JP2008107311A - 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 画像処理装置3は、ウェーブレット変換を行い、N数の周波数成分に分解された画像から周期的な表面凹凸を強調するスケールパラメータを選択し、マスク処理により除去する。また、画像処理装置3はウェーブレット逆変換により除去した結果得られた画像及び正反射画像に2値化処理を施して2値化データを得る。このため、複合処理装置4は、前記2値化データを複合処理し、明暗検出により、前記被検査物の表面の欠陥を検出できる。
【選択図】 図2
Description
本発明は、上記課題を解決するために、被検査物の表面上に発生する欠陥を安定して検出することができる欠陥検査方法及び欠陥検査装置の提供することを目的とする。
この時、ウェーブレット関数はマザーウェーブレットg(t)を時間軸方向にa倍し、時間軸方向にbだけ平行移動したものである。aはスケールパラメータと呼ばれウェーブレットの時間幅を表しているので1/aは周波数に相当する。スケールパラメータaが大きい場合、そのウェーブレット変換は高い周波数成分に対応する。つまり高い周波数に対しては周波数分解能は小さくなるが、時間分解能は大きくなる。また、低い周波数に対しては周波数分解能は大きくなるが、時間分解能は小さくなる。
Claims (8)
- 被検査物の表面の欠陥を検出する欠陥検査方法において、
前記被検査物の移動方向の反対(または移動)方向から平行光線で前記被検査物の表面に正反射光のため及び乱反射光のために二つの照明源からそれぞれ光を照射する照明ステップと、
前記照明ステップにより二つの照明源から前記被検査物の表面に照射されたそれぞれの光の前記被検査物の表面からの正反射光及び乱反射光を、前記被検査物の移動(または移動方向の反対)方向に直交する方向に受光操作方向を持つ二つの受光手段により受光する受光ステップと、
前記受光ステップにて二つの受光手段のうちの一方で検出された乱反射画像にウェーブレット変換処理を施して、位相差/周波数変換し、その変換出力から周期的な表面凹凸に対応する周波数帯域を検出し、検出された周波数帯域を除去してから、前記変換出力にウェーブレット逆変換処理を施し、得られたウェーブレット逆変換出力と、前記受光ステップにて前記二つの受光手段のうちの他方で検出された正反射画像とを用いた画像処理を行う画像処理ステップと、
前記画像処理ステップの画像処理結果を複合処理し、明暗検出により、前記被検査物の表面の欠陥を検出する複合処理ステップと
を備えることを特徴とする欠陥検査方法。 - 前記画像処理ステップは、前記ウェーブレット変換を行い、N数の周波数成分に分解された画像から周期的な表面凹凸を強調するスケールパラメータを選択し、除去し、周期的な表面凹凸を除去した画像を生成することを特徴とする請求項1記載の欠陥検査方法。
- 前記画像処理ステップは前記ウェーブレット逆変換により除去した結果得られた画像及び前記正反射画像に2値化処理を施して2値化データを得、前記複合処理ステップは前記2値化データを複合処理し、明暗検出により、前記被検査物の表面の欠陥を検出することを特徴とする請求項1記載の欠陥検査方法。
- 前記画像処理ステップは、前記受光ステップにて二つの受光手段のうちの一方で検出された乱反射画像にウェーブレット変換処理を施して、位相差/周波数変換するウェーブレット変換ステップと、
前記ウェーブレット変換工程によって得られた変換出力から周期的な表面凹凸に対応する周波数帯域を検出し、検出された周波数帯域を除去するためにマスク処理するマスク処理ステップと、
前記マスク処理ステップによってマスク処理された後の前記変換出力にウェーブレット逆変換処理を施すウェーブレット逆変換ステップと、
前記ウェーブレット逆変換ステップによって得られたウェーブレット逆変換出力を2値化するとともに、前記受光ステップにて前記二つの受光手段のうちの他方で検出された正反射画像を2値化する2値化ステップと
を備えることを特徴とする請求項1記載の欠陥検査方法。 - 被検査物の表面の欠陥を検出する欠陥検査装置において、
前記被検査物の移動方向の反対(または移動)方向から平行光線で前記被検査物の表面に正反射光のため及び乱反射光のためにそれぞれ光を照射する二つの照明源と、
前記二つの照明源から前記被検査物の表面に照射されたそれぞれの光の前記被検査物の表面からの正反射光及び乱反射光を、前記被検査物の移動(または移動方向の反対)方向に直交する方向に受光操作方向を持つ二つの受光手段と、
前記二つの受光手段のうちの一方で検出された乱反射画像にウェーブレット変換処理を施して、位相差/周波数変換し、その変換出力から周期的な表面凹凸に対応する周波数帯域を検出し、検出された周波数帯域を除去してから、前記変換出力にウェーブレット逆変換処理を施し、得られたウェーブレット逆変換出力と、前記二つの受光手段のうちの他方で検出された正反射画像とを用いた画像処理を行う画像処理手段と、
前記画像処理手段の画像処理結果を複合処理し、明暗検出により、前記被検査物の表面の欠陥を検出する複合処理手段と
を備えることを特徴とする欠陥検査装置。 - 前記画像処理手段は、前記ウェーブレット変換を行い、N数の周波数成分に分解された画像から周期的な表面凹凸を強調するスケールパラメータを選択し、除去し、周期的な表面凹凸を除去した画像を生成することを特徴とする請求項5記載の欠陥検査装置。
- 前記画像処理手段は前記ウェーブレット逆変換により除去した結果得られた画像及び前記正反射画像に2値化処理を施して2値化データを得、前記複合処理手段は前記2値化データを複合処理し、明暗検出により、前記被検査物の表面の欠陥を検出することを特徴とする請求項5記載の欠陥検査装置。
- 前記画像処理手段は、前記二つの受光手段のうちの一方で検出された乱反射画像にウェーブレット変換処理を施して、位相差/周波数変換するウェーブレット変換手段と、
前記ウェーブレット変換手段によって得られた変換出力から周期的な表面凹凸に対応する周波数帯域を検出し、検出された周波数帯域を除去するたえにマスク処理するマスク処理手段と、
前記マスク処理手段によってマスク処理された後の前記変換出力にウェーブレット逆変換処理を施すウェーブレット逆変換手段と、
前記ウェーブレット逆変換手段によって得られたウェーブレット逆変換出力を2値化するとともに、前記二つの受光手段のうちの他方で検出された正反射画像を2値化する2値化手段と
を備えることを特徴とする請求項5記載の欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007039895A JP2008107311A (ja) | 2006-09-29 | 2007-02-20 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006267302 | 2006-09-29 | ||
JP2007039895A JP2008107311A (ja) | 2006-09-29 | 2007-02-20 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 |
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JP2008107311A true JP2008107311A (ja) | 2008-05-08 |
Family
ID=39440763
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007039895A Pending JP2008107311A (ja) | 2006-09-29 | 2007-02-20 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 |
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JP (1) | JP2008107311A (ja) |
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