JP2000059799A - 画素欠陥補正装置及び画素欠陥補正方法 - Google Patents

画素欠陥補正装置及び画素欠陥補正方法

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JP2000059799A JP10220165A JP22016598A JP2000059799A JP 2000059799 A JP2000059799 A JP 2000059799A JP 10220165 A JP10220165 A JP 10220165A JP 22016598 A JP22016598 A JP 22016598A JP 2000059799 A JP2000059799 A JP 2000059799A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 全画素読み出し方式のプログレッシブスキャ
ンCCDから出力されるCCD信号に対して白キズ補正
を行う画素欠陥補正装置及び画素欠陥補正方法の提供。 【解決手段】 注目画素のCCD信号の値と、注目画素
の周辺に存在し、注目画素と同一の色成分である周辺画
素のCCD信号の最大値とを抽出し、注目画素のCCD
信号の値から周辺画素のCCD信号の最大値を引いた値
が所定値を越えている場合には白キズがあると判別し
て、注目画素におけるCCD信号の値を前記最大値で置
き換えることにより白キズの補正を行う。一方、注目画
素のCCD信号の値から周辺画素のCCD信号の最大値
を引いた値が所定値を越えていない場合には白キズがな
いと判別して、注目画素におけるCCD信号の値をその
まま出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、全画素読み出し方
式の固体撮像素子を用いた撮像装置において、固体撮像
素子の画素欠陥を信号処理により補正する画素欠陥補正
装置及び画素欠陥補正方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般的に、CCD等の半導体により形成
される固体撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等
により画素劣化が生じることが知られている。入射光量
に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電圧が加算され
てしまう画素欠陥は、この画素欠陥がそのまま信号処理
されてしまうとモニタ上に高輝度の白い点として現れる
ため白キズと呼ばれている。
【0003】図7は、インターラインで画素信号が読み出さ
れるインターライン固体撮像素子(以下、インターライ
ンCCDと記す)の白キズを補正する画素欠陥補正装置
における画素欠陥補正方法を説明するための図である。
なお、インターラインCCDから出力されるCCD信号
は、白キズ補正が行われる前にまずノイズ成分が除去さ
れ、所定の信号レベルに調整されてディジタル信号に変
換される。
【0004】そして、ディジタルの形態に変換されたCCD
信号は、水平方向に2画素が混合されて輝度信号とさ
れ、複数設けられたラインメモリにライン毎に書き込ま
れて白キズの補正が行われる。なお、ここでは、2ライ
ン分のラインメモリを設け、ラインメモリから読み出し
た2ライン分の輝度信号とこの2ラインに続き入力され
る1ライン分の輝度信号との合計3ライン分の輝度信号
を用いて、3ライン分の輝度信号の白キズ補正を行う例
を示している。
【0005】図7は、連続する3ライン、即ちラインL0、
ラインL1、ラインL2における水平方向に連続する3
画素を夫々示しており、画素a乃至cはラインL0上の
3画素、画素d乃至fはラインL1上の3画素、画素g
乃至iはラインL2上の3画素を示している。
【0006】従来の画素欠陥補正方法では、このような水平
3画素及び垂直3画素のマトリクスよりなる合計9画素
の輝度信号を用いて図7に示す画素b、画素e、画素h
における白キズの補正を行っている。なお、ここで1ラ
イン毎に補正を行わず、3ライン分の輝度信号をまとめ
て補正するのは、垂直アパーチャー信号に白キズが含ま
れるのを防止するためである。
【0007】まず、画素eの白キズ補正を行う場合について
説明する。初めに、画素dと画素fとの輝度信号を比較
して信号レベルが低い方を代表値Y1Lとし、画素a乃
至c及び画素g乃至iの合計6画素での輝度信号を比較
して信号レベルが最も高いものを代表値Y1Hとする。
そして、代表値Y1Lと代表値Y1Hとを比較して値が
大きい方をY1として、画素eにおける輝度信号の値か
らY1の値を引いて、その結果が所定のしきい値を越え
ている場合には、画素eに白キズが発生していると判別
する。
【0008】このように、画素eに白キズが発生していると
判別された場合、画素eにおける輝度信号の値をY1の
値で置き換えることにより白キズの補正を行う。一方、
画素eにおける輝度信号の値からY1の値を引いて、そ
の結果が所定のしきい値を越えていない場合には、画素
eに白キズが発生していないと判別し、画素eにおける
輝度信号の値をそのまま用いる。
【0009】次に、画素bの白キズ補正を行う場合、画素a
と画素cとの輝度信号を比較して信号レベルが低い方を
代表値Y0Lとする。また、画素d乃至fの輝度信号を
比較して信号レベルが最も高いものを代表値Y0Hとす
る。そして、代表値Y0Lと代表値Y0Hとを比較して
値が大きい方をY0として、画素bにおける輝度信号の
値からY0の値を引いて、その結果が所定のしきい値を
越えている場合には、画素bに白キズが発生していると
判別する。
【0010】そして、画素bに白キズが発生していると判別
された場合は、画素bにおける輝度信号の値をY0の値
で置き換えることにより白キズの補正を行う一方、画素
bに白キズが発生していないと判別された場合は、画素
bにおける輝度信号の値をそのまま用いる。
【0011】また、画素hでの白キズの補正を行う場合、画
素gと画素iとの輝度信号を比較して信号レベルが低い
方を代表値Y2Lとする。また、画素d乃至fの輝度信
号を比較して信号レベルが最も高いものを代表値Y2H
とする。そして、代表値Y2Lと代表値Y2Hとを比較
して値が大きい方をY2として、画素hにおける輝度信
号の値からY2の値を引いて、その結果が所定のしきい
値を越えている場合には、画素hに白キズが発生してい
ると判別する。
【0012】そして、画素hに白キズが発生していると判別
された場合は、画素hにおける輝度信号の値をY2の値
で置き換えることにより白キズの補正を行う一方、画素
hに白キズが発生していないと判別された場合は、画素
hにおける輝度信号の値をそのまま用いる。
【0013】以上に示す方法により、隣接画素の信号レベル
と比較して輝度信号の信号レベルが極端に高い画素があ
る場合には、これを白キズとみなして補正処理が行われ
ていた。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】ところが、CCD等の
固体撮像素子を使用した最近のカメラ一体型VTRで
は、更なる高画質化が進められると共に、偶数フィール
ド及び奇数フィールドよりなる動画像信号よりぶれのな
い1枚の静止画像信号を得ようとするニーズが強まりつ
つあり、このようなカメラ一体型VTRでは、インター
ラインで画素信号が読み出されるインターラインCCD
でなく、全画素読み出し方式のプログレッシブスキャン
CCD(以下、PS−CCDとも記す)が用いられる場
合がある。
【0015】しかし、このようなPS−CCDから得られる
CCD信号に対して、従来の画素欠陥補正装置の如く、
水平方向に2画素を混合して輝度信号を得て白キズ補正
を行った場合、解像度の低下を招いてしまうという問題
があった。また、水平方向に2画素を混合する前のCC
D信号を用い、従来例のような単純な補正範囲で周辺画
素と比較することにより白キズ補正を行った場合、固体
撮像素子から出力されるCCD信号における色成分毎の
信号レベルの違いにより、正確な白キズ検出及び白キズ
補正ができないといった問題があった。
【0016】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、本発明に係る画素欠陥補正装置は、全画素読み出
し方式の固体撮像素子から出力され、1画素の画素情報
が複数の色成分のうちのいずれか1つの色成分を示して
なる画素信号列から同一色成分をなす画素信号を画面所
定範囲にわたり抽出する抽出手段と、前記抽出手段にて
抽出された画素信号における注目画素の画素情報と、前
記画素信号における注目画素を除く他の画素の画素情報
とを比較して、前記注目画素における画素欠陥の有無を
判別する画素欠陥判別手段と、前記画素欠陥判別手段に
て前記注目画素に画素欠陥があると判別された場合に
は、前記画素信号における注目画素を除く他の画素の画
素情報を用いて前記注目画素の画素情報を補正して出力
し、前記画素欠陥判別手段にて前記注目画素に画素欠陥
がないと判別された場合には、前記注目画素の画素情報
をそのまま出力する画素欠陥補正手段とを備えたことを
特徴とし、前記画素欠陥判別手段は、前記注目画素の信
号レベルの値から前記注目画素を除く他の画素の信号レ
ベルの最大値を減算した値が所定値を越えている場合に
前記注目画素に画素欠陥があると判別し、前記画素欠陥
補正手段は、前記注目画素に画素欠陥があると判別され
た場合に前記注目画素の信号レベルの値を前記最大値で
置き換えることにより前記注目画素の画素情報を補正す
ることを特徴とするものである。
【0017】また、本発明に係る画素欠陥補正方法は、全画
素読み出し方式の固体撮像素子から出力され、1画素の
画素情報が複数の色成分のうちのいずれか1つの色成分
を示してなる画素信号列から同一色成分をなす画素信号
を画面所定範囲にわたり抽出し、前記抽出された画素信
号における注目画素の画素情報と、前記画素信号におけ
る注目画素を除く他の画素の画素情報とを比較して、前
記注目画素における画素欠陥の有無を判別し、前記注目
画素に画素欠陥があると判別された場合には、前記画素
信号における注目画素を除く他の画素の画素情報を用い
て前記注目画素の画素情報を補正して出力し、前記画素
欠陥判別手段にて前記注目画素に画素欠陥がないと判別
された場合には、前記注目画素の画素情報をそのまま出
力することを特徴とするものである。
【0018】
【発明の実施の形態】図1は本発明に係る画素欠陥補正
装置への信号経路を説明するためのブロック図、図2は
プログレッシブスキャンCCDにおけるCCDフィルタ
配列を示す図、図3はプログレッシブスキャンCCDか
ら出力されるCCD信号を説明するための図、図4は本
発明に係る画素欠陥補正装置における画素欠陥の補正方
法を説明するための図、図5及び図6は本発明に係る画
素欠陥補正装置の構成を示すブロック図である。以下図
面を参照しながら、本発明の一実施の形態を説明する。
【0019】図1において、1は伝送経路Sa及びSbを通
じて全画素のCCD信号を出力するPS−CCD、2は
PS−CCD1が出力するCCD信号からノイズ成分を
除去するCDS、3はCCD信号を所定の信号レベルに
調整するAGC、4はCCD信号をディジタルの信号形
態に変換するA/D変換器である。
【0020】また、5はA/D変換器4にてディジタルの信
号形態に変換されたCCD信号を、伝送系路Saに対し
て2ライン分、伝送経路Sbに対して2ライン分保持す
ることのできるラインメモリ、6は伝送系路Sa及びS
bにて各3ライン分ずつのCCD信号が同時に入力さ
れ、3ライン分のCCD信号に対して夫々白キズ補正を
して出力する画素欠陥補正装置である。
【0021】このように、本発明に係る画素欠陥補正装置
は、各伝送系路を通じてラインメモリ5から出力される
3ライン分ずつのCCD信号に対して3ライン分のCC
D信号の白キズ補正を同時に行って出力している。な
お、図2はPS−CCD1におけるCCDフィルタのフ
ィルタ配列の一例を示す図であり、PS−CCD1は
A、B、C、Dに示す4つのCCDフィルタ(色成分透
過フィルタ)を備えており、ここで示すA、B、C、D
は、例えばホワイト、グリーン、シアン、イエロー等の
各色成分を意味する。
【0022】そして、PS−CCD1は図3(a)に示す如
く伝送系路Saを通じて色成分A及び色成分BのCCD
信号を交互に出力し、図3(b)に示す如く伝送系路S
bを通じて色成分C及び色成分DのCCD信号を交互に
出力する。
【0023】また、図2に示すように、色成分AのためのC
CDフィルタと色成分BのためのCCDフィルタとが配
置されるラインでは、垂直方向1ラインおきに夫々のC
CDフィルタの位置が逆になるよう配置され、同様に色
成分CのためのCCDフィルタと色成分DのためのCC
Dフィルタとが配置されるラインでは、垂直方向1ライ
ンおきに夫々のCCDフィルタの位置が逆になるよう配
置されている。
【0024】従って、図3に示すように、伝送系路Saから
出力されるラインLa0では色成分A、色成分B、色成
分A、…の順にCCD信号が出力されるのに対し、これ
に続くラインLa1では、色成分B、色成分A、色成分
B、…の順にCCD信号が出力される。また、同様に、
伝送系路Sbから出力されるラインLb0では色成分
C、色成分D、色成分C、…の順にCCD信号が出力さ
れるのに対し、これに続くラインLb1では、色成分
D、色成分C、色成分D、…の順にCCD信号が出力さ
れる。
【0025】このようにしてPS−CCD1から出力される
CCD信号は、CDS2、AGC3、A/D変換器4を
経て、ラインメモリ5に入力される。そして、ラインメ
モリ5からは連続する3ライン分のCCD信号が画素欠
陥補正装置6に同時に入力される。
【0026】次に、画素欠陥補正装置6における白キズ補正
装置について図4を用いて説明する。なお、伝送系路S
aからは色成分A及び色成分BのCCD信号、伝送系路
Sbからは色成分C及び色成分DのCCD信号が入力さ
れるが、いずれの伝送系路に対しても同一方法にて白キ
ズ補正を行うため、ここでは、伝送経路Saを通じて入
力される色成分A及び色成分Bに対する白キズ補正につ
いてのみ説明する。
【0027】また、ここでは、後述する如く水平5画素及び
垂直3画素のマトリクスよりなる合計15画素のCCD
信号を用いて、画素c、画素h、画素mにおける白キズ
の補正を行うが、更に多くの画素を用いて画素c、画素
h、画素mにおける白キズの補正を行っても構わない。
【0028】図4における画素a乃至eはラインLa0での
CCD信号、画素f乃至jはラインLa1でのCCD信
号、画素k乃至oはラインLa2でのCCD信号を夫々
示しており、本発明に係る画素欠陥補正装置では、この
ように水平5画素及び垂直3画素のマトリクスよりなる
合計15画素のCCD信号を用いて、画素c、画素h、
画素mにおける白キズの補正を行うことができる。
【0029】ここでは、まず画素hの白キズ補正について説
明する。前述の如くラインメモリ5からは、ラインLa
0乃至La2の3ライン分のCCD信号が同時に入力さ
れるが、この時のCCD信号は色成分Aと色成分Bとが
交互に入力され、例えば画素hが色成分BのCCD信号
である場合には、画素b、画素d、画素f、画素j、画
素l、画素nは色成分BのCCD信号であり、画素a、
画素c、画素e、画素g、画素i、画素k、画素m、画
素oは色成分AのCCD信号となっている。
【0030】この時、色成分Aと色成分Bとの間にはCCD
信号の信号レベルに差があるため、色成分BのCCD信
号である画素hの白キズ有無の判別を行う際に、色成分
AのCCD信号の信号レベルを使用しては正確な判別が
行えなくなる。従って、画素hでの白キズ補正を行う際
には、画素hと同一の色成分である画素のCCD信号の
みを用いる。
【0031】画素欠陥補正装置6では、まず、注目画素とな
る画素hの周辺に存在し、画素hと同一の色成分である
画素b、画素d、画素f、画素j、画素l、画素nの合
計6画素でのCCD信号を比較して、信号レベルが最も
高いものを最大値C1Hとする。そして、画素hにおけ
るCCD信号の値ChからC1Hの値を引いて、その結
果が所定のしきい値を越えている場合には、画素hに白
キズが発生していると判別する。
【0032】そして、画素hに白キズが発生していると判別
された場合は、画素hにおけるCCD信号の値ChをC
1Hの値で置き換えることにより白キズの補正を行う。
一方、画素hにおけるCCD信号の値ChからC1Hの
値を引いて、その結果が所定のしきい値を越えていない
場合には、画素hに白キズが発生していないと判別し、
画素hにおけるCCD信号の値Chをそのまま出力す
る。
【0033】次に、画素cの白キズ補正を行う場合、画素
a、画素e、画素g、画素iの合計4画素でのCCD信
号を比較して、信号レベルが最も高いものを最大値C0
Hとする。そして、画素cにおけるCCD信号の値Cc
からC0Hの値を引いて、その結果が所定のしきい値を
越えている場合には、画素cに白キズが発生していると
判別する。
【0034】そして、画素cに白キズが発生していると判別
された場合は、画素cにおけるCCD信号の値CcをC
0Hの値で置き換えることにより白キズの補正を行う一
方、画素cに白キズが発生していないと判別された場合
は、画素cにおけるCCD信号の値Ccをそのまま出力
する。
【0035】また、画素mの白キズ補正を行う場合、画素
g、画素i、画素k、画素oの合計4画素でのCCD信
号を比較して、信号レベルが最も高いものを最大値C2
Hとする。そして、画素mにおけるCCD信号の値Cm
からC2Hの値を引いて、その結果が所定のしきい値を
越えている場合には、画素mに白キズが発生していると
判別する。
【0036】そして、画素mに白キズが発生していると判別
された場合は、画素mにおけるCCD信号の値CmをC
2Hの値で置き換えることにより白キズの補正を行う一
方、画素mに白キズが発生していないと判別された場合
は、画素mにおけるCCD信号の値Cmをそのまま出力
する。
【0037】図5及び図6は、このようにして白キズの発生
を判別した上で白キズの補正を行う画素欠陥補正装置6
の構成を示すブロック図である。なお、図5及び図6で
示す構成は、本画素欠陥補正装置の構成の一例であり、
図4を用いて説明したように白キズを補正できる回路で
あれば、ここで示す構成に限らず他の構成であっても構
わない。
【0038】ここで、図5は図4を用いて説明したラインL
a0乃至ラインLa2における画素a乃至oから画素
c、h、mにおけるCCD信号の値Cc、Ch、Cm、
そして最大値C0H、C1H、C2Hを得るための構成
を示しており、また、図6はこれらの値を用いて画素
c、h、mにおけるCCD信号の値を必要に応じて置き
換えて出力する構成を示している。
【0039】ここでは、まず図5の構成により、CCD信号
の値Cc、Ch、Cm、そして最大値C0H、C1H、
C2Hを得る方法を説明する。なお、同図において、1
0乃至21は入力されるCCD信号を1画素分遅延させ
て出力する遅延素子、22乃至31は入力されるCCD
信号のうち、信号レベルの高い何れか一方の信号を出力
する選択出力回路である。
【0040】ラインLa0乃至ラインLa2を通じてCCD
信号が入力されると各遅延素子は入力されるCCD信号
を1画素分ずつ遅延させて出力し、ここでは遅延素子1
0乃至13が図4における画素a乃至dのCCD信号、
遅延素子14乃至17が画素f乃至iのCCD信号、遅
延素子18乃至21が画素k乃至nのCCD信号を夫々
出力し、ラインLa0を通じて画素eのCCD信号、ラ
インLa1を通じて画素jのCCD信号、ラインLa2
を通じて画素oのCCD信号が入来しているものとす
る。
【0041】まず、画素cでのCCD信号の値Cc、画素h
でのCCD信号の値Ch、画素mでのCCD信号の値C
mは、夫々遅延素子12、16、20からの出力信号に
より得ることができる。そして画素hでの白キズの有無
を判別するためには、画素b、画素d、画素f、画素
j、画素l、画素nの合計6画素におけるCCD信号の
最大値C1Hが必要であるが、これは、選択回路24、
27、29にて夫々のライン毎に前記画素のCCD信号
の最大値を得て、その後選択回路25にてラインLa0
とラインLa1の最大値を得た後に、選択回路26にて
何れか大きい一方の値を選択することにより、前記合計
6画素におけるCCD信号の最大値C1Hを得ることが
できる。
【0042】また、画素cでの白キズの有無を判別するため
には、画素a、画素e、画素g、画素iの合計4画素に
おけるCCD信号の最大値C0Hが必要であるが、これ
は、選択回路22、28にて夫々のライン毎に前記画素
のCCD信号の最大値を得て、その後選択回路23にて
何れか大きい一方の値を選択することにより、前記合計
4画素におけるCCD信号の最大値C0Hを得ることが
できる。
【0043】また、同様に、画素mでの白キズの有無を判別
するためには、画素g、画素i、画素k、画素oの合計
4画素におけるCCD信号の最大値C2Hが必要である
が、これは、選択回路28、30にて夫々のライン毎に
前記画素のCCD信号の最大値を得て、その後選択回路
31にていずれか大きい一方の値を選択することによ
り、前記合計4画素におけるCCD信号の最大値C2H
を得ることができる。
【0044】次に、図6を用いて画素c、画素h、画素mに
おけるCCD信号の値の補正について説明する。なお、
画素c、画素h、画素mにおけるCCD信号の値の補正
については、図6に示す構成を各ライン毎に設けて3ラ
インのCCD信号を同時に補正するが、いずれのライン
に対しても同一方法にて白キズ補正を行うため、ここで
はラインLa0、即ち画素cに対する補正についてのみ
説明する。
【0045】同図において、32は図4に示す画素cにおけ
るCCD信号の値Ccから最大値C0Hを減算する減算
回路であり、この減算回路32の出力はコンパレータ
(CMP)34の端子Aに入力される。一方、9ビット
のディジタル信号で供給される所定のしきい値WKS
は、ビット変換器33にて10ビットのディジタル信号
に変換されてコンパレータ34の端子Bに入力される。
【0046】ここで、コンパレータ34は減算回路32が出
力する減算値としきい値WKSとを比較して、減算回路
32が出力する減算値が大きい場合は1の値を出力し、
それ以外の場合は0の値を出力する。そして、論理積回
路35の一方の入力端には減算回路32が出力する10
ビットの減算値のうちの最上位ビット(MSB)を反転
させた信号が入力され、他方の入力端にはコンパレータ
34からの1あるいは0の信号が入力される。
【0047】そして、論理積回路35は、2つの入力信号の
論理積を出力し、論理積回路35が1を出力した場合に
は、セレクタ36は最大値C0Hを選択出力し、論理積
回路35が0を出力した場合には、画素cにおけるCC
D信号の値Ccを選択出力する。
【0048】例えば、画素cでのCCD信号の値Ccが同じ
色成分を示す周辺画素のCCD信号の最大値C0Hと比
べてはるかに大きく、画素cでのCCD信号の値Ccか
ら最大値C0Hを引いた値がしきい値WKSを越えてい
る場合、即ち、画素cに白キズが発生している可能性が
高い場合には、コンパレータ34は1を出力する。
【0049】そして、この時減算回路32の出力する減算値
は正の値となっているため、この減算回路32が出力す
る10ビットの減算値のうちの最上位ビットは0であ
り、この0の値は1に反転された後にコンパレータ34
に出力される。従って、論理積回路35は1の値を出力
し、セレクタ36が最大値C0Hを選択出力することに
より、画素cにおけるCCD信号が最大値C0Hに置き
換えられて白キズの補正がなされる。
【0050】一方、画素cでのCCD信号の値Ccが同じ色
成分を示す周辺画素のCCD信号の最大値C0Hと比べ
てさほど大きくなく、画素cでのCCD信号の値Ccか
ら最大値C0Hを引いた値がしきい値WKSを越えてい
ない場合、即ち、画素cには白キズが発生していない可
能性が高い場合には、コンパレータ34は0を出力す
る。従って、論理積回路35は0の値を出力し、セレク
タ36は画素cにおけるCCD信号の値Ccをそのまま
出力する。
【0051】また、画素cでのCCD信号の値Ccが同じ色
成分を示す周辺画素のCCD信号の最大値C0Hよりも
小さい値である場合、即ち、画素cに白キズが発生して
いない場合には、減算回路32の出力する減算値は負の
値となる。
【0052】従って、減算回路32が出力する10ビットの
減算値のうちの最上位ビットは1であり、この1の値は
0に反転された後に論理積回路35に出力されるため、
論理積回路35は0の値を出力し、セレクタ36は画素
cにおけるCCD信号の値Ccをそのまま出力する。
【0053】なお、以上に示す実施の形態では、白キズが発
生していると判別された場合には、白キズが発生してい
ると判別された注目画素のCCD信号の値をその画素と
同じ色成分を示す周辺画素の値(最大値)により置き換
えた例を示したが、これに限らず、白キズが発生してい
ると判別された注目画素のCCD信号の値をその画素と
同じ色成分を示す周辺画素の値の平均値により置き換え
ても良い。
【0054】
【発明の効果】本発明によれば、全画素読み出し方式の
固体撮像素子から出力されるCCD信号のうち、同一色
成分をなす情報のみを抽出して画素欠陥の判別を行うた
め、画素欠陥の補正を正確に行うことができるだけでな
く、解像度を低下させることなく画素欠陥の補正を行う
ことができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る画素欠陥補正装置への信号経路を
説明するためのブロック図である。
【図2】プログレッシブスキャンCCDにおけるCCD
フィルタのフィルタ配列の一例を示す図である。
【図3】プログレッシブスキャンCCDから出力される
CCD信号を説明するための図である。
【図4】本発明に係る画素欠陥補正装置における画素欠
陥補正方法を説明するための図である。
【図5】注目画素でのCCD信号の値及び注目画素と同
一色成分である隣接画素でのCCD信号の最大値を得る
構成を示す図である。
【図6】注目画素におけるCCD信号の値を補正する構
成を示す図である。
【図7】従来の画素欠陥補正装置における画素欠陥補正
方法を説明するためのブロック図である。
【符号の説明】
1…プログレッシブスキャンCCD(PS−CCD) 2…CDS 3…AGC 4…A/D変換器 5…ラインメモリ 6…画素欠陥補正装置 10〜21…遅延素子 22〜31…選択回路 32…減算回路 33…ビット変換器 34…コンパレータ(CMP) 35…論理積回路 36…セレクタ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】全画素読み出し方式の固体撮像素子から出
    力され、1画素の画素情報が複数の色成分のうちのいず
    れか1つの色成分を示してなる画素信号列から同一色成
    分をなす画素信号を画面所定範囲にわたり抽出する抽出
    手段と、 前記抽出手段にて抽出された画素信号における注目画素
    の画素情報と、前記画素信号における注目画素を除く他
    の画素の画素情報とを比較して、前記注目画素における
    画素欠陥の有無を判別する画素欠陥判別手段と、 前記画素欠陥判別手段にて前記注目画素に画素欠陥があ
    ると判別された場合には、前記画素信号における注目画
    素を除く他の画素の画素情報を用いて前記注目画素の画
    素情報を補正して出力し、前記画素欠陥判別手段にて前
    記注目画素に画素欠陥がないと判別された場合には、前
    記注目画素の画素情報をそのまま出力する画素欠陥補正
    手段とを備えたことを特徴とする画素欠陥補正装置。
  2. 【請求項2】前記画素欠陥判別手段は、前記注目画素の
    信号レベルの値から前記注目画素を除く他の画素の信号
    レベルの最大値を減算した値が所定値を越えている場合
    に前記注目画素に画素欠陥があると判別し、 前記画素欠陥補正手段は、前記注目画素に画素欠陥があ
    ると判別された場合に前記注目画素の信号レベルの値を
    前記最大値で置き換えることにより前記注目画素の画素
    情報を補正することを特徴とする請求項1記載の画素欠
    陥補正装置。
  3. 【請求項3】全画素読み出し方式の固体撮像素子から出
    力され、1画素の画素情報が複数の色成分のうちのいず
    れか1つの色成分を示してなる画素信号列から同一色成
    分をなす画素信号を画面所定範囲にわたり抽出し、 前記抽出された画素信号における注目画素の画素情報
    と、前記画素信号における注目画素を除く他の画素の画
    素情報とを比較して、前記注目画素における画素欠陥の
    有無を判別し、 前記注目画素に画素欠陥があると判別された場合には、
    前記画素信号における注目画素を除く他の画素の画素情
    報を用いて前記注目画素の画素情報を補正して出力し、
    前記画素欠陥判別手段にて前記注目画素に画素欠陥がな
    いと判別された場合には、前記注目画素の画素情報をそ
    のまま出力することを特徴とする画素欠陥補正方法。
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