JP2737418B2 - 良否検査装置 - Google Patents
良否検査装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、容器の内面および縁
を撮像し、画像処理してその良否を検査するための良否
検査装置に関する。
を撮像し、画像処理してその良否を検査するための良否
検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、円筒容器の如く奥行きのある対象
物の内面や縁を検査する方法として、例えば図８に示す
ような方法が知られている。なお、同図（イ）におい
て、２１はテレビカメラ等の撮像装置、２２は広角レン
ズ、２３は照明器、２４は奥行きを持つ容器（対象物）
で、２４Ａはその縁部、２４Ｂは側面、２４Ｃは底面を
それぞれ示している。これは、カメラ２１を対象物２４
の真上に配置し、広角レンズ２２を介してリング状の照
明器２３により照射される対象物２４の内面を撮像する
ものである。その撮像画像は例えば同図（ロ）に示すよ
うに、画面２５内に容器の縁２４Ａ、側面２４Ｂおよび
底面２４Ｃのように示される。
物の内面や縁を検査する方法として、例えば図８に示す
ような方法が知られている。なお、同図（イ）におい
て、２１はテレビカメラ等の撮像装置、２２は広角レン
ズ、２３は照明器、２４は奥行きを持つ容器（対象物）
で、２４Ａはその縁部、２４Ｂは側面、２４Ｃは底面を
それぞれ示している。これは、カメラ２１を対象物２４
の真上に配置し、広角レンズ２２を介してリング状の照
明器２３により照射される対象物２４の内面を撮像する
ものである。その撮像画像は例えば同図（ロ）に示すよ
うに、画面２５内に容器の縁２４Ａ、側面２４Ｂおよび
底面２４Ｃのように示される。
【０００３】
【発明が解決しょうとする課題】しかしながら、対象物
は通常コンベアベルト上を搬送されてくるため、光軸と
対象物の中心軸とが一致しないのが普通である。このた
め、実際の画像は図８（ロ）のように同心円状とはなら
ず、図９のように縁部２４Ａと底面２４Ｃとの位置関係
が変わり、これによって側面２４Ｂが一定の幅を持った
リング状の領域とはならない。つまり、図８のようにす
ると、以下の如き問題が生じることになる。 （１）第１は広角レンズの歪により、撮像された縁の部
分の画像が対象物の実際の縁と一致せず、しかもこの歪
は画像の辺縁部へ行くほど大きくなるため、上記のよう
な方法では対象物の位置ずれによって生じる歪量の変化
に対応することができない。 （２）対象物の細いリング状の縁部を検査するに当た
り、縁部と対象物の背景となる部分のコントラスト差お
よび縁部と側面とのコントラスト差が大きいため、例え
ばｍ×ｎの局部領域を微分演算子のような画像演算オペ
レータを用いて縁部の不良箇所を検出しようとすると、
上記コントラスト差の影響によって不良箇所の検出能力
が大幅に低下するという不都合が生じる。例えば、図１
０の如く縁部２４Ａ（濃度レベル大）に汚れ不良（濃度
レベル小）２６があった場合に画像演算オペレータ２７
を作用させると、同図に斜線で示される部分２７Ａの箇
所も濃度レベルが小さいため、不良部分との区別がつか
なくなる。 （３）固定２値化方式にて縁部を切り出す際に、例えば
図１１のような入射光２８があった場合、縁部２４Ａが
図示のように丸みを帯びていると散乱光２８Ａが矢印の
ように散乱する。例として図１０のＡ−Ａ’付近の輝度
変化を図１２（イ）に示すが、ビデオ信号には一般に数
十ｍＶのノイズが含まれるため、これを微視的に観察す
ると同図（ロ）に示すように振動しており、これを単一
のしきい値Ｌで固定２値化しようとすると同図（ハ）に
示すようにギザギザが生じ、縁部の画像が滑らかになら
ない。したがって、この発明の課題はかかる問題点を全
て解決することが可能な検査装置を提供することにあ
る。
は通常コンベアベルト上を搬送されてくるため、光軸と
対象物の中心軸とが一致しないのが普通である。このた
め、実際の画像は図８（ロ）のように同心円状とはなら
ず、図９のように縁部２４Ａと底面２４Ｃとの位置関係
が変わり、これによって側面２４Ｂが一定の幅を持った
リング状の領域とはならない。つまり、図８のようにす
ると、以下の如き問題が生じることになる。 （１）第１は広角レンズの歪により、撮像された縁の部
分の画像が対象物の実際の縁と一致せず、しかもこの歪
は画像の辺縁部へ行くほど大きくなるため、上記のよう
な方法では対象物の位置ずれによって生じる歪量の変化
に対応することができない。 （２）対象物の細いリング状の縁部を検査するに当た
り、縁部と対象物の背景となる部分のコントラスト差お
よび縁部と側面とのコントラスト差が大きいため、例え
ばｍ×ｎの局部領域を微分演算子のような画像演算オペ
レータを用いて縁部の不良箇所を検出しようとすると、
上記コントラスト差の影響によって不良箇所の検出能力
が大幅に低下するという不都合が生じる。例えば、図１
０の如く縁部２４Ａ（濃度レベル大）に汚れ不良（濃度
レベル小）２６があった場合に画像演算オペレータ２７
を作用させると、同図に斜線で示される部分２７Ａの箇
所も濃度レベルが小さいため、不良部分との区別がつか
なくなる。 （３）固定２値化方式にて縁部を切り出す際に、例えば
図１１のような入射光２８があった場合、縁部２４Ａが
図示のように丸みを帯びていると散乱光２８Ａが矢印の
ように散乱する。例として図１０のＡ−Ａ’付近の輝度
変化を図１２（イ）に示すが、ビデオ信号には一般に数
十ｍＶのノイズが含まれるため、これを微視的に観察す
ると同図（ロ）に示すように振動しており、これを単一
のしきい値Ｌで固定２値化しようとすると同図（ハ）に
示すようにギザギザが生じ、縁部の画像が滑らかになら
ない。したがって、この発明の課題はかかる問題点を全
て解決することが可能な検査装置を提供することにあ
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るため、この発明は、容器の内面および縁を撮像し、画
像処理してその良否を検査するための良否検査装置にお
いて、撮像画像を２値化して第１の画像を得る一方、こ
の第１画像を縮小するかまたは予め設定されたマスクパ
ターンにより第２の画像を得、第１の画像と第２の画像
との論理積演算をして容器の縁部領域を決定する領域決
定手段と、この縁部領域の外周および内周を構成する画
素に着目し、この画素を基準として代表的な濃度値を走
査線上に１点ないし数点検出し、この濃度値で走査方向
の延長方向にある画素の濃度値を置換して縁部領域とそ
の他の領域とのコントラスト差を緩和した第３の画像を
得る画像抽出手段と、この第３の画像上を、所定大きさ
の局部領域を用いてコントラスト差を検出するオペレー
タにより走査し、縁部領域内部のコントラスト差から
良，不良を判定する判定手段とを設けたことを特徴とし
ている。また、上記２値化に当たり、上記撮像画像の濃
度値が第１のしきい値を上回ったことを検出する第１の
検出手段と、同じく第２のしきい値を下回ったことを検
出する第２の検出手段とを設け、撮像画像の濃度値が第
１のしきい値を上回ったときは第２の検出手段を有効に
する一方、そののち再び第２のしきい値を下回ったとき
は第１の検出手段を有効にして２値化することを特徴と
している。
るため、この発明は、容器の内面および縁を撮像し、画
像処理してその良否を検査するための良否検査装置にお
いて、撮像画像を２値化して第１の画像を得る一方、こ
の第１画像を縮小するかまたは予め設定されたマスクパ
ターンにより第２の画像を得、第１の画像と第２の画像
との論理積演算をして容器の縁部領域を決定する領域決
定手段と、この縁部領域の外周および内周を構成する画
素に着目し、この画素を基準として代表的な濃度値を走
査線上に１点ないし数点検出し、この濃度値で走査方向
の延長方向にある画素の濃度値を置換して縁部領域とそ
の他の領域とのコントラスト差を緩和した第３の画像を
得る画像抽出手段と、この第３の画像上を、所定大きさ
の局部領域を用いてコントラスト差を検出するオペレー
タにより走査し、縁部領域内部のコントラスト差から
良，不良を判定する判定手段とを設けたことを特徴とし
ている。また、上記２値化に当たり、上記撮像画像の濃
度値が第１のしきい値を上回ったことを検出する第１の
検出手段と、同じく第２のしきい値を下回ったことを検
出する第２の検出手段とを設け、撮像画像の濃度値が第
１のしきい値を上回ったときは第２の検出手段を有効に
する一方、そののち再び第２のしきい値を下回ったとき
は第１の検出手段を有効にして２値化することを特徴と
している。
【０００５】
【作用】上記領域決定手段にて広角レンズの歪みによる
影響を無くすようにし、上記画像抽出手段によりコント
ラスト差による検出能力の低下を防ぐ。また、上記２値
化に当たり、上記撮像画像の濃度値が第１のしきい値を
上回ったことを検出する第１の検出手段と、同じく第２
のしきい値を下回ったことを検出する第２の検出手段と
を設け、撮像画像の濃度値が第１のしきい値を上回った
ときは第２の検出手段を有効にする一方、そののち再び
第２のしきい値を下回ったときは第１の検出手段を有効
にして２値化することにより、滑らかな２値化画像が得
られるようにする。
影響を無くすようにし、上記画像抽出手段によりコント
ラスト差による検出能力の低下を防ぐ。また、上記２値
化に当たり、上記撮像画像の濃度値が第１のしきい値を
上回ったことを検出する第１の検出手段と、同じく第２
のしきい値を下回ったことを検出する第２の検出手段と
を設け、撮像画像の濃度値が第１のしきい値を上回った
ときは第２の検出手段を有効にする一方、そののち再び
第２のしきい値を下回ったときは第１の検出手段を有効
にして２値化することにより、滑らかな２値化画像が得
られるようにする。
【０００６】
【実施例】図１は、この発明の実施例を示すブロック図
である。同図において、１は固定２値化回路、２，４は
タイミング調整回路、３は位置ずれ検出回路、５は縮小
回路、６はマスクパターン発生回路、７は領域決定回
路、８は画素濃度置換回路、９は画像走査変換回路、１
０はフレームメモリ、１１は不良検出回路、１２は判定
回路である。すなわち、入力されたディジタル画像は固
定２値化回路１により、固定２値化される。図２（イ）
はノイズを含むビデオ信号Ｖを微視（ミクロ）的に示す
ものであるが、これを従来のように単一の固定しきい値
ｔ１にて２値化すると、同図（ハ）に示すようになって
不都合である。そこで、入力信号がしきい値ｔ１を越え
たときこれを検出して自動的にしきい値をｔ２とし、ま
た入力信号がｔ２を下回ったら自動的にしきい値をｔ１
になるようにすれば、同図（ロ）の如き安定した２値化
画像を得ることができる。
である。同図において、１は固定２値化回路、２，４は
タイミング調整回路、３は位置ずれ検出回路、５は縮小
回路、６はマスクパターン発生回路、７は領域決定回
路、８は画素濃度置換回路、９は画像走査変換回路、１
０はフレームメモリ、１１は不良検出回路、１２は判定
回路である。すなわち、入力されたディジタル画像は固
定２値化回路１により、固定２値化される。図２（イ）
はノイズを含むビデオ信号Ｖを微視（ミクロ）的に示す
ものであるが、これを従来のように単一の固定しきい値
ｔ１にて２値化すると、同図（ハ）に示すようになって
不都合である。そこで、入力信号がしきい値ｔ１を越え
たときこれを検出して自動的にしきい値をｔ２とし、ま
た入力信号がｔ２を下回ったら自動的にしきい値をｔ１
になるようにすれば、同図（ロ）の如き安定した２値化
画像を得ることができる。
【０００７】図３にかかる固定２値化を実現するための
回路の具体例を示す。同図において１１Ａ，１１Ｂはコ
ンパレータ、１２Ａ，１２Ｂはラッチ回路、１３は切換
回路である。すなわち、しきい値ｔ１，ｔ２をそれぞれ
ラッチ回路１２Ａ，１２Ｂにラッチしておき、これらの
値と入力とを比較し入力信号がしきい値ｔ１を越えたら
切換回路１３によりコンパレータ１１Ｂの出力を選択す
るようにし、その後再び入力信号がｔ２を下回ったらコ
ンパレータ１１Ａの出力を選択する。しきい値ｔ１，ｔ
２を変化させる場合の境界点の凹凸度を示す指標の１つ
として、全境界長を求める方法がある。これは、境界点
の上下左右方向への移動に対しては１を加算し、斜め方
向への移動に対しては２ 1/2を加算し、境界点を一巡し
たときの加算結果を全境界長とするものである。つま
り、境界点の凹凸度が大であれば全境界長も大きくな
り、凹凸度が小であれば全境界長も小さくなり、これに
より境界の凹凸度を知ることができるからである。した
がって、対象物が特定されたら最適な全境界長を指定す
る一方、しきい値ｔ１，ｔ２を変化させて全境界長を繰
り返し演算し、指定された値にほぼ一致したらそのとき
のｔ１，ｔ２を最適なしきい値として決定することによ
り、より滑らかな２値化画像を得ることができる。
回路の具体例を示す。同図において１１Ａ，１１Ｂはコ
ンパレータ、１２Ａ，１２Ｂはラッチ回路、１３は切換
回路である。すなわち、しきい値ｔ１，ｔ２をそれぞれ
ラッチ回路１２Ａ，１２Ｂにラッチしておき、これらの
値と入力とを比較し入力信号がしきい値ｔ１を越えたら
切換回路１３によりコンパレータ１１Ｂの出力を選択す
るようにし、その後再び入力信号がｔ２を下回ったらコ
ンパレータ１１Ａの出力を選択する。しきい値ｔ１，ｔ
２を変化させる場合の境界点の凹凸度を示す指標の１つ
として、全境界長を求める方法がある。これは、境界点
の上下左右方向への移動に対しては１を加算し、斜め方
向への移動に対しては２ 1/2を加算し、境界点を一巡し
たときの加算結果を全境界長とするものである。つま
り、境界点の凹凸度が大であれば全境界長も大きくな
り、凹凸度が小であれば全境界長も小さくなり、これに
より境界の凹凸度を知ることができるからである。した
がって、対象物が特定されたら最適な全境界長を指定す
る一方、しきい値ｔ１，ｔ２を変化させて全境界長を繰
り返し演算し、指定された値にほぼ一致したらそのとき
のｔ１，ｔ２を最適なしきい値として決定することによ
り、より滑らかな２値化画像を得ることができる。
【０００８】固定２値化回路１により２値化された画像
は、１つはタイミング調整回路４にてタイミングの調整
がなされた後、もう１つは位置ずれ検出回路３およびマ
スクパターン発生回路６を経た後、両者のタイミングが
一致するよう領域決定回路７に与えられる。なお、マス
クパターン発生回路６の代わりに縮小回路５を用いるこ
ともでき、このため点線により接続可能であることを示
している。図４に領域決定回路の具体例を示す。７１は
固定２値化画像メモリ、７２はマスク画像メモリ、７３
はアドレス発生器、７４は演算回路である。これは、タ
イミング調整回路４を経た２値化画像をメモリ７１に、
また位置ずれ検出回路３およびマスクパターン発生回路
６を経た画像をメモリ７２にそれぞれ記憶するものとし
て、これらをアドレス発生器７３により各画素毎に読み
出し演算回路７４にて例えば画像Ｃ１の内側は１，外側
は０、画像Ｃ２の内側は０，外側は１として両者の論理
積演算を施すことにより、縁部の外側の位置信号Ｐ１，
Ｐ４と内側の位置信号Ｐ２，Ｐ３からなる縁部領域信号
を得るものである。この領域信号（ラッチ信号）Ｐ１〜
Ｐ４はタイミング調整回路２からの出力とともに、画素
濃度置換回路８に与えられる。
は、１つはタイミング調整回路４にてタイミングの調整
がなされた後、もう１つは位置ずれ検出回路３およびマ
スクパターン発生回路６を経た後、両者のタイミングが
一致するよう領域決定回路７に与えられる。なお、マス
クパターン発生回路６の代わりに縮小回路５を用いるこ
ともでき、このため点線により接続可能であることを示
している。図４に領域決定回路の具体例を示す。７１は
固定２値化画像メモリ、７２はマスク画像メモリ、７３
はアドレス発生器、７４は演算回路である。これは、タ
イミング調整回路４を経た２値化画像をメモリ７１に、
また位置ずれ検出回路３およびマスクパターン発生回路
６を経た画像をメモリ７２にそれぞれ記憶するものとし
て、これらをアドレス発生器７３により各画素毎に読み
出し演算回路７４にて例えば画像Ｃ１の内側は１，外側
は０、画像Ｃ２の内側は０，外側は１として両者の論理
積演算を施すことにより、縁部の外側の位置信号Ｐ１，
Ｐ４と内側の位置信号Ｐ２，Ｐ３からなる縁部領域信号
を得るものである。この領域信号（ラッチ信号）Ｐ１〜
Ｐ４はタイミング調整回路２からの出力とともに、画素
濃度置換回路８に与えられる。
【０００９】図５に画素濃度置換回路の具体例を示す。
なお、８０は１ライン分の画像データを順次記憶するラ
インメモリ、８１１〜８１４，８２１〜８２４は画像デ
ータをラッチするラッチ回路、８３１〜８３４，８４１
〜８４４はアドレスをラッチするラッチ回路、８５１〜
８５４はコンパレータ、８６は切換回路である。ここで
は、ラッチ信号Ｐ１〜Ｐ４により、ラッチ８１１〜８１
４には画像データを、またラッチ８３１〜８３４にはア
ドレスをそれぞれラッチする。その際、１ラインの走査
が終了するまで画像データをラインメモリ８０へ格納す
る。そして、１ラインの走査が終了するとラッチ８１１
〜８１４，８３１〜８３４にそれぞれラッチされていた
データを、次段のラッチ８２１〜８２４，８４１〜８４
４に移送する。コンパレータ８５１〜８５４は縁部を示
す位置を検出し、切換回路８６に送る。切換回路８６は
コンパレータ出力を受けて、ラッチ８２１〜８２４のデ
ータとラインメモリ８０のいずれかのデータを選択する
ことにより、画像濃度の置換作業を行なう。なお、画像
濃度置換処理中に次の新たな走査データがラッチ８１１
〜８１４，８３１〜８３４にそれぞれラッチされる。
なお、８０は１ライン分の画像データを順次記憶するラ
インメモリ、８１１〜８１４，８２１〜８２４は画像デ
ータをラッチするラッチ回路、８３１〜８３４，８４１
〜８４４はアドレスをラッチするラッチ回路、８５１〜
８５４はコンパレータ、８６は切換回路である。ここで
は、ラッチ信号Ｐ１〜Ｐ４により、ラッチ８１１〜８１
４には画像データを、またラッチ８３１〜８３４にはア
ドレスをそれぞれラッチする。その際、１ラインの走査
が終了するまで画像データをラインメモリ８０へ格納す
る。そして、１ラインの走査が終了するとラッチ８１１
〜８１４，８３１〜８３４にそれぞれラッチされていた
データを、次段のラッチ８２１〜８２４，８４１〜８４
４に移送する。コンパレータ８５１〜８５４は縁部を示
す位置を検出し、切換回路８６に送る。切換回路８６は
コンパレータ出力を受けて、ラッチ８２１〜８２４のデ
ータとラインメモリ８０のいずれかのデータを選択する
ことにより、画像濃度の置換作業を行なう。なお、画像
濃度置換処理中に次の新たな走査データがラッチ８１１
〜８１４，８３１〜８３４にそれぞれラッチされる。
【００１０】図６は図５の作用を説明するための説明図
である。或る１つの走査線ＳＣと縁部２４Ａとの交点の
画素濃度ａ１〜ａ４を同図（イ）に示している。つま
り、走査線ＳＣでの輝度変化は本来ならば同図（ロ）に
点線で示すようになるが、このようにするとコントラス
ト差が大きくなるので、ここでは濃度値ａ１〜ａ４を記
憶し縁部２４Ａ以外の箇所の画像値を同図（ロ）のよう
に置換することにより、コントラスト差を小さくして
（緩和して）縁部の欠陥検査を可能にするものである。
なお、縁部領域が含まれない走査線については予め適宜
な値に置換しておくこととする。
である。或る１つの走査線ＳＣと縁部２４Ａとの交点の
画素濃度ａ１〜ａ４を同図（イ）に示している。つま
り、走査線ＳＣでの輝度変化は本来ならば同図（ロ）に
点線で示すようになるが、このようにするとコントラス
ト差が大きくなるので、ここでは濃度値ａ１〜ａ４を記
憶し縁部２４Ａ以外の箇所の画像値を同図（ロ）のよう
に置換することにより、コントラスト差を小さくして
（緩和して）縁部の欠陥検査を可能にするものである。
なお、縁部領域が含まれない走査線については予め適宜
な値に置換しておくこととする。
【００１１】画素濃度置換回路８の出力はフレームメモ
リ１０に与えられ、ここで１フレームの画像が形成され
る。画像走査変換回路９はこの１フレームの画像に対し
て微分演算子の如き画像演算オペレータを作用させるた
め、位置ずれ検出回路３からの出力にもとづき対象物画
像の位置ずれを補正した基準位置をもとに、所定のアド
レス位置に画像演算オペレータを発生する。図７に画像
演算オペレータの概要を示す。これは、着目点の画素濃
度をｘ０、着目点から左右にそれぞれｋ画素だけ離れた
背景点の画素濃度をｘ+ ，ｘ- とするとき、着目点の２
値化条件をｔ３を所定のしきい値として、 ｍｉｎ（ｘ+ ，ｘ- ）−ｘ０＞ｔ３ を満たすときｘ０＝１とし、その画素を不良画素とする
ものである。このようなオペレータを上記の如き１フレ
ームの画像に作用させることにより、安定な不良検出が
可能となる。不良検出回路１１はこのようにして不良検
出を行ない、判定回路１２は不良とされた画素数を数え
るなどして最終的な判定を行なう。
リ１０に与えられ、ここで１フレームの画像が形成され
る。画像走査変換回路９はこの１フレームの画像に対し
て微分演算子の如き画像演算オペレータを作用させるた
め、位置ずれ検出回路３からの出力にもとづき対象物画
像の位置ずれを補正した基準位置をもとに、所定のアド
レス位置に画像演算オペレータを発生する。図７に画像
演算オペレータの概要を示す。これは、着目点の画素濃
度をｘ０、着目点から左右にそれぞれｋ画素だけ離れた
背景点の画素濃度をｘ+ ，ｘ- とするとき、着目点の２
値化条件をｔ３を所定のしきい値として、 ｍｉｎ（ｘ+ ，ｘ- ）−ｘ０＞ｔ３ を満たすときｘ０＝１とし、その画素を不良画素とする
ものである。このようなオペレータを上記の如き１フレ
ームの画像に作用させることにより、安定な不良検出が
可能となる。不良検出回路１１はこのようにして不良検
出を行ない、判定回路１２は不良とされた画素数を数え
るなどして最終的な判定を行なう。
【００１２】
【発明の効果】この発明によれば、領域決定回路を設け
ることにより広角レンズの歪みによる影響を無くことが
できるだけでなく、画素濃度置換回路を設けることによ
り画像と背景等とのコントラスト差にもとづく検出能力
の低下を防ぐことができ、さらには２値化に上述の如き
工夫を凝らすことにより、滑らかな２値化画像を得るこ
とが可能となり、その結果、検出性能を従来のものより
格段に向上させることができる。
ることにより広角レンズの歪みによる影響を無くことが
できるだけでなく、画素濃度置換回路を設けることによ
り画像と背景等とのコントラスト差にもとづく検出能力
の低下を防ぐことができ、さらには２値化に上述の如き
工夫を凝らすことにより、滑らかな２値化画像を得るこ
とが可能となり、その結果、検出性能を従来のものより
格段に向上させることができる。
【図１】この発明の実施例を示すブロック図である。
【図２】微視的に見た画像信号の例とその２値化方法を
説明する説明図である。
説明する説明図である。
【図３】この発明による２値化回路の具体例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図４】領域決定回路の具体例を示すブロック図であ
る。
る。
【図５】画素濃度置換回路の具体例を示すブロック図で
ある。
ある。
【図６】画素濃度置換作用を説明するための説明図であ
る。
る。
【図７】画像演算オペレータの作用を説明するための説
明図である。
明図である。
【図８】従来の検査方法を説明するための説明図であ
る。
る。
【図９】画像のずれを説明するための説明図である。
【図１０】縁部に作用するオペレータの例を説明するた
めの説明図である。
めの説明図である。
【図１１】縁部に対する光線の反射状態を説明するため
の説明図である。
の説明図である。
【図１２】ミクロ的に見た画像信号の例とその２値化方
法の従来例を説明する説明図である。
法の従来例を説明する説明図である。
１ 固定２値化回路 ２ タイミング調整回路 ３ 位置ずれ検出回路 ４ タイミング調整回路 ５ 縮小回路 ６ マスクパターン発生回路 ７ 領域決定回路 ８ 画素濃度置換回路 ９ 画像走査変換回路 １０ フレームメモリ １１ 不良検出回路 １２ 判定回路
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−194454（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−316647（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−176451（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−171640（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−184044（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−113050（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−239146（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−17460（ＪＰ，Ａ) 特開 昭53−120490（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−125947（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−50005（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−69154（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−253642（ＪＰ，Ａ) 実開 平２−27556（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭59−41745（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭63−200753（ＪＰ，Ｕ) 実公 昭47−33351（ＪＰ，Ｙ１) 特表 平３−502138（ＪＰ，Ａ)
Claims (3)
- 【請求項１】 容器の内面および縁を撮像し、画像処理
してその良否を検査するための良否検査装置であって、
撮像画像を２値化して第１の画像を得る一方、この第１
画像を縮小するかまたは予め設定されたマスクパターン
により第２の画像を得、第１の画像と第２の画像との論
理積演算をして容器の縁部領域を決定する領域決定手段
と、この縁部領域の外周および内周を構成する画素に着
目し、この画素を基準として代表的な濃度値を走査線上
に１点ないし数点検出し、この濃度値で走査方向の延長
方向にある画素の濃度値を置換して縁部領域とその他の
領域とのコントラスト差を緩和した第３の画像を得る画
像抽出手段と、この第３の画像上を、所定大きさの局部
領域を用いてコントラスト差を検出するオペレータによ
り走査し、縁部領域内部のコントラスト差から良，不良
を判定する判定手段と、を設けたことを特徴とする良否
検査装置。 - 【請求項２】 前記撮像画像の濃度値が第１のしきい値
を上回ったことを検出する第１の検出手段と、同じく第
２のしきい値を下回ったことを検出する第２の検出手段
とを設け、撮像画像の濃度値が第１のしきい値を上回っ
たときは第２の検出手段を有効にする一方、そののち再
び第２のしきい値を下回ったときは第１の検出手段を有
効にして２値化することを特徴とする請求項１に記載の
良否検査装置。 - 【請求項３】 ２値化画像の全部または一部の境界点の
接続状況を検出して凹凸情報を算出する操作を前記第
１，第２のしきい値を順次変化させながら繰り返し行な
い、これが予め与えられた最適な凹凸情報にほぼ一致し
たことから最適な第１，第２しきい値を決定するしきい
値決定手段を設けたことを特徴とする請求項２に記載の
良否検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3034982A JP2737418B2 (ja) | 1991-02-06 | 1991-02-06 | 良否検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3034982A JP2737418B2 (ja) | 1991-02-06 | 1991-02-06 | 良否検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04254745A JPH04254745A (ja) | 1992-09-10 |
| JP2737418B2 true JP2737418B2 (ja) | 1998-04-08 |
Family
ID=12429356
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3034982A Expired - Fee Related JP2737418B2 (ja) | 1991-02-06 | 1991-02-06 | 良否検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2737418B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5568947B2 (ja) * | 2009-10-21 | 2014-08-13 | アイシン精機株式会社 | ねじ穴または穴の内部表面欠陥検査装置 |
-
1991
- 1991-02-06 JP JP3034982A patent/JP2737418B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04254745A (ja) | 1992-09-10 |
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