JP2001016599A - 画素欠陥補正装置および画素欠陥検出装置ならびに方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 撮像素子の有する色フィルタに応じて、回路
規模が増大することなく、欠陥画素を補正でき、また、
欠陥画素を安定して検出することのできる画素欠陥補正
装置および画素欠陥検出装置ならびに方法を提供。 【解決手段】 欠陥画素検出部24および欠陥補正処理部
26には、それぞれＹＣ変換処理部にて処理されたＹＣ画
像信号が入力され、撮像素子14にて撮像された撮像画像
における欠陥画素が、その周辺画素の画素値に基づいて
欠陥画素検出部24にて検出され、その検出に応じた欠陥
情報に基づいてその欠陥画素の画素値が欠陥補正処理部
26にて補正される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、色フィルタが被着
された撮像素子から出力される画素信号を入力し、撮像
素子における欠陥画素による画素信号を検出し、補正す
る画素欠陥補正装置および画素欠陥検出装置ならびに方
法に係り、たとえば、原色フィルタがその撮像面に被着
された固体撮像素子における画素欠陥を補正する画素欠
陥補正装置および画素欠陥検出装置ならびに方法に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、被写界を撮像して、その被写界画
像および映像をディジタル化して、磁気テープや回転記
録媒体、さらには半導体メモリに記録するディジタルカ
メラが普及してきている。このようなカメラには、ＣＣ
Ｄ固体撮像素子やＭＯＳ型撮像素子が搭載され、その高
画素密度化に対する要求が高まってきている。

【０００３】たとえば、ディジタルスチルカメラでは、
百万画素以上の撮像セルを有する固体撮像素子が用いら
れるようになってきた。このような単板の撮像素子の各
撮像セルには、カラー画像を形成するための各種色フィ
ルタが搭載されている。

【０００４】しかし、各撮像セルでは、種々の理由から
受光量に応じた電荷が生成されない、いわゆるキズが発
生する。このキズ状態のセル、つまり欠陥画素に対応す
る画素信号は、その画像が表示されたときに、状況に応
じて目立ってしまい、せっかくの撮影画像の品質を落と
す原因となっていた。

【０００５】そこで、このようなカラー撮像素子を使用
する場合、各種の欠陥画素の補正方式が開発および実用
化されている。

【０００６】たとえば、特開平6-30425 号公報には、補
色市松方式の色コーティングのカラーＣＣＤ撮像素子の
出力をサンプルホールドしディジタル化した後欠陥補正
し、欠陥補正されたＣＣＤ出力に各種の信号処理を施し
てビデオ出力を得る固体撮像装置が開示されていた。

【０００７】また、特開平9-205586号公報には、欠陥画
素に関する情報を不揮発性メモリに記憶しておき、ＣＣ
Ｄ固体撮像素子の欠陥画素検出システムが開示されてい
た。この公報では、固体撮像素子と信号処理回路との間
に、欠陥画素の検出とその補正とを行うための欠陥画素
検出補正回路が設けられているものであった。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来で
は、欠陥画素補正を信号処理の前に行っていたため、た
とえば、ソフトウェアにて補正処理を行う場合では、信
号処理に応じた制限時間内に補正できる画素数に制限さ
れるという問題があった。

【０００９】また、単板のカラー撮像素子では、特に色
フィルタ配列に応じた少ない画素のＲＧＢ画素、つまり
同色色フィルタ間で隣接している画素で補間処理する必
要があり、このため、周りの画素を保持するラインメモ
リやレジスタ等が補正回路内に多く必要となって、補正
回路が複雑化するという問題があった。つまり、欠陥画
素を補正する際に、その補正対象画素の前、後の画素や
上下ラインの同色隣接画素の色フィルタの画素を使用す
ると画素間距離が大きくなって、このような画素を記憶
保持するためにラインメモリやレジスタ等の記憶回路を
多く補正回路内に設ける必要があった。

【００１０】本発明はこのような従来技術の欠点を解消
し、撮像素子の有する色フィルタに応じて、回路規模が
増大することなく、欠陥画素を補正でき、また、欠陥画
素を安定して検出することのできる画素欠陥補正装置お
よび画素欠陥検出装置ならびに方法を提供することを目
的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は上述の課題を解
決するために、色フィルタが被着された撮像素子から出
力される画素信号を入力し、撮像素子における欠陥画素
による画素信号を補正する画素欠陥補正装置において、
この装置は、画素信号が輝度成分および色差成分に変換
された画像信号を入力する入力手段と、欠陥画素の位置
に応じた欠陥情報を出力する欠陥情報出力手段と、入力
手段に入力される画像信号における欠陥画素を補正する
欠陥補正手段とを含み、欠陥補正手段は、欠陥情報に応
じた画素の画素値を、この画素の隣接画素の画素値で補
正して出力することを特徴とする。

【００１２】また、本発明は上述の課題を解決するため
に、色フィルタが被着された撮像素子から出力される画
素信号を入力し、撮像素子における欠陥画素による画素
信号を検出する画素欠陥検出装置において、この装置
は、画素信号が輝度成分および色差成分に変換された画
像信号を入力する入力手段と、画像信号の変化量を検出
する検出手段とを含み、検出手段は、対象画素周辺の画
素値を取得する第１の取得手段と、対象画素の画素値を
取得する第２の取得手段と、第１および第２の取得手段
にて取得したそれぞれの画素値に基づいて、対象画素が
欠陥画素として決定するか否かを判定する判定手段とを
含み、判定手段は、判定結果を出力することを特徴とす
る。

【００１３】さらに、本発明は上述の課題を解決するた
めに、色フィルタが被着された撮像素子から出力される
画素信号を入力し、撮像素子における欠陥画素による画
素信号を補正する画素欠陥補正方法において、この方法
は、画素信号が輝度成分および色差成分に変換された画
像信号を入力する入力工程と、欠陥画素の位置に応じた
欠陥情報を出力する欠陥情報出力工程と、入力工程にて
入力される画像信号における欠陥画素を補正する欠陥補
正工程とを含み、欠陥補正工程は、欠陥情報に応じた画
素の画素値を、この画素の隣接画素の画素値で補正する
ことを特徴とする。

【００１４】また、本発明は上述の課題を解決するため
に、色フィルタが被着された撮像素子から出力される画
素信号を入力し、撮像素子における欠陥画素による画素
信号を検出する画素欠陥検出方法において、この方法
は、画素信号が輝度成分および色差成分に変換された画
像信号を入力する入力工程と、画像信号の変化量を検出
する検出工程とを含み、検出工程は、対象画素周辺の画
素値を取得する第１の取得工程と、対象画素の画素値を
取得する第２の取得工程と、第１および第２の取得工程
にて取得したそれぞれの画素値に基づいて、対象画素が
欠陥画素として決定するか否かを判定する判定工程とを
含み、判定工程は、判定結果を出力することを特徴とす
る。

【００１５】

【発明の実施の形態】次に添付図面を参照して本発明に
よる画素欠陥補正装置をディジタルカメラに適用した実
施例を詳細に説明する。図１を参照すると、撮像レンズ
12を介して結像される光学像を撮像素子14にて光電変換
し、被写界像に応じたカラー画像信号を生成してメモリ
カード16等の情報記憶媒体に記憶させるディジタルカメ
ラ10が示されている。このディジタルカメラ10は、ＹＣ
処理部18の出力信号に対して欠陥画素の検出処理および
補正処理を行うことにより、撮像素子14にて発生する欠
陥画素を修正する機能を有する。なお、以下の説明にお
いて本発明に直接関係のない部分は、図示およびその説
明を省略し、また、信号の参照符号はその現われる接続
線の参照番号で表わす。

【００１６】撮像素子14は、垂直および水平方向に複数
の撮像セルが形成され、各セルのフォトダイオードに到
達する光の量に応じた電荷を生成し、これを各セルに対
応する複数の垂直電荷転送路と水平電荷転送路を介して
読み出し、各セルの受光量に応じた画素値を表す画素信
号として出力100 に出力する固体撮像素子である。各セ
ルの受光面には、撮像レンズ12からの光束を集光するマ
イクロレンズとカラー画像を生成するための分光特性が
異なる色フィルタとが形成されており、本実施例では、
図２に示すフィルタ配列の原色カラーフィルタが被着さ
れて、それぞれ分光感度特性がＲ・Ｇ・Ｂ（赤・緑・
青）ごとに異なる撮像セルが形成されている。このカラ
ーフィルタは、垂直方向にＧフィルタがストライプ状に
配列され、Ｇフィルタ列の間ごとにＲＢ、ＢＲの色フィ
ルタ列が交互に配列されているＧストライプＲＢ完全市
松配列のカラーフィルタである。

【００１７】固体撮像素子には、一般に、その製造上の
問題から、受光量に応じた電気信号を生成しない撮像セ
ルが発生し、たとえば、受光量とは無関係に明るい状態
の画素を示す白キズや暗い状態を示す黒キズなどが、そ
の出力信号に含まれる。これらを完全になくすように選
別すると歩留まりの低下につながる。そこで、そのキズ
発生の程度に応じて、撮像素子の出力信号に対して、そ
のキズ状態の撮像セルからの画素値を補正することが行
われる。たとえば、特定のＲ画素が欠陥画素であるとす
ると、その欠陥画素に対して、同一の色成分に着目して
隣接する他のＲ画素の値を用いて、欠陥画素の画素値を
補正することが行われていた。しかし、本実施例では、
このような方法にはよらずに、画素信号100 を変換して
生成した輝度信号Ｙおよび色差信号ＣのＹＣ画像信号に
対して欠陥補正を行い、また、このようなＹＣ画像信号
で欠陥画素を検出するように構成されている。

【００１８】撮像素子14の出力100 には、フィルタ配列
に応じた点順次のRGB 画素信号が出力され、不図示の相
関二重サンプリング回路を経てサンプル・ホールド回路
20に入力される。ここで保持されたRGB 点順次の画素信
号102 は、アナログ・ディジタル変換(ADC) 回路22に
て、離散的なディジタル画像信号に変換される。

【００１９】アナログ・ディジタル変換(ADC) 回路の出
力104 はＹＣ処理部18に接続され、ＹＣ処理部18は、AD
C 回路22より出力されるRGB 画素信号104 を輝度信号Ｙ
および色差信号ＣのＹＣ画像信号に変換する処理回路で
ある。

【００２０】本実施例におけるＹＣ処理部18は、処理対
象の画素に対して１つ前のラインにおける前ライン画素
と、１つ後のラインにおける後ライン画素との垂直
（縦）方向の上下に配置された３画素、もしくはそれに
水平方向に隣接する３画素を加えた６画素を用いて、画
像信号の高域成分YHと低域成分YLとを生成し、図３ない
し図５に示すような輝度信号Ｙと、色差信号Cr,Cb とを
生成する。

【００２１】詳しくはＹＣ処理部18は、図６に示すよう
に、ディジタル化されたRGB 画素信号104 を一時記憶す
るバッファメモリ600 と、バッファメモリ600 から読み
出されるRGB 画素信号602 を選択して所望の出力604a,6
04b,604c,604d に出力する選択回路(SEL) 606 とを有し
ている。その出力604aに接続されるYH生成処理部608
と、出力604bに接続されるYL生成処理部610 とは、入力
される縦方向に分布する３画素値を用いて所定の演算方
法により輝度信号の高域成分YHと低域成分YLとを算出す
る。YH生成処理部608 の高域成分YH出力は、加算器612
の一方の入力とローパスフィルタ(LPF) 614 とに接続さ
れ、YL生成処理部610 の低域成分出力は加算器612 の他
方の入力に接続されている。加算器612 は、高域成分YH
と低域成分YLとを合成して信号(YL-YH) を生成し、ロー
パスフィルタ(LPF) 616 に供給する。加算器618 はそれ
ぞれのLPF 614,616 にて処理された成分信号を(YL-YH)+
YHという輝度信号の合成を行って、輝度信号Ｙを出力10
6 に出力する。

【００２２】選択回路606 の出力604c,604d にそれぞれ
接続されるCr生成処理部620 およびCb生成処理部622
は、同様に、垂直方向に分布する３画素値もしくは上述
したような６画素値を用いて色差成分Cr,Cb を生成し、
ローパスフィルタ(LPF) 624,626 はそれぞれこれら色差
成分をフィルタ処理して色差信号Ｃ(Cr,Cb) を出力108
に出力する。

【００２３】このようにＹＣ処理回路18は、RGB 画素デ
ータから補間処理して各画素位置におけるRGB 各画素値
を算出してからＹＣ処理を行うのではなく、隣接する少
なくとも縦３画素から輝度および色差成分の各信号を生
成する。ＹＣ処理回路18の出力106 および108 は、欠陥
画素検出部24と欠陥補正処理部26とにそれぞれ接続され
ている。

【００２４】欠陥画素検出部24は、入力106,108 にそれ
ぞれ入力される輝度信号Ｙと色差信号Ｃから、撮像素子
14における欠陥画素を検出する処理部である。欠陥画素
検出部24は、輝度信号Ｙおよび色差信号Ｃの変化量か
ら、処理対象の画素が欠陥画素であるか否かを判定し、
欠陥画素を検出した際に欠陥情報を出力する。

【００２５】本実施例における欠陥画素検出部24は、処
理対象画素の画素値と、処理対象画素に近接して周辺に
存在する周辺画素値とにより、その処理対象画素が欠陥
画素であるか否か、つまり正常な画素値であるかを判定
する。詳しくは図７に示すように、欠陥画素検出部24
は、現画素が欠陥画素であるか否かを判定する際に、処
理対象画素の周辺の画素値を取得する周辺画素取得処理
部700 と、処理対象画素の画素値を取得する対象画素取
得処理部702 と、処理対象画素が欠陥画素であるか否か
を判定する判定処理部704 と、判定処理部704 にて判定
するための閾値を可変に設定する設定処理部706 とを含
む。判定処理部704 は、さらに周辺画素の画素値を平均
化する平均化処理部708 と、平均化された周辺画素値と
対象画素の画素値との相関関係を算出する演算処理部71
0 と、演算処理部710 における演算結果と閾値とを比較
して、処理対象画素が欠陥の画素値であると判定するか
否かを示す比較結果を出力する比較処理部712 とを含
む。

【００２６】周辺画素所得処理部700 は、処理対象画素
周辺に検出領域を設け、それらの画素値を一時記憶保持
する機能を有する。本実施例における周辺画素所得処理
部700 は、図８に示すように対象画素800 を中心とする
縦横５×５画素領域802 の各画素値をそれぞれ記憶す
る。これに限らず周辺画素所得処理部700 は、図９に示
すように、対象画素900 周辺の３×３画素領域902 以上
の縦横がそれぞれ奇数個の画素数で構成される検出領域
の画素値を取得するとよい。この検出領域の大きさは、
撮像素子14の総画素数と希望する解像度とに応じてさら
に大きい領域としてもよい。本実施例では、ＹＣ信号を
生成する際に垂直方向の３画素を使用しているので、ま
た、画素欠陥の検出のためには、それと等しい縦横の画
素数か、もしくはそれよりも大きな画素数の検出領域を
設定する。

【００２７】図７に戻って、周辺画素取得処理部700
は、周辺画素の画素値を判定処理部704 の平均化処理部
708 に供給する。また、周辺画素所得処理部700 は、処
理対象画素を対象画素取得処理部702 に供給し、対象画
素取得処理部702 は、その画素値の出力タイミングを採
るために一時記憶して、判定処理部704 の演算処理部71
0 に供給する。平均化処理部708 は、入力される周辺画
素値の平均を算出する処理部であり、検出領域における
中央の処理対象画素を除く画素値平均を算出する。

【００２８】演算処理部710 は、平均化処理部708 にて
算出された画素値平均と、供給される対象画素の画素値
との差およびその絶対値を算出し、こらら値の相関度を
算出する処理部である。したがって本実施例では、算出
結果が大きいほど相関度は低く、逆に小さいほど相関度
が高いこととなる。相関度が高い場合には、対象画素の
画素値は、周辺画素との相関が高く、対象画素が欠陥画
素であってもそうではなくても、キズとしては目立たな
い画素値である。逆に相関度が低い場合には、対象画素
の画素値が周辺画素との相関が低く、たとえば輝点や暗
点として目立つキズ状態である。

【００２９】算出された相関度は比較処理部712 に送ら
れ、比較処理部712 は、その相関度と、設定処理部706
から供給される閾値とを比較することにより、相関度を
ある幅を持って、許容される範囲内であるか否かを比較
判定する。比較処理部712 の比較出力714 は、欠陥画素
検出部24の出力を構成し、欠陥補正処理部26に接続され
ている。このように本実施例では、撮像素子14における
画素欠陥状態と撮像画像信号とのかねあいで欠陥判定し
ており、撮像画像上で目立つようなキズとして認められ
るような欠陥状態の画素に対してこれを補正するための
欠陥情報が生成される。なお、実際の撮影に先立って、
乳白色板やレンズカバー等を使用し、明状態および暗状
態における黒キズおよび白キズをそれぞれ検出して、そ
れらキズ位置を記憶し、その位置情報に基づいて、その
後の欠陥補正を行う場合などでは、たとえば明状態に対
して白キズが発生していてもそのレベルに応じて補正せ
ず、逆に、暗状態に対して黒キズが発生していたとして
も、そのキズレベルによっては補正しなくてもよい。

【００３０】また、輝度信号Ｙのみを使用して画素欠陥
を判定してもよく、また、輝度信号Ｙと色差信号Ｃとを
別々に用いてそれぞれ欠陥判定し、両者の判定結果か
ら、対象画素を欠陥画素であるか否かをさらに判断して
もよい。欠陥判定レベルを可変に設定するこの閾値は、
手動設定する場合のほか、たとえば、カメラ10にて画像
データを圧縮符号化する際の圧縮モードや画像サイズに
応じて変更可能としたり、欠陥画素であると判定された
画素に被着されている色フィルタの種類に応じて閾値を
変更してもよい。また、カメラ10における動画像撮像モ
ード時と、静止画像をメモリカード16に記録する撮影記
録モードとで閾値を異なるようにするとよい。

【００３１】また、検出領域における周辺画素の画素値
平均と対象画素とに基づいて、欠陥判定する際に、上記
の演算処理部710 および比較処理部712 の構成に代え
て、画素値平均に所定幅の上限値および下限値を設定
し、対象画素の画素値が上限値を超えるか否かを比較判
定し、さらに、下限値未満であるか否かを比較判定し、
対象画素の画素値がこれら限界値の範囲内であるか否か
を判定するようにしてもよい。この場合、設定処理部70
6 は、これら上限値および下限値を設定する。

【００３２】このように、欠陥画素検出部24は、ＹＣ変
換後の画像データに基づいて、欠陥画素を検出するよう
に構成されているが、これにかぎらず、たとえば欠陥画
素の位置が予め判明している場合では、たとえば図12に
示すディジタルカメラ800 の構成例のように、その位置
座標を欠陥補正部802,804 にそれぞれ供給してよい。こ
の例では、ＹＣ処理部18の出力を各ローパスフィルタ(L
PF) 806,808 に入力し、LPF 806,808 の出力に対して、
欠陥画素に対する画素値補正を各欠陥補正部802,804 に
て行うように構成されている。欠陥補正部802,804 は、
欠陥画素補正制御部810 より供給される欠陥情報に従っ
て、処理対象画素の画素値をその隣接画素の画素値で補
間処理する。補正制御部810 では、メモリ812 に記憶さ
れている位置情報に応じた欠陥情報を生成して各欠陥補
正部802,804 に出力する。

【００３３】また、このような位置座標記憶による欠陥
補正処理と、図１に示す実施例における欠陥画素検出処
理とを組み合わせて、メモリ812 に記憶された位置座標
にはない画素位置の異常画素値を検出して補正するよう
にするとよい。また、欠陥画素検出部24は、フレームメ
モリなどにてＹＣ画像データを記憶している場合には、
その記憶領域における記憶アドレス等を出力するように
してもよい。

【００３４】図１に戻って、欠陥補正処理部26は、欠陥
画素と判定された画素値をその隣接画素で補間処理する
画素値補正処理部である。本実施例における欠陥補正処
理部26は、欠陥画素検出部24より供給される欠陥情報に
応動して輝度信号Ｙおよび色差信号Ｃに対して画素値を
隣接画素で補間処理し、正常な画素をそのまま出力する
とともに補間された画素値を出力する。

【００３５】本実施例における欠陥補正処理部26は、現
画素に対して、図10の画素1000で示すように、水平方向
に連続する１画素前および１画素後の２つの画素値を使
用して、たとえばこれらの平均値を対象画素の画素値と
して置き換える補間処理を行う。この場合、いずれか１
つの画素値で現画素の画素値を置き換える補間処理を行
ってもよい。

【００３６】また、欠陥補正処理部26は、現画素に対し
て、図10の画素1002で示すように、垂直方向に連続する
前ライン画素および／または後ライン画素を使用して、
現画素の画素値を補間するように構成されていてもよ
く、さらには、図10の画素1004で示すように、上下左右
に隣接する４画素値を用いて現画素値を補正するように
してもよい。また、図示はしていないが、現画素に対し
て斜め方向に隣接している画素値を使用して、現画素値
を補正するようにしてもよい。これら補正処理に用いる
画素については、カラーフィルタの配列にはよらずに、
１画素分となりの隣接画素のＹＣ画素を使用することが
できる。図10で示した例では、もともとはＧフィルタが
被着されていた画素に対する画素位置であったが、他の
フィルタ色に対応する位置の画素についても、たとえば
図11に示すように、対象画素に隣接する隣接画素のいず
れか、もしくはいずれか複数、さらには隣接画素のすべ
てを使用して、欠陥情報に応じた画素の画素値を補正す
ることができる。

【００３７】これら補正のために使用される画素につい
ては、たとえば、各画素周辺の画素ごとに処理対象画素
との相関度を別に求めて、相関度のより高い隣接画素を
使用して欠陥情報に応じた対象画素を補正するとよい。
また、元々の画素に使用されている色フィルタの種類に
応じて、前述の閾値を異なるように設定するようにして
もよい。

【００３８】欠陥画素補正処理部26の出力110,112 は、
ローパスフィルタ(LPF) 28,30 にそれぞれ接続され、LP
F 28,30 は、画像データの高域成分を濾過してその中低
域成分を通過させるディジタルフィルタである。LPF 2
8,30 の出力からは、正常に処理された輝度信号Ｙと、
色差信号Cr,Cb とが出力される。LPF 28,30 の各出力11
4,116 は、それぞれ圧縮処理部32に接続されており、圧
縮処理部32は、たとえばレリーズ釦の押下に応動して撮
像されて、欠陥補正された画像データを圧縮符号化す
る。

【００３９】本実施例における圧縮処理部32は、JPEG方
式に準拠する静止画圧縮方式に準拠し、輝度信号Ｙおよ
び色差信号Cr,Cb それぞれの各ブロックをそれぞれDCT
変換し、量子化する。圧縮処理部32は、量子化したデー
タの係数を設定される圧縮率に応じて切り捨てて、残る
情報に対してハフマン符号化する。圧縮処理部32は、こ
のようにして符号化した画像データを、カードインタフ
ェース(I/F) 回路34に出力し、インタフェース回路34
は、着脱自在なメモリカード16に適合する記録形式に
て、符号化した画像データと各種付属情報とを、その記
録領域に書き込む。本実施例におけるメモリカード16
は、EEPROM、フラッシュメモリ等の半導体メモリを備
え、回路34からのコマンドに応じて符号化データ等を所
定の記憶領域に記憶し、また、記憶されたデータを読み
出して回路34に出力する。また、メモリカード16に代え
て、光および／または磁気にて情報を記録する情報記録
媒体が使用されていてもよい。

【００４０】システムコントローラ40は、カメラ10の各
部を制御して、撮像および記録制御を行うマイクロコン
ピュータおよびその周辺回路による制御回路である。シ
ステムコントローラ40は、上述した欠陥補正処理部26に
おける補間処理や、欠陥画素検出部24における検出処理
にて行われる各種演算、比較処理をソフトウエアによる
手順にて行ってもよく、その場合、たとえば欠陥を行う
場合には図７に示した処理機能を実現するプログラムが
コントローラ40にロードされる。

【００４１】また、欠陥画素検出部24および欠陥補正処
理部26は、上述のような情報記憶媒体に記録されたＹＣ
画像データに対し、その画像データの撮像時における欠
陥画素を判定して、その画素値を補正することもでき
る。これは、たとえば、撮像信号を無圧縮にて情報記録
媒体に記録し、その再生時に各種画像信号処理を行う場
合などで有効である。この場合のカメラでは、欠陥画素
補正処理を行わずに処理負荷が低減されるので、たとえ
ば高画素密度にて撮像を行う場合に他の画像信号処理に
要する時間を増やしたり、撮影間隔を短縮化することが
できる。

【００４２】以上説明したように、欠陥補正処理部26で
は、ＹＣ処理部18にて処理されたＹＣ画像信号が入力さ
れ、欠陥情報に応じた対象画素の画素値がその隣接画素
で補間されるから、撮像素子14のフィルタ配列によらず
に、欠陥画素を補正することができる。また、欠陥画素
検出部24では、同様にＹＣ画像信号が入力されて、ＹＣ
画像信号に対する検出領域における各画素値に基づい
て、処理対象画素の周辺画素に対する画素値の変化量が
検出されて、撮像画像にてキズとして目立って現れる画
素を検出することができる。

【００４３】また、カラー撮像素子の出力をＹＣ変換す
る際に、たとえば縦３画素の画素値を用いてＹＣ画像信
号が生成され、それをカバーする検出領域が設けられる
場合には、ＹＣ変換の際に使用される画素にて派生する
欠陥画素の影響を、欠陥補正の際に受けずに、良好な補
正処理が行われる。

【００４４】このように、上記実施例では、ＹＣ画像信
号に対して欠陥画素の検出および補正処理を行っている
ので、フィルタ配列によらずに、また、画素間距離の大
きな画素で補間処理を行うことなく、キズとして決定さ
れる画素を補正することができる。この場合、撮像素子
における空隙画素、つまり、所定の画素位置における色
成分フィルタ以外の成分がその画素位置にないために必
要となる補間処理を行わずにすむ。このため欠陥検出お
よび補正の際に、色フィルタの配列に応じた画素を保持
する必要がなく、回路規模の増大を回避することができ
る。また、撮像画像について、キズとして目立たないよ
うな欠陥画素に対しては、その程度に応じて補正せずに
すむ場合があり、この場合も処理負荷が軽減される。

【００４５】また、画像圧縮符号化する際には、輝度お
よび色差信号に対して処理するのがその圧縮効果からみ
て適当であるが、そのように処理して情報記録媒体に記
録されたＹＣ画像信号に対しても、また、非圧縮で情報
記録媒体に記録されたＹＣ画像データに対しても、それ
らが撮像された際の画素欠陥を検出したり、補正したり
することが可能である。

【００４６】

【発明の効果】このように本発明によれば、輝度信号お
よび色差信号の形式の画像信号に対して欠陥画素を補正
しているから、回路規模や処理負荷の増大を避けること
ができ、また、キズとして目立ってしまう欠陥画素を良
好に検出することができる。

【００４７】また、このような処理は、撮像素子の色フ
ィルタ配列によらずに行うことができるから、欠陥画素
の検出・補正処理を簡単、正確に行うことができ、結
果、画質の向上をもたらすことができる。このように、
撮像素子に被着される色フィルタに応じて、回路規模が
増大することなく、欠陥画素を補正でき、また、欠陥画
素を安定して検出することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明が適用されたディジタルカメラの構成を
示すブロック図である。

【図２】撮像素子のフィルタ配列の一例を示す図であ
る。

【図３】欠陥補正処理部および欠陥画素検出部に入力さ
れる輝度信号Ｙを示す図である。

【図４】欠陥補正処理部および欠陥画素検出部に入力さ
れる色差信号Crを示す図である。

【図５】欠陥補正処理部および欠陥画素検出部に入力さ
れる色差信号Cbを示す図である。

【図６】ＹＣ処理部の構成例を示すブロック図である。

【図７】欠陥画素検出部の構成例を示す機能ブロック図
である。

【図８】処理対象画素に応じた検出領域を示す図であ
る。

【図９】処理対象画素に応じた検出領域の他の例を示す
図である。

【図１０】欠陥画素を補間処理する際の隣接画素の例を
示す図である。

【図１１】他の欠陥画素を補間処理する際の隣接画素の
例を示す図である。

【図１２】本発明が適用されたディジタルカメラの他の
構成例を示すブロック図である。

【符号の説明】

10 ディジタルカメラ 18 ＹＣ処理部 24 欠陥画素検出部 26 欠陥補正処理部 28,30 ローパスフィルタ (LPF) 700 周辺画素取得処理部 702 対象画素取得処理部 704 判定処理部 706 設定処理部 708 平均化処理部 710 演算処理部 712 比較処理部

Claims (63)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 色フィルタが被着された撮像素子から出
   力される画素信号を入力し、該撮像素子における欠陥画
   素による画素信号を補正する画素欠陥補正装置におい
   て、該装置は、 前記画素信号が輝度成分および色差成分に変換された画
   像信号を入力する入力手段と、 前記欠陥画素の位置に応じた欠陥情報を出力する欠陥情
   報出力手段と、 前記入力手段に入力される画像信号における欠陥画素を
   補正する欠陥補正手段とを含み、 前記欠陥補正手段は、前記欠陥情報に応じた画素の画素
   値を、該画素の隣接画素の画素値で補正して出力するこ
   とを特徴とする画素欠陥補正装置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の補正装置において、前
   記欠陥補正手段は、前記欠陥情報に応じた画素の画素値
   を、前記輝度成分および前記色差成分の画像信号の画素
   値で補正することを特徴とする画素欠陥補正装置。
3. 【請求項３】 請求項１に記載の補正装置において、該
   装置は、前記画素信号を輝度成分および色差成分に変換
   して前記画像信号を出力する変換手段を含み、前記入力
   手段は、該変換手段にて変換された画像信号を入力する
   ことを特徴とする画素欠陥補正装置。
4. 【請求項４】 請求項３に記載の補正装置において、前
   記変換手段は、前記画像信号における画素に垂直方向に
   隣接する画素を用いて該画像信号の高域成分および低域
   成分を生成し、これら高域および低域成分から前記輝度
   成分の輝度信号を生成し、さらに前記処理対象画素に垂
   直方向に隣接する画素を用いて該画像信号の色差成分の
   色差信号を生成し、 前記欠陥補正手段は、前記輝度信号および色差信号を補
   正することを特徴とする画素欠陥補正装置。
5. 【請求項５】 請求項１に記載の補正装置において、前
   記欠陥情報出力手段は、前記画像信号の変化量を検出す
   る検出手段を含み、該検出手段の検出結果に応じた欠陥
   情報を前記欠陥補正手段に供給することを特徴とする画
   素欠陥補正装置。
6. 【請求項６】 請求項５に記載の補正装置において、前
   記検出手段は、 対象画素周辺の画素値を取得する第１の取得手段と、 前記対象画素の画素値を取得する第２の取得手段と、 第１および第２の取得手段にて取得したそれぞれの画素
   値に基づいて、前記対象画素を欠陥画素として決定する
   か否かを判定する判定手段とを含み、該判定手段は、該
   判定結果に応じた欠陥情報を前記欠陥補正手段に出力す
   ることを特徴とする画素欠陥補正装置。
7. 【請求項７】 請求項６に記載の補正装置において、前
   記判定手段は、前記第１の取得手段にて取得された画素
   値を平均化して画素値平均を算出する平均化手段と、前
   記対象画素の画素値と、前記画素値平均とを比較する比
   較手段とを含み、該比較結果に応じた欠陥情報を前記欠
   陥補正手段に出力することを特徴とする画素欠陥補正装
   置。
8. 【請求項８】 請求項７に記載の補正装置において、前
   記比較手段は、前記対象画素の画素値が、前記画素値平
   均の所定の範囲内にあるか否かを比較判定することを特
   徴とする画素欠陥補正装置。
9. 【請求項９】 請求項８に記載の補正装置において、前
   記比較手段は、前記画素値平均と前記対象画素の画素値
   との差分絶対値を算出する演算手段を含み、該差分絶対
   値が前記所定の範囲内にあるか否かを比較判定すること
   を特徴とする画素欠陥補正装置。
10. 【請求項１０】 請求項８または９に記載の補正装置に
    おいて、該装置は、前記所定の範囲を可変に設定する設
    定手段を含むことを特徴とする画素欠陥補正装置。
11. 【請求項１１】 請求項７に記載の補正装置において、
    前記平均化手段は、前記対象画素を中心とする周辺の縦
    横ｍ×ｎ画素（ｍ、ｎは３以上の奇数）の画素のうち、
    該対象画素を除く領域の画素値平均を算出することを特
    徴とする画素欠陥補正装置。
12. 【請求項１２】 請求項１１に記載の補正装置におい
    て、前記平均化手段は、前記対象画素を除く領域の縦横
    ５×５画素の画素値平均を算出することを特徴とする画
    素欠陥補正装置。
13. 【請求項１３】 請求項５に記載の補正装置において、
    該装置は、前記欠陥補正手段の出力に低域通過型フィル
    タ手段が接続されることを特徴とする画素欠陥補正装
    置。
14. 【請求項１４】 請求項１に記載の補正装置において、
    前記位置情報出力手段は、前記撮像素子の欠陥画素を検
    査した結果、欠陥画素と判定された欠陥情報として、該
    欠陥画素の位置を表す位置情報を予め記憶する記憶手段
    を含み、 前記欠陥補正手段は、前記位置情報に応じた画素の画素
    値を補正することを特徴とする画素欠陥補正装置。
15. 【請求項１５】 請求項１４に記載の補正装置におい
    て、該装置は、前記変換手段の出力に低域通過型フィル
    タ手段が接続され、 前記欠陥補正手段は、該低域通過型フィルタ手段から出
    力される画像信号について前記欠陥画素の補正処理を行
    うことを特徴とする画素欠陥補正装置。
16. 【請求項１６】 請求項１に記載の補正装置において、
    前記欠陥補正手段は、欠陥補正対象画素の前および／ま
    たは後の隣接画素値で、前記対象画素の画素値を補間す
    ることを特徴とする画素欠陥補正装置。
17. 【請求項１７】 請求項１に記載の補正装置において、
    前記欠陥補正手段は、欠陥補正対象画素の前ラインおよ
    び／または後ラインの画素値で、前記対象画素の画素値
    を補間することを特徴とする画素欠陥補正装置。
18. 【請求項１８】 請求項１に記載の補正装置において、
    前記欠陥補正手段は、補正対象画素の画素位置が前記撮
    像素子における撮像セルに被着された色フィルタの色成
    分に応じて、補正方法を選択することを特徴とする画素
    欠陥補正装置。
19. 【請求項１９】 請求項３に記載の補正装置において、
    前記色フィルタは、ＲＧＢ原色カラーフィルタであり、
    前記変換手段は、前記撮像素子から出力されるＲＧＢ画
    素信号から前記画像信号を生成することを特徴とする画
    素欠陥補正装置。
20. 【請求項２０】 請求項１９に記載の補正装置におい
    て、前記ＲＧＢ原色カラーフィルタは、Ｇストライプ配
    列で、ＲＢを市松状に配列したカラーフィルタであるこ
    とを特徴とする画素欠陥補正装置。
21. 【請求項２１】 請求項３に記載の補正装置において、
    前記色フィルタは、補色カラーフィルタであり、前記変
    換手段は、前記撮像素子から出力される補色信号から前
    記画像信号を生成することを特徴とする画素欠陥補正装
    置。
22. 【請求項２２】 請求項１に記載の補正装置において、
    該装置は、前記撮像素子を含むことを特徴とする欠陥画
    素補正装置。
23. 【請求項２３】 請求項１に記載の補正装置において、
    該装置は、前記欠陥補正手段から出力される画像信号を
    処理して情報記憶媒体に記録する記録手段を含むことを
    特徴とする欠陥画素補正装置。
24. 【請求項２４】 色フィルタが被着された撮像素子から
    出力される画素信号を入力し、該撮像素子における欠陥
    画素による画素信号を検出する画素欠陥検出装置におい
    て、該装置は、 前記画素信号が輝度成分および色差成分に変換された画
    像信号を入力する入力手段と、 前記画像信号の変化量を検出する検出手段とを含み、該
    検出手段は、 前記対象画素周辺の画素値を取得する第１の取得手段
    と、 前記対象画素の画素値を取得する第２の取得手段と、 第１および第２の取得手段にて取得したそれぞれの画素
    値に基づいて、前記対象画素が欠陥画素として決定する
    か否かを判定する判定手段とを含み、該判定手段は、該
    判定結果を出力することを特徴とする画素欠陥検出装
    置。
25. 【請求項２５】 請求項２４に記載の検出装置におい
    て、前記判定手段は、前記第１の取得手段にて取得され
    た画素値を平均化して画素値平均を算出する平均化手段
    と、前記対象画素の画素値と、前記画素値平均とを比較
    する比較手段とを含み、該比較結果に応じた前記判定結
    果を出力することを特徴とする画素欠陥検出装置。
26. 【請求項２６】 請求項２５に記載の検出装置におい
    て、前記比較手段は、前記対象画素の画素値が、前記画
    素値平均の所定の範囲内にあるか否かを比較判定するこ
    とを特徴とする画素欠陥検出装置。
27. 【請求項２７】 請求項２６に記載の検出装置におい
    て、前記比較手段は、前記画素値平均と前記対象画素の
    画素値との差分絶対値を算出する演算手段を含み、該差
    分絶対値が前記所定の範囲内にあるか否かを比較判定す
    ることを特徴とする画素欠陥検出装置。
28. 【請求項２８】 請求項２６または２７に記載の検出装
    置において、該装置は、前記所定の範囲を可変に設定す
    る設定手段を含むことを特徴とする画素欠陥検出装置。
29. 【請求項２９】 請求項２５に記載の検出装置におい
    て、前記平均化手段は、前記対象画素を中心とする周辺
    の縦横ｍ×ｎ画素（ｍ、ｎは３以上の奇数）の画素のう
    ち、該対象画素を除く領域の画素値平均を算出すること
    を特徴とする画素欠陥検出装置。
30. 【請求項３０】 請求項２９に記載の検出装置におい
    て、前記平均化手段は、前記対象画素を除く領域の縦横
    ５×５画素の画素値平均を算出することを特徴とする画
    素欠陥検出装置。
31. 【請求項３１】 請求項２４に記載の検出装置におい
    て、該装置は、前記画素信号を輝度成分および色差成分
    に変換して前記画像信号を出力する変換手段を含み、前
    記入力手段は、該変換手段にて変換された画像信号を入
    力することを特徴とする画素欠陥検出装置。
32. 【請求項３２】 請求項３１に記載の検出装置におい
    て、前記変換手段は、前記画素信号における画素に垂直
    方向に隣接する画素を用いて該画素信号の高域成分およ
    び低域成分を生成し、これら高域および低域成分から前
    記輝度成分の輝度信号を生成し、さらに前記処理対象画
    素に垂直方向に隣接する画素を用いて該画素信号の色差
    成分の色差信号を生成することを特徴とする画素欠陥検
    出装置。
33. 【請求項３３】 色フィルタが被着された撮像素子から
    出力される画素信号を入力し、該撮像素子における欠陥
    画素による画素信号を補正する画素欠陥補正方法におい
    て、該方法は、 前記画素信号が輝度成分および色差成分に変換された画
    像信号を入力する入力工程と、 前記欠陥画素の位置に応じた欠陥情報を出力する欠陥情
    報出力工程と、 前記入力工程にて入力される画像信号における欠陥画素
    を補正する欠陥補正工程とを含み、 前記欠陥補正工程は、前記欠陥情報に応じた画素の画素
    値を、該画素の隣接画素の画素値で補正することを特徴
    とする画素欠陥補正方法。
34. 【請求項３４】 請求項３３に記載の補正方法におい
    て、前記欠陥補正工程は、前記欠陥情報に応じた画素の
    画素値を、前記輝度成分および前記色差成分の画像信号
    の画素値で補正することを特徴とする画素欠陥補正方
    法。
35. 【請求項３５】 請求項３３に記載の補正方法におい
    て、該方法は、前記画素信号を輝度成分および色差成分
    に変換して前記画像信号を出力する変換工程を含み、前
    記入力工程は、該変換工程にて変換された画像信号を入
    力することを特徴とする画素欠陥補正方法。
36. 【請求項３６】 請求項３５に記載の補正方法におい
    て、前記変換工程は、前記画像信号における画素に垂直
    方向に隣接する画素を用いて該画像信号の高域成分およ
    び低域成分を生成し、これら高域および低域成分から前
    記輝度成分の輝度信号を生成し、さらに前記処理対象画
    素に垂直方向に隣接する画素を用いて該画像信号の色差
    成分の色差信号を生成し、 前記欠陥補正工程は、前記輝度信号および色差信号を補
    正することを特徴とする画素欠陥補正方法。
37. 【請求項３７】 請求項３３に記載の補正方法におい
    て、前記欠陥情報出力工程は、前記画像信号の変化量を
    検出する検出工程を含み、該検出工程での検出結果に応
    じた欠陥情報を生成することを特徴とする画素欠陥補正
    方法。
38. 【請求項３８】 請求項３７に記載の補正方法におい
    て、前記検出工程は、 前記対象画素周辺の画素値を取得する第１の取得工程
    と、 前記対象画素の画素値を取得する第２の取得工程と、 第１および第２の取得工程にて取得したそれぞれの画素
    値に基づいて、前記対象画素を欠陥画素として決定する
    か否かを判定する判定工程とを含み、該判定工程は、該
    判定結果に応じた欠陥情報を生成することを特徴とする
    画素欠陥補正方法。
39. 【請求項３９】 請求項３８に記載の補正方法におい
    て、前記判定工程は、前記第１の取得手段にて取得され
    た画素値を平均化して画素値平均を算出する平均化工程
    と、前記対象画素の画素値と、前記画素値平均とを比較
    する比較工程とを含み、該比較結果に応じた欠陥情報を
    生成することを特徴とする画素欠陥補正方法。
40. 【請求項４０】 請求項３９に記載の補正方法におい
    て、前記比較工程は、前記対象画素の画素値が、前記画
    素値平均の所定の範囲内にあるか否かを比較判定するこ
    とを特徴とする画素欠陥補正方法。
41. 【請求項４１】 請求項４０に記載の補正方法におい
    て、前記比較工程は、前記画素値平均と前記対象画素の
    画素値との差分絶対値を算出する演算工程を含み、該差
    分絶対値が前記所定の範囲内にあるか否かを比較判定す
    ることを特徴とする画素欠陥補正装置。
42. 【請求項４２】 請求項４０または４１に記載の補正方
    法において、該方法は、前記所定の範囲を可変に設定す
    る設定工程を含むことを特徴とする画素欠陥補正方法。
43. 【請求項４３】 請求項３９に記載の補正方法におい
    て、前記平均化工程は、前記対象画素を中心とする周辺
    の縦横ｍ×ｎ画素（ｍ、ｎは３以上の奇数）の画素のう
    ち、該対象画素を除く領域の画素値平均を算出すること
    を特徴とする画素欠陥補正方法。
44. 【請求項４４】 請求項４３に記載の補正方法におい
    て、前記平均化工程は、前記対象画素を除く領域の縦横
    ５×５画素の画素値平均を算出することを特徴とする画
    素欠陥補正装置。
45. 【請求項４５】 請求項３７に記載の補正方法におい
    て、該方法は、前記欠陥補正工程にて補正された画像信
    号に対して低域通過型フィルタ処理を行うことを特徴と
    する画素欠陥補正方法。
46. 【請求項４６】 請求項３３に記載の補正方法におい
    て、前記位置情報出力工程は、前記撮像素子の欠陥画素
    を検査した結果、欠陥画素と判定された欠陥情報とし
    て、該欠陥画素の位置を表す位置情報を予め記憶する記
    憶工程を含み、 前記欠陥補正工程は、前記位置情報に応じた画素の画素
    値を補正することを特徴とする画素欠陥補正方法。
47. 【請求項４７】 請求項４６に記載の補正方法におい
    て、該方法は、前記変換工程にて補正された画像信号に
    対して低域通過型フィルタ処理を行い、 前記欠陥補正工程は、該低域通過型フィルタ処理された
    画像信号について前記欠陥画素の補正処理を行うことを
    特徴とする画素欠陥補正方法。
48. 【請求項４８】 請求項３３に記載の補正方法におい
    て、前記欠陥補正工程は、欠陥補正対象画素の前および
    ／または後の隣接画素値で、前記対象画素の画素値を補
    間することを特徴とする画素欠陥補正方法。
49. 【請求項４９】 請求項３３に記載の補正方法におい
    て、前記欠陥補正工程は、欠陥補正対象画素の前ライン
    および／または後ラインの画素値で、前記対象画素の画
    素値を補間することを特徴とする画素欠陥補正方法。
50. 【請求項５０】 請求項３３に記載の補正方法におい
    て、前記欠陥補正工程は、補正対象画素の画素位置が前
    記撮像素子における撮像セルに被着された色フィルタの
    色成分に応じて、補正方法を選択することを特徴とする
    画素欠陥補正方法。
51. 【請求項５１】 請求項３５に記載の補正方法におい
    て、前記色フィルタは、ＲＧＢ原色カラーフィルタであ
    る場合に、前記変換工程は、前記撮像素子から出力され
    るＲＧＢ画素信号から前記画像信号を生成することを特
    徴とする画素欠陥補正方法。
52. 【請求項５２】 請求項５１に記載の補正方法におい
    て、前記ＲＧＢ原色カラーフィルタは、Ｇストライプ配
    列で、ＲＢを市松状に配列したカラーフィルタであるこ
    とを特徴とする画素欠陥補正方法。
53. 【請求項５３】 請求項３５に記載の補正方法におい
    て、前記色フィルタは、補色カラーフィルタである場合
    に、前記変換工程は、前記撮像素子から出力される補色
    信号から前記画像信号を生成することを特徴とする画素
    欠陥補正方法。
54. 【請求項５４】 請求項３３に記載の補正方法におい
    て、該方法は、前記欠陥補正工程にて補正された画像信
    号を処理して情報記憶媒体に記録する記録工程を含むこ
    とを特徴とする欠陥画素補正方法。
55. 【請求項５５】 色フィルタが被着された撮像素子から
    出力される画素信号を入力し、該撮像素子における欠陥
    画素による画素信号を検出する画素欠陥検出方法におい
    て、該方法は、 前記画素信号が輝度成分および色差成分に変換された画
    像信号を入力する入力工程と、 前記画像信号の変化量を検出する検出工程とを含み、該
    検出工程は、 前記対象画素周辺の画素値を取得する第１の取得工程
    と、 前記対象画素の画素値を取得する第２の取得工程と、 第１および第２の取得工程にて取得したそれぞれの画素
    値に基づいて、前記対象画素が欠陥画素として決定する
    か否かを判定する判定工程とを含み、該判定工程は、該
    判定結果を出力することを特徴とする画素欠陥検出方
    法。
56. 【請求項５６】 請求項５５に記載の検出方法におい
    て、前記判定工程は、前記第１の取得手段にて取得され
    た画素値を平均化して画素値平均を算出する平均化工程
    と、前記対象画素の画素値と、前記画素値平均とを比較
    する比較工程とを含み、該比較結果に応じた前記判定結
    果を出力することを特徴とする画素欠陥検出方法。
57. 【請求項５７】 請求項５６に記載の検出方法におい
    て、前記比較工程は、前記対象画素の画素値が、前記画
    素値平均の所定の範囲内にあるか否かを比較判定するこ
    とを特徴とする画素欠陥検出方法。
58. 【請求項５８】 請求項５７に記載の検出方法におい
    て、前記比較工程は、前記画素値平均と前記対象画素の
    画素値との差分絶対値を算出する演算工程を含み、該差
    分絶対値が前記所定の範囲内にあるか否かを比較判定す
    ることを特徴とする画素欠陥検出方法。
59. 【請求項５９】 請求項５７または５８に記載の検出方
    法において、該方法は、前記所定の範囲を可変に設定す
    る設定工程を含むことを特徴とする画素欠陥検出方法。
60. 【請求項６０】 請求項５６に記載の検出方法におい
    て、前記平均化工程は、前記対象画素を中心とする周辺
    の縦横ｍ×ｎ画素（ｍ、ｎは３以上の奇数）の画素のう
    ち、該対象画素を除く領域の画素値平均を算出すること
    を特徴とする画素欠陥検出方法。
61. 【請求項６１】 請求項６０に記載の検出方法におい
    て、前記平均化工程は、前記対象画素を除く領域の縦横
    ５×５画素の画素値平均を算出することを特徴とする画
    素欠陥検出方法。
62. 【請求項６２】 請求項５５に記載の検出方法におい
    て、該方法は、前記画素信号を輝度成分および色差成分
    に変換して前記画像信号を出力する変換工程を含み、前
    記入力工程は、該変換工程にて変換された画像信号を入
    力することを特徴とする画素欠陥検出方法。
63. 【請求項６３】 請求項６２に記載の検出方法におい
    て、前記変換工程は、前記画素信号における画素に垂直
    方向に隣接する画素を用いて該画素信号の高域成分およ
    び低域成分を生成し、これら高域および低域成分から前
    記輝度成分の輝度信号を生成し、さらに前記処理対象画
    素に垂直方向に隣接する画素を用いて該画素信号の色差
    成分の色差信号を生成することを特徴とする画素欠陥検
    出方法。