JPH04239886A - 画像雑音除去装置 - Google Patents
画像雑音除去装置Info
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- JPH04239886A JPH04239886A JP3007175A JP717591A JPH04239886A JP H04239886 A JPH04239886 A JP H04239886A JP 3007175 A JP3007175 A JP 3007175A JP 717591 A JP717591 A JP 717591A JP H04239886 A JPH04239886 A JP H04239886A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 2
- 241000519995 Stachys sylvatica Species 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光・電気変換手段を有
するビデオカメラ等の画像雑音除去装置に関する。
するビデオカメラ等の画像雑音除去装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年ビデオカメラ等の撮像装置において
は、光・電気変換手段として固体撮像素子を用いること
が多くなっている。固体撮像素子の出力信号をモニター
装置に表示し画像信号を観測すると、画像中に白点（白
キズ）、黒点（黒キズ）と呼ばれる画像欠陥が観測され
ることがある。このような画像欠陥は小さなものでも非
常に目立ち、画像欠陥のある撮像素子は製品として使用
することができないために歩留りの低下を招くことにな
る上、製品出荷後にも画像欠陥が生ずることがある。こ
れらの問題は固体撮像素子特有の欠点であり、固体撮像
素子を使用する上での大きな障害となっている。
は、光・電気変換手段として固体撮像素子を用いること
が多くなっている。固体撮像素子の出力信号をモニター
装置に表示し画像信号を観測すると、画像中に白点（白
キズ）、黒点（黒キズ）と呼ばれる画像欠陥が観測され
ることがある。このような画像欠陥は小さなものでも非
常に目立ち、画像欠陥のある撮像素子は製品として使用
することができないために歩留りの低下を招くことにな
る上、製品出荷後にも画像欠陥が生ずることがある。こ
れらの問題は固体撮像素子特有の欠点であり、固体撮像
素子を使用する上での大きな障害となっている。
【０００３】従来、前記問題点を解決する手段として、
例えば、走査線上に隣接する３画素の画素値を元に、中
心画素の画素値が他の２画素の画素値よりも大（小）で
あるとき、中心画素の画素値を他の２画素のうち大きな
（小さな）値を持つ画素値に置き換えることで、画像欠
陥を取り除く手法が知られている。また、別の手段とし
て、ある走査線上に画像欠陥が検出されたならば、その
走査線上の全ての画素を１フィールド（フレーム）前の
全画素と置き換える手法も知られている。
例えば、走査線上に隣接する３画素の画素値を元に、中
心画素の画素値が他の２画素の画素値よりも大（小）で
あるとき、中心画素の画素値を他の２画素のうち大きな
（小さな）値を持つ画素値に置き換えることで、画像欠
陥を取り除く手法が知られている。また、別の手段とし
て、ある走査線上に画像欠陥が検出されたならば、その
走査線上の全ての画素を１フィールド（フレーム）前の
全画素と置き換える手法も知られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の技術によれば、
走査線上に隣接する３画素のみに着目する手法では、画
像信号を走査線方向のみに観測している点に問題がある
。例えば、走査線に対し鉛直方向にシャープな線が含ま
れていたとすると、走査線方向のみの観測では，それが
有為な画像情報である鉛直方向の線分の一部であるか，
画像欠陥であるかが判断することができず、有為な画像
情報を損なう恐れがある。この手法による動作の問題点
を図を用いて説明する。（図７（ａ））は、１フィール
ドの画像信号のうち一部を切り出したものであり、水平
方向および奥行き方向にそれぞれ走査線および走査線に
鉛直成分の軸を取り、垂直方向に画素値を表すものでる
。Ｐ０１、Ｐ１１、Ｐ２１は走査線に鉛直方向に存在す
るシャープな線分を表現しており、Ｐ１４は白キズ、Ｐ
１６は黒キズをそれぞれ表現し、またＰ１８は原画像に
含まれる細かなディテールを表現している。いま、Ｐ１
０〜Ｐ１９により構成される走査線に着目すると、Ｐ１
１はＰ１０またはＰ１２の画素値に置き換えられＰ１０
〜Ｐ１２の画素値は平坦なものとなり、Ｐ１４、Ｐ１６
およびＰ１８も同様に画素値は平坦になる。別の走査線
においても同様であり、Ｐ０１およびＰ２１も画素値は
平坦になる。以上の処理の結果、（図７（ａ））は（図
７（ｃ））のように変換され、Ｐ１４およびＰ１６に存
在していたキズは除去されたが、Ｐ０１、Ｐ１１、Ｐ２
１により構成されていた線分やＰ１８のようなディテー
ル成分も誤って除去されている。
走査線上に隣接する３画素のみに着目する手法では、画
像信号を走査線方向のみに観測している点に問題がある
。例えば、走査線に対し鉛直方向にシャープな線が含ま
れていたとすると、走査線方向のみの観測では，それが
有為な画像情報である鉛直方向の線分の一部であるか，
画像欠陥であるかが判断することができず、有為な画像
情報を損なう恐れがある。この手法による動作の問題点
を図を用いて説明する。（図７（ａ））は、１フィール
ドの画像信号のうち一部を切り出したものであり、水平
方向および奥行き方向にそれぞれ走査線および走査線に
鉛直成分の軸を取り、垂直方向に画素値を表すものでる
。Ｐ０１、Ｐ１１、Ｐ２１は走査線に鉛直方向に存在す
るシャープな線分を表現しており、Ｐ１４は白キズ、Ｐ
１６は黒キズをそれぞれ表現し、またＰ１８は原画像に
含まれる細かなディテールを表現している。いま、Ｐ１
０〜Ｐ１９により構成される走査線に着目すると、Ｐ１
１はＰ１０またはＰ１２の画素値に置き換えられＰ１０
〜Ｐ１２の画素値は平坦なものとなり、Ｐ１４、Ｐ１６
およびＰ１８も同様に画素値は平坦になる。別の走査線
においても同様であり、Ｐ０１およびＰ２１も画素値は
平坦になる。以上の処理の結果、（図７（ａ））は（図
７（ｃ））のように変換され、Ｐ１４およびＰ１６に存
在していたキズは除去されたが、Ｐ０１、Ｐ１１、Ｐ２
１により構成されていた線分やＰ１８のようなディテー
ル成分も誤って除去されている。
【０００５】また、画像欠陥の存在する走査線の全画素
を１フィールド（フレーム）前の全画素と置き換える手
法では、フィールド（フレーム）メモリといった巨大な
記憶装置が必要である。さらに、被写体の動きが大きい
場合には、フィールド（フレーム）間の画像信号の差が
大きくなるため単純に全画素を置き換えたのでは不自然
であるため、有効に動作しないといった問題点が残され
ていた。
を１フィールド（フレーム）前の全画素と置き換える手
法では、フィールド（フレーム）メモリといった巨大な
記憶装置が必要である。さらに、被写体の動きが大きい
場合には、フィールド（フレーム）間の画像信号の差が
大きくなるため単純に全画素を置き換えたのでは不自然
であるため、有効に動作しないといった問題点が残され
ていた。
【０００６】本発明はかかる点に鑑み、縦線やディテー
ル成分のような有意な画像情報を損なうことなく、又、
フィールドメモリのような巨大な記憶装置を必要とする
ことなく、被写体の動きが大きい場合にも、白キズ又は
黒キズのようにパルシブな画像欠陥を良好に除去する装
置の提供にある。
ル成分のような有意な画像情報を損なうことなく、又、
フィールドメモリのような巨大な記憶装置を必要とする
ことなく、被写体の動きが大きい場合にも、白キズ又は
黒キズのようにパルシブな画像欠陥を良好に除去する装
置の提供にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、数ライ
ンにわたる走査線の画素情報を一次的に保持する手段と
注目画素および注目画素の周囲に２次元的に近接する画
素値群を複数の出力端子より同時に出力する手段とを合
わせ持つ走査線メモリと、近傍画素値群のうち最大およ
び最小の画素値を検出し出力する最大最小値検出器と、
近傍画素値群のうち最大の画素値に対し注目画素の画素
値が所定の或値以上大であるかあるいは近傍画素値群の
うち最小の画素値に対し注目画素の画素値が所定の或値
以上小であるかといった比較をすることにより注目画素
にノイズが含まれているか否かを判定し判定結果を制御
信号として出力するノイズ検出器と、注目画素の画素値
と近傍画素値群のうち最大および最小の画素値の３つの
画素値から制御信号により何れか一つの画素値を選択し
出力する画素値選択器とを少なくとも備えることを特徴
とする。
ンにわたる走査線の画素情報を一次的に保持する手段と
注目画素および注目画素の周囲に２次元的に近接する画
素値群を複数の出力端子より同時に出力する手段とを合
わせ持つ走査線メモリと、近傍画素値群のうち最大およ
び最小の画素値を検出し出力する最大最小値検出器と、
近傍画素値群のうち最大の画素値に対し注目画素の画素
値が所定の或値以上大であるかあるいは近傍画素値群の
うち最小の画素値に対し注目画素の画素値が所定の或値
以上小であるかといった比較をすることにより注目画素
にノイズが含まれているか否かを判定し判定結果を制御
信号として出力するノイズ検出器と、注目画素の画素値
と近傍画素値群のうち最大および最小の画素値の３つの
画素値から制御信号により何れか一つの画素値を選択し
出力する画素値選択器とを少なくとも備えることを特徴
とする。
【０００８】
【作用】画像欠陥を除去する際に、画像信号の中からど
の画素に画像欠陥が含まれているか判定する必要がある
が、除去すべき画像欠陥の判定基準をいたずらに広げて
しまうと、画像信号中のディテール成分など有為な画像
情報が失われてしまう可能性があるので、画像信号をモ
ニター装置に表示した際、目に付き易い性質を持つ画像
欠陥のみを選択的に除去する必要がある。このような性
質を持つ画像欠陥として、周囲の画素に対し一点だけが
際だって明るい（暗い）画素値を持つ白（黒）キズが挙
げられ、本発明では白（黒）キズを選択的に除去する作
用を持つことを特徴とする。
の画素に画像欠陥が含まれているか判定する必要がある
が、除去すべき画像欠陥の判定基準をいたずらに広げて
しまうと、画像信号中のディテール成分など有為な画像
情報が失われてしまう可能性があるので、画像信号をモ
ニター装置に表示した際、目に付き易い性質を持つ画像
欠陥のみを選択的に除去する必要がある。このような性
質を持つ画像欠陥として、周囲の画素に対し一点だけが
際だって明るい（暗い）画素値を持つ白（黒）キズが挙
げられ、本発明では白（黒）キズを選択的に除去する作
用を持つことを特徴とする。
【０００９】白キズまたは黒キズは前記性質より、キズ
の周囲の画素の画素値に対して、飛び抜けて明るいか又
は暗いかで判定できる。次に、ある画素がキズと判定さ
れたならば、その画素値を周囲の画素値と置き換えるよ
う作用することで、キズを消し去ることができる。但し
ここで、周囲の画素間に相関性が認められる場合には、
相関性を保った上でキズを消し去る必要がある。ここで
相関性に関しては、走査線に対し水平方向のみでなく、
鉛直方向あるいは斜方向も考慮する必要がある。これを
実現するには、注目画素が白キズと判定されたならば、
注目画素の画素値を２次元的な近傍画素値群のうち最大
の画素値を持つものと置き換え、注目画素が黒キズと判
定されたならば、注目画素の画素値を２次元的な近傍画
素値群のうち最小の画素値を持つものと置き換えるよう
作用することにより達成される。
の周囲の画素の画素値に対して、飛び抜けて明るいか又
は暗いかで判定できる。次に、ある画素がキズと判定さ
れたならば、その画素値を周囲の画素値と置き換えるよ
う作用することで、キズを消し去ることができる。但し
ここで、周囲の画素間に相関性が認められる場合には、
相関性を保った上でキズを消し去る必要がある。ここで
相関性に関しては、走査線に対し水平方向のみでなく、
鉛直方向あるいは斜方向も考慮する必要がある。これを
実現するには、注目画素が白キズと判定されたならば、
注目画素の画素値を２次元的な近傍画素値群のうち最大
の画素値を持つものと置き換え、注目画素が黒キズと判
定されたならば、注目画素の画素値を２次元的な近傍画
素値群のうち最小の画素値を持つものと置き換えるよう
作用することにより達成される。
【００１０】
【実施例】以下に本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。（図１）は、本発明における画像雑
音除去装置の概略ブロック図である。
しながら説明する。（図１）は、本発明における画像雑
音除去装置の概略ブロック図である。
【００１１】（図１）において走査線メモリは、入力端
子１より入力される画像信号ａを取り込み、注目画素の
画素値ｂおよび、注目画素を中心に走査線方向にＮ画素
、走査線に直交する方向にＭライン分の２次元的に近接
する画素群から注目画素を除いたＮ×Ｍ−１画素の画素
値よりなる近傍画素値群ｃを出力する。
子１より入力される画像信号ａを取り込み、注目画素の
画素値ｂおよび、注目画素を中心に走査線方向にＮ画素
、走査線に直交する方向にＭライン分の２次元的に近接
する画素群から注目画素を除いたＮ×Ｍ−１画素の画素
値よりなる近傍画素値群ｃを出力する。
【００１２】（図２）は走査線メモリの詳細な構成例で
ある。（図２）に於ては上記走査線メモリの動作説明の
中で、Ｍ＝Ｎ＝３としたときの構成例を示しており、２
台のライン遅延器と６台の画素遅延器により構成される
。画素遅延器は入力信号を一画素分の走査時間だけ遅延
させた信号を出力するものであり、ライン遅延器は入力
信号を一水平走査時間だけ遅延させた信号を出力するも
のである。また、（図６）は走査線上の注目画素と近傍
画素群の配置例を示しており、１〜８の数字を付してあ
る画素は近傍画素群を構成し注目画素は近傍画素群の中
央に位置する。
ある。（図２）に於ては上記走査線メモリの動作説明の
中で、Ｍ＝Ｎ＝３としたときの構成例を示しており、２
台のライン遅延器と６台の画素遅延器により構成される
。画素遅延器は入力信号を一画素分の走査時間だけ遅延
させた信号を出力するものであり、ライン遅延器は入力
信号を一水平走査時間だけ遅延させた信号を出力するも
のである。また、（図６）は走査線上の注目画素と近傍
画素群の配置例を示しており、１〜８の数字を付してあ
る画素は近傍画素群を構成し注目画素は近傍画素群の中
央に位置する。
【００１３】（図２）の入力端子２より入力される画像
信号ａは、画素遅延器１に接続され、画素遅延器１の出
力は画素遅延器２に接続される。画素遅延器１の入力端
と画素遅延器１の出力端と画素遅延器２の出力端の３箇
所より信号を取り出せば、それぞれ（図６）の近傍画素
８、７、６に相当する位置の画素値が得られる。又、（
図２）の入力端子２より入力される画像信号は、ライン
遅延器１にも接続され、ライン遅延器１の出力端に画素
遅延器３、４を直列に接続すれば、同様に（図６）の近
傍画素５、注目画素、近傍画素４に相当する位置の画素
値が得られる。さらに、（図２）のライン遅延器１の出
力端にはライン遅延器２が接続され、ライン遅延器２の
出力端に画素遅延器５、６を直列に接続すれば、同様に
（図６）の近傍画素３、２、１に相当する位置の画素値
が得られる。以上のような構成による走査線メモリであ
れば、注目画素の画素値ｂおよび近傍画素群の画素値群
ｃを複数の出力端子より同時に出力することができる。
信号ａは、画素遅延器１に接続され、画素遅延器１の出
力は画素遅延器２に接続される。画素遅延器１の入力端
と画素遅延器１の出力端と画素遅延器２の出力端の３箇
所より信号を取り出せば、それぞれ（図６）の近傍画素
８、７、６に相当する位置の画素値が得られる。又、（
図２）の入力端子２より入力される画像信号は、ライン
遅延器１にも接続され、ライン遅延器１の出力端に画素
遅延器３、４を直列に接続すれば、同様に（図６）の近
傍画素５、注目画素、近傍画素４に相当する位置の画素
値が得られる。さらに、（図２）のライン遅延器１の出
力端にはライン遅延器２が接続され、ライン遅延器２の
出力端に画素遅延器５、６を直列に接続すれば、同様に
（図６）の近傍画素３、２、１に相当する位置の画素値
が得られる。以上のような構成による走査線メモリであ
れば、注目画素の画素値ｂおよび近傍画素群の画素値群
ｃを複数の出力端子より同時に出力することができる。
【００１４】（図１）において最大最小値検出器は、走
査線メモリより同時に出力される近傍画素群の画素値群
ｃのうち最大の画素値をＹｍａｘ、および最小の画素値
をＹｍｉｎとして出力する。
査線メモリより同時に出力される近傍画素群の画素値群
ｃのうち最大の画素値をＹｍａｘ、および最小の画素値
をＹｍｉｎとして出力する。
【００１５】（図３）は最大最小値検出器の詳細な構成
例である。（図３）に於ては前記走査線メモリの説明に
合わせ、近傍画素群が８画素で構成される場合の最大最
小値検出器の構成例を示しており、８個の入力端子群を
持つ最大値回路と、８個の入力端子群を持つ最小値回路
から構成される。最大値回路は、入力される近傍画素値
群ｃの中から最大の画素値（Ｙｍａｘ）を抽出し出力す
る。最小値回路は、入力される近傍画素値群ｃの中から
最小の画素値（Ｙｍｉｎ）を抽出し出力する。
例である。（図３）に於ては前記走査線メモリの説明に
合わせ、近傍画素群が８画素で構成される場合の最大最
小値検出器の構成例を示しており、８個の入力端子群を
持つ最大値回路と、８個の入力端子群を持つ最小値回路
から構成される。最大値回路は、入力される近傍画素値
群ｃの中から最大の画素値（Ｙｍａｘ）を抽出し出力す
る。最小値回路は、入力される近傍画素値群ｃの中から
最小の画素値（Ｙｍｉｎ）を抽出し出力する。
【００１６】（図１）においてノイズ検出器は、走査線
メモリより出力される注目画素の画素値ｂと、最大最小
値検出器より出力されるＹｍａｘおよびＹｍｉｎとから
、注目画素にノイズが含まれているか否かを判定し判定
結果を制御信号として出力する。制御信号はＹｍａｘを
選択する信号であるＳＥＬｍａｘとＹｍｉｎを選択する
信号であるＳＥＬｍｉｎより構成される。
メモリより出力される注目画素の画素値ｂと、最大最小
値検出器より出力されるＹｍａｘおよびＹｍｉｎとから
、注目画素にノイズが含まれているか否かを判定し判定
結果を制御信号として出力する。制御信号はＹｍａｘを
選択する信号であるＳＥＬｍａｘとＹｍｉｎを選択する
信号であるＳＥＬｍｉｎより構成される。
【００１７】（図４）はノイズ検出器の詳細な構成例で
あり、２台の減算器と、２台の比較器と、２台の或値設
定器から構成される。減算器１は注目画素の画素値から
Ｙｍａｘを減じ、その差（以下ＤＩＦｍａｘとする）を
生成する。比較器１はＤＩＦｍａｘと或値生成器１より
出力される或値（以下ＴＨｍａｘとする）とを比較し、
条件１としてＤＩＦｍａｘ＞ＴＨｍａｘであればＹｍａ
ｘを選択する信号ＳＥＬｍａｘをアクティブにし、条件
１が成立しない場合にはＳＥＬｍａｘをインアクティブ
にし出力する。また、減算器２はＹｍｉｎから注目画素
の画素値を減じ、その差（以下ＤＩＦｍｉｎとする）を
生成する。比較器２はＤＩＦｍｉｎと或値生成器２より
出力される或値（以下ＴＨｍｉｎとする）とを比較し、
条件２としてＤＩＦｍｉｎ＞ＴＨｍｉｎであればＹｍｉ
ｎを選択する信号ＳＥＬｍｉｎをアクティブにし、条件
２が成立しない場合にはＳＥＬｍｉｎをインアクティブ
にし出力する。
あり、２台の減算器と、２台の比較器と、２台の或値設
定器から構成される。減算器１は注目画素の画素値から
Ｙｍａｘを減じ、その差（以下ＤＩＦｍａｘとする）を
生成する。比較器１はＤＩＦｍａｘと或値生成器１より
出力される或値（以下ＴＨｍａｘとする）とを比較し、
条件１としてＤＩＦｍａｘ＞ＴＨｍａｘであればＹｍａ
ｘを選択する信号ＳＥＬｍａｘをアクティブにし、条件
１が成立しない場合にはＳＥＬｍａｘをインアクティブ
にし出力する。また、減算器２はＹｍｉｎから注目画素
の画素値を減じ、その差（以下ＤＩＦｍｉｎとする）を
生成する。比較器２はＤＩＦｍｉｎと或値生成器２より
出力される或値（以下ＴＨｍｉｎとする）とを比較し、
条件２としてＤＩＦｍｉｎ＞ＴＨｍｉｎであればＹｍｉ
ｎを選択する信号ＳＥＬｍｉｎをアクティブにし、条件
２が成立しない場合にはＳＥＬｍｉｎをインアクティブ
にし出力する。
【００１８】一般的に、レンズ系および光電変換部の開
口率等による空間的ローパスフィルター効果により、光
電変換素子の出力である画像信号の高域成分（ディテー
ル）の振幅は小さくなるため、注目画素にパルスノイズ
が含まれていなければ、注目画素に対する近傍画素群の
差分も小さくなると言える。従って、ＴＨｍａｘおよび
ＴＨｍｉｎは、画素値の最大値に対して過剰に小さく設
定すると画像信号のディテール成分が失われる恐れがあ
り、過剰に大きく設定するとキズそのものが検出できな
くなるため、適切な値に設定する必要がある。
口率等による空間的ローパスフィルター効果により、光
電変換素子の出力である画像信号の高域成分（ディテー
ル）の振幅は小さくなるため、注目画素にパルスノイズ
が含まれていなければ、注目画素に対する近傍画素群の
差分も小さくなると言える。従って、ＴＨｍａｘおよび
ＴＨｍｉｎは、画素値の最大値に対して過剰に小さく設
定すると画像信号のディテール成分が失われる恐れがあ
り、過剰に大きく設定するとキズそのものが検出できな
くなるため、適切な値に設定する必要がある。
【００１９】（図１）において画素値選択器は、走査線
メモリより出力される注目画素および最大最小値検出器
より出力されるＹｍａｘおよびＹｍｉｎと、ノイズ検出
器より出力されるＳＥＬｍａｘ、ＳＥＬｍｉｎを入力し
、ＳＥＬｍａｘ、ＳＥＬｍｉｎを元に注目画素、Ｙｍａ
ｘ、Ｙｍｉｎのうち何れか一つの画素値を出力端子１に
出力する。
メモリより出力される注目画素および最大最小値検出器
より出力されるＹｍａｘおよびＹｍｉｎと、ノイズ検出
器より出力されるＳＥＬｍａｘ、ＳＥＬｍｉｎを入力し
、ＳＥＬｍａｘ、ＳＥＬｍｉｎを元に注目画素、Ｙｍａ
ｘ、Ｙｍｉｎのうち何れか一つの画素値を出力端子１に
出力する。
【００２０】（図５）は画素値選択器の詳細な構成例で
あり、１台のマルチプレクサから構成される。マルチプ
レクサは注目画素の画素値、Ｙｍａｘ、Ｙｍｉｎの３信
号を入力し、ＳＥＬｍａｘとＳＥＬｍｉｎが共にインア
クティブであれば注目画素の画素値を出力端子２に出力
し、ＳＥＬｍａｘがアクティブでＳＥＬｍｉｎがインア
クティブであればＹｍａｘを出力端子２に出力し、ＳＥ
ＬｍａｘがインアクティブでＳＥＬｍｉｎがアクティブ
であればＹｍｉｎを出力端子２に出力する。ここで、前
記ノイズ検出器の説明から解かるように、ＳＥＬｍａｘ
およびＳＥＬｍｉｎを出力する条件から、ＳＥＬｍａｘ
とＳＥＬｍｉｎが共にアクティブとなることは有り得な
い。
あり、１台のマルチプレクサから構成される。マルチプ
レクサは注目画素の画素値、Ｙｍａｘ、Ｙｍｉｎの３信
号を入力し、ＳＥＬｍａｘとＳＥＬｍｉｎが共にインア
クティブであれば注目画素の画素値を出力端子２に出力
し、ＳＥＬｍａｘがアクティブでＳＥＬｍｉｎがインア
クティブであればＹｍａｘを出力端子２に出力し、ＳＥ
ＬｍａｘがインアクティブでＳＥＬｍｉｎがアクティブ
であればＹｍｉｎを出力端子２に出力する。ここで、前
記ノイズ検出器の説明から解かるように、ＳＥＬｍａｘ
およびＳＥＬｍｉｎを出力する条件から、ＳＥＬｍａｘ
とＳＥＬｍｉｎが共にアクティブとなることは有り得な
い。
【００２１】次に、（図７（ａ）（ｂ）（ｃ））を用い
て本発明の動作を説明する。（図７（ａ）（ｂ）（ｃ）
）において、Ｐ０１、Ｐ１１、Ｐ２１、Ｐ１４の画素値
は全て１００、Ｐ１６の画素値は０、Ｐ１８の画素値は
７０、残りの画素の画素値は全て５０、そしてＴＨｍａ
ｘおよびＴＨｍｉｎは３０であったとする。
て本発明の動作を説明する。（図７（ａ）（ｂ）（ｃ）
）において、Ｐ０１、Ｐ１１、Ｐ２１、Ｐ１４の画素値
は全て１００、Ｐ１６の画素値は０、Ｐ１８の画素値は
７０、残りの画素の画素値は全て５０、そしてＴＨｍａ
ｘおよびＴＨｍｉｎは３０であったとする。
【００２２】今、注目画素がＰ１１であるとすると、最
大最小値検出器より出力されるＹｍａｘは１００、Ｙｍ
ｉｎは５０となり、ノイズ検出器においてＤＩＦｍａｘ
は０、ＤＩＦｍｉｎは−５０となり、条件１、２が共に
成立せず、ＳＥＬｍａｘとＳＥＬｍｉｎは共にインアク
ティブとなり、画素値選択器において注目画素Ｐ１１の
画素値を出力する。注目画素がＰ０１、Ｐ２１である場
合も同様に、Ｐ０１、Ｐ２１の画素値が出力され、Ｐ０
１、Ｐ１１、Ｐ２１より構成される走査線に鉛直方向の
線分は保持される。 尚、走査線に対し斜方向の線分に対しても同様の議論が
成り立つ。
大最小値検出器より出力されるＹｍａｘは１００、Ｙｍ
ｉｎは５０となり、ノイズ検出器においてＤＩＦｍａｘ
は０、ＤＩＦｍｉｎは−５０となり、条件１、２が共に
成立せず、ＳＥＬｍａｘとＳＥＬｍｉｎは共にインアク
ティブとなり、画素値選択器において注目画素Ｐ１１の
画素値を出力する。注目画素がＰ０１、Ｐ２１である場
合も同様に、Ｐ０１、Ｐ２１の画素値が出力され、Ｐ０
１、Ｐ１１、Ｐ２１より構成される走査線に鉛直方向の
線分は保持される。 尚、走査線に対し斜方向の線分に対しても同様の議論が
成り立つ。
【００２３】また、注目画素がＰ１４であるとすると、
Ｙｍａｘ、Ｙｍｉｎは共に５０となり、ＤＩＦｍａｘは
５０、ＤＩＦｍｉｎは−５０となり、条件１のみが成立
し、ＳＥＬｍａｘがアクティブでＳＥＬｍｉｎがインア
クティブとなり、画素値選択器は画素値として５０を出
力するので、Ｐ１４は周囲の画素の画素値に対し平坦に
なるよう置き変わる。注目画素がＰ１６である場合には
、Ｐ１４であった場合の動作とは逆に条件２のみが成立
し、ＳＥＬｍａｘがインアクティブでＳＥＬｍｉｎがア
クティブとなり、画素値選択器は画素値として５０を出
力するので、Ｐ１７も周囲の画素の画素値に対し平坦に
なるよう置き変わる。
Ｙｍａｘ、Ｙｍｉｎは共に５０となり、ＤＩＦｍａｘは
５０、ＤＩＦｍｉｎは−５０となり、条件１のみが成立
し、ＳＥＬｍａｘがアクティブでＳＥＬｍｉｎがインア
クティブとなり、画素値選択器は画素値として５０を出
力するので、Ｐ１４は周囲の画素の画素値に対し平坦に
なるよう置き変わる。注目画素がＰ１６である場合には
、Ｐ１４であった場合の動作とは逆に条件２のみが成立
し、ＳＥＬｍａｘがインアクティブでＳＥＬｍｉｎがア
クティブとなり、画素値選択器は画素値として５０を出
力するので、Ｐ１７も周囲の画素の画素値に対し平坦に
なるよう置き変わる。
【００２４】そして、注目画素がＰ１８である場合には
、ＤＩＦｍａｘは２０、ＤＩＦｍｉｎは−２０となり、
条件１、２共に成立せず、画素値選択器はＰ１８の画素
値をそのまま出力し、原画像信号に含まれるディテール
成分は保持される。
、ＤＩＦｍａｘは２０、ＤＩＦｍｉｎは−２０となり、
条件１、２共に成立せず、画素値選択器はＰ１８の画素
値をそのまま出力し、原画像信号に含まれるディテール
成分は保持される。
【００２５】最終的には（図７（ｂ））に示すような出
力が得られ、有為な画像情報を損なうこと無く画像欠陥
のみを除去することが可能である。
力が得られ、有為な画像情報を損なうこと無く画像欠陥
のみを除去することが可能である。
【００２６】また、本発明においては、画像の２次元的
な相関性のみに着目して処理を行ない時間軸は関知しな
いため、被写体の動きによる影響を受けることはない。
な相関性のみに着目して処理を行ない時間軸は関知しな
いため、被写体の動きによる影響を受けることはない。
【００２７】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、有意な画像情報を損なうことなく、又、フィ
ールドメモリのような巨大な記憶装置を必要とすること
なく、被写体の動きに無関係に、白キズ又は黒キズのよ
うにパルシブな画像欠陥を良好に除去することが可能と
なり、その実用的効果は大きい。
によれば、有意な画像情報を損なうことなく、又、フィ
ールドメモリのような巨大な記憶装置を必要とすること
なく、被写体の動きに無関係に、白キズ又は黒キズのよ
うにパルシブな画像欠陥を良好に除去することが可能と
なり、その実用的効果は大きい。
【図１】本発明の一実施例の概略ブロック図である。
【図２】本発明の一実施例の走査線メモリの構成例を示
す説明図である。
す説明図である。
【図３】本発明の一実施例の最大最小値検出器の構成例
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図４】本発明の一実施例のノイズ検出器の構成例を示
す説明図である。
す説明図である。
【図５】本発明の一実施例の画素値選択器の構成例を示
す説明図である。
す説明図である。
【図６】本発明の一実施例の注目画素と近傍画素群の配
置例を示す説明図である。
置例を示す説明図である。
【図７】本発明の一実施例と従来方式の動作説明図であ
る。
る。
１ 入力端子１
２ 走査線メモリ
３ 最大最小値検出器
４ ノイズ検出器
５ 画素値選択器
６ 出力端子１
１０ 入力端子２
１１ 画素遅延器１
１２ 画素遅延器２
１３ 画素遅延器３
１４ 画素遅延器４
１５ 画素遅延器５
１６ 画素遅延器６
１７ ライン遅延器１
１８ ライン遅延器２
１９ 注目画素値出力端子
２０ 近傍画素値群出力端子
２１ 近傍画素値群入力端子
２２ 最大値回路
２３ 最小値回路
２４ Ｙｍａｘ出力端子
２５ Ｙｍｉｎ出力端子
３０ 注目画素値入力端子１
３１ Ｙｍａｘ入力端子１
３２ Ｙｍｉｎ入力端子１
３３ 減算器１
３４ 比較器１
３５ 或値設定器１
３６ 減算器２
３７ 比較器２
３８ 或値設定器２
３９ ＳＥＬｍａｘ出力端子
４０ ＳＥＬｍｉｎ出力端子
４１ 注目画素値入力端子２
４２ Ｙｍａｘ入力端子２
４３ Ｙｍｉｎ入力端子２
４４ ＳＥＬｍａｘ入力端子
４５ ＳＥＬｍｉｎ入力端子
４６ 出力端子２
４７ マルチプレクサ
２０１ 走査線
２０２ 注目画素
２０３ 近傍画素群
ａ 入力信号
ｂ 注目画素値
ｃ 近傍画素値群
ｄ Ｙｍａｘ
ｅ Ｙｍｉｎ
ｆ ＳＥＬｍａｘ
ｇ ＳＥＬｍｉｎ
ｈ 出力信号
ｉ ＤＩＦｍａｘ
ｊ ＴＨｍａｘ
ｋ ＤＩＦｍｉｎ
ｌ ＴＨｍｉｎ
Claims (2)
- 【請求項１】 複数の走査線から構成される画像信号
より、注目画素および注目画素の周囲に２次元的に近接
する近傍画素群の画素値を出力する画素値群抽出手段と
、近傍画素値群に対し注目画素の画素値が所定の或値以
上差があるかを検出することにより注目画素にノイズが
含まれているか否かを判定するノイズ判定手段と、ノイ
ズ判定手段による判定結果を元に注目画素および近傍画
素群の画素値のうち何れか一つの画素値を選択し出力す
る画素値選択手段とを有することを特徴とする画像雑音
除去装置。 - 【請求項２】 複数の走査線から構成される画像信号
より、数ラインにわたる走査線の画素情報を一次的に保
持する手段と注目画素および注目画素の周囲に２次元的
に近接する画素値群を複数の出力端子より同時に出力す
る手段とを合わせ持つ走査線メモリと、近傍画素値群の
うち最大および最小の画素値を検出し出力する最大最小
値検出器と、近傍画素値群のうち最大の画素値に対し注
目画素の画素値が所定の或値以上大であるかあるいは近
傍画素値群のうち最小の画素値に対し注目画素の画素値
が所定の或値以上小であるかといった比較をすることに
より注目画素にノイズが含まれているか否かを判定し判
定結果を制御信号として出力するノイズ検出器と、注目
画素の画素値と近傍画素値群のうち最大および最小の画
素値の３つの画素値から制御信号により何れか一つの画
素値を選択し出力する画素値選択器とを有することを特
徴とする請求項１記載の画像雑音除去装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3007175A JPH04239886A (ja) | 1991-01-24 | 1991-01-24 | 画像雑音除去装置 |
| EP92300495A EP0496573B1 (en) | 1991-01-24 | 1992-01-21 | Pixel defect removing circuit for solid-state image pickup device |
| DE1992606830 DE69206830T2 (de) | 1991-01-24 | 1992-01-21 | Schaltung zur Beseitigung von Bildelementdefekten für Festkörper-Bildaufnehmer |
| US07/824,523 US5327246A (en) | 1991-01-24 | 1992-01-23 | Pixel defect removing circuit for solid-state image pickup device |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3007175A JPH04239886A (ja) | 1991-01-24 | 1991-01-24 | 画像雑音除去装置 |
| US07/824,523 US5327246A (en) | 1991-01-24 | 1992-01-23 | Pixel defect removing circuit for solid-state image pickup device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04239886A true JPH04239886A (ja) | 1992-08-27 |
Family
ID=26341433
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3007175A Pending JPH04239886A (ja) | 1991-01-24 | 1991-01-24 | 画像雑音除去装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04239886A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5974166A (en) * | 1996-06-26 | 1999-10-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | X-ray imaging apparatus and recording medium therefore |
| JP2005078345A (ja) * | 2003-08-29 | 2005-03-24 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理方法、コンピュータプログラム及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| US7432985B2 (en) | 2003-03-26 | 2008-10-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing method |
| EP2288136A2 (en) | 2002-06-05 | 2011-02-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus, image processing method and computer program for removing noise in image data |
| JP2015182523A (ja) * | 2014-03-21 | 2015-10-22 | 株式会社Ihi | デブリ検出方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61187467A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | イメ−ジセンサ |
| JPS63232579A (ja) * | 1987-03-19 | 1988-09-28 | Mitsubishi Electric Corp | 固体撮像装置 |
-
1991
- 1991-01-24 JP JP3007175A patent/JPH04239886A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61187467A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | イメ−ジセンサ |
| JPS63232579A (ja) * | 1987-03-19 | 1988-09-28 | Mitsubishi Electric Corp | 固体撮像装置 |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5974166A (en) * | 1996-06-26 | 1999-10-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | X-ray imaging apparatus and recording medium therefore |
| US6201891B1 (en) | 1996-06-26 | 2001-03-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | X-ray imaging apparatus and recording medium therefor |
| US6463169B1 (en) | 1996-06-26 | 2002-10-08 | Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd. | X-ray imaging apparatus and recording medium therefor |
| EP2288136A2 (en) | 2002-06-05 | 2011-02-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus, image processing method and computer program for removing noise in image data |
| US8023764B2 (en) | 2002-06-05 | 2011-09-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus, image processing method, and a program, for removing low-frequency noise from image data |
| US8306357B2 (en) | 2002-06-05 | 2012-11-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus, image processing method, and computer program |
| EP2288136A3 (en) * | 2002-06-05 | 2013-11-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus, image processing method and computer program for removing noise in image data |
| US8744209B2 (en) | 2002-06-05 | 2014-06-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus and image processing method for visually reducing noise components contained in a low frequency range of image data |
| US7432985B2 (en) | 2003-03-26 | 2008-10-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing method |
| JP2005078345A (ja) * | 2003-08-29 | 2005-03-24 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理方法、コンピュータプログラム及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| JP4500521B2 (ja) * | 2003-08-29 | 2010-07-14 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、コンピュータプログラム及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| JP2015182523A (ja) * | 2014-03-21 | 2015-10-22 | 株式会社Ihi | デブリ検出方法 |
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