JP2021001793A - ガラスびんの検査方法及びガラスびんの製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
胴部の表面に彫刻を有するガラスびんの検査方法であって、
回転する前記ガラスびんを撮像して前記胴部の全周が撮像された画像を取得する画像取得工程と、
前記画像の中から前記彫刻に由来する模様を含む彫刻領域をマスクするマスク工程と、
前記画像についてマスクされた前記彫刻領域を除いて欠点の有無を判定する判定工程と、
を含むことを特徴とする。
前記欠点は、少なくとも表面欠点を含み、
前記画像取得工程は、前記胴部を透過した透過光をラインセンサで撮像することができる。
前記画像取得工程で取得した前記画像に対し、あらかじめ前記彫刻の外形に基づいて作成されたパターン登録画像を用いてパターンサーチして前記模様を検出する模様位置検出工程をさらに含み、
前記マスク工程は、前記模様位置検出工程によって検出された前記模様を含む前記彫刻領域をマスクすることができる。
前記模様位置検出工程は、前記画像における所定高さ範囲に対してパターンサーチすることができる。
粗型でゴブからパリソンを成形し、前記パリソンを仕上型で前記ガラスびんに成形し、前記ガラスびんに対して上記ガラスびんの検査方法の一態様を行って前記欠点がないと判定されたガラスびんを得ることを特徴とする。
図1及び図2を用いて、ガラスびん10の検査装置1について詳細に説明する。図1は本実施形態に係る検査方法に用いる検査装置1を模式的に示す側面図であり、図2は該検査装置1を模式的に示す平面図である。
Processing Unit)等のプロセッサ、HDD(Hard Disk Drive)、SSD(Solid State Drive)、ROM(Read−Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等の記憶装置、キーボード、マウス、タッチパッド等の入力装置、液晶ディスプレイ、有機EL(
Electro Luminescence)ディスプレイ等の表示装置、I/Oボード等のデジタル入出力ボード等で構成される。制御部50は、ガラスびん10を検査する処理を実行する。検査装置1がガラスびん10を所定速度で間欠搬送する処理は、制御部50とは別の制御部で実行されるが、制御部50で実行するように構成してもよい。
本実施形態に係るガラスびん10の製造方法について説明する。ガラスびん10は、まず粗型でゴブからパリソンを成形する。パリソンは、粗型内に配置した高温のゴブ内に圧縮空気を吹き込んで有底筒状に成形される。圧縮空気と合わせてプランジャを用いてもよい。次に、パリソンを仕上型に移し、仕上型内でパリソンに圧縮空気を吹き込んで製品であるガラスびん10を成形する。成形直後のガラスびん10は高温であるので、徐冷炉に移してゆっくりと冷やされる。徐冷炉から出たガラスびん10に対して下記検査方法を実行する。そして、下記検査方法を実行して欠点がないと判定されたガラスびん10を良品の製品として得る。
図1及び図2における検査装置1を用いた本実施形態に係るガラスびん10の検査方法について、図3〜図7を用いて説明する。図3は本実施形態に係る検査方法のフローチャートであり、図4は画像80の一例であり、図5は画像前処理S14、模様位置検出工程S16及びマスク工程S18を説明する図であり、図6は画像前処理S14及びマスク工程S18を説明する図であり、図7は判定工程S20を説明する図である。
サで撮像することにより、表面泡18のような陰影の出にくい欠点であっても画像から自動的に判定することができる。撮像された画像データは、撮像部40から制御部50に送信される。
ることができる。図1に示すようにガラスびん10は載置台30上にあり、撮像された画像80における模様15aの出現する高さはほぼ一定である。そこで、図4に示すように、画像80の下端からの第1高さH1を下限として、第2高さH2の水平方向の範囲をパターンサーチ領域85(一点鎖線で囲む矩形領域)に設定し、パターンサーチ領域85内でパターンサーチする。このように所定高さ範囲に対してパターンサーチすることで、検査装置1の処理の負荷を低減できる。
下端まで延びる。第2検査領域83は、第1検査領域82を除いた部分である。画像処理部53は、第2検査領域83に対して第1検査領域82と同様の画像処理を行い、判定部52が検出体に対して欠点であるか否かを判定する(S20)。第2検査領域83は模様15aを欠点と誤判定する可能性が低いので、判定部52は、第1検査領域82よりも高い精度で第2検査領域83の検出体を判定することができる。
Claims (5)
- 胴部の表面に彫刻を有するガラスびんの検査方法であって、
回転する前記ガラスびんを撮像して前記胴部の全周が撮像された画像を取得する画像取得工程と、
前記画像の中から前記彫刻に由来する模様を含む彫刻領域をマスクするマスク工程と、
前記画像についてマスクされた前記彫刻領域を除いて欠点の有無を判定する判定工程と、
を含むことを特徴とする、ガラスびんの検査方法。 - 請求項1において、
前記欠点は、少なくとも表面欠点を含み、
前記画像取得工程は、前記胴部を透過した透過光をラインセンサで撮像することを特徴とする、ガラスびんの検査方法。 - 請求項1または請求項2において、
前記画像取得工程で取得した前記画像に対し、あらかじめ前記彫刻の外形に基づいて作成されたパターン登録画像を用いてパターンサーチして前記模様を検出する模様位置検出工程をさらに含み、
前記マスク工程は、前記模様位置検出工程によって検出された前記模様を含む前記彫刻領域をマスクすることを特徴とする、ガラスびんの検査方法。 - 請求項3において、
前記模様位置検出工程は、前記画像における所定高さ範囲に対してパターンサーチすることを特徴とする、ガラスびんの検査方法。 - 粗型でゴブからパリソンを成形し、前記パリソンを仕上型で前記ガラスびんに成形し、前記ガラスびんに対して請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載のガラスびんの検査方法を行って前記欠点がないと判定されたガラスびんを得ることを特徴とする、ガラスびんの製造方法。
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---|---|---|---|---|
EP4325206A1 (en) | 2022-08-18 | 2024-02-21 | F. Hoffmann-La Roche AG | Method for compensating defective partitions of a microfluidic chip |
Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0792100A (ja) * | 1993-09-22 | 1995-04-07 | Mazda Motor Corp | 表面検査方法 |
JPH07160887A (ja) * | 1993-12-13 | 1995-06-23 | Hewtec:Kk | パターンマッチング検査方法とその装置 |
JPH09161056A (ja) * | 1995-12-08 | 1997-06-20 | Fuji Electric Co Ltd | 円形容器内面検査方法 |
JP2002140695A (ja) * | 2000-11-01 | 2002-05-17 | Omron Corp | 検査方法およびその装置 |
JP2002318202A (ja) * | 2001-04-23 | 2002-10-31 | Hitachi Eng Co Ltd | 透明容器内充填液体中の異物検査装置及びシステム |
JP2004219399A (ja) * | 2002-12-27 | 2004-08-05 | Kirin Techno-System Corp | 異物検査方法、及び異物検査装置並びに異物検査用の照明装置 |
JP2004251662A (ja) * | 2003-02-18 | 2004-09-09 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 物品検査方法と物品検査装置 |
JP2006138693A (ja) * | 2004-11-11 | 2006-06-01 | Dainippon Printing Co Ltd | 容器の口部の検査装置 |
JP2010060312A (ja) * | 2008-09-01 | 2010-03-18 | Kirin Techno-System Co Ltd | 異物検査装置及び異物検査システム |
JP2013134101A (ja) * | 2011-12-26 | 2013-07-08 | Kirin Techno-System Co Ltd | 異物検査装置 |
JP2017076341A (ja) * | 2015-10-16 | 2017-04-20 | 株式会社キーエンス | 画像検査装置 |
JP2018095501A (ja) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | 東洋ガラス株式会社 | 製びん機の金型制御システム |
WO2018158824A1 (ja) * | 2017-02-28 | 2018-09-07 | 東洋ガラス株式会社 | 容器の検査装置及び容器の検査方法 |
WO2018198248A1 (ja) * | 2017-04-26 | 2018-11-01 | 東洋ガラス株式会社 | 容器の検査装置及び容器の検査方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58216906A (ja) | 1983-05-12 | 1983-12-16 | Toyo Glass Kk | びん方向自動検査方法 |
KR900007548B1 (ko) * | 1985-10-04 | 1990-10-15 | 다이닛뽕스쿠링세이소오 가부시키가이샤 | 패턴 마스킹 방법 및 그 장치 |
DE68923653T2 (de) * | 1988-05-30 | 1996-01-18 | Kirin Techno Syst Yokohama | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung der Seitenwände von Flaschen. |
JP2005509855A (ja) * | 2001-11-16 | 2005-04-14 | ハイネケン・テクニカル・サービシズ・ベスローテン・フエンノートシャップ | とりわけ容器を選択するための方法および装置 |
JP2005114783A (ja) * | 2003-10-03 | 2005-04-28 | Sony Corp | マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査方法 |
JP2008107311A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-05-08 | Hitachi Chem Co Ltd | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 |
JP2009250653A (ja) * | 2008-04-02 | 2009-10-29 | Nikon Corp | 表面検査方法および装置 |
JP2010048745A (ja) * | 2008-08-25 | 2010-03-04 | Asahi Glass Co Ltd | 欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 |
JP5726045B2 (ja) * | 2011-11-07 | 2015-05-27 | 株式会社神戸製鋼所 | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 |
US9807316B2 (en) * | 2014-09-04 | 2017-10-31 | Htc Corporation | Method for image segmentation |
CN114813787A (zh) * | 2017-02-06 | 2022-07-29 | 东洋玻璃株式会社 | 玻璃瓶的检查装置 |
CN206974915U (zh) * | 2017-06-22 | 2018-02-06 | 山东明佳科技有限公司 | 一种玻璃容器视觉在线检测设备 |
CN207181324U (zh) * | 2017-06-27 | 2018-04-03 | 建湖国创机械制造有限公司 | 一种透明玻璃瓶全方位智能检测装置 |
TWM578796U (zh) * | 2019-01-31 | 2019-06-01 | 統一企業股份有限公司 | Container defect detecting device |
-
2019
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-
2020
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- 2020-03-13 CN CN202080003078.2A patent/CN112492887B/zh active Active
- 2020-03-19 TW TW109109179A patent/TWI753384B/zh active
- 2020-11-27 PH PH12020552062A patent/PH12020552062A1/en unknown
Patent Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0792100A (ja) * | 1993-09-22 | 1995-04-07 | Mazda Motor Corp | 表面検査方法 |
JPH07160887A (ja) * | 1993-12-13 | 1995-06-23 | Hewtec:Kk | パターンマッチング検査方法とその装置 |
JPH09161056A (ja) * | 1995-12-08 | 1997-06-20 | Fuji Electric Co Ltd | 円形容器内面検査方法 |
JP2002140695A (ja) * | 2000-11-01 | 2002-05-17 | Omron Corp | 検査方法およびその装置 |
JP2002318202A (ja) * | 2001-04-23 | 2002-10-31 | Hitachi Eng Co Ltd | 透明容器内充填液体中の異物検査装置及びシステム |
JP2004219399A (ja) * | 2002-12-27 | 2004-08-05 | Kirin Techno-System Corp | 異物検査方法、及び異物検査装置並びに異物検査用の照明装置 |
JP2004251662A (ja) * | 2003-02-18 | 2004-09-09 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 物品検査方法と物品検査装置 |
JP2006138693A (ja) * | 2004-11-11 | 2006-06-01 | Dainippon Printing Co Ltd | 容器の口部の検査装置 |
JP2010060312A (ja) * | 2008-09-01 | 2010-03-18 | Kirin Techno-System Co Ltd | 異物検査装置及び異物検査システム |
JP2013134101A (ja) * | 2011-12-26 | 2013-07-08 | Kirin Techno-System Co Ltd | 異物検査装置 |
JP2017076341A (ja) * | 2015-10-16 | 2017-04-20 | 株式会社キーエンス | 画像検査装置 |
JP2018095501A (ja) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | 東洋ガラス株式会社 | 製びん機の金型制御システム |
WO2018158824A1 (ja) * | 2017-02-28 | 2018-09-07 | 東洋ガラス株式会社 | 容器の検査装置及び容器の検査方法 |
WO2018198248A1 (ja) * | 2017-04-26 | 2018-11-01 | 東洋ガラス株式会社 | 容器の検査装置及び容器の検査方法 |
Non-Patent Citations (1)
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"Detection algorithm for glass bottle mouth defect by continuous wavelet transform based on machine v", PROCEEDINGS OF SPIE, vol. 9301, JPN7020001056, 24 November 2014 (2014-11-24), US, pages 93010W, ISSN: 0004970398 * |
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