮像素子から出力されるＣＣＤ信号のうち、同一色成分をなす情報のみを抽出して画素欠陥の判別を行うため、画素欠陥の補正を正確に行うことができるだけでなく、解像度を低下させることなく画素欠陥の補正を行うことができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る画素欠陥補正装置への信号経路を説明するためのブロック図である。
【図２】プログレッシブスキャンＣＣＤにおけるＣＣＤフィルタのフィルタ配列の一例を示す図である。
【図３】プログレッシブスキャンＣＣＤから出力されるＣＣＤ信号を説明するための図である。
【図４】本発明に係る画素欠陥補正装置における画素欠陥補正方法を説明するための図である。
【図５】注目画素でのＣＣＤ信号の値及び注目画素と同一色成分である隣接画素でのＣＣＤ信号の最大値を得る構成を示す図である。
【図６】注目画素におけるＣＣＤ信号の値を補正する構成を示す図である。
【図７】従来の画素欠陥補正装置における画素欠陥補正方法を説明するためのブロック図である。
【符号の説明】
１…プログレッシブスキャンＣＣＤ（ＰＳ−ＣＣＤ）
２…ＣＤＳ
３…ＡＧＣ
４…Ａ／Ｄ変換器
５…ラインメモリ
６…画素欠陥補正装置
１０〜２１…遅延素子
２２〜３１…選択回路
３２…減算回路
３３…ビット変換器
３４…コンパレータ（ＣＭＰ）
３５…論理積回路
３６…セレクタ

Claims

全画素読み出し方式の固体撮像素子から出力され、１画素の画像情報が複数の色成分のうちのいずれか１つの色成分を示してなる画素信号列から同一色成分をなす画素信号を連続する複数ラインにおける画面所定範囲にわたり抽出する抽出手段と、
前記抽出手段にて抽出された画素信号における注目画素の画素情報と、前記画素信号における注目画素を除く他の画素の画素情報とを比較して、前記注目画素における画素欠陥の有無を判別する画素欠陥判別手段と、
前記画素欠陥判別手段にて前記注目画素に画素欠陥があると判別された場合には、前記画素信号における注目画素を除く他の画素の画素情報を用いて前記注目画素の画素情報を補正して出力し、前記画素欠陥判別手段にて前記注目画素に画素欠陥がないと判別された場合には、前記注目画素の画素情報をそのまま出力する画素欠陥補正手段とを備える画素欠陥補正装置であって、
前記画素欠陥判別手段及び前記画素欠陥補正手段は、前記連続する複数ラインにおける前記注目画素の上下の画素についても同時に画素欠陥の有無を判別すると共に画素情報を補正するようにしたことを特徴とする画素欠陥補正装置。
全画素読み出し方式の固体撮像素子から出力され、１画素の画像情報が複数の色成分のうちのいずれか１つの色成分を示してなる画素信号列から同一色成分をなす画素信号を連続する複数ラインにおける画面所定範囲にわたり抽出し、
前記抽出された画素信号における注目画素の画素情報と、前記画素信号における注目画素を除く他の画素の画素情報とを比較して、前記注目画素における画素欠陥の有無を判別し、
前記注目画素に画素欠陥があると判別された場合には、前記画素信号における注目画素を除く他の画素の画素情報を用いて前記注目画素の画素情報を補正して出力し、前記注目画素に画素欠陥がないと判別された場合には、前記注目画素の画素情報をそのまま出力する画素欠陥補正方法であって、
前記連続する複数ラインにおける前記注目画素の上下の画素についても同時に画素欠陥の有無を判別すると共に画素情報を補正するようにしたことを特徴とする画素欠陥補正方法。