JP2002101342A - 撮像素子の欠陥画素検出方法 - Google Patents
撮像素子の欠陥画素検出方法Info
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- JP2002101342A JP2002101342A JP2000289260A JP2000289260A JP2002101342A JP 2002101342 A JP2002101342 A JP 2002101342A JP 2000289260 A JP2000289260 A JP 2000289260A JP 2000289260 A JP2000289260 A JP 2000289260A JP 2002101342 A JP2002101342 A JP 2002101342A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】欠陥画素の検出対象となる撮像素子にて一様な
明るさの画像を撮影し、その撮影によって得られる各画
素単位の出力値から欠陥画素を検出する撮像素子の欠陥
画素検出方法であって、光学レンズの特性で不可避な周
辺光量の低下を考慮して正確に欠陥を生じている画素を
検出する。 【解決手段】任意の画素Ｉ１の出力値に対し、その画素
Ｉ１に隣接する２つの対応画素の出力値と比較して所定
の範囲内にあるか否かで欠陥画素検出を行なう。
明るさの画像を撮影し、その撮影によって得られる各画
素単位の出力値から欠陥画素を検出する撮像素子の欠陥
画素検出方法であって、光学レンズの特性で不可避な周
辺光量の低下を考慮して正確に欠陥を生じている画素を
検出する。 【解決手段】任意の画素Ｉ１の出力値に対し、その画素
Ｉ１に隣接する２つの対応画素の出力値と比較して所定
の範囲内にあるか否かで欠陥画素検出を行なう。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばデジタルス
チル／ビデオカメラで使用されているＣＣＤ等のの撮像
素子の欠陥画素検出方法に関する。
チル／ビデオカメラで使用されているＣＣＤ等のの撮像
素子の欠陥画素検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】静止画を撮影するスチルカメラと動画を
撮影するビデオカメラとの別に拘らず、撮影画像を電気
信号として記録する必要のあるデジタルカメラでは、光
学レンズ系で得た光像をＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕ
ｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ：電荷結合素子）やＣＭＯＳエ
リアセンサ等の撮像素子の撮像面に結像し、その撮像面
に形成された多数の画素毎に光の強度を光電変換し、電
気信号として取出している。
撮影するビデオカメラとの別に拘らず、撮影画像を電気
信号として記録する必要のあるデジタルカメラでは、光
学レンズ系で得た光像をＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕ
ｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ：電荷結合素子）やＣＭＯＳエ
リアセンサ等の撮像素子の撮像面に結像し、その撮像面
に形成された多数の画素毎に光の強度を光電変換し、電
気信号として取出している。
【０００３】この種のデジタルカメラで使用される撮像
素子は、同一の明るさの光の入射に対して画素毎に出力
する電気信号がある程度揃っていなければならず、他の
画素に比して出力値が予め設定されている閾値を越える
ような、大きな偏差を有する画素は欠陥と判断される。
素子は、同一の明るさの光の入射に対して画素毎に出力
する電気信号がある程度揃っていなければならず、他の
画素に比して出力値が予め設定されている閾値を越える
ような、大きな偏差を有する画素は欠陥と判断される。
【０００４】このような撮像素子の画素欠陥を検出する
方法として、従来は、画角全面で一様な明るさを有する
被写体を撮影し、画面全体の画素値の平均を計算する。
そして、ある閾値を設け、平均からの偏差が閾値よりも
大きい画素を欠陥画素とするものが一般的であった。
方法として、従来は、画角全面で一様な明るさを有する
被写体を撮影し、画面全体の画素値の平均を計算する。
そして、ある閾値を設け、平均からの偏差が閾値よりも
大きい画素を欠陥画素とするものが一般的であった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特に焦
点距離の短い光学レンズ系に顕著で不可避な特性とし
て、画面中央の光量に比して画面周辺部の光量が落ちて
しまう、所謂シェーディングと呼称される問題を有して
おり、被写体が一様な明るさを有するものであったとし
ても、撮像素子の撮像面全面に一様な光量で入射される
ものではない。
点距離の短い光学レンズ系に顕著で不可避な特性とし
て、画面中央の光量に比して画面周辺部の光量が落ちて
しまう、所謂シェーディングと呼称される問題を有して
おり、被写体が一様な明るさを有するものであったとし
ても、撮像素子の撮像面全面に一様な光量で入射される
ものではない。
【０００６】そのため、従来のように画面全体の画素値
の平均を求めてから、各画素を比較するような方法で
は、欠陥画素が検出できない場合や欠陥ではない画素を
欠陥画素として誤って検出してしまう場合があり得るな
ど、正確な欠陥画素の検出が行なえないという不具合が
あった。
の平均を求めてから、各画素を比較するような方法で
は、欠陥画素が検出できない場合や欠陥ではない画素を
欠陥画素として誤って検出してしまう場合があり得るな
ど、正確な欠陥画素の検出が行なえないという不具合が
あった。
【０００７】本発明は上記のような実情に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは、光学レンズの特性
で不可避な周辺光量の低下を考慮して正確に欠陥を生じ
ている画素を検出することが可能な撮像素子の欠陥画素
検出方法を提供することにある。
たもので、その目的とするところは、光学レンズの特性
で不可避な周辺光量の低下を考慮して正確に欠陥を生じ
ている画素を検出することが可能な撮像素子の欠陥画素
検出方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
欠陥画素の検出対象となる撮像素子にて一様な明るさの
画像を撮影し、その撮影によって得られる各画素単位の
出力値から欠陥画素を検出する撮像素子の欠陥画素検出
方法であって、任意の画素の出力値に対し、その画素に
近接する複数の対応画素の出力値と比較することで欠陥
画素検出を行なうことを特徴とする。
欠陥画素の検出対象となる撮像素子にて一様な明るさの
画像を撮影し、その撮影によって得られる各画素単位の
出力値から欠陥画素を検出する撮像素子の欠陥画素検出
方法であって、任意の画素の出力値に対し、その画素に
近接する複数の対応画素の出力値と比較することで欠陥
画素検出を行なうことを特徴とする。
【０００９】このような方法とすれば、任意の画素の出
力値をその画素に近接する複数の対応画素の出力値と比
較することで、周辺光量の低下をも考慮して正確に欠陥
画素を検出することが可能となる。
力値をその画素に近接する複数の対応画素の出力値と比
較することで、周辺光量の低下をも考慮して正確に欠陥
画素を検出することが可能となる。
【００１０】請求項２記載の発明は、上記請求項１記載
の発明において、撮像素子に使用される光学レンズの周
辺光量特性により当該撮像素子の撮像面を複数のエリア
に分割し、任意の画素の出力値に対し、その画素に近接
する同一エリア内の複数の対応画素の出力値及び同一エ
リア内の平均値と比較することで欠陥画素検出を行なう
ことを特徴とする。
の発明において、撮像素子に使用される光学レンズの周
辺光量特性により当該撮像素子の撮像面を複数のエリア
に分割し、任意の画素の出力値に対し、その画素に近接
する同一エリア内の複数の対応画素の出力値及び同一エ
リア内の平均値と比較することで欠陥画素検出を行なう
ことを特徴とする。
【００１１】このような方法とすれば、上記請求項１記
載の発明の作用に加えて、撮像素子の撮像面を画面の中
央／周辺を勘案して分割した複数のエリア毎に任意の画
素をその画素に近接する同一エリア内の複数の対応画素
の出力値及び同一エリア内の平均値と比較するようにし
たので、光学レンズ系の特性や必要とされる比較演算の
能力等に応じて最適なエリア分割を行なうことで、欠陥
画素をより正確に検出することが可能となる。
載の発明の作用に加えて、撮像素子の撮像面を画面の中
央／周辺を勘案して分割した複数のエリア毎に任意の画
素をその画素に近接する同一エリア内の複数の対応画素
の出力値及び同一エリア内の平均値と比較するようにし
たので、光学レンズ系の特性や必要とされる比較演算の
能力等に応じて最適なエリア分割を行なうことで、欠陥
画素をより正確に検出することが可能となる。
【００１２】請求項３記載の発明は、上記請求項１また
は２記載の発明において、上記撮像素子はカラーフィル
タを一体に形成し、任意の画素の出力値に対し、その画
素と同一の色成分となる近接する複数の対応画素の出力
値と比較することで欠陥画素検出を行なうことを特徴と
する。
は２記載の発明において、上記撮像素子はカラーフィル
タを一体に形成し、任意の画素の出力値に対し、その画
素と同一の色成分となる近接する複数の対応画素の出力
値と比較することで欠陥画素検出を行なうことを特徴と
する。
【００１３】このような方法とすれば、上記請求項１ま
たは２記載の発明の作用に加えて、カラーフィルタを一
体に形成した撮像素子であっても、同一の色成分毎に欠
陥画素の検出を行なうようになるため、欠陥画素をより
正確に検出することが可能となる。
たは２記載の発明の作用に加えて、カラーフィルタを一
体に形成した撮像素子であっても、同一の色成分毎に欠
陥画素の検出を行なうようになるため、欠陥画素をより
正確に検出することが可能となる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
の一形態を説明する。
の一形態を説明する。
【００１５】まず、図１により本実施の形態に係る基本
的な概念について説明する。
的な概念について説明する。
【００１６】同図は、ビューワなどの一様な輝度の画面
を撮影して撮像素子から得られる１枚の画像データを示
すもので、この画像データが横ｍドット×縦ｎドット
（ｍ，ｎは共に自然数）の画素値から構成されているも
のとする。
を撮影して撮像素子から得られる１枚の画像データを示
すもので、この画像データが横ｍドット×縦ｎドット
（ｍ，ｎは共に自然数）の画素値から構成されているも
のとする。
【００１７】任意の行ｊ（１≦ｊ≦ｎ）において、その
先頭からｉ（１≦ｉ≦ｍ）列目の画素値をｒａｗｄａｔ
ａ［ｉ］とすると、両端の点（ｉ＝１またはｍ）を除い
て、基本的には図中の画素Ｉ１に示す如く、左右の隣接
する各１ドットずつの画素値を用いて （１） rawdata［ｉ］＞rawdata［ｉ＋１］×ａ（ａは
閾値、１＜ａ＜２） 且つ rawdata［ｉ］＞rawdata［ｉ−１］×ａ が成立するか否か （２） rawdata［ｉ］＜rawdata［ｉ＋１］×ｂ（ｂは
閾値、０＜ｂ＜１） 且つ rawdata［ｉ］＜rawdata［ｉ−１］×ｂ が成立するか否か なる比較演算を実行する。
先頭からｉ（１≦ｉ≦ｍ）列目の画素値をｒａｗｄａｔ
ａ［ｉ］とすると、両端の点（ｉ＝１またはｍ）を除い
て、基本的には図中の画素Ｉ１に示す如く、左右の隣接
する各１ドットずつの画素値を用いて （１） rawdata［ｉ］＞rawdata［ｉ＋１］×ａ（ａは
閾値、１＜ａ＜２） 且つ rawdata［ｉ］＞rawdata［ｉ−１］×ａ が成立するか否か （２） rawdata［ｉ］＜rawdata［ｉ＋１］×ｂ（ｂは
閾値、０＜ｂ＜１） 且つ rawdata［ｉ］＜rawdata［ｉ−１］×ｂ が成立するか否か なる比較演算を実行する。
【００１８】但し、ｉ＝１である場合には、左側に隣接
する画素がないため、上記（１），（２）のいずれの式
中においてもｒａｗｄａｔａ［ｉ−１］に代えてｒａｗ
ｄａｔａ［ｉ＋２］（＝ｒａｗｄａｔａ［３］）を用い
る。
する画素がないため、上記（１），（２）のいずれの式
中においてもｒａｗｄａｔａ［ｉ−１］に代えてｒａｗ
ｄａｔａ［ｉ＋２］（＝ｒａｗｄａｔａ［３］）を用い
る。
【００１９】同様に、図中の画素Ｉ２に示す如く、ｉ＝
ｍである場合には、右側に隣接する画素がないため、上
記（１），（２）のいずれの式中においてもｒａｗｄａ
ｔａ［ｉ＋１］に代えてｒａｗｄａｔａ［ｉ−２］を用
いる。
ｍである場合には、右側に隣接する画素がないため、上
記（１），（２）のいずれの式中においてもｒａｗｄａ
ｔａ［ｉ＋１］に代えてｒａｗｄａｔａ［ｉ−２］を用
いる。
【００２０】上記（１）式が成立した場合には場合には
その画素ｉは他の画素に比べて輝度値が高すぎる、所謂
「白キズ」と判断され、反対に上記（２）式が成立した
場合にはその画素ｉは他の画素に比べて輝度値が低すぎ
る、所謂「黒キズ」と判断されることになる。
その画素ｉは他の画素に比べて輝度値が高すぎる、所謂
「白キズ」と判断され、反対に上記（２）式が成立した
場合にはその画素ｉは他の画素に比べて輝度値が低すぎ
る、所謂「黒キズ」と判断されることになる。
【００２１】上記のような画素ｉに関する画素値ｒａｗ
ｄａｔａ［ｉ］の判断を走査により画像データを構成す
るすべての画素毎に判断していく。この場合、走査の方
向は、例えばテレビジョン画像におけるラスタスキャン
の如く、画素ｉを水平方向に１ラインずつ、左から右に
進めていき、且つラインを上から下へ順次進めていくこ
とで、画像を構成するすべての画素についての判断を行
なうことができるようになる。
ｄａｔａ［ｉ］の判断を走査により画像データを構成す
るすべての画素毎に判断していく。この場合、走査の方
向は、例えばテレビジョン画像におけるラスタスキャン
の如く、画素ｉを水平方向に１ラインずつ、左から右に
進めていき、且つラインを上から下へ順次進めていくこ
とで、画像を構成するすべての画素についての判断を行
なうことができるようになる。
【００２２】図２は上記のようにして横ｍドット×縦ｎ
ドットから構成される画像データの各画素値を順次走査
しながら画素欠陥を検出していく処理の内容を示すもの
である。
ドットから構成される画像データの各画素値を順次走査
しながら画素欠陥を検出していく処理の内容を示すもの
である。
【００２３】なお、上記（１），（２）式は複数の画素
欠陥が水平方向に連続して発生しないことを前提として
いる。
欠陥が水平方向に連続して発生しないことを前提として
いる。
【００２４】このように、個々の画素が欠陥であるかな
いかを、左右に隣接する画素と画素値の比較により判断
するようにした。そのため、光学レンズ系の影響により
画面の中央部と周辺部とで著しく光量が異なる場合であ
っても、隣接する画素間であれば得られるであろう画素
値はほぼ同程度である筈であり、閾値を越えて異なる画
素値はほぼ画素欠陥によりものであると考えて間違いな
いので、結果として欠陥画素の検出を極めて正確に実行
することができるようになる。
いかを、左右に隣接する画素と画素値の比較により判断
するようにした。そのため、光学レンズ系の影響により
画面の中央部と周辺部とで著しく光量が異なる場合であ
っても、隣接する画素間であれば得られるであろう画素
値はほぼ同程度である筈であり、閾値を越えて異なる画
素値はほぼ画素欠陥によりものであると考えて間違いな
いので、結果として欠陥画素の検出を極めて正確に実行
することができるようになる。
【００２５】なお、上記説明では、任意の１つの画素に
対し、その左右に隣接あるいは近接した各１つずつ計２
つの画素を用いて画素値の比較を行なうような場合につ
いて説明したが、これに限らず、任意の１つの画素に対
し、その上下に隣接あるいは近接した各１つずつ計２つ
の画素を用いて、さらには上下左右に隣接あるいは近接
した各１つずつ計４つの画素を用いて画素値の比較を行
なう用にすることも考えられる。
対し、その左右に隣接あるいは近接した各１つずつ計２
つの画素を用いて画素値の比較を行なうような場合につ
いて説明したが、これに限らず、任意の１つの画素に対
し、その上下に隣接あるいは近接した各１つずつ計２つ
の画素を用いて、さらには上下左右に隣接あるいは近接
した各１つずつ計４つの画素を用いて画素値の比較を行
なう用にすることも考えられる。
【００２６】なお、上述した図１及び図２を用いての説
明はその基本的な概念について示したものであり、一部
の白黒画像撮影用の撮像素子を除いて、実際の撮像素子
は大抵カラーフィルタと一体にして構成されているた
め、任意の画素に対し、その画素に隣接する、色成分の
異なる画素と画素値を比較しても意味がない。
明はその基本的な概念について示したものであり、一部
の白黒画像撮影用の撮像素子を除いて、実際の撮像素子
は大抵カラーフィルタと一体にして構成されているた
め、任意の画素に対し、その画素に隣接する、色成分の
異なる画素と画素値を比較しても意味がない。
【００２７】そこで、図３により代表的な色成分配列で
あるベイヤー配列の原色系（ＲＧＢ）のカラーフィルタ
を一体に構成した撮像素子について説明する。
あるベイヤー配列の原色系（ＲＧＢ）のカラーフィルタ
を一体に構成した撮像素子について説明する。
【００２８】図３（１）は原色系ベイヤー配列のカラー
フィルタの配列内容を示すもので、図示する如く、縦２
画素×横２画素の計４画素を１単位とし、ＲＧＢの各色
成分中最も輝度成分に近いＧ（緑）を対角上に２画素配
列し、残る相対する対角をＲ（赤）とＢ（青）各１画素
で配列するものである。
フィルタの配列内容を示すもので、図示する如く、縦２
画素×横２画素の計４画素を１単位とし、ＲＧＢの各色
成分中最も輝度成分に近いＧ（緑）を対角上に２画素配
列し、残る相対する対角をＲ（赤）とＢ（青）各１画素
で配列するものである。
【００２９】このような原色系ベイヤー配列のカラーフ
ィルタを一体に構成した撮像素子の出力する画像データ
は図３（２）に示すようになるもので、任意の画素に対
して同一の色成分を有する隣接画素は、左右共それぞれ
１つずつ画素をあけた２つ隣に位置するものとなる。
ィルタを一体に構成した撮像素子の出力する画像データ
は図３（２）に示すようになるもので、任意の画素に対
して同一の色成分を有する隣接画素は、左右共それぞれ
１つずつ画素をあけた２つ隣に位置するものとなる。
【００３０】したがって、上記図１と同様にこの画像デ
ータが横ｍドット×縦ｎドット（ｍ，ｎは共に自然数）
の画素値から構成されているものとすると、任意の行ｊ
（１≦ｊ≦ｎ）において、その先頭からｉ（１≦ｉ≦
ｍ）列目の画素値をｒａｗｄａｔａ［ｉ］とすると、両
端の点（ｉ＝１またはｍ）を除いて、基本的には図中の
画素Ｉ３に示す如く、左右の１つあけて隣接する同一色
成分の各１ドットずつの画素値を用いて （３） rawdata［ｉ］＞rawdata［ｉ＋２］×ａ（ａは
閾値、１＜ａ＜２） 且つ rawdata［ｉ］＞rawdata［ｉ−２］×ａ が成立するか否か （４） rawdata［ｉ］＜rawdata［ｉ＋２］×ｂ（ｂは
閾値、０＜ｂ＜１） 且つ rawdata［ｉ］＜rawdata［ｉ−２］×ｂ が成立するか否か なる比較演算を実行する。
ータが横ｍドット×縦ｎドット（ｍ，ｎは共に自然数）
の画素値から構成されているものとすると、任意の行ｊ
（１≦ｊ≦ｎ）において、その先頭からｉ（１≦ｉ≦
ｍ）列目の画素値をｒａｗｄａｔａ［ｉ］とすると、両
端の点（ｉ＝１またはｍ）を除いて、基本的には図中の
画素Ｉ３に示す如く、左右の１つあけて隣接する同一色
成分の各１ドットずつの画素値を用いて （３） rawdata［ｉ］＞rawdata［ｉ＋２］×ａ（ａは
閾値、１＜ａ＜２） 且つ rawdata［ｉ］＞rawdata［ｉ−２］×ａ が成立するか否か （４） rawdata［ｉ］＜rawdata［ｉ＋２］×ｂ（ｂは
閾値、０＜ｂ＜１） 且つ rawdata［ｉ］＜rawdata［ｉ−２］×ｂ が成立するか否か なる比較演算を実行する。
【００３１】但し、ｉ＝１または２である場合には、左
側に１つあけて隣接する同一色成分の画素がないため、
上記（３），（４）のいずれの式中においてもｒａｗｄ
ａｔａ［ｉ−２］に代えてｒａｗｄａｔａ［ｉ＋４］を
用いる。
側に１つあけて隣接する同一色成分の画素がないため、
上記（３），（４）のいずれの式中においてもｒａｗｄ
ａｔａ［ｉ−２］に代えてｒａｗｄａｔａ［ｉ＋４］を
用いる。
【００３２】同様に、図中の画素Ｉ４に示す如く、ｉ＝
ｍまたはｍ−１である場合には、右側に１つあけて隣接
する同一色成分の画素がないため、上記（３），（４）
のいずれの式中においてもｒａｗｄａｔａ［ｉ＋２］に
代えてｒａｗｄａｔａ［ｉ−４］を用いる。
ｍまたはｍ−１である場合には、右側に１つあけて隣接
する同一色成分の画素がないため、上記（３），（４）
のいずれの式中においてもｒａｗｄａｔａ［ｉ＋２］に
代えてｒａｗｄａｔａ［ｉ−４］を用いる。
【００３３】上記（３）式が成立した場合には場合には
その画素ｉは他の画素に比べて輝度値が高すぎる、所謂
「白キズ」と判断され、反対に上記（４）式が成立した
場合にはその画素ｉは他の画素に比べて輝度値が低すぎ
る、所謂「黒キズ」と判断されることになる。
その画素ｉは他の画素に比べて輝度値が高すぎる、所謂
「白キズ」と判断され、反対に上記（４）式が成立した
場合にはその画素ｉは他の画素に比べて輝度値が低すぎ
る、所謂「黒キズ」と判断されることになる。
【００３４】上記のような画素ｉに関する画素値ｒａｗ
ｄａｔａ［ｉ］の判断を走査により画像データを構成す
るすべての画素毎に判断していくもので、画像を構成す
るすべての画素についての判断を行なうことにより、撮
像素子の欠陥を生じている画素を確実に検出することが
できる。
ｄａｔａ［ｉ］の判断を走査により画像データを構成す
るすべての画素毎に判断していくもので、画像を構成す
るすべての画素についての判断を行なうことにより、撮
像素子の欠陥を生じている画素を確実に検出することが
できる。
【００３５】次に本実施の形態の変形例を説明する。
【００３６】図４（１）は原色系ベイヤー配列のカラー
フィルタを一体に構成した撮像素子の撮像面を縦４×横
４の計１６のブロックに均等に分割した状態を示すもの
で、画像データにおいてもこの１６分割した各ブロック
それぞれで、予め各色成分毎に平均値を算出しておく。
フィルタを一体に構成した撮像素子の撮像面を縦４×横
４の計１６のブロックに均等に分割した状態を示すもの
で、画像データにおいてもこの１６分割した各ブロック
それぞれで、予め各色成分毎に平均値を算出しておく。
【００３７】図４（２）は上記図４（１）で示したよう
に分割した画像データの複数のエリア中の一つを示すも
ので、当該エリア内において、任意の画素に対して同一
の色成分を有する隣接画素は、左右共それぞれ１つずつ
画素をあけた２つ隣に位置するものとなる。
に分割した画像データの複数のエリア中の一つを示すも
ので、当該エリア内において、任意の画素に対して同一
の色成分を有する隣接画素は、左右共それぞれ１つずつ
画素をあけた２つ隣に位置するものとなる。
【００３８】したがって、このｐ番目（１≦ｐ≦１６）
のブロックエリア内の画像データが横ｍドット×縦ｎド
ット（ｍ，ｎは共に自然数）の画素値から構成されてい
るものとし、任意の行ｊ（１≦ｊ≦ｎ）において、その
先頭からｉ（１≦ｉ≦ｍ）列目の画素値をｒａｗｄａｔ
ａ［ｉ］とすると、両端の点（ｉ＝１またはｍ）を除い
て、基本的には図中の画素Ｉ５に示す如く、左右の１つ
あけて隣接する同一色成分の各１ドットずつの画素値を
用いて （５） rawdata［ｉ］＞average(ｐ，Ｒ)×ｃ 且つ、 rawdata［ｉ］＞rawdata［ｉ＋２］×ａ（ａは閾値、１
＜ａ＜２） か、または rawdata［ｉ］＞rawdata［ｉ−２］×ａ が成立するか否か（但し、average(ｐ，Ｒ)：画素ｉの
色成分Ｒに対応した、当該ブロックエリアｐ内の色成分
Ｒの全画素値の平均値。ｃ：閾値、１＜ｃ＜２） （６） rawdata［ｉ］＜average(ｐ，Ｒ)×ｄ 且つ、 rawdata［ｉ］＜rawdata［ｉ＋２］×ｂ（ｂは閾値、０
＜ｂ＜１） か、または rawdata［ｉ］＜rawdata［ｉ−２］×ｂ が成立するか否か なる比較演算を実行する（画素ｉの色成分がＧまたはＢ
であった場合には、上記ａｖｅｒａｇｅ(ｐ，Ｒ)に代え
てａｖｅｒａｇｅ(ｐ，Ｇ)またはａｖｅｒａｇｅ(ｐ，
Ｂ)を用いる）。
のブロックエリア内の画像データが横ｍドット×縦ｎド
ット（ｍ，ｎは共に自然数）の画素値から構成されてい
るものとし、任意の行ｊ（１≦ｊ≦ｎ）において、その
先頭からｉ（１≦ｉ≦ｍ）列目の画素値をｒａｗｄａｔ
ａ［ｉ］とすると、両端の点（ｉ＝１またはｍ）を除い
て、基本的には図中の画素Ｉ５に示す如く、左右の１つ
あけて隣接する同一色成分の各１ドットずつの画素値を
用いて （５） rawdata［ｉ］＞average(ｐ，Ｒ)×ｃ 且つ、 rawdata［ｉ］＞rawdata［ｉ＋２］×ａ（ａは閾値、１
＜ａ＜２） か、または rawdata［ｉ］＞rawdata［ｉ−２］×ａ が成立するか否か（但し、average(ｐ，Ｒ)：画素ｉの
色成分Ｒに対応した、当該ブロックエリアｐ内の色成分
Ｒの全画素値の平均値。ｃ：閾値、１＜ｃ＜２） （６） rawdata［ｉ］＜average(ｐ，Ｒ)×ｄ 且つ、 rawdata［ｉ］＜rawdata［ｉ＋２］×ｂ（ｂは閾値、０
＜ｂ＜１） か、または rawdata［ｉ］＜rawdata［ｉ−２］×ｂ が成立するか否か なる比較演算を実行する（画素ｉの色成分がＧまたはＢ
であった場合には、上記ａｖｅｒａｇｅ(ｐ，Ｒ)に代え
てａｖｅｒａｇｅ(ｐ，Ｇ)またはａｖｅｒａｇｅ(ｐ，
Ｂ)を用いる）。
【００３９】但し、ｉ＝１または２である場合には、当
該ブロックエリア内の左側に１つあけて隣接する同一色
成分の画素がないため、上記（５），（６）のいずれの
式中においてもｒａｗｄａｔａ［ｉ−２］に代えてｒａ
ｗｄａｔａ［ｉ＋４］を用いる。
該ブロックエリア内の左側に１つあけて隣接する同一色
成分の画素がないため、上記（５），（６）のいずれの
式中においてもｒａｗｄａｔａ［ｉ−２］に代えてｒａ
ｗｄａｔａ［ｉ＋４］を用いる。
【００４０】同様に、ｉ＝ｍまたはｍ−１である場合に
は、当該ブロックエリア内の右側に１つあけて隣接する
同一色成分の画素がないため、上記（５），（６）のい
ずれの式中においてもｒａｗｄａｔａ［ｉ＋２］に代え
てｒａｗｄａｔａ［ｉ−４］を用いる。
は、当該ブロックエリア内の右側に１つあけて隣接する
同一色成分の画素がないため、上記（５），（６）のい
ずれの式中においてもｒａｗｄａｔａ［ｉ＋２］に代え
てｒａｗｄａｔａ［ｉ−４］を用いる。
【００４１】上記（５）式が成立した場合には場合には
その画素ｉは他の画素に比べて輝度値が高すぎる、所謂
「白キズ」と判断され、反対に上記（６）式が成立した
場合にはその画素ｉは他の画素に比べて輝度値が低すぎ
る、所謂「黒キズ」と判断されることになる。
その画素ｉは他の画素に比べて輝度値が高すぎる、所謂
「白キズ」と判断され、反対に上記（６）式が成立した
場合にはその画素ｉは他の画素に比べて輝度値が低すぎ
る、所謂「黒キズ」と判断されることになる。
【００４２】上記のような画素ｉに関する画素値ｒａｗ
ｄａｔａ［ｉ］の判断を走査により分割したブロックエ
リア内の画像データを構成するすべての画素毎に判断し
ていくもので、撮像素子の撮像面を画面の中央／周辺を
勘案して分割した複数のエリア毎に任意の画素をその画
素に隣接、近接する同一エリア内の同一色成分の複数の
対応画素の画素値と比較するようにしたので、欠陥画素
をより正確に検出することが可能となる。
ｄａｔａ［ｉ］の判断を走査により分割したブロックエ
リア内の画像データを構成するすべての画素毎に判断し
ていくもので、撮像素子の撮像面を画面の中央／周辺を
勘案して分割した複数のエリア毎に任意の画素をその画
素に隣接、近接する同一エリア内の同一色成分の複数の
対応画素の画素値と比較するようにしたので、欠陥画素
をより正確に検出することが可能となる。
【００４３】なお、上記図４では撮像素子の撮像面を縦
４×横４の計１６のブロックに均等に分割した場合につ
いて例示したが、本発明はこれに限ることなく、例えば
図５（１）に示すように単に画像を画面の中央部と周辺
部の２つのエリアに分割するものとしてもよいし、ある
いは図５（２）に示すように縦３×横３の計９のブロッ
クに均等に分割するものとしてもよく、さらには図５
（３）に示すように画面中央より同心的な大きさの異な
る正方形により４つのエリアに分割するなど、光学レン
ズ系の特性や必要とされる比較演算の能力等に応じたエ
リア分割を行なうことで、より最適な結果を得ることが
できる。
４×横４の計１６のブロックに均等に分割した場合につ
いて例示したが、本発明はこれに限ることなく、例えば
図５（１）に示すように単に画像を画面の中央部と周辺
部の２つのエリアに分割するものとしてもよいし、ある
いは図５（２）に示すように縦３×横３の計９のブロッ
クに均等に分割するものとしてもよく、さらには図５
（３）に示すように画面中央より同心的な大きさの異な
る正方形により４つのエリアに分割するなど、光学レン
ズ系の特性や必要とされる比較演算の能力等に応じたエ
リア分割を行なうことで、より最適な結果を得ることが
できる。
【００４４】その他、本発明は上記実施の形態に限ら
ず、その要旨を逸脱しない範囲内で種々変形して実施す
ることが可能であるものとする。
ず、その要旨を逸脱しない範囲内で種々変形して実施す
ることが可能であるものとする。
【００４５】さらに、上記実施の形態には種々の段階の
発明が含まれており、開示される複数の構成要件におけ
る適宜な組合わせにより種々の発明が抽出され得る。例
えば、実施の形態に示される全構成要件からいくつかの
構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題
の欄で述べた課題の少なくとも１つが解決でき、発明の
効果の欄で述べられている効果の少なくとも１つが得ら
れる場合には、この構成要件が削除された構成が発明と
して抽出され得る。
発明が含まれており、開示される複数の構成要件におけ
る適宜な組合わせにより種々の発明が抽出され得る。例
えば、実施の形態に示される全構成要件からいくつかの
構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題
の欄で述べた課題の少なくとも１つが解決でき、発明の
効果の欄で述べられている効果の少なくとも１つが得ら
れる場合には、この構成要件が削除された構成が発明と
して抽出され得る。
【００４６】
【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、任意の画
素の出力値をその画素に近接する複数の対応画素の出力
値と比較することで、周辺光量の低下をも考慮して正確
に欠陥画素を検出することが可能となる。
素の出力値をその画素に近接する複数の対応画素の出力
値と比較することで、周辺光量の低下をも考慮して正確
に欠陥画素を検出することが可能となる。
【００４７】請求項２記載の発明によれば、上記請求項
１記載の発明の効果に加えて、撮像素子の撮像面を画面
の中央／周辺を勘案して分割した複数のエリア毎に任意
の画素をその画素に近接する同一エリア内の複数の対応
画素の出力値と比較するようにしたので、光学レンズ系
の特性や必要とされる比較演算の能力等に応じて最適な
エリア分割を行なうことで、欠陥画素をより正確に検出
することが可能となる。
１記載の発明の効果に加えて、撮像素子の撮像面を画面
の中央／周辺を勘案して分割した複数のエリア毎に任意
の画素をその画素に近接する同一エリア内の複数の対応
画素の出力値と比較するようにしたので、光学レンズ系
の特性や必要とされる比較演算の能力等に応じて最適な
エリア分割を行なうことで、欠陥画素をより正確に検出
することが可能となる。
【００４８】請求項３記載の発明によれば、上記請求項
１または２記載の発明の効果に加えて、カラーフィルタ
を一体に形成した撮像素子であっても、同一の色成分毎
に欠陥画素の検出を行なうようになるため、欠陥画素を
より正確に検出することが可能となる。
１または２記載の発明の効果に加えて、カラーフィルタ
を一体に形成した撮像素子であっても、同一の色成分毎
に欠陥画素の検出を行なうようになるため、欠陥画素を
より正確に検出することが可能となる。
【図１】本実施の一形態に係る基本的な概念を示す図。
【図２】同実施の形態に係る画像を走査しながらの欠陥
画素検出の処理内容を示すフローチャート。
画素検出の処理内容を示すフローチャート。
【図３】同実施の形態に係るカラーフィルタを一体に形
成した撮像素子の欠陥画素検出の方法を示す図。
成した撮像素子の欠陥画素検出の方法を示す図。
【図４】同実施の形態に係る変形例での欠陥画素検出の
方法を示す図。
方法を示す図。
【図５】等実施の形態に係る変形例での他のエリア分割
方法を例示する図。
方法を例示する図。
ｉ，Ｉ１〜Ｉ６…画素
Claims (3)
- 【請求項１】欠陥画素の検出対象となる撮像素子にて一
様な明るさの画像を撮影し、その撮影によって得られる
各画素単位の出力値から欠陥画素を検出する撮像素子の
欠陥画素検出方法であって、 任意の画素の出力値に対し、その画素に近接する複数の
対応画素の出力値と比較することで欠陥画素検出を行な
うことを特徴とする撮像素子の欠陥画素検出方法。 - 【請求項２】撮像素子に使用される光学レンズの周辺光
量特性により当該撮像素子の撮像面を複数のエリアに分
割し、任意の画素の出力値に対し、その画素に近接する
同一エリア内の複数の対応画素の出力値及び同一エリア
内の平均値と比較することで欠陥画素検出を行なうこと
を特徴とする請求項１記載の撮像素子の欠陥画素検出方
法。 - 【請求項３】上記撮像素子はカラーフィルタを一体に形
成し、任意の画素の出力値に対し、その画素と同一の色
成分となる近接する複数の対応画素の出力値と比較する
ことで欠陥画素検出を行なうことを特徴とする請求項１
または２記載の撮像素子の欠陥画素検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000289260A JP2002101342A (ja) | 2000-09-22 | 2000-09-22 | 撮像素子の欠陥画素検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000289260A JP2002101342A (ja) | 2000-09-22 | 2000-09-22 | 撮像素子の欠陥画素検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002101342A true JP2002101342A (ja) | 2002-04-05 |
Family
ID=18772692
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000289260A Pending JP2002101342A (ja) | 2000-09-22 | 2000-09-22 | 撮像素子の欠陥画素検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002101342A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005184782A (ja) * | 2003-11-28 | 2005-07-07 | Pentax Corp | 欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法、及び欠陥画素検出プログラム |
| JP2005328134A (ja) * | 2004-05-12 | 2005-11-24 | Sony Corp | 撮像装置および固体撮像素子の欠陥検出方法 |
| JP2006060744A (ja) * | 2004-08-24 | 2006-03-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ノイズリダクション装置 |
| JP2007150717A (ja) * | 2005-11-28 | 2007-06-14 | Sharp Corp | 画素欠陥検査装置、画素欠陥検査方法、制御プログラムおよび可読記録媒体 |
| US7853097B2 (en) | 2002-12-27 | 2010-12-14 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| WO2022019080A1 (ja) * | 2020-07-21 | 2022-01-27 | 株式会社デンソー | 物体検出装置および物体検出装置の故障を検出する方法 |
-
2000
- 2000-09-22 JP JP2000289260A patent/JP2002101342A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7853097B2 (en) | 2002-12-27 | 2010-12-14 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| US8031968B2 (en) | 2002-12-27 | 2011-10-04 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| US8369651B2 (en) | 2002-12-27 | 2013-02-05 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| JP2005184782A (ja) * | 2003-11-28 | 2005-07-07 | Pentax Corp | 欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法、及び欠陥画素検出プログラム |
| JP4598180B2 (ja) * | 2003-11-28 | 2010-12-15 | Ｈｏｙａ株式会社 | 欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法、及び欠陥画素検出プログラム |
| JP2005328134A (ja) * | 2004-05-12 | 2005-11-24 | Sony Corp | 撮像装置および固体撮像素子の欠陥検出方法 |
| JP2006060744A (ja) * | 2004-08-24 | 2006-03-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ノイズリダクション装置 |
| JP2007150717A (ja) * | 2005-11-28 | 2007-06-14 | Sharp Corp | 画素欠陥検査装置、画素欠陥検査方法、制御プログラムおよび可読記録媒体 |
| JP4697959B2 (ja) * | 2005-11-28 | 2011-06-08 | シャープ株式会社 | 画素欠陥検査装置、画素欠陥検査方法、制御プログラムおよび可読記録媒体 |
| WO2022019080A1 (ja) * | 2020-07-21 | 2022-01-27 | 株式会社デンソー | 物体検出装置および物体検出装置の故障を検出する方法 |
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