JPH0324447A - 瓶口検査方法 - Google Patents
瓶口検査方法Info
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- JPH0324447A JPH0324447A JP15672789A JP15672789A JPH0324447A JP H0324447 A JPH0324447 A JP H0324447A JP 15672789 A JP15672789 A JP 15672789A JP 15672789 A JP15672789 A JP 15672789A JP H0324447 A JPH0324447 A JP H0324447A
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- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 22
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
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- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、ガラス瓶等の瓶口天面部分の外観形状から
、欠陥の有無を検査する方法に関する。
、欠陥の有無を検査する方法に関する。
従来、ガラス瓶等の瓶口天面部分の外観形状を検査する
方式として、例えば特開昭５６−１１８６０７号公報に
示すものが知られている。
方式として、例えば特開昭５６−１１８６０７号公報に
示すものが知られている。
第８図はかかる方式の概要を示すもので、瓶口の口径に
沿ってリング状の光源を設け、瓶口の反射光像をエリア
センサｌＯで撮像する。この場合、良品瓶の画像は瓶口
内，外縁部の丸みを帯びた部分（Ｒ部）の正反射により
、第９図（イ）のような二重リング像となるが、瓶口の
天面に欠陥があると二重リング像が第９図（口）のよう
にくずれる。このような二重リング像のくずれを検出す
るために、例えば第ｌＯ図のように二重リング像の中心
Ｃを画像から求め、この中心から放射状に分割された近
隣の２領域Ｒｌ，Ｒ２内の濃度積算値の比較演算を行い
、その結果を判定パラメータとして判定を行うようにし
ている。なお、第８図の１１は上部反射鏡、１２は下部
反射鏡、１３は中央部反射鏡１４はランプをそれぞれ示
している。
沿ってリング状の光源を設け、瓶口の反射光像をエリア
センサｌＯで撮像する。この場合、良品瓶の画像は瓶口
内，外縁部の丸みを帯びた部分（Ｒ部）の正反射により
、第９図（イ）のような二重リング像となるが、瓶口の
天面に欠陥があると二重リング像が第９図（口）のよう
にくずれる。このような二重リング像のくずれを検出す
るために、例えば第ｌＯ図のように二重リング像の中心
Ｃを画像から求め、この中心から放射状に分割された近
隣の２領域Ｒｌ，Ｒ２内の濃度積算値の比較演算を行い
、その結果を判定パラメータとして判定を行うようにし
ている。なお、第８図の１１は上部反射鏡、１２は下部
反射鏡、１３は中央部反射鏡１４はランプをそれぞれ示
している。
しかしながら、従来方式においては、１領域内に含まれ
る両素数が比較的多いことから、微少欠陥があっても欠
陥による濃度変化値に対して領域間の濃度ハラツキの許
容値の方が大きくなり、欠陥検出ができなくなる場合が
ある、と云う問題がある。
る両素数が比較的多いことから、微少欠陥があっても欠
陥による濃度変化値に対して領域間の濃度ハラツキの許
容値の方が大きくなり、欠陥検出ができなくなる場合が
ある、と云う問題がある。
上述の如き課題を解決するため、二重リングではなく、
瓶口天面が一重リングになるように瓶口天面を均等に照
明し、得られた瓶口天面の濃淡画像から瓶口中心を検出
し、瓶口中心から放射方向に引いた領域ではなく、直線
上の画素の濃度値を瓶口天面の存在する部分を含んだ部
分、すなわち瓶口中心から一定距離範囲内にある画素に
ついて積算した値を瓶口全周について求めることにより
、瓶口全周分の濃度積算値のデータを得て、この濃度積
算値データの瓶口周方向での変化が着目点付近の変化に
対して明らかに大きいかどうかを判断しながら濃度積算
値の瓶口周方向での包絡値を計算し、その値と実際の濃
度積算値とを比較することにより、瓶口天面における欠
陥の有無を検査する。
瓶口天面が一重リングになるように瓶口天面を均等に照
明し、得られた瓶口天面の濃淡画像から瓶口中心を検出
し、瓶口中心から放射方向に引いた領域ではなく、直線
上の画素の濃度値を瓶口天面の存在する部分を含んだ部
分、すなわち瓶口中心から一定距離範囲内にある画素に
ついて積算した値を瓶口全周について求めることにより
、瓶口全周分の濃度積算値のデータを得て、この濃度積
算値データの瓶口周方向での変化が着目点付近の変化に
対して明らかに大きいかどうかを判断しながら濃度積算
値の瓶口周方向での包絡値を計算し、その値と実際の濃
度積算値とを比較することにより、瓶口天面における欠
陥の有無を検査する。
瓶口天面に欠陥が存在すると、瓶口中心から放射方向に
引いた線分上の検査範囲内における濃度の積算値は、正
常部分とは異なった値となる。正常部分によって得られ
る濃度禎算包絡値と実際の濃度積算値とを瓶口全周につ
いて比較し、差のある部分の濃度差の総和を基準値と比
較することにより、微少な欠陥をも検出できるようにす
る。
引いた線分上の検査範囲内における濃度の積算値は、正
常部分とは異なった値となる。正常部分によって得られ
る濃度禎算包絡値と実際の濃度積算値とを瓶口全周につ
いて比較し、差のある部分の濃度差の総和を基準値と比
較することにより、微少な欠陥をも検出できるようにす
る。
第１図はこの発明の実施例を示すフローチャートであり
、第２図はこの発明による照明方法を説明するためのブ
ロック図である。
、第２図はこの発明による照明方法を説明するためのブ
ロック図である。
すなわち、この実施例ではエリアセンサ２により瓶Ｉの
口部の天面を瓶口の上方から撮像し、瓶口天面の濃淡画
像を得る（第１図の参照）。この濃淡画像に対し、例え
ばｘ， ｙ軸のそれぞれの軸に対して画像の濃度投影
をとり、その濃度ピーク値の座標を利用するなどの方法
によって瓶口中心の座標を求める（第１図■参照〉。
口部の天面を瓶口の上方から撮像し、瓶口天面の濃淡画
像を得る（第１図の参照）。この濃淡画像に対し、例え
ばｘ， ｙ軸のそれぞれの軸に対して画像の濃度投影
をとり、その濃度ピーク値の座標を利用するなどの方法
によって瓶口中心の座標を求める（第１図■参照〉。
第３図にその方法の概要を示す。同図（イ）は瓶口天面
画像、同図（口）はそのｙ軸投影像、同図（ハ）はその
Ｘ軸投影像をそれぞれ示している。
画像、同図（口）はそのｙ軸投影像、同図（ハ）はその
Ｘ軸投影像をそれぞれ示している。
次に、瓶口天面外周の径に或るマージンを加えた円周上
の各点と、瓶口中心を結ぶ直線上の各画素の座標を、瓶
口中心を基準として所定のメモリに瓶口全周分記憶して
おく。各点の例を第４図（イ）に、そのメモリの記憶内
容（座標テーブル）を同図（ロ）に示す。また、この座
標テーブルは第１図では符号Ｔで示している。瓶口の中
心が求められると、瓶口天面部分の径に応じて設定した
検査範囲（第４図（イ）の符号Ｒ参照）内について、第
４図（ロ）の如き座標テーブルを参照して瓶口中心から
放射方向の各線分上の画素の濃度値を積算することによ
り、各方向毎の濃度積算値データ列Ｄ。を、瓶ロー周分
得ることができる（第１図■参照）。このとき、瓶ロー
周をどのような間隔（方向）で切って濃度積算値を求め
るかは、検査画像の分解能や検査すべき瓶口のサイズ等
によって決定される。
の各点と、瓶口中心を結ぶ直線上の各画素の座標を、瓶
口中心を基準として所定のメモリに瓶口全周分記憶して
おく。各点の例を第４図（イ）に、そのメモリの記憶内
容（座標テーブル）を同図（ロ）に示す。また、この座
標テーブルは第１図では符号Ｔで示している。瓶口の中
心が求められると、瓶口天面部分の径に応じて設定した
検査範囲（第４図（イ）の符号Ｒ参照）内について、第
４図（ロ）の如き座標テーブルを参照して瓶口中心から
放射方向の各線分上の画素の濃度値を積算することによ
り、各方向毎の濃度積算値データ列Ｄ。を、瓶ロー周分
得ることができる（第１図■参照）。このとき、瓶ロー
周をどのような間隔（方向）で切って濃度積算値を求め
るかは、検査画像の分解能や検査すべき瓶口のサイズ等
によって決定される。
いま、例えば第５図のように瓶口天面外周に欠け５が存
在し、瓶口天面とエリアセンサ、または瓶口天面と照明
装置に傾きがあるような場合、第５図の線分ＯＡをデー
タ列の先頭とし、これを矢印方向に順番に濃度積算値を
計算した結果をグラフにすると、第６図（イ）のように
なる。この場合は、正常部分においても濃度積算値が或
る広がりを持った値となっている。ついで、こうして得
られた濃度積算値データ列Ｄ０を用いて、第６図（ロ）
に示すように、濃度積算包絡値データ列ＤＩ１を計算に
より求める（第１図■参照）。濃度積算包絡値の求め方
としては、例えば瓶口周方向について一定間隔だけ離れ
た２つの濃度積算値の差を瓶口全周について計算し、近
傍の差の値が基準範囲内にあるか否かをみて、範囲外で
ある場合には前後の差の値から補間した値を凋度積算包
絡値とする、といった方法が考えられる。
在し、瓶口天面とエリアセンサ、または瓶口天面と照明
装置に傾きがあるような場合、第５図の線分ＯＡをデー
タ列の先頭とし、これを矢印方向に順番に濃度積算値を
計算した結果をグラフにすると、第６図（イ）のように
なる。この場合は、正常部分においても濃度積算値が或
る広がりを持った値となっている。ついで、こうして得
られた濃度積算値データ列Ｄ０を用いて、第６図（ロ）
に示すように、濃度積算包絡値データ列ＤＩ１を計算に
より求める（第１図■参照）。濃度積算包絡値の求め方
としては、例えば瓶口周方向について一定間隔だけ離れ
た２つの濃度積算値の差を瓶口全周について計算し、近
傍の差の値が基準範囲内にあるか否かをみて、範囲外で
ある場合には前後の差の値から補間した値を凋度積算包
絡値とする、といった方法が考えられる。
しかる後、得られた濃度積寡値データ列Ｄ０と濃度積算
包絡値データ列ＤＩ＋とを瓶口周方向の各値について比
較し、濃度差のある部分についてはその濃度差の総和を
計算する（第１図■参照）。
包絡値データ列ＤＩ＋とを瓶口周方向の各値について比
較し、濃度差のある部分についてはその濃度差の総和を
計算する（第１図■参照）。
欠けなどの欠陥が存在する場合は、Ｄ０とＤ．を瓶口周
方向について比較すると、欠陥部分では第６図（ハ）の
如く濃度差が生じるから、この値を欠陥部分毎に加えた
総和を計算し、この総和Ｓにおいて基準値３０以上のも
のが現れた場合は欠陥であると判断する（第１図■参照
）。
方向について比較すると、欠陥部分では第６図（ハ）の
如く濃度差が生じるから、この値を欠陥部分毎に加えた
総和を計算し、この総和Ｓにおいて基準値３０以上のも
のが現れた場合は欠陥であると判断する（第１図■参照
）。
以上では、瓶口天面の濃淡画像の瓶口中心から放射方向
に引いた線分上の画素の濃度積算値を瓶口全周の各方向
毎に求め、その積算値とこれを用いて求めた濃度積算包
絡値との差から欠陥の有無を検出するようにしたが、次
のようにすることも可能である。
に引いた線分上の画素の濃度積算値を瓶口全周の各方向
毎に求め、その積算値とこれを用いて求めた濃度積算包
絡値との差から欠陥の有無を検出するようにしたが、次
のようにすることも可能である。
第７図はこの発明の他の実施例を説明するための説明図
である。
である。
これは、瓶口を第２図の如き方法で照明し、エリアセン
サ２にて撮像して得られた画像を２値化したもので、６
Ａが瓶口平坦部の外側輪郭線、６Ｂが同じく内側輪郭線
をそれぞれ示している。
サ２にて撮像して得られた画像を２値化したもので、６
Ａが瓶口平坦部の外側輪郭線、６Ｂが同じく内側輪郭線
をそれぞれ示している。
ここで、同図に符号５で示す如き欠陥が外側輪郭線６Ａ
のＡ点とＢ点間にあるものとすると、この２点間の輪郭
線と、この輪郭線に対ずる包絡線とを比べれば、両者の
間にはその長さまたは方向ベクトルの点で差異が生じる
ことになる。したがって、平坦部の輪郭線データと、こ
れから抽出される包絡線データとを比較することにより
、欠陥の有無を検出することが可能となる。なお、包縮
線データの抽出は、先の濃度積算包絡植の場合と同様に
行われる。また、ここでは外側輪郭線について説明した
が、内側輪郭線の場合も同様に行われることは勿論であ
る。
のＡ点とＢ点間にあるものとすると、この２点間の輪郭
線と、この輪郭線に対ずる包絡線とを比べれば、両者の
間にはその長さまたは方向ベクトルの点で差異が生じる
ことになる。したがって、平坦部の輪郭線データと、こ
れから抽出される包絡線データとを比較することにより
、欠陥の有無を検出することが可能となる。なお、包縮
線データの抽出は、先の濃度積算包絡植の場合と同様に
行われる。また、ここでは外側輪郭線について説明した
が、内側輪郭線の場合も同様に行われることは勿論であ
る。
この発明によれば、瓶口中心から放射方向の直線上の画
素の濃度値を積算し、その値の変化を瓶口周方向につい
て考え、包絡値を利用することにより欠陥検出行うので
、近傍領域毎の濃度積算値の比較による欠陥検出に比べ
、ノイズとして埋もれてしまう欠陥サイズが小さくなり
、また、瓶口天面と撮像装置、あるいは瓶口天面と照明
装置の傾きによる瓶口天面画像での放射方向濃度積算値
の変化によらず、検査を正確に行うことが可能となる。
素の濃度値を積算し、その値の変化を瓶口周方向につい
て考え、包絡値を利用することにより欠陥検出行うので
、近傍領域毎の濃度積算値の比較による欠陥検出に比べ
、ノイズとして埋もれてしまう欠陥サイズが小さくなり
、また、瓶口天面と撮像装置、あるいは瓶口天面と照明
装置の傾きによる瓶口天面画像での放射方向濃度積算値
の変化によらず、検査を正確に行うことが可能となる。
また、瓶口天面の平坦部の反射光像を２値化し、その輪
郭追跡データとこのデータから求まる包絡線データとの
長さにもとづいて栓出するようにすれば、瓶口のひびや
欠けのうちで面積変化は小さくても形状変化の大きな欠
陥に対する検出猜度を著しく向上させることができる。
郭追跡データとこのデータから求まる包絡線データとの
長さにもとづいて栓出するようにすれば、瓶口のひびや
欠けのうちで面積変化は小さくても形状変化の大きな欠
陥に対する検出猜度を著しく向上させることができる。
第１図はこの発明の実施例を示すフローチャート、第２
図はこの発明による照明方法を説明するためのブロック
図、第３図は瓶口中心の検出方法を説明するための説明
図、第４図は検査範囲とこ？を記憶するメモリの内容と
を説明するための説明図、第５図は瓶口天面に欠けがあ
る場合の例を説明するための説明図、第６図はこの発明
による欠陥検出方法を具体的に説明するための説明図、
第７図はこの発明の他の実施例を説明するための説明図
、第８図は従来の検査方式の主として照明系を示す概要
図、第９図は良品瓶画像と不良瓶画像とを対比して説明
するための説明図、第１０図は検査方法の従来例を説明
するための説明図である。 符号説明 １・・・瓶、２■ １０・・・エリアセンサ、３・・・
照明袈置、４・・・ハーフミラー、５・・・欠け、６Ａ
，６Ｂ・・・瓶口輪郭、７・・・包絡線、１１，１２．
１３・・・反射鏡、１４ランプ。
図はこの発明による照明方法を説明するためのブロック
図、第３図は瓶口中心の検出方法を説明するための説明
図、第４図は検査範囲とこ？を記憶するメモリの内容と
を説明するための説明図、第５図は瓶口天面に欠けがあ
る場合の例を説明するための説明図、第６図はこの発明
による欠陥検出方法を具体的に説明するための説明図、
第７図はこの発明の他の実施例を説明するための説明図
、第８図は従来の検査方式の主として照明系を示す概要
図、第９図は良品瓶画像と不良瓶画像とを対比して説明
するための説明図、第１０図は検査方法の従来例を説明
するための説明図である。 符号説明 １・・・瓶、２■ １０・・・エリアセンサ、３・・・
照明袈置、４・・・ハーフミラー、５・・・欠け、６Ａ
，６Ｂ・・・瓶口輪郭、７・・・包絡線、１１，１２．
１３・・・反射鏡、１４ランプ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）瓶口天面を均等に照明し、瓶口天面からの反射光を
その上方から撮像して濃淡画像を得た後、この濃淡画像
から瓶口中心を求め、さらにこの瓶口中心から一定距離
範囲内にある画素積算値を所定方向毎に瓶口全周にわた
って求めることにより濃度積算値データ列を抽出すると
ともに、この濃度積算値データ列から濃度積算値の包絡
値を計算して濃度積算包絡値データ列を抽出し、この濃
度積算包絡値データ列と前記濃度積算値データ列とを比
較して瓶口天面における欠陥の有無を検査することを特
徴とする瓶口検査方法。 ２）瓶口天面を均等に照明し、瓶口天面からの反射光を
その上方から撮像して得た濃淡画像を２値化し、この２
値化画像から瓶口天面の輪郭追跡データを求めるととも
に、この輪郭追跡データから包絡線データを抽出し、両
データを比較して瓶口天面における欠陥の有無を検査す
ることを特徴とする瓶口検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15672789A JPH0324447A (ja) | 1989-06-21 | 1989-06-21 | 瓶口検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15672789A JPH0324447A (ja) | 1989-06-21 | 1989-06-21 | 瓶口検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0324447A true JPH0324447A (ja) | 1991-02-01 |
Family
ID=15634011
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15672789A Pending JPH0324447A (ja) | 1989-06-21 | 1989-06-21 | 瓶口検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0324447A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11132902A (ja) * | 1997-10-29 | 1999-05-21 | Asahi Optical Co Ltd | 光学部材検査装置 |
| US6903814B1 (en) | 2003-03-05 | 2005-06-07 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface inspection |
| CN102519973A (zh) * | 2011-12-10 | 2012-06-27 | 山东明佳包装检测科技有限公司 | 一种检测pet瓶或瓶胚瓶口缺陷的方法 |
| JP2012237632A (ja) * | 2011-05-11 | 2012-12-06 | Kurabo Ind Ltd | 透明体ボトルの外観検査装置及び外観検査方法 |
| JP2019066198A (ja) * | 2017-09-28 | 2019-04-25 | 東洋ガラス株式会社 | 容器口部検査装置及び容器口部検査方法 |
-
1989
- 1989-06-21 JP JP15672789A patent/JPH0324447A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11132902A (ja) * | 1997-10-29 | 1999-05-21 | Asahi Optical Co Ltd | 光学部材検査装置 |
| US6903814B1 (en) | 2003-03-05 | 2005-06-07 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface inspection |
| JP2012237632A (ja) * | 2011-05-11 | 2012-12-06 | Kurabo Ind Ltd | 透明体ボトルの外観検査装置及び外観検査方法 |
| CN102519973A (zh) * | 2011-12-10 | 2012-06-27 | 山东明佳包装检测科技有限公司 | 一种检测pet瓶或瓶胚瓶口缺陷的方法 |
| JP2019066198A (ja) * | 2017-09-28 | 2019-04-25 | 東洋ガラス株式会社 | 容器口部検査装置及び容器口部検査方法 |
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