JP4498086B2 - 画像処理装置および画像処理方法 - Google Patents

Description

本発明は、撮像素子の画素欠陥の補正に関するものである。

ＣＣＤ等の撮像素子においては、２次元に配列された画素のうち、その製造過程もしくは製造後において、半導体の局部的な感度不良が生じることが知られている。これらの現象が起きると、入射した光量に応じた電荷出力が得られなくなるため、撮像画像上に被写体とは無関係に白点や黒点が見て取れ、いわゆる欠陥画素となって現れる。

こうした欠陥画素の撮像出力に起因する画質劣化を信号処理によって補正するために、従来から、撮像素子に含まれる欠陥画素についての欠陥データを、製造した半導体工場で検出して不揮発性メモリに予め記憶させるか、あるいは、撮像素子を用いた画像処理装置側において、撮像素子のシャッターを遮光状態としたとき、所定の出力レベルを超える画素（白点欠陥画素）、並びに、画像処理装置への入射光量を所定のレベルとしたとき、所定の出力レベルに達しない画素（黒点欠陥画素）の位置データを不揮発性メモリに記憶しておいて、通常撮像時に、この不揮発性メモリに記憶されている位置データに基づいて欠陥画素を特定し、その欠陥画素の撮像出力に代えて、例えば１画素前の撮像出力を置換することにより、欠陥画素補正を行っている。

ところで、近年の撮像素子に求められる画素数が、以前の数十万画素程度から数百万画素に増大したこともあり、撮像素子の製造技術の進歩にも関わらず、撮像素子に現れる欠陥画素の発生確率は増大する傾向にある。特に低コストが求められる民生機器に使用される撮像素子では、その製造歩留まりを上げるために、欠陥画素数を従来に比して桁違いに多く許容せざるを得なくなってきている。

したがって、従来のように、欠陥画素の位置データを高価な不揮発性メモリに記憶することが困難になってきている。

こうした状況に対して、例えば文献１では、通常の撮像時において、ある１画素とそれに隣接する同色画素との各画素信号間のレベル差を検出し、所定の閾値判定をすることで欠陥画素を検出し補正を行っている。これにより、欠陥画素の位置情報をあらかじめ記憶しておくための不揮発性メモリを省くことができる。同様に、例えば文献２では、撮像素子の所定領域に含まれる欠陥画素については不揮発性メモリに記憶し、所定領域外に含まれる欠陥画素については、不揮発性メモリに記憶した欠陥画素の補正を行った後に、通常撮像時に欠陥画素の検出と補正を同時に行うことにより、限られた不揮発性メモリであっても、多数の欠陥画素に対応している。
特開平０６−０３０４２５号公報 特開２００２−０２７３２３号公報

しかしながら、上記従来の技術においては、通常撮像時に、ある一画素と隣接する同色画素との各画素信号間のレベル差を検出し、所定の閾値判定をすることで欠陥画素補正を行うのであるから、当然ながら被写体エッジ等の高周波成分をも誤検出して補正してしまう。このことは、正常画素の出力画像の画質を阻害してしまうことになり、この問題について十分検討されているとはいえなかった。また、ノイズ等の影響により、閾値付近で判定結果が細かく切替わってしまい、動画撮影時には、出力画像がちらついてしまうという問題もあった。よって、本発明の画像処理装置は、被写体エッジ等の高周波成分を誤検出するなど、欠陥画素の誤検出により画質劣化を起こすことなく適正な欠陥画素補正を可能とすることを目的とする。

上述した課題を解決するために、本発明の画像処理装置は、注目画素から出力された信号のレベルと、前記注目画素の周辺画素から出力された信号のレベルの平均値の、レベルの差を検出する第１の検出手段と、前記周辺画素から出力された信号のレベルの平均値を検出する第２の検出手段と、前記第１の検出手段にて検出された前記レベルの差、および、前記第２の検出手段にて検出された前記平均値を用いて求めた混合比で、前記注目画素から出力された信号のレベルと、前記注目画素の周辺画素から出力された信号のレベルを混合し、前記注目画素から出力された信号のレベルとする補正手段とを有することを特徴とする。

同様に、上述した課題を解決するために、本発明の画像処理方法は、注目画素から出力された信号のレベルと、前記注目画素の周辺画素から出力された信号のレベルの平均値の、レベルの差を検出する第１の検出工程と、前記周辺画素から出力された信号のレベルの平均値を検出する第２の検出工程と、前記第１の検出工程にて検出された前記レベルの差、および、前記第２の検出工程にて検出された前記平均値を用いて求めた混合比で、前記注目画素から出力された信号のレベルと、前記注目画素の周辺画素から出力された信号のレベルを混合し、前記注目画素から出力された信号のレベルとする補正工程とを有することを特徴とする。

本発明によれば、欠陥画素の誤検出や誤補正を防止し、ノイズの影響の少ない画質の良い画像を得ることができる。

以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。

図９は、本発明の実施例１に係る画像処理装置３００の構成を示すブロック図である。この構成は、例えば、ＣＣＤあるいはＣＭＯＳセンサなどの撮像素子を用いた単板式の画像処理装置（デジタルカラーカメラ等）であり、撮像素子を連続的または単発的に駆動して、動画像または静止画像を表わす画像信号を得る画像処理装置に適用すると好適である。撮影レンズ等からなる光学ブロック２０２を通った光線は、撮像素子１００の受光面に導かれる。これにより、撮像素子１００の受光面を構成するフォトダイオードには、被写体像に対応した画像信号が発生する。撮像素子１００は、ＴＧ（タイミングジェネレータ）２０９によって駆動される。撮像素子１００から出力された画像信号は、ＣＤＳ（相関二重サンプリング・ホールド）回路２０３に入力される。そして、画像信号は、ＴＧ２０９によって定められたタイミング信号に従ってＣＤＳ回路２０３において、リセット雑音の除去等の所定の信号処理を施され、サンプルホールドされる。２１２は、撮像素子１００のアナログ信号出力を増幅してカメラの感度を設定するゲインアンプであり、２０４は、撮像素子１００のアナログ信号出力をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器２０４である。Ａ／Ｄ変換器２０４は、ＴＧ２０９から供給されるクロック信号に応じてＡ／Ｄ変換を行う。Ａ／Ｄ変換器２０４においてデジタル信号に変換された画素信号は、補正手段である補正回路２０５において、補正が施され出力される。補正回路２０５の動作に関しては後述する。

補正回路２０５の出力はカメラ信号処理回路２０６に入力され、色変換、ホワイトバランス、ガンマ補正等の処理を施されてＹＣｒＣｂの輝度と色差信号に変換される。カメラ信号処理回路２０６の出力は、記録回路２０７において圧縮等の処理が施された後に所定のフォーマットへ変換され、着脱可能な記録媒体２０８に記録される。また、カメラ信号処理回路２０６の出力は、表示回路２１０において、縮小・拡大処理やスーパーインポーズ等の処理が施された後に、例えばＮＴＳＣ方式のアナログ信号等に変換され、ディスプレイ２１１で表示される。

次に、補正回路２０５の動作を図１に基づいて説明する。Ａ／Ｄ変換器により、Ａ／Ｄ変換された画像信号を欠陥画素検出手段１０１に入力することにより、式（１）のように、注目画素とその周辺画素の平均値との差分値Ｄを求め、出力する。

注目画素−注目画素の周辺画素の平均値＝差分値Ｄ・・・・式（１）
また、画像信号を周辺レベル情報検出手段１０２に入力することにより、ある注目画素の周辺画素の平均値を検出し、出力する。注目画素に対応する周辺同色画素の一例を図２に示す。注目画素をＧとした場合、その周囲のＧの値の平均値を求め、周辺レベル情報として出力する。注目画素が、Ｒ，Ｂの場合も同様にして、周辺同色画素の平均値を求め、周辺レベル情報として出力する。この周辺レベル情報検出手段１０２により、注目画素の周囲の画素についての明るさ情報を検出することができる。

ゲイン設定手段１０３は、周辺レベル情報検出手段１０２の出力信号を入力とし、周辺レベル情報に応じたゲインｇを出力する。図３（Ａ）は、白点欠陥画素（白傷）を補正する場合の、周辺レベル情報とゲインの出力の対応の一例を示したものであり、横軸が周辺レベル情報、縦軸がゲインｇである。白点欠陥画素補正を行う場合、予め定められた閾値Ｔｈ１があり、閾値Ｔｈ１よりも周辺レベル情報が小さい時はゲインｇを大きくし、閾値Ｔｈ１よりも周辺レベル情報が大きい時にはゲインｇを小さくする。また、図３（Ｂ）は、黒点欠陥画素（黒傷）を補正する場合の、周辺レベル情報とゲインの出力の対応の一例を示したものであり、横軸が周辺レベル情報、縦軸がゲインｇである。黒点欠陥画素補正を行う場合、予め定められた閾値Ｔｈ１があり、閾値Ｔｈ１よりも周辺レベル情報が小さい時はゲインｇを小さくし、閾値Ｔｈ１よりも周辺レベル情報が大きい時にはゲインｇを大きくする。この対応は、工場出荷時にＲＯＭテーブルを作成して値を記憶させておく方法や、周辺レベル情報を基に、演算式でゲインｇを算出して求める方法などがある。

また、白点欠陥画素補正と黒点欠陥画素補正の対応表の切替えは、欠陥画素検出手段１０１の出力信号である差分値Ｄの特性によって切替えを行う。切替えは、画像処理装置によって適宜設定可能とする。この切替え設定の一例としては、差分値Ｄが、ある閾値より小さい場合は黒傷欠陥画素補正とし、大きい場合は白傷欠陥画素補正とする方法がある。例えば、閾値を０と設定した場合には、差分値Ｄがプラスのときは白傷欠陥画素補正へ、差分値Ｄがマイナスのときは黒傷欠陥画素補正へと切替わる。

そして、欠陥画素検出手段１０１の出力信号である差分値Ｄと、ゲイン設定手段１０３の出力信号であるゲインｇとかけ合わせた結果を差分値Ｄ’とする。

補正係数出力手段１０４の出力の一例を図４に示す。横軸が入力信号である差分値Ｄ’で、縦軸が出力信号である混合比ｋである。混合比ｋとは、欠陥画素補正手段１０５は入力された注目画素を欠陥画素として欠陥画素補正した値と、Ａ／Ｄ変換器によりＡ／Ｄ変換された画像信号であり欠陥画素補正を施していない画像信号とを、どのような割合で混合するかを表す係数である。欠陥画素補正後の信号に混合比ｋを、欠陥画素補正前の信号に（１−ｋ）をそれぞれ乗算し、乗算結果を加算することによって、注目画素の出力画像信号を求めることができる。この演算処理は、補正値決定手段１０６により行う。

まず、補正係数出力手段１０４は、図４に示すように二つの閾値Ｔｈ２，Ｔｈ３を使用し、差分値Ｄ’がＴｈ２より小さい場合は０を出力し、Ｔｈ２＜差分値Ｄ’＜Ｔｈ３の場合は１を出力し、差分値Ｄ’がＴｈ３より小さい値を出力するようにする。この対応は、工場出荷時にＲＯＭテーブルを使用して値を記憶させておく方法や、演算式を用いて演算によって求める方法などがある。このように差分値Ｄ’の値によりそれぞれの注目画素に対応する補正係数ｋ（混合比ｋ）を決定する。

図４からわかるように、Ｔｈ３より差分値Ｄ’が大きい場合には、混合比ｋを少なくする、または、欠陥画素補正しない値を出力するために混合比ｋを０とする。このように、欠陥画素補正しないで出力した値の割合が大きくなるように設定することにより、被写体エッジ等の高周波成分の誤検出補正を防止することが可能となる。

欠陥画素補正手段１０５は入力された注目画素を欠陥画素として、欠陥画素補正した値を出力する。この欠陥画素補正は、例えば、注目画素の周辺の同色隣接画素からの信号の平均値を求め、補間することにより行うことができる。補正値決定手段１０６は、Ａ／Ｄ変換器により、Ａ／Ｄ変換された画像信号（補正前信号とよぶ）と、欠陥画素補正手段１０５の出力信号（補正後信号とよぶ）を入力信号とし、補正係数出力手段１０４からの出力信号である混合比ｋを制御信号として、式（２）によって線形合成し、出力信号とする。

補正後信号×混合比ｋ＋補正前信号×（１−ｋ）＝出力信号・・・・式（２）
このようにして各々の注目画素における出力信号を生成することにより、白点欠陥画素の場合、周辺レベル情報が大きい箇所、つまり明るい箇所では、欠陥画素補正を行っていない値が出力され、周辺レベル情報が小さい箇所、つまり暗い箇所では、欠陥画素補正を行った値が出力されるため、明るい箇所では欠陥画素補正による悪影響（ランダムノイズや過補正による影響）を小さくし、暗い箇所では欠陥画素補正により画質劣化を低減させることができ、良好な出力信号を得ることができる。また、黒点欠陥画素の場合、周辺レベル情報が大きい箇所、つまり明るい箇所では、欠陥画素補正を行った値が出力され、周辺レベル情報が小さい箇所、つまり暗い箇所では、欠陥画素補正を行っていない値が出力されるため、明るい箇所では欠陥画素補正により画質劣化を低減し、暗い箇所では欠陥画素補正による悪影響（ランダムノイズや過補正による影響）を小さくすることができる。

上述の構成により、被写体の状況または白傷か黒傷かに応じて、欠陥画素補正された値が出力される割合を調整することができ、それぞれの撮影条件に適応した画質のよい画像を得ることができる。

本発明の実施例２は、全体の構成は実施例１と同様であるので省略し、動作の異なる周辺レベル情報検出手段１０２について説明する。実施例１では、例えば注目画素がＧの場合には周辺のＧの信号を平均して周辺レベル情報を検出するというようにＲ，Ｇ，Ｂの画素でそれぞれが同色の信号を用いて周辺レベル情報を検出していたが、実施例２では注目画素の色がＲ，Ｇ，Ｂのどの色でも左右隣接４画素の平均値を求めて、周辺レベル情報とする。

注目画素に対応する周辺同色画素の一例を図５に示す。Ａ／Ｄ変換器により、Ａ／Ｄ変換された画像信号を周辺レベル情報検出手段１０２に入力することにより、ある注目画素の左右隣接４画素の平均値を求め出力する。注目画素をＧとした場合、その左右隣接４画素の平均値を求め周辺レベル情報として出力する。Ｒ，Ｂの場合も同様にして平均値を求め、周辺レベル情報として出力する。この周辺レベル情報検出手段１０２により、注目画素の周囲の画素についての明るさ情報を検出することができる。

ゲイン設定手段１０３は、周辺レベル情報検出手段１０２の出力信号を入力とし、周辺レベル情報に応じたゲインｇを出力する。そして、欠陥画素検出手段１０１の出力信号である差分値Ｄと、ゲイン設定手段１０３の出力信号であるゲインｇとかけ合わせた結果を差分値Ｄ’とする。

その後、差分値Ｄ’を基に、混合比ｋを求める。補正値を生成する方法は実施例１と同様であるため説明を省略する。

本発明の実施例３は、全体の構成は実施例１と同様であるので省略し、動作の異なる周辺レベル情報検出手段１０２について説明する。

Ａ／Ｄ変換器により、Ａ／Ｄ変換された画像信号を周辺レベル情報検出手段１０２に入力することにより、ある注目画素の周辺画素の色毎の平均値を求める。この一例を図６に示す。図６（Ａ）は注目画素がＧの場合、図６（Ｂ）は注目画素がＲの場合を示している。また、図６（Ｃ）は注目画素がＢの場合を示している。例えば、注目画素がＧの場合の場合には、周辺のＧの６画素の平均値、周辺のＲの２画素の平均値、周辺のＢの２画素の平均値をそれぞれ求める。そして、注目画素の周辺の画素の色毎の平均値に固定係数（予めＲＯＭテーブルを作成して値を記憶させておく）をかけて和を求めることにより、周辺レベル情報として出力する。

この周辺レベル情報検出手段１０２により、注目画素の周囲の画素についての明るさ情報を検出することができる。

ゲイン設定手段１０３は、周辺レベル情報検出手段１０２の出力信号を入力とし、周辺レベル情報に応じたゲインｇを出力する。そして、欠陥画素検出手段１０１の出力信号である差分値Ｄと、ゲイン設定手段１０３の出力信号であるゲインｇとかけ合わせた結果を差分値Ｄ’とする。

その後、差分値Ｄ’を基に、混合比ｋを求める。補正値を生成する方法は実施例１と同様であるため説明を省略する。

本発明の実施例４の画像処理装置の全体図も図９と同じ構成である。実施例４での欠陥画素を補正する補正手段である補正回路の適用図を図７に示す。Ａ／Ｄ変換器により、Ａ／Ｄ変換された画像信号を欠陥画素検出手段１０１に入力することにより、注目画素とその周辺画素の平均値との差分値Ｄを求め、出力する。

補正係数出力手段１０４は、入力された欠陥画素検出手段１０１の出力信号である差分値Ｄに応じて、混合比ｋを出力する。この差分値Ｄと混合比ｋの対応の一例を図１０に示す。横軸が入力信号である差分値Ｄで、縦軸が出力信号である混合比ｋである。補正係数出力手段１０４は、差分値ＤがＴｈ４＜Ｄ＜Ｔｈ５の場合は、０＜ｋ≦１を混合比ｋとして出力し、差分値ＤがＴｈ４より小さい場合は０を混合比ｋとして出力する。また、Ｔｈ５＜Ｄの場合にはＤの値が大きくなるほどｋは０に近づく。これらの差分値と混合比の対応は、工場出荷時にＲＯＭテーブルに値を記憶させておく方法や、演算式にＤを代入して算出する方法などがある。このように差分値Ｄの値によりそれぞれの補正係数ｋを決める。

欠陥画素補正手段１０５は、入力された注目画素の画像信号を欠陥画素補正した値を出力する。補正方法としては、例えば、注目画素の複数の周辺画素の信号の平均値を求め、注目画素の補正後信号とする方法がある。

この補正係数出力手段１０４の出力信号である混合比ｋを制御信号とし、欠陥画素補正手段１０５の出力信号である欠陥画素補正された値と、入力信号である欠陥画素補正されていない値とを線形合成する。この線形合成の方法は、実施例１で式（２）を用いて線形合成する方法と同じであるので、説明は省略する。このようにして補正値決定手段１０６の出力信号を生成することにより、閾値付近においてノイズ等の影響により、欠陥画素補正を行った値と行っていない値とがフレーム毎に細かく切替わって出力されてちらつきが起こることを低減することができる。

本発明の実施例５の適用図を図８に示す。図８は、図９の画像処理装置の構成のブロック図の補正回路２０５およびカメラ信号処理回路２０６の具体的な構成図を表している。欠陥画素検出手段１０１、欠陥画素補正手段１０５、補正値決定手段１０６は実施例４と同様であるので説明を省略し、本発明の新規要素についてのみ説明する。

カメラ信号処理回路２０６では、カメラ信号処理（アパーチャ補正、ガンマ補正、ホワイトバランス等の撮像系の信号処理）が行われる、この中で、画素からの信号を増幅する係数である回路ゲインや撮像素子を露出させるシャッタスピードに対する調整が行われる。補正係数出力手段１０４において、ゲインアンプ２１２により調整される回路ゲイン（ＩＳＯ感度）が上がった場合には、図１１の対応表の傾きを緩やかにすることによって、画像のＳ／Ｎの悪化を防止する。例えば、回路ゲインが上がった場合には、図１１のＴｈ７、Ｔｈ８を固定した状態でＴｈ６を小さくしＴｈ９を大きくし、回路ゲインが下がった場合には、図１１のＴｈ７、Ｔｈ８を固定した状態でＴｈ６を大きくしＴｈ９を小さくすると、傾きの緩やかさの調整ができる。なお、撮影条件に関する情報（回路ゲインやシャッタスピード等）は、ＣＰＵ２１３を通じて補正係数出力手段１０４に伝えられる。

画像処理装置の構成を上述のようにすると、回路ゲインが上がることによりノイズが大きくなり、この影響で、撮影フレーム毎に補正値が大きく切替わってしまい、画面がちらついてしまうといった悪影響を、低減することができる。
また、補正係数出力手段１０４において、シャッタスピードが遅くなった場合は、図１１のグラフの傾きを固定した状態で、Ｔｈ６，Ｔｈ７の値を小さくし、Ｔｈ８，Ｔｈ９の値を大きくする。また、シャッタスピードが速くなった場合は、図１１のグラフの傾きを固定した状態で、Ｔｈ６，Ｔｈ７の値を大きくし、Ｔｈ８，Ｔｈ９の値を小さくする。シャッタスピードが遅くなると、欠陥画素のレベルが増大する。したがって図１１の混合比ｋの値が１に対応する箇所を増やすことにより、欠陥画素補正された値が出力されやすくすることができ、欠陥画素による悪影響を低減することができる。また、シャッタスピードが速くなると、欠陥画素のレベルが小さくなるので、図１１のグラフの傾きを固定した状態でＴｈ６，Ｔｈ７の値を大きくし、Ｔｈ８，Ｔｈ９の値を小さくし、混合比ｋの値が１に対応する箇所を減らすことにより、欠陥画素補正されていない値が出力されやすくすることができ、欠陥画素でない画素を誤って補正してしまう悪影響を低減することができる。

以上説明したように、回路ゲインやシャッタスピードなどの撮像条件に応じて、欠陥画素補正された値が出力される割合を調整することにより、それぞれの撮像条件に適応した画質の良い画像を得ることができる。

実施例１〜５で説明した欠陥画素補正方法によれば、白点欠陥画素は、明るい箇所では目立たず、暗い箇所では目立つという特長があるため、明るい箇所では、誤って行われる欠陥画素補正による悪影響を低減することができ、暗い箇所では欠陥画素補正によって、欠陥画素による画質劣化を低減することができる。黒点欠陥画素は、明るい箇所では目立ち、暗い箇所では目立たないという特徴があるため、明るい箇所では、欠陥画素補正によって、欠陥画素による画質劣化を低減することができ、暗い箇所では、誤って行われる欠陥画素補正による悪影響を低減することができる。また、実施例４，５のように、撮像条件に応じて閾値を変化させれば、補正を切替える閾値付近の値がノイズ等の影響により細かく変化してしまい画面がちらつくという問題を解決することができる。

実施例１〜３における補正回路の詳細を説明する図である。 実施例１における周辺レベル情報検出手段における周辺画素の模式図である。 実施例１〜３におけるゲイン設定手段における周辺レベル情報とゲインの関係図である。 実施例１〜３における補正係数出力手段における差分値と混合比の関係図である。 実施例２における周辺レベル情報検出手段における周辺画素の模式図である。 実施例３における周辺レベル情報検出手段における周辺画素の模式図である。 実施例４における補正回路の詳細を説明する図である。 実施例５における補正回路およびカメラ信号処理回路の詳細を説明する図である。 本発明の実施例１〜５に係わる画像処理装置のブロック図である。 実施例４の補正係数出力手段における差分値と混合比の関係図である。 実施例５の補正係数出力手段における差分値と混合比の関係図である。

符号の説明

１０１ 欠陥画素検出手段
１０２ 周辺レベル情報検出手段
１０３ ゲイン設定手段
１０４ 補正係数出力手段
１０５ 欠陥画素補正手段
１０６ 補正値決定手段
２０２ 光学ブロック
１００ 撮像素子
２０３ ＣＤＳ回路
２０４ Ａ／Ｄ変換器
２０５ 補正回路
２０６ カメラ信号処理
２０７ 記録回路
２０８ 記録媒体
２０９ ＴＧ
２１０ 表示回路
２１１ ディスプレイ
２１２ ゲインアンプ
２１３ ＣＰＵ
３００ 画像処理装置

Claims (5)

1. 注目画素から出力された信号のレベルと、前記注目画素の周辺画素から出力された信号のレベルの平均値の、レベルの差を検出する第１の検出手段と、
   前記周辺画素から出力された信号のレベルの平均値を検出する第２の検出手段と、
   前記第１の検出手段にて検出された前記レベルの差、および、前記第２の検出手段にて検出された前記平均値を用いて求めた混合比で、前記注目画素から出力された信号のレベルと、前記注目画素の周辺画素から出力された信号のレベルを混合し、前記注目画素から出力された信号のレベルとする補正手段とを有することを特徴とする画像処理装置。
2. 前記補正手段は、
   前記第２の検出手段にて検出された前記平均値に応じたゲインを、前記第１の検出手段にて検出された前記レベルの差に掛ける乗算手段と、
   前記乗算手段で得られた結果に応じて、前記混合比を決定する決定手段を有することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記乗算手段は、前記注目画素が白点欠陥画素であれば、前記平均値が閾値よりも大きな場合は、前記平均値が前記閾値よりも大きくない場合に比べて、前記ゲインを小さく設定することを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
4. 前記乗算手段は、前記注目画素が黒点欠陥画素であれば、前記平均値が閾値より小さな場合は、前記平均値が前記閾値より小さくない場合に比べて、前記ゲインを小さく設定することを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
5. 注目画素から出力された信号のレベルと、前記注目画素の周辺画素から出力された信号のレベルの平均値の、レベルの差を検出する第１の検出工程と、
   前記周辺画素から出力された信号のレベルの平均値を検出する第２の検出工程と、
   前記第１の検出工程にて検出された前記レベルの差、および、前記第２の検出工程にて検出された前記平均値を用いて求めた混合比で、前記注目画素から出力された信号のレベルと、前記注目画素の周辺画素から出力された信号のレベルを混合し、前記注目画素から出力された信号のレベルとする補正工程とを有することを特徴とする画像処理方法。

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