KR100385251B1 - 화상신호처리장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 간이한 구성에서 고품질의 화상을 실현하는 화상 신호 처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

구성에 있어서, 서로 인접하는 1 주사선 걸러 형성된 제 1, 제 2 의 필드에서 이루어지는 프레임내의 해당 제 1 의 필드, 또는 제 2 의 필드의 검출 화소의 화상 신호 레벨과 해당 검출 화소의 근방의 근방 화소의 화상 신호 레벨과 가변 설정이 자유로운 움직임 검출 계수의 값과의 비교에 의거하여 해당 검출 화소의 화상의 움직임 유무를 검출하는 움직임 검출 수단(28)과, 상기 움직임 검출 수단(28)에서 검출 화소의 화상의 움직임이 검출되었을 때 해당 검출 화소의 화상 신호를 필드내 보간하는 필드 보간 수단(29)과, 상기 움직임 검출 계수를 가변 설정하는 검출 계수 설정 수단을 갖춘다.

Description

화상 신호 처리 장치

<산업상의 이용분야>

본 발명은 예를 들어, 확대 화상, 축소 화상, 또는 정지 화상의 출력 화상을 실현하는 화상 신호의 신호 처리를 실행하는 화상 신호 처리 장치에 관한 것이다.

<종래의 기술>

요즘, 카메라 일체형 비디오 테이프 레코더(이하, 캠코더라 칭함) 또는, 비디오 테이프 레코더등에서는 예를 들어, 제 18 도에 도시한 바와같이 확대율을 2배로 하여, 수평 라인(Z1)의 확대 처리에 의해 백점 화소의 화상 신호로부터 흑점 화소의 화상 신호를 형성하여 확대 화상을 출력하거나 축소율을 1/2 로 하여, 수평 라인(Z2)의 축소 처리에 의해 백점 화소의 화상 신호에서 흑점 화소의 화상 신호를 형성하여 축소 화상을 출력시키는 전자즘 또는 화상의 정지 처리를 행하고 정지 화상을 출력시키는 전자 스릴 등의 기능이 갖추어진 화상 신호 처리 장치가 보급되어 있다.

상기 확대 화상 및 정지 화상은 동화상과는 달리 화상의 화소 단위로 시각적으로 용이하게 인식 가능하다.

이때문에, 상기 화상 신호 처리 장치는 예를 들어, 제 19 도에 도시한 제 1,제 2 의 필드에서 프레임이 생성되는 제 1 필드의 수평 라인(1,3,5,7)의 화소(A,B,C,D) 및 제 2 필드의 수평 라인(2,4,6,8)의 화소(E,F,G,H)중의 화소(G)의 동작이 검출된 경우, 상기 제 2 필드의 화소(G)의 화상 신호를 상기 제 1 의 필드내의 화소(G)의 상하에 위치한 화소(C)와 화소(D)에서 필드에서 보간하여 형성하며, 상기 제 2 필드의 화소(G) 이외의 화상 신호(E,F)를 각각의 화소 상하에 위치하는 제 1 의 필드 화소(A)와 화소(B), 화소(B)와 화소(C)에서 필드간 보간하여 형성하며, 화소의 화상 동작이 검출된 때에 필드내의 보간 처리에 의해 고품질화하는 방법이 알려져 있다.

<발명이 해결하려는 과제>

그런데, 상기 화상의 동작 검출은 일반적으로 제 1 필드 또는 제 2 필드의 검출 주사선의 화상 신호 레벨과 상기 검출 주사선에 인접하는 주사선의 화상 신호 레벨에 기초하여 검출하지만, 화상 신호의 수평 방향으로 엣지 성분을 포함하는 경우는 화상에서 동작을 발생시키지 않는 경우에 있어서도 화상에 동작이 있다고 오류 검출하며, 필드내 보간하기 위해 필드간 보간에 비해 화질이 열화한다는 문제점이 발생된다.

또, 화상 신호 처리 장치에서는 일반적으로 화상의 동작을 검출하기 위해 제 1, 제 2 필드의 화상 신호, 상기 필드내의 보간 처리가 행하여진 화상 신호 및 확대 화상의 화상 신호를 저장하기 위해 4 필드의 화상 신호를 저장하는 메모리를 필요로 하며, 가격이 비싸다는 문제점이 있다.

또, 검출 화소의 화상 동작이 검출된 경우, 제 20 도에서 도시된 바와같이,제 1, 제 2 의 필드에서 각각 필드내 보간하여 생성한 제 1, 제 2 의 보간 화상 신호에 기초하여, 프레임의 화상 신호를 생성하기 위해 프레임에서 나타낸 화상의 상기 보간된 부분의 경계선상에서는 농도의 차이나 화상 신호 레벨의 역전 현상이 발생하는 문제점을 갖고 있다.

본 발명은 상기 문제점을 감안하여 간단한 구성으로 고품질의 화상을 실현하는 화상 신호 처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

<과제를 해결하기 위한 수단>

상기 목적을 달성한 본 발명에 관한 화상 신호 처리 장치는, 서로 인접하는 1 주사선 간격으로 형성된 제 1, 제 2 의 필드에서 이루어진 프레임내의 상기 제 1 필드 또는 제 2 필드의 검출 화소의 화상 신호 레벨과 상기 검출 화소 부근의 근방 화소의 화상 신호 레벨과 가변 설정이 자유로운 동작 검출 계수값과의 비교에 기초하여, 상기 검출 화소의 화상 동작 유무를 검출하는 동작 검출 수단과, 상기 동작 검출 수단에서 검출 화소의 화상 동작이 검출된 때에 상기 검출 화소의 화상 신호를 필드내 보간하는 필드 보간 수단 및, 상기 동작 검출 계수를 가변 설정하는 검출 계수 설정 수단을 구비한다.

또, 서로 인접하는 1 주사선간격으로 형성되는 제 1, 제 2 필드로부터 이루어진 필드내의 상기 제 1 필드 또는 제 2 필드의 검출 화소의 화상 신호 레벨과 상기 검출 화소 부근의 근방 화소의 화상 신호 레벨과 동작 검출 계수값의 비교에 기초하여, 상기 검출 화소의 화상 동작 유무를 검출하는 동작 검출 수단과, 상기 동작 검출 수단에서의 상기 프레임의 평형 방향에 있어서 단독으로 동작이 검출된 검출 화소인 고립점을 동작이 검출되지 않는 검출 화소로써 보간하며 해당 고립점을 제거하는 수평 고립점 제거 수단과, 상기 동작 검출 수단에서 동작이 검출된 상기 고립점 이외의 검출 화상 신호를 필드내 보간하는 필드 보간 수단을 구비한다.

또, 서로 인접하는 1 주사선 간격으로 형성되는 제 1, 제 2 의 필드에서 이루어지는 프레임내의 해당 제 1 의 필드 또는 제 2 의 필드 검출 화소의 화상 신호 레벨과 해당 검출 화소 근방의 근방 화소 화상 신호 레벨과 동작 검출 계수값과의 비교에 기초하여 해당 검출 화소의 화상 동작 유무를 검출하는 동작 검출 수단과 상기 동작 검출 수단에서 검출 화소의 화상 동작이 검출된 예에 해당 검출 화소의 화상 신호를 보간하는 보간 영역을 확대시키는 보간 영역 확대 수단과, 상기 보간 영역 확대 수단에 의해 확대된 보간 영역에서 화상 신호를 필드내 보간하는 필드 보간 수단을 구비한다.

또, 서로 인접하는 1 주사선 간격으로 형성되는 제 1, 제 2 의 필드에서 이루어지는 프레임내의 해당 제 1 의 필드 또는 제 2 의 필드 검출 화소의 화상 신호 레벨과 해당 검출 화소 근방의 근방 화소 화상 신호 레벨과 동작 검출 계수값과의 비교에 기초하여 해당 검출 화소의 화상 동작 유무를 검출하는 동작 검출 수단과 상기 동작 검출 수단에서 검출 화소의 화상 동작이 검출된 때에 해당 검출 화소의 화상 신호를 보간하는 보간 영역을 확대시키는 보간 영역 확대 수단과 상기 보간 영역 확대 수단에 의해 확대된 보간 영역의 화상 신호에 스무딩 처리를 행하는 스무딩 수단과 상기 스무딩 수단에서 스무딩 처리가 행해지고 상기 확대된 보간 영역에서 화상 신호를 필드내 보간하는 필드 보간 수단을 구비한다.

또, 동작 검출 수단은 서로 인접하는 1 주사형 간격으로 형성되는 제 1, 제 2 의 필드에서 이루어지는 프레임내의 해당 제 1 의 필드 또는 제 2 의 필드 복수의 검출 화소 화상 신호 레벨과 해당 각 검출 화소 마다의 근방인 근방 화소의 화상 신호 레벨에 대한 동작 검출 계수와의 비교에 기초하여 해당 검출 화소의 수평 방향 양경사 방향 및 수직 방향의 동작 유무를 검출한다.

또, 동작 검출 수단은 검출 화소의 화상 수직 방향의 동작 유무 검출을 수평 방향 성분이 컷된 프레임의 화상 신호에 기초하여 행한다.

또, 프레임내의 각 주사선에 인접하는 주사선간의 화상 신호 레벨차에 기초하여 수직 엣지를 검출하는 수평 엣지 검출 수단과 검출 계수 설정 수단은 상기 수직 엣지 검출 수단에서 수직 엣지가 검출된 때에 동작 검출 수단의 동작 검출 강도를 저하시키도록 동작 검출 계수를 설정한다.

또, 검출 계수 설정 수단은 동작 검출 수단에서 1 수평 라인 전의 화상 신호에 기초하여 동작이 있다고 검출된 때에 동작 검출 수단의 동작 검출 강도를 저하시키도록 동작 검출 계수를 설정한다.

또, 동작 검출 수단의 동작 검출 계수를 가변 설정 자유롭게 하고 프레임내의 각 주사선에 인접하는 주사선간 화상 신호 레벨차에 기초하여 수직 엣지를 검출하는 수직 엣지 검출 수단과 상기 수직 엣지 검출 수단에서 수직 엣지가 검출된 때에 동작 검출 수단의 동작 검출 강도를 저하하도록 동작 검출 계수를 설정하는 검출 계수 설정 수단이 설치된다.

또, 동작 검출 수단의 동작 검출 계수를 가변 설정 자유롭게 하고, 동작 검출 수단에서 1 수평 라인전의 화상 신호에 기초하여 동작이 있다고 검출된 때에 동작 검출 수단의 동작 검출 강도를 저하하도록 동작 검출 계수를 설정하는 검출 계수 설정 수단이 설치된다.

<작용>

상기의 구성을 구비하는 본 발명에 관한 화상 신호 처리 장치에 의하면 동작 검출 계수 설정 수단에서 동작 검출 수단의 동작 검출 계수를 가변 설정하는 것으로 동작의 검출 유무를 판정하는 임계치를 가변시키고 필드 보간 수단으로 해당 동작 검출 수단의 검출 결과에 기초하여 필드내 보간을 하는지 않하는지의 절환이 행해진다.

또, 수평 고립점 제거 수단에서 고립점이 제거된 화상 신호의 동작 검출 수단의 동작 검출 결과에 기초하여 필드 보간 수단에서 필드내 보간을 하는지 않하는지의 절환이 행해진다.

또, 보간 영역 확대 수단에 있어서 동작 검출 수단에서 검출 화소의 화상 동작이 검출된 때에 해당 검출 화소의 화상 신호를 보간하는 보간 영역을 확대시킨다.

또, 보간 영역 확대 수단에 있어서 동작 검출 수단에서 검출 화소의 화상 동작이 검출된 때에 해당 검출 화소의 화상 신호를 보간하는 보간 영역을 확대시키고 해당 확대된 보간 영역을 스무딩 수단에서 스무딩 처리를 행한다.

또, 동작 검출 수단에서 수평 방향 양검사 방향 및 수직 방향의 동작 유무가 검출된다.

또, 동작 검출 수단에서 수평 방향 성분이 컷된 화상 신호에 기초하여 수직 방향의 동작 유무를 검출한다.

또, 수직 엣지 검출 수단에서 수직 엣지가 검출된 때에 동작 검출 수단의 동작 검출 강도를 저하시킨다.

또, 동작 검출 수단에서 1 수평 라인전의 화상 신호에 기초하여 동작이 있다고 검출된 때에 동작 검출 수단의 동작 검출 강도를 저하시키도록 동작 검출 계수를 설정한다.

[실시예]

이하 본 발명에 관한 화상 신호 처리 장치의 바람직한 실시예에 대해서 도면을 참조하면서 설명한다.

본 발명에 관한 화상 신호 처리 장치(10)는 제 1 도에 도시하는 바와같이 예를 들어, 캠코더에 설치되어 있고, 촬상부(1)에서 공급된 화상 신호를 마이크로컴퓨터(19)의 지령에 기초하여 정지화상이나 확대화상을 출력하는 신호 처리를 행하며 출화부(2)에 송출한다.

상기 촬상부(1)는 촬상광이 조사되는 렌즈(4)와 이 렌즈(4)에서 도입한 촬상 광을 광전 변화하여 촬상 신호를 발생하는 CCD 이미지 센서(5)와, 이 CCD 이미지 센서(5)에서 공급된 촬상 신호의 촬상 신호 레벨을 일정 레벨로 하는 S/H.AGC 회로(6)와 이 S/H AGC 회로(6)에서 공급된 촬상 신호를 A/D 변환하는 A/D 컨버터(7)와 이 A/D 컨버터(7)에서 공급된 촬상 신호에 감마 보정과 화이트 밸런스 등의 처리를 행하고 화상 신호를 생성하여 화상 신호 처리 장치(10)에 송출하는 카메라/비디오 신호 처리 회로(8)를 갖는다.

상기 촬상부(1)에서는 촬상 신호에서 화상 신호를 생성하며 해당 화상 신호를 상기 화상 신호 처리 장치(10)에 공급한다.

상기 출화부(2)는 화상 신호 처리 장치(10)에서 공급된 화상 신호에 엠퍼시스와 FM 변조와 저역 변환 처리를 행하며 콤포지트 영상 신호를 생성하는 비디오 신호 처리 회로(11)와 이 비디오 신호 처리 회로(11)에서 공급된 콤포지트 영상 신호를 D/A 변환하는 D/A 컨버터(12)와 이 D/A 컨버터(12)에서 공급된 콤포지트 영상 신호를 증폭하는 R/P 앰프(13)와 이 R/P 앰프(13)에서 공급된 콤포지트 영상 신호를 자기 변환하여 자기 테이프(18)에 기록하는 비디오 헤드(14)와 상기 비디오 신호 처리 회로(11)에서 공급된 콤포지트 영상 신호를 D/A 변환하여 모니터에 송출하고 화상을 출화시키는 D/A 컨버터(15)를 갖는다.

상기 출화부(2)에서는 화상 신호 처리 장치(10)에서 공급된 화상 신호에 출화시키기 위한 화상 신호 처리를 행한 후에 출화한다.

상기 마이크로컴퓨터(19)에서는 확대화 축소화 또는 정지화를 출화시킬 때에 화상 신호 처리 장치(10)에 지령 신호를 송출한다.

상기 본 발명에 관한 화상 신호 처리 장치(10)는 제 2 도에 도시한 바와같이 촬상부(1)에서 공급된 화상 신호를 판독 가능하게 기입하는 프레임 저장 수단(17)과 이 프레임 저장 수단(17)에서 판독된 화상 신호를 확대 처리하는 확대 처리 수단(20)과 상기 프레임 저장 수단(17) 및 확대 처리 수단(20)을 제어하는 메모리 제어기(27)와 상기 프레임 저장 수단(1)에서 판독된 화상 신호의 각 검출 화소의 화상 동작을 검출하는 동작 검출 수단(28)과 이 동작 검출 수단(28)에서 동작이 검출된 검출 화소를 필드내 보간하는 필드 보간 수단(29)을 구비한다.

상기 프레임 저장 수단(17)은 촬상부(1)에서 공급된 화상 신호의 제 1, 제 2의 필드 화상 신호를 판독 가능하게 기입하는 제 1, 제 2 의 필드 메모리(21,22)를 갖는다.

상기 제 2 의 필드 메모리(21)는 제 2 도, 제 3 도에 도시하는 바와같이 화상 신호의 제 1 필드의 홀수 라인 번호의 수평 라인 1, 3, 5, 7 ... 이 공급되는 입력 단자(F1)와 기입된 화상 신호를 라인 메모리(23) 및 동작 검출 수단(28)에 송출하는 출력 단자(F0a)와 해당 기입된 화상 신호를 동작 검출 수단(28)에 송출하는 출력 단자(F0b)를 갖고 있고 해당 입력 단자(F1)에 공급된 제 1 의 필드 화상 신호를 기입하고 해당 출력 단자(F0a, F0b)에서 각각 독립의 타이밍으로 해당 기입된 제 1 의 필드 화상 신호가 수평 라인마다 판독된다.

상기 제 2 의 필드 메모리(22)는 제 2 도, 제 3 도에 도시하는 바와같이 화상 신호의 제 1 의 필드 짝수 라인 번호의 수평 라인 2, 4, 6, 8, ...이 공급되는 입력 단자(S1)와 기입된 화상 신호를 라인 메모리(25) 및 동작 검출 수단(28)에 송출하는 출력 단자(S0a)와 해당 기입된 화상 신호를 동작 검출 수단(28)에 송출하는 출력 단자(S0b)를 갖고 있고, 해당 입력 단자(S1)에 공급된 제 2 의 필드 화상 신호를 기입하고 해당 출력 단자(S0a, S0b)에서 각각 독립의 타이밍으로 해당 기입된 제 2 의 필드 화상 신호가 수평 라인마다 판독된다.

상기 확대 처리 수단(20)은 상기 제 1 의 필드 메모리(21)에서 화상 신호가공급되는 스위치(S1)와 이 스위치(S1)에서 공급된 화상신호를 1 수평 라인마다 저장하는 라인 메모리(23)와 이 라인 메모리(23)에서 화상 신호가 공급되는 스위치(S2)와 이 스위치(S2)에서 공급된 화상 신호를 1 수평 라인마다 저장하는 라인 메모리(24)와 해당 제 2 의 필드 메모리(22)에서 화상 신호가 공급되는 스위치(S3)와 이 스위치(S3)에서 공급된 화상 신호를 1 수평 라인마다 저장하는 라인 메모리(25)와 이 라인 메모리(25)에서 화상 신호가 공급되는 스위치(S4)와 이 스위치(S4)에서 공급된 화상 신호를 1 수평 라인마다 저장하는 라인 메모리(26)를 갖는다.

상기 메모리 제어기(27)는 상기 마이크로컴퓨터(19)의 지령에 따라 해당 프레임 메모리(21,22)의 기입/판독 및 스위치(S1,S2,S3,S4)의 절환 제어를 행한다.

상기 스위치(S1)는 제 1 의 필드 메모리(21)의 출력 단자(f0a) 출력 신호가 공급되는 제 1 의 입력 단자(J1)와 상기 라인 메모리(23)의 출력 단자(F02)에서 출력 신호가 공급되는 제 2 의 입력 단자(R1)와 상기 메모리 제어기(27)의 절환 제어에 의해 해당 제 1 의 입력 단자(J1) 또는 제 2 의 입력 단자(R1) 출력 신호를 라인 메모리(23)의 입력 단자(F01)에 공급하는 출력 단자를 갖는다.

상기 스위치(S2)는 상기 라인 메모리(23)의 출력 단자(F02) 출력 신호가 공급되는 제 1 의 출력 단자(J2)와 상가 라인 메모리(24)의 출력 단자(F04)에서 출력 신호가 공급되는 제 2 의 출력 단자(R2)와 상기 메모리 제어기(27)의 절환 제어에 의해 해당 제 1 의 입력 단자(J2) 또는 제 2 의 입력 단자(R2) 출력 신호를 해당 라인 메모리(24)의 출력 단자(F03)에 공급하는 출력 단자를 갖는다.

상기 스위치(S3)는 제 2 의 필드 메모리(22) 출력 단자(S0a) 출력 신호가 공급되는 제 1 의 입력 단자(J3)와 상기 라인 메모리(25)의 출력 단자(S02)에서 출력 신호가 공급되는 제 2 의 입력 단자(R3)와 상기 메모리 제어기(27)의 절환 제어에 의해 해당 제 1 의 입력 단자(J3) 또는 제 2 의 입력 단자(R3)의 출력 신호를 해당 라인 메모리(25)의 입력 단자(S01)에 공급하는 출력 단자를 갖는다.

상기 스위치(S4)는 상기 라인 메모리(25)의 출력 단자(S02) 출력 신호가 공급되는 제 1 의 입력 단자(J4)와 상기 라인 메모리(26)의 출력 단자(S04)에서 출력 신호가 공급되는 제 2 의 입력 단자(R4)와, 상기 메모리 제어기(72)의 절환 제어에 의해 해당 제 1 의 입력 단자(J4) 또는 제 2 의 입력 단자(R4) 출력 신호를 해당 라인 메모리(26)의 입력 단자(S03)에 공급하는 출력 단자를 갖는다.

상기 메모리 제어기(27)는 마이크로컴퓨터(19)의 지령에 따라 프레임의 홀수 라인 번호인 제 1 의 필드를 상기 제 1 의 필드 메모리(21)에 기입하고 짝수 라인 번호인 제 2 의 필드를 제 2 의 필드 메모리(22)에 기입하는 제어를 행하며, 또 제 4 도에 도시하는 바와같이 스위치 제어 신호가 High 상태/Low 상태시에 상기 스위치(S1,S2,S3,S4)의 출력 단자에서 제 1 의 입력 단자(J1,j2,J3,J4)/제 2 의 입력 단자(R1,R2,R3,R4)의 출력 신호를 송출시키도록 질환하는 절환 제어 및 상기 스위치 제어 신호의 1 사이클간에 제 1 의 필드 메모리(21) 출력 단자(F0a, F0b)에서 홀수 라인 번호에 서로 인접하는 1 수평 라인의 화상 신호를 2 회 판독하고, 제 2의 필드 메모리(22) 출력 단자(S0a,S0b)에서 짝수 라인 번호에 서로 인접하는 1 수평 라인의 화상 신호를 2 회 판독하는 제어를 실행한다.

다음에, 상기의 구성에 의한 화상 신호 처리 장치(10)의 프레임 저장 수단(17)에 예를 들어, 제 3 도에 도시한 수평 라인 1 내지 수평 라인(8)이 공급된 경우의 해당 프레임 저장 수단(17), 확대 처리 수단(20) 및 메모리 제어기(27)에 의한 확대 처리의 동작 설명을 제 4 도를 사용하여 행한다.

시간(T1)에서는 스위치 제어 신호 =Low 상태에서 상기 스위치(S1,S2,S3,S4)의 출력 단자를 제 2 의 입력 단자(R1,R2,R3,R4)에 접속하고 제 1, 제 2 의 필드 메모리(21,22)의 출력 단자(F0a,S0a)에서 수평 라인(1,2)의 화상 신호를 판독하며 스위치(S1,S3) 및 동작 검출 수단(28)에 송출하고 제 1, 제 2 의 필드 메모리(22)의 출력 단자(F0b,S0b)에서 수평 라인(3,4)의 화상 신호를 판독하여 동작 검출 수단(28)에 송출한다.

시간(T2)에서는 스위치 제어 신호 =High 상태로, 상기 스위치(S1,S2,S3,S4)의 출력 단자를 제 1 입력 단자(J1,J2,J3,J4)에 접속하고 제 1, 제 2 필드 메모리(21,22)의 출력 단자(F0a, S0a)로부터 수평 라인(1,2)의 화상신호를 읽어내고, 스위치(S1,S3) 및 동작 검출 수단(28)에 송출하고, 제 1, 제 2 필드 메모리(22)의 출력 단자(F0b,S0b)로부터 수평 라인(3,4)의 화상 신호를 읽어내어 동작 검출 수단 (28)에 송출한다.

시간(T3)에서는 스위치 제어 신호 =Low 상태로, 상기 스위치(S1,S2,S3,S4)의 출력 단자를 제 2 입력 단자(R)에 접속하고 라인 메모리(23,25)로 상기 제 1, 제 2 필드 메모리(21,22)의 출력 단자(F0a,S0a)로부터 송출된 수평 라인(1), 수평 라인 (2)의 화상 신호를 유지한다. 또한, 제 1, 제 2 의 필드 메모리(21,22)의 출력 단자(F0a,S0a)로부터 수평 라인(3,4)의 화상 신호를 읽어, 스위치(S1,S3) 및 동작 검출 수단(28)에 송출하고, 제 1, 제 2 필드 메모리(22)의 출력 단자(F0b,S0b)로부터 수평 라인(5,6)의 화상 신호를 읽고, 동작 검출 수단(28)에 송출한다.

시간(T4)에서는 스위치 제어 신호 =High 상태로, 상기 스위치(S1,S2,S3,S4)의 출력 단자를 제 1 입력 단자(J1,J2,J3,J4)에 접속하고, 라인 메모리(23,24)로 유지된 수평 라인(1), 수평 라인(2)을 라인 메모리(24,26)에 송출하고, 제 1, 제 2 필드 메모리(21,22)의 출력 단자(F0a,S0a)로부터 수평 라인(3,4)의 화상 신호를 읽고, 스위치(S1,S3) 및 동작 검출 수단(28)에 송출하고, 제 1, 제 2 필드 메모리(22)의 출력 단자(F0b,S0b)로부터 수평 라인(5,6)의 화상 신호를 읽어내어 동작 검출 수단(28)에 송출한다.

시간(T5)에서는 스위치 제어 신호 =Low 상태로 상기 스위치(S1,S2,S3,S4)의 출력 단자를 제 2 입력 단자(R1,R2,R3,R4)에 접속하고 라인 메모리(24,26)로 해당 라인 메모리(23,24)로부터 송출된 수평 라인(1,2)의 화상신호를 유지하고, 라인 메모리(23,25)로 상기 제 1, 제 2 필드 메모리(21,22)의 출력 단자(F0a,F0b)로부터 송출된 수평 라인(3,4)의 화상 신호를 유지한다. 또한, 제 1, 제 2 필드 메모리(21,22)의 출력 단자(F0a,S0a)로부터 수평 라인(5,6)의 화상 신호를 읽고, 스위치(S1,S3) 및 동작 검출 수단(28)에 송출하고, 제 1, 제 2 필드 메모리(22)의 출력 단자(F0a,S0b)로부터 수평 라인(7,8)의 화상 신호를 읽고, 동작 검출 수단(28)에 송출한다.

시간(T6)에서는 스위치 제어 신호 =High 상태의 상기 스위치(S1,S2,S3,S4)의출력 단자를 제 1 입력 단자(J1,J2,J3,J4)에 접속하고, 라인 메모리(24,26)로 유지된 수평 라인(1,2)을 필드 보간 수단(29)에 송출하고, 라인 메모리(23,25)로 유지된 수평 라인(3,4)을 라인 메모리(24,26)에 송출하고, 제 1, 제 3 필드 메모리(21,22)의 출력 단자(F0a,S0a)로 부터 수평 라인(5,6)의 화상 신호를 읽고, 스위치(S1,S3) 및 동작 검출 수단(28)에 송출하고, 제 1, 제 2 의 필드 메모리(22)의 출력 단자(F0b,S0b)로부터 수평 라인(7,8)의 화상 신호를 읽어내고, 동작 검출 수단(28)에 송출한다.

이상과 같이, 상기 프레임 저장 수단(17)과 확대 처리 수단(20)을 메모리 제어기(27)로 제어함으로, 예를 들어, 시간(T5)에서 라인 메모리(23,24,25,26)에 유지된 화상 신호의 수평 라인(1,2,3,4)은 라인 메모리(24,26,23,25)의 출력 단자(F04,S04,F02,S02)로부터 읽어, 수직 방향에 확대 처리를 함이 가능하다.

이 확대 처리는 예를 들어, 제 5 도에 도시한 것과같이 상기 수평 라인(12,3)은 수평 라인(1) 및 수평 라인(2)으로부터 수평 라인(A,B)을 형성하고, 수평 라인(2) 및 수평 라인(3)으로부터 수평 라인(C,D)을 형성함으로써 3 개의 수평 라인에서 4 개의 수평 라인을 형성하고 수직 방향에 4/3 배의 확대율로 확대하는 것이 가능하다.

이 확대율은 상기 스위치 제어 신호의 1 사이클 사이에, 상기 제 1, 제 2 의 필드 메모리(21,22)로부터 읽어내는 화상 신호의 회수에 따라 가변 설정된다.

상기 동작 검출 수단(28)은 제 6 도에 도시하는 것같이 프레임 저장 수단 (17)으로부터 공급된 화상 신호의 수직 엣지를 검출하는 수직 엣지 검출 수단(30)과 해당 화상 신호로부터 상기 촬상부(1)의 CCD 이미지 센서(4)의 샘플링 처리때에 생성된 유사 신호를 저감시키는 잡음 저감 회로(31)와 이 잡음 저감 회로(31)로부터 공급된 화상 신호의 랜덤 노이즈를 커트하는 2 차원 필터(32)와, 이 2 차원 필터(32)로부터 공급된 화상 신호로부터 검출 화소의 화상 동작을 검출하는 제 1 검출 계수 설정 수단(33)과, 이 제 1 검출 계수 설정 수단(33)으로 부터 공급된 화상 신호의 수평 방향의 고립점을 보간하는 수평 고립점 제거 수단(34)과, 이 수평 고립점 제거 수단(34)으로 부터 공급된 1 수평 신호전의 화상 신호의 동작 검출 결과가 저장되는 1H 딜레이 메모리(35)와 해당 잡음 저감회로(31)로 부터 공급된 화상 신호의 수평 방향 성분을 커트하는 수평 성분 커트 필터(37)와, 이 수평 성분 커트 필터(37)로부터 공급된 화상 신호로부터 검출 화소의 화상 동작을 검출하는 제 2 검출 계수 설정 수단(38)과, 이 제 2 검출 계수 설정 수단(38)으로부터 공급된 화상 신호의 수평 방향의 고립점을 보간하는 수평 고립점 제거 수단(39)과, 이 수평 고립점 제거 수단(39)으로부터 공급된 1 수평 신호전의 화상 신호 동작 검출 결과가 저장되는 1H 딜레이 메모리(40)와, 해당 1H 딜레이 메모리(35,40)의 출력 신호에 의거해 해당 수평 고립점 제거 수단(34,39)의 각각의 출력 신호를 바꾸어 출력하는 전환 수단(41)과, 이 전환 수단(41)으로부터 공급된 화상 신호의 수직 방향의 고립점을 보간하는 수직 고립점 제거 수단(42)과, 이 수직 고립점 제거 수단(4)으로부터 공급된 화상 신호의 보간 에리어를 확대하는 보간 에리어 확대 수단(43)과, 이 보간 에리어 확대 수단(43)으로부터 공급된 화상 신호의 스무딩 처리를 행하는 스무딩 수단(44)을 갖춘다.

상기 수직 엣지 검출 수단(30)은 서로 이웃하는 수평 라인의 수직 방향 성분의 차분을 연산함으로써 수직 방향의 엣지인 수직 엣지를 검출해, 수직 엣지가 검출된 때에, 제 1, 제 2 검출 계수 설정 수단에 의해 동작의 검출 감도를 저하시키도록 동작 검출 계수를 전환시킨다.

이 수직 엣지 검출 수단(30)에 의해 수직 엣지가 검출된 때에 동작 검출 수단(28)의 동작 검출 감도를 저하시킴으로, 간이한 구성으로 수직 엣지를 동작 잘못 검출하지 않고 검출 화소의 동작 검출을 고정밀도로 행하고, 상기 화상 신호 처리 장치(10)로 고품질의 화상이 형성된다.

상기 제 1 검출 계수 설정 수단(33)은 제 7 도에 도시한 것과같이, 예를 들어, 검출 화소(B)의 근방 화소 영역(Q)에 있어서, 검출 화소(B)와 해당 검출 화소(B)의 1개 위의 화소(A), 해당 검출 화소(B)의 1 개 및 2 개 밑의 화소(C) 및 화소(D), 해당 검출 화소(B)의 오른쪽 경사 방향으로 1 개 위의 화소(H), 해당 검출 화소(B)의 오른쪽 경사 방향에 1 개 및 2 개 밑의 화소(I) 및 화소(J), 해당 검출 화소(B)의 왼쪽 경사 방향에 1 개 위의 화소(E), 및 검출 화소(B)의 왼쪽 경사 방향에 1 개 및 2 개 밑의 화소(F) 및 화소(G)와의 각각의 화상 신호 레벨에 의거해 검출 화소(B)의 동작을 검출한다.

이 제 1 검출 계수 설정 수단(33)은 제 8 도에 도시한 것과 같이 동작 검출 계수를 설정하는 검출 계수 설정 수단(46)과, 해당 동작 검출 계수에 의거해 수평 방향의 동작을 검출하는 수평 방향 검출부(47)와 해당 동작 검출 계수에 의거해 오른쪽 경사 방향의 동작을 검출하는 오른쪽 경사 방향 검출부(48)와, 해당 동작 검출 계수에 의거해 왼쪽 경사 방향의 동작을 검출하는 왼쪽 경사 방향 검출부(49)를 갖춘다.

상기 검출 계수 설정 수단(46)은 동작 검출 계수(K)를 F1, F2 또는 F3(｜F1｜<｜F2｜<｜F3｜)에 가변 설정이 자유롭게 구성되어, 상기 수직 엣지 검출 수단(30)에서 수직 엣지 검출의 유/무에 의거해 동작 검출 계수(K)를 F2/F1 에 설정하고, 상기 수평 방향 검출부(47), 오른쪽 경사 방향 검출부(48), 및 왼쪽 경사 방향 검출부(49)에 송출하는 스위치(S5)와, 해당 동작 검출 계수(L)=3 을 해당 수평 방향 검출부(47), 오른쪽 경사 방향 검출부(48), 및 왼쪽 경사 방향 검출부(49)에 송출하는 출력 단자(T1)를 갖는다.

상기 검출 계수 설정 수단(46)에서는 수직 엣지 검출 수단(30)에서의 수직 엣지 검출의 유/무에 의거해 동작 검출 계수(K)=F2/F1, 및 동작 검출 계수(K)=F3을 상기 수평 방향 검출부(47), 오른쪽 경사 방향 검출부(48), 및 왼쪽 경사 방향 검출부(49)에 송출한다.

상기 수평 방향 검출부(47)는 검출 화소(A)의 화상 신호 레벨로부터 화소(B)의 화상 신호 레벨을 감산하는 감산기(51)와, 화소(B)의 화상 신호 레벨로부터 화소(C)의 화상 신호 레벨을 감산하는 감산기(52)와 화소(C)의 화상 신호 레벨로부터 화소(D)의 화상 신호 레벨을 감산하는 감산기(53)와, 감산기(51)의 출력 신호와 감산기(52)의 출력 신호를 감산하는 승산기(54)와 감산기(52)의 출력 신호와 감산기(53)의 출력 신호를 승산하는 승산기(55)와, 상기 검출 계수 설정 수단(46)의 스위치(S5)로부터 공급되는 동작 검출 계수(K)와 해당 승산기(54)의 출력 신호를 비교하는 비교기(56)와, 해당 검출 계수 설정 수단(46)의 출력 단자(T1)로부터 공급되는 동작 검출 계수(F3)와 해당 승산기(54)의 출력 신호를 비교하는 비교기(57)와 해당 스위치(S5)로 부터 공급되는 동작 검출 계수(K)와 해당 승산기(55)이 출력 신호를 비교하는 비교기(58)와, 해당 출력 단자(T1)로부터 공급되는 동작 검출 계수(F3)와 해당 승산기(55)의 출력 신호를 비교하는 비교기(59)와 해당 비교기(56)의 출력 신호와 해당 비교기(58)의 출력 신호와의 논리곱을 상기 수평 고립점 제거 수단(34)에 출력하는 앤드 회로(60)와, 해당 비교기(57)의 출력 신호와 해당 비교기(59)의 출력 신호와의 논리곱을 수평 고립점 제거 수단(34)에 출력하는 앤드 회로(61)를 갖는다.

여기서, 상기 검출 화소(B) 및 근방 화소(A,C,D)의 각 화상 신호 레벨을 b 및 a, c, d 이라고 한다.

상기 비교기(56)의 출력 신호는 상기 수직 엣지의 검출 유/무에 의거해 상기 검출 계수 설정 수단(46)으로 가변 서정된 동작 검출 계수(K)=F2/F1 이 공급되어, 하기(1)식 조건에서 High 상태/그외 조건에서 Low 상태로 된다.

상기 비교기(57)의 출력 신호는 상기 검출 계수 설정 수단(46)으로부터 동작 검출 계수(K)=F3 이 공급되어, 하기(1)식 때에 High 상태/그 이외의 조건에서 Low 상태로 된다.

(a-b) x (b-c) < K (1)식

상기 비교기(58)의 출력 신호는 상기 수직 엣지의 유/무에 의거해, 상기 검출 계수 설정 수단(46)으로 가변 설정된 동작 검출 계수(K)=F2/F1 이 공급되어 하기(2)식 조건에서 High 상태/그이외의 조건에서 Low 상태로 된다.

상기 비교기(59)의 출력 신호는 상기 검출 계수 설정 수단(46)으로부터 동작 검출 계수(K)=F3 이 공급되어, 하기(2)식일때에 High 상태/그 이외의 조건에서 Low 상태가 된다.

(b-c) x (c-d) < K (2)식

이상의 구성에 의한 수평 방향 검출부(47)에서는 검출 화소(B)의 수평 방향의 동작 유/무에 의거해, 상기 앤드 회로(60) 또는 앤드 회로(61)의 출력 신호가 적어도 한쪽이 High 상태/해당 앤드 회로(60) 및 앤드 회로(61)의 출력 신호가 Low상태가 된다.

상기 오른쪽 경사 방향 검출부(48)는 검출 화소(E)의 화상 신호 레벨로부터 화소(B)의 화상 신호 레벨을 감산하는 감산기(71)와 화소(B)의 화상 신호 레벨로부터 화소(F)의 화상 신호 레벨을 감산하는 감산기(72)와, 화소(F)의 화상 신호 레벨로부터 화소(G)의 화상 신호 레벨을 감산하는 감산기(73)와, 감산기(71)의 출력 신호와 감산기(72)의 출력 신호를 승산하는 승산기(74)와, 감산기(72)의 출력 신호와 감산기(73)의 출력 신호를 승산하는 승산기(75)와, 상기 검출 계수 설정 수단(46)의 스위치(S5)로부터 공급되는 동작 검출 계수(K)와 해당 승산기(74)의 출력 신호를 비교하는 비교기(76)와, 해당 검출 계수 설정 수단(46)의 출력 단자(T1)로부터 공급되는 동작 검출 계수(3)와 해당 승산기(74)의 출력 신호를 비교하는 비교기(77)와, 해당 스위치(S5)로부터 공급되는 동작 검출 계수(K)와 해당 승산기(75)의 출력 신호를 비교하는 비교기(78)와 출력 단자(T10)로부터 공급되는동작 검출 계수(F3)와 해당 승산기(75)의 출력 신호를 비교하는 비교기(79)와 해당 비교기(76)의 출력 신호와 비교기(78)의 출력 신호와의 논리곱을 상기 수평 고립점 제거 수단(34)에 출력하는 앤드 회로(80)와 해당 비교기(77)의 출력 신호와 해당 비교기(79)의 출력 신호와의 논리곱을 해당 수평 고립점 제거 수단(34)에 출력하는 앤드 회로(81)를 갖는다.

여기서, 상기 검출 화소(B) 및 근방 화소(E, F, G)의 각 화상 신호 레벨을 b 및 e, f, g 이라고 한다.

상기 비교기(76)는 상기 수직 엣지의 검출 유/무에 의거해 상기 검출 계수 설정 수단(46)으로 가변 설정된 동작 검출 계수(K)=F2/F1 이 공급되어, 하기(3)식의 조건에서 High 상태/그 이외의 조건에서 Low 상태가 된다.

상기 비교기(77)는 상기 검출 계수 설정 수단(46)으로 부터 동작 검출 계수(K)=F3 이 공급되어, 하기(3)식의 때에 High 상태/그 이외의 조건에서 Low 상태가 된다.

(e-b) x (b-f) < K (3)식

상기 비교기(78)는 상기 수직 엣지의 검출 유/무에 의거해 상기 검출 계수 설정 수단(46)으로 가변 설정된 동작 검출 계수(K)=F2/F1 이 공급되어, 하기(4)식의 조건에서 High 상태/그이외의 조건에서 Low 가 된다.

상기 비교기(79)는 상기 검출 계수 설정 수단(46)으로부터 동작 검출 계수 (K)=F3 이 공급되어 하기(4)식 때에 High 상태/그이외의 조건에서 Low 상태가 된다.

(b-f) x (f-g) < K (4)식

상기 앤드 회로(80)는 상기 비교기(76) 및 비교기(78)의 논리곱을 출력한다.

상기 앤드 회로(81)는 상기 비교기(77) 및 비교기(79)의 논리곱을 출력한다.

이상의 구성에 의한 오른쪽 경사 방향 검출부(48)에서는 검출 화소(B)의 오른쪽 경사 방향의 동작 유/무에 의거해 상기 앤드 회로(80) 또는 앤드 회로(81)의 출력 신호가 적어도 한쪽이 High 상태/해당 앤드 회로(80) 및 앤드 회로(81)의 출력 신호가 Low 상태가 된다.

상기 왼쪽 경사 방향 검출부(49)는 검출 화소(H)의 화상 신호 레벨로부터 화소(B)의 화상 신호 레벨을 감산하는 감산기(91)와, 화소(B)의 화상 신호 레벨로부터 화소(I)의 화상 신호 레벨을 감산하는 감산기(92)와, 화소(I)의 화상 신호 레벨로부터 화소(J)의 화상 신호 레벨을 감산하는 감산기(93)와, 감산기(91)의 출력 신호와 감산기(92)의 출력 신호를 감산하는 승산기(94)와, 감산기(92)의 출력 신호와 감산기(93)의 출력 신호를 승산하는 승산기(95)와 상기 검출 계수 설정 수단(46)의 스위치(S5)로부터 공급되는 동작 검출 계수(K)와 해당 승산기(94)의 출력 신호를 비교하는 비교기(96)와 해당 검출 계수 설정 수단(46)의 출력 단자(T1)로부터 공급되는 동작 검출 계수(F3)와 해당 승산기(94)의 출력 신호를 비교하는 비교기(97)와, 해당 스위치(S5)로부터 공급되는 동작 검출 계수(K)와 해당 승산기(95)의 출력 신호를 비교하는 비교기(98)와 출력 단자(T1)로부터 공급되는 동작 검출계수(F3)와 해당 승산기(95)의 출력 신호를 비교하는 비교기(99)와 비교기(96)의 출력 신호와 해당 비교기(98)의 출력 신호와의 논리곱을 상기 수평 고립점 제거 수단(34)에 출력하는 앤드 회로(100)와 해당 비교기(97)의 출력 신호와 비교기(99)의 출력 신호와의 논리곱을 해당 수평 고립점 제거 수단(34)에 출력하는 앤드 회로(101)를 갖는다.

여기서, 상기 검출 화소(B) 및 근방 화소(H,I,J)의 각 화상 신호 레벨을 b 및 h, i, j 이라고 한다.

상기 비교기(96)는 상기 수직 엣지의 검출 유/무에 의거해 상기 검출 계수 설정 수단(46)으로 가변 설정된 동작 검출 계수(K)=F2/F1 이 공급되어, 하기(5)식의 조건에서 High 상태/그이외의 조건에서 Low 상태가 된다.

상기 비교기(97)는 상기 검출 계수 설정 수단(46)으로 부터 동작 검출 계수(K)=F3 이 공급되어 하기(5)식의 때에 High 상태/그이외의 조건에서 Low 상태가 된다.

(h-b) x (b-i) < K (5)식

상기 비교기(98)는 상기 수직 엣지의 검출 유/무에 의거해 상기 검출 계수 설정 수단(46)으로 가변 설정된 동작 검출 계수(K)=F2/F1 이 공급되어, 하기(6)식의 조건에서 High 상태/그 이외의 조건에서 Low 상태가 된다.

상기 비교기(99)는 상기 검출 계수 설정 수단(46)으로부터 동작 검출 계수 (K)=F3 이 공급되어 하기(6)식의 때에 High 상태/그 이외의 조건에서 Low 상태가 된다.

(b-i) x (i-j) < K (6)식

상기 앤드 회로(100)는 상기 비교기(76) 및 비교기(78)의 논리곱을 출력한다.

상기 앤드 회로(101)는 상기 비교기(77) 및 비교기(79)의 논리곱을 출력한다.

이상의 구성에 의한 왼쪽 경사 방향 검출부(49)에서는 검출 화소(B)의 왼쪽 경사 방향의 동작 유/무에 의거해, 상기 앤드 회로(100) 또는 앤드 회로(101)의 출력 신호가 적어도 한쪽이 High 상태/해당 앤드 회로(100) 및 앤드 회로(101)의 출력 신호가 Low 상태가 된다.

이상의 구성에 의한 제 1 검출 계수 설정 수단(33)에서는 검출 화소(B)의 수평 방향, 오른쪽 경사 방향 또는 왼쪽 경사 방향의 동작 유/무에 의거해 수평 방향 검출부(47)의 앤드 회로(60,61), 왼쪽 경사 방향 검출부(48)의 앤드 회로(80,81)가 적이도 1 개의 앤드 회로가 High 상태/상기 모드 앤드 회로가 Low 상태가 되는 출력 신호를 출력한다.

따라서, 제 1 검출 계수 설정 수단(33)에서는 동작 검출을 판정하는 역치를 가변 설정 가능하며, 수직 방향의 엣지와 노이즈 등을 동작으로 잘못 검출하지 않게 최적 역치로 설정하기 위해 간이한 구성으로 검출 화소의 화상의 동작 검출을 고정밀도로 행해, 화상 신호 처리 장치(100)로 고품질의 화상이 형성된다.

상기 수평 고립점 제거 수단(34)은 상기 수평 방향 검출부(47)의 앤드 회로(60)의 출력 신호로부터 수평 방향의 고립점을 제거하는 수평 고립점 제거 회로(62)와 해당 수평 방향 검출부(47)의 앤드 회로(61)의 출력 신호로부터 수평 방향의 고립점을 제거하는 수평 고립점 제거 회로(63)와 상기 오른쪽 경사 방향 검출부(46)의 앤드 회로(80)의 출력 신호로부터 수평 방향의 고립점을 제거하는 수평 고립점 제거 회로(82)와 해당 오른쪽 경사 방향 검출부(46)의 앤드 회로(81)의 출력 신호로부터 수평 방향의 고립점을 제거하는 수평 고립점 제거 회로(83)와 상기 왼쪽 경사 검출부(47)의 앤드 회로(100)의 출력 신호로부터 수평 방향의 고립점을 제거하는 수평 고립점 제거 회로(102)와 해당 왼쪽 경사 방향 검출부(47)의 앤드 회로(101)의 출력 신호로부터 수평 방향의 고립점을 제거하는 수평 고립점 제거 회로(103)를 갖는다.

상기 수평 고립점 제거 회로(62)는 제 9 도에 도시하듯이 상기 앤드 회로(60)로부터 공급된 화상 신호를 1 화소분씩 시프트하여 유지하는 시프트 레지스터(66,67)와 해당 앤드 회로(60)의 출력 신호와 시프트 레지스터(67)의 출력 신호와의 논리합을 출력하는 오아 회로(68)와 이 오아 회로(68)의 출력 신호와 시프트 레지스터(67)의 출력 신호와의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(69)를 갖는다.

이상의 구성에 의한 수평 고립점 제거 회로(62)에서는 예를 들어, 1 수평 라인 제 1, 제 2, 제 3,...의 화소의 화상 신호가 순차 앤드 회로(60)로부터 공급되어, 해당 제 2 화소가 동작이 있는 화소로 수평 방향으로 고립해 있는 경우, 시프트 레지스터(67,66), 앤드 회로(60)의 출력 신호가 해당 제 1, 제 2, 제 3의 화소의 화상 신호로 되고, 오아 회로(68)로 해당 고립점의 제 2 화소에 인접하는 좌우의 제 1, 제 3 의 화소의 화상 신호의 논리합을 취함으로써 해당 제 3 화소를 보간해, 앤드 회로(69)로부터 고립점이 제거된 화상 신호가 출력된다.

상기 수평 고립점 제거 회로(63,82,83,102,103)는 상기 수평 고립점 제거 회로(62)와 같은 구성을 이루고, 수평 방향에 고립해 있는 화소의 화상 신호를 고립해 있는 화소인 고립점에 인접하는 해당 고립점 좌우의 화소로 보간함으로, 고립점을 제거한다.

따라서, 고립점 제거부(34)는 수평 방향에 고립해 있는 화소인 고립점을 해당 고립점에 인접하는 좌우 화소로 보간하므로써 고립점을 제거한다.

이 고립점 제거부(34)에서는 실제의 피사체 동작으로써는 존재하지 않는 고립점을 제거한 후에 동작 검출부(28)에서 동작 검출을 판정함으로, 간이한 구성으로 검출 화소의 화상 동작 검출을 고정밀도로 행해, 화상 신호 처리 장치(100)로 고품질의 화상이 형성된다.

상기 수평 성분 커트 필터(37)는 공급된 화상 신호로 부터 수평 방향 성분을 커트하는 8 차 저성 투과 필터에 의해 구성되어 있다.

이 수평 성분 커트 필터(37)에서는 수평 방향 성분을 커트하여, 동작 검출 수단(28)으로 수직 방향의 동작을 정확히 검출하는 것이 가능하다. 이때문에, 수직 방향의 엣지를 동작으로 잘못 검출하지 않고 검출 화소의 화상의 동작 검출을 고정밀도로 행하고, 화상 신호 처리 장치(100)로 고품질 화상이 형성된다.

상기 제 2 검출 계수 설정 수단(38)은 상기 제 1 검출 계수 설정 수단(33)의 수평 방향 검출부(47), 왼쪽 경사 방향 검출부(48), 또는 왼쪽 경사 방향 검출부(49)와 같은 회로 구성을 갖고 있고, 해당 제 1 검출 계수 설정 수단(33)의 동작 검출 계수(K)=F1,F2,F3 에 각각 1 대 1 로 대응케 되는 동작 검출 계수 (K)=F4,F5,F6(｜F4｜<｜F5｜<｜F6｜)를 이용한다.

이 제 2 검출 계수 설정 수단(38)은 수평 성분 커트 필터(37)로부터 수평 방향 성분이 커트된 화상 신호가 공급되어, 엣지 검출 수단(30)으로 검출된 수직 엣지의 유/무에 따라, 동작 검출 계수(K)=F5/F6 이 대입되어, 해당 공급된 화상 신호의 검출 화소에서 상기(1)식 및(2)식의 논리곱인 제 1 화상 신호, 및 동작 검출 계수(K)=F6 이 대입되어, 해당 공급된 화상 신호의 검출 화소에서 하기(7)식의 판정 결과인 제 2 화상 신호를 출력한다.

｜(a+c)/2-b｜ > K (7)식

이상의 구성에 의한 제 2 검출 계수 설정 수단(38)에서는 수평 방향 성분이 커트된 화상 신호에 의거해, 동작 검출 계수(K)=F5/K=F4 가 대입된 상기(1)식 및 (2)식 또는 동작 검출 계수(K)=F6 이 대입된 상기(7)식이 성립하는지 여하에 따라, 수직 방향의 동작을 확실히 검출하는 것이 가능하다.

상기 수평 고립점 제거 수단(39)은 상기 수평 고립점 제거 수단(34)의 수평 고립점 제거 회로(62,63)와 같은 구성을 갖고 있고, 상기 제 1, 제 2 화상 신호의 수평 방향의 고립점을 제거한다.

이 수평 고립점 제거 수단(39)으로는 상기 제 1 화상 신호 및 제 2 화상 신호중 수평 방향에 고립해 있는 화소의 화상 신호인 고립점을 해당 고립점에 인접한 좌우 화소로 보간함으로 고립점을 제거한다. 이와같이 실제의 피사체 동작으로써는 존재하지 않는 고립점이 제거된 화상 신호로 화상을 형성 가능하며 화상 신호 처리 장치(100)로 고품질 화상이 형성된다.

상기 절환 수단(41)은 상기 수평 고립점 제거 수단(34)의 출력 신호를 바꾸어 출력하는 제 8 도에 도시한 제 1 절환부(41a)와 상기 제 2 검출 계수 설정 수단(38)으로부터 출력되는 제 1 화상 신호, 또는 제 2 화상 신호를 출력하는 도시되지 않은 제 2 절환부(41b)와, 해당 제 1 절환부(41a)의 출력 신호 및 제 2 절환부(41b)의 출력 신호의 논리합을 출력하는 도시되지 않은 오아 회로를 갖춘다.

상기 제 1 절환부(41a)는 제 8 도에 도시한 것과 같이 상기 수평 고립점 제거 회로(62,82,102)의 출력 신호의 논리합을 출력하는 오아 회로(64)와 상기 수평 고립점 제거 회로(63,83,103)의 출력 신호의 논리합을 출력하는 오아 회로(65)와 해당 오아 회로(65)의 1 수평 라인 앞의 출력 신호를 출력하는 1H 딜레이 메모리(35)의 출력 신호에 따라, 오아 회로(64)의 출력 신호, 또는 오아 회로(65)의 출력 신호를 수직 고립점 제거 수단(42)에 송출하는 스위치(Sb)를 갖는다.

상기 1H 딜레이 메모리(35)에서는 1 수평 라인마다 화상 신호의 동작 검출 결과가 순차 기입되어, 1 수평 라인 전의 동작 검출 결과가 읽혀지고, 이 읽기에 의해 동작이 있다고 검출된 때에, 동작의 검출 감도를 저하시키도록 동작 검출 계수(K)를 설정한다.

이와같이, 동작 검출 수단(28)으로 동작의 검출을 판정하는 역치를 1 수평 라인의 화상 신호에 의거해 가변 설정 가능하기 때문에, 수직 방향의 엣지와 노이즈 등을 동작으로 잘못 검출하지 않도록 최적의 역치를 신속히 가변 설정함으로, 간이한 구성으로 검출 화소의 화상 동작의 검출을 고정밀도로 행해, 화상 신호 처리 장치(10)로 형성되는 화상 신호를 고품질로 한다.

상기 스위치(S6)는 상기 라인 메모리(35)로부터 출력되는 1 수평 라인 앞의출력 신호가 High 신호/Low 신호인 때에 오아 회로(64)의 출력 신호/오아 회로(65)의 출력 신호를 송출하도록 바뀌어진다.

이상의 구성에 의한 제 1 절환부(41a)에서는 상기 제 1 검출 계수 설정 수단(33)으로부터 공급된 화상 신호의 1 수평 라인 앞의 동작 검출 유/무에 따라 오아회로(64)의 출력 신호/오아 회로(65)의 출력 신호를 출력한다.

상기 제 2 절환부(41b)에서는 상기 제 2 검출 계수 설정 수단(38)으로부터 공급되어 1H 딜레이 메모리(40)에 저장된 1 수평 라인 앞의 화상 신호의 동작 검출의 유/무에 따라 상기 제 1 의 화상 신호/제 2 화상 신호를 출력한다.

따라서, 절환 수단(41)에서는 1 수평 라인 앞의 동작의 검출 유/무에 따라, 상기 수평 고립점 제거 수단(34,39)의 각각의 출력 신호를 절환함으로 상기 제 1, 제 2 의 검출 계수 설정 수단(33,38)의 각각으로 동작의 검출 감도를 낮춤/감도를 올리도록 설정된 동작 검출계수(K)에 의거해, 동작 검출 결과인 동작 검출 신호를 출력한다.

상기 수직 고립점 제거 수단(42)은 제 10 도에 도시한 것과 같이 상기 절환 수단(41)으로부터 공급된 동작 검출 신호를 1 수평 라인마다 순차 시프트시키는 라인 메모리(111,112)와 이 라인 메모리(112)로부터 공급된 동작 검출 신호를 제 1 화소마다 순차 시프트시키는 화소 메모리(113,114)와 상기 라인 메모리(111)로부터 공급된 동작 검출 신호를 1 화소마다 순차 시프트시키는 화소 메모리(115,116)와 해당 절환 수단(41)으로부터 공급된 동작 검출 신호를 1 화소마다 순차 시프트시키는 화소 메모리(117,118)와 해당 화소 메모리(113) 및 화소 메모리(117)의 출력 신호의 논리합을 출력하는 오아 회로(119)와 이 오아 회로(119) 및 화소 메모리(115)의 출력 신호의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(120)와 이 앤드회로(120)로부터 공급된 동작 검출 신호를 1 화소마다 시프트시키는 화소 메모리(121)와 상기 절환 수단 (41), 화소 메모리(114) 및 화소 메모리(115)의 출력 신호의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(122)와 라인 메모리(111), 화소 메모리(115) 및 화소 메모리(116)의 출력 신호의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(123)와 라인 메모리(112) 화소 메모리(115) 및 화소 메모리(118)의 출력 신호의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(124)와 앤드 회로(122), 앤드 회로(123) 및 앤드 회로(124)의 출력 신호 논리합을 출력하는 오아 회로(125)와 이 오아 회로(125)에서 공급된 동작 검출 신호를 1 화소마다에 시프트시키는 화소 메모리(126)와, 이 화소 메모리(126)의 동작 검출 신호에 응하여 화소 메모리(116) 또는 화소 메모리(121) 출력 신호를 보간 영역 확대 수단(43)으로 공급하는 스위치(S10)를 갖는다.

상기 라인 메모리(112)의 출력 신호는 상기 라인 메모리(111)의 출력 신호에서 1 수평 라인전의 출력 신호이며, 해당 라인(111)의 출력 신호는 상기 절환 수단(41)의 출력 신호에서 1 수평 라인전의 출력 신호이다.

상기 화소 메모리(114,116,118)의 출력 신호는 상기 화소 메모리 (113,115,117)의 출력 신호에서 1 화소전의 출력 신호이며 해당 화소 메모리(113,115,117)의 출력 신호는 상기 라인 메모리(112), 라인 메모리(111), 절환 수단(41)의 출력 신호로부터 1 화소 전의 출력 신호이다.

상기 수직 고립점 제거 수단(42)에서는 화상신호를 형성하는 화소의 우측으로 내려가는 방향(이하, 우측 경사 방향이라 한다), 수평 방향, 좌측으로 내려가는 방향(이하, 좌측 경사 방향이라 한다)으로 3 점 이상 연속하고 있는 경우/그 이외의 경우는 앤드 회로(122,123,124)로부터 High 신호/Low 신호가 출력되고, 오아 회로(125)에서 수평 방향 또는 양사선 방향으로 3 점 이상 연속하고 있는가 아닌가가 검출되어 이 검출 결과에 의거하여 고립점이 제거된다.

이하, 이 수직 고리점 제거 수단(42)의 동작의 설명을 한다.

예를 들어, 상기 라인 메모리(112), 라인 메모리(111), 및 절환 수단(41)의 출력 신호가 각각 수평 라인(1), 수평 라인(2) 및 수평 라인(3)이며 상기 화소 메모리(114,116,118)의 출력 신호가 수평 라인(1), 수평 라인(2), 수평 라인(3)의 제 1 화소의 검출신호이며 상기 화소 메모리(113,115,117)의 출력 신호가 수평라인 1, 수평라인 2, 수평라인 3 의 제 2 화소의 동태 검출 신호이며, 라인 메모리(112), 라인메모리(111), 절환 수단(41)의 출력 신호가 수평 라인(1), 수평 라인(2), 수평라인(3)의 제 3 화소의 동태 검출 신호라고 한다.

상기 앤드 회로(122)는 수평 라인(1)의 제 3 의 화소, 수평 라인(2)의 제 2의 화소, 및 수평 라인(3)의 제 1 의 화소의 논리곱을 출력하고, 수평 라인(2)의 제 2 의 화소를 중심으로 동작 있는 화소가 우측 경사 방향으로 3 개 이상 배열되어 있는가 아닌가를 검출한다.

상기 앤드 회로(123)는 수평 라인(2)의 제 1, 제 2, 제 3 의 화소의 논리곱을 출력하고 수평 라인(2)의 제 2 의 화소를 중심으로 동태의 어느 화소가 수평 방향으로 3 개 이상 배열되어 있는가 아닌가를 검출한다.

상기 앤드 회로(124)는 수평 라인(1)의 제 1 의 화소, 수평 라인(2)의 제 2 의 화소, 및 수평 라인(3)의 제 3 의 화소의 논리곱을 출력하여 수평 라인(2)의 제 2 의 화소를 중심으로 동작이 있는 화소가 좌측 경사 방향으로 3 개 이상 배열되어 있는가 아닌가를 검출한다.

상기 오아 회로(125)는 상기 앤드 회로(122), 앤드 회로(123), 및 앤드 회로(124)의 출력 신호의 논리합을 출력하여 수평 라인(2)의 제 2 의 화소를 중심으로 동작 있는 화소가 우측 경사 좌측 경사 또는 수평 방향으로 3 개 이상 배열되어 있는가 아닌가를 검출한다.

스위치(S10)에서는 상기 오아 회로(125)의 출력 신호가 저장된 화소 메모리(126)의 출력 신호에 응해서 수평 라인(2)의 제 2 의 화소를 중심으로 동작 있는 화소가 우측 경사, 좌측 경사, 또는 수평 방향으로 3 개 이상 배열되어 있을 때/그외 일때의 수평 라인(2)의 제 1 의 화소와 수평 라인(3)의 제 3 의 화소와의 논리합을 송출한다.

이상의 구성에 의한 수직 고립점 제거 수단(42)에서는 동작 있는 화소가 수직 방향으로 고립되어 있는 경우, 수평 방향 또는 두 경사 방향으로 3 점 이상 연속하고 있을 때/그 이외일 때 수평 라인(2)의 동작 검출 신호를 송출하고/수평 라인(2)의 제 2 의 화소의 상하의 화소에서 보간하여 고립점을 제거하고 동작 검출 신호를 송출한다.

상기 보간 영역 확대 수단(43)은 보간 영역을 수직 방향으로 확대시키는 수직 방향 확대부(130)와 해당 보간 영역을 수평 방향으로 확대시키는 수평 방향 확대부(140)를 갖는다.

상기 수직 방향 확대부(130)는 제 11 도에서 도시하는 바와같이 수직 고립점 수단(42)으로부터 공급된 동작 검출 신호를 1 수평 라인 마다에 시프트시키는 라인 메모리(131)와, 이 라인 메모리(131)로부터 공급된 동작 검출 신호를 1 수평 라인 마다로 시프트시키는 라인 메모리(132)와 수직 고립점 제거 수단(42)의 출력 신호와 라인 메모리(131)의 출력 신호와의 논리합을 출력하는 오아 회로(133)와, 이 오아 회로(133)의 출력 신호와 라인 메모리(132)의 출력 신호와의 논리합을 수평 방향 확대부(140)로 출력하는 오아 회로(134)를 갖는다.

상기 오아 회로(133)는 수직 고립점 제거 수단(42), 라인 메모리(131)의 어느것이든 출력 신호에서 동작이 검출된 화소가 포함되는/포함되지 않는 경우에, High 신호/Low 신호를 출력한다.

상기 오아 회로(134)는 오아 회로(133), 라인 메모리(132)의 어떤 것이든 출력 신호에서 동작이 검출된 화소가 포함되는/포함되지 않는 경우에, High 신호/Low 신호를 출력한다.

이상의 구성에 의한 수직 방향 확대부(130)에서는 연속하는 3 개의 수직 라인 1 개에서도 동작이 검출된 화소가 포함되지 않는 경우/그 이외의 경우는 오아 회로(134)로부터 High 신호/Low 신호를 출력한다. 이 오아 회로(134)의 출력 신호가 High 신호일 때에는 동작이 있는 화소가 포함되면 검출된 수평 라인을 중심으로 하여 수직 방향으로 보간 영역을 확대시킨다.

상기 수평 방향 확대부(140)는 예를 들어, 제 12 도에서 도시하는 바와같이상기 수직 방향 확대부(130)로부터 공급된 신호를 1 샘플마다 순차로 시프트하는 화소 메모리(141,142,143, 143,144,145,146,147)와 화소 메모리(142)의 출력 신호와 화소 메모리(143)의 출력 신호와의 논리합을 출력하는 오아 회로(148)와, 화소 메모리(144)의 출력 신호와 화소 메모리(145)의 출력 신호와의 논리합을 출력하는 오아 회로(149)와, 화소 메모리(146)의 출력 신호와 오아 회로(149)의 출력 신호와의 논리합을 출력하는 오아 회로(150)와, 오아 회로(147)의 출력 신호와 오아 회로(148)의 출력 신호와의 논리합을 출력하는 오아 회로(151)와 오아 회로(150)의 출력 신호와 오아 회로(151)의 출력 신호와의 논리합을 출력하는 회로(152)와, 오아 회로(152)의 출력 신호를 유지하는 화소 메모리(153)를 갖는다.

이 수평 방향 확대부(140)에서는 상기 수직 방향 확대부(130)에서 동작이 검출된 화소의 수평 라인의 1 화소마다 동작의 유/무에 따라 High 신호/Low 신호로 되는데 미리 형성되어 신호가 공급되고 연속하는 7 개의 화소에서 1 개라도 동작이 검출된 화소가 포함되어 있는 경우/그 이외의 경우는 화소 메모리(152)로부터 High 신호/Low 신호를 출력한다. 이 화소 메모리(153)의 출력 신호가 High 신호일 때에는 동작이 있다고 검출된 화소를 중시하므로 하여 수평 방향에서 보간 영역을 확대시킨다.

이상의 구성에 의한 보간 영역 확대 수단(43)에서는 제 13도에서 도시하는 바와같이 예를 들어, 검은 부분에서 나타나는 화소의 화상의 동작을 검출한 경우, 해당 동작 화소를 중심점으로 하는 7 x 3 화소까지 보간 영역을 확대시킨다.

상기 보간 영역 확대 수단(43)에서는 간이한 구성에 의하여 검출 수단(28)에서 동작이 검출된 검출 화소의 보간 영역을 확대시키고 보간 영역의 주변부에서 위화감을 발생시키지 않기 위하여 화상 신호 처리 장치(10)에서 고품질인 화상이 형성된다.

상기 스무딩 수단(44)은 제 14 도에서 도시하는 바와같이 화상 신호의 1 수평 라인인 수평 라인(GL1), 수평 라인(GL1)의 1 수평 라인 후에 수평 라인(GL2), 수평 라인(GL2)의 1 수평 라인 후의 수평 라인(GL3)이 공급되는 제 1, 제 2, 제 3의 보간 처리부(160,170,180)와 해당 제 1, 제 2, 제 3 의 보간 처리부(160,170,180)의 출력 신호를 가산하는 가산기(187)를 갖춘다.

상기 제 1 의 보간 처리부(160)는 상기 수평 라인(GL1)의 화상 신호가 공급되어 1 화소분의 동작 검출 신호마다 판독 가능하게 기입되는 라인 메모리(161)와, 해당 수평 라인(GL1)의 동작 검출 신호가 공급되어 해당 라인 메모리(161)로부터 1 화소마다의 동작 검출 신호가 판독 가능하게 기입되는 라인 메모리(162)와, 해당 라인 메모리(161), 및 라인 메모리(162)의 동작 검출 신호가 공급되어 해당 라인 메모리(161) 또는 라인 메모리(162)의 동작 검출 신호를 송출하는 스위치(S11,S12)와 해당 스위치(S12)의 출력 신호로부터 스위치(S11)의 출력 신호를 감산하는 감산기(163)와, 이 감산기(163)의 출력 신호에서 수평 보정 계수(a)를 승산하는 승산기(164)와, 스위치(S11)의 출력 신호와 승산기(164)의 출력 신호를 가산하는 가산기(165)와 가산기(165)의 출력 신호에서 수직 보간 계수(β1)를 승산하여 가산기(187)로 공급하는 가산기(166)를 갖는다.

상기 제 2 의 보간 처리부(170)는 상기 수평 라인(GL2)이 공급되어 1 화소분의 동작 검출 신호마다에 판독되는 라인 메모리(171)와 해당수평 라인(GL2)이 공급되어 해당 라인 메모리(171)로부터 1 샘플 후의 1 화소마다의 동작 검출 신호가 판독되는 라인 메모리(172)와, 라인 메모리(171) 및 라인 메모리(172)의 출력 신호가 공급되어 해당 라인 메모리(171), 또는 라인 메모리(172)의 출력 신호를 송출하는 스위치(S13,S14)와 스위치(S14)의 출력 신호로부터 스위치(S13)의 출력 신호를 감산하는 감산기(173)와, 이 감산기(173)의 출력 신호에서 수평 보정 계수(a)를 승산하는 승산기(174)와, 스위치(S13)의 출력 신호와 승산기(174)의 출력 신호를 가산하는 가산기(175)와 가산기(175)의 출력 신호에서 수직 보간 계수(β2)를 승산하여 가산기(187)로 공급하는 승산기(176)를 갖는다.

상기 제 3 의 보간 처리부(180)는 상기 수평 라인(GL3)이 공급되어 1 화소분의 동작 검출 신호마다에 판독되는 라인 메모리(181)와 해당 라인(GL3)이 공급되어 해당 라인 메모리(181)로부터 1 샘플후의 1 화소마다의 동작 검출 신호가 판독되는 라인 메모리(182)와, 라인 메모리(181), 및 라인 메모리(182)의 출력 신호가 공급 되어 해당 라인 메모리(181), 및 라인 메모리(182)의 출력 신호를 송출하는 스위치 (S15, S16)와, 스위치(S16)의 출력 신호로부터 스위치(S15)의 출력 신호를 감산하는 감산기(183)와, 이 감산기(183)의 출력 신호에 수평 보정 계수(a)를 승산하는 승산기(184)와 스위치(S15)의 출력 신호와 승산기(184)의 출력 신호를 가산하는 가산기(185)와, 가산기(185)의 출력 신호에서 수직 보간 계수(β3)를 승산하여 가산기(187)로 공급하는 승산기(186)를 갖는다.

이상의 구성에 의한 스무딩 수단(44)에서는 예를 들어, 스위치(S11,S12)로부터 라인 메모리(161,162)의 출력 신호가 송출되고 스위치(S13,S14)로부터 라인 메모리(171,172)의 출력 신호가 송출되고, 스위치(S15,S16)로부터 라인 메모리(181,182)의 출력 신호가 송출되는 상태일 때 제 15 도에서 도시하는 바와같이 예를 들어, 스위치(S11,S12)로부터 수평 라인(GL1)의 화소(e,f)가 송출되고, 스위치(S13,S14)로부터 수평 라인(GL)의 화소(Ze,Zf)가 송출되고, 스위치(S15,S16)로부터 수평 라인(GL3)의 화소(E,F)가 송출되었을 때에 가산기(165,175,185)의 출력 신호(Z1,Z2,Z3)는 아래(8),(9),(10)식의 연산 결과가 된다.

또, 가산기(187)의 출력 신호는 아래(11)식의 연산 결과가 된다.

상기 수평 보간 계수(a)는 동작이 있다고 판정된 화소(Ze)상의 화소(e), 해당 화소(Ze), 및 해당 화소(Ze)의 아래의 화소(E)와, 이 화소(e, Ze, E)와 해당화소(e, Ze, E)의 1 샘플 후의 화소(f, Zf, F)를 수평 방향으로 상기(8) 내지(10)식에서 보간하도록 미리 설정된다.

상기 수직 보간 계수(β1,β2,β3)는 동일 수직 라인으로 표시되는 상기 (Z1,Z2,Z3)를 수직 방향으로 상기(11)식에서 보간하도록 미리 소프트 보간 계수 발생 장치(190)에서 설정된다.

상기 소프트 보간 계수 장치는 제 16 도에서 도시하는 바와같이 공급된 신호를 반전해서 출력하는 인버터 회로(191)와, 이 인버티 회로(191)로부터 공급된 신호를 1 샘플마다에 순차 시프트하는 화소 메모리(191,192,193,194,195,196,197,198)와 해당 화소 메모리(195)의 출력 신호를 반전해서 출력하는 인버터 회로(201)와, 이 인버터 회로(201)의 출력 신호를 유지하는 화소 메모리(202)와 화소 메모리(194)의 출력 신호와 화소 메모리(196)의 출력 신호와의 논리곱의 반전 신호를 출력하는 NAND 회로(203)와, 이 NAND 회로(203)의 출력 신호와 화소 메모리(195)의 출력 신호와의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(204)와 이 앤드 회로(204)의 출력 신호를 유지하는 화소 메모리(205)와 화소 메모리(194)의 출력 신호와 화소 메모리(196)의 출력 신호와의 논리곱을 출력하는 앤드 회로 (206)와 화소 메모리(193)의 출력 신호와 화소 메모리(197)의 출력 신호와의 논리곱의 반전 신호를 출력하는 NAND 회로(207)와, 이 NAND 회로(207)의 출력 신호와 앤드 회로(206)의 출력 신호와의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(208)와, 이 앤드 회로(208)의 출력 신호를 유지하는 화소 메모리(209)와, 화소 메모리(193)의 출력 신호와 화소 메모리(197)의 출력 신호와의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(211)와, 이 앤드 회로(211)의 출력 신호와 앤드 회로(206)의 출력 신호의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(212)와, 화소 메모리(192)의 출력 신호와 화소 메모리(198)의 출력 신호와의 논리곱의 반전 신호를 출력하는 NAND 회로(213)와, 이 NAND 회로(213)의 출력 신호와 앤드 회로(212)의 출력 신호와의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(214)와 이 앤드 회로(214)의 출력 신호를 유지하는 화소 메모리(215)와 화소메모리(196,197,198)의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(216)와 화소 메모리(192,193,194)의 출력 신호의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(217)와 인버터 회로(191)의 출력 신호와 화소 메모리(199)의 출력 신호와의 논리곱의 반전 신호를 출력하는 NAND 회로(218)와 앤드 회로(216)의 출력 신호와 앤드 회로(217)의 출력 신호와의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(219)와 이 앤드 회로(219)의 출력 신호와 NAND 회로(218)의 출력 신호와의 논리곱을 출력하는 앤드 회로(220)와, 이 앤드 회로(214)의 출력 신호를 유지하는 화소 메모리(221)와, 화소 메모리(202,205,209,215,221)의 출력 신호에 응하여 수직 보간 계수(β)를 출력하는 계수 발생 블럭(230)을 갖는다.

상기 인버터 회로(191)에서는 수평 라인의 1 화소마다의 동작의 유/무에 따라, High 신호/Low 신호가 되도록 형성된 검출 신호가 공급된다.

상기 인버터 회로(201)는 서로 인접하는 High 신호간의 Low 신호의 화소가 1개일 때 High 신호를 출력하도록 구성된다.

상기 앤드 회로(204)는 서로 인접하는 High 신호간의 Low 신호의 화소가 2 개 일때에 High 신호를 출력하도록 구성된다.

상기 앤드 회로(208)는 서로 인접하는 High 신호간의 Low 신호의 화소가 3 개일때에 High 신호를 출력하도록 구성된다.

상기 앤드 회로(214)는 서로 인접하는 High 신호간의 Low 신호의 화소가 4개 또는 5 개 일때에 High 신호를 출력하도록 구성된다.

상기 앤드 회로(220)는 서로 인접하는 High 신호간의 Low 신호의 화소가 6개 또는 7 개 일 때에 High 신호를 출력하도록 구성된다.

이상의 구성에 의한 보간 계수 발생 장치(190)에서는 동작이 검출된 화소의 수평 라인에 있어서 화소의 화상의 동작의 유/무에 응하여 High 신호/Low 신호가 공급되고 서로 인접하는 High 신호간의 Low 신호의 화소의 개수에 의거해서 수직 보간 계수(β)가 출력된다.

다음, 상기 구성에 의한 스무딩 수단(44)의 동작을 설명한다.

예를 들어, 제 17 도에서 도시하는 바와같이 제 1 의 필드의 화소(a)내지 화소(w)가 수평 방향으로 배열된 수평 라인(L1)과 화소(B)내지 화소(W)가 수평 방향으로 배열된 수평 라인(L2)과의 사이에 제 2 필드의 화소(Za) 내지 화소(Zw)가 수평 방향으로 배열된 수평 라인(L2)에 있어서 흑점으로 표시되는 화소(Za) 내지 화소(Zc), 화소(Zn) 내지 화소(Zo), 및 화소(Zt) 내지 화소(Zv)가 움직이고 있다고 검출된 경우 상기 화소(Za,Zb,Zc)는 해당 화소(Za,Ab,Ac) 각각의 상하의 화소에 의해 아래(12),(13),(14)식으로 표시하는 보간을 한다.

Za =(a + A)/2(12) 식

Zb =(b + B)/2(13) 식

Zc =(c + C)/2(14) 식

또, 상기 화소(Zd) 내지 Zn 의 보간치는 소프트 보간 계수(SK) x 해당 화소(Zd)내지 Zm 의 각각의 상하 화소의 합계 +(1-소프트 보간 재수(SK)x2) x 해당 화소(Zd) 내지 Zm 에 의해 아래(15)식 내지(24)식에서 도시하는 보간을 한다.

Zd = 0.4 x(d + D) + 0.2 x Zd (15) 식

Ze = 0.3 x(e + E) + 0.4 x Ze (16) 식

Zf = 0.2 x(f + F) + 0.6 x Zf (17) 식

Zg = 0.1 x(g + G) + 0.8 x Zg (18) 식

Zh = Zh (19) 식

Zi = Zi (20) 식

Zj = 0.1 x(j +J) + 0.8 x Zj (21) 식

Zk = 0.2 x(k +K) + 0.6 x Zk (22) 식

Zl = 0.3 x(1 + L) + 0.4 x Zl (23) 식

Zm = 0.4 x(m +M) + 0.2 x Zm (24)식

따라서 스무딩 수단(44)에서는 동작이 검출된 화소의 수평 라인에 있어서 해당 동작의 검출된 화소에 가까울 정도 해당 화소의 상하의 화소 영향을 크게 되도록 보간값을 연속적으로 변화시키기 위해 동작 검출된 화소와 해당 화소의 주변화소와의 경계선에 위화감을 발생시키지 않고 고품질인 화상을 실현한다.

이상의 구성에 의한 동작 검출 수단(28)에서는 프레임 저장 수납(17)으로부터 화상 신호가 공급되고, 수직 엣지 검출 수단(30)에서 해당 화소 신호로 수직 엣지가 검출되었을 때에 해당 화소 신호가 공급되는 제 1 의 검출 계수 설정 수단 (33), 및 해당 화상 신호가 수평 성분 커트 휠터(37)에서 수평 방향 성분이 커트되어 공급되는 제 2 의 검출 계수 설정 수단(38)에서 동작의 검출 감도를 작게하도록 동작 검출 계수를 가변 설정하고, 해당 제 1, 제 2 의 검출 계수 설정 수단(33,38)으로 부터 공급되어 수평 고립점 제거 수단(34,39)에서 수평 방향의 고립점이 제거된 화상신호의 1 수평 라인전의 동작의 검출 유/무에 응하여 해당 제 1, 제 2 의 검출 계수 설정 수단(33,38)에서 동작 검출 감도를 내린다/오르게 하도록 설정된 해당 동작 검출 계수에 응한 수평 방향, 양경사 방향 및 수직 방향의 동작 검출 신호를 절환부(41)로부터 수직 고립점 제거 수단(42)에 송출하고, 이 수직 고립점 제거 수단(42)에서 수직 고립점이 제거된 화상 신호내의 동작 검출 신호로부터 동작이 검출된 검출 화소를 보간 영역 확대 수단(43)에서 보간 영역을 확대하고, 스무딩 수단(44)에서 확대된 보간 영역 스무딩 처리를 실시하여 필드 보간 수단(29)으로 공급한다.

이렇게 실제의 피사체의 동작으로서는 존재하지 않는 고립점을 제거하면서 수직 엣지의 존재하는 수평 라인 근방에서는 해당 수직 엣지를 화소의 화상 동작과 잘못 검출하지 않도록 하고 또한 동작 검출 계수(K)를 1 수평 라인전의 동작 검출 신호에 응해서 최적한 임계치에 설정하고 양경사방향, 수평방향, 및 수직방향의 동작 검출을 하는 것으로, 간이한 구성으로 수직 방향의 엣지와 노이즈 등을 동작으로서 오검출하지 않는 것처럼 임계치를 신속하게 가변 설정하여 동작의 방향에 관여하지 않고 검출 화소의 화상 동작 검출을 고정도로 행하고, 보간 영역 확대 수단 (3)에서 해당 동작이 검출된 검출 화소의 보간 영역을 확대하고 스무딩 수단(44)에서 해당 확대된 보간 영역에서 스무딩 처리가 행해진다.

상기 필드 보간 수단(29)에서는 스무딩 처리가 실시되어 확대된 보간 영역에서 필드내의 보간을 하기 위해, 보간 영역의 주변부에서 고르지 못한 농도랑 화상 신호 레벨의 역전 현상을 일으키지 않고, 해당 주변부에서 화상으로 위화감을 발생시키지 않게 고품질인 화상을 실현한다.

이상에서 화상 신호 처리 장치(10)는 간이한 구성에서 고품질의 확대면과 정지면의 화상을 실현한다.

제 1 도는 본 발명에 따른 화상 신호 처리 장치가 구비된 캠코더의 블록도.

제 2 도는 본 발명에 따른 화상 신호 처리 장치의 블록도.

제 3 도는 상기 화상 신호 처리 장치에 공급되는 화상 신호의 수평 라인마다의 개념도.

제 4 도는 상기 화상 신호 처리 장치의 확대 처리 수단의 타임 챠트.

제 5 도는 상기 확대 처리 수단에 의한 확대 처리의 개념도.

제 6 도는 상기 화상 신호 처리 장치의 동작 검출 수단 및 필드 보간 수단의 블록도.

제 7 도는 상기 동작 검출 수단에 의한 화소의 화상 동작의 유무를 검출하는 개념도.

제 8 도는 상기 동작 검출 수단의 주요부 블록도.

제 9 도는 상기 동작 검출 수단의 수평 고립점 제거 수단의 회로도.

제 10 도는 상기 필드 보간 수단의 수직 고립점 제거 수단의 회로도.

제 11 도는 상기 필드 보간 수단의 보간 영역 확대 수단의 수직 방향 보간부의 회로도.

제 12 도는 상기 필드 보간 수단의 보간 영역 확대 수단의 수평 방향 보간부의 회로도.

제 13 도는 상기 보간 영역 확대 수단에서 동작이 있는 화소의 보간 영역을 확대할 때의 개념도.

제 14 도는 상기 필드 보간 수단의 주요부 회로도.

제 15 도는 상기 필드 보간 수단에 의한 보간 처리의 원리도.

제 16도는 상기 필드 보간 수단의 스무딩 수단의 주요부 회로도.

제 17 도는 상기 스무딩 수단의 스무딩 처리를 설명하기 위한 화상 신호의 개념도.

제 18 도는 상기 필드 보간 수단 및 종래의 화상 신호 처리 장치에 의한 확대, 축소 화면의 형성 개략도로서, 동일 도면의(a)은 2 배로 확대할 경우의 화소 개념도이고 동일 도면의(b)은 1/2 로 축소할 경우의 화소 개념도.

제 19 도는 종래의 화상 신호 처리 장치의 프레임 필드 신호 처리의 개념도.

제 20 도는 종래의 화상 신호 처리 장치에 의해 프레임 필드 신호 처리가 실시된 화상으로서, 동일 도면의(a)은 화면의 출력 화상이며, 동일 도면의(b)는 화면의 주요부의 출력 화상을 나타내는 도면.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *

10 : 화상 신호 처리 장치 28 : 동작 검출 수단

29 : 필드 보간 수단 30 : 수직 엣지 검출 수단

33 : 제 1 의 검출계수 설정 수단 34,39 : 수평 고립점 제거 수단

35,40 : 1H 딜레이 메모리 37 : 수평 성분 커트 필터

38 : 제 2 의 검출계수 설정 수단 43 : 보간 영역 확대 수단

44 : 스무딩 수단 F1,...,F6 : 동작 검출 계수 K

이상 상세하게 설명한 바와같이 본 발명에 관한 화상 신호 처리 장치에 의하면 동작 검출 계수 설정 수단에서 동작 검출 수단의 동작 검출 계수를 가변 설정하는 것으로 동작 검출의 유무를 판정하는 임계치를 가변시키고 필드 보간 수단으로 해당 동작 검출 수단의 검출 결과에 의거하여 필드내 보간을 하는가 안하는가의 절환이 행하여진다. 이렇게 간이한 구성에서 동작 검출을 판정하는 임계치를 가변 설정하고 수직 방향의 엣지와 노이즈 등을 동작으로서 잘못 검출하지 않는 것처럼 최적한 임계치로 하는 것으로 검출 화소의 화상 동작 검출을 고정도로 행하고 고품질인 화상을 실현하는 화상 신호 처리 장치를 제공함이 가능하다.

또, 수평 고립점 제거 수단에서 고립점이 제거된 화상 신호의 동작 검출 수단의 동작 검출 결과에 의거하여 필드 보간 수단에서 필드내의 보간을 행하는지 않하는가의 절환이 행하여진다. 이렇게 간이한 구성에서 실제의 피사체의 동작으로서는 존재하지 않는 고립점을 제거한 화상 신호에 의하여 필드내 보간처리를 행하기위한 고품질인 화상을 실현하는 화상 신호 처리 장치를 제공함이 가능하다.

또, 보간 영역 확대 수단에 있어서 동작 검출 수단에서 검출 화소의 화상의 동작이 검출되었을 때에 해당 검출 화소의 화상 신호를 보간하는 보간 영역을 확대시킨다. 이렇게 간이한 구성에서 보간 영역 확대 수단에서 보간 영역을 확대시키는 것으로 보간 영역의 주변부에 위화감을 발생시키지 않고 고품질인 화상을 실현하는 화상 신호 처리 장치를 제공할 수 있다.

또, 보간 영역 확대 수단에 있어서 동작 검출 수단에서 검출 화소의 화상의 동작이 검출되었을 때 해당 검출 화소의 화상 신호를 보간하는 보간 영역을 확대시키고 해당 확대된 보간 영역을 스무딩 수단에서 스무딩 처리를 실시한다. 이렇게 간이한 구성에서 스무딩 처리가 실시되고 확대된 보간 영역을 필드내 보간하는 것으로 보간 영역의 주변부에 고르지 못한 농도 화상 신호 레벨의 역전현상을 일으키지 않고, 화상에서 위화감을 발생시키지 않고 고품질인 화상을 실현하는 화상 신호 처리 장치를 제공할 수가 있다.

또, 동작 검출 수단에서 수평 방향, 양경사 방향, 및 수직 방향의 동작 유무가 검출된다. 이때문에 검출 화소의 화상 동작 검출을 동작의 방향에 관계없이 고 정도에서 행하고, 고품질이 화상을 실현하는 화상 신호 처리 장치를 제공할 수가 있는 것이다.

또, 동작 검출 수단에서 수평 방향 성분이 커트된 화상 신호에 의거하여 수직 방향의 유무를 검출한다. 이로 인하여 수직 방향의 엣지를 동작으로서 잘못 검출하지 않고 검출 화소의 화상 동작 검출을 고정도로 행하고, 고품질인 화상을 실현하는 화상 신호 처리 장치를 제공할 수가 있다.

또, 수직 엣지 검출 수단에서 수직 엣지가 검출되었을 때 동작 검출 수단의 동작 검출 감도를 저하시킨다. 이로인하여 간이한 구성에서 수직 엣지를 동작과 잘못 검출하는 것이 아니라 검출 화소의 화상 동작의 검출을 고정도로 행하고, 고품질인 화상을 실현하는 화상 신호 처리 장치를 제공할 수가 있다.

또, 동작 검출 수단에서 1 수평 라인 전의 화상 신호에 의거하여 동작이 있다고 검출되었을 때 동작 검출 수단의 동작 검출 감도를 저하시키도록 동작 검출계수를 설정한다. 이렇게 간이한 구성에서 동작 검출을 판정하는 임계치를 1 수평 라인의 화상 신호에 의거하여 가변 설정하는 것으로 수직 방향의 엣지 노이즈 등을 동작으로서 잘못 검출하지 않는 것처럼 최적한 임계치를 신속하게 가변 설정하여 검출화소의 화상 동작의 검출을 고정도로 행하고, 고품질인 화상을 실현하는 화상 신호 처리 장치를 제공할 수가 있다.

Claims (10)

1. 서로 인접하는 1 주사선 간격으로 형성되는 제 1, 제 2 의 필드로부터 이루어진 프레임내의 해당 제 1 의 필드, 또는 제 2 의 필드 검출 화소의 화상 신호 레벨과 상기 검출 화소 부근의 근방 화소의 화상 신호 레벨과 가변 설정이 자유로운 동작 검출 계수값과의 비교에 기초하여, 상기 검출 화소의 화상 동작 유무를 검출하는 동작 검출 수단과,

   상기 동작 검출 수단에서 검출 화소의 화상 동작이 검출될 때에, 상기 검출 화소의 화상 신호를 필드내에서 보간하는 필드 보간 수단과,

   상기 동작 검출 계수를 가변 설정하는 검출 계수 설정 수단을 구비하는 화상 신호 처리 장치.
2. 서로 인접하는 1 주사선 간격으로 형성되는 제 1, 제 2 의 필드로부터 이루어진 프레임내의 상기 제 1 필드, 또는 제 2 필드의 검출 화소의 화상 신호 레벨과 상기 검출 화소 부근의 근방 화소의 화상 신호 레벨과 동작 검출 계수값과의 비교에 기초하여, 상기 검출 화소의 화상 동작의 유무를 검출하는 동작 검출 수단과,

   상기 동작 검출 수단에서 상기 프레임의 수평 방향에 있어서 단독으로 동작이 검출된 검출 화소에 있는 고립점을 동작이 검출되지 않는 검출 화소로서 보간하며 상기 고립점을 제거하는 수평 고립점 제거 수단과,

   상기 동작 검출 수단에서 동작이 검출된 상기 고립점 이외의 검출 화상 신호를 필드내에서 보간하는 필드 보간 수단을 구비하는 화상 신호 처리 장치.
3. 서로 인접하는 1 주사선 간격으로 형성되는 제 1, 제 2 의 필드로부터 이루어진 프레임내의 상기 제 1 의 필드, 또는 제 2 의 필드 검출 화소의 화상 신호 레벨과 상기 검출 화소 부근의 근방 화소의 화상 신호 레벨과 동작 검출 계수값과의 비교에 기초하여, 상기 검출 화소의 화상 동작 유무를 검출하는 동작 검출 수단과,

   상기 동작 검출 수단에서 검출 화소의 화상 동작이 검출될 때에, 상기 검출 화소의 화상 신호를 보간하는 보간 영역을 확대시키는 보간 영역 확대 수단과,

   상기 보간 영역 확대 수단에 의해 확대된 보간 영역에서 화상 신호를 필드내에서 보간하는 필드 보간 수단을 구비하는 화상 신호 처리 장치.
4. 서로 인접하는 1 주사선 간격으로 형성되는 제 1, 제 2 의 필드로부터 이루어진 프레임내의 상기 제 1 의 필드, 또는 제 2 의 필드 검출 화소의 화상 신호 레벨과 상기 검출 화소 부근의 근방 화소의 화상 신호 레벨과 동작 검출 계수값과의 비교에 기초하여, 상기 검출 화소의 화상 동작 유무를 검출하는 동작 검출 수단과,

   상기 동작 검출 수단에서 검출 화소의 화상 동작이 검출된 때에 상기 검출 화소의 화상 신호를 보간하는 보간 영역을 확대시키는 보간 영역 확대 수단과,

   상기 보간 영역 확대 수단에 의해 확대된 보간 영역의 화상 신호에 스무딩(smoothing) 처리를 행하는 스무딩 수단과,

   상기 스무딩 수단에서 스무딩 처리가 행해져 상기 확대된 보간 영역에서 화상 신호를 필드내에서 보간하는 필드 보간 수단을 구비하는 화상 신호 처리 장치.
5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,

   상기 동작 검출 수단은 서로 인접하는 1 주사선 간격으로 형성되는 제 1, 제 2 의 필드로부터 이루어진 프레임내의 상기 제 1 필드 또는 제 2 필드의 복수의 검출 화소의 화상 신호 레벨과, 상기 각 검출 화소마다의 부근의 근방 화소의 화상 신호 레벨에 대한 동작 검출 계수와의 비교에 기초하여, 상기 검출 화소의 수평 방향, 두 경사 방향 및 수직 방향 동작의 유무를 검출하는 화상 신호 처리 장치.
6. 제 5항에 있어서,

   상기 동작 검출 수단은 검출 화소의 화상 수직 방향 동작의 유무의 검출을 수평 방향 성분이 잘린 프레임의 화상 신호에 기초하여 실행하는 화상 신호 처리 장치.
7. 제 1 항에 있어서,

   프레임내의 각 주사선의 인접하는 주사선간의 화상 신호 레벨차에 기초하여 수직 엣지를 검출하는 수직 엣지 검출 수단을 구비하며,

   상기 검출 계수 설정 수단은 상기 수직 엣지 검출 수단에서 수직 엣지가 검출된 때에, 상기 동작 검출 수단의 동작 검출 감도를 저하시키도록 동작 검출 계수를 설정하는 화상 신호 처리 장치.
8. 제 1 항에 있어서,

   상기 검출 계수 설정 수단은 동작 검출 수단에서 1 수평 라인전의 화상 신호에 기초하여 동작이 있다고 검출된 때에, 동작 검출 수단의 동작 검출 감도를 저하 시키도록 동작 검출 계수를 설정하는 화상 신호 처리 장치.
9. 제 2 항 내지 4 항 중 어느 한 항에 있어서,

   상기 동작 검출 수단의 동작 검출 계수를 가변 설정하는 것이 자유로우며, 프레임내의 각 주사선에 인접하는 주사선간의 화상 신호 레벨간에 기초하여 수직 엣지를 검출하는 수직 엣지 검출 수단과,

   상기 수직 엣지 검출 수단에서 수직 엣지가 검출된 때에, 동작 검출 수단의 동작 검출 감도를 저하시키도록 동작 검출 계수를 설정하는 검출 계수 설정 수단이 설치되는 화상 신호 처리 장치.
10. 제 2 항 내지 4 항 중 어느 한 항에 있어서,

    상기 동작 검출 수단의 동작 검출 계수를 가변 설정하는 것이 자유로우며, 상기 동작 검출 수단에서 1 수평 라인전의 화상 신호에 기초하여 동작이 있음이 검출된 때에, 동작 검출 수단의 동작 검출 감도를 저하시키도록 동작 검출 계수를 설정하는 검출 계수 설정 수단이 설치되는 화상 신호 처리 장치.