JPH09161056A - 円形容器内面検査方法 - Google Patents

円形容器内面検査方法

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JPH09161056A
JPH09161056A JP7319870A JP31987095A JPH09161056A JP H09161056 A JPH09161056 A JP H09161056A JP 7319870 A JP7319870 A JP 7319870A JP 31987095 A JP31987095 A JP 31987095A JP H09161056 A JPH09161056 A JP H09161056A
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container
image
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circular container
seam
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JP7319870A
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Koichi Toyama
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Fuji Electric Co Ltd
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Fuji Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】側面に継ぎ目23がある紙コップ等の円形容器
21を上から撮像して得た図(A)の多値濃淡画像中の
継ぎ目位置を安定に検出し、容器側面の黒汚れ等の欠陥
検査の精度を高める。 【解決手段】容器中心点Oと同心のリング状のウォール
ウインドウ30を発生して取出した容器側面の多値濃淡
画像を2値化した画像を、図(B)のように垂直方向と
水平方向とに走査して、継ぎ目23等に基づく変化点を
含む走査線数が多い走査方向(図では垂直方向)の変化
点P(PS 〜PE )の座標を抽出し、容器中心点Oと各
変化点Pを結ぶ直線とウォールウインドウ内円周30i
との交点Q(QS 〜QE )を得る。この交点Qの座標の
うち相互の距離が所定のしきい値内にある交点座標グル
ープの平均座標と容器中心Oとを結ぶ直線の傾き角(継
ぎ目角度)θを継ぎ目位置とし、円形容器画像の回転角
を正規化する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばベルトコン
ベアなどで搬送される紙コップなど側面部に継ぎ目のあ
る円形容器内面を検査し、異物・ゴミ・傷などを検出す
る画像処理装置の円形容器内面検査方法に関する。な
お、以下各図において同一の符号は同一もしくは相当部
分を示す。
【0002】
【従来の技術】円形容器の内面検査の方式としては、本
出願人の先願になる特開平5−18909号,特開平5
−72141号,特開平5−107200号,特開平5
−126750号,特開平6−94645号,特開平6
−94646号,特開平6−160289号,特開平6
−235702号,特願平6−57948号,特願平6
−222984号,等の提案がある。
【0003】ところで図5は一例として一般的な紙コッ
プの容器を上面より照明した場合の側断面図であり、2
1は紙コップ、22は上方に設置されたリング状の照明
器を示す。図7は図5の照明の下で紙コップ容器の上方
より広角レンズでこの容器内面を撮像した画像を示し、
容器側面部に継ぎ目23が観測される。この継ぎ目23
はほぼ直線であるが、この直線の向きは、一般に紙コッ
プの底面の中心Oには向いていない。上部継ぎ目24は
紙コップ口部をカールさせるなどするため、継ぎ目23
と同一の直線上になく、屈曲した形を呈している。さら
に円形容器では任意の角度に回転するため、このような
継ぎ目23も検査画像中の容器側面部の任意の位置に移
動する。
【0004】一般に容器内面検査においては、容器内の
黒汚れを検出する。ところが継ぎ目部分は照明光の影と
なって、暗い映像となって検査画面に現れるため、継ぎ
目を黒汚れと誤認しないようにするためには容器内の継
ぎ目周辺部は、黒汚れの検出感度を低下して検査せざる
を得ない。しかし容器は円形であるため、容器そのもの
が搬送中に回転して、継ぎ目部分が検査画像内の容器側
面のどの部分に現れるかは特定できないため、もしこの
継ぎ目の位置を検出できないとすれば、容器側面部の検
査感度をこの継ぎ目の黒レベル以下の黒汚れ検出しきい
値とせざるを得ず、この継ぎ目の黒レベルに対して同等
もしくはそれよりもうすい黒汚れを検出することが困難
である。
【0005】他方、もし継ぎ目位置を正規化することが
可能であれば、図6の円形容器上面画像図に示すように
継ぎ目周辺部のみ別の検査領域とする継ぎ目検査ウイン
ドウ27(左下向斜線部)を発生させて、その部分のみ
検出感度を下げ、他の容器側面部については、別ウイン
ドウ、例えば側面検査ウインドウ28(右下向斜線部)
を作成してうすい黒汚れも十分検出できる検査感度に上
げて検査することが可能であるので、検査装置の検出能
力が大いに向上する。このため従来、このような継ぎ目
位置を正規化することが行われている。
【0006】次に従来の継ぎ目位置を正規化するための
画像の回転補正方法について説明する。図7の25はサ
ーチリングと称し、容器底面中心Oを中心とする円周上
の1走査ラインであり、図示のように時計まわり方向に
このサーチリング上の各画素を1画素1画素走査して、
読出すためのものである。このサーチリングは、継ぎ目
23の位置を検出するためのものであり、容器側面部に
設定される。継ぎ目23が直線状に2値化されるとすれ
ば、サーチリング25を順次走査していくことにより、
必ず継ぎ目23の画素(検出点26)を検出することが
できる。この検出点26の位置を、例えば12時の位置
(真上)に位置するように、O点を中心に画像を回転補
正し、継ぎ目23の位置を正規化するものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、容器の
継ぎ目は個々のバラツキによって必ずしも直線として2
値化はされず、点々の繋がりとして2値化される場合
や、また継ぎ目部分の検出感度が高い場合は、容器側面
の地の部分が2値化されてしまい、継ぎ目以外のノイズ
を含んだ画像となるため、前記サーチリング手法によれ
ば、リング上を走査していったときに、たまたま継ぎ目
の2値化画素が無かったり、あるいはノイズ画素を誤検
出したりして、検出の安定性に難がある。
【0008】図8は、継ぎ目23を投影計測ウインドウ
29により制限して、ウインドウ29内の2値化画像を
水平及び垂直方向に走査した際の、その投影グラフを示
したものであり、容器中心Oが判明すれば、水平,垂直
の2つの投影グラフより継ぎ目位置を推定することがで
きるが、継ぎ目の角度θによって夫々の走査方向の投影
量が大きく変動するため、やはりノイズ画素との区別が
難しく、容器の回転角を安定に検出することが困難であ
った。
【0009】このように継ぎ目は元来黒いものではな
く、側面部材の重なりによって生じる光の影であるか
ら、2値化画像が不安定であり、継ぎ目を構成する各画
素が2値化されたり、されなかったりすると共に、場合
によっては2値化の感度が高すぎて、不必要な部分につ
いても2値化画素となって検出されてしまうこともあ
る。本発明は、このような場合においても安定に継ぎ目
位置を検出でき、さらに従来より汚れ検出性能の高い円
形容器内面の検査手法を提供することを課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項1の円形容器内面検査方法は、軸対称の円
形容器(21など)で且つ容器側面部に継ぎ目(23)
の存在する容器の上方から(照明器22を介し)この円
形容器の内面側を照明したうえ、TVカメラを介しこの
軸方向からこの円形容器の照明面を撮像し、この撮像さ
れた画像を解析して前記円形容器の内面の黒汚れ等を検
査する円形容器内面検査方法であって、前記撮像の画面
走査によって得られる濃淡画像信号のA/D変換信号と
しての多値濃淡画像信号(PO )を前記撮像画面に対応
する画面上のデータとして記憶するフレームメモリ
(1)と、前記容器側面部の継ぎ目部の像が含まれるよ
うに円形容器の像と同心にリング型ウインドウパターン
(30,以下ウォールウインドウという)を発生させ、
フレームメモリの画像を制限する画像マスク手段(ウイ
ンドウメモリ3,画像アドレス発生回路2,位置ズレ量
検出回路7,ウインドウゲート回路10など)とを設
け、このフレームメモリのウォールウインドウ領域の画
像の水平又は垂直走査によって読出された多値濃淡画像
信号(10a)を(2値化回路181を介し)所定のし
きい値で2値化して2値化画像信号を生成し、前記の各
走査毎の2値化画像信号の変化点座標(P)を(メモリ
182〜185に)記憶し、この各変化点座標と円形容
器の中心座標(O)とを結ぶ各直線と前記ウォールウイ
ンドウの内円周(30i)との交点座標(Q)を求め、
この各交点座標についての平均座標と円形容器の中心座
標とを結ぶ直線の傾き角(継ぎ目角θ)により継ぎ目の
位置を特定し、フレームメモリの円形容器の画像の回転
角を(12時の位置などに)正規化するようにする。
【0011】また請求項2の円形容器内面検査方法で
は、請求項1に記載の検査方法において、前記の各変化
点座標は、前記水平又は垂直走査のうち、検出される変
化点座標のデータ点数が多い方向の走査によって得られ
たものであるようにする。また請求項3の円形容器内面
検査方法では、請求項2に記載の検査方法において、前
記の各変化点座標は、さらに所定数以上の連続に並ぶ走
査線上に存在するもののみを抽出したものであるように
する。
【0012】また請求項4の円形容器内面検査方法で
は、請求項1ないし3のいずれかに記載の検査方法にお
いて、前記の各交点座標は、さらに相互の距離が所定の
しきい値内にあるもののみを抽出したものであるように
する。本発明の作用は次の如くである。図1は本発明の
手順の説明用の画像図である。ここで図1(A)は円形
容器21を真上より観測した画像であるが、ウォールウ
インドウ30をこの容器側面部に設け、このウォールウ
インドウ30は容器底面中心Oを中心とすると共に、継
ぎ目23を図示のように含むようにする。次に、フレー
ムメモリ内の多値濃淡画像を前記ウォールウインドウ3
0にてマスクして画像の有効領域を制限すると共に、所
定のしきい値で2値化して前記ウォールウインドウ30
の領域の多値濃淡画像の2値化画像を生成し、この2値
化画像上の垂直又は水平の各走査毎の2値化画像信号の
変化点座標を記憶することにより、継ぎ目23のみの2
値化画像の座標値を得る。
【0013】図1(B)はこのようにして得られた2値
化画像における継ぎ目23周辺部を拡大図示したもので
あるが、一般的な形態として、継ぎ目23は必ずしも連
続した直線として2値化されないことも合わせて示した
ものである。この継ぎ目の変化点の座標を図1(B)の
例では、水平方向に走査するより垂直方向に走査した方
が、2値化変化点のある走査ライン数が多くなるため、
垂直走査方向での2値化画像の変化点データを抽出す
る。なお、2値化変化点のある走査ライン数の多い走査
方向を以下、主走査方向という。継ぎ目23が水平軸と
なす角度が45°以下のときは、垂直走査方向が主走査
方向となり、同じく45°以上のときは、水平走査方向
が主走査方向となる。次にその抽出された変化点データ
について、Nライン連続して変化点データがある場合の
変化点データのみに着目することによって、2値化時の
孤立点ノイズを除去し(以下この処理をNラインフィル
タ処理という)、図1(C)に示すようにNラインフィ
ルタ処理後の各変化点P(P S ・・・Pi ・・・PE
について、それらの各変換点Pと容器底面中心Oとを直
線で結び、ウォールウインドウ内円周30iとの交点Q
を変化点PS ・・・P i ・・・PE に対応して順にQS
・・・Qi ・・・QE の順に求め、各交点Qの相互の距
離が予め定めたしきい値dの範囲内にあるものを1グル
ープとするグループ分け処理を行い(なお図1(C)の
例では交点QS 〜QE は1グループとなる)、その最も
交点Qの多いグループについて、QS 点からQE 点まで
の各交点Qの平均座標を算出し、その平均座標の交点Q
と容器底面中心Oとを結ぶ直線の水平軸となす角度θを
この検査容器の継ぎ目の角度と決定する。
【0014】
【発明の実施の形態】図2は本発明を実現する画像処理
装置の一実施例としての要部のブロック図を示す。同図
において、PO は検査対象の円形容器を図外のTVカメ
ラで図7で述べたように撮像し、この撮像画面をラスタ
走査してなる映像信号を同じく図外のA/D変換器によ
り変換してなる多値濃淡画像信号、1はこの多値濃淡画
像信号PO を入力し、撮像画面に対応する画面上のデー
タとして記憶する濃淡画像用フレームメモリである。2
はそのフレームメモリ1にアドレスを供給するための画
像アドレス発生回路であり、このアドレス発生回路2は
走査方向を任意の角度θとして、フレームメモリ1の画
面を走査する機能を備えている。3は継ぎ目位置を検出
するためのウォールウインドウ30等を図形パターンと
して記憶するためのウインドウメモリ、4はウインドウ
メモリ3に対してアドレスを発生するウインドウアドレ
ス発生回路、7はフレームメモリ1内の円形容器の画像
の位置ズレを検出するための位置ズレ量検出回路であ
る。画像アドレス発生回路2の発生アドレスの走査によ
ってフレームメモリ1から出力される濃淡画像信号と、
ウォールウインドウメモリ3から出力される画像マスク
信号とは、10のウインドウゲート回路に送られてアン
ド演算されることによってウォールウインドウ30内の
着目したい画素のみが取出される。ウインドウゲート回
路10よりの出力は18の継ぎ目位置決定回路又は11
の欠陥画素検出回路へ送られ、欠陥画素検出回路11は
黒汚れ画素を、例えば谷を不良部として2値化検出する
方法(特開平5−107200号公報参照)を用いて検
出した後、黒汚れ画素数を12の総合判定回路にて総和
して黒汚れ面積値を算出し、その面積値が予め設定され
た面積しきい値を上回る場合はその判定容器を不良と判
定する。総合判定回路12にて判定された最終的な容器
の良否が13の出力回路を通して装置外部へ出力され
る。
【0015】図2の動作を順を追って説明する。先ず、
円形容器の検査画像がフレームメモリ1に多値濃淡画像
として記憶されると、容器の位置ズレ検出のため第1の
走査として、この画像に対して画像アドレス発生回路に
より、検査画像の全部又は一部の矩形領域のアドレスを
発生させてこの検査画像を走査し、このフレームメモリ
1からの多値濃淡画像信号は7の位置ズレ量検出回路へ
入力され、検査画像内の容器の位置と基準位置とのズレ
を検出する。この位置ズレ量は、例えばフレームメモリ
1からの多値濃淡画像信号から円形容器の上端領域と左
端領域の固定2値化画像を作り、次にこの固定2値化画
像の上端エッジ及び左端エッジを検出し、この左端エッ
ジをX座標,上端エッジをY座標とする位置基準点と、
予め設定された基準座標点とのズレを検出して求めるこ
とができる(特開平6−94646号公報参照)。
【0016】次に、本発明の核心となる継ぎ目位置検出
動作に入る。位置ズレ量検出回路7よりの円形容器の位
置ズレ量が画像アドレス発生回路2へ入力され、ウォー
ルウインドウ30の位置が検査対象の円形容器の中心位
置と合った状態に補正されて、ウォールウインドウ30
内の画像を2値化する。このとき、フレームメモリ1の
画像は、θ=0°(水平)及びθ=90°(垂直)の2
つのケースで読出される。
【0017】図3は継ぎ目位置決定回路18の内部のブ
ロック図であって、入力された画像は2値化回路181
で2値化処理された後、2値化信号の最初の0→1変化
点座標がθ=0°の場合は立上がり点メモリ182に、
同じくθ=180°の場合は立上がり点メモリ184に
夫々記憶され、2値化信号の最後の1→0変化点がθ=
0°の場合は立下がり点メモリ183に、同じくθ=1
80°の場合は立下がり点メモリ185に夫々記憶され
る。CPU186はメモリ182〜185のデータを読
出し、次のように継ぎ目検出処理を実行する。
【0018】図4はこの継ぎ目検出処理のフローチャー
トである。即ちステップS1にて立上がり点メモリ18
2と184との間で、変化点データのある走査ライン数
を比較して、この走査ライン数の多いメモリのデータを
以下の演算データとして選択する(つまり主走査方向を
決定する)。次にステップS2にて立上がり点座標デー
タを選択されたメモリ(182又は184)より読出し
て、演算処理用の図示されないバッファメモリに格納
し、ステップS3にてこの各立上がり点座標データに対
して、Nラインフィルタ処理によってノイズ除去を行
う。
【0019】次にステップS4にて各立上がり点座標デ
ータと容器底面中心Oとの直線式を夫々求めて、ウォー
ルウインドウの内円周との交点の座標Qを算出し、ステ
ップS5にて主走査方向に対応する立下がり点メモリ
(183又は185)から立下がり点座標データを前記
演算処理用の図示されないバッファメモリに格納し、ス
テップS6にてNラインフィルタ処理によりノイズを除
去し、ステップS7にて各立下がり点座標データと容器
底面中心Oとの直線式を夫々求めて、ウォールウインド
ウ内周点との交点の座標Qを算出する。
【0020】ステップS8では交点Q間の距離を予め設
定された距離dと比較し、距離d以内に相互に近接して
いる交点Qのグループ分けを行い、ステップS9で前記
グループ分けされた各グループのうち交点Qの最も多い
グループに着目して、その交点Qの平均座標Q* を求め
る。次にステップS10で交点Qの平均座標Q* と容器
中心Oとを結ぶ直線式を算出し、その傾きより継ぎ目角
度θを決定する。
【0021】継ぎ目角度θが算出された後は、その角度
θが一定の角度、例えば90°となるように図2の画像
アドレス発生回路2を制御して、フレームメモリ1の検
査画像を読出すと共に、ウインドウメモリ3内の継ぎ目
検査ウインドウ27(図6参照)を読出し、ウインドウ
ゲート回路10にて継ぎ目周辺部以外のマスク処理を行
って、図6で述べたように検出感度を下げて継ぎ目周辺
のみの継ぎ目よりも濃い黒汚れの検査を欠陥画素検出回
路11,総合判定回路12,出力回路13で行い、次の
走査では同様にウインドウメモリ3から、例えば側面検
査ウインドウ28(図6参照)を読出して、継ぎ目23
の周辺部を除く容器内部側面の欠陥検出処理を、うすい
黒汚れも十分検出できる検出感度に上げて行う。
【0022】
【発明の効果】本発明によれば側面部に継ぎ目を持つ円
形容器を上方から照明し、撮像して得た多値濃淡画像を
記憶するフレームメモリから、円形容器の像の中心と同
心のリング型のマスクパターンとしてのウォールウイン
ドウを介して継ぎ目を含む容器側面部の画像を水平及び
垂直走査によって読出したうえ所定のしきい値で2値化
し、この各走査毎の変化点座標を記憶し、水平走査方向
と垂直走査方向のうち変化点座標データの多い走査方向
についての各変化点座標を取出し、この各変化点座標と
円形容器の中心座標とを結ぶ直線とウォールウインドウ
の内円周との交点座標を求め、この交点座標の平均座標
とウォールウインドウの中心座標とを結ぶ直線の傾き角
から継ぎ目の位置を特定して、円形容器の回転角を正規
化するようにしたので、継ぎ目検査ウインドウ27と、
例えば側面検査ウインドウ28とによって夫々容器側面
の継ぎ目附近と、これを除く部分の多値濃淡画像を安定
に抽出することができ、容器内面検査の精度を向上する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の手順説明用の画像図
【図2】本発明を実現する検査装置の一実施例としての
要部構成を示すブロック図
【図3】図2の継ぎ目位置決定回路の要部構成を示すブ
ロック図
【図4】図3のCPUの処理を示すフローチャート
【図5】検査対象円形容器に対する照明器の配置を示す
【図6】継ぎ目位置を正規化した際の検査ウインドウの
配置例を示す図
【図7】従来のサーチリングによる継ぎ目位置検出方法
の説明図
【図8】従来の投影による継ぎ目位置検出方法の説明図
【符号の説明】
O 多値濃淡画像信号 1 フレームメモリ 2 画像アドレス発生回路 3 ウインドウメモリ 4 ウインドウアドレス発生回路 7 位置ズレ量検出回路 10 ウインドウゲート回路 11 欠陥画素検出回路 12 総合判定回路 13 出力回路 18 継ぎ目位置決定回路 21 円形容器 22 照明器 23 継ぎ目 O 容器中心点 27 継ぎ目検査ウインドウ 28 側面検査ウインドウ 30 ウォールウインドウ 30i ウォールウインドウの内円周 P(PS,i,E ) 変化点 Q(QS,i,E ) 交点 181 2値化回路 182 立上がり点メモリ(θ=0°) 183 立下がり点メモリ(θ=0°) 184 立上がり点メモリ(θ=90°) 185 立下がり点メモリ(θ=90°) 186 CPU

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】軸対称の円形容器で且つ容器側面部に継ぎ
    目の存在する容器の上方からこの円形容器の内面側を照
    明したうえ、TVカメラを介しこの軸方向からこの円形
    容器の照明面を撮像し、この撮像された画像を解析して
    前記円形容器の内面の黒汚れ等を検査する円形容器内面
    検査方法であって、 前記撮像の画面走査によって得られる濃淡画像信号のA
    /D変換信号としての多値濃淡画像信号を前記撮像画面
    に対応する画面上のデータとして記憶するフレームメモ
    リと、 前記容器側面部の継ぎ目部の像が含まれるように円形容
    器の像と同心にリング型ウインドウパターン(以下ウォ
    ールウインドウという)を発生させ、フレームメモリの
    画像を制限する画像マスク手段とを設け、 このフレームメモリのウォールウインドウ領域の画像の
    水平又は垂直走査によって読出された多値濃淡画像信号
    を所定のしきい値で2値化して2値化画像信号を生成
    し、前記の各走査毎の2値化画像信号の変化点座標を記
    憶し、 この各変化点座標と円形容器の中心座標とを結ぶ各直線
    と前記ウォールウインドウの内円周との交点座標を求
    め、 この各交点座標についての平均座標と円形容器の中心座
    標とを結ぶ直線の傾き角により継ぎ目の位置を特定し、
    フレームメモリの円形容器の画像の回転角を正規化する
    ことを特徴とする円形容器内面検査方法。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の検査方法において、 前記の各変化点座標は、前記水平又は垂直走査のうち、
    検出される変化点座標のデータ点数が多い方向の走査に
    よって得られたものであることを特徴とする円形容器内
    面検査方法。
  3. 【請求項3】請求項2に記載の検査方法において、 前記の各変化点座標は、さらに所定数以上の連続に並ぶ
    走査線上に存在するもののみを抽出したものであること
    を特徴とする円形容器内面検査方法。
  4. 【請求項4】請求項1ないし3のいずれかに記載の検査
    方法において、 前記の各交点座標は、さらに相互の距離が所定のしきい
    値内にあるもののみを抽出したものであることを特徴と
    する円形容器内面検査方法。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000348166A (ja) * 1999-04-02 2000-12-15 Japan Tobacco Inc 円筒形状物品の外観検査装置
JP2007024746A (ja) * 2005-07-20 2007-02-01 Kitakyushu Foundation For The Advancement Of Industry Science & Technology 管渠内部の欠陥検出・判別方法及び装置
JP2012202810A (ja) * 2011-03-25 2012-10-22 Toppan Printing Co Ltd 欠陥検査装置
JP2013068507A (ja) * 2011-09-22 2013-04-18 Toppan Printing Co Ltd 欠陥検査装置
JP2018197727A (ja) * 2017-05-25 2018-12-13 大日本印刷株式会社 検査装置、検査方法
WO2020255498A1 (ja) * 2019-06-21 2020-12-24 東洋ガラス株式会社 ガラスびんの検査方法及びガラスびんの製造方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000348166A (ja) * 1999-04-02 2000-12-15 Japan Tobacco Inc 円筒形状物品の外観検査装置
JP2007024746A (ja) * 2005-07-20 2007-02-01 Kitakyushu Foundation For The Advancement Of Industry Science & Technology 管渠内部の欠陥検出・判別方法及び装置
JP2012202810A (ja) * 2011-03-25 2012-10-22 Toppan Printing Co Ltd 欠陥検査装置
JP2013068507A (ja) * 2011-09-22 2013-04-18 Toppan Printing Co Ltd 欠陥検査装置
JP2018197727A (ja) * 2017-05-25 2018-12-13 大日本印刷株式会社 検査装置、検査方法
WO2020255498A1 (ja) * 2019-06-21 2020-12-24 東洋ガラス株式会社 ガラスびんの検査方法及びガラスびんの製造方法
JP2021001793A (ja) * 2019-06-21 2021-01-07 東洋ガラス株式会社 ガラスびんの検査方法及びガラスびんの製造方法

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