JP3044951B2 - 円形容器内面検査装置 - Google Patents
円形容器内面検査装置Info
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- JP3044951B2 JP3044951B2 JP4313827A JP31382792A JP3044951B2 JP 3044951 B2 JP3044951 B2 JP 3044951B2 JP 4313827 A JP4313827 A JP 4313827A JP 31382792 A JP31382792 A JP 31382792A JP 3044951 B2 JP3044951 B2 JP 3044951B2
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- circular container
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/909—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents in opaque containers or opaque container parts, e.g. cans, tins, caps, labels
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は例えばベルトコンベアな
どで搬送される紙コップなど側面部に継ぎ目のある円形
容器内面を検査し、異物・ゴミ・傷などを検出する画像
処理装置としての円形容器内面検査装置に関する。なお
以下各図において同一の符号は同一もしくは相当部分を
示す。
どで搬送される紙コップなど側面部に継ぎ目のある円形
容器内面を検査し、異物・ゴミ・傷などを検出する画像
処理装置としての円形容器内面検査装置に関する。なお
以下各図において同一の符号は同一もしくは相当部分を
示す。
【０００２】
【従来の技術】図３は一般的な紙コップの容器の照明方
法と画像の１例を示す。ここで同図（Ａ）は紙コップを
上面より照明する系の側断面図であり、２１は円形容器
としての紙コップ、２２はこの紙コップ２１の上方に設
置されたリング状の照明器を示す。同図（Ｂ）は紙コッ
プの上方より広角レンズでこの容器内面を撮像した画像
で、容器側面部に継ぎ目２３が観測される。この継ぎ目
２３は直線として近似できるが、上部継ぎ目２４は紙コ
ップ口部をカールさせるなどするため、継ぎ目２３と同
一の直線上になく、屈曲した形となる。さらに円形容器
では、任意の角度に回転するため、このような継ぎ目も
検査画像中の容器側面部の任意の位置に移動する。
法と画像の１例を示す。ここで同図（Ａ）は紙コップを
上面より照明する系の側断面図であり、２１は円形容器
としての紙コップ、２２はこの紙コップ２１の上方に設
置されたリング状の照明器を示す。同図（Ｂ）は紙コッ
プの上方より広角レンズでこの容器内面を撮像した画像
で、容器側面部に継ぎ目２３が観測される。この継ぎ目
２３は直線として近似できるが、上部継ぎ目２４は紙コ
ップ口部をカールさせるなどするため、継ぎ目２３と同
一の直線上になく、屈曲した形となる。さらに円形容器
では、任意の角度に回転するため、このような継ぎ目も
検査画像中の容器側面部の任意の位置に移動する。
【０００３】ここでこの屈曲した上部継ぎ目２４の周辺
に汚れ２５が存在する場合を考えると、従来は継ぎ目を
一つの直線と仮定し、フレームメモリより読み出された
多値濃淡画像信号を所定のしきい値で２値化して２値化
画像信号を生成し、この２値化画像信号上の各走査ごと
の２値画像信号の変化点座標を記憶することにより、継
ぎ目を構成すると考えられる画素の各点の座標値を決定
し、この座標値が直線状に並んでいるか否かによって継
ぎ目であるか否かを判定し、そのうえで継ぎ目周辺部の
汚れ画像を検出していた。例えば前記各変化点の座標よ
り回帰直線を求め、その回帰直線と前記各座標点との距
離を各々求め、その各々の距離を総和した後、その総和
値が所定のしきい値内に有るか否かによって、継ぎ目２
３周辺に汚れ画像が有るか否かを決定するものである。
に汚れ２５が存在する場合を考えると、従来は継ぎ目を
一つの直線と仮定し、フレームメモリより読み出された
多値濃淡画像信号を所定のしきい値で２値化して２値化
画像信号を生成し、この２値化画像信号上の各走査ごと
の２値画像信号の変化点座標を記憶することにより、継
ぎ目を構成すると考えられる画素の各点の座標値を決定
し、この座標値が直線状に並んでいるか否かによって継
ぎ目であるか否かを判定し、そのうえで継ぎ目周辺部の
汚れ画像を検出していた。例えば前記各変化点の座標よ
り回帰直線を求め、その回帰直線と前記各座標点との距
離を各々求め、その各々の距離を総和した後、その総和
値が所定のしきい値内に有るか否かによって、継ぎ目２
３周辺に汚れ画像が有るか否かを決定するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述のよ
うな汚れ画素の検出方法ではこの円形容器の上端のカー
ル部に生ずる上部継ぎ目２４が継ぎ目２３に対して屈曲
し同一の直線上にないため、上部継ぎ目２４を含めて判
定を行った場合は、上部継ぎ目２４の、継ぎ目２３の近
似直線からのズレが、前記総和を求める際に誤差として
累積するため、継ぎ目２３周辺の検査精度が低下すると
いう問題が生じる。従って継ぎ目２３と上部継ぎ目２４
とを同一の検査領域とすると、精度低下が免れ得ず、別
領域として検査を実施する必要がある。ただしその場
合、容器は任意の角度に回転するため、各検査画像に対
して継ぎ目２３の位置を算出し、これより上部継ぎ目２
４の位置を決定する必要がある。
うな汚れ画素の検出方法ではこの円形容器の上端のカー
ル部に生ずる上部継ぎ目２４が継ぎ目２３に対して屈曲
し同一の直線上にないため、上部継ぎ目２４を含めて判
定を行った場合は、上部継ぎ目２４の、継ぎ目２３の近
似直線からのズレが、前記総和を求める際に誤差として
累積するため、継ぎ目２３周辺の検査精度が低下すると
いう問題が生じる。従って継ぎ目２３と上部継ぎ目２４
とを同一の検査領域とすると、精度低下が免れ得ず、別
領域として検査を実施する必要がある。ただしその場
合、容器は任意の角度に回転するため、各検査画像に対
して継ぎ目２３の位置を算出し、これより上部継ぎ目２
４の位置を決定する必要がある。
【０００５】この上部継ぎ目２４を別領域とする手法と
しては破線２６と容器外周との間を外形検出方法（例え
ば、特願平３−２８６９３４号参照）によって、一つの
検査領域として独立させ、適当なしきい値にて２値化処
理を行い汚れ画素を検出する手法も考えられるが、この
手法では目的とする上部継ぎ目２４周辺部に対して、前
記検査領域が過大となって、演算時間が大きくなってし
まい、容器製造速度に対応して、１個１個の容器を検査
することが困難となる。
しては破線２６と容器外周との間を外形検出方法（例え
ば、特願平３−２８６９３４号参照）によって、一つの
検査領域として独立させ、適当なしきい値にて２値化処
理を行い汚れ画素を検出する手法も考えられるが、この
手法では目的とする上部継ぎ目２４周辺部に対して、前
記検査領域が過大となって、演算時間が大きくなってし
まい、容器製造速度に対応して、１個１個の容器を検査
することが困難となる。
【０００６】このように上部継ぎ目２４の周辺を小領域
に限定して検査する手法が必要不可欠であるが、従来は
有効な手法が提案されていなかった。そこで本発明は前
記上部継ぎ目２４の周辺の汚れ画素を高精度で且つ容器
製造速度に十分対応できる高速度で検査することができ
る円形容器内面検査装置を提供することを課題とする。
に限定して検査する手法が必要不可欠であるが、従来は
有効な手法が提案されていなかった。そこで本発明は前
記上部継ぎ目２４の周辺の汚れ画素を高精度で且つ容器
製造速度に十分対応できる高速度で検査することができ
る円形容器内面検査装置を提供することを課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項１の円形容器内面検査装置は、軸対称の所
定形状の円形容器で且つ容器側面部に直線状の継ぎ目
（２３など）の存在する容器（２１など）の上方から
（照明器２２などを介し）この円形容器の内面側を照明
したうえ、ＴＶカメラを介しこの軸方向からこの円形容
器の照明面を撮像し、（欠陥画素検出回路１１，総合判
定回路１２などを介し）この撮像された画像を解析して
前記円形容器の内面の汚れを検査する円形容器内面検査
装置において、前記撮像の画面走査によって得られる濃
淡画像信号のＡ／Ｄ変換信号としての多値濃淡画像信号
（ＰＯなど）を前記撮像画面に対応する画面上のデータ
として記憶するフレームメモリ（１など）と、前記容器
側面部の継ぎ目部が含まれるように（ウインドウメモリ
３などに記憶した）リング型ウインドウパターン（３０
など）を発生させ、そのフレームメモリの画像を制限す
る画像マスク手段（ウインドウゲート回路１０，１７な
ど）と、このフレームメモリの制限された画像の水平ま
たは垂直走査によって読み出された多値濃淡画像信号を
所定のしきい値で２値化して２値化画像信号を生成し、
この２値化画像信号上の前記の各走査ごとの２値画像信
号の変化点座標を記憶する手段（継ぎ目位置決定回路１
８など）と、この変化点座標に基づいて容器側面部の継
ぎ目部を近似した直線（Ｌなど）の位置を画面座標系内
に決定する手段（継ぎ目位置決定回路１８など）と、こ
の直線と前記リング型ウインドウパターンとの交点（Ｐ
などの）座標を算出する手段（継ぎ目位置決定回路１８
など）と、この交点座標に所定オフセット量（４４な
ど）を加算することにより、サブウインドウ発生基準
（点０’などの）座標を決定する手段（継ぎ目位置決定
回路１８など）と、前記サブウインドウ発生基準座標に
基づいて所定形状のサブウインドウ（４１など）を発生
させ、（画像アドレス発生回路２、ウインドウゲート回
路１０，１７などを介し）このサブウインドウ領域で制
限される前記フレームメモリの画像に前記汚れの検査を
行わせる着目領域抽出手段（継ぎ目位置決定回路１８な
ど）とを備え、前記円形容器の上部の継ぎ目周辺の汚れ
を検出し得るようにする。
めに、請求項１の円形容器内面検査装置は、軸対称の所
定形状の円形容器で且つ容器側面部に直線状の継ぎ目
（２３など）の存在する容器（２１など）の上方から
（照明器２２などを介し）この円形容器の内面側を照明
したうえ、ＴＶカメラを介しこの軸方向からこの円形容
器の照明面を撮像し、（欠陥画素検出回路１１，総合判
定回路１２などを介し）この撮像された画像を解析して
前記円形容器の内面の汚れを検査する円形容器内面検査
装置において、前記撮像の画面走査によって得られる濃
淡画像信号のＡ／Ｄ変換信号としての多値濃淡画像信号
（ＰＯなど）を前記撮像画面に対応する画面上のデータ
として記憶するフレームメモリ（１など）と、前記容器
側面部の継ぎ目部が含まれるように（ウインドウメモリ
３などに記憶した）リング型ウインドウパターン（３０
など）を発生させ、そのフレームメモリの画像を制限す
る画像マスク手段（ウインドウゲート回路１０，１７な
ど）と、このフレームメモリの制限された画像の水平ま
たは垂直走査によって読み出された多値濃淡画像信号を
所定のしきい値で２値化して２値化画像信号を生成し、
この２値化画像信号上の前記の各走査ごとの２値画像信
号の変化点座標を記憶する手段（継ぎ目位置決定回路１
８など）と、この変化点座標に基づいて容器側面部の継
ぎ目部を近似した直線（Ｌなど）の位置を画面座標系内
に決定する手段（継ぎ目位置決定回路１８など）と、こ
の直線と前記リング型ウインドウパターンとの交点（Ｐ
などの）座標を算出する手段（継ぎ目位置決定回路１８
など）と、この交点座標に所定オフセット量（４４な
ど）を加算することにより、サブウインドウ発生基準
（点０’などの）座標を決定する手段（継ぎ目位置決定
回路１８など）と、前記サブウインドウ発生基準座標に
基づいて所定形状のサブウインドウ（４１など）を発生
させ、（画像アドレス発生回路２、ウインドウゲート回
路１０，１７などを介し）このサブウインドウ領域で制
限される前記フレームメモリの画像に前記汚れの検査を
行わせる着目領域抽出手段（継ぎ目位置決定回路１８な
ど）とを備え、前記円形容器の上部の継ぎ目周辺の汚れ
を検出し得るようにする。
【０００８】また請求項２の円形容器内面検査装置は、
軸対称の所定形状の円形容器で且つ容器側面部に直線状
の継ぎ目（２３など）の存在する容器（２１など）の上
方からこの円形容器の内面側を照明したうえ、ＴＶカメ
ラを介し斜め上方方向からこの円形容器の照明面を撮像
し、（欠陥画素検出回路１１，総合判定回路１２などを
介し）この撮像された画像を解析して前記円形容器の内
面の汚れを検査する円形容器内面検査装置において、前
記撮像の画面走査によって得られる濃淡画像信号のＡ／
Ｄ変換信号としての多値濃淡画像信号（ＰＯなど）を前
記撮像画面に対応する画面上のデータとして記憶するフ
レームメモリ（１など）と、前記容器側面部の継ぎ目部
が含まれるように（ウインドウメモリ３などに記憶し
た）固定ウインドウパターン（３２など）を発生させ、
そのフレームメモリの画像を制限する画像マスク手段
（ウインドウゲート回路１０，１７など）と、このフレ
ームメモリの制限された画像の水平または垂直走査によ
って読み出された多値濃淡画像信号を所定のしきい値で
２値化して２値化画像信号を生成し、この２値化画像信
号上の前記の各走査ごとの２値画像信号の変化点座標を
記憶する手段（継ぎ目位置決定回路１８など）と、この
変化点座標に基づいて容器側面部の継ぎ目部を近似した
直線（Ｌなど）の位置を画面座標系内に決定する手段
（継ぎ目位置決定回路１８など）と、この直線と前記固
定ウインドウパターンとの交点座標（Ｐなど）を算出す
る手段（継ぎ目位置決定回路１８など）と、この交点座
標に所定オフセット量（４４など）を加算することによ
り、サブウインドウ発生基準（点０’などの）座標を決
定する手段（継ぎ目位置決定回路１８など）と、前記サ
ブウインドウ発生基準座標に基づいて所定形状のサブウ
インドウ（４１など）を発生させ、（画像アドレス発生
回路２，ウインドウゲート回路１０，１７などを介し）
このサブウインドウ領域で制限される前記フレームメモ
リの画像に前記汚れの検査を行わせる着目領域抽出手段
（継ぎ目位置決定回路１８など）とを備え、前記円形容
器の上部の継ぎ目周辺の汚れを検出し得るようにする。
軸対称の所定形状の円形容器で且つ容器側面部に直線状
の継ぎ目（２３など）の存在する容器（２１など）の上
方からこの円形容器の内面側を照明したうえ、ＴＶカメ
ラを介し斜め上方方向からこの円形容器の照明面を撮像
し、（欠陥画素検出回路１１，総合判定回路１２などを
介し）この撮像された画像を解析して前記円形容器の内
面の汚れを検査する円形容器内面検査装置において、前
記撮像の画面走査によって得られる濃淡画像信号のＡ／
Ｄ変換信号としての多値濃淡画像信号（ＰＯなど）を前
記撮像画面に対応する画面上のデータとして記憶するフ
レームメモリ（１など）と、前記容器側面部の継ぎ目部
が含まれるように（ウインドウメモリ３などに記憶し
た）固定ウインドウパターン（３２など）を発生させ、
そのフレームメモリの画像を制限する画像マスク手段
（ウインドウゲート回路１０，１７など）と、このフレ
ームメモリの制限された画像の水平または垂直走査によ
って読み出された多値濃淡画像信号を所定のしきい値で
２値化して２値化画像信号を生成し、この２値化画像信
号上の前記の各走査ごとの２値画像信号の変化点座標を
記憶する手段（継ぎ目位置決定回路１８など）と、この
変化点座標に基づいて容器側面部の継ぎ目部を近似した
直線（Ｌなど）の位置を画面座標系内に決定する手段
（継ぎ目位置決定回路１８など）と、この直線と前記固
定ウインドウパターンとの交点座標（Ｐなど）を算出す
る手段（継ぎ目位置決定回路１８など）と、この交点座
標に所定オフセット量（４４など）を加算することによ
り、サブウインドウ発生基準（点０’などの）座標を決
定する手段（継ぎ目位置決定回路１８など）と、前記サ
ブウインドウ発生基準座標に基づいて所定形状のサブウ
インドウ（４１など）を発生させ、（画像アドレス発生
回路２，ウインドウゲート回路１０，１７などを介し）
このサブウインドウ領域で制限される前記フレームメモ
リの画像に前記汚れの検査を行わせる着目領域抽出手段
（継ぎ目位置決定回路１８など）とを備え、前記円形容
器の上部の継ぎ目周辺の汚れを検出し得るようにする。
【０００９】また請求項３の円形容器内面検査装置は、
請求項１または請求項２に記載の円形容器内面検査装置
において、さらに前記サブウインドウ内の多値濃淡画像
信号をこの円形容器の背景部（４５など）を検出し得る
所定のしきい値で２値化して２値化画像信号を生成する
手段（画像エッジ検出回路５，固定２値化回路１４な
ど）を備え、前記着目領域抽出手段は（着目区間発生回
路９，着目領域メモリ１６などを介し）前記サブウイン
ドウ領域から前記背景部の領域を除いた領域（検査着目
領域４２など）の画像に前記汚れの検査を行わせるよう
にする。
請求項１または請求項２に記載の円形容器内面検査装置
において、さらに前記サブウインドウ内の多値濃淡画像
信号をこの円形容器の背景部（４５など）を検出し得る
所定のしきい値で２値化して２値化画像信号を生成する
手段（画像エッジ検出回路５，固定２値化回路１４な
ど）を備え、前記着目領域抽出手段は（着目区間発生回
路９，着目領域メモリ１６などを介し）前記サブウイン
ドウ領域から前記背景部の領域を除いた領域（検査着目
領域４２など）の画像に前記汚れの検査を行わせるよう
にする。
【００１０】
（１）請求項１に関わる発明について：図４は円形容器
としての紙コップ２１を真上より観測した画像である
が、この発明では先ず内周，外周の２つの同心円の破線
で示されるリングウインドウ３０をこの容器側面部に設
ける。このリングウインドウ３０は、中心点Ｏを中心と
すると共に、継ぎ目２３が図示のごとく含まれることを
特徴とする。しかる後、フレームメモリ内の多値濃淡画
像信号を前記リングウインドウ３０にてマスクしてリン
グウインドウ３０内の画像を対象領域とすると共に、所
定のしきい値で前記フレームメモリ内のこの対象領域の
多値濃淡画像の２値化画像信号を生成し、この２値化画
像信号上の前記の各走査ごとの２値画像信号の変化点座
標を記憶することにより、継ぎ目２３のみの２値化画像
の座標値を得る。
としての紙コップ２１を真上より観測した画像である
が、この発明では先ず内周，外周の２つの同心円の破線
で示されるリングウインドウ３０をこの容器側面部に設
ける。このリングウインドウ３０は、中心点Ｏを中心と
すると共に、継ぎ目２３が図示のごとく含まれることを
特徴とする。しかる後、フレームメモリ内の多値濃淡画
像信号を前記リングウインドウ３０にてマスクしてリン
グウインドウ３０内の画像を対象領域とすると共に、所
定のしきい値で前記フレームメモリ内のこの対象領域の
多値濃淡画像の２値化画像信号を生成し、この２値化画
像信号上の前記の各走査ごとの２値画像信号の変化点座
標を記憶することにより、継ぎ目２３のみの２値化画像
の座標値を得る。
【００１１】図５は図４における継ぎ目２３周辺部を拡
大図示したものである。継ぎ目２３はＬのごとく直線と
して近似されるが、この直線Ｌを求める手法としては、
例えば継ぎ目２３を構成する各画素の座標値より回帰直
線として求める手法や、あるいは継ぎ目２３を構成する
各画素とリングウインドウ中心点Ｏとの距離を各々求
め、最も点Ｏに近い点（Ｋとする）と、最も点Ｏに遠い
点（Ｅとする）を決定して、直線ＫＥとして近似するな
どの手法が考えられる。このような例示手法により、直
線Ｌの方程式が決定された後、この直線Ｌと前記リング
ウインドウ３０の外周との交点Ｐを求める。なお図５で
は参考として直線Ｌと前記リングウインドウ３０の内周
との交点をＱとして示す。
大図示したものである。継ぎ目２３はＬのごとく直線と
して近似されるが、この直線Ｌを求める手法としては、
例えば継ぎ目２３を構成する各画素の座標値より回帰直
線として求める手法や、あるいは継ぎ目２３を構成する
各画素とリングウインドウ中心点Ｏとの距離を各々求
め、最も点Ｏに近い点（Ｋとする）と、最も点Ｏに遠い
点（Ｅとする）を決定して、直線ＫＥとして近似するな
どの手法が考えられる。このような例示手法により、直
線Ｌの方程式が決定された後、この直線Ｌと前記リング
ウインドウ３０の外周との交点Ｐを求める。なお図５で
は参考として直線Ｌと前記リングウインドウ３０の内周
との交点をＱとして示す。
【００１２】図６は上部継ぎ目２４の近傍の検査対象領
域発生方法の説明図である。即ち前記の処理ののち図６
（Ａ）に示すように点Ｐの座標に対し、オフセット量４
４を、点Ｐより直線Ｌを容器外周方向へ延長する方向へ
加算し、同図（Ａ）の点Ｏ’を求め、そのＯ’を中心に
半径ｒのサブウインドウ４１を発生させる。なお、サブ
ウインドウ４１の形状は円形に限定するものではない
が、容器が円形であること、また容器が回転し、継ぎ目
の位置が検査画像内で移動することを考慮すると円形の
サブウインドウが適当である。以上によって、上部継ぎ
目２４周辺に前記サブウインドウ４１を発生させ、この
ウインドウ４１の領域を検査領域として決定する。
域発生方法の説明図である。即ち前記の処理ののち図６
（Ａ）に示すように点Ｐの座標に対し、オフセット量４
４を、点Ｐより直線Ｌを容器外周方向へ延長する方向へ
加算し、同図（Ａ）の点Ｏ’を求め、そのＯ’を中心に
半径ｒのサブウインドウ４１を発生させる。なお、サブ
ウインドウ４１の形状は円形に限定するものではない
が、容器が円形であること、また容器が回転し、継ぎ目
の位置が検査画像内で移動することを考慮すると円形の
サブウインドウが適当である。以上によって、上部継ぎ
目２４周辺に前記サブウインドウ４１を発生させ、この
ウインドウ４１の領域を検査領域として決定する。
【００１３】（２）請求項３に関わる発明について：図
６（Ｂ）は、サブウインドウ４１を拡大図示した画像で
あるが、サブウインドウ４１内の容器部分の画像は検査
着目領域４２として示される。この着目領域４２は円形
容器個々の判定により継ぎ目が回転して、その継ぎ目位
置がランダムとなるため、形状が変動する。一方、背景
部４５はツヤ消し黒とするため、背景部４５が検査着目
領域４２内に僅かでも含まれると、検査領域４２内の正
規の黒汚れ画素と混同され、検査上非常に不都合であ
る。容器内面は背景部４５に対し圧倒的に明るく設定す
ることが容易であるため、前記サブウインドウ４１内を
走査することにより、図６（Ｂ）の検査着目領域４２を
適当なしきい値ＴＨ１で固定２値化して切り出し、図６
（Ｃ）に示す走査線４３を検出することができる。黒汚
れ画素検出の走査の際、この走査に同期してこの走査線
４３の各々の最初の２値化信号開始点ＸS と２値化信号
終了点ＸE を求め、ＸS からＸE の区間をそれぞれの走
査線内にて検査着目領域とすることにより、前記サブウ
インドウ内の検査領域を、より制限することができる。
６（Ｂ）は、サブウインドウ４１を拡大図示した画像で
あるが、サブウインドウ４１内の容器部分の画像は検査
着目領域４２として示される。この着目領域４２は円形
容器個々の判定により継ぎ目が回転して、その継ぎ目位
置がランダムとなるため、形状が変動する。一方、背景
部４５はツヤ消し黒とするため、背景部４５が検査着目
領域４２内に僅かでも含まれると、検査領域４２内の正
規の黒汚れ画素と混同され、検査上非常に不都合であ
る。容器内面は背景部４５に対し圧倒的に明るく設定す
ることが容易であるため、前記サブウインドウ４１内を
走査することにより、図６（Ｂ）の検査着目領域４２を
適当なしきい値ＴＨ１で固定２値化して切り出し、図６
（Ｃ）に示す走査線４３を検出することができる。黒汚
れ画素検出の走査の際、この走査に同期してこの走査線
４３の各々の最初の２値化信号開始点ＸS と２値化信号
終了点ＸE を求め、ＸS からＸE の区間をそれぞれの走
査線内にて検査着目領域とすることにより、前記サブウ
インドウ内の検査領域を、より制限することができる。
【００１４】このほか、サブウインドウ４１内の検査着
目領域を決定する別手法として、一度サブウインドウ４
１内を適当なしきい値ＴＨ１にて走査し、背景部４５を
排除した固定２値画像をパターンとして着目領域メモリ
１６内に記憶しておく手法がある。この場合は再度、フ
レームメモリ１を走査して前記サブウインドウ４１内の
黒汚れ画素検出を行う際に、前記着目領域メモリ内の固
定２値画像と対応する１画素１画素をアンド演算するよ
うにする。
目領域を決定する別手法として、一度サブウインドウ４
１内を適当なしきい値ＴＨ１にて走査し、背景部４５を
排除した固定２値画像をパターンとして着目領域メモリ
１６内に記憶しておく手法がある。この場合は再度、フ
レームメモリ１を走査して前記サブウインドウ４１内の
黒汚れ画素検出を行う際に、前記着目領域メモリ内の固
定２値画像と対応する１画素１画素をアンド演算するよ
うにする。
【００１５】（３）請求項２に関わる発明について：図
７は、容器側面部を斜めより観測する場合を示す。側面
より観測する方が、真上より観測する場合より側面の分
解能が有利であるが、検査に多画面を要する。図８およ
び図９及び図１０（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）は、それぞれ
図４、図５、図６（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）に対応する。
図８においては検査画面（ＣＲＴなどの表示装置の画
面）５１内に楕円形のリングの１部に相当する固定ウイ
ンドウ３２を発生させている。このように請求項２に関
わる発明はで観測方向およびウインドウの形状が異なる
他は、検査手法は請求項１に関わる発明の場合と同様で
ある。
７は、容器側面部を斜めより観測する場合を示す。側面
より観測する方が、真上より観測する場合より側面の分
解能が有利であるが、検査に多画面を要する。図８およ
び図９及び図１０（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）は、それぞれ
図４、図５、図６（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）に対応する。
図８においては検査画面（ＣＲＴなどの表示装置の画
面）５１内に楕円形のリングの１部に相当する固定ウイ
ンドウ３２を発生させている。このように請求項２に関
わる発明はで観測方向およびウインドウの形状が異なる
他は、検査手法は請求項１に関わる発明の場合と同様で
ある。
【００１６】
【実施例】先ず図３ないし図６を参照しつつ図１，図２
を用いて請求項１，３に関わる発明の実施例を説明す
る。図１はこの発明の一実施例としてのハードウェアの
ブロック図である。同図において１は検査対象の円形容
器２１をその上方から撮像してなる濃淡画像Ｐ０を記憶
するための濃淡画像用フレームメモリであり、２はその
フレームメモリ１にアドレスを供給するための画像アド
レス発生回路であり、３は継ぎ目２３の位置を検出する
ためのリングウインドウ３０およびサブウインドウ４１
を図形パターンとして記憶するためのウインドウメモリ
であり、４はウインドウメモリに対してアドレスを発生
させるウインドウアドレス発生回路である。
を用いて請求項１，３に関わる発明の実施例を説明す
る。図１はこの発明の一実施例としてのハードウェアの
ブロック図である。同図において１は検査対象の円形容
器２１をその上方から撮像してなる濃淡画像Ｐ０を記憶
するための濃淡画像用フレームメモリであり、２はその
フレームメモリ１にアドレスを供給するための画像アド
レス発生回路であり、３は継ぎ目２３の位置を検出する
ためのリングウインドウ３０およびサブウインドウ４１
を図形パターンとして記憶するためのウインドウメモリ
であり、４はウインドウメモリに対してアドレスを発生
させるウインドウアドレス発生回路である。
【００１７】次に７はフレームメモリ１内の円形容器の
位置ズレを検出するための位置ズレ量検出回路であり、
６はフレームメモリ１からの濃淡画像信号を１水平走査
分遅延させるためのラインメモリであり、８はウインド
ウメモリ３からの画像マスク信号を１水平走査分遅延さ
せるためのラインメモリである。ラインメモリ６および
８の各出力信号６ａおよび８ａは共に１０のウインドウ
ゲート回路に送られ、濃淡画像信号が画像マスク信号と
アンド演算されることによって１画素１画素がゲートさ
れる。５はサブウインドウ４１内の検査着目領域を検出
するための画像エッジ検出回路であり、この検出回路５
はサブウインドウ４１内の背景部４５と容器部（検査着
目領域）４２をきりわけるための固定２値化回路を持
ち、その２値化信号の変化点座標を各々の走査ラインに
対応して記憶する。９は画像エッジ検出回路５によって
検出された画像エッジ座標の２値化開始点ＸS から２値
化終了点ＸE までを着目区間信号９ａとして発生する着
目区間発生回路であり、この着目区間信号９ａは前述し
たウインドウゲート回路１０に送られる。ウインドウゲ
ート回路１０よりの出力１０ａは１８の継ぎ目位置決定
回路または１１の欠陥画素検出回路へ送られ、この欠陥
画素検出回路１１で黒汚れ画素が例えば谷を不良部とし
て２値化検出する方法（例えば、特願平３−２６５１３
４号参照）を用いて検出される。この検出された黒汚れ
画素の数は１２の総合判定回路にて総和されて黒汚れ面
積値となり、その面積値が予め設定された面積しきい値
を上回る場合はその判定容器は不良と判定される。総合
判定回路１２にて判定された最終的な容器の良否が１３
の出力回路を通して装置外部へ出力される。
位置ズレを検出するための位置ズレ量検出回路であり、
６はフレームメモリ１からの濃淡画像信号を１水平走査
分遅延させるためのラインメモリであり、８はウインド
ウメモリ３からの画像マスク信号を１水平走査分遅延さ
せるためのラインメモリである。ラインメモリ６および
８の各出力信号６ａおよび８ａは共に１０のウインドウ
ゲート回路に送られ、濃淡画像信号が画像マスク信号と
アンド演算されることによって１画素１画素がゲートさ
れる。５はサブウインドウ４１内の検査着目領域を検出
するための画像エッジ検出回路であり、この検出回路５
はサブウインドウ４１内の背景部４５と容器部（検査着
目領域）４２をきりわけるための固定２値化回路を持
ち、その２値化信号の変化点座標を各々の走査ラインに
対応して記憶する。９は画像エッジ検出回路５によって
検出された画像エッジ座標の２値化開始点ＸS から２値
化終了点ＸE までを着目区間信号９ａとして発生する着
目区間発生回路であり、この着目区間信号９ａは前述し
たウインドウゲート回路１０に送られる。ウインドウゲ
ート回路１０よりの出力１０ａは１８の継ぎ目位置決定
回路または１１の欠陥画素検出回路へ送られ、この欠陥
画素検出回路１１で黒汚れ画素が例えば谷を不良部とし
て２値化検出する方法（例えば、特願平３−２６５１３
４号参照）を用いて検出される。この検出された黒汚れ
画素の数は１２の総合判定回路にて総和されて黒汚れ面
積値となり、その面積値が予め設定された面積しきい値
を上回る場合はその判定容器は不良と判定される。総合
判定回路１２にて判定された最終的な容器の良否が１３
の出力回路を通して装置外部へ出力される。
【００１８】図１の動作を順を追って説明する。先ず、
検査画像がフレームメモリ１に濃淡画像として記憶され
ると、容器２１の位置ズレ検出のため、フレームメモリ
１に対する第１の走査が行われる。即ちフレームメモリ
１に記憶されたこの濃淡画像に対して画像アドレス発生
回路２により、検査画像の全部または一部の矩形領域の
アドレスを発生させてこの検査画像を走査する。この時
フレームメモリ１から出力される多値濃淡画像信号は位
置ズレ量検出回路７へ入力され、検査画像内における容
器２１の位置ズレが検出される。このような円形容器の
位置を検出する方法には円形容器の外径輪郭が表われる
２値化画像の走査ライン上の最初の立上り点から最後の
立下り点までの区間の中点を求めて行う方法（例えば、
特願平３−２３２０９３号参照）などがある。
検査画像がフレームメモリ１に濃淡画像として記憶され
ると、容器２１の位置ズレ検出のため、フレームメモリ
１に対する第１の走査が行われる。即ちフレームメモリ
１に記憶されたこの濃淡画像に対して画像アドレス発生
回路２により、検査画像の全部または一部の矩形領域の
アドレスを発生させてこの検査画像を走査する。この時
フレームメモリ１から出力される多値濃淡画像信号は位
置ズレ量検出回路７へ入力され、検査画像内における容
器２１の位置ズレが検出される。このような円形容器の
位置を検出する方法には円形容器の外径輪郭が表われる
２値化画像の走査ライン上の最初の立上り点から最後の
立下り点までの区間の中点を求めて行う方法（例えば、
特願平３−２３２０９３号参照）などがある。
【００１９】次に、前記継ぎ目２３の位置検出動作の際
は、位置ズレ量検出回路７よりの容器の位置ズレ量が画
像アドレス発生回路２へ入力され、フレームメモリ１に
対する第２の走査が行われる。即ち２回目の検査画像の
走査の際には、容器２１の位置を正規化して多値濃淡画
像信号がラインメモリ６をバイパスしてウインドウゲー
ト回路１０へ入力されると同時に、ウインドウメモリ３
内に格納された前記リングウインドウ３０のパターンが
１画素１画素づつ前記検査画像の走査に同期して読み出
され、ラインメモリ８をバイパスしてウインドウゲート
回路１０へ入力される。ウインドウゲート回路１０は、
前記２つの入力信号をアンド演算し、継ぎ目部のみ含む
マスクされた多値濃淡画像信号を継ぎ目位置決定回路１
８へ入力する。
は、位置ズレ量検出回路７よりの容器の位置ズレ量が画
像アドレス発生回路２へ入力され、フレームメモリ１に
対する第２の走査が行われる。即ち２回目の検査画像の
走査の際には、容器２１の位置を正規化して多値濃淡画
像信号がラインメモリ６をバイパスしてウインドウゲー
ト回路１０へ入力されると同時に、ウインドウメモリ３
内に格納された前記リングウインドウ３０のパターンが
１画素１画素づつ前記検査画像の走査に同期して読み出
され、ラインメモリ８をバイパスしてウインドウゲート
回路１０へ入力される。ウインドウゲート回路１０は、
前記２つの入力信号をアンド演算し、継ぎ目部のみ含む
マスクされた多値濃淡画像信号を継ぎ目位置決定回路１
８へ入力する。
【００２０】この継ぎ目位置決定回路１８は入力された
多値濃淡画像信号を２値化し、その２値化された各画素
の座標を検出し、その各画素の回帰直線Ｌを決定した
後、この直線Ｌとリングウインドウ外周部との交点Ｐの
座標を算出し、さらに所定オフセット量をこの交点Ｐの
座標に加算することによって、サブウインドウ４１の発
生基準座標（この例ではサブウインドウ４１の中心Ｏ’
の座標）を算出し、この基準座標において発生されるサ
ブウインドウ４１に対応する検査画像側走査のための
（サブウインドウ４１に外接する）矩形領域Ｓを決定し
て、画像アドレス発生回路２へ出力する。
多値濃淡画像信号を２値化し、その２値化された各画素
の座標を検出し、その各画素の回帰直線Ｌを決定した
後、この直線Ｌとリングウインドウ外周部との交点Ｐの
座標を算出し、さらに所定オフセット量をこの交点Ｐの
座標に加算することによって、サブウインドウ４１の発
生基準座標（この例ではサブウインドウ４１の中心Ｏ’
の座標）を算出し、この基準座標において発生されるサ
ブウインドウ４１に対応する検査画像側走査のための
（サブウインドウ４１に外接する）矩形領域Ｓを決定し
て、画像アドレス発生回路２へ出力する。
【００２１】次に、フレームメモリ１に対する第３の走
査により上部継ぎ目２４の附近の走査が行われる。この
走査時には、フレームメモリ１を前記矩形領域Ｓで走査
して、この走査による多値濃淡画像信号を画像エッジ検
出回路５およびラインメモリ６へ入力し、この入力と同
期して、ウインドウメモリ３より前記サブウインドウ４
１のパターンを読み出し、ラインメモリ８へこのウイン
ドウパターンを示す信号を入力する。各ラインメモリ
６，８はＦＩＦＯで１水平走査ライン分だけ、入力され
た信号を遅延させるたとができ、この遅延時間中にサブ
ウインドウ４１内の検査画像領域を決定するための演算
が画像エッジ検出回路５および着目区間発生回路９で行
われる。即ち画像エッジ検出回路５は、入力された多値
濃淡画像信号を固定２値化し、その２値化信号の１走査
ライン上での信号開始点座標Ｘs と信号終了点座標ＸE
を検出する。この検出処理を実行中に、検査画像および
サブウインドウの信号は、夫々ラインメモリ６および８
に蓄積されているが、この座標点Ｘs ，ＸE の検出処理
終了後の次の走査にて、着目区間発生回路９は前記２値
化信号開始点Ｘs の座標と前記２値化信号終了点ＸE の
座標の間で画像ゲート信号を発生させて、ウインドウゲ
ート回路１０へ入力すると同時に、ラインメモリ６およ
びラインメモリ８からの出力がウインドウゲート回路１
０へ入力され、このウインドウゲート回路１０はこれら
３者の信号をアンド演算して得た、上部継ぎ目２４部の
みを含むマスクされた多値濃淡画像信号を欠陥画素検出
回路１１へ出力し、ここでサブウインドウ領域の欠陥画
素検出が行われる。このように図１の回路ではサブウイ
ンドウ４１内の背景部４５を排除した検査着目領域４２
内の多値濃淡画像信号をフレームメモリ１に対する第３
（３回目）の各１走査ごとに着目区間発生回路９を介し
着目区間（つまり座標点Ｘs ，ＸE 間）を見出しつつ欠
陥画素検出回路１１へ出力する。
査により上部継ぎ目２４の附近の走査が行われる。この
走査時には、フレームメモリ１を前記矩形領域Ｓで走査
して、この走査による多値濃淡画像信号を画像エッジ検
出回路５およびラインメモリ６へ入力し、この入力と同
期して、ウインドウメモリ３より前記サブウインドウ４
１のパターンを読み出し、ラインメモリ８へこのウイン
ドウパターンを示す信号を入力する。各ラインメモリ
６，８はＦＩＦＯで１水平走査ライン分だけ、入力され
た信号を遅延させるたとができ、この遅延時間中にサブ
ウインドウ４１内の検査画像領域を決定するための演算
が画像エッジ検出回路５および着目区間発生回路９で行
われる。即ち画像エッジ検出回路５は、入力された多値
濃淡画像信号を固定２値化し、その２値化信号の１走査
ライン上での信号開始点座標Ｘs と信号終了点座標ＸE
を検出する。この検出処理を実行中に、検査画像および
サブウインドウの信号は、夫々ラインメモリ６および８
に蓄積されているが、この座標点Ｘs ，ＸE の検出処理
終了後の次の走査にて、着目区間発生回路９は前記２値
化信号開始点Ｘs の座標と前記２値化信号終了点ＸE の
座標の間で画像ゲート信号を発生させて、ウインドウゲ
ート回路１０へ入力すると同時に、ラインメモリ６およ
びラインメモリ８からの出力がウインドウゲート回路１
０へ入力され、このウインドウゲート回路１０はこれら
３者の信号をアンド演算して得た、上部継ぎ目２４部の
みを含むマスクされた多値濃淡画像信号を欠陥画素検出
回路１１へ出力し、ここでサブウインドウ領域の欠陥画
素検出が行われる。このように図１の回路ではサブウイ
ンドウ４１内の背景部４５を排除した検査着目領域４２
内の多値濃淡画像信号をフレームメモリ１に対する第３
（３回目）の各１走査ごとに着目区間発生回路９を介し
着目区間（つまり座標点Ｘs ，ＸE 間）を見出しつつ欠
陥画素検出回路１１へ出力する。
【００２２】これに対し次に述べる図２の回路ではフレ
ームメモリ１に対する第３の走査で矩形領域Ｓから容器
の背景部に相当する領域を排除した着目領域のパターン
を一旦、着目領域メモリ１６に記憶し、さらにフレーム
メモリ１に対する第４の走査によって着目領域４２内の
多値濃淡画像信号を欠陥画素検出回路１１へ出力する。
ームメモリ１に対する第３の走査で矩形領域Ｓから容器
の背景部に相当する領域を排除した着目領域のパターン
を一旦、着目領域メモリ１６に記憶し、さらにフレーム
メモリ１に対する第４の走査によって着目領域４２内の
多値濃淡画像信号を欠陥画素検出回路１１へ出力する。
【００２３】即ち図２はサブウインドウ４１内の背景部
４５を排除した検査着目領域４２を決定する際に、別に
着目領域メモリ１６を用いる場合のハードウェア構成の
実施例を示す。この図２では前述の図１の動作中の第３
の走査に代わる走査において、前記矩形領域Ｓにてフレ
ームメモリ１を読み出した多値濃淡画像信号を１４の固
定２値化回路にて２値化し、着目領域メモリ１６へ容器
の背景部４５を排除した２値化画像を記憶する。この
際、画像アドレス発生回路１５は、着目領域メモリ１６
へのアドレス供給を行う。
４５を排除した検査着目領域４２を決定する際に、別に
着目領域メモリ１６を用いる場合のハードウェア構成の
実施例を示す。この図２では前述の図１の動作中の第３
の走査に代わる走査において、前記矩形領域Ｓにてフレ
ームメモリ１を読み出した多値濃淡画像信号を１４の固
定２値化回路にて２値化し、着目領域メモリ１６へ容器
の背景部４５を排除した２値化画像を記憶する。この
際、画像アドレス発生回路１５は、着目領域メモリ１６
へのアドレス供給を行う。
【００２４】次に第４の走査として、フレームメモリ１
を前記矩形領域Ｓにて再度走査し、着目領域メモリ１６
およびフレームメモリ１からの多値濃淡画像信号および
ウインドウメモリ３からのサブウインドウ４１の領域信
号の３者を同時に読み出して、ウインドウゲート回路１
７にて３者のアンド演算を行い、サブウインドウ４１内
の着目領域のみの多値濃淡画像信号を欠陥画素検出回路
１１へ出力する。
を前記矩形領域Ｓにて再度走査し、着目領域メモリ１６
およびフレームメモリ１からの多値濃淡画像信号および
ウインドウメモリ３からのサブウインドウ４１の領域信
号の３者を同時に読み出して、ウインドウゲート回路１
７にて３者のアンド演算を行い、サブウインドウ４１内
の着目領域のみの多値濃淡画像信号を欠陥画素検出回路
１１へ出力する。
【００２５】次に請求項２に関わる発明の実施例につい
て説明する。この発明においては図７に示すように円形
容器２１の内側面上部を容器の斜め上の所定方向から観
測する。但しこの場合図８に示すように検査画面５１内
に継ぎ目２３が入るようにするために観測は容器中心に
対し水平面内で等しい角度間隔を持つ複数（例えば３
つ）の方向から同時に行われる。図８の検査画面５１は
このうよな複数の観測装置の１つの画面に相当する。
て説明する。この発明においては図７に示すように円形
容器２１の内側面上部を容器の斜め上の所定方向から観
測する。但しこの場合図８に示すように検査画面５１内
に継ぎ目２３が入るようにするために観測は容器中心に
対し水平面内で等しい角度間隔を持つ複数（例えば３
つ）の方向から同時に行われる。図８の検査画面５１は
このうよな複数の観測装置の１つの画面に相当する。
【００２６】この場合、容器画像は楕円形のリングの１
部となる。従って継ぎ目２３の検出には図４のリングウ
インドウ４０に代わる楕円形リングのウインドウ（固定
ウインド）３２が必要となるが円形容器２１の形状や観
測方向が定まっているので、このようなウインドウ３２
を作ることは可能である。また固定ウインドウ３２を発
生させるための容易位置ズレの検出方法としては前述の
実施例と同様に例えばこの容器の外径輪郭が表われる２
値化画像の水平走査ライン上の最初の立上り点から最後
の立下り点までの区間の中点を求める方法を適用するこ
とができる。このようにして継ぎ目２３の位置が検出さ
れた後の処理は前記実施例と同じである。
部となる。従って継ぎ目２３の検出には図４のリングウ
インドウ４０に代わる楕円形リングのウインドウ（固定
ウインド）３２が必要となるが円形容器２１の形状や観
測方向が定まっているので、このようなウインドウ３２
を作ることは可能である。また固定ウインドウ３２を発
生させるための容易位置ズレの検出方法としては前述の
実施例と同様に例えばこの容器の外径輪郭が表われる２
値化画像の水平走査ライン上の最初の立上り点から最後
の立下り点までの区間の中点を求める方法を適用するこ
とができる。このようにして継ぎ目２３の位置が検出さ
れた後の処理は前記実施例と同じである。
【００２７】従ってこの請求項２に関わる発明において
もウインドウメモリ３中のリングウインドウ３０を固定
ウインドウ３２に置換えるのみで図１，図２の回路をそ
のまま用いることができる。
もウインドウメモリ３中のリングウインドウ３０を固定
ウインドウ３２に置換えるのみで図１，図２の回路をそ
のまま用いることができる。
【００２８】
【発明の効果】本発明によれば、直線状の継ぎ目２３を
持つ円形容器の継ぎ目位置の検出後、この継ぎ目直線Ｌ
の外方延長上の所定の点Ｏ’を中心とする所定形状のサ
ブウインドウ４１を発生させて容器上部継ぎ目２４附近
の黒汚れを検査するようにしたので、高速に精度よく継
ぎ目周辺の汚れ検査を行うことができる。
持つ円形容器の継ぎ目位置の検出後、この継ぎ目直線Ｌ
の外方延長上の所定の点Ｏ’を中心とする所定形状のサ
ブウインドウ４１を発生させて容器上部継ぎ目２４附近
の黒汚れを検査するようにしたので、高速に精度よく継
ぎ目周辺の汚れ検査を行うことができる。
【図１】本発明の一実施例としてのハードウェアのブロ
ック図
ック図
【図２】図１の変形実施例としてのハードウェアのブロ
ック図
ック図
【図３】円形容器の照明方法と画像の例を示す図
【図４】請求項１に関わる発明の実施例としての継ぎ目
位置検出のためのリングウインドウの説明図
位置検出のためのリングウインドウの説明図
【図５】同じく継ぎ目直線とリングウインドウとの交点
の説明図
の説明図
【図６】請求項１，３に関わる発明の実施例としてのサ
ブウインドウ発生方法と着目領域の説明図
ブウインドウ発生方法と着目領域の説明図
【図７】請求項２に関わる発明の実施例としての観測方
向の説明図
向の説明図
【図８】同じく継ぎ目位置検出のための固定ウインドウ
の説明図
の説明図
【図９】同じく継ぎ目直線と固定ウインドウとの交点の
説明図
説明図
【図１０】請求項２，３に関わる発明の実施例としての
サブウインドウ発生方法と着目領域の説明図
サブウインドウ発生方法と着目領域の説明図
ＰＯ 多値濃淡画像信号 １ フレームメモリ ２ 画像アドレス発生回路 ３ ウインドウメモリ ４ ウインドウアドレス発生回路 ５ 画像エッジ検出回路 ６ ラインメモリ ７ 位置ズレ量検出回路 ８ ラインメモリ ９ 着目区間発生回路 １０ ウインドウゲート回路 １１ 欠陥画素検出回路 １２ 総合判定回路 １３ 出力回路 １４ 固定２値化回路 １５ 画像アドレス発生回路 １６ 着目領域メモリ １７ ウインドウゲート回路 １８ 継ぎ目位置決定回路 ２１ 円形容器（紙コップ） ２２ 照明器 ２３ 継ぎ目 ２４ 上部継ぎ目 ２５ 汚れ ３０ リングウインドウ Ｌ 継ぎ目直線 ３２ 固定ウインドウ ４１ サブウインドウ Ｓ 矩形領域 ４２ 検査着目領域 ４４ オフセット量 ４５ 背景部 ＸS 最初の立上り点 ＸE 最後の立下り点 ５１ 検査画面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/88 G01N 21/90 G01B 11/30 G06T 5/00 G06T 7/00
Claims (3)
- 【請求項１】軸対称の所定形状の円形容器で且つ容器側
面部に直線状の継ぎ目の存在する容器の上方からこの円
形容器の内面側を照明したうえ、ＴＶカメラを介しこの
軸方向からこの円形容器の照明面を撮像し、この撮像さ
れた画像を解析して前記円形容器の内面の汚れを検査す
る円形容器内面検査装置において、 前記撮像の画面走査によって得られる濃淡画像信号のＡ
／Ｄ変換信号としての多値濃淡画像信号を前記撮像画面
に対応する画面上のデータとして記憶するフレームメモ
リと、 前記容器側面部の継ぎ目部が含まれるようにリング型ウ
インドウパターンを発生させ、そのフレームメモリの画
像を制限する画像マスク手段と、 このフレームメモリの制限された画像の水平または垂直
走査によって読み出された多値濃淡画像信号を所定のし
きい値で２値化して２値化画像信号を生成し、この２値
化画像信号上の前記の各走査ごとの２値画像信号の変化
点座標を記憶する手段と、 この変化点座標に基づいて容器側面部の継ぎ目部を近似
した直線の位置を画面座標系内に決定する手段と、 この直線と前記リング型ウインドウパターンとの交点座
標を算出する手段と、 この交点座標に所定オフセット量を加算することによ
り、サブウインドウ発生基準座標を決定する手段と、 前記サブウインドウ発生基準座標に基づいて所定形状の
サブウインドウを発生させ、このサブウインドウ領域で
制限される前記フレームメモリの画像に前記汚れの検査
を行わせる着目領域抽出手段とを備え、 前記円形容器の上部の継ぎ目周辺の汚れを検出し得るよ
うにしたことを特徴とする円形容器内面検査装置。 - 【請求項２】軸対称の所定形状の円形容器で且つ容器側
面部に直線状の継ぎ目の存在する容器の上方からこの円
形容器の内面側を照明したうえ、ＴＶカメラを介し斜め
上方方向からこの円形容器の照明面を撮像し、この撮像
された画像を解析して前記円形容器の内面の汚れを検査
する円形容器内面検査装置において、 前記撮像の画面走査によって得られる濃淡画像信号のＡ
／Ｄ変換信号としての多値濃淡画像信号を前記撮像画面
に対応する画面上のデータとして記憶するフレームメモ
リと、 前記容器側面部の継ぎ目部が含まれるように固定ウイン
ドウパターンを発生させ、そのフレームメモリの画像を
制限する画像マスク手段と、 このフレームメモリの制限された画像の水平または垂直
走査によって読み出された多値濃淡画像信号を所定のし
きい値で２値化して２値化画像信号を生成し、この２値
化画像信号上の前記の各走査ごとの２値画像信号の変化
点座標を記憶する手段と、 この変化点座標に基づいて容器側面部の継ぎ目部を近似
した直線の位置を画面座標系内に決定する手段と、 この直線と前記固定ウインドウパターンとの交点座標を
算出する手段と、 この交点座標に所定オフセット量を加算することによ
り、サブウインドウ発生基準座標を決定する手段と、 前記サブウインドウ発生基準座標に基づいて所定形状の
サブウインドウを発生させ、このサブウインドウ領域で
制限される前記フレームメモリの画像に前記汚れの検査
を行わせる着目領域抽出手段とを備え、 前記円形容器の上部の継ぎ目周辺の汚れを検出し得るよ
うにしたことを特徴とする円形容器内面検査装置。 - 【請求項３】請求項１または請求項２に記載の円形容器
内面検査装置において、 さらに前記サブウインドウ内の多値濃淡画像信号をこの
円形容器の背景部を検出し得る所定のしきい値で２値化
して２値化画像信号を生成する手段を備え、 前記着目領域抽出手段は前記サブウインドウ領域から前
記背景部の領域を除いた領域の画像に前記汚れの検査を
行わせるようにした特徴とする円形容器内面検査装置。
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| JP4313827A JP3044951B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 円形容器内面検査装置 |
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