JPH0951479A - 撮像装置 - Google Patents
撮像装置Info
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- JPH0951479A JPH0951479A JP7202358A JP20235895A JPH0951479A JP H0951479 A JPH0951479 A JP H0951479A JP 7202358 A JP7202358 A JP 7202358A JP 20235895 A JP20235895 A JP 20235895A JP H0951479 A JPH0951479 A JP H0951479A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 複数画素を有する撮像素子を備えた撮像装置
に関し、画質の低下を防止してTDI演算処理を行う撮
像装置の提供を目的とする。 【解決手段】 撮像素子2のm×n画素のうち欠陥画素
の画素番号を記憶する第1の記憶回路15と、n段のTD
I演算を行う場合、第1の記憶回路15から欠陥画素番号
を読み出し、n個の画素のうち欠陥画素を除いた画素の
信号をTDI演算するように制御するTDI演算制御回
路14と、撮像対象からの入射光を制御して撮像素子2に
対して所定の光量を供給する光量制御手段16と、光量制
御手段16により撮像素子2に対して所定の光量を供給し
たとき、撮像素子2からの信号をTDI演算する前に、
撮像素子2のm×n画素分の雑音値を計算する雑音値演
算回路18と、雑音値の大きさから欠陥画素であるかどう
か判定し、第1の記憶回路15の内容を修正する欠陥アド
レス制御回路19とを具備するように構成する。
に関し、画質の低下を防止してTDI演算処理を行う撮
像装置の提供を目的とする。 【解決手段】 撮像素子2のm×n画素のうち欠陥画素
の画素番号を記憶する第1の記憶回路15と、n段のTD
I演算を行う場合、第1の記憶回路15から欠陥画素番号
を読み出し、n個の画素のうち欠陥画素を除いた画素の
信号をTDI演算するように制御するTDI演算制御回
路14と、撮像対象からの入射光を制御して撮像素子2に
対して所定の光量を供給する光量制御手段16と、光量制
御手段16により撮像素子2に対して所定の光量を供給し
たとき、撮像素子2からの信号をTDI演算する前に、
撮像素子2のm×n画素分の雑音値を計算する雑音値演
算回路18と、雑音値の大きさから欠陥画素であるかどう
か判定し、第1の記憶回路15の内容を修正する欠陥アド
レス制御回路19とを具備するように構成する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は撮像装置に関し、特
に、m画素×n列の複数画素を有する撮像素子を備えた
撮像装置に関する。近年、m画素×n列の複数の赤外線
受光素子から成る撮像素子を使用した高感度の撮像装置
が提供されている。この撮像装置は、m×n個の受光素
子を走査方向にn段のTDI(Time Delay Integration)
演算処理を行うことにより、高感度の撮像を行うように
なっている。そして、欠陥画素が存在する場合、特に、
運用中に新たに欠陥となる画素があった場合でも画質の
低下を防止することのできる撮像装置の提供が要望され
ている。
に、m画素×n列の複数画素を有する撮像素子を備えた
撮像装置に関する。近年、m画素×n列の複数の赤外線
受光素子から成る撮像素子を使用した高感度の撮像装置
が提供されている。この撮像装置は、m×n個の受光素
子を走査方向にn段のTDI(Time Delay Integration)
演算処理を行うことにより、高感度の撮像を行うように
なっている。そして、欠陥画素が存在する場合、特に、
運用中に新たに欠陥となる画素があった場合でも画質の
低下を防止することのできる撮像装置の提供が要望され
ている。
【0002】
【従来の技術】従来、車両、航空機、船舶等に搭載する
前方監視装置や、進入監視装置等に、例えば、HgCdTe等
の化合物半導体からなる赤外線受光素子を一列にm個設
け、該一列m個の赤外線受光素子を複数列配置した赤外
線撮像素子を有する撮像装置が使用されている。この赤
外線撮像装置は、撮像対象から赤外線撮像素子へ入射す
る光を走査して、二次元の画像信号を得るようになって
いる。また、高感度の撮像装置として使用するために、
赤外線撮像素子はm個(例えば、240個、或いは、4
80個)の受光素子を走査方向にn個(例えば、4個、
或いは、8個)並べて配置してm×n画素とされ、走査
方向にn段のTDI演算(TDI信号処理)を行うよう
になっている。
前方監視装置や、進入監視装置等に、例えば、HgCdTe等
の化合物半導体からなる赤外線受光素子を一列にm個設
け、該一列m個の赤外線受光素子を複数列配置した赤外
線撮像素子を有する撮像装置が使用されている。この赤
外線撮像装置は、撮像対象から赤外線撮像素子へ入射す
る光を走査して、二次元の画像信号を得るようになって
いる。また、高感度の撮像装置として使用するために、
赤外線撮像素子はm個(例えば、240個、或いは、4
80個)の受光素子を走査方向にn個(例えば、4個、
或いは、8個)並べて配置してm×n画素とされ、走査
方向にn段のTDI演算(TDI信号処理)を行うよう
になっている。
【0003】図4は従来の撮像装置の一例を示すブロッ
ク図である。この図4に示す従来の撮像装置は、m×4
画素の赤外線受光素子(1)を有し、4段のTDI演算
を行うようになっている。図4において、参照符号2は
撮像素子、3はA/D変換器、4は遅延回路、5はTD
I演算回路、6は制御回路、そして、10は画像生成回
路を示している。また、7はホールド回路8および記憶
回路9を有する欠陥置き換え回路、11は画像出力、1
2は集光レンズ、そして、13はスキャナを示してい
る。
ク図である。この図4に示す従来の撮像装置は、m×4
画素の赤外線受光素子(1)を有し、4段のTDI演算
を行うようになっている。図4において、参照符号2は
撮像素子、3はA/D変換器、4は遅延回路、5はTD
I演算回路、6は制御回路、そして、10は画像生成回
路を示している。また、7はホールド回路8および記憶
回路9を有する欠陥置き換え回路、11は画像出力、1
2は集光レンズ、そして、13はスキャナを示してい
る。
【0004】図5はm×4画素で構成した赤外線撮像素
子の一構成例を示すブロック図であり、また、図6は図
5の赤外線撮像素子の出力タイミングを示す図である。
図5に示されるように、m×4画素の受光素子を持つ赤
外線撮像素子2は、4本の信号出力線(出力A,B,
C,D)を持ち、それぞれm画素分の信号を出力するよ
うになっている。図5に示されるように、スキャナ13
により視野を走査すると、図6に示されるような出力A
〜出力Dが得られるようになっている。ここで、例え
ば、出力AのデータODA4, 出力BのデータODB3, 出力C
のデータODC2, および, 出力DのデータODD1は、撮像対
象の同一個所を走査して得られるデータであり、また、
期間t4においては、撮像対象の異なる個所の出力デー
タであるデータODA4,ODB4,ODC4,ODD4 が出力A,B,
C,Dとして得られるようになっている。
子の一構成例を示すブロック図であり、また、図6は図
5の赤外線撮像素子の出力タイミングを示す図である。
図5に示されるように、m×4画素の受光素子を持つ赤
外線撮像素子2は、4本の信号出力線(出力A,B,
C,D)を持ち、それぞれm画素分の信号を出力するよ
うになっている。図5に示されるように、スキャナ13
により視野を走査すると、図6に示されるような出力A
〜出力Dが得られるようになっている。ここで、例え
ば、出力AのデータODA4, 出力BのデータODB3, 出力C
のデータODC2, および, 出力DのデータODD1は、撮像対
象の同一個所を走査して得られるデータであり、また、
期間t4においては、撮像対象の異なる個所の出力デー
タであるデータODA4,ODB4,ODC4,ODD4 が出力A,B,
C,Dとして得られるようになっている。
【0005】すなわち、図4における撮像素子2から得
られる出力信号は、図6に示すような順序になってお
り、これらの信号を時間遅延用メモリ4に一時的に保持
し、その後読み出す。そして、TDI演算回路5におい
て、撮像対象の同一個所に対応する4つの信号(出力OD
A4, ODB3, ODC2,ODD1 )を加算し、1画素の信号として
出力するようになっている。例えば、図6において、期
間t1の出力Dの信号ODD1, 期間t2の出力Cの信号OD
C2, 期間t3の出力Bの信号ODB3, および, 期間t4の
出力Aの信号ODA4は同一地点を走査した時の信号であ
り、この4つの信号を加算および平均処理することにな
る。このTDI演算処理後の信号を画像生成回路10に
おいて標準テレビジョン信号に変換し、画像信号出力1
1を得るようになっている。
られる出力信号は、図6に示すような順序になってお
り、これらの信号を時間遅延用メモリ4に一時的に保持
し、その後読み出す。そして、TDI演算回路5におい
て、撮像対象の同一個所に対応する4つの信号(出力OD
A4, ODB3, ODC2,ODD1 )を加算し、1画素の信号として
出力するようになっている。例えば、図6において、期
間t1の出力Dの信号ODD1, 期間t2の出力Cの信号OD
C2, 期間t3の出力Bの信号ODB3, および, 期間t4の
出力Aの信号ODA4は同一地点を走査した時の信号であ
り、この4つの信号を加算および平均処理することにな
る。このTDI演算処理後の信号を画像生成回路10に
おいて標準テレビジョン信号に変換し、画像信号出力1
1を得るようになっている。
【0006】ここで、図5において、走査により撮像対
象の同一個所の信号を出力する4個の赤外線受光素子
(1)のうち、ある画素(例えば、図5中のB2)が欠
陥画素の場合、TDI演算処理した後のm画素の信号
も、画素(B2)を含む部分で欠陥となる。なお、現状
において、赤外線撮像素子(2)を構成する赤外線受光
素子(画素)は、製造技術(例えば、基板の製造技術)
の未成熟等のために、各画素に欠陥が生じる可能性があ
り、運用中に任意の画素に欠陥が生じたり、或いは、欠
陥であった画素が正常に戻ったりといった変化も生じ得
る。
象の同一個所の信号を出力する4個の赤外線受光素子
(1)のうち、ある画素(例えば、図5中のB2)が欠
陥画素の場合、TDI演算処理した後のm画素の信号
も、画素(B2)を含む部分で欠陥となる。なお、現状
において、赤外線撮像素子(2)を構成する赤外線受光
素子(画素)は、製造技術(例えば、基板の製造技術)
の未成熟等のために、各画素に欠陥が生じる可能性があ
り、運用中に任意の画素に欠陥が生じたり、或いは、欠
陥であった画素が正常に戻ったりといった変化も生じ得
る。
【0007】そこで、従来技術では、図4に示されるよ
うに、欠陥画素(第二番目の画素:B2)を置き換える
ために、欠陥画素のアドレスを記憶する欠陥画素アドレ
ス記憶回路9および信号をホールドする信号ホールド回
路8を有する欠陥置き換え回路7を設けるようになって
いた。すなわち、従来技術では、TDI演算処理した後
のm画素の信号うち、欠陥である画素の番号を予め測定
し、欠陥画素アドレス記憶回路9に記憶しておく。そし
て、撮像装置の運用時には、TDI演算回路5から出力
される信号に対応して、記憶回路9の内容を読み出し、
欠陥画素(例えば、第二番目の画素)であれば、前の画
素(例えば、第一番目の画素)のデータを保持し続け
る。これにより、欠陥画素の信号は、隣(前)の画素の
信号に置き換えられる(例えば、第二番目の画素のデー
タは、第一番目の画素のデータに置き換えられる)。な
お、TDI機能を有する撮像装置の例としては、例え
ば、TDI用の信号遅延回路に関する技術例として、特
願平6−855号「赤外線撮像装置」が提案されてい
る。
うに、欠陥画素(第二番目の画素:B2)を置き換える
ために、欠陥画素のアドレスを記憶する欠陥画素アドレ
ス記憶回路9および信号をホールドする信号ホールド回
路8を有する欠陥置き換え回路7を設けるようになって
いた。すなわち、従来技術では、TDI演算処理した後
のm画素の信号うち、欠陥である画素の番号を予め測定
し、欠陥画素アドレス記憶回路9に記憶しておく。そし
て、撮像装置の運用時には、TDI演算回路5から出力
される信号に対応して、記憶回路9の内容を読み出し、
欠陥画素(例えば、第二番目の画素)であれば、前の画
素(例えば、第一番目の画素)のデータを保持し続け
る。これにより、欠陥画素の信号は、隣(前)の画素の
信号に置き換えられる(例えば、第二番目の画素のデー
タは、第一番目の画素のデータに置き換えられる)。な
お、TDI機能を有する撮像装置の例としては、例え
ば、TDI用の信号遅延回路に関する技術例として、特
願平6−855号「赤外線撮像装置」が提案されてい
る。
【0008】図7は従来の撮像装置の他の例を示すブロ
ック図である。同図に示す撮像装置も、前述した図5に
示すm×4画素の受光素子で構成された撮像素子2を有
している。図7に示す従来の撮像装置において、記憶回
路15には、m×4画素全てについて、欠陥か正常かの
判定情報を予め測定して記憶しておき、運用時には記憶
回路15から4画素毎にデータを読み出すようになって
いる。そして、該4画素内に欠陥がある場合には、制御
回路14によりTDI演算回路5での処理を変更し、正
常画素の信号だけを加算および平均化処理するようにな
っている。具体的に、例えば、図5における画素B2が
欠陥画素の場合、TDI演算処理は、(A2+C2+D
2)/3の演算となるよう制御する。これにより、画像
生成回路10へは、欠陥画素(B2)の信号を含まない
信号が送られることになる。
ック図である。同図に示す撮像装置も、前述した図5に
示すm×4画素の受光素子で構成された撮像素子2を有
している。図7に示す従来の撮像装置において、記憶回
路15には、m×4画素全てについて、欠陥か正常かの
判定情報を予め測定して記憶しておき、運用時には記憶
回路15から4画素毎にデータを読み出すようになって
いる。そして、該4画素内に欠陥がある場合には、制御
回路14によりTDI演算回路5での処理を変更し、正
常画素の信号だけを加算および平均化処理するようにな
っている。具体的に、例えば、図5における画素B2が
欠陥画素の場合、TDI演算処理は、(A2+C2+D
2)/3の演算となるよう制御する。これにより、画像
生成回路10へは、欠陥画素(B2)の信号を含まない
信号が送られることになる。
【0009】上述した図7に示す撮像装置の例として
は、例えば、特開昭63−204978号公報「固体撮
像装置」が提案されており、また、この機能を撮像素子
内部に組み込んだものに相当する例としては、特開平6
−9047号公報「固体撮像素子」が提案されている。
は、例えば、特開昭63−204978号公報「固体撮
像装置」が提案されており、また、この機能を撮像素子
内部に組み込んだものに相当する例としては、特開平6
−9047号公報「固体撮像素子」が提案されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述した図4に示す従
来の撮像装置では、m×4画素のうち1つでも欠陥画素
(例えば、図5における画素B2)が有れば、残りの3
画素(例えば、図5における画素A2,C2,D2)が
良好であってもそれらの画素(A2,C2,D2)の信
号は使用されずに、TDI演算回路後の信号を欠陥とし
て扱うため、TDI演算処理を行わない場合に比べて欠
陥画素の影響を大きく受けることになる。
来の撮像装置では、m×4画素のうち1つでも欠陥画素
(例えば、図5における画素B2)が有れば、残りの3
画素(例えば、図5における画素A2,C2,D2)が
良好であってもそれらの画素(A2,C2,D2)の信
号は使用されずに、TDI演算回路後の信号を欠陥とし
て扱うため、TDI演算処理を行わない場合に比べて欠
陥画素の影響を大きく受けることになる。
【0011】また、上述した図7に示す従来の撮像装置
では、運用中に新たに欠陥となった受光素子(例えば、
図5中の画素C3)があった場合には、画像に欠陥画素
の影響を含んだ信号(例えば、第三番目の画素)が表示
されるため、画質を低下させる問題が発生する。本発明
は、上述した従来の撮像装置が有する課題に鑑み、欠陥
画素が存在する場合でも、或いは、運用中に新たに欠陥
となる画素があっても、画質の低下を防止してTDI演
算処理を行う撮像装置の提供を目的とする。
では、運用中に新たに欠陥となった受光素子(例えば、
図5中の画素C3)があった場合には、画像に欠陥画素
の影響を含んだ信号(例えば、第三番目の画素)が表示
されるため、画質を低下させる問題が発生する。本発明
は、上述した従来の撮像装置が有する課題に鑑み、欠陥
画素が存在する場合でも、或いは、運用中に新たに欠陥
となる画素があっても、画質の低下を防止してTDI演
算処理を行う撮像装置の提供を目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の形態によ
れば、m画素×n列の複数画素を有する撮像素子、n段
のTDI演算を行うTDI演算手段、および、撮像対象
からの入射光を走査して前記撮像素子に照射し所定(m
×k画素)の画像信号を得る走査装置を備えた撮像装置
であって、前記撮像素子のm×n画素のうち欠陥画素の
画素番号を記憶する第1の記憶回路と、n段のTDI演
算を行う場合、前記第1の記憶回路から欠陥画素番号を
読み出し、前記n個の画素のうち欠陥画素を除いた画素
の信号をTDI演算するように制御するTDI演算制御
回路と、前記撮像対象からの入射光を制御して前記撮像
素子に対して所定の光量を供給する光量制御手段と、該
光量制御手段により前記撮像素子に対して所定の光量を
供給したとき、前記撮像素子からの信号をTDI演算す
る前に、該撮像素子のm×n画素分の雑音値を計算する
雑音値演算回路と、該雑音値の大きさから欠陥画素であ
るかどうか判定し、前記第1の記憶回路の内容を修正す
る欠陥アドレス制御回路とを具備することを特徴とする
撮像装置が提供される。
れば、m画素×n列の複数画素を有する撮像素子、n段
のTDI演算を行うTDI演算手段、および、撮像対象
からの入射光を走査して前記撮像素子に照射し所定(m
×k画素)の画像信号を得る走査装置を備えた撮像装置
であって、前記撮像素子のm×n画素のうち欠陥画素の
画素番号を記憶する第1の記憶回路と、n段のTDI演
算を行う場合、前記第1の記憶回路から欠陥画素番号を
読み出し、前記n個の画素のうち欠陥画素を除いた画素
の信号をTDI演算するように制御するTDI演算制御
回路と、前記撮像対象からの入射光を制御して前記撮像
素子に対して所定の光量を供給する光量制御手段と、該
光量制御手段により前記撮像素子に対して所定の光量を
供給したとき、前記撮像素子からの信号をTDI演算す
る前に、該撮像素子のm×n画素分の雑音値を計算する
雑音値演算回路と、該雑音値の大きさから欠陥画素であ
るかどうか判定し、前記第1の記憶回路の内容を修正す
る欠陥アドレス制御回路とを具備することを特徴とする
撮像装置が提供される。
【0013】本発明の第2の形態によれば、m画素×n
列の複数画素を有する撮像素子、n段のTDI演算を行
うTDI演算手段、および、撮像対象からの入射光を走
査して前記撮像素子に照射し所定(m×k画素)の画像
信号を得る走査装置を備えた撮像装置であって、前記撮
像素子のm×n画素のうち欠陥画素の画素番号を記憶す
る第1の記憶回路と、n段のTDI演算を行う場合、前
記第1の記憶回路から欠陥画素番号を読み出し、前記n
個の画素のうち欠陥画素を除いた画素の信号をTDI演
算するように制御するTDI演算制御回路と、前記撮像
対象からの入射光を制御して前記撮像素子に対して所定
の光量を供給する光量制御手段と、該光量制御手段によ
り前記撮像素子に対して所定の光量を供給したとき、前
記撮像素子からの信号をTDI演算する前に、m×n画
素分の該撮像素子からの信号を複数回分記憶する第2の
記憶回路と、該第2の記憶回路に記憶された信号の変化
から欠陥画素であるかどうか判定し、前記第1の記憶回
路の内容を修正する欠陥アドレス制御回路とを具備する
ことを特徴とする撮像装置が提供される。
列の複数画素を有する撮像素子、n段のTDI演算を行
うTDI演算手段、および、撮像対象からの入射光を走
査して前記撮像素子に照射し所定(m×k画素)の画像
信号を得る走査装置を備えた撮像装置であって、前記撮
像素子のm×n画素のうち欠陥画素の画素番号を記憶す
る第1の記憶回路と、n段のTDI演算を行う場合、前
記第1の記憶回路から欠陥画素番号を読み出し、前記n
個の画素のうち欠陥画素を除いた画素の信号をTDI演
算するように制御するTDI演算制御回路と、前記撮像
対象からの入射光を制御して前記撮像素子に対して所定
の光量を供給する光量制御手段と、該光量制御手段によ
り前記撮像素子に対して所定の光量を供給したとき、前
記撮像素子からの信号をTDI演算する前に、m×n画
素分の該撮像素子からの信号を複数回分記憶する第2の
記憶回路と、該第2の記憶回路に記憶された信号の変化
から欠陥画素であるかどうか判定し、前記第1の記憶回
路の内容を修正する欠陥アドレス制御回路とを具備する
ことを特徴とする撮像装置が提供される。
【0014】本発明の第3の形態によれば、m画素×n
列の複数画素を有する撮像素子、n段のTDI演算を行
うTDI演算手段、および、撮像対象からの入射光を走
査して前記撮像素子に照射し所定(m×k画素)の画像
信号を得る走査装置を備えた撮像装置であって、前記撮
像素子のm×n画素のうち欠陥画素の画素番号を記憶す
る第1の記憶回路と、n段のTDI演算を行う場合、前
記第1の記憶回路から欠陥画素番号を読み出し、前記n
個の画素のうち欠陥画素を除いた画素の信号をTDI演
算するように制御するTDI演算制御回路と、前記撮像
対象からの入射光を制御して前記撮像素子に対して所定
の光量を供給する光量制御手段と、該光量制御手段によ
り前記撮像素子に対して所定の光量を供給したとき、前
記撮像素子からの信号をTDI演算する前に、該撮像素
子のm×n画素分の雑音値を計算する雑音値演算回路
と、該雑音値の大きさから欠陥画素であるかどうか判定
し、前記第1の記憶回路の内容を修正する第1の欠陥ア
ドレス制御回路と、該光量制御手段により前記撮像素子
に対して所定の光量を供給したとき、前記撮像素子から
の信号をTDI演算する前に、m×n画素分の該撮像素
子からの信号を複数回分記憶する第2の記憶回路と、該
第2の記憶回路に記憶された信号の変化から欠陥画素で
あるかどうか判定し、前記第1の記憶回路の内容を修正
する第2の欠陥アドレス制御回路とを具備することを特
徴とする撮像装置が提供される。
列の複数画素を有する撮像素子、n段のTDI演算を行
うTDI演算手段、および、撮像対象からの入射光を走
査して前記撮像素子に照射し所定(m×k画素)の画像
信号を得る走査装置を備えた撮像装置であって、前記撮
像素子のm×n画素のうち欠陥画素の画素番号を記憶す
る第1の記憶回路と、n段のTDI演算を行う場合、前
記第1の記憶回路から欠陥画素番号を読み出し、前記n
個の画素のうち欠陥画素を除いた画素の信号をTDI演
算するように制御するTDI演算制御回路と、前記撮像
対象からの入射光を制御して前記撮像素子に対して所定
の光量を供給する光量制御手段と、該光量制御手段によ
り前記撮像素子に対して所定の光量を供給したとき、前
記撮像素子からの信号をTDI演算する前に、該撮像素
子のm×n画素分の雑音値を計算する雑音値演算回路
と、該雑音値の大きさから欠陥画素であるかどうか判定
し、前記第1の記憶回路の内容を修正する第1の欠陥ア
ドレス制御回路と、該光量制御手段により前記撮像素子
に対して所定の光量を供給したとき、前記撮像素子から
の信号をTDI演算する前に、m×n画素分の該撮像素
子からの信号を複数回分記憶する第2の記憶回路と、該
第2の記憶回路に記憶された信号の変化から欠陥画素で
あるかどうか判定し、前記第1の記憶回路の内容を修正
する第2の欠陥アドレス制御回路とを具備することを特
徴とする撮像装置が提供される。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明の撮像装置の第1の形態に
よれば、第1の記憶回路は撮像素子のm×n画素のうち
欠陥画素の画素番号を記憶し、また、TDI演算制御回
路はn段のTDI演算を行う場合、第1の記憶回路から
欠陥画素番号を読み出してn個の画素のうち欠陥画素を
除いた画素の信号をTDI演算するように制御する。さ
らに、光量制御手段は撮像対象からの入射光を制御して
撮像素子に対して所定の光量を供給し、また、雑音値演
算回路は光量制御手段により撮像素子に対して所定の光
量を供給したとき、撮像素子からの信号をTDI演算す
る前に、該撮像素子のm×n画素分の雑音値を計算す
る。そして、欠陥アドレス制御回路は、雑音値の大きさ
から欠陥画素であるかどうか判定し、第1の記憶回路の
内容を修正するようになっている。
よれば、第1の記憶回路は撮像素子のm×n画素のうち
欠陥画素の画素番号を記憶し、また、TDI演算制御回
路はn段のTDI演算を行う場合、第1の記憶回路から
欠陥画素番号を読み出してn個の画素のうち欠陥画素を
除いた画素の信号をTDI演算するように制御する。さ
らに、光量制御手段は撮像対象からの入射光を制御して
撮像素子に対して所定の光量を供給し、また、雑音値演
算回路は光量制御手段により撮像素子に対して所定の光
量を供給したとき、撮像素子からの信号をTDI演算す
る前に、該撮像素子のm×n画素分の雑音値を計算す
る。そして、欠陥アドレス制御回路は、雑音値の大きさ
から欠陥画素であるかどうか判定し、第1の記憶回路の
内容を修正するようになっている。
【0016】本発明の撮像装置の第2の形態によれば、
第1の記憶回路は撮像素子のm×n画素のうち欠陥画素
の画素番号を記憶し、また、TDI演算制御回路はn段
のTDI演算を行う場合、第1の記憶回路から欠陥画素
番号を読み出してn個の画素のうち欠陥画素を除いた画
素の信号をTDI演算するように制御する。さらに、光
量制御手段は撮像対象からの入射光を制御して撮像素子
に対して所定の光量を供給し、また、第2の記憶回路は
光量制御手段により撮像素子に対して所定の光量を供給
したとき、撮像素子からの信号をTDI演算する前に、
m×n画素分の撮像素子からの信号を複数回分記憶す
る。そして、欠陥アドレス制御回路は、第2の記憶回路
に記憶された信号の変化から欠陥画素であるかどうか判
定し、第1の記憶回路の内容を修正するようになってい
る。
第1の記憶回路は撮像素子のm×n画素のうち欠陥画素
の画素番号を記憶し、また、TDI演算制御回路はn段
のTDI演算を行う場合、第1の記憶回路から欠陥画素
番号を読み出してn個の画素のうち欠陥画素を除いた画
素の信号をTDI演算するように制御する。さらに、光
量制御手段は撮像対象からの入射光を制御して撮像素子
に対して所定の光量を供給し、また、第2の記憶回路は
光量制御手段により撮像素子に対して所定の光量を供給
したとき、撮像素子からの信号をTDI演算する前に、
m×n画素分の撮像素子からの信号を複数回分記憶す
る。そして、欠陥アドレス制御回路は、第2の記憶回路
に記憶された信号の変化から欠陥画素であるかどうか判
定し、第1の記憶回路の内容を修正するようになってい
る。
【0017】本発明の撮像装置の第3の形態によれば、
上記第1の形態およびだい2の形態の構成を有し、第1
の記憶回路は撮像素子のm×n画素のうち欠陥画素の画
素番号を記憶し、さらに、TDI演算制御回路はn段の
TDI演算を行う場合、第1の記憶回路から欠陥画素番
号を読み出してn個の画素のうち欠陥画素を除いた画素
の信号をTDI演算するように制御する。また、光量制
御手段は撮像対象からの入射光を制御して撮像素子に対
して所定の光量を供給し、雑音値演算回路は光量制御手
段により撮像素子に対して所定の光量を供給したとき、
撮像素子からの信号をTDI演算する前に、該撮像素子
のm×n画素分の雑音値を計算し、さらに、第1の欠陥
アドレス制御回路は、雑音値の大きさから欠陥画素であ
るかどうか判定し、第1の記憶回路の内容を修正する。
そして、第2の記憶回路は光量制御手段により撮像素子
に対して所定の光量を供給したとき、撮像素子からの信
号をTDI演算する前に、m×n画素分の撮像素子から
の信号を複数回分記憶し、さらに、第2の欠陥アドレス
制御回路は、第2の記憶回路に記憶された信号の変化か
ら欠陥画素であるかどうか判定し、第1の記憶回路の内
容を修正するようになっている。
上記第1の形態およびだい2の形態の構成を有し、第1
の記憶回路は撮像素子のm×n画素のうち欠陥画素の画
素番号を記憶し、さらに、TDI演算制御回路はn段の
TDI演算を行う場合、第1の記憶回路から欠陥画素番
号を読み出してn個の画素のうち欠陥画素を除いた画素
の信号をTDI演算するように制御する。また、光量制
御手段は撮像対象からの入射光を制御して撮像素子に対
して所定の光量を供給し、雑音値演算回路は光量制御手
段により撮像素子に対して所定の光量を供給したとき、
撮像素子からの信号をTDI演算する前に、該撮像素子
のm×n画素分の雑音値を計算し、さらに、第1の欠陥
アドレス制御回路は、雑音値の大きさから欠陥画素であ
るかどうか判定し、第1の記憶回路の内容を修正する。
そして、第2の記憶回路は光量制御手段により撮像素子
に対して所定の光量を供給したとき、撮像素子からの信
号をTDI演算する前に、m×n画素分の撮像素子から
の信号を複数回分記憶し、さらに、第2の欠陥アドレス
制御回路は、第2の記憶回路に記憶された信号の変化か
ら欠陥画素であるかどうか判定し、第1の記憶回路の内
容を修正するようになっている。
【0018】このように、本発明の撮像装置によれば、
欠陥画素が存在する場合でも、或いは、運用中に新たに
欠陥となる画素があっても、画質の低下を防止してTD
I演算処理を行うことができる。
欠陥画素が存在する場合でも、或いは、運用中に新たに
欠陥となる画素があっても、画質の低下を防止してTD
I演算処理を行うことができる。
【0019】
【実施例】以下、図面を参照して本発明に係る撮像装置
の実施例を説明する。図1は本発明に係る撮像装置の第
1の実施例を示すブロック図である。この図1に示す撮
像装置は、m×n(例えば、m×4)画素の赤外線受光
素子(1)を有し、n段(例えば、4段)のTDI演算
を行うようになっている。
の実施例を説明する。図1は本発明に係る撮像装置の第
1の実施例を示すブロック図である。この図1に示す撮
像装置は、m×n(例えば、m×4)画素の赤外線受光
素子(1)を有し、n段(例えば、4段)のTDI演算
を行うようになっている。
【0020】図1において、参照符号2は撮像素子、3
はA/D変換器、4は遅延回路、5はTDI演算回路、
10は画像生成回路、そして、11は画像出力を示して
いる。また、12は集光レンズ、13はスキャナ、14
はTDI演算制御回路、15は第1の記憶回路、16は
チョッパー、17はチョッパー制御回路、18は雑音値
演算回路、そして、19は欠陥アドレス制御回路(第1
の欠陥アドレス制御回路)を示している。
はA/D変換器、4は遅延回路、5はTDI演算回路、
10は画像生成回路、そして、11は画像出力を示して
いる。また、12は集光レンズ、13はスキャナ、14
はTDI演算制御回路、15は第1の記憶回路、16は
チョッパー、17はチョッパー制御回路、18は雑音値
演算回路、そして、19は欠陥アドレス制御回路(第1
の欠陥アドレス制御回路)を示している。
【0021】図1に示す撮像装置は、前述した図7の従
来の撮像装置に対して、チョッパー16、チョッパー制
御回路17、雑音値演算回路18、および、欠陥アドレ
ス制御回路19をさらに設けるようになっている。チョ
ッパー16は、スキャナ13による視野走査に同期し
て、チョッパー制御回路17の制御により一定期間だけ
撮像素子に入射する光(撮像対象からの入射光)を遮断
するようになっている。そして、チョッパー16により
入射光を遮断したとき、撮像素子2からの信号が、雑音
値演算回路18に供給され、TDI演算する前に撮像素
子2のm×n(m×4)画素分の雑音値を計算する。
来の撮像装置に対して、チョッパー16、チョッパー制
御回路17、雑音値演算回路18、および、欠陥アドレ
ス制御回路19をさらに設けるようになっている。チョ
ッパー16は、スキャナ13による視野走査に同期し
て、チョッパー制御回路17の制御により一定期間だけ
撮像素子に入射する光(撮像対象からの入射光)を遮断
するようになっている。そして、チョッパー16により
入射光を遮断したとき、撮像素子2からの信号が、雑音
値演算回路18に供給され、TDI演算する前に撮像素
子2のm×n(m×4)画素分の雑音値を計算する。
【0022】ここで、入射光遮断手段(チョッパー)1
6としては、撮像対象からの入射光を制御して撮像素子
2に対して所定の光量(予め定められた明るさを)を供
給するようになっていればよく、例えば、或る反射パタ
ーンを有する板を撮像素子2の前面に移動可能とし、撮
像対象からの入射光の光強度に係わらず予め定められた
明るさを撮像素子2に与えるような光量制御手段であれ
ば使用することができる。
6としては、撮像対象からの入射光を制御して撮像素子
2に対して所定の光量(予め定められた明るさを)を供
給するようになっていればよく、例えば、或る反射パタ
ーンを有する板を撮像素子2の前面に移動可能とし、撮
像対象からの入射光の光強度に係わらず予め定められた
明るさを撮像素子2に与えるような光量制御手段であれ
ば使用することができる。
【0023】雑音値演算回路18により計算された雑音
値は、欠陥アドレス制御回路19に供給され、該雑音値
が予め定められた基準値を越えている画素が新たに発生
していれば、記憶回路(第1の記憶回路)15にその画
素を登録する。すなわち、チョッパー16により撮像対
象からの入射光を遮断し、一定の光量(光量0も含む)
を撮像素子2の各画素に与え、該撮像素子2の画素から
得られる信号が予定された範囲から外れていれば、欠陥
画素であるとして当該画素を第1の記憶回路15に登録
するようになっている。そして、この記憶回路15に登
録された画素は、前述した図7の撮像装置と同様に、T
DI演算から除去され、画像生成回路10に対しては、
欠陥画素の信号を含まない信号が送られるようになって
いる。
値は、欠陥アドレス制御回路19に供給され、該雑音値
が予め定められた基準値を越えている画素が新たに発生
していれば、記憶回路(第1の記憶回路)15にその画
素を登録する。すなわち、チョッパー16により撮像対
象からの入射光を遮断し、一定の光量(光量0も含む)
を撮像素子2の各画素に与え、該撮像素子2の画素から
得られる信号が予定された範囲から外れていれば、欠陥
画素であるとして当該画素を第1の記憶回路15に登録
するようになっている。そして、この記憶回路15に登
録された画素は、前述した図7の撮像装置と同様に、T
DI演算から除去され、画像生成回路10に対しては、
欠陥画素の信号を含まない信号が送られるようになって
いる。
【0024】図2は本発明に係る撮像装置の第2の実施
例を示すブロック図であり、図1に示す第1実施例にお
ける一部の構成を置き換えたものである。すなわち、図
2に示す撮像装置では、図1の撮像装置における雑音値
演算回路18および欠陥アドレス制御回路(第1の欠陥
アドレス制御回路)19の代わりに、第2の記憶回路2
0および欠陥アドレス制御回路(第2の欠陥アドレス制
御回路)21を設けるようにしたものである。
例を示すブロック図であり、図1に示す第1実施例にお
ける一部の構成を置き換えたものである。すなわち、図
2に示す撮像装置では、図1の撮像装置における雑音値
演算回路18および欠陥アドレス制御回路(第1の欠陥
アドレス制御回路)19の代わりに、第2の記憶回路2
0および欠陥アドレス制御回路(第2の欠陥アドレス制
御回路)21を設けるようにしたものである。
【0025】この図2に示す撮像装置は、図1の撮像装
置と同様にチョッパー制御回路17の制御により一定期
間だけ撮像素子に入射する光をチョッパー16で遮断す
るようになっている。さらに、チョッパー16により入
射光を遮断したとき、撮像素子2からの信号が、第2の
記憶回路20に供給されてm×n(m×4)画素の全画
素の信号を記憶する。ここで、第2の記憶回路20は、
m×n(m×4)画素の信号を少なくとも2回分記憶で
きる容量を持っている。
置と同様にチョッパー制御回路17の制御により一定期
間だけ撮像素子に入射する光をチョッパー16で遮断す
るようになっている。さらに、チョッパー16により入
射光を遮断したとき、撮像素子2からの信号が、第2の
記憶回路20に供給されてm×n(m×4)画素の全画
素の信号を記憶する。ここで、第2の記憶回路20は、
m×n(m×4)画素の信号を少なくとも2回分記憶で
きる容量を持っている。
【0026】そして、一定期間経過した後、再度、チョ
ッパー16で入射光を遮断し、その期間中の撮像素子2
からの信号を第2の記憶回路20の別の領域に記憶す
る。この時点で、欠陥アドレス制御回路21により、各
画素の2回の信号値を比較し、その差が予め定めた基準
値を越えている画素が新たに発生していれば、第1の記
憶回路15にその画素を登録する。そして、第1の記憶
回路15に登録された画素は、前述の図1の撮像装置と
同様にTDI演算から除外され、画像生成回路10へ
は、欠陥画素の信号を含まない信号が送られる。このよ
うに、期間をあけて2回の信号を取り出して比較するこ
とにより、雑音値は小さいがドリフトの大きい画素を検
出することができる。すなわち、撮像素子2の各画素
は、チョッパー16で入射光を遮断することにより、同
じ信号を出力することが期待されるが、例えば、間隔を
あけて行った2回の入射光遮断により得られた信号(画
素からの出力)が異なっていれば、画素に欠陥が生じた
(出力信号のドリフト(時間的に長時間に渡る出力変
化)が大きい画素)と判断して当該画素を第1の記憶回
路15に登録する。そして、この記憶回路15に登録さ
れた画素は、上記の第1の実施例と同様に、TDI演算
から除去され、画像生成回路10に対しては、欠陥画素
の信号を含まない信号が送られるようになっている。
ッパー16で入射光を遮断し、その期間中の撮像素子2
からの信号を第2の記憶回路20の別の領域に記憶す
る。この時点で、欠陥アドレス制御回路21により、各
画素の2回の信号値を比較し、その差が予め定めた基準
値を越えている画素が新たに発生していれば、第1の記
憶回路15にその画素を登録する。そして、第1の記憶
回路15に登録された画素は、前述の図1の撮像装置と
同様にTDI演算から除外され、画像生成回路10へ
は、欠陥画素の信号を含まない信号が送られる。このよ
うに、期間をあけて2回の信号を取り出して比較するこ
とにより、雑音値は小さいがドリフトの大きい画素を検
出することができる。すなわち、撮像素子2の各画素
は、チョッパー16で入射光を遮断することにより、同
じ信号を出力することが期待されるが、例えば、間隔を
あけて行った2回の入射光遮断により得られた信号(画
素からの出力)が異なっていれば、画素に欠陥が生じた
(出力信号のドリフト(時間的に長時間に渡る出力変
化)が大きい画素)と判断して当該画素を第1の記憶回
路15に登録する。そして、この記憶回路15に登録さ
れた画素は、上記の第1の実施例と同様に、TDI演算
から除去され、画像生成回路10に対しては、欠陥画素
の信号を含まない信号が送られるようになっている。
【0027】図3は本発明に係る撮像装置の第3の実施
例を示すブロック図であり、図1に示す第1実施例、図
2に示す第2実施例、および、図4に示す従来の撮像装
置における欠陥置き換え回路7を組み合わせて構成した
ものに相当する。本第3実施例においては、欠陥である
受光素子を除外してTDI演算を行うので、TDI演算
によるS/N比の改善の効果は小さくなるが、画像出力
11に欠陥画素の影響を現れる不都合を防ぐことができ
るだけでなく、欠陥部分を隣接画素で置き換えることで
細かいパターンを撮像するのに障害となっていた不都合
を防ぐこともできる。
例を示すブロック図であり、図1に示す第1実施例、図
2に示す第2実施例、および、図4に示す従来の撮像装
置における欠陥置き換え回路7を組み合わせて構成した
ものに相当する。本第3実施例においては、欠陥である
受光素子を除外してTDI演算を行うので、TDI演算
によるS/N比の改善の効果は小さくなるが、画像出力
11に欠陥画素の影響を現れる不都合を防ぐことができ
るだけでなく、欠陥部分を隣接画素で置き換えることで
細かいパターンを撮像するのに障害となっていた不都合
を防ぐこともできる。
【0028】すなわち、本第3実施例の撮像装置は、図
1に示す撮像装置における雑音値演算回路18および第
1の欠陥アドレス制御回路19による欠陥画素の第1の
記憶装置15への登録機能と、図2に示す撮像装置にお
ける第2の記憶回路20および第2の欠陥アドレス制御
回路21による第1の記憶装置15への登録機能との両
方を有している。
1に示す撮像装置における雑音値演算回路18および第
1の欠陥アドレス制御回路19による欠陥画素の第1の
記憶装置15への登録機能と、図2に示す撮像装置にお
ける第2の記憶回路20および第2の欠陥アドレス制御
回路21による第1の記憶装置15への登録機能との両
方を有している。
【0029】さらに、本第3実施例の撮像装置は、欠陥
画素のアドレスを記憶する欠陥画素アドレス記憶回路
(第3の記憶回路)9および信号をホールドする信号ホ
ールド回路8を有する欠陥置き換え回路7を備えてい
る。すなわち、撮像装置の運用時において、TDI演算
回路5から出力される信号に対応して、第1の記憶回路
15の内容を読み出し、欠陥画素(例えば、第二番目の
画素)であれば、前の画素(例えば、第一番目の画素)
のデータを保持し続け、欠陥画素の信号は、隣(前)の
画素の信号に置き換えるようになっている。この欠陥置
き換え回路7は、上記の第1実施例および第2実施例に
対しても設けることができるのはもちろんである。な
お、欠陥置き換え回路7の出力(ホールド回路8の出
力)は、例えば、画像生成回路10で画像出力11とさ
れモニタ22により表示されることになる。
画素のアドレスを記憶する欠陥画素アドレス記憶回路
(第3の記憶回路)9および信号をホールドする信号ホ
ールド回路8を有する欠陥置き換え回路7を備えてい
る。すなわち、撮像装置の運用時において、TDI演算
回路5から出力される信号に対応して、第1の記憶回路
15の内容を読み出し、欠陥画素(例えば、第二番目の
画素)であれば、前の画素(例えば、第一番目の画素)
のデータを保持し続け、欠陥画素の信号は、隣(前)の
画素の信号に置き換えるようになっている。この欠陥置
き換え回路7は、上記の第1実施例および第2実施例に
対しても設けることができるのはもちろんである。な
お、欠陥置き換え回路7の出力(ホールド回路8の出
力)は、例えば、画像生成回路10で画像出力11とさ
れモニタ22により表示されることになる。
【0030】上述したように、従来、受光素子1個でも
欠陥であればTDI演算した後の信号も欠陥となってい
たものが、本実施例によれば、欠陥を含まない画像信号
を得ることができる。さらに,従来、運用中に新たに欠
陥となる受光素子があった場合、画像信号に欠陥の影響
が現れていたものが、本実施例によれば、このような欠
陥もリアルタイムに検出して、その影響を除外すること
ができる。なお、本発明の撮像装置としては、赤外線撮
像装置に限定されるものではなく、複数の画素(m画素
×n列の複数画素)を有し、例えば、走査方向にn段の
TDI演算処理を行うような様々な撮像装置に対しても
適用することができる。
欠陥であればTDI演算した後の信号も欠陥となってい
たものが、本実施例によれば、欠陥を含まない画像信号
を得ることができる。さらに,従来、運用中に新たに欠
陥となる受光素子があった場合、画像信号に欠陥の影響
が現れていたものが、本実施例によれば、このような欠
陥もリアルタイムに検出して、その影響を除外すること
ができる。なお、本発明の撮像装置としては、赤外線撮
像装置に限定されるものではなく、複数の画素(m画素
×n列の複数画素)を有し、例えば、走査方向にn段の
TDI演算処理を行うような様々な撮像装置に対しても
適用することができる。
【0031】
【発明の効果】以上、詳述したように、本発明の撮像装
置によれば、光量制御手段により撮像素子に対して所定
の光量を供給したとき、撮像素子からの信号をTDI演
算する前に、撮像素子のm×n画素分の雑音値を計算
し、該雑音値の大きさから欠陥画素であるかどうか判定
することによって、欠陥画素が存在する場合、特に、運
用中に新たに欠陥となる画素があった場合でも画質の低
下を防止することができる。
置によれば、光量制御手段により撮像素子に対して所定
の光量を供給したとき、撮像素子からの信号をTDI演
算する前に、撮像素子のm×n画素分の雑音値を計算
し、該雑音値の大きさから欠陥画素であるかどうか判定
することによって、欠陥画素が存在する場合、特に、運
用中に新たに欠陥となる画素があった場合でも画質の低
下を防止することができる。
【図1】本発明に係る撮像装置の第1の実施例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図2】本発明に係る撮像装置の第2の実施例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図3】本発明に係る撮像装置の第3の実施例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図4】従来の撮像装置の一例を示すブロック図であ
る。
る。
【図5】m×4画素で構成した赤外線撮像素子の一構成
例を示すブロック図である。
例を示すブロック図である。
【図6】図5の赤外線撮像素子の出力タイミングを示す
図である。
図である。
【図7】従来の撮像装置の他の例を示すブロック図であ
る。
る。
1…受光素子 2…撮像素子 3…A/D変換器 4…遅延回路 5…TDI演算回路 7…欠陥置き換え回路 8…ホールド回路 9…第3の記憶回路 10…画像生成回路 11…画像出力 12…集光レンズ 13…走査装置(スキャナ) 14…TDI演算制御回路 15…第1の記憶回路 16…光量制御手段(入射光遮断手段:チョッパー) 17…チョッパー制御回路 18…雑音値演算回路 19…欠陥アドレス制御回路(第1の欠陥アドレス制御
回路) 20…第2の記憶回路 21…欠陥アドレス制御回路(第2の欠陥アドレス制御
回路) 22…モニタ
回路) 20…第2の記憶回路 21…欠陥アドレス制御回路(第2の欠陥アドレス制御
回路) 22…モニタ
Claims (13)
- 【請求項1】 m画素×n列の複数画素を有する撮像素
子(2)、n段のTDI演算を行うTDI演算手段
(5)、および、撮像対象からの入射光を走査して前記
撮像素子(2)に照射し所定の画像信号を得る走査装置
(13)を備えた撮像装置であって、 前記撮像素子(2)のm×n画素のうち欠陥画素の画素
番号を記憶する第1の記憶回路(15)と、 n段のTDI演算を行う場合、前記第1の記憶回路(1
5)から欠陥画素番号を読み出し、前記n個の画素のう
ち欠陥画素を除いた画素の信号をTDI演算するように
制御するTDI演算制御回路(14)と、 前記撮像対象からの入射光を制御して前記撮像素子
(2)に対して所定の光量を供給する光量制御手段(1
6)と、 該光量制御手段(16)により前記撮像素子(2)に対
して所定の光量を供給したとき、前記撮像素子(2)か
らの信号をTDI演算する前に、該撮像素子(2)のm
×n画素分の雑音値を計算する雑音値演算回路(18)
と、 該雑音値の大きさから欠陥画素であるかどうか判定し、
前記第1の記憶回路(15)の内容を修正する欠陥アド
レス制御回路(19)とを具備することを特徴とする撮
像装置。 - 【請求項2】 前記光量制御手段(16)は、前記撮像
対象からの入射光を遮断する入射光遮断手段(16)と
して構成され、そして、前記雑音値演算回路(18)
は、該入射光遮断手段(16)により入射光を遮断した
とき、前記撮像素子(2)からの信号をTDI演算する
前に、該撮像素子(2)のm×n画素分の雑音値を計算
するようになっていることを特徴とする請求項1の撮像
装置。 - 【請求項3】 前記入射光遮断手段は、一定間隔の繰り
返し動作により前記入射光を遮断するチョッパー(1
6)として構成されていることを特徴とする請求項2の
撮像装置。 - 【請求項4】 m画素×n列の複数画素を有する撮像素
子(2)、n段のTDI演算を行うTDI演算手段
(5)、および、撮像対象からの入射光を走査して前記
撮像素子(2)に照射し所定の画像信号を得る走査装置
(13)を備えた撮像装置であって、 前記撮像素子(2)のm×n画素のうち欠陥画素の画素
番号を記憶する第1の記憶回路(15)と、 n段のTDI演算を行う場合、前記第1の記憶回路(1
5)から欠陥画素番号を読み出し、前記n個の画素のう
ち欠陥画素を除いた画素の信号をTDI演算するように
制御するTDI演算制御回路(14)と、 前記撮像対象からの入射光を制御して前記撮像素子
(2)に対して所定の光量を供給する光量制御手段(1
6)と、 該光量制御手段(16)により前記撮像素子(2)に対
して所定の光量を供給したとき、前記撮像素子(2)か
らの信号をTDI演算する前に、m×n画素分の該撮像
素子(2)からの信号を複数回分記憶する第2の記憶回
路(20)と、 該第2の記憶回路(20)に記憶された信号の変化から
欠陥画素であるかどうか判定し、前記第1の記憶回路
(15)の内容を修正する欠陥アドレス制御回路(2
1)とを具備することを特徴とする撮像装置。 - 【請求項5】 前記光量制御手段(16)は、前記撮像
対象からの入射光を遮断する入射光遮断手段(16)と
して構成され、そして、前記第2の記憶回路(20)
は、該入射光遮断手段(16)により入射光を遮断した
とき、前記撮像素子(2)からの信号をTDI演算する
前に、m×n画素分の該撮像素子(2)からの信号を複
数回分記憶するようになっていることを特徴とする請求
項4の撮像装置。 - 【請求項6】 前記入射光遮断手段は、一定間隔の繰り
返し動作により前記入射光を遮断するチョッパー(1
6)として構成されていることを特徴とする請求項5の
撮像装置。 - 【請求項7】 前記第2の記憶回路(20)は、該入射
光遮断手段(16)により入射光を遮断したとき、前記
撮像素子(2)からの信号をTDI演算する前に、m×
n画素分の該撮像素子(2)からの信号を2回分記憶す
るようになっていることを特徴とする請求項4または5
のいずれかの撮像装置。 - 【請求項8】 m画素×n列の複数画素を有する撮像素
子(2)、n段のTDI演算を行うTDI演算手段
(5)、および、撮像対象からの入射光を走査して前記
撮像素子(2)に照射し所定の画像信号を得る走査装置
(13)を備えた撮像装置であって、 前記撮像素子(2)のm×n画素のうち欠陥画素の画素
番号を記憶する第1の記憶回路(15)と、 n段のTDI演算を行う場合、前記第1の記憶回路(1
5)から欠陥画素番号を読み出し、前記n個の画素のう
ち欠陥画素を除いた画素の信号をTDI演算するように
制御するTDI演算制御回路(14)と、 前記撮像対象からの入射光を制御して前記撮像素子
(2)に対して所定の光量を供給する光量制御手段(1
6)と、 該光量制御手段(16)により前記撮像素子(2)に対
して所定の光量を供給したとき、前記撮像素子(2)か
らの信号をTDI演算する前に、該撮像素子(2)のm
×n画素分の雑音値を計算する雑音値演算回路(18)
と、 該雑音値の大きさから欠陥画素であるかどうか判定し、
前記第1の記憶回路(15)の内容を修正する第1の欠
陥アドレス制御回路(19)と、 前記光量制御手段(16)により前記撮像素子(2)に
対して所定の光量を供給したとき、前記撮像素子(2)
からの信号をTDI演算する前に、m×n画素分の該撮
像素子(2)からの信号を複数回分記憶する第2の記憶
回路(20)と、 該第2の記憶回路(20)に記憶された信号の変化から
欠陥画素であるかどうか判定し、前記第1の記憶回路
(15)の内容を修正する第2の欠陥アドレス制御回路
(21)とを具備することを特徴とする撮像装置。 - 【請求項9】 前記光量制御手段(16)は、前記撮像
対象からの入射光を遮断する入射光遮断手段(16)と
して構成され、前記雑音値演算回路(18)は、該入射
光遮断手段(16)により入射光を遮断したとき、前記
撮像素子(2)からの信号をTDI演算する前に、該撮
像素子(2)のm×n画素分の雑音値を計算し、そし
て、前記第2の記憶回路(20)は、該入射光遮断手段
(16)により入射光を遮断したとき、前記撮像素子
(2)からの信号をTDI演算する前に、m×n画素分
の該撮像素子(2)からの信号を複数回分記憶するよう
になっていることを特徴とする請求項8の撮像装置。 - 【請求項10】 前記入射光遮断手段は、一定間隔の繰
り返し動作により前記入射光を遮断するチョッパー(1
6)として構成されていることを特徴とする請求項9の
撮像装置。 - 【請求項11】 前記第2の記憶回路(20)は、該入
射光遮断手段(16)により入射光を遮断したとき、前
記撮像素子(2)からの信号をTDI演算する前に、m
×n画素分の該撮像素子(2)からの信号を2回分記憶
するようになっていることを特徴とする請求項8または
9のいずれかの撮像装置。 - 【請求項12】 前記撮像装置は、さらに、TDI演算
を行った後に信号を保持するホールド回路(8),およ
び,該TDI演算後のm画素のうちで欠陥のある画素の
番号を記憶する第3の記憶回路(9)を有する欠陥置き
換え回路(7)を具備することを特徴とする請求項1〜
11のいずれか1項の撮像装置。 - 【請求項13】 前記撮像装置は、赤外線撮像素子
(2)を有する赤外線撮像装置である請求項1〜11の
いずれか1項の撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7202358A JPH0951479A (ja) | 1995-08-08 | 1995-08-08 | 撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7202358A JPH0951479A (ja) | 1995-08-08 | 1995-08-08 | 撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0951479A true JPH0951479A (ja) | 1997-02-18 |
Family
ID=16456192
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7202358A Withdrawn JPH0951479A (ja) | 1995-08-08 | 1995-08-08 | 撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0951479A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005084015A1 (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-09 | Olympus Corporation | 欠陥画素検出装置と方法および撮像装置 |
-
1995
- 1995-08-08 JP JP7202358A patent/JPH0951479A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005084015A1 (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-09 | Olympus Corporation | 欠陥画素検出装置と方法および撮像装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20021105 |